CN101893685A - 调试装置 - Google Patents

调试装置 Download PDF

Info

Publication number
CN101893685A
CN101893685A CN2009103025512A CN200910302551A CN101893685A CN 101893685 A CN101893685 A CN 101893685A CN 2009103025512 A CN2009103025512 A CN 2009103025512A CN 200910302551 A CN200910302551 A CN 200910302551A CN 101893685 A CN101893685 A CN 101893685A
Authority
CN
China
Prior art keywords
pin
jtag
interface
head circuit
debugging apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2009103025512A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101893685B (zh
Inventor
韩佳庆
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Futaihong Precision Industry Co Ltd
Chi Mei Communication Systems Inc
Original Assignee
Shenzhen Futaihong Precision Industry Co Ltd
Chi Mei Communication Systems Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Futaihong Precision Industry Co Ltd, Chi Mei Communication Systems Inc filed Critical Shenzhen Futaihong Precision Industry Co Ltd
Priority to CN200910302551.2A priority Critical patent/CN101893685B/zh
Priority to US12/578,168 priority patent/US8024630B2/en
Publication of CN101893685A publication Critical patent/CN101893685A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101893685B publication Critical patent/CN101893685B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • G01R31/318533—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
    • G01R31/318572—Input/Output interfaces
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/31705—Debugging aspects, e.g. using test circuits for debugging, using dedicated debugging test circuits

Abstract

本发明提供一种调试装置，其用于连接一JTAG调试机以进行JTAG调试，该JTAG调试装置包括一JTAG接口，该JTAG调试装置还包括一耳机电路、一开关切换单元、一USB接口及一复位电路，该耳机电路经开关切换单元与JTAG接口相连，该USB接口及复位电路均与该JTAG接口相连，当JTAG调试机由耳机电路及USB接口接入时，该耳机电路及USB接口在JTAG调试机与JTAG接口之间建立连接，以进行JTAG调试。

Description

调试装置
技术领域
本发明涉及一种用于便携式电子装置的调试装置，尤其涉及一种用于便携式电子装置的JTAG调试装置。
背景技术
JTAG(Joint Test Action Group，联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试。现有多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。JTAG可进行电路采集、CPU读写、故障模拟等，实现开发工作过程中故障的观察、仿真、模拟。
现有的JTAG接口一般包括TDI(Test Data Input，测试数据输入)引脚、TCK(Test ClockInput，测试时钟信号)引脚、TMS(Test Mode Selection Input，测试模式转换信号)引脚、TRST(Test Reset Input，测试复位信号)引脚、RST(Test Reset Input，内核复位信号)引脚、TDO(Test Data Output，测试数据输出)引脚。
在便携式电子装置电路发生故障后的修理过程中，经常需要对其进行JTAG调试。此时，现有的测试方法大多需要从其内置的印刷电路板上将上述引脚引出，并通过焊接引线连接到JTAG调试器上，而相应的JTAG调试器上也需要焊接引线以建立对应的电性连接。然而，大多数现有的JTAG调试器都是插接式的，其插头构造并不易于进行焊线操作；同时，焊接引线也容易引起电路板上的短路及断路，造成额外损失。
发明内容
针对上述问题，有必要提供一种安全可靠的调试装置。
一种调试装置，其用于连接一JTAG调试机以进行JTAG调试，该JTAG调试装置包括一JTAG接口，该JTAG调试装置还包括一耳机电路、一开关切换单元、一USB接口及一复位电路，该耳机电路经开关切换单元与JTAG接口相连，该USB接口及复位电路均与该JTAG接口相连，当JTAG调试机由耳机电路及USB接口接入时，该耳机电路及USB接口在JTAG调试机与JTAG接口之间建立连接，以进行JTAG调试。
与现有技术相比，使用本发明的调试装置进行JTAG调试时，只需直接将JTAG调试机连接至耳机电路的插孔及USB接口，即可由耳机电路及USB接口在JTAG调试机与JTAG接口之间建立电性连接，从而对便携式电子装置进行JTAG调试。本发明无需进行复杂的焊线操作，避免在焊线过程中易引起的短路等问题，使JTAG调试具有更高效率且更加安全可靠。
附图说明
图1为本发明较佳实施例的调试装置的功能模块图。
图2为本发明较佳实施例的调试装置的电路图。
具体实施方式
请参阅图1及图2，本发明较佳实施例调试装置100用于连接一JTAG调试机(图未示)，以对移动电话、PDA等便携式电子装置进行JTAG调试。该调试装置100包括一JTAG接口10、一耳机电路20、一开关切换单元30、一USB接口40及一复位电路50。该耳机电路20经开关切换单元30与JTAG接口10相连，该USB接口40及复位电路50均与该与JTAG接口10相连。
该JTAG接口10包括8个引脚，该8个引脚可为待调试便携式电子装置内一电路板上的电连接端，其用于与JTAG调试机建立连接，以进行JTAG调试。该8个引脚分别为VDD引脚11、GND引脚12、TDI引脚13、TDO引脚14、TCK引脚15、TMS引脚16、RST引脚17及TRST引脚18。其中，该GND引脚12接地；该TDI引脚13、TDO引脚14、TCK引脚15与开关切换单元30相连，以由开关切换单元30切换至与耳机电路20相连；该VDD引脚11、TMS引脚16、RST引脚17均与USB接口40相连；从而，该TDI引脚13、TDO引脚14、TCK引脚15、VDD引脚11、TMS引脚16及RST引脚17可通过该耳机电路20及USB接口40连接至JTAG测试机；该TRST引脚18与复位电路50相连，其可接收复位电路50的内核复位信号，并进行内核复位。
该耳机电路20包括6个引脚，分别为接地(GND)引脚21、音频输入(MIC)引脚22、二左音频输出(EAR_L0)引脚23及(EAR_L1)引脚24、二右音频输出(EAR_R0)引脚25及(EAR_R1)引脚26。其中，该GND引脚21接地；该MIC引脚22、EAR_L0引脚23、EAR_L1引脚24、EAR_R0引脚25及EAR_R1引脚26与便携式电子装置内电路板上的音频信号线相连，以进行传统的音频输入及输出；同时，该MIC引脚22、EAR_L0引脚23及EAR_R1引脚26还与开关切换单元30连接，进行引脚复用。另外，该耳机电路20具有一插孔(图未示)，该耳机电路20可通过该插孔连接现有的JTAG调试机。
该开关切换单元30用以根据插孔是否外接JTAG调试机切换耳机电路20的连接状态。该开关切换单元30包括11个引脚，分别为接地(GND)引脚301、电源(VDD)引脚302、三输入(YA)引脚303、(YB)引脚304及(YC)引脚305、六输出(IA0)引脚306、(IA1)引脚307、(IB0)引脚308、(IB1)引脚309、(IC0)引脚310及(IC1)引脚311。其中，GND引脚301接地，VDD引脚302连接至一电源V0；IA0引脚306、IA1引脚307、IB0引脚308、IB1引脚309、IC0引脚310及IC1引脚311为信号输入/输出引脚，YA引脚303、YB引脚304、YC引脚305形成第一引脚组，分别与耳机电路20的MIC引脚22、EAR_L0引脚23及EAR_R1引脚26对应相连，以检测耳机插孔中是否接AJTAG调试机。
IA0引脚306、IB0引脚308、IC0引脚310形成第二引脚组，分别与JTAG接口10的TDI引脚13、TDO引脚14及TCK引脚15对应相连耳机电路；IA1引脚307、IB1引脚309、IC1引脚311形成第三引脚组，分别与耳机电路20的MIC引脚22、EAR_L0引脚23及EAR_R1引脚26对应相连。该第二引脚组与第三引脚组在第一引脚组检测到耳机插孔中无JTAG调试机接入时为断开状态，在检测到耳机插孔中有JTAG调试机接入时则切换为电性连接状态，从而使耳机电路20在JTAG接口10与JTAG调试机之间建立电性相连，而将JTAG调试机连接至JTAG接口10的TDI引脚13、TDO引脚14及TCK引脚15。
该USB接口40为一miniUSB接口，其包括5个引脚，该5个引脚分别为GND引脚41、VCC引脚42、、ID引脚43、D+引脚44及D-引脚45。其中，该GND引脚41接地，该VCC引脚42用以输入及输出电源，连接至一VUSB电源，该ID引脚43用以在该USB接口40与其他便携式电子装置连接时，进行身份识别，该D+引脚44及D-引脚45用以传输数据；同时，该ID引脚43、D+引脚44及D-引脚45分别与VDD引脚11、TMS引脚16及RST引脚17相连，以对VDD引脚供电，并使JTAG调试机可通过连接该USB接口40而连接至JTAG接口10的TMS引脚16及RST引脚17。
该复位电路50由一与JTAG接口10的TRST引脚18电性连接的零欧姆电阻形成。该零欧姆电阻一端与TRST引脚18相连，另一端可与便携式电子装置内电路板相连，以接收一内核复位信号并由TRST引脚18传送至JTAG接口10。
使用该JTAG装置100进行JTAG调试时，只需直接将现有JTAG调试器的插头分别连接至耳机电路20的插孔及USB接口40，其与耳机电路20的MIC引脚22、EAR_L0引脚23、EAR_R1引脚26相连以进行测试数据输入、测试数据输出及测试时钟信号传输，同时与USB接口的ID引脚43、D+引脚44、D-引脚45相连以进行电源输入、测试模式转换信号及测试复位信号输出，从而通过耳机电路20及USB接口40在JTAG调试机与JTAG接口10之间建立电性连接，以对便携式电子装置进行JTAG调试，无需进行复杂的焊线操作，避免在焊线过程中易引起的短路等问题，使JTAG调试更加安全可靠。

Claims (9)

1.一种调试装置，其用于连接一JTAG调试机以进行JTAG调试，该JTAG调试装置包括一JTAG接口，其特征在于：该JTAG调试装置还包括一耳机电路、一开关切换单元、一USB接口及一复位电路，该耳机电路经开关切换单元与JTAG接口相连，该USB接口及复位电路均与该JTAG接口相连，当JTAG调试机由耳机电路及USB接口接入时，该耳机电路及USB接口在JTAG调试机与JTAG接口之间建立连接，以进行JTAG调试。
2.如权利要求1所述的调试装置，其特征在于：该JTAG接口包括一VDD引脚、一GND引脚、一TDI引脚、一TDO引脚、一TCK引脚、一TMS引脚、一RST引脚及一TRST引脚；该GND引脚接地；该TDI引脚、TD0引脚及TCK引脚经开关切换单元与耳机电路相连；该VDD引脚、一TMS引脚及一RST引脚与USB接口相连；该TRST引脚与复位电路相连。
3.如权利要求2所述的调试装置，其特征在于：该耳机电路包括GND引脚、MIC引脚、EAR_L0引脚、EAR_L1引脚、EAR_R0引脚、EAR_R1引脚；该GND引脚接地，MIC引脚、EAR_L0引脚及EAR_R1引脚与开关切换单元相连。
4.如权利要求2所述的调试装置，其特征在于：该USB接口单元包括VCC引脚、GND引脚、ID引脚、D-引脚及D+引脚，该VCC引脚连接至一电源，该GND引脚接地，该ID引脚、D-引脚及D+引脚与VDD引脚、TRST引脚及TMS引脚相连。
5.如权利要求2所述的调试装置，其特征在于：该复位电路由一与TRST引脚相连的零欧姆电阻形成。
6.如权利要求2所述的调试装置，其特征在于：该开关切换单元包括一GND引脚、一VDD引脚、一第一引脚组、一第二引脚组及一第三引脚组，该GND引脚接地，该VDD引脚连接至一电源，该第一引脚组与耳机电路相连，该第二引脚组与耳机电路相连，该第三引脚组与JTAG接口相连；当第一引脚组检测到耳机电路有JTAG调试机接入时，将第二引脚组与第三引脚组由断开状态切换至连接状态。
7.如权利要求6所述的调试装置，其特征在于：该第一引脚组包括与耳机电路相连的一YA引脚、一YB引脚及一YC引脚。
8.如权利要求6所述的调试装置，其特征在于：该第二引脚组包括与耳机电路相连的一IA0引脚、一IB0引及一IC0引脚。
9.如权利要求6所述的调试装置，其特征在于：该第三引脚组包括与JTAG接口相连的一IA1引脚、一IB1引脚及一IC1引脚。
CN200910302551.2A 2009-05-23 2009-05-23 调试装置 Expired - Fee Related CN101893685B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN200910302551.2A CN101893685B (zh) 2009-05-23 2009-05-23 调试装置
US12/578,168 US8024630B2 (en) 2009-05-23 2009-10-13 Debugging module for electronic device and method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN200910302551.2A CN101893685B (zh) 2009-05-23 2009-05-23 调试装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101893685A true CN101893685A (zh) 2010-11-24
CN101893685B CN101893685B (zh) 2013-12-25

Family

ID=43102936

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN200910302551.2A Expired - Fee Related CN101893685B (zh) 2009-05-23 2009-05-23 调试装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8024630B2 (zh)
CN (1) CN101893685B (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105842615A (zh) * 2015-01-14 2016-08-10 扬智科技股份有限公司 可于异常状态下进行调试的系统芯片及其调试方法
CN107656513A (zh) * 2017-08-25 2018-02-02 歌尔丹拿音响有限公司 嵌入式设备的模式切换方法和嵌入式设备
CN108169663A (zh) * 2017-12-28 2018-06-15 湖南国科微电子股份有限公司 一种具有防呆调试接口的pcb板
CN108226764A (zh) * 2017-12-20 2018-06-29 北京松果电子有限公司 调试装置及调试方法

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20130108064A1 (en) * 2011-11-01 2013-05-02 Erturk D. Kocalar Connectors for invoking and supporting device testing
US8966313B2 (en) * 2012-04-30 2015-02-24 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Systems and methods for a shared debug pin
US20160283423A1 (en) * 2015-03-25 2016-09-29 Intel Corporation System and method to enable closed chassis debug control interface using a universal serial bus (usb) type-c connector
WO2020036481A1 (en) * 2018-08-15 2020-02-20 Mimos Berhad A circuit and method for operation mode selection
CN111880634B (zh) * 2020-06-29 2022-07-12 中国人民解放军战略支援部队信息工程大学 一种srio交换芯片的复位结构及其复位状态监控方法
CN113821391A (zh) * 2021-09-14 2021-12-21 维沃移动通信有限公司 设备识别方法、装置、设备和存储介质

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7536597B2 (en) * 2005-04-27 2009-05-19 Texas Instruments Incorporated Apparatus and method for controlling power, clock, and reset during test and debug procedures for a plurality of processor/cores
KR100787974B1 (ko) * 2006-11-16 2007-12-24 삼성전자주식회사 휴대 단말기 및 이의 멀티 중앙 처리 유닛 테스트 시스템과방법
CN101452051B (zh) * 2007-12-04 2011-06-08 联想移动通信科技有限公司 一种数据处理装置及方法
KR100922731B1 (ko) * 2007-12-06 2009-10-22 한국전자통신연구원 광대역 음성 코덱을 적용한 인터넷 전화용 통신 단말장치및 인터넷 전화 통화 방법
CN101360145B (zh) * 2008-09-27 2010-12-15 上海闻泰电子科技有限公司 一种实现耳机与jtag功能的移动通讯装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105842615A (zh) * 2015-01-14 2016-08-10 扬智科技股份有限公司 可于异常状态下进行调试的系统芯片及其调试方法
CN105842615B (zh) * 2015-01-14 2019-03-05 扬智科技股份有限公司 可于异常状态下进行调试的系统芯片及其调试方法
CN107656513A (zh) * 2017-08-25 2018-02-02 歌尔丹拿音响有限公司 嵌入式设备的模式切换方法和嵌入式设备
CN108226764A (zh) * 2017-12-20 2018-06-29 北京松果电子有限公司 调试装置及调试方法
CN108169663A (zh) * 2017-12-28 2018-06-15 湖南国科微电子股份有限公司 一种具有防呆调试接口的pcb板

Also Published As

Publication number Publication date
US20100299566A1 (en) 2010-11-25
US8024630B2 (en) 2011-09-20
CN101893685B (zh) 2013-12-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101893685B (zh) 调试装置
CN108475227B (zh) 测试功能组件及数据调试方法
CN201247297Y (zh) 一种多芯电缆连接线测试装置
CN101697599B (zh) 多媒体数据卡、手机多媒体数据卡的测试装置及测试方法
CN103472386B (zh) 基于fpga的芯片测试装置及方法
CN103412810A (zh) 一种可测试内部信号的系统封装芯片及测试方法
CN208547675U (zh) 一种用于USB Type-C接口的插拔测试模块
CN201242552Y (zh) 射频同轴连接器信号测试连接装置
CN105677524A (zh) 测试组件、连接器和测试主板
CN102411528A (zh) Mxm接口测试连接卡及具有该测试连接卡的测试系统
EP2615550B1 (en) Mobile terminal
CN101360145B (zh) 一种实现耳机与jtag功能的移动通讯装置
CN211375588U (zh) 一种多调试接口切换电路
CN115856573A (zh) 一种芯片量产测试的pd协议测试系统及其方法
WO2021253805A1 (zh) 辅助检测电路、装置、主板和终端设备
CN204069101U (zh) 一种通讯接口切换装置
KR20080002344A (ko) Ｊｔａｇ연결장치 및 이를 이용한 이동통신단말기
CN103091626B (zh) Jtag测试链路及其超声诊断仪
CN218630021U (zh) 一种测试治具
CN102469190B (zh) 基于移动通信终端的整机调试方法及装置
CN202631692U (zh) 一种测试适配器
CN217213013U (zh) 芯片测试结构以及芯片测试系统
CN205562599U (zh) 一种icni设备信号测试转接装置
CN215641365U (zh) 测试治具装置
CN218214115U (zh) 一种扩展电路板及mcu的ate设备

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20131225

Termination date: 20150523

EXPY Termination of patent right or utility model