CN102025374B - 数模转换器的差分非线性误差实时校正的自动校准电路 - Google Patents
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Abstract
对数模转换器的差分非线性误差实时校正的自动校准电路,以提高数模转换器DAC的分辨率,包括一个求和放大器,所述求和放大器的输出端通过第一电阻分别连接第一开关的一端和所述求和放大器的负向输入端,所述求和放大器的负向输入端连接第二开关的一端;所述第一开关的另一端连接应用数模转换器,所述第二开关的另一端连接校准数模转换器;所述应用数模转换器通过数据总线A分别连接随机存储器和控制器,所述校准数模转换器通过RAM数据总线连接所述随机存储器;所述第一开关和第二开关均连接所述控制器;所述求和放大器的输出端通过第二电阻分别连接标准数模转换器和比较器的正向输入端,所述标准数模转换器通过数据总线B分别连接所述随机存储器。
Description
技术领域
本发明涉及数模转换器技术,特别是一种对数模转换器的差分非线性误差实时校正的自动校准电路。
背景技术
数模转换器的缩写是DAC,差分非线性的缩写是DNL。一般数模转换器DAC的差分非线性DNL是在DAC的应用中的主要误差源之一。由于DAC固有的DNL误差,以及由于应用条件变化(例如温度变化),数模转换器表现的DNL误差也不相同,所以需要设计一种可对DAC的DNL误差实时校正的自动校准电路,以提高数模转换器DAC的准确度和分辨率。
发明内容
本发明针对现有技术存在的缺陷或不足,提供一种对数模转换器的差分非线性误差实时校正的自动校准电路,以提高数模转换器DAC的准确度和分辨率。
本发明的技术方案如下:
对数模转换器的差分非线性误差实时校正的自动校准电路,其特征在于,包括一个求和放大器,所述求和放大器的输出端通过第一电阻分别连接第一开关的一端和所述求和放大器的负向输入端,所述求和放大器的负向输入端连接第二开关的一端;所述第一开关的另一端连接应用数模转换器,所述第二开关的另一端连接校准数模转换器;所述应用数模转换器通过数据总线A分别连接随机存储器和控制器,所述校准数模转换器通过RAM数据总线连接所述随机存储器;所述第一开关和第二开关均连接所述控制器;所述求和放大器的输出端通过第二电阻分别连接标准数模转换器和比较器的正向输入端,所述标准数模转换器通过数据总线B分别连接所述随机存储器和所述控制器,所述比较器的输出端连接所述控制器;所述比较器的负向输入端接地,所述求和放大器的正向输入端接地。
所述控制器用于对所述比较器的状态进行判断、对数据总线A和数据总线B进行操作、以及控制所述第一开关和第二开关。
所述求和放大器对应用数模转换器的输出和校准数模转换器的输出进行模拟运算后完成数据或代码的校准并输出电压。
所述自动校准电路数据代码同步寻址校准代码,实现数模转换器转换特性的DNL全程校准或分段校准。
所述校准流程中标准1LSB的产生过程以及相邻代码与相应的记忆模拟值相互比较运算的过程。
本发明的技术效果如下:
(1)数据代码同步寻址校准代码,实现数模转换器转换特性的DNL全程校准或分段校准,灵活的校准配置。
(2)实时产生标准1LSB代码,减小环境温度的影响。
(3)实现全自动校准。
(4)校准流程简单,自动校准效率高。
(5)利用该电路,静态特性有明显改善:
DNL | INL | |
校准前 | ±1.75LSB | ±2LSB |
校准后 | ±0.5LSB | ±0.75LSB |
附图说明
图1是本发明的原理结构图。
具体实施方式
下面结合附图(图1)对本发明进行说明。
如图1所示,对数模转换器的差分非线性误差实时校正的自动校准电路,其特征在于,包括一个求和放大器A1,所述求和放大器A1的输出端通过第一电阻分别连接第一开关SW1的一端和所述求和放大器A1的负向输入端“-”,所述求和放大器A1的负向输入端“-”连接第二开关SW2的一端;所述第一开关SW1的另一端连接应用数模转换器即应用DAC,所述第二开关SW2的另一端连接校准数模转换器即校准DAC;所述应用数模转换器通过数据总线A分别连接随机存储器RAM和控制器,所述校准数模转换器通过RAM数据总线连接所述随机存储器RAM;所述第一开关SW1和第二开关SW2均连接所述控制器;所述求和放大器A1的输出端通过第二电阻分别连接标准数模转换器即标准DAC和比较器Comparator的正向输入端“+”,所述标准数模转换器通过数据总线B分别连接所述随机存储器RAM和所述控制器,所述比较器Comparator的输出端连接所述控制器;所述比较器的负向输入端“-”接地,所述求和放大器的正向输入端“+”接地。所述控制器用于对所述比较器的状态进行判断、对数据总线A和数据总线B进行操作、以及控制所述第一开关SW1和第二开关SW2。所述求和放大器A1对应用数模转换器的输出和校准数模转换器的输出进行模拟运算后完成数据或代码的校准并输出电压Vout。所述自动校准电路数据代码同步寻址校准代码,实现数模转换器转换特性的DNL全程校准或分段校准。
关于校准原理:
应用实时校准原理:应用中SW1、SW2同时闭合,数据总线A中的数据加载到应用DAC,同时该数据作为地址代码对RAM寻址,相应RAM数据总线中的数据输入到校准DAC中并通过求和放大器A1进行代数和运算后完成该代码的校准。输出端Vout输出相应校准电压。
自动校准原理:首先断开SW1,闭合SW2,通过数据总线B控制标准DAC输出一个标准1LSB输出,调整数据总线A中的数据,使比较器输出零。第二,校准DAC的标准1LSB代码配置完成存储,闭合SW1,并配置数据总线A为校准代码Cm,调整数据总线B的总线数据,通过标准DAC使比较器再次为零。第三,将校准代码加1,通过数据总线A输出,通过数据总线B调整校准DAC输出,使比较器输出零。此时将数据总线B的代码存储于RAM中。重复该过程完成所有代码校准。
比较器第二次调零时:VSTD=VM+VSTD_LSB
比较器第三次调零时:VSTD=VM+VSTD_LSB=VM+1+VCAL
也就是:VM+1-VM=VSTD_LSB-VCAL
VSTD_LSB:校准DAC的标准LSB;
VM:应用DAC加载代码M时的电压;
VM+1:应用DAC加载代码M+1时的电压;
VCAL:校准DAC加载校准代码时的电压;
VSTD:标准DAC输出电压。
关于应用效果:
利用该电路,静态特性有明显改善:
DNL | INL | |
校准前 | ±1.75LSB | ±2LSB |
校准后 | ±0.5LSB | ±0.75LSB |
应用效果中INL(积分非线性)误差改善与本发明自动校准电路有关。INL积分非线性简单说是整个代码区间的DNL代数和,DNL减小,必然INL会小。在DNL相互抵消的特殊的情况,INL小,而DNL大,在非满度应用中,虽然INL小,但输出误差很大(因为DNL大),DNL是数模转换器的本质误差。一般情况下,DNL大,则INL大,而且代码范围越宽,这种效应越明显。INL产生的本质原因是DNL。
1LSB就是DAC的分辨率,即最低位变化1位引起DAC输出的变化值。DAC编码格式一般大多数的芯片是一样的,两种基本的格式,格式问题不影响该电路的运行,简单调整控制器的控制过程即可实现。
控制器三个基本作用:对比较器的状态进行判断;对数据总线A、B进行操作;控制开关SW1和SW2。
求和放大器A1进行代数和运算后完成该代码的校准是指应用过程中:应用DAC的输出和校准DAC的输出通过放大器A1的模拟运算后完成了校准并输出Vout。
RAM数据总线中的数据对应地址代码或对应校准DAC的输出。
在此指明,以上叙述有助于本领域技术人员理解本发明创造,但并非限制本发明创造的保护范围。任何没有脱离本发明创造实质内容的对以上叙述的等同替换、修饰改进和/或删繁从简而进行的实施,均落入本发明创造的保护范围。
Claims (3)
1.对数模转换器的差分非线性误差实时校正的自动校准电路,其特征在于,包括一个求和放大器,所述求和放大器的输出端通过第一电阻分别连接第一开关的一端和所述求和放大器的负向输入端,所述求和放大器的负向输入端连接第二开关的一端;所述第一开关的另一端连接应用数模转换器,所述第二开关的另一端连接校准数模转换器;所述应用数模转换器通过数据总线A分别连接随机存储器和控制器,所述校准数模转换器通过RAM数据总线连接所述随机存储器;所述第一开关和第二开关均连接所述控制器;所述求和放大器的输出端通过第二电阻分别连接标准数模转换器和比较器的正向输入端,所述标准数模转换器通过数据总线B分别连接所述随机存储器和所述控制器,所述比较器的输出端连接所述控制器;所述比较器的负向输入端接地,所述求和放大器的正向输入端接地;所述控制器用于对所述比较器的状态进行判断、对数据总线A和数据总线B进行操作以及控制所述第一开关和第二开关。
2.根据权利要求1所述的对数模转换器的差分非线性误差实时校正的自动校准电路,其特征在于,所述求和放大器对应用数模转换器的输出和校准数模转换器的输出进行模拟运算后完成数据或代码的校准并输出电压。
3.根据权利要求1所述的对数模转换器的差分非线性误差实时校正的自动校准电路,其特征在于,所述自动校准电路数据代码同步寻址校准代码,实现数模转换器转换特性的DNL全程校准或分段校准。
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