CN109564265B - 集成电路输入/输出引脚上的错误检测 - Google Patents

集成电路输入/输出引脚上的错误检测 Download PDF

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Abstract

一种用于检测集成电路的输入/输出(IO)引脚上的错误的方法，包括通过接收或发送作为模拟数据或数字数据的第一值来在第一模式中使用集成电路的输入/输出引脚。在第一模式中使用输入/输出引脚的每个实例之后，在测试模式中切换输入/输出引脚。测试模式包括在第一模式中使用输入/输出引脚之后的设置时间期间提供与第一值不同的第二值、在设置时间期间接收回基于提供第二值的结果值、测量结果值、以及基于测量的结果值来标识集成电路的输入/输出引脚上的错误。

Description

集成电路输入/输出引脚上的错误检测
技术领域
本公开涉及集成电路领域。更具体地，本公开涉及集成电路输入/输出引脚上的错误检测领域。
背景技术
集成电路包括处理器和微处理器(诸如微控制器)。微控制器具有引脚，其可能被卡住的，或者在例如模拟输入模式中可能被错误寻址。常规地，使用2个通道来检测卡住的引脚或错误寻址，以便调用保护。
US2002/0135391、US2008/0265262、US2011/0148429和US2011/0234105示出了使用反馈回路来监视输出值的不同方式。这种反馈环路是提供输出值的集成电路的一部分。
发明内容
本发明提供了一种在包括微处理器的集成电路的输入/输出引脚上进行引脚卡住检测的解决方案。集成电路的输入/输出引脚链接到输入节点。输入节点通过至少一个电阻器来接收输入信号，并且通过第二电阻器连接到基准电压，并且通过第三电阻器连接到零伏。方法包括：
通过接收作为模拟数据或数字数据的第一值，来在输入模式中使用集成电路的所述输入/输出引脚；以及
在输入模式中使用输入/输出引脚的多个实例中的每个实例之后，在测试模式中切换输入/输出引脚，
其中测试模式包括：使用输入/输出引脚作为输出，该输出在输入模式中使用输入/输出引脚之后的设置时间期间提供与第一值不同的第二值，在设置时间期间接收回基于提供第二值的结果值，测量结果，以及基于测量的结果值来标识集成电路的输入/输出引脚上的错误。
根据一个优选实施例，方法还包括：
-输出脉冲，以提供第二值作为测试模式中在集成电路的输出处的输出脉冲值；
-内部地读取输出脉冲，以通过获得输出脉冲值来接收回结果值；
-测量输出脉冲值作为测量的结果值；以及
-将从输出读取的输出脉冲值与第二值进行比较，
-其中标识的错误是基于比较被标识的。
根据另一方面，本发明涉及一种控制电路，其包括集成电路、第一电阻器、第二电阻器和第三电阻器。集成电路包括微处理器，微处理器可操作以执行用于检测集成电路的输入/输出引脚上的错误的指令，集成电路的输入/输出引脚链接到输入节点。第一电阻器连接到输入节点并且接收输入信号。第二电阻器连接在基准电压与输入节点之间。第三电阻连接在零电压与输入节点之间。
优选地，控制电路可以包括将集成电路的输入/输出引脚链接到输入节点的第四电阻器。控制电路可以包括与第三电阻器并联连接的电容器。
根据一个具体应用，控制电路位于发光二极管驱动电路的输出部中，发光二极管驱动电路具有主控制部和与主控制部隔离的输出部。
根据一个优选实施例，当由微处理器执行时，指令使发光二极管驱动电路执行包括以下项的过程：
-通过接收作为模拟数据或数字数据的第一值，来在输入模式中使用集成电路的输入/输出引脚；以及
-在第一模式中使用输入/输出引脚的多个实例中的每个实例之后，在测试模式中切换输入/输出引脚，
-其中测试模式包括：使用输入/输出引脚作为输出，该输出在输入模式中使用输入/输出引脚之后的设置时间期间提供与第一值不同的第二值，在设置时间期间接收回基于提供第二值的结果值，测量结果值，以及基于所测量的结果值来标识微处理器的输入/输出引脚上的错误。
附图说明
图1示出了根据本公开的一个方面的包括驱动电路的示例性电子设备，驱动电路具有带有输入/输出引脚的微处理器；
图2示出了根据本公开的一个方面的具有微处理器的示例性电路；
图3示出了根据本公开的一个方面的具有微处理器的另一示例性电路；
图4示出了根据本公开的一个方面的具有微处理器的示例性电路；
图5示出了根据本公开的一个方面的用于集成电路输入/输出引脚上的错误检测的示例性过程；
图6示出了根据本公开的一个方面的用于集成电路输入/输出引脚上的错误检测的另一示例性过程；
图7示出了根据本公开的一个方面的用于集成电路输入/输出引脚上的错误检测的另一示例性过程；以及
图8示出了根据本公开的一个方面的用于集成电路输入/输出引脚上的错误检测的另一示例性过程。
具体实施方式
鉴于前述内容，因此，通过本公开的各个方面、实施例和/或特定特征或子部件中的一个或多个，本公开旨在表现出如下面具体指出的优点中的一个或多个优点。
本公开描述了一种可以针对引脚执行错误检测的微控制器。当微控制器用于控制发光二极管驱动电路以满足UL 2类要求以及温度P类要求时，软件需要兼容UL 60730可兼容。本文描述的微控制器可以检测引脚是否卡在高水平或低水平、以及模拟输入复用器寻址是否出错。当检测到错误时，可以触发保护。本文包含的公开描述了例如如何检测被配置用于数字输出的卡住的输入/输出引脚、以及针对模拟输入引脚的错误的复用器寻址。
本文描述的方法是说明性的示例，并且因此不旨在要求或暗示以所呈现的顺序来执行任何实施例的任何特定过程。诸如“此后”、“然后”、“接下来”等词语并不旨在限制过程的顺序，而是这些词语用于引导读者浏览方法的描述。此外，对单数形式的权利要求要素的任何引用(例如，使用冠词“一”、“一个”或“该”)不应当被解释成将该要素限制为单数。
另外，在本文中可以互换地使用诸如微处理器和微控制器之类的术语。在没有区分这些术语的解释的情况下，出于本文提供的解释的目的，类似和可比的术语应被视为等价。在微处理器的示例中，本文描述的任何微处理器也可以是例如微处理器芯片或控制器。
图1示出了示例性电子设备，其包括具有微处理器的驱动电路。在图1中，电子设备10是包括微处理器140的设备。图1中的微处理器140被示出为驱动电路的一部分，驱动电路用于驱动由(一个或多个)发光二极管199施加的负载。
电子设备10的一个示例是包括由驱动电路驱动的发光二极管的设备。驱动电路可以被设计成符合UL 2类LED驱动器要求，并且可以帮助确保驱动电路的参数满足这种要求。这种驱动电路可以包括主控制部和在至少一个方面与主控制部隔离的输出部。
电子设备10可以是例如照明器材、娱乐显示器、通信设备等。这种设备还可以包括具有存储器和专用于驱动电路100的输出部100b的微处理器100之外的附加微处理器的电子设备。这种设备可以作为独立设备操作，或者可以例如使用网络而连接到其他设备或系统。
电子设备10可以被合并作为特定设备或被合并在特定设备中，特定设备又在包括附加设备的集成系统中。在一个特定实施例中，可以使用提供语音、视频或数据通信的电子设备来实现电子设备10。此外，虽然图示了单个电子设备10，但是电子设备10可以被包括在“系统”中，“系统”包括单独或联合执行一组或多组指令以执行一个或多个计算机软件功能的系统或子系统的任何集合。
本文描述的微处理器是有形的和非暂态的。如本文所使用的，术语“非暂态”不应当被解释为状态的永恒特性，而是被解释为将持续一段时间的状态的特性。术语“非暂态”明确地否定了稍纵即逝的特性，诸如特定载波或信号或在任何时间在任何地方仅暂态存在的其他形式的特性。微处理器是制品和/或机器部件。用于电子设备10的微处理器被配置成执行软件指令，以便执行如本文的各种实施例中描述的功能。用于电子设备10的微处理器可以是通用微处理器，或者可以是专用集成电路(ASIC)的一部分。另外，本文描述的任何微处理器可以包括多个微处理器、并行微处理器或两者。多个微处理器可以被包括在单个设备或多个设备中，或者被耦合到单个设备或多个设备。
此外，本文描述的设备可以包括诸如存储器的存储装置。本文描述的存储器是可以存储数据和可执行指令的有形存储介质，并且在其中指令被存储的时间期间是非暂态的。本文描述的存储器是制品和/或机器部件。本文描述的存储器是计算机可读介质，可以由处理器从该计算机可读介质读取数据和可执行指令。本文描述的存储器可以是随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、闪存、电可编程只读存储器(EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、寄存器或本领域中已知的任何其他形式的存储介质。存储器可以是易失性的或非易失性的、安全的和/或加密的、不安全的和/或未加密的。
在一个特定实施例中，本文描述的设备可以包括计算机可读介质，其中可以嵌入一组或多组指令(例如，软件)。可以从计算机可读介质读取指令集。此外，当由微处理器执行时，指令可以用于执行如本文所描述的一个或多个方法和过程。在一个特定实施例中，指令可以在设备执行期间完全或至少部分地驻留在单独的存储器内和/或微处理器内。
在一个备选实施例中，可以构造诸如专用集成电路(ASIC)、可编程逻辑阵列和其他硬件部件的专用硬件实现来实现本文描述的方法中的一个或多个方法。本文描述的一个或多个实施例可以使用具有相关控制和数据信号的两个或更多个特定互连硬件模块或设备来实现功能，相关控制和数据信号可以在模块之间以及通过模块通信。因此，本公开涵盖软件、固件和硬件实现。本申请中的任何内容均不应当被解释成仅利用软件而不用硬件(诸如有形非暂态微处理器和/或存储器)来实现或可实现。
根据本公开的各种实施例，可以使用执行软件程序的微处理器来实现本文描述的方法。此外，在示例性、非限制性实施例中，实现可以包括分布式处理、部件/对象分布式处理和并行处理。
图2示出了根据本公开的一个方面的具有微处理器的示例性电路。在图2中，微控制器240是具有卡在模拟输入的引脚的微处理器。电路包括三个电阻器，三个电阻器包括R1202、R2 204和R3 206。经由R1输入Vin。为了检测卡住的模拟输入引脚，将偏移电压添加到模拟输入，并缩小输入范围。Vin的有效范围可以是零(0)到Vref。当输入电压Vin在有效范围内时，在模拟输入引脚处的电压范围将是从Voffsetl(V偏移1)到Vref减去(-)Voffset2(V偏移2)。当模拟输入引脚卡在高水平时，测量的电压将等于或接近Vref。当模拟输入引脚卡在低水平时，测量的电压将等于或接近零。因此，微处理器可以执行经由模拟输入引脚来检查测量的电压水平的过程，并通过确定测量的电压处于或接近Vref或零的时间来标识引脚被卡住的时间。
图3示出了根据本公开的一个方面的具有微处理器的另一示例性电路。在图3的实施例中，在电路中提供微控制器340，电路具有光耦合器318、三个电阻器(包括R4 308、R5310和R6 312)、电容器C1 320和晶体管Q1 316。
在图3的实施例中，可以检测被卡住的数字输出引脚。当数字输出被设置成高时，微处理器340将会将数字输出引脚设置成具有非常窄的低水平脉冲的高水平。在图3的实施例中，使用窄的低水平脉冲而不是持续地将引脚设置成高水平。然后，微处理器在窄的低水平脉冲过程中从引脚回读，以检测数字输出引脚是否被卡住。
当数字输出被设置成低时，微处理器340将会将数字输出引脚设置成具有非常窄的高水平脉冲的低水平。在图3的实施例中，为此目的使用窄的高水平脉冲，而不是持续地将引脚设置成低水平。然后，微处理器在窄的高水平脉冲过程中从引脚回读，以检测数字输出引脚是否被卡住。
另外，在图3中，如由微处理器340周围的电路所示的外部滤波器电路作为硬件保护电路来对输出窄的低水平脉冲或输出窄的高水平脉冲进行滤波，以保护其他硬件。备选地，由数字输出引脚驱动的电路可以以这样的方式来设计，以便不响应窄的低水平脉冲。
图4示出了根据本公开的一个方面的具有微处理器的另一示例性电路。在图4中，针对模拟输入引脚来检测出错的复用器寻址。在图4中，电路包括四个电阻器，包括R1 402、R2 404、R5 410和R7 414。电路还包括电容器C3和微控制器440。
在图4的实施例中，在模拟输入经由模数转换而被转换之后，微控制器440重新配置模拟输入引脚以用于数字输出。然后，取决于接收的模拟输入的值，微控制器将引脚设置成高水平或低水平。也就是说，微控制器将值设置成与接收的模拟输入不同。
在图4的实施例中，在将重新配置的数字输出引脚设置成与重新配置之前接收的模拟输入的值不同的水平之后，所发明的方法是：在完成ADC转换之后，微控制器将引脚配置成数字输出并将引脚设置成高水平或低水平。在设置引脚的水平之后，电容器C2连接到引脚以使电压维持短时间，只要引脚处的电压反映由微控制器设置的值。短时间可以是预定的时间段。在短时间期间，微控制器被重新配置以用于模拟输入。然后，重新配置的模拟引脚测量输入电压，其是由电容器维持的电压。如果电压跟随由微处理器440设置的数字输出值，则在模拟输入模式中，用于引脚的通道的寻址是正确的。否则，确定模拟输入模式中的引脚的寻址不正确。
图5示出了根据本公开的一个方面的用于集成电路输入/输出引脚上的错误检测的示例性过程。在图5中，示出了本文描述的错误检测方法的概述。该概述适用于本文描述的多个不同实施例。
在S505，在第一模式中使用集成电路的输入/输出引脚。该第一模式可以被描述为例如正常模式或输入/输出引脚被配置以用于的模式。在S510处，测试模式开始。在第一模式中使用输入/输出引脚的每个实例之后，可以在S510开始测试模式。例如，可以在第一模式中使用输入/输出引脚的一组(例如，5个)实例中的每个实例之后使用测试模式。
在S515处，切换输入/输出引脚。S515处的切换可以标记测试模式的开始，或者可以被认为是测试模式中的第一操作。在S520处，测试输入/输出引脚。在S525处，标识错误。在S525处标识错误之后，过程返回到S505，其中再次在第一模式中使用输入/输出引脚。
可以通过改变针对输入/输出引脚而设置的值来执行S515处的切换。备选地，可以通过重新配置输入/输出引脚的功能来执行S515处的切换，诸如通过将用于模拟输入的输入/输出引脚重新配置成用于数字输出。
另外，尽管图5中所示的概述示出了在S525处标识错误之后在S505处返回到第一模式(正常使用)的过程，但是该过程可能涉及在返回到第一模式(正常使用)之前的许多备选的中间步骤。例如，可以切断包含输入/输出引脚的集成电路，可以切断包含集成电路的电路，或者可以切断包含电路(其包含集成电路)的设备。另外，可以设置警告错误的警报或指示器以向用户警告错误。在一些情况下，可以自动采取补救动作以提供针对错误的补救，诸如通过发送脉冲来复位引脚。在任何情况下，图5是该过程的概述，并且未示出在本文描述的过程的主要阶段之间发生的细节。
图6示出了根据本公开的一个方面的用于集成电路输入/输出引脚上的错误检测的另一示例性过程。图6的实施例对应于在图3中和图4两者中所示的电路，并且在S605处，以在第一模式中使用输入/输出引脚开始。在S610处，测试模式开始，并且在S615处，切换输入/输出引脚。在S620处，新设置与先前设置不同的第二值。在S625处，接收回结果值，并且在S630处，测量结果值。在S635处，基于从S615到S630采取的动作来标识错误。之后(稍后)，过程返回到S605处的第一模式(正常使用)。
在S620处提供不同的第二值可以以若干不同的方式执行。例如，可以标识由接收的信号设置的值，使得引脚可以在S620处利用不同的水平被设置。备选地，针对被配置用于输出的输入/输出引脚而设置的先前值可以被认为是第一值，并且可以设置不同的第二值以确保引脚没有卡在先前的(第一)水平。
另外，可以以若干不同方式执行S625和S630处的动作。例如，可以用一个水平来设置引脚，然后可以立即读取该水平以确保引脚正确反映预期的设置。引脚可以通过输出脉冲而被设置成不同的第二水平，然后被立即回读，或者引脚可以被设置成不同的第二水平，然后用于对电容器充电，并且然后被立即回读。在任何情况下，在这些实施例中，使用所考虑的输入/输出引脚，而不是两个引脚来执行S625和S635处的动作。
图7示出了根据本公开的一个方面的用于集成电路输入/输出引脚上的错误检测的另一示例性过程。在图7中，当在第一模式中使用输入/输出引脚时，在S705处该过程开始。在S710处，测试模式开始。在S715处，切换输入/输出引脚，并且在S717处，将引脚设置成不同的第二值。在S720处，经由输出脉冲提供第二值。在图7的实施例中，在S715到S735处的动作是标识被配置用于数字输入的引脚是否卡在某一水平。
输出脉冲被设置成非常窄，并且如果引脚被设置成高水平，则输出脉冲是低水平，并且如果引脚被设置成低水平，则输出脉冲是高水平。在S722处，外部地对输出脉冲进行滤波。以参考图3所解释的方式对输出脉冲进行滤波，以便保护包括具有所考虑的引脚的微处理器的电路中的其他硬件。
在S725处，设置值被回读作为结果值。在S732处，将结果值与第二值进行比较。如果结果值是第二值(S732＝是)，则不标识错误，并且再次在S705处在第一模式中使用输入/输出引脚。另一方面，如果结果值不等于第二值，则引脚被诊断为卡在先前的水平。
图8示出了根据本公开的一个方面的用于集成电路输入/输出引脚上的错误检测的另一示例性过程。在图8中，模拟输入在S802处被接收，并且经由模数转换器被转换为第一值。在S805处，读取第一值。
在S810处，测试模式开始。在测试模式中，在S815处，输入/输出引脚被重新配置用于数字输出。对于该实施例，前面描述的切换包括这种重新配置。
在S820处，不同的第二值被设置为输入/输出引脚处的数字输出值。在S822处，电容器连接到输入/输出引脚，并且被充电或放电以维持输入/输出引脚的电压值。如之前所描述的，输入/输出引脚的电压值反映针对输入/输出引脚而设置的值。
在S824处，输入/输出引脚被重新配置以用于模拟输入。在S825处，测量电容器的电压水平。电容器的所测量的电压水平实际上是输入/输出引脚的电压水平。在S830处，从测量的电压水平获得结果值。在S832处，进行关于结果水平是否是在S820处设置的第二值的比较。如果结果值不是第二值(S832＝否)，则在S835处标识错误。如果结果值是第二值(S832＝是)，则没有错误，并且过程返回到S802，其中模拟输入被接收并经由模数转换器被转换。
在错误在S835处被标识之后，可以关闭微处理器。如先前所描述的，可以关闭包括微处理器的电路，或者甚至可以关闭包括这种电路的设备。另外，虽然计算机可读介质通常被描述为单个介质，但术语“计算机可读介质”包括存储一组或多组指令的单个介质或多个介质。术语“计算机可读介质”还应包括能够存储、编码或携带指令的集合的任何介质，指令的集合用于由微处理器执行或使计算机系统执行本文公开的方法或操作中的任何一个或多个。
尽管本说明书描述了可以在参考特定标准和协议的特定实施例中实现的部件和功能，但是本公开不限于这些标准和协议。例如，诸如UL 60730的标准表示现有技术的示例。这种标准周期性地被具有基本相同功能的更有效等价物取代。因此，具有相同或相似功能的替换标准和协议被认为是其等价物。
本文描述的实施例的图示旨在提供对各种实施例的结构的总体理解。这些图示不旨在用作本文描述的本公开的所有要素和特征的完整描述。在阅读本公开后，许多其他实施例对于本领域技术人员而言是显而易见的。其他实施例可以被利用并从本公开中得出，使得可以在不脱离本公开的范围的情况下，进行结构和逻辑替换和改变。另外，图示仅仅是代表性的，并且可能没有按比例绘制。图示中的某些比例可能被夸大，而其他比例可能被缩小。因此，本公开和附图应当被视为说明性的而非限制性的。
在本文中，可以单独地和/或统一地通过术语“发明”指示本公开的一个或多个实施例，仅是为了方便而不旨在将本申请的范围自愿地限制于任何特定的发明或发明构思。此外，尽管本文已经说明和描述了具体实施例，但应当理解，被设计成实现相同或类似目的的任何后续布置可以替代示出的具体实施例。本公开旨在涵盖各种实施例的任何和所有后续调整或变化。在阅读本说明之后，上述实施例的组合以及本文未具体描述的其他实施例对于本领域技术人员而言将是显而易见的。
根据本公开的一个方面，一种用于检测集成电路的输入/输出(IO)引脚上的错误的方法包括通过接收或发送作为模拟数据或数字数据的第一值来在第一模式中使用集成电路的输入/输出引脚。方法还包括：在第一模式中使用输入/输出引脚的实例之后，在测试模式中切换输入/输出引脚。测试模式包括：在第一模式中使用输入/输出引脚之后的设置时间期间提供与第一值不同的第二值，在设置时间期间接收回基于提供第二值的结果值，测量结果值，以及基于测量的结果值来标识集成电路的输入/输出引脚上的错误。
根据本公开的另一方面，方法包括输出脉冲以提供第二值作为测试模式中在集成电路的输出处的输出脉冲值。方法还包括：内部读取输出脉冲以通过获得输出脉冲值来接收回结果值，测量输出脉冲值作为测量的结果值；以及将从输出读取的输出脉冲值与第二值进行比较。所标识的错误是基于比较被标识的。
根据本公开的又一方面，在第一模式中使用输入/输出引脚包括在由模数转换器进行的转换之后从来自输入/输出引脚的首先接收的模拟输入中读取第一值。在测试模式中切换包括：在接收到首先接收的模拟输入后，在测试模式中第一次重新配置输入/输出引脚以用于数字输出。提供包括：将第二值设置为数字输出值，以用于在设置时间期间来自在测试模式中被重新配置用于数字输出的输入/输出引脚的输出。方法还包括：对在测试模式中被重新配置用于数字输出的输入/输出引脚处的电容器充电或放电，以在设置时间期间在将第二值设置为数字输出值之后维持电压水平。方法还包括：在设置时间期间在将第二值设置为数字输出值之后，在测试模式中第二次重新配置输入/输出引脚以再次用于模拟输入。在输入/输出引脚处测量电压水平，以获得在由模数转换器进行的转换之后的所测量的结果值。将从输入/输出引脚获得的所测量的结果值与第二值进行比较。所标识的错误是基于比较被标识的。
根据本公开的又一方面，集成电路包括用于控制发光二极管驱动电路的微控制器。
根据本公开的另一方面，发光二极管驱动电路符合针对发光二极管的2类要求。微控制器符合美国保险商试验所(Underwriter Laboratories)60730标准。
根据本公开的又一方面，所标识的错误指示在输入/输出引脚被用作数字输出引脚时，输入/输出引脚被卡在高(HIGH)水平或低(LOW)水平。脉冲用于将输入/输出引脚设置成相对的水平。
根据本发明的又一方面，方法包括：使用脉冲中的一个将输入/输出引脚从LOW水平设置成HIGH水平，
回读结果值，以及基于结果值来标识输入/输出引脚卡在LOW水平。
根据本公开的另一方面，方法包括：
使用脉冲中的一个将输入/输出引脚从HIGH水平设置成LOW水平，
回读结果值；以及基于所测量的结果值来标识输入/输出引脚卡在HIGH水平。
根据本公开的又一方面，所标识的错误指示模拟输入复用器寻址是错误的。
根据本公开的又一方面，方法包括：使用模数转换器将首先接收的模拟输入和所测量的电压水平转换成数字输出；以及将第一次被重新配置以用于数字输出的输入/输出引脚设置成为HIGH水平或LOW水平。电容器连接到被重新配置用于数字输出的输入/输出引脚，以在设置时间期间维持电压水平。
根据本公开的另一方面，方法包括：确定由电容器维持的在输入/输出引脚处的所测量的电压水平是否指示输入/输出引脚被设置成HIGH水平或LOW水平。方法还包括基于确定和比较来标识模拟输入复用器寻址错误。
根据本公开的一个方面，发光二极管驱动电路包括主控制部和与主控制部隔离的输出部。输出部包括微处理器，该微处理器可操作以执行用于检测微处理器的输入/输出(IO)引脚上的错误的指令。当由微处理器执行时，指令使发光二极管驱动电路执行过程，过程包括通过接收或发送作为模拟数据或数字数据的第一值来在第一模式中使用微处理器的输入/输出引脚。过程还包括：在第一模式中使用输入/输出引脚的实例之后，在测试模式中切换输入/输出引脚。测试模式包括：在第一模式中使用输入/输出引脚之后的设置时间期间提供与第一值不同的第二值，在设置时间期间接收回基于提供第二值的结果值，测量结果值，以及基于所测量的结果值来标识微处理器的输入/输出引脚上的错误。
根据本公开的另一方面，第一模式是其中微处理器主要被使用的模式。
根据本公开的又一方面，输入/输出引脚被配置用于数字输出，并且切换包括基于第二值将被配置用于数字输出的输入/输出引脚的水平改变为HIGH水平或LOW水平。
根据本公开的又一方面，在第一模式中输入/输出引脚被配置用于模拟输入，并且切换包括将输入/输出引脚从被配置用于模拟输入重新配置成被配置用于数字输出。
公开的摘要是为了符合37C.F.R.§1.72(b)而提供的，并且在它不用于解释或限制权利要求的范围或含义的理解下被提交。另外，在前面的具体实施方式中，出于简化本公开的目的，各种特征可以组合在一起或在单个实施例中描述。本公开不应当被解释为反映所要求保护的实施例需要比在每个权利要求中明确记载的更多特征的意图。而是，如以下权利要求所反映的，发明的技术方案可以指向少于任何公开的实施例的所有特征。因此，以下权利要求被并入具体实施方式中，其中每个权利要求独立地来限定单独要求保护的技术方案。
提供公开实施例的前述描述是为了使本领域的技术人员能够制作或使用本发明。因此，以上公开的技术方案应当被认为是说明性而非限制性的，并且所附权利要求旨在覆盖落入本公开的真实精神和范围内的所有这种修改、增强和其他实施例。因此，在法律允许的最大范围内，本公开的范围将由所附权利要求及其等价物的最宽泛的可允许解释来确定，并且不应受前面详细描述的约束或限制。

Claims (14)

1.一种用于由集成电路的微处理器来检测所述集成电路的输入/输出引脚上的错误的方法，所述集成电路的所述输入/输出引脚链接到输入节点，其中所述输入节点在输入模式中通过至少一个电阻器(R1，202、402)接收输入信号(Vin)并且其中所述输入节点通过第二电阻器(R2，204、404)连接到基准电压(Vref)并且通过第三电阻器(R3，206，R5，410)连接到零电压，所述方法包括：
通过接收作为模拟数据或数字数据的第一值，在输入模式中使用(S505，S605)所述集成电路的所述输入/输出引脚；以及
在所述输入模式中使用所述输入/输出引脚的多个实例中的每个实例之后，在测试模式中切换(S510，S610，S810)所述输入/输出引脚，
其中所述测试模式包括：使用所述输入/输出引脚作为输出(S515，S615，S815)，所述输出在所述输入模式中使用所述输入/输出引脚之后的设置时间期间提供与所述第一值不同的第二值(S620，S820)，在所述设置时间期间接收回(S520，S625)基于提供所述第二值的结果值，测量所述结果值(S630，S825)，以及基于所测量的所述结果值来标识所述集成电路的所述输入/输出引脚上的错误(S525，S635，S835)。
2.根据权利要求1所述的方法，还包括：
输出脉冲，以提供所述第二值作为所述测试模式中在所述集成电路的输出处的输出脉冲值；
内部地读取所述输出脉冲，以通过获得所述输出脉冲值来接收回所述结果值；
测量所述输出脉冲值作为所测量的所述结果值；以及
将从所述输出读取的所述输出脉冲值与所述第二值进行比较，
其中标识的所述错误是基于所述比较被标识的。
3.根据权利要求1所述的方法，
其中在所述输入模式中使用所述输入/输出引脚包括：在由模数转换器进行的转换之后，从来自所述输入/输出引脚的首先接收的模拟输入中读取所述第一值；
其中在所述测试模式中的所述切换包括：在接收到所述首先接收的模拟输入之后，在所述测试模式中第一次重新配置所述输入/输出引脚以用于数字输出；并且
其中所述提供包括：将所述第二值设置为数字输出值，以用于在所述设置时间期间来自在所述测试模式中被重新配置用于数字输出的所述输入/输出引脚的输出；
其中所述方法还包括：
对在所述测试模式中被重新配置用于数字输出的所述输入/输出引脚处的电容器充电或放电，以在所述设置时间期间在将所述第二值设置为所述数字输出值之后维持电压水平；
在所述设置时间期间在将所述第二值设置为所述数字输出值之后，在所述测试模式中第二次重新配置所述输入/输出引脚以再次用于模拟输入；
测量所述输入/输出引脚处的所述电压水平，以获得在由所述模数转换器进行的转换之后的所测量的所述结果值，以及
将从所述输入/输出引脚获得的所测量的所述结果值与所述第二值进行比较，
其中标识的所述错误是基于所述比较被标识的。
4.根据权利要求1所述的方法，其中所述集成电路包括用于控制发光二极管驱动电路的微控制器。
5.根据权利要求4所述的方法，
其中所述发光二极管驱动电路符合针对发光二极管的2类要求，并且
其中所述微控制器符合保险商试验所60730标准。
6.根据权利要求3所述的方法，
其中标识的所述错误指示模拟输入复用器寻址是错误的。
7.根据权利要求6所述的方法，还包括：
使用所述模数转换器，将所述首先接收的模拟输入和所测量的所述电压水平转换为数字输出；以及
将第一次被重新配置以用于数字输出的所述输入/输出引脚设置成高水平或低水平，
其中所述电容器连接到被重新配置用于数字输出的所述输入/输出引脚，以在所述设置时间期间维持所述电压水平。
8.根据权利要求7所述的方法，还包括：
确定由所述电容器维持的在所述输入/输出引脚处的所测量的所述电压水平是否指示所述输入/输出引脚被设置成所述高水平或所述低水平，以及
基于所述确定和所述比较，标识模拟输入复用器寻址错误。
9.一种控制电路，包括：
-集成电路，所述集成电路包括微处理器，所述微处理器能够操作以执行用于检测所述集成电路的输入/输出引脚上的错误的指令，所述集成电路的所述输入/输出引脚链接到输入节点，
-第一电阻器(R1，202、402)，连接到所述输入节点并且在输入模式中接收输入信号(Vin)，
-第二电阻器(R2，204、404)，连接在基准电压(Vref)与所述输入节点之间，
-第三电阻器(R3，206，R5，410)，连接在零电压与所述输入节点之间，
其中当由所述微处理器执行时，所述指令使发光二极管驱动电路执行过程，所述过程包括：
通过接收作为模拟数据或数字数据的第一值，在所述输入模式中使用所述集成电路的所述输入/输出引脚；以及
在所述输入模式中使用所述输入/输出引脚的多个实例中的每个实例之后，在测试模式中切换所述输入/输出引脚，
其中所述测试模式包括：使用所述输入/输出引脚作为输出，所述输出在所述输入模式中使用所述输入/输出引脚之后的设置时间期间提供与所述第一值不同的第二值，在所述设置时间期间接收回基于提供所述第二值的结果值，测量所述结果值，以及基于所测量的所述结果值来标识所述微处理器的所述输入/输出引脚上的错误。
10.根据权利要求9所述的控制电路，
其中所述输入模式是其中所述集成电路主要被使用的模式。
11.根据权利要求9所述的控制电路，
其中所述输入/输出引脚在所述输入模式中被配置用于模拟输入，并且
其中所述切换包括将所述输入/输出引脚从被配置用于模拟输入重新配置成被配置用于数字输出。
12.根据权利要求9所述的控制电路，其中所述控制电路还包括第四电阻器(R7，414)，所述第四电阻器(R7，414)将所述集成电路的所述输入/输出引脚链接到所述输入节点。
13.根据权利要求9所述的控制电路，其中所述控制电路还包括与所述第三电阻器(R5，410)并联连接的电容器(C2，422)。
14.根据权利要求9所述的控制电路，其中所述控制电路位于发光二极管驱动电路的输出部中，所述发光二极管驱动电路具有主控制部以及与所述主控制部隔离的所述输出部。
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