CN101943731B - 元件测试系统及其方法 - Google Patents

Abstract

本发明是有关于一种元件测试系统及其方法。其中，一第一测试设备侦测一第一元件被装载时测试第一元件；一第二测试设备侦测一第二元件被装载时测试第二元件；一仪器驱动模块控制一装卸模块装卸第一元件于第一测试设备，于第一测试设备测试第一元件时控制装卸模块装载第二元件于第二测试设备，藉由控制装卸模块错开装载或卸除元件于第一测试设备与第二测试设备的时间，使第一测试设备与第二测试设备达成并行执行第一元件与第二元件的元件测试作业。

Description

元件测试系统及其方法

技术领域

本发明涉及一种元件测试系统及其方法，特别是涉及一种错开装载或卸除元件于两测试设备的时间，以使两测试设备并行执行元件测试作业的元件测试系统及其方法。

背景技术

先前技术中，厂商在制造受测元件后，对每一受测元件进行一测试作业。

请参照图1所示，其为先前技术的元件测试系统的方框图，其是由一仪器驱动模块11、一测试主机12、一功率计(Power Meter，PM)15与一信号收发器16。其中，测试主机12连接仪器驱动模块11，并通过耦合器14接连功率计15与信号收发器16。功率计15用以侦测受测元件发出的信号(如Radio Frequency Signal，射频信号)的信号强度与信号传送的资料稳定性。

在此说明，信号收发器16指一个具有标准的信号收发、调制、解调能力的标准样本元件，用以根据接收信号，并根据信号收发器16是否能正确、完整、调制或解调受测元件13发出的无线信号，测试受测元件13输出的信号的可调制性与受测元件13的传输效能，并将信号接收结果提供给测试主机12，供测试主机12判断受测元件13是否正常运行。

先前技术的系统中，先以人工、或机械手臂夹持受测元件13以装载于测试主机12的一载具，如受测元件13为一受测晶片时，载具为配置有晶片插槽(Socket)的测试电路板；亦或，受测元件13为一受测网络卡时，载具为配置有卡片插槽(Slot)。耦合器14先被切换以连通测试主机12与功率计15，测试主机12从仪器驱动模块11取得一驱动程序以设定受测元件13，再控制受测元件13发出一受测信号至功率计15。

功率计15是分析受测信号的信号强度以回传一信号强度资料至仪器驱动模块11，仪器驱动模块11修正提供的驱动程序的工作参数以形成一修正程序，再提供给测试主机12来重新设定受测元件13的工作参数。

耦合器14再被切换以连通测试主机12与信号收发器16，测试主机12控制受测元件13发出一测试资料。信号收发器16接收此测试资料，并将测试资料的接收结果回传给测试主机12。测试主机12根据取得的接收结果以判断受测元件13是否正常运作。

就上述得知，先前技术中，一套测试系统同一时间仅能测试一个受测元件。厂商为短时间增加产能，多会增设相同的测试系统，以一次性测试多个受测元件。然而，厂商每购置一套测试系统，仅是多增设一条受测元件的元件测试线，所制造出的受测元件的结构与受测元件进行的测试流程皆相同，即受测元件测试效率提升了，厂商所付出的测试成本也相对提升。因此，如何有效的降低生产成本，与提升受测元件的产能，为厂商应思考的问题。

由此可见，上述现有的元件测试系统及其方法在产品结构、制造方法与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品及方法又没有适切的结构及方法能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新的元件测试系统及其方法，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。

发明内容

本发明的目的在于，克服现有的元件测试系统及其方法存在的缺陷，而提供一种新的元件测试系统及其方法，所要解决的技术问题是使其可降低设备成本，并保持一定受测元件测试效能，非常适于实用。

本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。为达到上述目的，本发明提供了一种元件测试系统，此元件测试系统包含一第一测试设备、一第二测试设备、一装卸模块与一仪器驱动模块。

第一测试设备侦测经装卸模块装载的第一元件时输出一第一触发信号，并测试第一元件，且于完成测试后输出一第一结束信号。第二测试设备侦测经装卸模块装载的第二元件时输出一第二触发信号，并测试第二元件，且于完成测试后输出一第二结束信号。仪器驱动模块控制装卸模块装载第一元件，于取得第一触发信号时判定第一元件被第一测试设备所测试，同时控制装卸模块装载第二元件，于取得第二触发信号时判定第二元件被第二测试设备所测试。仪器驱动模块于第二元件测试期间同步取得第一结束信号时，控制装卸模块卸除第一元件，以及取得第二结束信号时控制装卸模块卸除第二元件。

本发明所揭露的元件测试系统形成一仪器控制模块控制两个测试设备，与先前技术相较，可减少仪器控制模块的使用数量，以降低设备成本。而且，藉由仪器控制模块可错开对两测试设备的控制时间，使两测试设备持续无间断的对各元件受测元件进行元件测试作业，维持一定程度的受测元件测试效能。

然仪器判断装载与卸除元件于第一测试设备的时间，与装载与卸除元件于第二测试设备的时间重叠时，仪器驱动模块先控制装卸模块执行装载或卸除元件于第一测试设备的动作，再控制该装卸模块执行装载或卸除元件于第二测试设备的动作。

本发明的目的及解决其技术问题还采用以下技术方案来实现。

另外，为达到上述目的，本发明还提供了一种元件测试方法，其流程包含：经由一仪器驱动模块控制一装卸模块装载一第一元件于一第一测试设备，第一测试设备于第一元件完成被装载时，输出一第一触发信号并测试第一元件。仪器驱动模块取得第一触发信号时判定第一元件被第一测试设备所测试，同时控制装卸模块装载一第二元件于第二测试设备，第二测试设备在第二元件被装载时输出一第二触发信号并测试第二元件。仪器驱动模块取得第二触发信号时判定第二元件被第二测试设备所测试，且与第一测试设备测试该第一元件达成并行执行。

借由上述技术方案，本发明元件测试系统及其方法至少具有下列优点及有益效果：本发明所揭露的元件测试系统及其方法是形成一仪器控制模块控制两个测试设备，与先前技术相较，可减少仪器控制模块的使用数量，以降低设备成本。然而，每一测试设备在取得元件时，对元件进行相同的元件测试。此方法中，仪器控制模块错开对两测试设备的控制时间，使两测试设备持续实质上无间断的元件测试作业，提升一定程度的受测元件测试的执行效率。

综上所述，本发明是有关于一种元件测试系统及其方法。其中，一第一测试设备侦测一第一元件被装载时测试第一元件；一第二测试设备侦测一第二元件被装载时测试第二元件；一仪器驱动模块控制一装卸模块装卸第一元件于第一测试设备，于第一测试设备测试第一元件时控制装卸模块装载第二元件于第二测试设备，藉由控制装卸模块错开装载或卸除元件于第一测试设备与第二测试设备的时间，使第一测试设备与第二测试设备达成并行执行第一元件与第二元件的元件测试作业。本发明在技术上有显著的进步，并具有明显的积极效果，诚为一新颖、进步、实用的新设计。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。

附图说明

图1是先前技术的元件测试系统方框图。

图2A是本发明实施例的元件测试系统架构图。

图2B是本发明实施例的元件测试系统方框图。

图3是本发明实施例的元件测试方法的流程图。

图4是本发明实施例的元件测试流程时序图。

图5是本发明实施例的第一测试设备测试第一元件的流程图。

图6是本发明实施例的第二测试设备测试第二元件的流程图。

图7是本发明实施例的元件接续测试流程图。

图8是本发明实施例的元件接续测试的另一流程图。

图9是本发明实施例的元件装卸时间重叠的执行流程图。

11：仪器驱动模块        12：测试主机

13：受测元件            14：耦合器

15：功率计              16：信号收发器

20：仪器驱动模块        21：装卸模块

31：第一主机            32：第一载具

33：第一功率计          34：第一信号收发器

35：第一耦合器          41：第二主机

42：第二载具            43：第二功率计

44：第二信号收发器      45：第二耦合器

51：第一元件            52：第二元件

53：第三元件            54：第四元件

具体实施方式

为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的元件测试系统及其方法的具体实施方式、结构、方法、步骤、特征及其功效，详细说明如后。

请同时参照图2A与图2B所示，图2A为本发明实施例的测试系统架构图，图2B为本发明实施例的测试系统方框图。本发明所揭露的系统包含一第一测试设备、一第二测试设备、一装卸模块21与一仪器驱动模块20。

第一测试设备包含一第一主机31、一第一功率计33与一第一信号收发器34；第二测试设备包含一第二主机41、一第二功率计43与一第二信号收发器44。第一主机31与第二主机41各包含一用以装载受测元件(DeviceUnder Test)的第一载具32与第二载具42，如受测元件为一受测晶片时，第一载具32与第二载具42为配置有晶片插槽(Socket)的测试电路板；亦或，受测元件为一受测网络卡时，第一载具32与第二载具42为配置有卡片插槽(Slot)。第一功率计33与第二功率计43是为用以测试受测元件输出信号的信号强度。

在本实施例中，受测元件的输出信号是为射频信号(Radio FrequencySignal)。第一信号收发器34与第二信号收发器44在此是指一种根据接收信号与发送信号的反应，调整出最适合于此测试作业的设定参数值，并根据此设定参数值进行信号接收与发送作业的受测元件标准样本(也就是利用已完成测试，且品质良好的受测元件所制作成的信号收发设备)，其具有标准的信号收发、调制、解调能力。元件标准样本具有标准化、接近理想数值的工作参数与运行状态，主要是用以接收受测元件输出的信号，并受测元件输出的信号接收状态判断受测元件的信号传输效能与输出信号的可调制能力是否正常。

仪器驱动模块20储存有多个驱动程序，在此说明，所谓驱动程序是对某些受测元件的常态工作参数与控制码。仪器驱动模块20会从所有驱动程序中取出适合于第一元件51的一第一程序给予第一测试设备，供第一测试设备设定第一元件51的工作参数，以及从驱动程序中取出适合于第二元件52的一第二程序给予第二测试设备，供第二测试设备设定第二元件52的工作参数。

本实施例中，假设第一元件51与第二元件52为相同类型的受测元件，而第一测试设备与第二测试设备是为相同类型与架构的测试设备，故仪器驱动模块20提供的第一程序与第二程序是为相同。反之，若第一元件51与第二元件52为不同类型的受测元件，仪器驱动模块20提供的第一程序与第二程序则为不同。

装卸模块21用于将受测元件装载于第一测试设备与第二测试设备的第一载具32与第二载具42，以及从第一测试设备与第二测试设备的第一载具32与第二载具42卸除受测元件。装卸模块21可根据受测元件的形态而配置不同的结构类型，如受测元件为一受测晶片时，装卸模块21可为真空式吸盘以吸引受测晶片；亦或，受测元件为一受测网络卡时，装卸模块21可为具有夹持物体能力的机械手臂，以夹持受测网络卡。

如图2A与图2B所示，仪器驱动模块20分别连接装卸模块21、第一主机31、第二主机41、第一功率计33与第二功率计43。第一主机31与第二主机41相互连接，第一主机31连接用于装载元件的第一载具32与第二信号收发器44，第一载具32通过第一耦合器35连接第一功率计33与第一信号收发器34，第二载具42是通过第二耦合器45连接第二功率计43与第二信号收发器44。

将第一测试设备的第一耦合器35切换至连通第一载具32与第一功率计33。仪器驱动模块20是控制装卸模块21将一第一元件51装载于第一主机31连接的第一载具32。第一主机31是侦测第一元件51已被装载时发出一第一触发信号，第一主机31是从仪器驱动模块20取得一第一程序以驱动、设定与控制第一元件51。

第一主机31是根据取得的第一程序，其内包含的控制码以驱动第一元件51发出一第一信号，此第一信号是由第一功率计33所接收。第一功率计33会分析第一信号的信号强度，以产生一第一信号强度资料，并传输第一信号强度资料至仪器驱动模块20。仪器驱动模块20根据第一信号强度资料提供一第一修正程序给第一主机31，第一主机31根据第一修正程序调整第一元件51的至少一工作参数。在此说明，第一程序是仪器驱动模块20原先储存，为第一元件51的常态性、适用于各种工作环境的工作参数。第一修正程序是根据仪器驱动模块20以第一程序为主，根据第一信号强度资料推算出第一元件51最适当的工作参数与控制码，对第一程序作修改后所产生，使得第一主机31可根据此第一修正程序进行工作参数与控制码的修正或调整，使得第一元件51可发挥最大的工作效能。第一元件51的工作参数包含第一元件51输出第一信号的至少一控制设定值、一工作电压、一工作电流与一运作功率等一个以上工作参数的组合。

将第一测试设备的第一耦合器35切换至连通第一载具32与第一信号收发器34。第一主机31是控制第一元件51发出一第一测试资料，此第一测试资料由第一信号收发器34所接收，如前所述。第一信号收发器34为一元件标准样本，具有标准化的工作参数与信号收发能力。第一信号收发器34接收第一测试资料后，即将第一测试资料的接收情形形成一第一结果资料，通过第二主机41(第二主机41为第一主机31的客户端，Client，用以控制第一信号收发器34)回传至第一主机31，第一主机31即根据此第一结果资料决定第一元件51运作是否正常。至此，第一测试设备完成测试第一元件51的测试。

仪器驱动模块20在取得第一触发信号时，即判定第一测试设备正测试第一元件51，仪器驱动模块20即控制装卸模块21装载第二元件52至第二测试设备。

将第二测试设备的第二耦合器45切换至连通第二载具42与第二功率计43。第二主机41是侦测第二元件52已被装载时发出一第二触发信号，第二主机41是从仪器驱动模块20取得一第二程序以驱动、设定与控制第二元件52。

第二主机41是控制第二元件52发出一第二信号，此第二信号是由第二功率计43所接收，第二功率计43分析第二信号的信号强度，以产生一第二信号强度资料，并传输第二信号强度资料至仪器驱动模块20。仪器驱动模块20根据第二信号强度资料提供一第二修正程序给第二主机41，第二主机41根据第二修正程序调整第二元件52的至少一工作参数。在此说明，第二程序是仪器驱动模块20原先储存，为第二元件52的常态性、适用于各种工作环境的工作参数。第二修正程序是根据仪器驱动模块20以第二程序为主，根据第二信号强度资料推算出第二元件52最适当的工作参数与控制码，对第二程序作修改后所产生，使得第二主机41可根据此第二修正程序进行工作参数与控制码的修正或调整，使得第二元件52可发挥最大的工作效能。第二元件52的工作参数包含由第二元件52输出第二信号的至少一控制设定值、一工作电压、一工作电流与一运作功率等一个以上工作参数的组合。

将第二测试设备的第二耦合器45切换至连通第二载具42与第一信号收发器34。第二主机41是控制第二元件52发出一第二测试资料，此第二测试资料由第二信号收发器44所接收，如前所述。第二信号收发器44为二元件标准样本，具有标准化的工作参数与信号收发模式。第二信号收发器44接收第二测试资料后，即将第二测试资料的接收情形形成一第二结果资料，通过第一主机31回传至第二主机41(第一主机31为第二主机41的客户端，Client，用以控制第二信号收发器44)，第二主机41即根据此第二结果资料决定第二元件52运作是否正常。至此，第二测试设备完成测试第二元件51的测试。

当第一元件51受测完成后，第一主机31输出一第一结束信号至仪器驱动模块20。仪器驱动模块20根据第一结束信号得知第一测试设备已完成对第一元件51的测试，仪器驱动模块20即控制装卸模块21从第一测试设备的载具中卸除第一元件51，并判断一第三元件53存在时，如侦测受测元件置放区域是否还存在其它受测元件，或是装卸模块结合入料设备(图未示)且入料设备正将第三元件53进行入料行为，亦或藉由外部输入设备于仪器驱动模块20内设定有三个以上的受测元件，仪器驱动模块20即控制装卸模块21装载第三元件53至第一测试设备。第一测试设备以测试第一元件51的方式，来测试第三元件53。装卸模块21卸除第一元件51与装载第三元件53的行为，会在第二元件52被卸除之前完成。

同理，当第二元件52受测完成后，第二主机41输出一第二结束信号至仪器驱动模块20。仪器驱动模块20根据第二结束信号得知第二测试设备已完成对第二元件52的测试，仪器驱动模块20即控制装卸模块21从第二测试设备的载具中卸除第二元件52，并判断一第四元件54存在时，即刻装载第四元件54至第二测试设备。第二测试设备以测试第二元件52的方式，来测试第四元件54。装卸模块21卸除第二元件52与装载第四元件54的行为，会在第三元件53被装载完成后才执行。

但是，当仪器驱动模块20判断装载或卸除元件于第一测试设备的时间，与装载或卸除元件于第二测试设备的时间重叠时，仪器驱动模块20先控制装卸模块21执行装载或卸除元件于第一测试设备的动作，再控制装卸模块21执行装载或卸除元件于第二测试设备的动作。换言之，即是以第一测试设备为主要测试排程。

但也可反向作业，即当仪器驱动模块20判断装载或卸除元件于第一测试设备的时间，与装载或卸除元件于第二测试设备的时间重叠时，仪器驱动模块20先控制装卸模块21执行装载或卸除元件于第二测试设备的动作，再控制装卸模块21执行装载或卸除元件于第一测试设备的动作。换言之，即是以第二测试设备为主要测试排程。

总体观之，仪器驱动模块20会错开对两测试设备的元件装载与卸除的执行时间，使两测试设备持续无间断的元件测试作业，两成双的受测元件，其分别在第一测试设备与第二测试设备进行元件测试作业时，达成并行执行测试的作业形态。

但为避免仪器驱动模块20经常性判断两测试设备需同时间进行元件的装载与卸除行为，因此建议此元件测试系统中，各元件的受测时间需至少二倍于单一元件被装载与被卸除的时间的总和。此举有利于减少第一测试设备与第二测试设备延缓、暂停元件测试行为的次数。

请参照图3所示，其为本发明实施例的元件测试方法的流程图，请同时参照图4以利于了解，图4为本发明实施例的元件测试流程时序图。图3所示的元件测试流程是应用于图2A与图2B所示的元件测试系统。此元件测试方法包含：

经由一仪器驱动模块20控制一装卸模块21装载一第一元件51于一第一测试设备，第一测试设备于第一元件51完成被装载时，输出一第一触发信号并测试第一元件51，于完成测试后输出一第一结束信号(步骤S110)。

在本实施例中，将每一元件的受测流程划分为三个作业，一为装载作业、一为卸除作业、一为测试作业。假设装卸模块21装载受测元件至第一测试设备或第二测试设备的时间为8秒，从第一测试设备或第二测试设备卸除受测元件的时间也为8秒，第一测试设备或第二测试设备测试被装载的元件为50秒。

如图4，从第0秒开始，仪器驱动模块20控制装卸模块21装载第一元件51至第一主机31所连接的第一载具32，并在第8秒左右完成第一元件51的装载作业。

第一主机31会判断第一载具32是否装载有元件，当第一主机31侦测到第一元件51被装载于第一载具32时，第一主机31会输出第一触发信号至仪器驱动模块20，并告知仪器驱动模块20所装载的第一元件51的规格，以取得仪器驱动模块20提供的第一程序。第一主机31会根据第一程序设定第一元件51的至少一个工作参数，以开始对第一元件51进行测试。第一主机31会在约58秒时完成第一元件51的测试，并发出上述的第一结束信号。

当仪器驱动模块20取得第一触发信号时判定第一元件51被第一测试设备所测试，同时控制装卸模块21装载一第二元件52于第二测试设备，第二测试设备在第二元件52被装载时输出一第二触发信号并测试第二元件52，于完成测试后输出一第二结束信号(步骤S120)。

从图4得知，仪器驱动模块20取得第一触发信号的时间约在第8秒，得知第一元件51已被装载完成，且第一测试设备已开始第一元件51的元件测试作业。仪器驱动模块20即在约8秒时(取得第一触发信号后)，立即控制装卸模块21装载第二元件52于第二主机41的第二载具42。从图4得知，第二元件52的装载时间会处于第一元件51的测试时间内。然而，因第一触发信号为电子信号，传输速度相当的快，故可视第一触发信号传输时间趋近于零，即仪器驱动模块20控制装卸模块21完成第一元件51装载作业后，即时开始第二元件52的装载作业，并在第一元件测试间期完成第二元件的装载作业。第二主机41侦测到第二元件52被装载于第二载具42时，第二主机41会输出第二触发信号至仪器驱动模块20，并告知仪器驱动模块20所装载的第二元件52的规格，以取得仪器驱动模块20提供的第二程序。第二主机41会根据第二程序设定第二元件52的至少一个工作参数，以开始对第二元件52进行测试。第二主机41会在约66秒时完成第二元件52的测试，并发出上述的第二结束信号。

仪器驱动模块20取得第二触发信号时判定第二元件52被第二测试设备所测试，且于第二元件52测试期间同步取得第一结束信号时控制装卸模块21卸除第一元件51(步骤S130)。

当第二测试设备侦测第二元件52被装载时，会发出第二触发信号并同时测试第二元件52。从图4得知，仪器驱动模块20取得第二触发信号的时间约在第16秒，并得知第二元件52已被装载完成，且第二测试设备已开始对第二元件52进行元件测试作业。此时，第一测试设备与第二测试设备实质上是形成并行测试第一元件51与第二元件52。从图4得知，第一主机31会在58秒时完成第一元件51的测试并发出第一结束信号，其是处于第二元件52测试期间。因此第一主机31会在第二元件52测试期间控制装卸模块21卸除第一元件51。

仪器驱动模块20取得第二结束信号时控制装卸模块21卸除第二元件52(步骤S140)。如图4，第二主机41会在66秒时完成对第二元件52的测试，并发出第二结束信号。仪器驱动模块在66秒时取得此第二结束信号，并判断装卸模块21是否正在装载其它元件于第一测试设备，若有，则等待其它元件装卸完成。若没有，仪器驱动模块20则控制装卸模块21卸除第二元件52。请同时参考图5所示，其为本发明实施例的第一测试设备测试第一元件51的流程图。此流程包含如下：

第一测试设备控制第一元件51输出一第一信号(步骤S121)。第一主机31在取得第一程序后，根据第一程序设定第一元件51的工作参数，并控制第一元件51输出一第一信号。

分析第一信号以产生一第一信号强度资料(步骤S122)。第一功率计33会接收第一信号，并分析第一信号的强度与第一元件51传输第一信号的稳定度，以根据分析结果产生一第一信号强度资料，第一信号强度资料是记录第一信号的信号强度值且被一功率计33传输至仪器驱动模块20。

仪器驱动模块20根据第一信号强度资料输出一第一修正程序至第一测试设备(步骤S123)。在此说明，仪器驱动模块20是具有第一元件51的一最佳运作资料，仪器会将第一信号强度资料与此最佳运作资料相比对，决定第一元件51较适当的工作参数，根据此工作参数调整第一程序形成第一修正程序，再输出给第一主机31。

第一测试设备根据第一修正程序调整第一元件51的工作参数(步骤S124)。第一元件51的工作参数是选自于由该第一元件51输出第一信号的至少一控制设定值、一工作电压、一工作电流与一运作功率所组成的群组。

第一测试设备控制第一元件51输出一第一测试资料(步骤S125)。第一主机31是控制第一元件51输出一第一测试资料。

在此说明，第一耦合器35可为具有切换连通线路的能力，以使第一元件51连通第一功率计33或第一信号收发器34。亦或，耦合器对应第一功率计33或第一信号收发器34的两接口各具有不同的强度或频率的信号收发能力。第一元件51是根据此特性，发出第一测试资料，此第一测试资料的信号强度与频率有别于第一信号，使得第一测试资料通过第一耦合器35后，仅能由第一信号收发器34所接收。

第二测试设备利用一第一信号收发器34接收第一测试资料并回传给第一测试设备(步骤S126)。如前所述，第一信号收发器34本身就是标准规格的元件标准样本，第一信号收发器34在取得此第一测试资料。此时，第二主机41会被视为第一主机31的客户端(Client)，并接收第一信号收发器34所取得的资料，即第一测试资料的接收情形，再通过第二主机41回传给第一主机31。

第一测试设备决定第一元件51是否正常运作(步骤S127)。第一主机31取得第一测试资料时，会将其与输出的第一测试资料相比较，以判断第一元件51是否为可正常运作的元件。至此，第一测试设备测试第一元件51的作业完成，第一测试设备测试第一元件51需费时50秒，故第一测试设备完成第一元件51的测试时间为第66秒。

请同时参考图6所示，其为本发明实施例的第二测试设备测试第二元件52的流程图。此流程包含如下：

第二测试设备控制第二元件52输出一第二信号(步骤S141)。第二主机41在取得第二程序后，是根据第二程序设定第二元件52的工作参数，并控制第二元件52输出一第二信号。

分析第二信号以产生一第二信号强度资料(步骤S142)。第二功率计43会接收第二信号，并分析第二信号的强度与第二元件52传输第二信号的稳定度，以根据分析结果产生一第二信号强度资料，第二信号强度资料是记录第二信号的信号强度值且被第二功率计43传输至仪器驱动模块20。

仪器驱动模块20根据第二信号强度资料输出一第二修正程序至第一测试设备(步骤S143)。在此说明，仪器驱动模块20具有第二元件52的一最佳运作资料，仪器会将第二信号强度资料与此最佳运作资料相比对，决定第二元件52较适当的工作参数，根据此工作参数调整第一程序形成第一修正程序，再输出给第二主机41。第二测试设备根据第二修正程序调整第二元件52的工作参数(步骤S144)。第二元件52的工作参数是选自于由该第二元件52输出第二信号的至少一控制设定值、一工作电压、一工作电流与一运作功率所组成的群组。

第二测试设备控制第二元件52输出一第二测试资料(步骤S145)。第二主机41是控制第二元件52输出一第二测试资料。

在此说明，第二耦合器45可为具有切换连通线路的能力，以使第二元件52连通第二功率计43或第二信号收发器44。亦或，第二耦合器45对应第二功率计43或第二信号收发器44的两接口各具有不同的强度或频率的信号收发能力。第二元件52是根据此特性，发出第二测试资料，此第二测试资料的信号强度与频率有别于第二信号，使得第二测试资料通过第二耦合器45后，仅能由第二信号收发器44所接收。

经由一第二信号收发器44接收第二测试资料(步骤S146)。如前所述，第二信号收发器44本身就是标准规格的元件标准样本，第二信号收发器44在取得此第二测试资料时，即将第二测试资料的接收情形，此时，第一主机31会被视为第二主机41的客户端(Client)，并接收第二信号收发器44所取得的资料，即第二测试资料的接收情形，再通过第一主机31回传给第二主机41。

第二测试设备决定第二元件52是否正常运作(步骤S147)。第二主机41取得第二测试资料时，会将其与输出的第二测试资料相比较，以判断第二元件52是否为可正常运作的元件。至此，第二测试设备测试第二元件52的作业完成，第二测试设备测试第二元件52需费时50秒，故第二测试设备完成第二元件52的测试时间为第74秒。

请参照图7所示，其为本发明实施例的元件接续测试流程图，是说明第一元件51完成后，接续测试一第三元件53。此方法包含：

仪器驱动模块20控制装卸模块21卸除第一元件51后，仪器驱动模块20判断是否存在一第三元件53(步骤S210)。

当第一主机31在决定第一元件51是否正常运作后，即发出第一结束信号，以告知仪器驱动模块20第一元件51已受测完成。仪器驱动模块20会于第二测试设备测试第二元件52期间取得第一结束信号，且得知第一测试设备已完成对第一元件51的测试作业，仪器驱动模块20即控制装卸模块21卸除第一元件51，并判断是否存在一第三元件53等待被测试。

当仪器驱动模块20判定第三元件53存在，仪器驱动模块20控制装卸模块21装载第三元件53于第一测试设备，第一测试设备侦测第三元件53被装载时，输出一第三触发信号并测试第三元件53(步骤S211)。

侦测方式如侦测受测元件置放的区域是否还存在其它受测元件，或是装卸模块21结合入料设备(图未示)且入料设备正将第三元件53进行入料行为，亦或藉由外部输入设备于仪器驱动模块20内设定有三个以上的受测元件等判断方式。

仪器驱动模块20取得第三触发信号是判定第三元件53被第一测试设备所测试，且同步控制装卸模块21卸除第二元件52于第三元件53的测试期间(步骤S220)。

第一主机31会发出第三触发信号，告知仪器驱动模块20，此第三元件53已开始受测作业。而第一测试设备测试第三元件53的方式同等于第一测试设备测试第一元件51的方式，在此即不赘述。

当不存在第三元件53，仪器驱动模块20会在第二元件完成测试后结束元件测试作业(步骤S212)。即仪器驱动模块20控制装卸模块21卸除第二元件52于第二测试设备后，若无后续受测元件，则结束元件的测试作业。

请参照图8所示，其为本发明实施例的元件接续测试的另一流程图，说明第二元件52完成后，接续测试一第四元件54。此方法包含：

仪器驱动模块20控制装卸模块21卸除第二元件52后，仪器驱动模块20判断是否存在一第四元件54(步骤S310)。如侦测受测元件置放的区域是否还存在其它受测元件，或是装卸模块21结合入料设备(图未示)且入料设备正将第四元件54进行入料行为，亦或藉由外部输入设备于仪器驱动模块20内设定有四个以上的受测元件等判断方式。

当不存在第四元件54，仪器驱动模块20即在第三元件53完成测试后结束元件测试作业(步骤S311)。

反之，当存在第四元件54，仪器驱动模块20控制装卸模块21装载第四元件54于第二测试设备以同步于第三元件53测试期间(步骤S312)。第二测试设备侦测第四元件54被装载时，输出一第四触发信号并测试第四元件54(步骤S313)。

仪器驱动模块20取得第四触发信号时，判定第一测试设备测试第三元件53及第二测试设备测试第四元件54达成并行执行(步骤S320)。

仪器驱动模块20取得此第四触发信号以得知第四元件54已开始受测作业。而第二测试设备测试第四元件54的方式同等于第二测试设备测试第二元件52的方式，在此即不赘述。

请参照图9所示，其为本发明实施例的元件装卸时间重叠的执行流程图，说明当从第一测试设备与第二测试设备装卸元件的时间相同时，仪器驱动模块20如何控制装卸模块21。此流程说明如下：

仪器驱动模块20判断装载或卸除元件至第二测试设备的时间是否重叠于装载或卸除元件至第一测试设备的时间(步骤S410)。

当判断为重叠时，仪器驱动模块20先控制装卸模块21执行装载或卸除元件于第一测试设备的动作，再控制装卸模块21执行装载或卸除元件于第二测试设备的动作(步骤S420)。

当判断为未重叠时，仪器驱动模块20根据取得触发信号与结束信号的顺序，控制装卸元件于第一测试设备或第二测试设备(步骤S430)。

从图4得知，当第一测试设备完成第一元件51测试的时间为第58秒，仪器驱动模块20控制装卸模块21完成卸除第一元件51的时间为第66秒，仪器驱动模块20随即控制装卸模块21装载第三元件53于第一测试设备。然而，开始装载第三元件53的起始时间为第66秒，但第二测试设备在第66秒时完成第二元件52的测试。

此时，仪器驱动模块20是判断装载第三元件53的时间与卸除第二元件52的时间为重叠(步骤S310)。仪器驱动模块20令装卸模块21先完成装载第三元件53于第一测试设备，此时，在第66秒至第74秒期间，第二测试设备因第二元件52尚未卸除，而暂停作业。

在第74秒时，仪器驱动模块20再令装卸模块21完成从第二测试设备卸除第二元件52的动作(步骤S320)，完成时间为第82秒。随即，仪器驱动模块20再令装卸模块21装载第四元件54于第二测试设备并进行对第四元件54的测试，第四元件54被装载的起始时间在第82秒，装载完成并执行测试的时间为第90秒。依此系统，仪器驱动模块20藉由错开将元件装卸于第一测试设备与第二测试设备的时机，形成由一仪器驱动模块20控制二个测试设备以并行进行元件测试的形态。

从图4得知，每一个受测元件的测试时间总共为66秒，若以一个元件测试设备依序测试两个受测元件的测试时间为132秒，四个元件需264秒。

但藉由本发明揭露的系统与方法，头两个元件的测试时间仅需74秒，而四个以上的元件因涉及需错开元件装卸时间的8秒，故完成时间为148秒，比起单一元件测试设备测试四个受测元件的时间缩减将近一半，有益于降低设备成本，并保持一定元件测试的效率。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的方法及技术内容作出些许的更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (4)

1.一种元件测试方法，其特征在于其包含：

经由一仪器驱动模块控制一装卸模块装载一第一元件于一第一测试设备，该第一测试设备于该第一元件完成被装载时，输出一第一触发信号并测试该第一元件，于完成测试后输出一第一结束信号；

该仪器驱动模块取得该第一触发信号时判定该第一元件被该第一测试设备所测试，同时控制该装卸模块装载一第二元件于一第二测试设备，该第二测试设备在该第二元件被装载时输出一第二触发信号并测试该第二元件，于完成测试后输出一第二结束信号；以及

该仪器驱动模块取得该第二触发信号时判定该第二元件被该第二测试设备所测试，于该第二元件测试期间同步取得该第一结束信号时控制该装卸模块卸除该第一元件；以及

该仪器驱动模块取得该第二结束信号时控制该装卸模块卸除该第二元件。

2.根据权利要求1所述的元件测试方法，其特征在于，其更包含：

该仪器驱动模块控制该装卸模块卸除该第一元件后，该仪器驱动模块判断是否存在一第三元件；

当该第三元件存在，该仪器驱动模块控制该装卸模块装载一第三元件于该第一测试设备，该第一测试设备侦测该第三元件被装载时，输出一第三触发信号并测试该第三元件；

该仪器驱动模块取得该第三触发信号时判定该第三元件被该第一测试设备所测试，且同步控制该装卸模块卸除该第二元件于该第三元件的测试期间；

该仪器驱动模块控制该装卸模块卸除该第二元件后，该仪器驱动模块判断是否存在一第四元件；

当该第四元件存在，该仪器驱动模块更控制该装卸模块装载一第四元件于该第二测试设备以同步于该第三元件测试期间；

该第二测试设备侦测该第四元件被装载时，输出一第四触发信号并测试该第四元件，该仪器驱动模块取得该第四触发信号时判定该第三元件与该第四元件的测试是达成并行执行。

3.根据权利要求1所述的元件测试方法，其特征在于，其中该第一测试设备测试该第一元件包含下列步骤：

该第一测试设备控制该第一元件输出一第一信号；

分析该第一信号以产生一第一信号强度资料；

该仪器驱动模块根据该第一信号强度资料输出一第一修正程序至该第一测试设备；

该第一测试设备根据该第一修正程序调整该第一元件的工作参数；

该第一测试设备控制该第一元件输出一第一测试资料；

该第二测试设备利用一第一信号收发器接收该第一测试资料并回传给该第一测试设备；以及

该第一测试设备决定该第一元件是否正常运作。

4.根据权利要求1所述的元件测试方法，其特征在于，其中该第二测试设备测试该第二元件的步骤包含：

该第二测试设备控制一第二元件输出一第二信号；

分析该第二信号以产生一第二信号强度资料；

该仪器驱动模块根据该第二信号强度资料输出一第二修正程序至该第二测试设备；

该第二测试设备根据该第二修正程序调整该第二元件的工作参数；

该第二测试设备控制该第二元件输出一第二测试资料；

该第一测试设备利用一第二信号收发器接收该第一测试资料并回传给该第二测试设备；以及

该第二测试设备决定该第二元件是否正常运作。

Images