CN101866375A - 过孔尺寸分布检查系统及方法 - Google Patents

过孔尺寸分布检查系统及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101866375A
CN101866375A CN200910301593A CN200910301593A CN101866375A CN 101866375 A CN101866375 A CN 101866375A CN 200910301593 A CN200910301593 A CN 200910301593A CN 200910301593 A CN200910301593 A CN 200910301593A CN 101866375 A CN101866375 A CN 101866375A
Authority
CN
China
Prior art keywords
standard
diameter
size
via size
hole
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN200910301593A
Other languages
English (en)
Inventor
萧俊山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN200910301593A priority Critical patent/CN101866375A/zh
Priority to US12/648,383 priority patent/US8117585B2/en
Publication of CN101866375A publication Critical patent/CN101866375A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/30Circuit design
    • G06F30/39Circuit design at the physical level
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0005Apparatus or processes for manufacturing printed circuits for designing circuits by computer
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/11Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K1/115Via connections; Lands around holes or via connections
    • H05K1/116Lands, clearance holes or other lay-out details concerning the surrounding of a via
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09209Shape and layout details of conductors
    • H05K2201/09372Pads and lands
    • H05K2201/09454Inner lands, i.e. lands around via or plated through-hole in internal layer of multilayer PCB
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09209Shape and layout details of conductors
    • H05K2201/09654Shape and layout details of conductors covering at least two types of conductors provided for in H05K2201/09218 - H05K2201/095
    • H05K2201/09718Clearance holes
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0011Working of insulating substrates or insulating layers
    • H05K3/0044Mechanical working of the substrate, e.g. drilling or punching
    • H05K3/0047Drilling of holes
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/42Plated through-holes or plated via connections
    • H05K3/429Plated through-holes specially for multilayer circuits, e.g. having connections to inner circuit layers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

一种过孔尺寸分布检查方法,该方法包括如下步骤:从数据库中读取待检查的元件群组及该元件群组中每个元件的过孔尺寸;选择待检查的元件群组对应的标准过孔尺寸;将所读取的每个元件的过孔尺寸与该元件群组对应的标准过孔尺寸进行比较,查看所述过孔尺寸是否合格;在元件分布图上显示过孔尺寸不合格的元件;及生成检查报表,该报表上显示有所有元件过孔的检查结果。另外,本发明还提供一种过孔尺寸分布检查系统。

Description

过孔尺寸分布检查系统及方法
技术领域
本发明涉及一种检查系统及方法,尤其涉及一种关于过孔尺寸分布的检查系统及方法。
背景技术
印刷电路板(Printed Circuit Board,PCB)是电子产品中电路元件的支撑件,它提供了电路元件之间的电气连接。其将元件与元件之间复杂的电路导线,经过细致整齐的规划后,蚀刻在一块板子上,提供电子元件在安装与互连时的主要支撑体,是所有电子产品不可或缺的基础零件。
印刷电路板是以不导电材料所制成的平板,在板面上印制有导线以连接电子元件。将所述电子元件的PIN脚(引脚)穿过PCB后,再以导电性的金属焊条黏附在PCB上形成电路。
依应用领域,PCB可分为单层板和多层板(包括两层或以上)。随着技术的发展,多层PCB得到越来越多的应用。过孔(via)是多层PCB的重要组成部分,尤其是体积小且密度高的PCB。
过孔的使用随之带来了寄生电感(equivalent serial inductance,ESL即等效串连电感),寄生电感阻碍了电容迅速响应电流变化的能力,进而造成低频电源噪声或者高频电磁干扰。由于电流通道产生的寄生电感与过孔的直径、数量成一定比例,因此控制过孔的尺寸可以有效地控制寄生电感。
传统方法一般采用人工检查过孔的尺寸分布,相当费时费力,且难以保持检查结果的准确性。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提供一种过孔尺寸分布检查系统,可以迅速准确地检查过孔尺寸及其分布。
还有必要提供一种过孔尺寸分布检查方法,可以迅速准确地检查过孔尺寸及其分布。
一种过孔尺寸分布检查系统,该系统运行于主机上,该主机连接于数据库,该数据库中存储有待检查的元件群组、元件分布图及每个元件群组对应的的标准过孔尺寸,该系统包括:读取模块,用于从数据库中读取待检查的元件群组及该元件群组中每个元件的过孔尺寸;选择模块,用于选择待检查的元件群组对应的标准过孔尺寸;比较模块,用于将所读取的每个元件的过孔尺寸与该元件群组对应的标准过孔尺寸进行比较,查看所读取的每个元件的过孔尺寸是否合格;显示模块,用于在元件分布图上显示过孔尺寸不合格的元件;及生成模块,用于生成检查报表,该报表上显示所有元件过孔的检查结果。
一种过孔尺寸分布检查方法,该方法包括如下步骤:从数据库中读取待检查的元件群组及该元件群组中每个元件的过孔尺寸;选择待检查的元件群组对应的标准过孔尺寸;将所读取的每个元件的过孔尺寸与该元件群组对应的标准过孔尺寸进行比较,查看所读取的每个元件的过孔尺寸是否合格;在元件分布图上显示过孔尺寸不合格的元件;及生成检查报表,该报表上显示有所有元件过孔的检查结果。
相较于现有技术,所述过孔尺寸分布检查系统及方法,通过检查过孔的尺寸,迅速找出不符合设计规范的分布,使得PCB抗高频干扰与低频杂讯的设计控制更准确。
附图说明
图1是本发明过孔尺寸分布检查系统的硬件架构图。
图2是图1中过孔尺寸分布检查系统的功能模块图。
图3是本发明过孔尺寸分布检查方法较佳实施例的流程图。
图4是元件过孔平面示意图。
具体实施方式
如图1所示,是本发明过孔尺寸分布检查系统的硬件架构图。该过孔尺寸分布检查系统100运行于主机1上,该主机1分别连接数据库2,键盘3,鼠标4及显示器5。所述主机1可以是IBM架构的计算机(IBM Personal Computer,IBM PC)、Apple公司的Mac PC、个人计算机、网络服务器,还可以是任意其它适用的计算机。
所述数据库2可以内置于所述主机1,也可外置所述主机1,该数据库2中存储有PCB的元件库,该元件库中存储有很多元件群组。所述元件是指PCB上的元器件的符号。该数据库2中还存储有每个元件群组的标准过孔尺寸及元件的分布图。所述标准过孔尺寸是指过孔产生的寄生电感和寄生电容在允许的寄生电感和寄生电容范围之内所符合的过孔尺寸。如图4所示,过孔由三部分组成:一是孔;二是孔周围的焊盘区;三是POWER层隔离区。该过孔尺寸包括:过孔直径D、焊盘直径D1、隔离孔直径D2及PCB厚度H。过孔产生的寄生电容C的近似计算公式为:C=1.41*ε*H*D1/(D2-D1),其中ε为板基材介电常数。过孔的寄生电容值越小则对PCB电路的影响越小。过孔的寄生电感L的近似计算公式为L=5.08*H*[ln(4H/D)+1]。因此,所述过孔的标准尺寸参数包括过孔直径D、焊盘直径D1、隔离孔直径D2。
所述键盘3、鼠标4及显示器5分别作为过孔尺寸分布的输入输出装置。所述显示器5还提供了图形化用户界面(Graphic User Interface,GUI),该图形化用户界面上显示有PCB的元件过孔分布图。
如图2所示,是本发明图1中过孔尺寸分布检查系统100的功能模块图。所述模块是具有特定功能的软件程序段,该软件存储于计算机可读存储介质或其它存储设备,可被计算机或其它包含处理器的计算装置执行,从而完成对过孔尺寸分布检查的系列流程。所述过孔尺寸分布检查系统100包括:读取模块10、选择模块12、比较模块14、显示模块16及生成模块18。
读取模块10用于从元件库中读取待检查的元件群组、该元件群组中的每个元件的过孔尺寸。
选择模块12用于选择待检查的元件群组对应的标准过孔尺寸。该标准过孔尺寸选择包括对标准过孔直径、标准焊盘直径及标准隔离孔直径的选择。本较佳实施例中,标准过孔直径为10mils,标准焊盘直径为20mils,标准隔离孔直径为28mils。其中,1mils为千分之一英寸。
比较模块14用于将所读取的元件的过孔尺寸与所选择的该元件群组的标准过孔尺寸进行比较,查看所述过孔尺寸是否合格。当所述过孔尺寸的过孔直径不大于所选择的过孔直径标准,且焊盘直径不小于选择的焊盘直径标准及当该过孔的隔离孔直径不大于所选择的标准隔离孔直径时,所述比较模块14判断该过孔尺寸合格。当所述过孔尺寸的过孔直径大于所选择的过孔直径标准,或者焊盘直径小于所选择的焊盘直径标准,或当过孔的隔离孔直径大于所选择的标准隔离孔直径时,所述比较模块14判断的结果为该过孔尺寸不合格。
显示模块16用于在分布图上显示过孔尺寸不合格的元件。本较佳实施例中,所述显示模块16通过用户设定的颜色来标识所述过孔尺寸不合格的元件。
生成模块18用于生成检查报表,该报表上显示所有元件过孔的检查结果。
如图3所示,是本发明过孔尺寸分布检查方法较佳实施例的方法流程图。
步骤S30,读取模块10从元件库中读取待检查的元件群组、该元件群组中每个元件的过孔尺寸。
步骤S31,选择模块12选择待检查的元件群组的对应的标准过孔尺寸。该标准过孔尺寸选择包括对标准过孔直径、标准焊盘直径及标准隔离孔直径的选择。本较佳实施例中,标准过孔直径为10mils,标准焊盘直径为20mils,标准隔离孔直径为28mils。其中,1mils为千分之一英寸。
步骤S32,比较模块14用于将所读取的每个元件的过孔尺寸与所选择的该元件群组的标准过孔尺寸进行比较,查看所述过孔尺寸是否合格。当所述过孔尺寸的过孔直径不大于所选择的标准过孔直径,且焊盘直径不小于所选择的标准焊盘直径及当该过孔的隔离孔直径不大于所选择的标准隔离孔直径时,所述比较模块14判断该过孔尺寸合格。当所述过孔尺寸的过孔直径大于所选择的过孔直径标准,或者焊盘直径小于所选择的焊盘直径标准,或当过孔的隔离孔直径大于所选择的标准隔离孔直径时,所述比较模块14判断的结果为该过孔尺寸不合格。
步骤S33,显示模块16在分布图上显示过孔尺寸不合格的元件。本较佳实施例中,所述显示模块16通过用户设定的颜色来标识所述过孔尺寸不合格的元件。
步骤S34,生成模块18生成检查报表,该报表上显示有所有元件过孔的检查结果。
步骤S35,当还需要继续检查其他元件群组时转至步骤S30。当不需要时结束流程。
最后所应说明的是,以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制,尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换,而不脱离本发明技术方案的精神和范围。

Claims (9)

1.一种过孔尺寸分布检查系统,该系统运行于主机上,该主机连接于数据库,该数据库中存储有待检查的元件群组、元件分布图及每个元件群组对应的的标准过孔尺寸,其特征在于,该系统包括:
读取模块,用于从数据库中读取待检查的元件群组及该元件群组中每个元件的过孔尺寸;
选择模块,用于选择待检查的元件群组对应的标准过孔尺寸;
比较模块,用于将所读取的每个元件的过孔尺寸与该元件群组对应的标准过孔尺寸进行比较,查看所读取的每个元件的过孔尺寸是否合格;
显示模块,用于在元件分布图上显示过孔尺寸不合格的元件;及
生成模块,用于生成检查报表,该报表上显示所有元件过孔的检查结果。
2.如权利要求1所述的过孔尺寸分布检查系统,其特征在于,所述标准过孔尺寸是指过孔产生的寄生电感和寄生电容在允许的寄生电感和寄生电容范围之内所符合的过孔尺寸。
3.如权利要求1所述的过孔尺寸分布检查系统,其特征在于,所述标准过孔尺寸包括:标准过孔直径、标准焊盘直径及标准隔离孔直径。
4.如权利要求3所述的过孔尺寸分布检查系统,其特征在于,当过孔尺寸的过孔直径不大于标准过孔直径,且焊盘直径不小于标准焊盘直径及当该过孔的隔离孔直径不大于标准隔离孔直径时,所述比较模块判断的结果为该过孔尺寸合格;当过孔尺寸的过孔直径大于所选择的过孔直径标准,或者焊盘直径小于所选择的焊盘直径标准,或当过孔的隔离孔直径大于所选择的标准隔离孔直径时,所述比较模块判断的结果为该过孔尺寸不合格。
5.一种过孔尺寸分布检查方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:
从数据库中读取待检查的元件群组及该元件群组中每个元件的过孔尺寸;
选择待检查的元件群组对应的标准过孔尺寸;
将所读取的每个元件的过孔尺寸与该元件群组对应的标准过孔尺寸进行比较,查看所读取的每个元件的过孔尺寸是否合格;
在元件分布图上显示过孔尺寸不合格的元件;及
生成检查报表,该报表上显示有所有元件过孔的检查结果。
6.如权利要求5所述的过孔尺寸分布检查方法,其特征在于,所述标准过孔尺寸是指过孔产生的寄生电感和寄生电容在允许的寄生电感和寄生电容范围之内所符合的过孔尺寸。
7.如权利要求5所述的过孔尺寸分布检查方法,其特征在于,所述标准过孔尺寸包括:标准过孔直径、标准焊盘直径及标准隔离孔直径。
8.如权利要求7所述的过孔尺寸分布检查方法,其特征在于,所述步骤将所读取的每个元件的过孔尺寸与该元件群组对应的标准过孔尺寸进行比较,查看所读取的每个元件的过孔尺寸是否合格包括:
当过孔尺寸的过孔直径不大于所选择的过孔直径标准,且焊盘直径不小于所选择的焊盘直径标准及当该过孔的隔离孔直径不大于所选择的标准隔离孔直径时,判断的结果为该过孔尺寸合格;及
当过孔尺寸的过孔直径大于所选择的过孔直径标准,或者焊盘直径小于所选择的焊盘直径标准,或当过孔的隔离孔直径大于所选择的标准隔离孔直径时,判断的结果为该过孔尺寸不合格。
9.如权利要求5所述的过孔尺寸分布检查方法,其特征在于,该方法还包括步骤:当还需要继续检查其他元件群组时返回从数据库中读取待检查的元件群组的步骤。
CN200910301593A 2009-04-16 2009-04-16 过孔尺寸分布检查系统及方法 Pending CN101866375A (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN200910301593A CN101866375A (zh) 2009-04-16 2009-04-16 过孔尺寸分布检查系统及方法
US12/648,383 US8117585B2 (en) 2009-04-16 2009-12-29 System and method for testing size of vias

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN200910301593A CN101866375A (zh) 2009-04-16 2009-04-16 过孔尺寸分布检查系统及方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN101866375A true CN101866375A (zh) 2010-10-20

Family

ID=42958102

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN200910301593A Pending CN101866375A (zh) 2009-04-16 2009-04-16 过孔尺寸分布检查系统及方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8117585B2 (zh)
CN (1) CN101866375A (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104582277A (zh) * 2014-07-31 2015-04-29 江苏博敏电子有限公司 印制线路板的一种涨缩委工方法
CN112188735A (zh) * 2020-09-17 2021-01-05 苏州浪潮智能科技有限公司 一种辨识盲埋孔分布方法、装置及计算机可读存储介质
CN115955772A (zh) * 2022-12-30 2023-04-11 广东依顿电子科技股份有限公司 一种背钻防呆处理方法及设备、控制装置、存储介质

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112698184A (zh) * 2020-12-17 2021-04-23 珠海杰赛科技有限公司 一种pcb板的低阻测试方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4028675A (en) * 1973-05-14 1977-06-07 Hewlett-Packard Company Method and apparatus for refreshing semiconductor memories in multi-port and multi-module memory system
US6037547A (en) * 1997-12-03 2000-03-14 Advanced Micro Devices, Inc. Via configuration with decreased pitch and/or increased routing space
US6469530B1 (en) * 2000-02-15 2002-10-22 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for testing of ball grid array circuitry
JP3778003B2 (ja) * 2001-05-21 2006-05-24 日本電気株式会社 多層配線基板設計方法
US7047628B2 (en) * 2003-01-31 2006-05-23 Brocade Communications Systems, Inc. Impedance matching of differential pair signal traces on printed wiring boards
US6983434B1 (en) * 2003-02-13 2006-01-03 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Differential via pair impedance adjustment tool
US20050237776A1 (en) * 2004-03-19 2005-10-27 Adrian Gropper System and method for patient controlled communication of DICOM protected health information
US20050246670A1 (en) * 2004-04-29 2005-11-03 Bois Karl J Differential via pair coupling verification tool
US20050249479A1 (en) * 2004-05-04 2005-11-10 Frank Mark D System and method for determining signal coupling coefficients for vias
US7424690B2 (en) * 2004-12-07 2008-09-09 Lsi Corporation Interconnect integrity verification
US8253430B2 (en) * 2005-04-22 2012-08-28 Hewlett-Packard Development Company Circuit board testing using a probe
CN101236078B (zh) 2007-02-02 2011-01-05 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 电容到过孔导线长度检查系统及方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104582277A (zh) * 2014-07-31 2015-04-29 江苏博敏电子有限公司 印制线路板的一种涨缩委工方法
CN104582277B (zh) * 2014-07-31 2017-12-01 江苏博敏电子有限公司 印制线路板的一种涨缩委工方法
CN112188735A (zh) * 2020-09-17 2021-01-05 苏州浪潮智能科技有限公司 一种辨识盲埋孔分布方法、装置及计算机可读存储介质
CN115955772A (zh) * 2022-12-30 2023-04-11 广东依顿电子科技股份有限公司 一种背钻防呆处理方法及设备、控制装置、存储介质
CN115955772B (zh) * 2022-12-30 2023-08-15 广东依顿电子科技股份有限公司 一种背钻防呆处理方法及设备、控制装置、存储介质

Also Published As

Publication number Publication date
US20100264933A1 (en) 2010-10-21
US8117585B2 (en) 2012-02-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6571184B2 (en) System and method for determining the decoupling capacitors for power distribution systems with a frequency-dependent target impedance
US8166447B1 (en) Power delivery network calculator tool for printed circuit board capacitors
JP4389224B2 (ja) 半導体装置の設計方法、設計支援システム及びプログラム、並びに、半導体パッケージ
US6937971B1 (en) System and method for determining the desired decoupling components for a power distribution system having a voltage regulator module
CN101866375A (zh) 过孔尺寸分布检查系统及方法
CN101236078B (zh) 电容到过孔导线长度检查系统及方法
Yang et al. Field-circuit co-simulation method for electrostatic discharge investigation in electronic products
JP5262176B2 (ja) 電源回路の設計支援装置と設計支援方法
JP5304460B2 (ja) プリント配線基板電源回路設計装置、プリント配線基板電源回路設計方法及びプログラム
JP4678027B2 (ja) 集積回路装置の評価装置、評価方法及び評価プログラム
US20080072194A1 (en) Method for designing device, system for aiding to design device, and computer program product therefor
George et al. Signal integrity and power integrity challenges in embedded computing boards
US8880386B2 (en) Method for circuit simulation
TW201041462A (en) System and method for examining size and distributing of a via
TWI409654B (zh) 電容到過孔導線長度檢查系統及方法
US7143389B2 (en) Systems and methods for generating node level bypass capacitor models
JP4760622B2 (ja) 電磁放射解析装置、解析方法、および解析プログラム
Silvestre Bergés et al. Printed Circuit Board (PCB) design process and fabrication
JP2002016391A (ja) Emiシミュレーション装置
Erdin et al. Analysis of decoupling capacitors inside via arrays with mutual interaction
CN216772371U (zh) 一种电压转换电路模块、pcb板、服务器
Sercu IR drop analysis of high-speed PCBs using 3D planar EM technology
JP2008276612A (ja) 回路設計装置及び方法並びにプログラム
JP2010282473A (ja) プリント基板電源回路設計装置、およびプリント基板電源回路設計方法、及びプログラム
JP2012220425A (ja) ノイズ源推定装置およびノイズ源推定方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C12 Rejection of a patent application after its publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20101020