CN101854644A - 一种射频测试装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及通信测试领域，为了解决现有技术中需要为每次测试布置特殊的测试环境和仪器，操作复杂、成本高的问题提供了一种射频测试装置及方法，其中装置包括复数个开关阵列：用于根据射频测试指令，导通测试单元；所述测试单元：用于对待测设备进行测试。本发明的实施例的有益效果在于，通过开关阵列可以灵活的配置测试项目，实现了多个功能模块的复用，节约了成本，并且降低了每次测试时需要重新布线等操作的难度。
Description
技术领域
本发明涉及通信测试领域，具体的讲是一种射频测试装置及方法。
背景技术
随着蜂窝移动通信系统基站和终端的产品越来越多，尤其是终端数量和种类更是繁多，手动测试由于其效率低，且存在着不确定因素，而大型的测试系统又价格昂贵，因此如何低成本的解决基站和终端的自动化测试，是目前急需解决的问题。在测试过程中，带外杂散测试由于频带宽，需要覆盖9kHz到12.75GHz，所以对测试系统的频响要求很高；特殊频段杂散的测试则对测试系统的插入损耗有较高要求；阻塞测试的带宽也覆盖了1MHz到12.75GHz，对测试系统的频响要求很高，另外，还要考虑信号源的本振泄露、二次谐波和三次谐波对误比特率测试的干扰问题。而现有技术中都是利用单独的设备对上述测试项目进行测试，每次测试都要连接不同的测试设备，造成了成本高，不易操作的问题。
发明内容
本发明实施例提供一种射频测试装置及方法，用于解决现有技术中需要为每次测试布置特殊的测试环境和仪器，操作复杂、成本高的问题。
为了实现上述目的，本发明实施例提供了一种射频测试装置，该装置包括：复数个开关阵列：用于根据射频测试指令，导通测试单元；所述测试单元：用于对待测设备进行测试。
为了实现上述目的，本发明实施例还提供了一种射频测试方法，所述方法包括：根据射频测试的指令，利用开关阵列导通测试单元；通过所述测试单元对待测设备进行测试。
本发明实施例的有益效果在于，通过开关阵列可以灵活的配置测试项目，实现了多个功能模块的复用，节约了成本，并且降低了每次测试时需要重新布线等操作的难度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1所示为本发明射频测试装置的第一实施例结构图；
图2所示为本发明射频测试装置的第二实施例的结构示意图；
图3所述为本发明射频测试装置进行带内测试时的信号流图；
图4所示为本发明射频测试装置进行低频带外阻塞测试时的信号流图；
图5所示为本发明射频测试装置进行高频带外阻塞测试时的信号流图；
图6所示为本发明射频测试装置进行邻频带外阻塞测试时的信号流图；
图7所示为本发明射频测试装置进行特殊要求的带外阻塞测试时的信号流图；
图8所示为本发明射频测试装置进行带外杂散和发射机互调测试时的信号流图；
图9所示为本发明射频测试方法实施例的流程图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供一种射频测试装置及方法。以下结合附图对本发明进行详细说明。
如图1所示为本发明射频测试装置的第一实施例结构图。
复数个开关阵列101，用于根据射频测试指令，导通测试单元。
测试单元102，用于对待测设备进行测试。
作为本发明的一个实施例，还包括信号处理单元，用于根据所述开关阵列的导通，对干扰信号进行符合所述测试指令的滤波处理。
作为本发明的一个实施例，所述信号处理单元包括：高频滤波单元、低通滤波单元、可调衰减器、带限滤波单元。
作为本发明的一个实施例，所述开关阵列还可以导通外接的信号处理单元。
作为本发明的一个实施例，所述测试单元包括上下行链路，信号源单元，干扰信号单元，信号分析单元，其中，
所述信号源单元传送出测试信号；
所述干扰信号单元用于发出干扰信号；
所述上下行链路用于根据所述开关阵列的导通关系，将所述测试信号或者混有干扰信号的测试信号传送给所述待测设备，并将所述待测设备的信号返回给所述信号分析单元，所述信号分析单元对所述待测设备的信号进行分析。
作为本发明的一个实施例，所述信号处理单元通过所述开关阵列分别与所述信号分析单元和干扰信号单元相连接，并且通过所述开关阵列与待测设备相连接。
作为本发明的一个实施例，当所述射频测试的指令为带内测试时，所述开关阵列导通干扰信号单元，所述干扰信号和信号源单元输出的测试信号构成下行信号，所述上下行链路将所述下行信号传送给所述待测设备，所述信号分析单元对所述待测设备返回的上行信号进行带内测试。
作为本发明的一个实施例，还包括宽频功分器，当所述射频测试的指令为低频带外阻塞测试时，信号源单元输出测试信号，所述开关阵列导通低频滤波单元对干扰信号进行处理，在所述宽频功分器将所述测试信号和处理后的干扰信号构成下行信号，所述待测设备接收所述下行信号，所述信号源单元对所述待测设备返回的上行信号进行低频带外阻塞测试。
作为本发明的一个实施例，当所述射频测试的指令为高频带外阻塞测试时，信号源单元输出测试信号，所述开关阵列导通高频滤波单元对干扰信号进行处理，在所述宽频功分器将所述测试信号和处理后的干扰信号构成下行信号，所述待测设备接收所述下行信号，所述信号源单元对所述待测设备返回的上行信号进行高频带外阻塞测试。
作为本发明的一个实施例，当所述射频测试的指令为邻频带外阻塞测试时，信号源单元输出测试信号，所述开关阵列导通带限滤波单元对干扰信号进行处理，在所述宽频功分器将所述测试信号和处理后的干扰信号构成下行信号，所述待测设备接收所述下行信号，所述信号源单元对所述待测设备返回的上行信号进行邻频带外阻塞测试。
作为本发明的一个实施例，当所述射频测试的指令为特定要求的阻塞测试时，信号源单元输出测试信号，所述开关阵列导通符合所述特定要求的外接信号处理单元对干扰信号进行处理，在所述宽频功分器将所述测试信号和处理后的干扰信号构成下行信号，所述待测设备接收所述下行信号，所述外接信号源单元对所述待测设备返回的上行信号进行特定要求的阻塞测试。
作为本发明的一个实施例，当所述射频测试的指令为带外杂散和发射机互调时，所述开关阵列导通干扰信号单元，所述干扰信号和信号源单元输出的测试信号合并构成下行信号，所述待测设备接收所述下行信号并返回上行信号，所述开关阵列导通信号处理单元对所述上行信号进行处理，所述信号分析单元对所述经过处理的上行信号进行带外杂散和发射机互调测试。
如图2所示为本发明射频测试装置的第二实施例的结构示意图。
包括系统模拟器200，信道模拟器201，矢量信号分析单元202，第一干扰信号单元203，第二干扰信号单元204，第一开关阵列205，窄频合路器206，上下行分离器207，第二开关阵列208，第一可调衰减器209，第三开关阵列210，待测设备211(所述待测设备可以独立于所述射频测试装置)，窄频功分器212，第二可调衰减器213，第三可调衰减器214，第四开关阵列215，第五开关阵列216，第一匹配衰减器217，宽频功分器218，第四可调衰减器219，第二匹配衰减器220，第六开关阵列221，高通滤波器222，低通滤波器223，第五可调衰减器224，带限滤波器225，第七开关阵列226，第八开关阵列227，匹配负载228。
作为本发明的一个实施例，所述系统模拟器200用于产生测试信号，并对返回的信号进行误码率的检测，所述信道模拟器201用于将所述测试信号进行符合信道的调制。
作为本发明的一个实施例，所述上下行链路包括窄频合路器206，上下行分离器207和窄频功分器212。
如图3所述为本发明射频测试装置进行带内测试时的信号流图。
当所述射频测试装置进行带内测试时，所述系统模拟器200产生测试信号，并将所述测试信号传送给所述信道模拟器201，所述信道模拟器201将所述测试信号输入所述窄频合路器206，所述第一干扰信号单元203和第二干扰信号单元204将干扰信号输入所述窄频合路器206，在所述窄频合路器206将测试信号和干扰信号进行合路处理，形成下行信号，输入给所述上下行分离器207。
所述上下行分离器207将所述下行信号传送给所述第二开关阵列208，根据所做的带内测试指令，所述第二开关阵列208将所述下行信号传送给第一可调衰减器209进行功率的调整，第一可调衰减器209将所述下行信号传送给第三开关阵列210，所述第三开关阵列210将所述下行信号传送给待测设备211。
所述待测设备211将返回给所述第三开关阵列210上行信号，所述第三开关阵列210将所述上行信号传送给第一可调衰减器209，进行功率的调整后，将所述上行信号传送给所述第二开关阵列208，经过上下行分离器207的分离，将所述上行信号传送给所述窄频功分器212，所述窄频功分器212进行上行信号的功率分配，将上行信号分别传送给第二可调衰减器213和第三可调衰减器214，所述第二可调衰减器213将所述上行信号传送给所述系统模拟器200，进行误码率的测试。所述第三可调衰减器214将所述上行信号传送给第四开关阵列215，所述第四开关阵列215将所述上行信号传送给所述第五开关阵列216，所述第五开关阵列216将所述上行信号传送给所述矢量信号分析单元202进行带内测试，例如测试信号功率，频率误差等。
如图4所示为本发明射频测试装置进行低频带外阻塞测试时的信号流图。
当所述射频测试装置进行低频带外阻塞测试时，所述系统模拟器200产生测试信号，并将所述测试信号传送给所述信道模拟器201，所述信道模拟器201将所述测试信号输入所述窄频合路器206，所述窄频合路器206将测试信号输入给所述上下行分离器207。所述上下行分离器207将所述测试信号传送给所述第二开关阵列208，根据所做的低频带外测试指令，所述第二开关阵列208将所述测试信号传送给第一匹配衰减器217进行功率的匹配，第一匹配衰减器217将所述测试信号传送给宽频功分器218。
所述第二干扰信号单元204通过第五开关阵列205和第八开关阵列227将干扰信号输入到第七开关阵列226，由所述第七开关阵列226选择接通低通滤波器223，所述低通滤波器223将所述干扰信号进行低通滤波，传送给所述第六开关阵列221，所述第六开关阵列221通过第二匹配衰减器220将所述干扰信号传送给所述宽频功分器218。
所述宽频功分器218对上述下行信号和干扰信号进行功率分配后，将所述下行信号和干扰信号构成下行信号，传送给第四可调衰减器219，所述第四可调衰减器219将所述下行信号发送给所述第三开关阵列210，所述第三开关阵列210将所述下行信号传送给待测设备211。
所述待测设备211将返回给所述第三开关阵列210上行信号，所述第三开关阵列210将所述上行信号传送给第四可调衰减器219，进行功率、频率的匹配后，将所述上行信号传送给所述宽频功分器218，所述宽频功分器218将所述上行信号分别传送给第一匹配衰减器217和第二匹配衰减器220。
所述第一匹配衰减器217将所述上行信号发送给所述第二开关阵列208，经过上下行分离器207的分离，将所述上行信号传送给所述窄频功分器212，所述窄频功分器212进行上行信号的功率分配，将上行信号分别传送给第二可调衰减器213和第三可调衰减器214，所述第二可调衰减器213将所述上行信号传送给所述系统模拟器200进行误码率的测试，由于对所述的干扰信号进行了低频滤波，所以本实施例可以实现低频带外阻塞的测试，所述第三可调衰减器214将所述上行信号传送给第四开关阵列215，所述第四开关阵列215将所述上行信号传送给匹配负载228。
如图5所示为本发明射频测试装置进行高频带外阻塞测试时的信号流图。
本实施例与图4的实施例基本相同，只在不同点进行描述，相同之处不再赘述。
本实施例中第六开关阵列221和第七开关阵列226选择高频滤波器222替代了图4中实施例的低频滤波器223。
如图6所示为本发明射频测试装置进行邻频带外阻塞测试时的信号流图。
本实施例与图4的实施例基本相同，只在不同点进行描述，相同之处不再赘述。
本实施例中第六开关阵列221和第七开关阵列226选择带限滤波器225替代了图4中实施例的低频滤波器223。
如图7所示为本发明射频测试装置进行特殊要求的带外阻塞测试时的信号流图。
本实施例与图4的实施例基本相同，只在不同点进行描述，相同之处不再赘述。
本实施例中第六开关阵列221和第七开关阵列226选择图未示的滤波器进行滤波，替代了图4中实施例的低频滤波器223。其中所述第六开关阵列221和第七开关阵列226可以分别留有接口，以便于另插符合特殊要求的滤波器。
如图8所示为本发明射频测试装置进行带外杂散和发射机互调测试时的信号流图。
本实施例与图4的实施例基本相同，只在不同点进行描述，相同之处不再赘述。
本实施例中第六开关阵列221和第七开关阵列226选择高通滤波器222，低通滤波器223和带限滤波器225替代了图4中实施例的低频滤波器223，进行对接收机带外杂散的测试。由于发射机互调也需要对杂散进行测试，因此对发射机互调的测试通过六开关阵列221和第七开关阵列226选择第五可调衰减器224实现。上行信号通过第六开关阵列221进入上述高通滤波器222，低通滤波器223，第五可调衰减器224和带限滤波器225，进行滤波处理，然后通过第七开关阵列226，第八开关阵列227和第五开关阵列216，传送给所述矢量信号分析单元202进行杂散和发射互调测试。
作为本发明的一个实施例，所述图8的实施例中，其中所述第六开关阵列221和第七开关阵列226可以分别留有接口，以便于另插符合特殊要求的滤波器。
如图9所示为本发明射频测试方法实施例的流程图。
步骤901，根据射频测试的指令，利用开关阵列导通测试单元。
步骤902，通过所述测试单元对待测设备进行测试。
作为本发明的一个实施例，当所述射频测试的指令为带内测试时，所述开关阵列导通干扰信号，所述干扰信号和信号源输出的测试信号构成下行信号，将所述下行信号传送给所述待测设备，对所述待测设备返回的上行信号进行带内测试。
作为本发明的一个实施例，当所述射频测试的指令为低频带外阻塞测试时，信号源输出测试信号，所述开关阵列导通低频滤波单元对干扰信号进行处理，然后将所述测试信号和处理后的干扰信号构成下行信号，将所述下行信号传送给所述待测设备，对所述待测设备返回的上行信号进行低频带外阻塞测试。
作为本发明的一个实施例，当所述射频测试的指令为高频带外阻塞测试时，信号源输出测试信号，所述开关阵列导通高频滤波单元对干扰信号进行处理，然后将所述测试信号和处理后的干扰信号构成下行信号，将所述下行信号传送给所述待测设备，对所述待测设备返回的上行信号进行高频带外阻塞测试。
作为本发明的一个实施例，当所述射频测试的指令为邻频带外阻塞测试时，信号源输出测试信号，所述开关阵列导通带限滤波单元对干扰信号进行处理，然后将所述测试信号和处理后的干扰信号构成下行信号，将所述下行信号传送给所述待测设备，对所述待测设备返回的上行信号进行邻频带外阻塞测试。
作为本发明的一个实施例，当所述射频测试的指令为特定要求的阻塞测试时，信号源输出测试信号，所述开关阵列导通符合所述特定要求的外接信号处理单元对干扰信号进行处理，然后将所述测试信号和处理后的干扰信号构成下行信号，将所述下行信号传送给所述待测设备，对所述待测设备返回的上行信号进行特定要求的阻塞测试。
作为本发明的一个实施例，当所述射频测试的指令为带外杂散和发射机互调时，所述开关阵列导通干扰信号，所述干扰信号和信号源输出的测试信号合并构成下行信号，将所述下行信号传送给所述待测设备，通过导通信号处理单元对所述待测设备返回的上行信号进行处理，然后对所述经过处理的上行信号进行带外杂散和发射机互调测试。
作为本发明的一个实施例，所述信号处理单元包括高频滤波单元、低通滤波单元、可调衰减器、带限滤波单元。
作为本发明的一个实施例，所述开关阵列还可以导通外接的信号处理单元。
本发明的实施例的有益效果在于，通过开关阵列可以灵活的配置测试项目，实现了多个功能模块的复用，节约了成本，并且降低了每次测试时需要重新布线等操作的难度。
以上所述的具体实施方式，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施方式而已，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (20)
1.一种射频测试装置，其特征在于该装置包括：
复数个开关阵列：用于根据射频测试指令，导通测试单元；
所述测试单元：用于对待测设备进行测试。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括信号处理单元，用于根据所述开关阵列的导通，对干扰信号进行符合所述测试指令的处理。
3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述信号处理单元包括：高频滤波单元、低通滤波单元、可调衰减器、带限滤波单元。
4.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述开关阵列还导通外接的信号处理单元。
5.根据权利要求3或4所述的装置，其特征在于，所述测试单元包括上下行链路，信号源单元，干扰信号单元，信号分析单元，其中，
所述信号源单元用于生成测试信号，并分析返回的上行信号；
所述干扰信号单元用于发出干扰信号；
所述信号分析单元用于对所述待测设备返回的上行信号进行分析；
所述上下行链路用于根据所述开关阵列的导通关系，将所述测试信号或者混有干扰信号的测试信号传送给所述待测设备，并将所述待测设备的信号返回给所述信号分析单元或信号源单元。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，当所述射频测试的指令为带内测试时，所述开关阵列导通干扰信号单元，所述干扰信号和信号源单元输出的测试信号构成下行信号，所述上下行链路将所述下行信号传送给所述待测设备，所述信号分析单元对所述待测设备返回的上行信号进行带内测试。
7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，还包括宽频功分器，当所述射频测试的指令为低频带外阻塞测试时，信号源单元输出测试信号，所述开关阵列导通低频滤波单元对干扰信号进行处理，在所述宽频功分器将所述测试信号和处理后的干扰信号构成下行信号，所述待测设备接收所述下行信号，所述信号源单元对所述待测设备返回的上行信号进行低频带外阻塞测试。
8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，还包括宽频功分器，当所述射频测试的指令为高频带外阻塞测试时，信号源单元输出测试信号，所述开关阵列导通高频滤波单元对干扰信号进行处理，在所述宽频功分器将所述测试信号和处理后的干扰信号构成下行信号，所述待测设备接收所述下行信号，所述信号源单元对所述待测设备返回的上行信号进行高频带外阻塞测试。
9.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，还包括宽频功分器，当所述射频测试的指令为邻频带外阻塞测试时，信号源单元输出测试信号，所述开关阵列导通带限滤波单元对干扰信号进行处理，在所述宽频功分器将所述测试信号和处理后的干扰信号构成下行信号，所述待测设备接收所述下行信号，所述信号源单元对所述待测设备返回的上行信号进行邻频带外阻塞测试。
10.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，还包括宽频功分器，当所述射频测试的指令为特定要求的阻塞测试时，信号源单元输出测试信号，所述开关阵列导通符合所述特定要求的外接信号处理单元对干扰信号进行处理，在所述宽频功分器将所述测试信号和处理后的干扰信号构成下行信号，所述待测设备接收所述下行信号，所述信号源单元对所述待测设备返回的上行信号进行特定要求的阻塞测试。
11.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，当所述射频测试的指令为带外杂散和发射机互调时，所述开关阵列导通干扰信号单元，所述干扰信号和信号源单元输出的测试信号合并构成下行信号，所述待测设备接收所述下行信号并返回上行信号，所述开关阵列导通信号处理单元对所述上行信号进行处理，所述信号分析单元对所述经过处理的上行信号进行带外杂散和发射机互调测试。
12.一种射频测试方法，其特征在于所述方法包括：
根据射频测试的指令，利用开关阵列导通测试单元；
通过所述测试单元对待测设备进行测试。
13.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，当所述射频测试的指令为带内测试时，所述开关阵列导通干扰信号，所述干扰信号和信号源输出的测试信号构成下行信号，将所述下行信号传送给所述待测设备，对所述待测设备返回的上行信号进行带内测试。
14.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，当所述射频测试的指令为低频带外阻塞测试时，信号源输出测试信号，所述开关阵列导通低频滤波单元对干扰信号进行处理，然后将所述测试信号和处理后的干扰信号构成下行信号，将所述下行信号传送给所述待测设备，对所述待测设备返回的上行信号进行低频带外阻塞测试。
15.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，当所述射频测试的指令为高频带外阻塞测试时，信号源输出测试信号，所述开关阵列导通高频滤波单元对干扰信号进行处理，然后将所述测试信号和处理后的干扰信号构成下行信号，将所述下行信号传送给所述待测设备，对所述待测设备返回的上行信号进行高频带外阻塞测试。
16.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，当所述射频测试的指令为邻频带外阻塞测试时，信号源输出测试信号，所述开关阵列导通带限滤波单元对干扰信号进行处理，然后将所述测试信号和处理后的干扰信号构成下行信号，将所述下行信号传送给所述待测设备，对所述待测设备返回的上行信号进行邻频带外阻塞测试。
17.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，当所述射频测试的指令为特定要求的阻塞测试时，信号源输出测试信号，所述开关阵列导通符合所述特定要求的外接信号处理单元对干扰信号进行处理，然后将所述测试信号和处理后的干扰信号构成下行信号，将所述下行信号传送给所述待测设备，对所述待测设备返回的上行信号进行特定要求的阻塞测试。
18.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，当所述射频测试的指令为带外杂散和发射机互调时，所述开关阵列导通干扰信号，所述干扰信号和信号源输出的测试信号合并构成下行信号，将所述下行信号传送给所述待测设备，通过导通信号处理单元对所述待测设备返回的上行信号进行处理，然后对所述经过处理的上行信号进行带外杂散和发射机互调测试。
19.根据权利要求18所述的方法，其特征在于，所述信号处理单元包括高频滤波单元、低通滤波单元、可调衰减器、带限滤波单元。
20.根据权利要求19所述的方法，其特征在于，所述开关阵列还可以导通外接的信号处理单元。
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