CN102116945A - 阵列基板检测信号分配装置和检测设备 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种阵列基板检测信号分配装置和检测设备，该阵列基板检测信号分配装置包括至少两个MUX和向MUX依次分配使能信号的DMUX，其中，每个MUX的输入端包括数据信号输入端、扫描信号输入端和使能信号输入端；每个MUX的输出端包括数据信号输出端、扫描信号输出端和使能信号输出端；通过短路配线，一个MUX的使能信号输出端与至少另一个MUX的使能端相连。本发明的阵列基板检测设备包括上述阵列基板检测信号分配装置。通过本发明，使多个MUX在进行ESS检测时依次提供检测信号，而在进行光电检测时同时提供检测信号，因此提高阵列基板检测效率，提高ESS检测的准确性。

Description

阵列基板检测信号分配装置和检测设备

技术领域

本发明涉及一种液晶面板检测技术，尤其涉及一种阵列基板检测信号分配装置和检测设备。

背景技术

目前，信息通讯产业已成为现今的主流产业，特别是各式通讯显示产品更是发展的重点，而平面显示器为人们提供了沟通信息的界面，因此显得尤其重要。就平面显示器而言，具有高画质、空间利用效率佳、低消耗功率、无辐射等优越特性的液晶显示器已逐渐成为市场的主流。

在制作上述液晶显示器时，必须对阵列基板上的数据线、栅线和像素分别进行短路缺陷检测和断线及像素缺陷检测，以确定阵列基板的短路、断线及像素缺陷。现有技术中一般通过光电检测(又称Gapping检测)方法来检测断线和像素缺陷，且通过电学基板筛选(Electronic Substrate Screening，简称ESS)检测方法来检测短路缺陷。

图1是一种现有技术的光电检测方法的原理结构示意图，所需的检测装置包括：检测台1、光调制器(modulator)2、光束分离器(beam splitter)9、光源3、图像传感器5和图像处理器6。其中，检测台1上放置阵列基板7；光调制器2设置在阵列基板7的上方并包括可控制光通过与否的控光层201和反射层202，当阵列基板7和光调制器2之间施加电压时，光调制器2与阵列基板7的栅线、数据线和像素电极等电极8之间形成电场；光束分离器9将从光源3射出的光线传输至反射层202，反射层202将该光线反射至图像传感器5。当阵列基板7上出现断线或像素缺陷时，必然会引起该区域的电场区别于其他部位，则经过光调制器2传输的光线会相应的区别其他位置，图像传感器5可检测到光信号的差异，提供给图像处理器6即可识别到断线或像素缺陷的位置。光电检测方法中要求光调制器2的面积应小于阵列基板7的面积。

阵列基板的ESS检测方法是，将检测信号分别施加到阵列基板的各个检测接垫后，通过分别测定相邻检测接垫电流值，来判断各个检测接垫之间的短路缺陷。

现在大型阵列基板的面积通常可以满足等于或大于光调制器面积的要求，但是中型或小型阵列基板一般小于光调制器。所以可以采用多个面板(Mult ipleSmall Panel，简称MSP)功能来实现，即将多块排列在一起的中型或小型阵列基板的数据线和栅线通过短路杆相连，形成短路群，以达到不小于光调制器面积的要求。但是该技术方案会给ESS检测方法带来问题。

图2是一种现有技术的适用于大型阵列基板的检测信号分配装置的线路结构示意图，从图中可以看出，该检测信号分配装置包括一个多路输出选择器(Demultiplexer，简称DMUX)10和多个多路复用板(Multiplexer Board，简称MUX)11，其中，每个MUX 11均包括输入端12、输出端13和使能端14，DMUX 10的每个输出端与每个MUX 11的使能端14连接，使能端14用于接收DMUX 10的使能信号EN。当DMUX 10被使能时会将使能信号EN 依次分配给多个MUX 11，从而依次开启多个MUX 11。各个MUX 11的输入端12用于接收驱动模块输入的检测信号DS，输出端13的数量为多个，MUX 11可以通过各输出端13将检测信号DS输出至阵列基板7的各检测接垫(pad)15，并通过各检测接垫15再输出至阵列基板7上的数据线和栅线。

图3是一种现有技术的适用于中型或小型阵列基板的检测信号分配装置的线路结构示意图。与图2所示检测信号分配装置类似，区别在于各个阵列基板7的数据线和栅线连接至检测接垫15之后，由于需要实现MSP功能，所以对应光调制器2区域内的各个阵列基板7的检测接垫15需要通过短路配线16相连，以便形成短路群。对于中型或小型阵列基板而言，由于各个阵列基板7之间形成了短路群，因此当进行光电检测和ESS检测时，检测信号DS可同时进入多个阵列基板7。

但是，发明人在进行本发明的研究过程中发现现有技术中存在如下缺陷：当基于该信号分配装置进行ESS检测时，对于大型阵列基板而言，不同的MUX可以依次输入检测信号，以便短路检测装置对相邻检测接垫之间的电流进行检测而判断是否短路。然而对于中型或小型阵列基板而言，由于各个阵列基板之间通过短路杆和短路配线形成了短路群，所以多个MUX无法分别向各个阵列基板输入检测信号，因此降低了ESS检测的准确性。若分别采用不同的检测信号分配装置和电路，则会降低检测设备的通用性，分别检测也会降低检测效率。

发明内容

本发明的目的是提供一种阵列基板检测信号分配装置和检测设备，以提高检测设备ESS检测的准确性。

为了实现上述目的，本发明实施例提供一种阵列基板检测信号分配装置，包括至少两个MUX和向所述MUX依次分配使能信号的DMUX，其中，每个所述MUX的输入端包括检测信号输入端和使能信号输入端；每个所述MUX的输出端包括检测信号输出端和使能信号输出端；通过短路配线，一个所述MUX的使能信号输出端与至少另一个所述MUX的使能端相连。

本发明实施例提供一种阵列基板检测信号分配装置，包括至少两个MUX和向所述MUX依次分配使能信号的DMUX，并且还包括：多个继电器，设置在所述MUX之间的短路配线上；继电器控制模块，与各个所述继电器相连，用于在进行光电检测时输出闭合信号控制各个所述继电器闭合，且在进行短路检测时输出断开信号控制各个所述继电器断开。

本发明实施例还提供一种包括上述阵列基板检测信号分配装置的阵列基板检测设备，还包括检测台、光调制器、光束分离器、光源、图像传感器和图像处理器，其中，在所述检测台上设置有多组阵列基板，每组至少包括两个所述阵列基板；所述阵列基板检测信号分配装置的输入端接收驱动模块输入的检测信号；所述阵列基板检测信号分配装置的每个MUX的输出端与一组所述阵列基板的检测接垫相连，向多组所述阵列基板同时或依次提供所述检测信号。

由以上技术方案可知，本发明实施例的阵列基板检测信号分配装置和检测设备，通过改变多个MUX之间的连接结构，或者通过设置多个继电器和继电器控制模块，能选择性地控制多个MUX的开启，使多个MUX在进行ESS检测时依次提供检测信号，而在进行光电检测时同时提供检测信号，因此提高阵列基板检测效率的同时能解决进行ESS检测时准确性降低的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为一种现有技术的光电检测方法的原理结构示意图。

图2为一种现有技术的适用于大型阵列基板的检测信号分配装置的线路结构示意图。

图3为一种现有技术的适用于中型或小型阵列基板的检测信号分配装置的线路结构示意图。

图4为本发明实施例一提供的阵列基板检测信号分配装置的线路结构示意图。

图5为本发明实施例二提供的阵列基板检测信号分配装置的线路结构示意图。

图6为本发明实施例三提供的阵列基板检测信号分配装置的线路结构示意图。

图7为本发明实施例四提供的阵列基板检测信号分配装置的线路结构示意图。

图8为本发明实施例五提供的阵列基板检测设备的结构示意图。

图中：

1-检测台                2-光调制器

3-光源                  4-阵列基板检测信号分配装置

5-图像传感器            6-图像处理器

7-阵列基板              8-电极

9-光束分离器            10-多路输出选择器

11-多路复用板           12-输入端

13-输出端               14-使能端

15-检测接垫             16-短路配线

17-继电器               18-继电器控制模块

201-控光层              202-反射层

121-使能信号输入端      122-检测信号输入端

131-检测信号输出端      132-使能信号输出端

133-数据信号输出端      134-扫描信号输出端

EN-使能信号             DS-检测信号

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例一

本实施例提供的阵列基板检测信号分配装置，包括至少两个MUX和向MUX依次分配使能信号的DMUX，其中，每个MUX的输入端包括检测信号输入端和使能信号输入端；每个MUX的输出端包括检测信号输出端和使能信号输出端；通过短路配线，一个MUX的使能信号输出端与至少另一个MUX的使能端相连。

本实施例的阵列基板检测信号分配装置，通过使能信号选择性地控制多个MUX的开启状态，由此能使多个MUX依次提供检测信号，或者使多个MUX同时提供检测信号，从而在进行ESS检测时，能依次检测每组阵列基板，避免了由于一组或一组以上阵列基板出现短路缺陷而影响了其它组正常阵列基板的ESS检测的现象，并且由于进行光电检测时，能同时对多组阵列基板进行检测，因此提高了阵列基板检测效率。

图4为本发明实施例一提供的阵列基板检测信号分配装置的线路结构示意图。如图4所示，该阵列基板检测信号分配装置包括多个MUX 11和一个DMUX 10，每个MUX 11包括输入端12、输出端13和使能端14，DMUX的输出端分别与多个MUX 11的使能端14相连，其中，每个MUX 11的输入端12包括检测信号输入端122和使能信号输入端121；每个MUX 11的输出端13包括检测信号输出端131和使能信号输出端132；自第一个MUX 11开始，上一个MUX 11的使能信号输出端132与下一个MUX 11的使能端14通过短路配线16相连。

上述检测信号输入端包括数据信号输入端和扫描信号输入端；上述检测信号输出端包括数据信号输出端和扫描信号输出端；其中，数据信号输出端包括第一数据信号输出端、第二数据信号输出端和第三数据信号输出端，并且分别向阵列基板的红色像素数据线、绿色像素数据线和蓝色像素数据线传输检测信号；扫描信号输出端包括第一扫描信号输出端和第二扫描信号输出端，并且分别向阵列基板的偶数条栅线和奇数条栅线传输检测信号。

在本实施例中，当进行光电检测时，DMUX 10向第一个MUX 11输出使能信号EN，该MUX 11被使能，并将输入的检测信号DS，通过检测接垫15，向阵列基板7传输；与此同时，该MUX 11输出使能信号EN，并将该使能信号EN通过短路配线16传输给第二个MUX 11，同样第二个MUX 11被使能，将使能信号EN传输给第三个MUX 11，这样可同时将多个MUX 11开启，使多个MUX 11同时传输检测信号DS。当进行ESS检测时，DMUX 10向第一个MUX 11输出使能信号EN，该MUX 11被使能，并将输入的检测信号DS，通过检测接垫15，向阵列基板7传输；而在此时，第一个MUX 11可以控制使能信号输出端132，使其不输出使能信号EN，因此直到DMUX 10向第二个MUX 11输出使能信号EN为止，第二个MUX 11不会被使能，同样下一个MUX 11也不会被使能，从而达到使多个MUX 11依次提供检测信号DS的目的。

实施例二

图5为本发明实施例二提供的阵列基板检测信号分配装置的线路结构示意图，如图5所示，该阵列基板检测信号分配装置包括多个MUX 11和一个DMUX 10，每个MUX 11包括输入端12、输出端13和使能端14，DMUX 10的输出端分别与多个MUX 11的使能端14相连，其中，每个MUX 11的输入端12包括检测信号输入端122和使能信号输入端121；每个MUX 11的输出端13包括检测信号输出端131和使能信号输出端132；通过短路配线16，第一个MUX 11的使能信号输出端132与其他MUX 11的使能端14相连。

上述检测信号输入端包括数据信号输入端和扫描信号输入端；上述检测信号输出端包括数据信号输出端和扫描信号输出端；其中，数据信号输出端包括第一数据信号输出端、第二数据信号输出端和第三数据信号输出端，并且分别向阵列基板的红色像素数据线、绿色像素数据线和蓝色像素数据线传输检测信号；扫描信号输出端包括第一扫描信号输出端和第二扫描信号输出端，并且分别向阵列基板的偶数条栅线和奇数条栅线传输检测信号。

在本实施例中，当进行光电检测时，DMUX 10向第一个MUX 11输出使能信号EN，该MUX 11被使能，并将输入的检测信号DS，通过检测接垫15，向阵列基板7传输；与此同时，该MUX 11可以控制使能信号输出端132，使其输出使能信号EN，并将该使能信号EN通过短路配线16传输给其他MUX 11，这样其他MUX 11均被使能，因此能同时使多个MUX 11传输检测信号DS。当进行ESS检测时，DMUX 10向第一个MUX 11输出使能信号EN，该MUX 11被使能，并将输入的检测信号DS，通过检测接垫15，向阵列基板7传输；而在此时，第一个MUX 11可以控制使能信号输出端132，使其不输出使能信号EN，因此直到DMUX 10向其他MUX 11输出使能信号EN为止，其他MUX 11不会被使能，从而达到使多个MUX 11依次提供检测信号DS的目的。

实施例三

本实施例提供的阵列基板检测信号分配装置包括至少两个MUX和向所述MUX依次分配使能信号的DMUX，并且还包括：多个继电器，设置在MUX之间的短路配线上；继电器控制模块，与各个继电器相连，用于在进行光电检测时输出闭合信号控制各个继电器闭合，且在进行短路检测时输出断开信号控制各个继电器断开。

本实施例的阵列基板检测信号分配装置，通过继电器和继电器控制模块，能使多个MUX依次提供检测信号，或者使多个MUX同时提供检测信号，从而在进行ESS检测时，能依次检测每组阵列基板，避免了由于一组或一组以上阵列基板出现短路缺陷而影响了其它组正常阵列基板的ESS检测的现象，并且由于进行光电检测时，能同时对多组阵列基板进行检测，因此提高了阵列基板检测效率。

图6为本发明实施例三提供的阵列基板检测信号分配装置的线路结构示意图。如图6所示，该阵列基板检测信号分配装置包括一个DMUX10、多个MUX 11、多个继电器17和继电器控制模块18；每个MUX 11包括输入端12、输出端13和使能端14，输出端13包括数据信号输出端133和扫描信号输出端134；DMUX 10的输出端分别与多个MUX 11的使能端14相连；每个继电器17设置在两个相邻MUX 11的数据信号输出端133之间以及扫描信号输出端134之间的短路配线16上；继电器控制模块18与各个继电器17相连，在进行光电检测时输出闭合信号控制各个继电器17闭合，且在进行短路检测时输出断开信号控制各个继电器17断开。

在上述方案的基础上，上述数据信号输出端可以包括第一数据信号输出端、第二数据信号输出端和第三数据信号输出端；扫描信号输出端可以包括第一扫描信号输出端和第二扫描信号输出端；在两个相邻MUX的第一数据信号输出端之间、第二数据信号输出端之间和第三数据信号输出端之间的短路配线上，设置有继电器；在两个相邻MUX的第一扫描信号输出端之间和第二扫描信号输出端之间的短路配线上，设置有继电器。

在本实施例中，当进行光电检测时，DMUX 10向一个MUX 11输出使能信号EN，该MUX 11被使能，并将输入的检测信号DS，通过检测接垫15，向对应的阵列基板7传输；与此同时，继电器控制模块18使继电器17闭合，从而使其他MUX 11的输出端13均同时输出检测信号DS。当进行ESS检测时，DMUX 10向第一个MUX 11输出使能信号EN，该MUX 11被使能，并将输入的检测信号DS，通过检测接垫15，向阵列基板7传输；而在此时，继电器控制模块18使继电器17断开，因此直到DMUX 10向其他MUX 11输出使能信号EN为止，其他MUX 11不会输出检测信号DS，从而达到使多个MUX 11依次提供检测信号DS的目的。

实施例四

图7为本发明实施例四提供的阵列基板检测信号分配装置的线路结构示意图，如图7所示，该阵列基板检测信号分配装置包括一个DMUX 10、多个MUX 11、多个继电器17和继电器控制模块18；每个MUX 11包括输入端12、输出端13和使能端14；DMUX 10的输出端分别与多个MUX 11的使能端14相连；每个继电器17设置在两个相邻MUX 11的使能端14之间的短路配线16上；继电器控制模块18与各个继电器17与相连，在进行光电检测时输出闭合信号控制各个继电器17闭合，且在进行短路检测时输出断开信号控制各个继电器17断开。

在本实施例中，当进行光电检测时，DMUX 10向一个MUX 11输出使能信号EN，该MUX 11被使能，并将输入的检测信号DS，通过检测接垫15，向对应的阵列基板7传输；与此同时，继电器控制模块18使继电器17闭合，从而使其他MUX 11均被使能并同时向对应的阵列基板7提供检测信号DS。当进行ESS检测时，DMUX 10向第一个MUX 11输出使能信号EN，该MUX 11被使能，并将输入的检测信号DS，通过检测接垫15，向阵列基板7传输；而在此时，继电器控制模块18使继电器17断开，因此直到DMUX10向其他MUX 11输出使能信号EN为止，其他MUX 11不会被使能，从而达到使多个MUX 11依次提供检测信号DS的目的。

实施例五

图8为本发明实施例五提供的阵列基板检测设备的结构示意图，该阵列基板检测设备，包括上述实施例的任一阵列基板检测信号分配装置4，并且还包括检测台1、光调制器2、光束分离器9、光源3、图像传感器5和图像处理器6，其中，在检测台1上设置有多组阵列基板7，每组至少包括两个阵列基板7；阵列基板检测信号分配装置4的输入端接收驱动模块输入的检测信号；阵列基板检测信号分配装置4的每个MUX 11的输出端与一组阵列基板7的检测接垫15相连，向多组阵列基板7同时或依次提供检测信号。

本实施例的阵列基板检测设备，通过阵列基板检测信号分配装置能选择性地控制多个MUX之间的连接状态，从而在进行ESS检测时，能依次对每组阵列基板进行检测，并且在进行光电检测时，能同时对多组阵列基板进行检测，在保证阵列基板检测准确性的同时提高检测效率。

在上述方案的基础上，一组阵列基板上的多条数据线和多条栅线分别连接至数据线短路杆和栅线短路杆上；数据线短路杆和栅线短路杆的一端分别设置有数据线检测接垫和栅线检测接垫；数据线检测接垫和栅线检测接垫分别与MUX的数据信号输出端和扫描信号输出端连接。

在本实施例中，阵列基板检测信号分配装置可以设置在检测台上。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (11)

1.一种阵列基板检测信号分配装置，包括至少两个多路复用板和向所述多路复用板依次分配使能信号的多路输出选择器，其特征在于：

每个所述多路复用板的输入端包括检测信号输入端和使能信号输入端；

每个所述多路复用板的输出端包括检测信号输出端和使能信号输出端；

通过短路配线，一个所述多路复用板的使能信号输出端与至少另一个所述多路复用板的使能端相连。

2.根据权利要求1所述的阵列基板检测信号分配装置，其特征在于：

自第一个所述多路复用板开始，上一个所述多路复用板的使能信号输出端与下一个所述多路复用板的使能端相连。

3.根据权利要求1所述的阵列基板检测信号分配装置，其特征在于：

第一个所述多路复用板的使能信号输出端与其他所述多路复用板的使能端相连。

4.根据权利要求1～3任一所述的阵列基板检测信号分配装置，其特征在于：

所述检测信号输出端包括数据信号输出端和扫描信号输出端；

所述数据信号输出端包括第一数据信号输出端、第二数据信号输出端和第三数据信号输出端；

所述扫描信号输出端包括第一扫描信号输出端和第二扫描信号输出端。

5.一种阵列基板检测信号分配装置，包括至少两个多路复用板和向所述多路复用板依次分配使能信号的多路输出选择器，其特征在于，还包括：

多个继电器，设置在所述多路复用板之间的短路配线上；

继电器控制模块，与各个所述继电器相连，用于在进行光电检测时输出闭合信号控制各个所述继电器闭合，且在进行短路检测时输出断开信号控制各个所述继电器断开。

6.根据权利要求5所述的阵列基板检测信号分配装置，其特征在于：

每个所述继电器设置在两个相邻所述多路复用板的数据信号输出端之间以及扫描信号输出端之间的短路配线上。

7.根据权利要求6所述的阵列基板检测信号分配装置，其特征在于：

所述数据信号输出端包括第一数据信号输出端、第二数据信号输出端和第三数据信号输出端；

所述扫描信号输出端包括第一扫描信号输出端和第二扫描信号输出端；

在两个相邻所述多路复用板的第一数据信号输出端之间、第二数据信号输出端之间和第三数据信号输出端之间的短路配线上，设置有所述继电器；

在两个相邻所述多路复用板的第一扫描信号输出端之间和第二扫描信号输出端之间的短路配线上，设置有所述继电器。

8.根据权利要求5所述的阵列基板检测信号分配装置，其特征在于：

每个所述继电器设置在两个相邻所述多路复用板的使能端之间的短路配线上。

9.一种包括权利要求1～8任一所述阵列基板检测信号分配装置的阵列基板检测设备，还包括检测台、光调制器、光束分离器、光源、图像传感器和图像处理器，其特征在于：

在所述检测台上设置有多组阵列基板，每组至少包括两个所述阵列基板；

所述阵列基板检测信号分配装置的输入端接收驱动模块输入的检测信号；

所述阵列基板检测信号分配装置的每个多路复用板的输出端与一组所述阵列基板的检测接垫相连，向多组所述阵列基板同时或依次提供所述检测信号。

10.根据权利要求9所述的阵列基板检测设备，其特征在于：

一组所述阵列基板上的多条数据线和多条栅线分别连接至数据线短路杆和栅线短路杆上；

所述数据线短路杆和栅线短路杆的一端分别设置有数据线检测接垫和栅线检测接垫；

所述数据线检测接垫和栅线检测接垫分别与所述多路复用板的数据信号输出端和扫描信号输出端连接。

11.根据权利要求9所述的阵列基板检测设备，其特征在于：

所述阵列基板检测信号分配装置设置在所述检测台上。

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