CN101329379A - 电子组件引脚的探测装置及探测方法 - Google Patents

电子组件引脚的探测装置及探测方法 Download PDF

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王占洋
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Abstract

一种电子组件引脚的探测装置及探测方法，其用以检测一被测电子组件，且该被测电子组件上设有若干引脚，其中，该探测装置包括一探测模块、一记录模块、一控制模块及一显示模块，而该探测方法通过该探测装置达成且包括以下步骤：建立一标准信息数据库，该标准信息数据库内存储有一正常电子组件上各引脚的数字电信号；探测模块采集被测电子组件上各引脚的模拟电信号，并将其处理成数字电信号；控制模块接收被测电子组件上各引脚的数字电信号，并将其与正常电子组件上各引脚的数字电信号作比较以取得异常引脚脚位；显示模块接收异常引脚脚位并加以显示。如此一来，所有引脚均被检测到，且异常引脚脚位可被迅速显示，从而提高了检测的准确性及效率。

Description

电子组件引脚的探测装置及探测方法
【技术领域】
本发明是一种电子组件引脚的探测装置及探测方法，特别是一种可提高检测的准确性及效率的探测装置及探测方法。
【背景技术】
维修工程师在维修母板过程中时常遇到由于电子组件模块不良造成的功能坏板，但由于电子组件模块的引脚太多(SDRAM 168pin，DDR 184pin，DDR2240pin)，很难保证电子组件模块的每个引脚都能测量到。目前的做法是根据经验直接进行更换，但维修工程师无法得知具体是哪个引脚或信号引起不良。
【发明内容】
本发明的主要目的在于提供一种可提高检测的准确性及效率的电子组件引脚的探测装置及探测方法。
为达上述目的，本发明提供一种电子组件引脚的探测装置，其用以检测一被测电子组件，且该被测电子组件上设有若干引脚，且该电子组件引脚的探测装置包括一探测模块，该探测模块电性连接该被测电子组件，且该探测模块上设有若干探测部，这些探测部分别与被测电子组件的引脚相接触；且该探测模块用以采集被测电子组件上各引脚的模拟电信号，并将模拟电信号处理成数字电信号；且该电子组件引脚的探测装置还包括一记录模块，该记录模块用以存储一正常电子组件上各引脚的数字电信号；该探测模块及该记录模块耦合一控制模块，且该控制模块用以接收被测电子组件上各引脚的数字电信号，并将其与正常电子组件上各引脚的数字电信号作比较以取得异常引脚脚位；该控制模块耦合一显示模块，且该显示模块用以接收异常引脚脚位并加以显示。
本发明还提供一种电子组件引脚的探测方法，其用以检测一被测电子组件，且该被测电子组件上设有若干引脚，且该方法通过一电子组件引脚的探测装置以达成，其中，该探测装置包括一探测模块、一记录模块、一控制模块及一显示模块，且该探测方法包括以下步骤：建立一标准信息数据库，该标准信息数据库内存储有一正常电子组件上各引脚的数字电信号；探测模块采集被测电子组件上各引脚的模拟电信号，并将模拟电信号处理成数字电信号后传输至控制模块；控制模块接收被测电子组件上各引脚的数字电信号，并将其与正常电子组件上各引脚的数字电信号作比较以取得异常引脚脚位，并将异常引脚脚位传输至显示模块；显示模块接收异常引脚脚位并加以显示。
相较于现有技术，本发明电子组件引脚的探测装置及探测方法可检测所有的引脚，且可迅速显示异常引脚脚位，从而提高了检测的准确性及效率。
【附图说明】
图1为本发明电子组件引脚的探测装置的原理方框图。
图2为本发明电子组件引脚的探测方法的流程图。
【具体实施方式】
请参阅图1所示，本发明电子组件引脚的探测装置100用以检测一被测电子组件200(电子组件可为扩展内存、中央处理器等)，且该被测电子组件200上设有若干引脚201，且该电子组件引脚的探测装置100包括一探测模块10，该探测模块10电性连接该被测电子组件200，且该探测模块10上设有若干探测部101，这些探测部101分别与被测电子组件200的引脚201相接触；且该探测模块10用以采集被测电子组件200上各引脚201的模拟电信号，并将模拟电信号处理成数字电信号；且该电子组件引脚的探测装置还包括一记录模块40，该记录模块40用以存储一正常电子组件(图未示)上各引脚的数字电信号；该探测模块10及该记录模块40耦合一控制模块50，且该控制模块50用以接收被测电子组件200上各引脚201的数字电信号，并将其与正常电子组件上各引脚的数字电信号作比较以取得异常引脚脚位；该控制模块50耦合一显示模块60，且该显示模块60用以接收异常引脚脚位并加以显示。
请结合参阅图1及图2所示，该探测方法通过图1的探测装置以达成且包括以下步骤：
步骤301：建立一标准信息数据库30，且该标准信息数据库可存储于记录模块40内，该标准信息数据库30内存储有一正常电子组件上各引脚的数字电信号；
步骤302：探测模块10采集被测电子组件200上各引脚201的模拟电信号(所采集到的各引脚201的模拟电信号包括动态电压值、静态电阻值及静态二极管导通压降值)，并将模拟电信号处理成数字电信号后传输至控制模块50；
步骤303：控制模块50接收被测电子组件200上各引脚201的数字电信号，并将其与正常电子组件上各引脚的数字电信号作比较以取得异常引脚脚位，并将异常引脚脚位传输至显示模块60；
步骤304：显示模块60接收异常引脚脚位并加以显示。

Claims (8)

1.一种电子组件引脚的探测装置，其用以检测一被测电子组件，且该被测电子组件上设有若干引脚，其特征在于该电子组件引脚的探测装置包括：
一探测模块，其电性连接该被测电子组件，且该探测模块上设有若干探测部，这些探测部分别与被测电子组件的引脚相接触；且该探测模块用以采集被测电子组件上各引脚的模拟电信号，并将模拟电信号处理成数字电信号；
一记录模块，其用以存储一正常电子组件上各引脚的数字电信号；
一控制模块，耦合该探测模块及该记录模块，且该控制模块用以接收被测电子组件上各引脚的数字电信号，并将其与正常电子组件上各引脚的数字电信号作比较以取得异常引脚脚位；
一显示模块，耦合该控制模块，且该显示模块用以接收异常引脚脚位并加以显示。
2.根据权利要求1所述的电子组件引脚的探测方法，其特征在于：电子组件为扩展内存。
3.根据权利要求1所述的电子组件引脚的探测方法，其特征在于：电子组件为中央处理器。
4.一种电子组件引脚的探测方法，其用以检测一被测电子组件，且该被测电子组件上设有若干引脚，且该方法通过一电子组件引脚的探测装置以达成，其中，该探测装置包括一探测模块、一记录模块、一控制模块及一显示模块，其特征在于该探测方法包括以下步骤：
建立一标准信息数据库，该标准信息数据库内存储有一正常电子组件上各引脚的数字电信号；
探测模块采集被测电子组件上各引脚的模拟电信号，并将模拟电信号处理成数字电信号后传输至控制模块；
控制模块接收被测电子组件上各引脚的数字电信号，并将其与正常电子组件上各引脚的数字电信号作比较以取得异常引脚脚位，并将异常引脚脚位传输至显示模块；
显示模块接收异常引脚脚位并加以显示。
5.根据权利要求4所述的电子组件引脚的探测方法，其特征在于：所采集到的各引脚的模拟电信号包括动态电压值。
6.根据权利要求4所述的电子组件引脚的探测方法，其特征在于：所采集到的各引脚的模拟电信号包括静态电阻值。
7.根据权利要求4所述的电子组件引脚的探测方法，其特征在于：所采集到的各引脚的模拟电信号包括静态二极管导通压降值。
8.根据权利要求4所述的电子组件引脚的探测方法，其特征在于：该标准信息数据库存储于记录模块内。
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