CN101907767B - 阻光盘 - Google Patents

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Abstract

本发明实施例公开了一种阻光盘,包括:主体(1);设置在主体上的透光槽(3);安装在所述透光槽(3)内并可在所述透光槽(3)内滑动的弹片(2);一端与所述弹片(2)相连,另一端与所述透光槽(3)的内壁相连的弹簧(4)。本发明实施例中在阻光盘上通过设置透光槽,且透光槽内设置有可以通过弹簧实现加紧印制电路板试样的弹片,从而在观察比较薄的印制电路板试样时能够更好的将试样固定在阻光盘上,便于顺利地进行透光观察。因此,本发明实施例中的阻光盘可以通过调节弹片的位置夹持不同厚度的印制电路板试样,实现了阻光盘的通用。

Description

阻光盘
技术领域
本发明涉及PCB设备制造领域,更具体地说,涉及一种背光显微镜上的阻光盘。
背景技术
在集成电路制造过程中,孔金属化工艺是印制电路板或集成电路封装基板制造技术中最为重要的工序之一,它关系到多层板内在质量的好坏,其主要工作是在多层板上钻出所需要的孔、把孔内的钻污去除、在孔壁上沉积一层导电金属铜,为下一步的电镀加厚铜层打下基础,实现良好的电气互连。孔金属化不良,会造成孔内无铜或是只有很薄的铜层,经通断试验就造成开路。因此对孔金属化质量的检验十分重要,其通常采用的方法就是背光测试法,其具体方法是将化学镀铜后的试样沿一排孔的中心切下宽3-4mm的长条,并用细砂纸打磨切口处留下的毛边,将制好的试样放置在灯光台下,显微镜下检验孔壁透光情况,从而判定孔金属化的质量。观察试样透光状况时,需要用到一个阻光盘,其作用是使整个显微镜视野中只有试片位置是透光的,其余部分不透光。传统做法是制做一个有一定厚度的圆形阻光盘放在显微镜载物台上,在阻光盘中央开一个一定宽度的透光槽,将制好的试样放置在该透光槽内背光观察。对于厚度在1mm以上的印制电路板试样,观察起来比较方便,但是对于厚度低于1mm的薄板试样,由于透光槽不易加工所以没有办法将印制电路板试样更好的定位。传统的阻光盘不具有通用性,针对不同厚度的试样加工不同的厚度的透光槽,对印制电路板试样进行固定。
发明内容
有鉴于此,本发明提供一种阻光盘,该阻光盘具有定位系统,解决了阻光盘可以夹持不同厚度的印制电路板试样的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:
一种阻光盘,包括:
主体;
设置在主体上的透光槽;
安装在所述透光槽内并可在所述透光槽内滑动的弹片;
一端与所述弹片相连,另一端与所述透光槽内壁相连的弹簧;
设置在所述弹簧内部的导杆,所述导杆一端安装在所述透光槽内壁,另一端置于所述弹片内部。
优选地,在上述阻光盘中,所述弹簧的个数为1个。
优选地,在上述阻光盘中,所述弹簧设置在所述弹片的中心。
优选地,在上述阻光盘中,所述弹簧的个数为2个。
优选地,在上述阻光盘中,所述弹簧对称设置在所述弹片上。
优选地,在上述阻光盘中,所述弹片上还安装有推动所述弹片的弹片推点。
优选地,在上述阻光盘中,所述透光槽上设置有弹片导槽。
从上述技术方案可以看出,本发明实施例中在阻光盘上通过设置透光槽,且透光槽内设置有可以通过弹簧实现加紧印制电路板试样的弹片,从而在观察比较薄的印制电路板试样时能够更好的将试样固定在阻光盘上,便于顺利地进行透光观察。因此,本发明实施例中的阻光盘可以通过调节弹片的位置夹持不同厚度的印制电路板试样,实现了阻光盘的通用。
附图说明
图1为本发明实施例中一种阻光盘的主视图;
图2为图1中A-A部分的剖视图的放大图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明提供一种阻光盘,该阻光盘具有定位系统,解决了印制电路板试样无法固定在阻光盘上问题。
参阅附图1和图2,图1为一种阻光盘的主视图;图2为图1中A-A部分的剖视图的放大图。
其中,1为主体;2为弹片;3为透光槽;4为弹簧;5为导杆;6为弹片推点;7为弹片导槽。
该阻光盘包括:主体1、透光槽3、弹片2和弹簧4。透光槽3开在主体1上,弹片2安装在所述透光槽3内,并可在透光槽3内滑动,弹簧4起到压紧弹片2的作用,弹簧4一端安装在透光槽3的内壁上,另一端安装在弹片2上。
其中,主体1,为不透光材料,在做背光观察时,通过主体1将光阻挡。
透光槽3,能够透过光,用于放置印制电路板试样,且为了便于将透光槽上的印制电路板试样置于最好的视野内,通常透光槽3会设置在主体中心线偏右的位置。
弹片2,在弹簧4的弹性作用下可以将印制电路板试样,紧紧的固定在透光槽3和弹片2之间。
弹簧4,设置数量可以为1个,或者多个,当为一条时,设置在弹片2的正中心,这样弹片受力比较均匀。多条时要对称分布在弹片上,保证弹片2受力均匀,且在弹片在透光槽3中滑动时不易卡壳。为多个时,优选的为两个弹簧4。
本发明实施例中在阻光盘上通过设置透光槽3,且透光槽3内设置有可以通过弹簧4实现加紧印制电路板试样的弹片2,从而在观察比较薄的印制电路板试样时能够更好的将试样固定在阻光盘上,便于顺利地进行透光观察。因此,本发明实施例中的阻光盘可以通过调节弹片的位置夹持不同厚度的印制电路板试样,实现了阻光盘的通用。
为了保证弹片2在滑动时不晃动,在透光槽3上设置有弹片导槽7,弹片2安装在弹片导槽7中,因此,弹片2就可在弹片导槽7内往复运动。
弹簧4由于具有一定的韧性,所以很有可能在受力不均时发生摆动,因此在加紧印制电路板试样时动作不稳,瞬间夹住印制电路板,使得印制电路板试样受力过大,进出透光槽3,最终使得不能顺利完成检测。针对于此,在弹簧内还设置有导杆5,导杆一端安装在透光槽3的内壁上,另一端安装在弹片2上,在弹簧4压缩时,导杆5可以在弹片内移动。
为了方便移动弹片2,在弹片2上还设置有弹片推点6,通过推动弹片推点6就可以实现压紧印制电路板试样的目的。
在使用时,先将阻光盘固定于背光显微镜载物台上,操作者推动弹片推点6使弹片2顺着弹片导槽7向后滑动,直到透光槽宽度足够将试样放入,再松开弹片推点6,弹簧4的张力使得弹片2顺着弹簧导槽7弹回先前状态,从而将试样固定在透光槽内,此时,操作者就可以方便的对该试样进行背光观察了。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (7)

1.一种阻光盘,其特征在于,包括:
主体(1);
设置在主体上的透光槽(3);
安装在所述透光槽(3)内并可在所述透光槽(3)内滑动的弹片(2);
一端与所述弹片(2)相连,另一端与所述透光槽(3)的内壁相连的弹簧(4);
设置在所述弹簧(4)内部的导杆(5),所述导杆(5)一端安装在所述透光槽(3)的内壁上,另一端置于所述弹片(2)的内部。
2.根据权利要求1所述的阻光盘,其特征在于,所述弹簧(4)的个数为1个。
3.根据权利要求2所述的阻光盘,其特征在于,所述弹簧(4)设置在所述弹片(2)的中心。
4.根据权利要求1所述的阻光盘,其特征在于,所述弹簧(4)的个数为2个。
5.根据权利要求4所述的阻光盘,其特征在于,所述弹簧(4)对称设置在所述弹片(2)上。
6.根据权利要求1所述的阻光盘,其特征在于,所述弹片(2)上还安装有推动所述弹片(2)的弹片推点(6)。
7.根据权利要求6所述的阻光盘,其特征在于,所述透光槽(3)上设置有弹片导槽(7)。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6862138B2 (en) * 2001-01-26 2005-03-01 Leica Microsystems Wetzlar Gmbh Holder for positioning a specimen slide, and apparatus for laser cutting of specimens, and microscope
CN201773193U (zh) * 2010-07-20 2011-03-23 深南电路有限公司 阻光盘

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH085932A (ja) * 1994-06-16 1996-01-12 Olympus Optical Co Ltd プレパラートホルダ

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6862138B2 (en) * 2001-01-26 2005-03-01 Leica Microsystems Wetzlar Gmbh Holder for positioning a specimen slide, and apparatus for laser cutting of specimens, and microscope
CN201773193U (zh) * 2010-07-20 2011-03-23 深南电路有限公司 阻光盘

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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