CN210839588U - 发射通路测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种发射通路测试系统,包括依次连接的测试主板、功分器、第一开关、衰减器、第二开关和信号分析仪,通过第一环形器连接于功分器的信号源,以及依次连接于第一开关和第二开关之间的第二环形器和滤波器,测试主板用于发送测试信号至功分器;信号源用于生成干扰信号;功分器用于叠加测试信号和干扰信号;衰减器用于衰减测试主板的功率;滤波器用于滤除测试信号中的主频率而仅传输谐波分量;第一环形器用于单向传输干扰信号;第二环形器用于单向传输测试信号;第一开关和第二开关通过python语言控制;信号分析仪用于分析输出测试结果。通过该测试系统,测试不同类型数据时,不另需人工设置连接仪器,测试效率较高。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种发射通路测试系统,特别涉及一种小基站通信设备的基于python(跨平台的计算机程序设计语言)控制的发射通路测试系统。
背景技术
通信设备研发过程中,往往会出现很多不同的设计漏洞,延缓项目的正常进度。因此一种高效率的测试方案,来配合研发过程,就显现的尤为必要。以室内外smallcell小基站通信设备的测试为例,需要进行测试的性能参数较多,例如有基站输出功率、输出功率动态、发射信号质量、发射机杂散发射和谐波分量等等众多的性能参数。而每种性能参数的测试环境或有不同。如此一来,如果依靠人工切换测试环境则耗时耗力。由此期望找到一种能够适应各种性能参数测试环境的测试系统。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是为了克服现有技术中对通信设备的各种性能参数进行测试时需要提供不同测试环境而进行人工设置耗时耗力、测试效率低下的缺陷,提供一种基于python控制的发射通路测试系统。
本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题的:
一种发射通路测试系统,其特点在于,其包括依次连接的测试主板、功分器、第一开关、衰减器、第二开关和信号分析仪,通过第一环形器连接于功分器的信号源,以及依次连接于第一开关和第二开关之间的第二环形器和滤波器,其中,
测试主板用于发送测试信号至功分器;
信号源用于生成干扰信号;
功分器用于叠加测试信号和干扰信号;
衰减器用于衰减测试主板的功率,使其落入内部的信号放大器的线性区间内;
滤波器用于滤除测试信号中的主频率而仅传输谐波分量;
第一环形器用于单向传输干扰信号,防止信号倒灌,造成测试误差,以及损伤仪器;
第二环形器用于单向传输测试信号,防止信号倒灌,造成测试误差,以及损伤仪器;
第一开关和第二开关通过python语言控制;
信号分析仪用于分析输出测试结果。
优选地,测试以下参数时,信号源、第一环形器、第二环形器和滤波器不启用,所述参数包括:基站输出功率、输出功率动态、发射开/关电源、发射信号质量、频率误差、误差向量大小、时间对准误差、DL RS功率(请确认术语是否为:下行参考信号发射功率)、占有带宽、邻道泄露功率抑制比和杂散辐射要求。
优选地,测试以下参数时,第二环形器和滤波器不启用,所述参数包括:发射机杂散发射和发射机互调。
优选地,测试谐波分量时,第一环形器和信号源不启用。
优选地,谐波分量为主频率的N倍频率分量,其中N≥2且取整数。
在符合本领域常识的基础上,上述各优选条件,可任意组合,即得本实用新型各较佳实例。
本实用新型的积极进步效果在于:通过该测试系统,测试不同类型数据时,不另需人工设置连接仪器,仅用python程序控制即可实现所有发射通路性能测试。
附图说明
图1为本实用新型一实施例的发射通路测试系统示意图。
具体实施方式
下面通过实施例的方式进一步说明本实用新型,但并不因此将本实用新型限制在所述的实施例范围之中。通信领域很多术语惯用英语字母缩写表达,具体含义见下文。
参考图1,介绍本实用新型一实施例的发射通路测试系统,其包括依次连接的测试主板1、功分器2、第一开关3、衰减器4、第二开关5和信号分析仪6,通过第一环形器7连接于功分器2的信号源8,以及依次连接于第一开关3和第二开关5之间的第二环形器9和滤波器10,其中,
测试主板1用于发送测试信号至功分器2;
信号源8用于生成干扰信号;
功分器2用于叠加测试信号和干扰信号;
衰减器4用于衰减测试主板的功率,使其落入仪器内部的信号放大器的线性区间内,防止仪器放大功能饱和;
滤波器10用于滤除测试信号中的主频率而仅传输谐波分量;
第一环形器7用于单向传输干扰信号;
第二环形器9用于单向传输测试信号;
第一开关3和第二开关5通过python语言控制,两个开关是根据不同的测试内容需求打开的,其主要是为了区分谐波测试模式;
信号分析仪6用于分析输出测试结果。
其中,测试以下参数时,信号源8、第一环形器7、第二环形器9和滤波器10不启用,所述参数包括:基站输出功率、输出功率动态、发射开/关电源、发射信号质量、频率误差、误差向量大小、时间对准误差、DL RS功率、占有带宽、邻道泄露功率抑制比(邻道泄露功率抑制比(ACLR)-ETM1.1、邻道泄露功率抑制比(ACLR)-ETM1.2)和杂散辐射要求(杂散辐射要求-ETM1.1、杂散辐射要求-ETM1.2)。
测试以下参数时,第二环形器9和滤波器10不启用,所述参数包括:发射机杂散发射和发射机互调。
而在测试谐波分量时,第一环形器7和信号源8不启用。其中谐波分量为主频率的N倍频率分量,其中N≥2且取整数。
下面针对每种测试,以应用实例,简述本实施例的发射通路测试系统。
1、基站输出功率(Base station output power)
测试通路为:DUT→DIV→SW1→ATT→SW2→SA,且关闭SG,使其不发出信号。
具体来说,被测试主板(DUT)发出一信号,经过功分器(DIV)与开关(SW1)后,ATT对其功率部分进行相应的衰减,再次经过SW2,进入分析仪(SA),通过获取SA的数据,判断此信号输出功率大小是否在正常范围内。其中,DUT,SW1,SW2和SA均可python控制。
2、发射机互调(Transmitter intermodulation)
测试通路为:(DUT+SG+C1)→DIV→SW1→ATT→SW2→SA。且打开SG,使其发出信号。SG通过不同的波形文件,来播放不同频率的干扰信号。
DUT发出一信号,SG信号源同时发出一干扰信号,经过功分器(DIV)与开关(SW1)后,ATT对其功率部分进行相应的衰减,再次经过SW2,进入分析仪(SA),通过获取SA的数据,观察信号在与干扰信号共存的情况下,是否信号性能是否能正常。其中,SG,DUT,SW1,SW2,SA均可python控制。
3、当测试谐波分量时,其通道被设置为:DUT→DIV→SW1→C2→FIR→SW2→SA,且关闭SG,使其不发出信号。此处的滤波器仅滤除主频率。每个基站发出的信号频率,即为主频率。谐波分量的定义即为,主频率的N倍频率分量(N≥2取整数);故在测试谐波分量时需要将主频率的信号滤除,仅测试N倍的谐波即可。
测试流程为:DUT发出信号,经过DIV与SW1、C2后,进入FIR滤除主信号频率(此滤波器为特制滤波器,仅会滤除主频率),再经过SW2,进入分析仪SA,获取N倍主频率的谐波分量,判断是否正常。其中,DUT,SW1,SW2,SA均可python控制。
中英文术语对照
DUT:测试主板
DIV:功分器
C1、C2:第一环形器、第二环形器
ATT:衰减器
FIR:滤波器
SW1、SW2:第一开关、第二开关
SA:信号分析仪
SG:信号生成器
基站输出功率:Base station output power
输出功率动态:Output power dynamics
发射开/关电源:Transmit On/Off power
发射信号质量:Transmitted signal quality
频率误差:Frequency error
误差向量大小:Error Vector Magnitude
时间对准误差:Time Alignment Error
DL RS功率:DL RS Power
占有带宽:Occupied bandwidth
邻道泄露功率抑制比(ACLR)-ETM1.1:Adjacent Channel Leakage power Ratio(ACLR)-ETM1.1
邻道泄露功率抑制比(ACLR)-ETM1.2:Adjacent Channel Leakage power Ratio(ACLR)-ETM1.2
杂散辐射要求-ETM1.1:Operating band unwanted emissions-ETM1.1
杂散辐射要求-ETM1.2:Operating band unwanted emissions-ETM1.2
发射机杂散发射:Transmitter spurious emissions
发射机互调:Transmitter intermodulation
虽然以上描述了本实用新型的具体实施方式,但是本领域的技术人员应当理解,这些仅是举例说明,本实用新型的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本实用新型的原理和实质的前提下,可以对这些实施方式做出多种变更或修改,但这些变更和修改均落入本实用新型的保护范围。
Claims (5)
1.一种发射通路测试系统,其特征在于,其包括依次连接的测试主板、功分器、第一开关、衰减器、第二开关和信号分析仪,通过第一环形器连接于功分器的信号源,以及依次连接于第一开关和第二开关之间的第二环形器和滤波器,其中,
测试主板用于发送测试信号至功分器;
信号源用于生成干扰信号;
功分器用于叠加测试信号和干扰信号;
衰减器用于衰减测试主板的功率,使其落入内部的信号放大器的线性区间内;
滤波器用于滤除测试信号中的主频率而仅传输谐波分量;
第一环形器用于单向传输干扰信号;
第二环形器用于单向传输测试信号;
第一开关和第二开关通过python语言控制;
信号分析仪用于分析输出测试结果。
2.如权利要求1所述的发射通路测试系统,其特征在于,测试以下参数时,信号源、第一环形器、第二环形器和滤波器不启用,所述参数包括:基站输出功率、输出功率动态、发射开/关电源、发射信号质量、频率误差、误差向量大小、时间对准误差、DL RS功率、占有带宽、邻道泄露功率抑制比和杂散辐射要求。
3.如权利要求1所述的发射通路测试系统,其特征在于,测试以下参数时,第二环形器和滤波器不启用,所述参数包括:发射机杂散发射和发射机互调。
4.如权利要求1所述的发射通路测试系统,其特征在于,测试谐波分量时,第一环形器和信号源不启用。
5.如权利要求4所述的发射通路测试系统,其特征在于,谐波分量为主频率的N倍频率分量,其中N≥2且取整数。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
CN202020173492.5U CN210839588U (zh) | 2020-02-14 | 2020-02-14 | 发射通路测试系统 |
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CN202020173492.5U CN210839588U (zh) | 2020-02-14 | 2020-02-14 | 发射通路测试系统 |
Publications (1)
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CN210839588U true CN210839588U (zh) | 2020-06-23 |
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CN202020173492.5U Active CN210839588U (zh) | 2020-02-14 | 2020-02-14 | 发射通路测试系统 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN112782567A (zh) * | 2021-02-19 | 2021-05-11 | 上海剑桥科技股份有限公司 | 芯片测试系统、方法、装置、介质及设备 |
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2020
- 2020-02-14 CN CN202020173492.5U patent/CN210839588U/zh active Active
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN112782567A (zh) * | 2021-02-19 | 2021-05-11 | 上海剑桥科技股份有限公司 | 芯片测试系统、方法、装置、介质及设备 |
CN112782567B (zh) * | 2021-02-19 | 2023-05-12 | 上海剑桥科技股份有限公司 | 芯片测试系统、方法、装置、介质及设备 |
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