CN101937046B - 阵列型连接器测试装置 - Google Patents

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Abstract

一种阵列型连接器测试装置，用于对一待测主板上的至少一阵列型连接器进行测试，包括一数据采集电路、一主控电路、一存储单元及一显示单元，所述数据采集电路采集待测主板上的阵列型连接器的针脚信息，并将采集到的针脚信息传送给所述主控电路，所述存储单元和主控电路电性相连，其中储存有正常的阵列型连接器的针脚信息，所述主控电路将采集到的针脚信息与存储单元中正常的针脚信息进行比较，并将比较结果显示在所述显示单元上提示待测主板上的阵列型连接器的针脚是否正常。

Description

阵列型连接器测试装置
技术领域
本发明涉及一种连接器测试装置，特别是一种阵列型连接器测试装置。
背景技术
阵列型连接器为刀片式服务器常用的表面连接设备的连接器，其特点是针脚数量多、封装精密、体积大，因而给测试带来了较大的困难。特别是在对连接器针脚焊点的开路以及短路测试时，传统的ICT(In Current Test)测试和飞针测试由于容易造成连接器针脚的损坏，因而无法对阵列型连接器进行测试，业界暂时没有这类连接器的测试设备。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种阵列型连接器测试装置。
一种阵列型连接器测试装置，用于对一待测主板上的至少一阵列型连接器进行测试，包括一数据采集电路、一主控电路、一存储单元及一显示单元，所述数据采集电路采集待测主板上的阵列型连接器的针脚信息，并将采集到的针脚信息传送给所述主控电路，所述存储单元和主控电路电性相连，其中储存有正常的阵列型连接器的针脚信息，所述主控电路将采集到的针脚信息与存储单元中正常的针脚信息进行比较，并将比较结果显示在所述显示单元上提示待测主板上的阵列型连接器的针脚是否正常。
相较于现有技术，本发明阵列型连接器测试装置通过所述主控电路控制数据采集电路对所述阵列型连接器的各个针脚进行测试，避免了传统测试治具对连接器针脚的损坏。
附图说明
图1是本发明较佳实施方式阵列型连接器测试装置的组成框图，所述阵列型连接器测试装置包括一待测主板、一数据采集电路、一主控电路、一存储单元、一开关单元及一显示单元。
图2是图1中数据采集电路的电路图。
图3是图1中主控电路、存储单元、开关单元及显示单元电性连接的电路图。
具体实施方式
请参阅图1，本发明阵列型连接器测试装置较佳实施方式包括一待测主板100、一数据采集电路200、一主控电路300、一存储单元400、一开关单元500及一显示单元600。所述数据采集电路200采集待测主板100上的阵列型连接器的针脚信息，并将采集到的针脚信息传送给所述主控电路300。所述存储单元400和主控电路300电性相连，其中储存有正常的阵列型连接器的针脚信息。所述主控电路300将采集到的针脚信息与存储单元400中正常的针脚信息进行比较，并将比较结果显示在所述显示单元600上提示待测主板上的阵列型连接器的针脚是否正常。所述开关单元500与主控电路300电性相连，用于向所述主控电路300输入密码并将正常的阵列型连接器的针脚信息储存到存储单元400内。
请参阅图2，所述数据采集电路200包括一复杂可编程逻辑器件U1、一数据传输连接器J1、一25M晶振J2、若干N沟道场效应管Q0、Q1~Qn及若干电阻。所述复杂可编程逻辑器件U1包括若干数据采集引脚A1~An、B1~Bn、一数据发送引脚C1、若干时钟引脚C2、CLK0~CLK3、若干程序烧入引脚TD0、TD1、TMS、TCK、控制引脚D1、D2、若干电源引脚VCC1~VCCn及若干接地引脚GND1~GNDn。所述若干数据采集引脚A1~An分别经由若干电阻连接一3.3V电源，所述若干数据采集引脚B1~Bn分别经由若干电阻接地。所述数据传输连接器J1包括一数据端DATA及一时钟端CLK，所述数据发送引脚C1和时钟引脚C2分别连接数据端DATA及时钟端CLK。所述数据采集引脚A1~An、B1~Bn分别用以电性连接待测主板100上的阵列型连接器针脚并采集针脚信息，所述复杂可编程逻辑器件U1对采集到的针脚信息进行处理后由数据发送引脚C1输出。所述晶振J2包括一振荡信号输出端OUT，所述时钟引脚CLK0~CLK3连接振荡信号输出端OUT。所述控制引脚D1、D2分别连接场效应管Q0的栅极和源极，所述场效应管Q0的漏极连接所述3.3V电源。所述若干数据采集引脚B1~Bn还分别连接相应的场效应管Q1~Qn的源极，所述场效应管Q1~Qn的栅极和漏极连接所述3.3V电源。所述复杂可编程逻辑器件U1通过控制场效应管Q0、Q1~Qn的导通和截止对与所述阵列型连接器针脚相连接的电子元件充电和放电，从而获得连接器针脚的焊点信息。所述若干电源引脚VCC1~VCCn连接所述3.3V电源，所述若干接地引脚GND1~GNDn接地。
请参阅图3，所述主控电路300包括一微控制器U2及一功率场效应管Q10。所述微控制器U2包括若干数据输入引脚H1、H2、F0~Fn、控制引脚G1、G4、一数据接收引脚G2、一时钟引脚G3、振荡信号输入端OSC1、振荡信号输出端OSC2及若干数据输出引脚E1~En。所述功率场效应管Q10包括一栅极G、若干源极S1~S3及若干漏极D1~D4。所述控制引脚G1连接功率场效应管Q10的栅极G和源极S1~S3。所述数据接收引脚G2和时钟引脚G3连接连接功率场效应管Q10的若干漏极D1~D4。所述微控制器U2通过控制功率场效应管Q10的导通和截止对复杂可编程逻辑器件U1放电和上电，避免在所述复杂可编程逻辑器件U1在和阵列型连接器的针脚热插拔过程中烧坏复杂可编程逻辑器件U1。所述振荡信号输入端OSC1和振荡信号输出端OSC2经由一12M晶振J4接地。所述数据接收引脚G2和时钟引脚G3还分别连接数据传输连接器J1的数据端DATA和时钟端CLK。
所述存储单元400包括一电可擦可编程只读存储器U3及一跳帽J3。所述电可擦可编程只读存储器U3包括一串行时钟引脚SCL、一串行数据引脚SDA及一写保护引脚WP。所述数据输入引脚H1、H2分别连接串行时钟引脚SCL和串行数据引脚SDA，所述写保护引脚WP经由所述跳帽J3接地。所述电可擦可编程只读存储器U3中储存有正常的阵列型连接器的针脚信息，当断开所述跳帽J3时可对电可擦可编程只读存储器U3进行写入信息的操作，而当短接所述跳帽J3时可对电可擦可编程只读存储器U3进行擦除信息的操作。
所述开关单元500包括若干开关S0~Sn，所述微控制器U2的数据输入引脚F0~Fn分别连接若干开关S0~Sn。所述开关单元500用于向主控电路300输入密码并将正常的阵列型连接器的针脚信息储存到所述存储单元400内。其中开关S0为复位开关，用于复位开关单元500的密码。
所述显示单元600包括一液晶显示面板J5及一场效应管Q20。所述液晶显示面板J5包括若干数据总线引脚DB1~DBn及一背光控制引脚LEDK，所述数据输出引脚E1~En分别连接若干数据总线引脚DB1~DBn，所述控制引脚G4经由所述场效应管Q20连接背光控制引脚LEDK。所述显示单元600接收来自主控电路300的比较结果，并将比较结果显示在液晶显示面板J5上提示待测主板100上的阵列型连接器的针脚是否正常。其中控制引脚G4通过所述场效应管Q20控制显示单元600的背光显示。
测试时，按照图1~3所示将待测主板接入本发明阵列型连接器测试装置，所述复杂可编程逻辑器件U1的数据采集引脚A1~An、B1~Bn分别采集待测主板100上的阵列型连接器针脚信息，所述复杂可编程逻辑器件U1对采集到的针脚信息进行处理后由数据发送引脚C1经由微控制器U2的数据接收引脚G2发送给所述微控制器U2。所述微控制器U2将接收到的针脚信息与储存在存储单元400中正常的针脚信息进行比较，并将比较结果显示在所述显示单元600上提示待测主板上的阵列型连接器的针脚是否正常。
本发明阵列型连接器测试装置不限于对单一的阵列型连接器进行测试，还可通过主控电路300连接多个数据采集电路200同时对多个阵列型连接器进行测试，此时主控电路300对不同数据采集电路200采集到的针脚信息与存储单元400中正常的针脚信息进行比较，并将比较结果和不同数据采集电路200的身份标识码发送给显示单元600，所述显示单元600根据比较结果显示不同阵列型连接器的针脚是否正常。

Claims (8)

1.一种阵列型连接器测试装置，用于对一待测主板上的至少一阵列型连接器进行测试，包括一数据采集电路、一主控电路、一存储单元及一显示单元，所述数据采集电路采集待测主板上的阵列型连接器的针脚信息，并将采集到的针脚信息传送给所述主控电路，所述存储单元和主控电路电性相连，其中储存有正常的阵列型连接器的针脚信息，所述主控电路将采集到的针脚信息与存储单元中正常的针脚信息进行比较，并将比较结果显示在所述显示单元上提示待测主板上的阵列型连接器的针脚是否正常，所述阵列型连接器测试装置还包括一开关单元，所述开关单元与主控电路电性相连，用于向主控电路输入密码并将正常的阵列型连接器的针脚信息储存到存储单元内。
2.如权利要求1所述的阵列型连接器测试装置，其特征在于：所述数据采集电路包括一复杂可编程逻辑器件，所述复杂可编程逻辑器件包括若干数据采集引脚、一数据发送引脚及至少一时钟引脚，所述数据采集引脚分别用以电性连接待测主板上的阵列型连接器针脚并采集针脚信息，所述复杂可编程逻辑器件对采集到的针脚信息进行处理后由数据发送引脚输出。
3.如权利要求2所述的阵列型连接器测试装置，其特征在于：所述主控电路包括一微控制器，所述微控制器包括一数据接收引脚及一时钟引脚，所述微控制器的数据接收引脚和时钟引脚分别连接复杂可编程逻辑器件的数据发送引脚和时钟引脚。
4.如权利要求3所述的阵列型连接器测试装置，其特征在于：所述微控制器还包括一第一数据输入引脚及一第二数据输入引脚，所述存储单元包括一电可擦可编程只读存储器，所述电可擦可编程只读存储器包括一串行时钟引脚、一串行数据引脚及一写保护引脚，所述第一数据输入引脚和第二数据输入引脚分别连接串行时钟引脚和串行数据引脚，所述写保护引脚经由一跳帽接地。
5.如权利要求3所述的阵列型连接器测试装置，其特征在于：所述微控制器还包括若干数据输出引脚及一第一控制引脚，所述显示单元包括一液晶显示面板，所述液晶显示面板包括若干数据总线引脚及一背光控制引脚，所述若干数据输出引脚分别连接若干数据总线引脚，所述第一控制引脚经由一场效应管连接背光控制引脚。
6.如权利要求3所述的阵列型连接器测试装置，其特征在于：所述微控制器还包括若干第三数据输入引脚，所述开关单元包括若干开关，所述若干第三数据输入引脚分别连接若干开关。
7.如权利要求5所述的阵列型连接器测试装置，其特征在于：所述主控电路还包括一用于控制复杂可编程逻辑器件上电和放电的功率场效应管。
8.如权利要求7所述的阵列型连接器测试装置，其特征在于：所述微控制器还包括一第二控制引脚，所述微控制器的数据接收引脚和时钟引脚连接连接功率场效应管的漏极，所述第二控制引脚连接功率场效应管的栅极和源极。
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