CN102072743B - 片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法与用以实施该方法的检测与后处理机 - Google Patents

Abstract

本发明所提供的片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，是将待检测的片状高分子成型物定位于一受检测的预定空间中，以使其一侧片端位于一检测的基准点上，再经由感应装置感测其另一片端的位置，据以获得该物的尺寸，并进一步视该物尺寸误差是属过大或过小，而分别进行其后处理的程序，将其尺寸再经扩大或缩小而使之处于良品的容许误差范围内；另外，本发明并同时提供用以实施上述方法的检测与后处理机。本发明的有益效果为：能快速高效的对片状高分子成型物的尺寸进行自动化检测，并根据该尺寸进行自动化处理。

Description

片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法与用以实施该方法的检测与后处理机

技术领域

本发明涉及高分子成型加工技术，特别是一种片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法与用以实施该方法的检测与后处理机。 

背景技术

就一般高分子成型加工技术而言，应用模具模制所需形状及尺寸物品的技术手段，固然属于公知熟用的基础技术，但其具体的技术内容则因应着不同的制程条件而有诸多的形态，举例而言，在成型片状物时，有采用两段式制程的先例，即先将高分子物成型为片状料，再以所需最终成型的尺寸为标准，裁切相等的片状料为初胚，再经热压模塑所需的外观形状与花纹，此等制程固可获得尺寸精确的最终成型产品，惟其采用两段式的制程方法，除了延宕制程的循环时间外，在第一段的裁切步骤上则会衍生过多的废弃物料，对于资源的有效利用并非理想。 

是以，在产业的实施上，即揭露有以单一制程完成如该等片状物的方法，其主要的技术内容是将定量的原料以成型模具直接模制成最终的片状成型物，而略去先成形为片状体后再裁切为定尺寸的步骤；其中，原料在被填入成型模具时的形态，则有仅为单纯混合而呈分散状态的原料组成，亦有先将原料组成经混合后先行模制为个别独立的定量初胚模块；此等单一制程，其所附随而生的是最终产品的尺寸精度问题，此问题产生的原因，除有存在于原料于模具内部的模制程序的瑕疵之外，亦可能存在于成型物离开成型模具后在受控制温度环境下的后稳型程序中，以及其采模外发泡所致。 

但是，在已公开的技术内容中，尚欠缺得以快速进行片状成型物尺寸检测的自动化技术内容。 

发明内容

本发明的主要目的是提供一种片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，其可快速自动化地进行片状高分子成型物的尺寸检测，以遂行自动化的品管程序。 

本发明的另一目的则是提供一种片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，其可对于尺寸误差超过设定值的成型物，以物理性方法调整尺寸至可容许的误差值内。 

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案： 

一种片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，包括下述步骤： 

a.使经过后稳型程序的待检测片状高分子成型物位于一水平面上； 

b.将该待检测的片状高分子成型物于该水平面上被水平地位移至一检测位置上； 

c.以该待检测的片状高分子成型物的一侧为基侧，并将该基侧定位于一基准点上； 

d.以该待检测片状高分子成型物相背于该基侧的另一侧为受测侧，并以一感应装置感测该待检测高分子成型物受测侧所在位置，以检测该待检测片状高分子成型物介于该基侧与该受测侧间的距离，以获得其对应的尺寸数值； 

e.当所获得的片状高分子成型物尺寸在容许的尺寸误差值内时即判定为良品；而当所获得的片状高分子成型物尺寸在容许的尺寸误差值范围以外时即判定为次品； 

f.当所述次品的尺寸小于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最小值时，延展该次品，以增加其基侧至受测侧间的距离； 

而当所述次品的尺寸大于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最大值时，使该次品位于一预定温度的环境下，使该次品收缩以缩小而减少其基侧至受测侧间的距离。 

在该步骤d中，使该感应装置以位移方式感测该受测侧的位置；该感应装置于位移乃是位于一原点位置上，该原点位置并与该基准点相隔固定距离，而以该感应装置自该原点至该受测侧的位移距离与该固定距离之差或和，为该基侧至该受测侧间的距离，据以获得该待检测片状高分子成型物的尺寸。 

所述固定距离大于待检测片状高分子成型物的基侧与受测侧间的距离，而于该d步骤中，即以该位移距离与该固定距离的差值作为该待检测片状高分子成型物的基侧与受测侧间的距离。 

所述固定距离小于待检测片状高分子成型物的基侧与受测侧间的距离，而于该d步骤中，即以该位移距离与该固定距离的和值为该待检测片状高分子成型物的基侧与受测侧间的距离。 

所述f步骤中，当所述次品的尺寸小于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最小值时，以辊轮滚压该次品，从而通过延展而增加其基侧至受测侧间的距离。 

所述f步骤中，当所述次品的尺寸大于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最大值时，使该次品以定速于一预定温度环境下位移，通过调整该定速速度或预定的温度值高低，以控制该次品受热能作用的程度。 

所述感应装置为光纤感应。 

所述待检测的片状高分子成型物概呈矩形，该基侧与该受测侧分别位于矩形的长轴两端，并于该c步骤进行的同时，使该待检测的片状高分子成型物矩形的短轴两端亦受到定位。 

一种用以实施权利要求1所述方法的检测与后处理机，它包括： 

一集料机构，具有至少一集片盒，用以集中收纳待检测的片状高分子成型物； 

一检测机构，具有一载件，用以接收载置自该集片盒移送的单一片状高分子成型物，一驱动件，用以驱动该载件，使所载置的待检测片状高分子成型物位移至一检测位置上，当该待检测片状高分子成型物位于该检测位置上时，以该待检测片状高分子成型物的一侧为基侧并予以定位，一感应装置，用以感测该待检测片状高分子成型物相背于该基侧的另侧端缘所在位置，据以检测该待检测片状高分子成型物的尺寸，当检测值超过片状高分子成型物尺寸的容许误差时，即属次品； 

一后处理机构，用以对属次品的片状高分子成型物以物理性手段改变其尺寸值，具有一辊压装置，用以对尺寸过小的次品以辊轮施以滚压，以延展片状高分子成型物的周侧从而增加其尺寸至容许误差范围内，一热烘装置，使尺寸过大的次品在高温环境下停留一定的时间，使片状高分子成型物收缩而减少其尺寸至容许误差范围内。 

所述热烘装置包括： 

一隧道，并于该隧道中形成预定温度的高温环境； 

一输送部，亘设于该隧道中，并以定速缓慢运动； 

若干个舌片，分别以一片端直立设于该输送部上，用以将尺寸过大的片状高分子成型物次品夹置于两相邻舌片间。 

所述热烘装置更包括： 

若干个遂道，并于各该隧道中形成不同温度的高温环境； 

若干个输送部，分别亘设于对应的隧道中，用以载运尺寸过大的片状高分子成型物次品于对应的隧道中受温度的作用。 

所述辊压装置更包括： 

两辊轮组，分别具有一对彼此平行的辊轮，并使一辊轮组的二辊轮彼此轮面间的间距相异于另一辊轮组的二辊轮彼此轮面间的间距。 

本发明的有益效果为：能快速高效的对片状高分子成型物的尺寸进行自动化检测，并根据该尺寸进行自动化处理。 

下面通过附图对本实用新型作进一步说明。 

附图说明

图1是本发明一较佳实施例的流程图。 

图2是本发明一用以实施上述方法的检测与后处理机的俯视图。 

图3是本发明一用以实施上述方法的检测与后处理机的侧视图。 

图4是本发明一用以实施上述方法的检测与后处理机的右视立体图。 

图5是本发明一用以实施上述方法的检测与后处理机的左视立体图。 

图6是本发明一用以实施上述方法的检测与后处理机的检测机构立体图。 

图7是本发明一用以实施上述方法的检测与后处理机的检测机构作动作示意图。 

图8是本发明一用以实施上述方法的检测与后处理机的辊压装置侧视图。 

图9是本发明另一用以实施上述方法的检测与后处理机的热烘装置立体外观图。 

【主要标号说明】 

10检测及后处理机    20集料机构 

21集片盒            22转盘 

30检测机构          31载件 

311推面             32驱动件 

33挡体              34感应装置 

40后处理机构        41辊压装置 

411、412辊轮组      d1、d2间距 

42、42’热烘装置    421舌片 

422、422’输送部    423、423’隧道 

50片状高分子成型物 

具体实施方式

首先，请参阅图1所示，在本发明一较佳实施例中所提供片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，其步骤主要包含如下所述： 

a.使已经过后稳型程序处理概呈矩形片状的待检测片状高分子成型物位于一水平面上；其中，后稳型程序是指如前述现有技术中使片状高分子成型物于温度受到控制的环境下，经过一段时间后使其尺寸稳定的已有方法，但此后稳型程序的实施尚未使得片状高分子物的形状完全冷却定型。 

b.将该待检测的片状高分子成型物置于该水平面上，在使其矩形形状的短轴两端在受到限位的条件下，使该待检测的片状高分子成型物沿着矩形形状的长轴方向被水平地位移至一检测位置上。 

c.以该待检测的片状高分子成型物的矩形的短轴一侧(即长轴的一端)为基侧，将该基侧定位于一基准点上。 

d.以该待检测的片状高分子成型物相背于该基侧的另一侧为受测侧(即长轴的另一端端侧)，并位移一感应装置以感测该待检测高分子成型物的受测侧所在位置。 

e.该d步骤中的感应装置于位移前位于一原点位置上，该原点位置与该基 准点相隔一尺寸大于该待检测的片状高分子成型物矩形形状长轴方向长度的固定距离，而使该待检测片状高分子成型物介于该原点与该基准点间，并以d步骤中所述感应装置自该原点至该受测侧的位移距离与该固定距离的相差值，作为该基侧至该受测侧间的距离，据以获得该待检测片状高分子物矩形形状长轴方向的长度尺寸。 

当该待检测片状高分子成型物的尺寸在容许的尺寸误差值内时即判定为良品；而当该待检测片状高分子成型物的尺寸在容许的尺寸误差值范围以外时即判定为次品。 

f.当该次品的尺寸小于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最小值时，以辊轮辊压片状高分子成型物以延展该次品的周侧，增加其基侧至受测侧间的距离，并得以再重复步骤a至步骤e以测定片状高分子成型物经扩张后的尺寸。 

而当该次品的尺寸大于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最大值时，则使该次品以定速于一预定温度的环境下移动，使该次品在该环境下收缩而缩小以减少其基侧至受测侧间的距离，并得以再重复步骤a至步骤e以测定片状高分子成型物经收缩后的尺寸。 

上述具体实施例所提供的检测及后处理方法，在产业的应用上，是通过具体的机具予以完成，举例而言，请参阅图2至图8所示的检测及后处理机10，其主要是由一集料机构20、一检测机构30及一后处理机构40所组成。 

该集料机构20是以若干个集片盒21将概呈矩形的待检测片状高分子成型物50整齐迭置于集片盒21的内部空间中，并将各该集片盒21对称地分设于一转盘22上，通过该转盘22的带动，使各该集片盒21得以依序地位于该检测机构30的上方，便于将集片盒21中所集中储放的片状高分子成型物50一一地依序送入该检测机构30中，以进行该片状高分子成型物50的尺寸检测。 

该检测机构30是以一长形载件31载置由集片盒21进入该检测机构30的片状高分子成型物50，使该片状高分子成型物50矩形的长轴一端抵接于该载件31的推面311上，并应用如气压缸等流体压力缸件为驱动件32以带动该载件31，而经由该推面311推动所载置的片状高分子成型物50水平移动，使该片状高分子成型物50位移至一检测位置上； 

当该片状高分子成型物50位于该检测位置上时，其矩形的短轴两端受到位于该载件31长轴两侧的挡体33所限制而受定位，而其矩形的长轴一端端侧则受到该推面311的抵挡而获得定位，并以之为基侧，继而在该片状高分子成型物50三边受到定位的情况下，以该片状高分子成型物50长轴另一端的侧缘为受测侧，以一由光纤组成的感应装置34，感测该片状高分子成型物50受测侧的侧缘所在位置，从而可以检测得知该片状高分子成型物50矩形形状的长轴方向长度； 

而其中，位移至该检测位置上的该载件31的推面311所在位置是上述实 施例中的基准点，而该感应装置34的设置位置则为上述实施例中的原点，并使该原点至该基准点间的固定距离大于该待检测的片状高分子成型物50长轴方向的长度，此时，则能够以该感应装置34自该原点位移至该受测侧间的位移距离与该固定距离间的差值作为该待检测片状高分子成型物50的检测长度值；相对的，在实施上亦得改以使该固定距离小于该待检测的片状高分子成型物50长轴方向的长度，此时，则应以该固定距离与该位移距离的和值作为该待检测片状高分子成型物50的检测长度值。 

藉此，上述方法实施例中的步骤a至步骤e即可通过该集料机构20与该检测机构30自动化地重复进行，当片状高分子成型物50的尺寸检测值于预设的成型品误差值范围内时，即属良品，而直接将其送出该检测及后处理机10外，无需对之进行其它之后的处理程序，但当检测值超过所能允许的误差值范围外时，则再进一步判断其是属于尺寸不足或尺寸过大的次品，分别以该后处理机构40对其以物理性手段进行适当的处理程序。 

具体而言，该后处理机构40是由一辊压装置41及一热烘装置42所构成，而分别适于对尺寸过小以及尺寸过大的次品进行尺寸的改变： 

当片状高分子成型物50属于尺寸过小的次品时，将其送入该辊压装置41中，用辊轮从该片状高分子成型物的两侧片面施以滚压，以延展扩张其周侧的尺寸达到调整的目的； 

在此应进一步说明的是，该辊压装置41对该片状高分子成型物施以滚压的程度是与次品尺寸不足的程度成正比的，而为达到此等灵活因应的目的，其所采用的技术内容除了可以令用以滚压的单一对辊轮间的间距为可调整外，亦可以如图上所示的辊压装置41，以二辊轮组411、412作选择性的搭配应用，其中，各辊轮组411、412的辊轮彼此平行并使轮面间的间距具固定的数值，并使一辊轮组411的两辊轮轮面间的间距d1大于另一辊轮组412的两辊轮轮面间的间距d2，据此，即能够以该检测机构30的检测值为根据，来决定片状高分子成型物适于以较大间距d1或较小间距d2的辊轮组411、412单独或并行进行滚压，尽可能地达到调整尺寸的作业只需经由一次处理即可完成。 

而当片状高分子成型物50属于尺寸过大的次品时，则将其自该检测机构30送入该热烘装置42中，使过大的次品在该热烘装置42所提供的高温环境下，经过适当的时间而收缩其尺寸，达到缩小其尺寸的目的； 

具体而言，尺寸过大的次品是经由如机械手或真空吸引等移送的技术手段，将其由该检测机构30移动并送入该热烘装置42设有多数直立舌片421的输送部422上，而被夹置定位于两相邻舌片421间，再经由该输送部422缓慢的定速移动，使尺寸过大的次品在具有一定高温温度的隧道423中受到温度的作用而缩小尺寸，在此，由于隧道423内的温度维持一定，因此次品收缩的程度是可透过调整次品受该高温作用的时间来控制其收缩后的尺寸在可容许的 误差值内； 

进一步需加以说明的是，以热能使次品收缩的控制因子有二，其一为受热的时间长短，另一则为受热温度的高低，而上揭实施例中所揭的热烘装置42是可藉由改变环境温度的高低或移动速度的快慢，以达到调整作用于次品上的热能量，另外，亦可如图9所示另一用以实施上述方法的检测与后处理机的热烘装置42’，其与前揭的热烘装置42同采用以隧道式提供高温的环境，所不同的是，在该热烘装置42’中该隧道423’的设置数量为若干个，并以同一动力源驱动位于各隧道423’中的不同输送部，使若干个次品于同一移动速度下，得以视其尺寸误差程度的高低，而分别于不同环境温度的隧道423’中受热收缩，以达到使不同误差尺寸的次品得以于该热烘装置42’中分别受热收缩，而得以同时完成使其尺寸收缩至容许误差的良品范围内，形成加工程序的一致化以达到简化加工的目的。 

Claims (12)

1.一种片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，其特征在于，它包括下述步骤：

a.使经过后稳型程序的待检测片状高分子成型物位于一水平面上；

b.将该待检测的片状高分子成型物于该水平面上被水平地位移至一检测位置上；

c.以该待检测的片状高分子成型物的一侧为基侧，并将该基侧定位于一基准点上；

d.以该待检测片状高分子成型物相背于该基侧的另一侧为受测侧，并以一感应装置感测该待检测高分子成型物受测侧所在位置，以检测该待检测片状高分子成型物介于该基侧与该受测侧间的距离，以获得其对应的尺寸数值；

e.当所获得的片状高分子成型物尺寸在容许的尺寸误差值内时即判定为良品；而当所获得的片状高分子成型物尺寸在容许的尺寸误差值范围以外时即判定为次品；

f.当所述次品的尺寸小于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最小值时，延展该次品，以增加其基侧至受测侧间的距离；

而当所述次品的尺寸大于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最大值时，使该次品位于一预定温度的环境下，使该次品收缩以缩小而减少其基侧至受测侧间的距离。

2.如权利要求1所述的片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，其特征在于，在该步骤d中，使该感应装置以位移方式感测该受测侧的位置；该感应装置于位移前位于一原点位置上，该原点位置并与该基准点相隔固定距离，而以该感应装置自该原点至该受测侧的位移距离与该固定距离之差或和，为该基侧至该受测侧间的距离，据以获得该待检测片状高分子成型物的尺寸。

3.如权利要求2所述的片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，其特征在于，该固定距离大于待检测片状高分子成型物的基侧与受测侧间的距离，而于该d步骤中，即以该位移距离与该固定距离的差值作为该待检测片状高分子成型物的基侧与受测侧间的距离。

4.如权利要求2所述的片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，其特征在于，该固定距离小于待检测片状高分子成型物的基侧与受测侧间的距离，而于该d步骤中，即以该位移距离与该固定距离之和值为该待检测片状高分子成型物的基侧与受测侧间的距离。

5.如权利要求1所述的片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，其特征在于，该f步骤中，当所述次品的尺寸小于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最小值时，以辊轮滚压该次品，从而通过延展而增加其基侧至受测侧间的距离。

6.如权利要求1所述的片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，其特征在于，该f步骤中，当所述次品的尺寸大于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最大值时，使该次品以定速于一预定温度环境下位移，通过调整该定速速度或预定的温度值高低，以控制该次品受热能作用的程度。

7.如权利要求1所述的片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，其特征在于，该感应装置为光纤感应。

8.如权利要求1所述的片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，其中，待检测的片状高分子成型物概呈矩形，该基侧与该受测侧分别位于矩形的长轴两端，并于该c步骤进行的同时，使该待检测的片状高分子成型物矩形的短轴两端亦受到定位。

9.一种用以实施上述权利要求1至8任一所述方法的检测与后处理机，其特征在于，它包括：

一集料机构，具有至少一集片盒，用以集中收纳待检测的片状高分子成型物；

一检测机构，具有一载件，用以接收载置自该集片盒移送的单一片状高分子成型物，一驱动件，用以驱动该载件，使所载置的待检测片状高分子成型物位移至一检测位置上，当该待检测片状高分子成型物位于该检测位置上时，以该待检测片状高分子成型物的一侧为基侧并予以定位，一感应装置，用以感测该待检测片状高分子成型物相背于该基侧的另侧端缘所在位置，据以检测该待检测片状高分子成型物的尺寸，当检测值超过片状高分子成型物尺寸的容许误差时，即属次品；

一后处理机构，用以对属次品的片状高分子成型物以物理性手段改变其尺寸值，具有一辊压装置，用以对尺寸过小的次品以辊轮施以滚压，以延展片状高分子成型物的周侧从而增加其尺寸至容许误差范围内，一热烘装置，使尺寸过大的次品在高温环境下停留一定的时间，使片状高分子成型物收缩而减少其尺寸至容许误差范围内。

10.如权利要求9所述的检测与后处理机，其特征在于，所述热烘装置包括：

一隧道，并于该隧道中形成预定温度的高温环境；

一输送部，亘设于该隧道中，并以定速缓慢运动；

若干个舌片，分别以一片端直立设于该输送部上，用以将尺寸过大的片状高分子成型物次品夹置于两相邻舌片间。

11.如权利要求9所述的检测与后处理机，其特征在于，所述热烘装置更包括：

若干个遂道，并于各该隧道中形成不同温度的高温环境；

若干个输送部，分别亘设于对应的隧道中，用以载运尺寸过大的片状高分子成型物次品于对应的隧道中受温度的作用。

12.如权利要求9所述的检测与后处理机，其特征在于，所述辊压装置更包括：

两辊轮组，分别具有一对彼此平行的辊轮，并使一辊轮组的二辊轮彼此轮面间的间距相异于另一辊轮组的二辊轮彼此轮面间的间距。

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