CN102054399A - 显示装置和控制显示装置的方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及显示装置和控制显示装置的方法。该显示装置包括：柔性基板；显示单元，其包括布置在所述基板上的多个发光元件，用于根据图像信号显示图像；偏移传感器，其设于所述基板的前表面或后表面，用于检测所述基板的弯曲状态；及像素移位控制单元，其用于当所述偏移传感器检测到所述基板的弯曲时控制所述显示单元中显示的所述图像的像素移位。根据本发明，能够可靠地防止柔性显示装置的显示性能的恶化。

Description

显示装置和控制显示装置的方法

相关申请的交叉参考

本申请包含与2009年10月28日向日本专利局提交的日本在先专利申请JP2009-247517的公开内容相关的主题，在此将该在先申请的全部内容以引用的方式并入本文。

技术领域

本发明涉及显示装置和控制显示装置的方法。

背景技术

近年来，确保显示装置中显示元件的可靠性已成为非常重要的挑战。特别是，如同在过去一样，确保结构和机械可靠性或与显示性能相关的可靠性仍是重要的问题。

例如，未经审查的日本专利申请公开公报2005-173193披露了这样一种技术，为防止依据电流流量而温度上升所引起的元件的寿命变短，该技术根据能够表示装置的显示状态的诸如图像数据之类的数据来确定图像的状况以及控制水平扫描线的发光以防止过电流。

另外，未经审查的日本专利申请公开公报2007-240617描述了：使用光电探测器作为极化检测单元，通过定量检测由施加到显示装置的极小压力所引起的变形的变化量作为入射光的极化状态的变化，对诸如折射率之类的光学特性进行控制。

然而，未经审查的日本专利申请公开公报2005-173193中所描述的技术存在的问题在于，为确保可靠性而导致制造成本增加，这是因为对于结合栅极信号和源极信号的复杂控制和发光周期控制等，使用不同的反馈控制，即使用多种算法。而且，复杂算法控制引起驱动器IC的功耗的上升，导致功率性能的下降。

对于未经审查的日本专利申请公开公报2007-240617所公开的技术，当存在由外部光的反射或由来自另一光源(诸如太阳光或房间中的荧光灯等)的相对强的外部光的光散射所引起的噪声时，很难根据变形来检测折射率的微小变化。

发明内容

因而，期望提供一种新颖及改进的显示装置及一种能够可靠防止柔性显示装置的显示性能恶化的控制显示装置的方法。

根据本发明的一个实施例，提供一种显示装置，所述显示装置包括：柔性基板；显示单元，其包括布置在所述基板上的多个多重发光元件，用于根据图像信号显示图像；偏移传感器，其设于所述基板的前表面或后表面，用于检测所述基板的弯曲状态；及像素移位控制单元，其用于当所述偏移传感器检测到所述基板的弯曲时控制所述显示单元中所显示的所述图像的像素移位。

当所述偏移传感器检测到所述基板的所述弯曲时，所述像素移位控制单元可在弯曲部分中执行所述像素移位。

所述像素移位控制单元可根据所述基板的弯曲量控制所述像素移位。

当检测到所述弯曲基板恢复到平坦表面状态时，所述像素移位控制单元可将所述图像在所述像素移位中的移动量恢复至零。

所述显示装置还可包括像素移位量计算单元，所述像素移位量计算单元用于基于查找表来计算像素移位量，所述查找表规定所述偏移传感器的输出与所述像素移位量之间的关系。所述像素移位控制单元可基于所述像素移位量控制所述像素移位。

当所述偏移传感器的输出值小于或等于预定阈值时，所述像素移位量计算单元可将所述像素移位量确定为零。

所述像素移位量计算单元可基于所述查找表计算所述像素移位量，所述查找表在所述基板弯曲的情况下和在所述弯曲基板恢复到平坦表面的情况下是不同的。

可以是这种情形，即所述偏移传感器包括一对由ITO或IZO形成的透明电极，所述偏移传感器用于基于所述一对透明电极之间的电阻值的变化检测所述基板的所述弯曲状态。

根据本发明的另一实施例，提供一种控制显示装置的方法，所述方法包括以下步骤：检测柔性基板的弯曲状态，所述柔性基板设置有用于根据图像信号显示图像的显示单元；和当检测到所述基板的弯曲时，控制所述显示单元中所显示的所述图像的像素移位。

在当检测到所述基板的所述弯曲时控制所述像素移位的步骤中，可在弯曲部分中执行所述像素移位。

在控制所述像素移位的步骤中，可根据所述基板的弯曲量控制所述像素移位。

所述控制显示装置的方法还可包括以下步骤：当检测到所述弯曲基板恢复到平坦表面状态时，将所述图像在所述像素移位中的移位量恢复到零。

所述控制显示装置的方法还可包括以下步骤：基于查找表计算像素移位量，所述查找表规定对应于所述基板的弯曲量的值与所述像素移位量之间的关系。在控制所述像素移位的步骤中，可基于像素移位量控制所述像素移位。

在计算所述像素移位的步骤中，可基于所述查找表计算所述像素移位量，所述查找表在所述基板弯曲的情况下和在所述弯曲基板恢复到平坦表面的情况下是不同的。

可以是这种情形，即在检测所述基板的所述弯曲状态的步骤中，基于设于所述基板的前表面或后表面的偏移传感器的输出值检测所述基板的所述弯曲状态，当所述偏移传感器的所述输出值小于或等于预定阈值时，不执行所述像素移位。

根据本发明的以上实施例，能够可靠地防止柔性显示装置的显示性能的恶化。

附图说明

图1是表示本发明一个实施例的显示装置的前侧表面的平面图；

图2是表示显示装置的横剖面的示意图；

图3示出了偏移传感器设于显示单元的后表面侧的示例，是表示显示装置的后表面的平面图；

图4示出了偏移传感器设于显示单元的后表面侧的示例，是表示显示装置的横剖面的示意图；

图5示出了显示装置弯曲时的状态，是表示设置有显示单元的前侧表面是凹面时弯曲状态的示意图；

图6是表示设置有显示单元的表面是凸面时弯曲状态的示意图；

图7是表示根据这个实施例的显示装置的功能性结构的方框图；

图8是表示根据电阻变化量规定像素移位量的LUT示例的示意图；

图9是表示规定像素移位量的LUT的另一示例的示意图；

图10是表示像素移位的原理的示意图；

图11示出了显示装置的横剖面，是表示偏移传感器设于显示装置的前表面和后表面的结构示例的示意图；

图12是表示图11中的显示装置弯曲时的状态的示意图；

图13是表示查找表的另一示例的示意图。

具体实施方式

下面参照附图详细说明本发明的优选实施例。注意，为省略不需要的说明，在说明书和附图中使用相同的附图标记来标识功能性结构基本相同的部件。

注意，将按照以下顺序进行说明。

1.显示装置的结构示例

2.显示装置的功能块结构

3.像素移位量的计算

4.偏移传感器设于前表面和后表面的结构示例

5.查找表的另一示例

1.显示装置的结构示例

首先，参照图1和图2，说明本发明的一个实施例的显示装置100的示意结构。图1是表示显示装置100的前侧表面的平面图。显示装置100包括显示单元110，显示单元110包括后面描述的半导体层，在显示单元110中多个像素以矩阵形式布置。显示单元110通过根据图像信号使每个像素发光来显示诸如静止图像或动态图像等图像。

在这个实施例中，柔性特征允许自由弯曲移动。同时，响应于弯曲及为适合弯曲度的量，通过根据在固定显示部分中所检测到的偏移量对显示装置中的固定显示图像执行像素移位，防止由固定显示引起的屏幕老化(burn-in)，以确保显示的可靠性。

图2是表示显示装置100的横剖面的示意图。在这个实施例中，如图2所示，堆叠第一基板102、第二基板104和偏移传感器106以形成厚度为大约数十微米的极薄的显示装置100。第一基板102配置有显示元件(发光元件)，显示元件形成在例如树脂形成的塑料基板等柔性基板上，显示元件包含在每个像素中。可使用通过低温处理形成的有机半导体元件或无机半导体元件作为显示元件。在这个实施例中，形成有机电致发光(EL)元件作为第一基板102中的显示元件。

第二基板104也是由树脂形成的塑料基板形成，第二基板104布置为面对包括有机半导体或无机半导体所形成的显示元件的第一基板102，第二基板104用作封住显示元件的密封基板。以这种方式，在这个实施例中，显示装置100由两种基板形成，即由第一基板102和第二基板104形成，两基板之间有半导体层。显示单元110在第二基板104侧的表面上显示图像。对于这种结构，显示装置100形成为具有大约数十微米的厚度，具有柔性，可在显示图像的状态下自由弯曲。

如图1和图2所示，由如ITO膜或IZO膜等透明电极体形成的偏移传感器106布置在第二基板104的表面上。例如，偏移传感器106与显示单元110形成在相同的区域。偏移传感器106由透明电极体形成，且均布置成面对第一基板102的显示元件。

偏移传感器106具有例如与现有触摸屏的电极相似的结构。由ITO或IZO等透明电极形成的两个金属薄膜(电阻膜)布置成彼此面对，多对金属薄膜例如以矩阵形式布置在平坦表面区域中。偏移传感器106的相对的透明电极具有电阻。将预定电压施加到电极中的一个电极，然后监视电极之间的电阻值。对于这种结构，由于当显示装置100弯曲时，两个金属薄膜之间的电阻值在弯曲的位置处发生变化且在另一电极处产生依据弯曲的电压，所以可检测到电阻值的变化。因而，通过检测以矩阵形式布置的多对金属薄膜中电阻值已经变化的金属薄膜，能够检测到偏移传感器106中的偏位移置，及能够检测到显示单元110中的弯曲位置。电阻值的变化随着显示装置100的弯曲量增加而增加。以这种方式，显示装置100能够检测到由偏移传感器106所检测的电阻变化量，且能够检测到显示装置100的弯曲位置和弯曲量。

图3和图4是表示偏移传感器106设于显示单元110的后表面侧的示例的示意图。在此处，图3示出了显示装置100的后表面的平面图，图4示出了显示装置100的横剖面图。在图3和图4中，第一基板102和第二基板104的结构与图1和图2中的显示装置100的结构相同。在这种结构示例中，如图4所示，偏移传感器106设于第一基板102的后表面。与偏移传感器106设于显示单元110的前表面时的方式相同，当偏移传感器106设于显示单元110的后表面时，也可根据电阻值的变化检测显示装置100的弯曲量和弯曲位置。

当使用如有机EL等自发光显示元件的显示装置长时间地显示固定图像时，通常会出现所谓的屏幕老化现象。由于发光材料的劣化程度依据使用情况而有差异，例如在图像中存在亮度差异的显示区域中发生屏幕老化现象。在实际显示中，与各个显示器件相对应的发光材料的累计发光时间并不一致，而是根据迄今为止已经显示的图像而不同。因此，在显示器件之间，发光材料的劣化程度不同，导致屏幕老化现象发生。当图像中存在亮度差异时，对于连续显示图像的固定图像显示来说，通常更容易发生屏幕老化现象。

在这个实施例中，由于屏幕老化现象，通过使关于第一基板102包含的有机半导体或无机半导体形成的显示元件的输出控制对应于偏移传感器106所检测的电阻值的电阻变化量的检测值，基于弯曲时根据电阻变化量获得的显示单元110的偏移量(弯曲量)对显示单元110的显示像素执行预定量的像素移位。因此，在这个实施例中，通过控制显示单元110中由不变的显示引起的屏幕老化现象来确保显示单元110的可靠性。

图5是表示显示装置110弯曲时的状态的示意图，示出了设置有显示单元110的前侧表面是凹面时的弯曲状态。图6示出了设置有显示单元110的表面是凸面时的弯曲状态。

在显示装置100弯曲的状态下，如图5和图6所示，由于弯曲降低了显示单元110的可见性，所以维持图像的正常显示状态就不那么重要。例如，当弯曲处于如在图5中所示的情形时，即当显示屏幕是凹表面时，显示屏幕上的图像也是弯曲的。而且，由于表面上的光散射等的影响，与表面是平坦表面时相比，图像质量也降低了。因此，即使当执行像素移位时，也能防止用户觉得不舒服。特别是，如在图5中，当显示单元110的显示屏幕以大约180°的角度弯曲时，由于形成了显示单元110中的图像从外部几乎不可见的区域，所以用户观察不到像素移位。以相同的方式，当弯曲处于如在图6中所示的情形时，即当显示单元110的显示屏幕是凸表面时，由于显示屏幕上的图像也是弯曲的且图像质量降低，所以即使执行像素移位，也能防止用户觉得不舒服。以这种方式，在这个实施例中，当显示单元110弯曲时，考虑到维持固定图像显示不那么重要而执行像素移位。因此，在不让用户觉得不舒服的情形下能够确保显示装置100的显示质量的可靠性。

在与弯曲部分相对应的区域中执行像素移位，在该弯曲部分中，在以矩阵形式布置的多个偏移传感器106中检测到电阻变化。因此，由于在没有弯曲的区域中不执行像素移位，所以可高水平地维持图像的可见性。随着显示单元110的弯曲量的增加，由于显示屏幕上的图像的弯曲量也随着增加，所以可越少地观察到像素移位的影响。因此，在这个实施例中，结合弯曲度的量仅对与显示装置100的弯曲量相关的一些对应数目的像素执行像素移位。当显示单元110已从弯曲状态恢复到平坦表面时，相应地将像素移位量恢复到零初始状态。注意，对于未弯曲的正常显示装置，用户会观察到用于防止屏幕老化的像素移位控制，这会让用户觉得不舒服。然而，在这个实施例中，由于在弯曲状态下执行用于防止屏幕老化的像素移位控制，所以即使当执行像素移位控制时用户也几乎觉察不到像素移位，也不会觉得不舒服。因而，能够确保显示装置的可靠性而不让用户觉察到像素移位控制。

2.显示装置的功能块结构

下面说明具体的控制技术。图7是表示这个实施例的显示装置100的功能性结构的方框图。图7中所示出的功能块可包括例如传感器或电路等硬件，或者包括具有能实现其功能的软件(程序)的中央处理单元(CPU)。如图7所示，显示装置100包括电阻检测单元120、电阻比较单元122、像素移位计算单元124和像素移位控制单元126。电阻检测单元120对应于上面所述的偏移传感器106，电阻检测单元120检测电阻值作为对应于弯曲量的模拟值。借助电阻检测单元120所检测的电阻值，电阻比较单元122检测变化量。电阻比较单元122通过比较显示装置100未弯曲时的平坦表面状态下的参考电阻值与电阻检测单元120所检测的电阻值来检测变化量。

当检测到电阻变化量时，电阻比较单元122将变化量输出到像素移位计算单元124。同时，当检测到电阻变化量时，电阻比较单元122将有关的偏移传感器106的位置信息输入到像素移位控制单元126。当未检测到电阻变化量时，即当电阻检测单元120所检测的电阻值与参考电阻值无差异时，由于显示装置100未弯曲，就不将电阻变化量输出到像素移位计算单元124。像素移位计算单元124根据输入变化量来确定显示单元110的像素移位量。将在像素移位计算单元124中确定的像素移位量输出到像素移位控制单元126，通过像素移位控制单元126控制显示单元110中的像素移位。像素移位控制单元126在与弯曲部分相对应的区域中执行像素移位，在该弯曲部分中，在以矩阵形式布置的多个偏移传感器106之间检测到电阻变化。因此，像素移位控制单元126基于已发生电阻变化的偏移传感器106的位置信息(从电阻比较单元122输入的)在与弯曲部分对应的区域中执行像素移位。

3.像素移位量的计算

在像素移位计算单元124中，以查找表(LUT)的形式提前存储根据电阻变化量而待控制的像素移位量。图8是用于说明依据电阻变化量规定像素移位量的LUT示例的示意图。以这种方式，在这个实施例中使用提前存储的线性数据执行像素移位控制。如图8所示，当电阻变化量小时，将像素移位量的值也设得小。例如，将像素移位量设定成随着电阻变化量的增加而指数地增加。因此，当显示单元110的弯曲小时，通过采用小像素移位量可高水平地维持显示性能。由于当显示单元110的弯曲量小时更容易觉察到像素移位，所以通过采用小的像素移位量防止用户觉察到像素移位。

图9是说明规定像素移位量的LUT的另一示例的示意图。在图9所示的示例中，规定了偏移传感器106所检测到的电压值(对应于电阻值的值)与像素移位量之间的关系。当将预定电压施加到偏移传感器106的透明电极中的一个电极时，相对于偏移传感器106的另一个电极的参考电压的电压值随着弯曲量的增加而增加，该参考电压是在显示装置100未弯曲的状态下另一电极的电压值。因此，可以通过在图9的LUT中查找相对于偏移传感器106的另一电极的参考电压的电压值而获得像素移位量。

例如，假定在偏移传感器106中的任意点(位置)处，电阻比较单元122检测到偏移传感器106的透明电极的检测电压值与未弯曲时的参考电压值之间的差为0.2V。在这种情况下，在图9的示例中，像素移位计算单元124根据检测到的差值量计算像素移位量，接着将像素移位量确定为4个像素。然后，像素移位控制单元126在一个特定周期内垂直地和水平地执行像素移位。当图像中存在亮度差异时，由于避免了图像的连续显示，所以通过执行像素移位能够防止屏幕老化的发生。这样，在这个实施例中，通过根据基于显示装置100的弯曲所产生的电阻值的差来执行像素移位，能够防止屏幕老化。

如图8所示，查找表规定了在电阻变化量小的预定范围内像素移位量为零，且规定了当电阻变化量超过预定阈值Th时将执行像素移位。以这种方式，通过在实际执行像素移位之前设定死区，可以在显示装置100微微弯曲时不执行像素移位。因此，由于对显示装置100的微小变形不执行像素移位，所以能防止用户觉得不舒服。

图10是说明像素移位原理的示意图，说明了如何在显示装置100的弯曲部分中执行像素移位。如图10所示，当根据电阻值的变化检测到显示单元110的弯曲时，在预定时间周期内将弯曲部分中显示的固定图像显示图案垂直地和水平地(在图10中箭头的方向上)移动预定数量的像素。或者，可周期性地执行像素移位，使得固定显示图案在预定像素范围内顺时针(或逆时针)旋转。在此并未特别地限制由像素移位控制单元126执行像素移位控制，也可以使用常见和通用的技术执行像素移位控制。例如，可以通过将图像的显示时序改变预定数量的时钟周期以改变像素单元中的数据读出时序来执行像素移位。更具体地，当用于在预定时间周期内垂直地和水平地(在图10中箭头的方向上)移动弯曲部分中所显示的固定图像显示图案预定数量的像素的控制为如下方式时，即结合由弯曲所产生的电阻变化量周期地执行像素移位控制时，随着像素移位量的增加而执行控制以相应地缩短周期。也就是说，通过使像素移位的周期对应于增加的像素移位以便缩短像素移位周期，根据弯曲逐渐地执行固定显示的像素移位控制，由此控制由固定显示所引起的屏幕老化。

因此，在弯曲时显示单元110的因弯曲而可见性降低所致从用户侧观察不到的显示区域中，通过取消固定图像显示且根据弯曲量控制显示单元110中所显示图像的像素移位来防止屏幕老化，以确保显示的可靠性。

注意，并未对引起更容易在显示单元110中发生屏幕老化的固定图像显示中的图像进行特别限制，对于固定图像显示中的图像，例如其图像信号水平可以在特定帧频内保持恒定。进一步，对于显示装置100，可通过输入装置等在用户侧对用于确定固定图像显示的恒定信号水平的状态(速率)进行任意设定。

如上面所述，在这个实施例的显示装置100中，通过偏移传感器106检测弯曲量，结合弯曲量控制像素移位以防止由于图像显示所致的屏幕老化而劣化。因此，在弯曲时从用户侧几乎不可视的显示区域中，可以通过取消图像显示及根据弯曲量控制显示单元110的像素移位来确保显示的可靠性。

4.偏移传感器设于前表面和后表面的结构示例

图11是表示显示装置100的横剖面的示意图，示出了偏移传感器设于显示装置100的前表面和后表面的结构示例。图12是表示图11中所示的显示装置100弯曲时的状态的示意图。在图12的情形下的弯曲部分中，在未设置有显示单元110的后表面侧的偏移传感器106的曲率半径大于在设置有显示单元110的前表面侧的偏移传感器106的曲率半径。更具体地，后表面侧的偏移传感器106的曲率半径多出第一基板102和第二基板104的厚度。因此，与后表面侧的偏移传感器106的弯曲量相比较，前表面侧的偏移传感器106的弯曲量更大，弯曲量较大的前表面侧的偏移传感器106的电阻变化量大于后表面侧的偏移传感器106的电阻变化量。

因此，在图11所示的结构中，当通过前表面和后表面上的偏移传感器106检测到电阻变化量时，对前表面和后表面的电阻变化量进行比较，使得前表面和后表面中的一个被检测为凹面，另一个被检测为凸面。当前表面为凹面时，可以控制像素移位量增加，这是因为，相对前表面为凸面时显示单元110从外部看更加隐蔽且更加难以辨认而导致像素移位不太显著。另外，当前表面为凸面时，由于除图像为弯曲之外图像自身是可辨认的，所以通过减少相对前表面为凹面时的像素移位量，能防止因为像素移位而使用户觉得不舒服。

尽管上面描述的示例中像素移位的方向为垂直和水平方向，但是也可基于偏移传感器106的输出检测显示装置100的弯曲方向以在弯曲方向上执行像素移位。例如，在图5的示例中，可沿着弯曲方向(图5中的箭头所示的)执行像素移位。因此，像素移位可以变得不太显著，因而可以可靠地防止用户察觉到像素移位。

5.查找表的另一个示例

图13是说明查找表的另一个示例的示意图。在图13所示的示例中，相对于电阻变化量的像素移位量在显示装置100为弯曲的过程中和在恢复弯曲的过程中是不同的。

在图13所示的查找表中，显示装置100为弯曲的过程中的(图13中的实线所示的)特性曲线与图8中相同。另一方面，在恢复弯曲的过程中采用图13中的虚线所示的特性曲线，使得相对于电阻变化量的像素移位量的变化量在电阻变化量较大的区域中更大，并使得相对于电阻变化量的像素移位量的变化量在电阻变化量较小的区域中更小。因此，当弯曲状态恢复到平坦表面时，应用像素移位的图像可以在相对早的阶段恢复到初始状态。因而，当弯曲的显示装置100恢复到平坦表面时，可以可靠地防止像素移位使用户觉得不舒服。

以上已经参照附图详细地说明了本发明的优选实施例。然而，本发明并不局限于这些示例。本领域技术人员应当明白，本发明适用于在权利要求所描述的技术构思的范围内可想到各种变形或修改的情况，而且应该能够理解这些变形或修改也自然包含在本发明的技术范围内。

Claims (15)

1.一种显示装置，其包括：

柔性基板；

显示单元，其包括布置在所述基板上的多个发光元件，用于根据图像信号显示图像；

偏移传感器，其设于所述基板的前表面或后表面，用于检测所述基板的弯曲状态；及

像素移位控制单元，其用于当所述偏移传感器检测到所述基板的弯曲时控制所述显示单元中显示的所述图像的像素移位。

2.根据权利要求1所述的显示装置，其中，当所述偏移传感器检测到所述基板的所述弯曲时，所述像素移位控制单元在弯曲部分中执行像素移位。

3.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述像素移位控制单元根据所述基板的弯曲量控制所述像素移位。

4.根据权利要求1所述的显示装置，其中，当检测到所述弯曲基板恢复到平坦表面状态时，所述像素移位控制单元将所述图像在所述像素移位中的移动量恢复到零。

5.根据权利要求1所述的显示装置，还包括：

像素移位量计算单元，其用于基于规定了所述偏移传感器的输出与所述像素移位量之间关系的查找表计算像素移位量，

其中，所述像素移位控制单元基于所述像素移位量控制所述像素移位。

6.根据权利要求5所述的显示装置，其中，当所述偏移传感器的输出值小于或等于预定阈值时，所述像素移位量计算单元将所述像素移位量确定为零。

7.根据权利要求5所述的显示装置，其中，所述像素移位量计算单元基于所述查找表计算所述像素移位量，所述查找表在所述基板弯曲的情况下和在所述弯曲基板恢复到平坦表面的情况下是不同的。

8.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述偏移传感器包括一对由ITO或IZO形成的透明电极，所述偏移传感器基于所述一对透明电极之间的电阻值变化检测所述基板的所述弯曲状态。

9.一种控制显示装置的方法，该方法包括以下步骤：

检测设有显示单元的柔性基板的弯曲状态，所述显示单元用于根据图像信号显示图像；及

当检测到所述基板的弯曲时，控制在所述显示单元中显示的所述图像的像素移位。

10.根据权利要求9所述的控制显示装置的方法，其中，在所述当检测到所述基板的所述弯曲时控制所述像素移位的步骤中，在弯曲部分中执行所述像素移位。

11.根据权利要求9所述的控制显示装置的方法，其中，在所述控制所述像素移位的步骤中，根据所述基板的弯曲量控制所述像素移位。

12.根据权利要求9所述的控制显示装置的方法，还包括以下步骤：

当检测到所述弯曲基板恢复到平坦表面状态时，将所述图像在所述像素移位中的移位量恢复到零。

13.根据权利要求9所述的控制显示装置的方法，还包括以下步骤：

基于查找表计算像素移位量，所述查找表规定了对应于所述基板的弯曲量的值与所述像素移位量之间的关系，

其中，在所述控制所述像素移位的步骤中，基于所述像素移位量控制所述像素移位。

14.根据权利要求13所述的控制显示装置的方法，其中，在所述计算所述像素移位量的步骤中，基于所述查找表计算所述像素移位量，所述查找表在所述基板弯曲的情况下和在所述弯曲基板恢复到平坦表面的情况下是不同的。

15.根据权利要求9所述的控制显示装置的方法，其中，在所述检测所述基板的所述弯曲状态的步骤中，基于设于所述基板的前表面或后表面的偏移传感器的输出值检测所述基板的所述弯曲状态，当所述偏移传感器的所述输出值小于或等于预定阈值时不执行所述像素移位。

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