具自动增益控制的读出放大器
技术领域
本发明关于一种用于半导体存储器电路的读出放大器,特别是关于一种具自动增益控制的用于半导体存储器电路的读出放大器。
背景技术
半导体存储器通常被认为是数字集成电路中非常重要的组成部分,它们对于构建基于微处理器的应用系统发挥着至关重要的作用。近年来人们越来越多地将各种存储器嵌入在处理其内部,以便使处理器具有更高的集成度和更快的工作速度,因此存储器阵列及其外围电路的性能就在很大程度上决定了整个系统的工作状况,包括速度、功耗等。
在半导体存储器的各种外围器件中最为重要的就是读出放大器。由于读出放大器通常被用来在对存储单元进行读操作时采样位线上的微小信号变化并进行放大,从而确定相应存储单元的存储信息,因此读出放大器对于存储器的存取时间有着决定性的影响。
读出放大器分电压型和电流型两大类。早期存储器使用电压型读出放大器,这种读出放大器直接检测存储器位线上的电压来判断存储单元里储存的信息是“1”还是“0”,当存储器容量很大时,位线上的存储单元比较多,虽然每次只选择某个存储单元,但其他未选中的存储单元的分布电容CBL对所选存储单元影响极大,位线上存储单元越多,则分布电容CBL越大,充放电时间常数大,访问速度必然慢;同时分布电容CBL越大,检测出来“1”和“0”的差异就越小,正确判断“1”和“0”就越困难,增加读出放大器增益可以检测出较小差异,但读出放大器本身噪声会限制进一步提高增益,另一方面,读出放大器增益高容易自激;由于检测到存储器里“1”和“0”时,位线上电压相应波动且出现对应电流,因此动态功耗较大。
电流读出放大器使用预充电技术,采用合适的电路使位线上的电压恒定,这使得动态功耗下降,由于电流读出放大器的输入阻抗低,访问存储单元时充放电时间常数较小,因此存储器访问速度较高。
可见,读出放大器决定存储器系统的访问速度。为了保证读出速度,存储器的位线需要调整至一固定电压,这需要一个调整电路。
图1是现有技术中电流读出放大器的典型电路结构图,如图1所示,Ibias为差分放大电路的偏置恒流源电路,Icell为存储单元信息被访问时形成的电流,Iref为输出级基准恒流源;PMOS管MP4和PMOS管MP5组成差分放大电路,MN2和MN3为差分放大电路的NMOS恒流源负载,MN4、MN5以及MN6为NMOS控制逻辑电路,MN1和MP5一起组成钳位电路,MP1为存储单元电流传递电路,MP4为放大比较电路,MP1以及MP4为PMOS管。
现有技术的电流输出放大器的基本出发点是在访问存储单元时不论存储单元所存储的信息均保持位线即节点IO的电压稳定,从而降低动态功耗。因此,为稳定节点IO的电压,差分放大电路MP4和MP5及其负载MN2和MN3组成的放大电路的增益必须很高,否则节点IO电压会不能保持恒定与基准电压VREF相等,而如果节点IO的电压不稳定则会造成读出放大器的动态功耗高、访问速度受影响;但若差分放大电路MP4和MP5及其负载MN2和MN3组成的放大电路的增益很高,当不访问存储单元,即读出放大器启动时,电路本身的白噪声中某些频点会满足自激条件,即在波特图(Bode)180度相位处增益大于0,这样容易在节点IO处(位线)形成自激,导致系统无法正常工作。
综上所述,可知先前技术的电流读出放大器存在读出放大器增益较高但读出放大器启动时容易在节点IO处产生自激而导致系统无法正常工作的问题,因此实有必要提出改进的技术手段,来解决此一问题。
发明内容
为克服上述现有技术的种种缺点,本发明的主要目的在于提供一种具自动增益控制的读出放大器,以使读出放大器在启动时,降低增益,以避免读出放大器产生自激。
为达上述及其它目的,本发明一种具自动增益控制的读出放大器,包含:
差分放大电路,连接于一基准电压,包括并联的第一差分放大管和第二差分放大管以及作为该第一差分放大管负载的第一负载、作为该第二差分放大管负载的第二负载;
动态负载电路,连接于该第一差分放大管与该第二差分放大管之间,用于动态减小该差分放大电路的等效负载电阻;
控制逻辑电路,用于控制存储单元的访问,包括多个串联的MOS管组成,其一端连接存储单元,另一端接位线,每个MOS管的栅极均连接控制信号;
钳位电路,用于将位线电压进行钳位,该钳位电路与该差分放大电路及该控制逻辑电路相连接;
存储单元电流传递电路,与该钳位电路连接,用于将访问存储单元形成的电流信号镜像到放大比较电路;
放大比较电路,接收该电流信号并进行放大输出至输出电路;以及
输出电路,至少包括一输出放大缓冲器,用于将该电流信号放大输出。
该第一差分放大管与该第二差分放大管为PMOS管,该第一负载与该第二负载为NMOS管,该第一差分放大管与该第二差分放大管源极接至一恒流源Ibias输出端,该第一差分放大管的栅极连接一基准电压VREF,该第二差分放大管栅极连接至该控制逻辑电路,该第一负载的漏极和栅极连接在一起,并和该第一差分放大管漏极以及该第二负载的栅极接在一起,该第二负载的漏极连接于该第二差分放大管的漏极。
该动态负载电路连接于该第一差分放大管漏极以及该第二差分放大管漏极之间。
该动态负载电路至少包括一第三PMOS管,该第三PMOS管源极与该第二差分放大管漏极相接,其漏极与该第一差分放大管漏极相接,该第三PMOS管的栅极与位线相接
该钳位电路为一第三NMOS管,该第三NMOS管栅极与该第二差分管漏极相接,其源极接于该第二差分放大管栅极,并与该控制逻辑电路连接,漏极与该存储单元电流传递电路连接。
该存储单元电流传递电路至少包括一第四PMOS管,该第四PMOS管源极接电源正端,漏极与栅极均与该第三NMOS管的漏极相连。
该放大比较电路至少包括一第五PMOS管,该第五PMOS管源极接电源正端,栅极与该第四PMOS管栅极相连接,漏极接输出基准恒流源的输出端,并同时与该输出电路连接。
该第一负载与该第二负载源极接地。
该控制逻辑电路包括三个串联的NMOS管。
未访问存储单元时,该第三PMOS管导通;在访问该存储单元时,该第三PMOS管截止。
与现有技术相比,本发明一种具自动增益控制的读出放大器通过在第一差分放大管与第二差分放大管的漏极之间连接一PMOS管,在访问存储单元时使得该PMOS管截止而在读出放大器启动时令该PMOS管导通,使得读出放大器启动时差分放大电路的等效负载电阻减小,增益下降,达到了启动状态时降低电路增益而维持工作时增益不受影响的目的,解决了现有技术存在的启动状态时增益较高容易产生自激的问题。
附图说明
图1是现有技术电流读出放大器电路的电路图;
图2是本发明一种带自动增益控制的读出放大器的电路图。
具体实施方式
以下通过特定的具体实例并结合附图说明本发明的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的其它优点与功效。本发明亦可通过其它不同的具体实例加以施行或应用,本说明书中的各项细节亦可基于不同观点与应用,在不背离本发明的精神下进行各种修饰与变更。
图2为本发明一种具自动增益控制的读出放大器的电路结构图。如图2所示,本发明一种具自动增益控制的读出放大器,包括差分放大电路101、动态负载电路102、控制逻辑电路103、钳位电路104、存储单元电流传递电路105、放大比较电路106以及输出电路107。
差分放大电路101包括第一差分放大管MP1、第二差分放大管MP2、第一负载MN1以及第二负载MN2,在本发明较佳实施例中,该第一差分放大管MP1以及该第二差分放大管MP2均为PMOS管,相应的,该第一负载MN1以及第二负载均为NMOS管,该第一负载MN1和该第二负载MN2分别为该第一差分放大管MP1以及该第二差分放大管MP2的恒流源负载。该第一差分放大管MP1和第二差分放大管MP2的源极接至恒流源偏置Ibias输出端,该第一差分放大管MP1的栅极连接于基准电压VREF,该第二差分放大管MP2的栅极连接存储器单元信息形成的电流Icell的输出端(位线),第一负载MN1的漏极和栅极连接在一起,并和第一差分放大管MP1的漏极以及第二负载MN2的栅极接在一起,第二负载MN2的漏极连接于第二差分放大管MP2的漏极,该第一负载MN1以及该第二负载MN2源极接地。
动态负载电路102连接于该第一差分放大管MP1漏极以及该第二差分放大管MP2漏极之间,用于降低启动状态增益但维持工作时增益不受影响,其至少包括一第三PMOS管MP3,该第三PMOS管MP3的源极与该第二差分放大管MP2的漏极相接,该第三PMOS管MP3的漏极与该第一差分放大管MP1的漏极相接,该第三PMOS管MP3的栅极与位线(即节点IO)相接。
控制逻辑电路103由多个串联的NMOS管组成,其一端连接于钳位电路104,另一端连接于存储单元,在本发明较佳实施例中,控制逻辑电路103由三个源漏相接形成串联的NMOS管MN4、MN5以及MN6构成,NMOS管MN4-MN6栅极分别连接控制信号YA、YB以及YC,这样,当访问存储器单元时,YA/YB/YC置高电平,NMOS管MN4-MN6接通,存储单元信息形成输出电流Icell。
钳位电路104与该差分放大电路101相连接,用于将位线电压进行钳位。在本发明较佳实施例中,该钳位电路104至少包括一MOS管,具体为第三NMOS管MN3,该第三NMOS管MN3栅极与该第二差分管MP2的漏极相接,其源极接于该第二差分放大管MP2的栅极,并与控制逻辑电路103连接,其漏极与存储单元电流传递电路105连接;存储单元电流传递电路105用于将访问存储单元形成的电流信号镜像到放大比较电路106,其一端与钳位电路104连接,另一端与放大比较电路106相连,在本发明较佳实施例中,该存储单元电流传递电路具体为一第四PMOS管MP4,该第四PMOS管MP4源极接电源正端,其漏极与栅极均与钳位电路104的第三NMOS管MN3的漏极相连;放大比较电路106一端连接于该存储单元电流传递电路105,另一端连接于输出电路107,用于将接收到的该电流信号进行放大输出,其至少包括一第五PMOS管MP5,该第五PMOS管MP5源极接电源正端,栅极于该第四PMOS管MP4的栅极相连接,该第五PMOS管MP5的漏极接输出基准恒流源的输出端Iref,并同时与该输出电路107连接;输出电路107可以包括一输出缓冲放大器,该第五PMOS管MP5的漏极与该输出缓冲放大器的输入端相连,通过该输出缓冲放大器的输出端Dout输出的即为存储单元的信息
读出放大器电路的基本目的在于将位线电压即节点IO的电压稳定在基准电压VREF,其原理如下:在访问存储单元前,节点IO的电压被预充电至VREF,然后开启存储控制逻辑接通存储单元访问存储的信息,该信息按存储的内容形成不同幅度的电流Icell;若Icell造成节点IO的电压略微升高,则第二差分放大管MP2的源漏电压|VGS_MP5|略微减小,由于第一负载MN1和第二负载MN2的镜像作用,第二差分放大管MP2的漏极电流ID和第二差分放大管MP2的漏极电流相同,而当VDS≥VGS-VT时 则漏极电流会略微减小,为保持ID不变,第二差分放大管MP2的源漏电压VDS必须增大,这样第二差分放大管MP2的漏极电压或者第三NMOS管MN3的栅极电压就减小了,对应地第三NMOS管MN3电流趋向减小,但Icell不变,这样第三NMOS管MN3的漏源电压就必须增加,这样就导致第三NMOS管MN3漏极电压下降,也就是节点IO电压下降,这个下降趋向于抵消Icell引起的电压上升,最终达到一种动态平衡,节点IO的电压维持在预充电时的基准电压VREF。
访问存储单元时,信息形成电流Icell,此电流经第三NMOS管MN3传递至第四PMOS管MP4,第四PMOS管MP4将此Icell镜像到第五PMOS管MP5,设置Iref使得第五PMOS管MP5漏极电压处于合理的阀值电压,因恒流源Iref阻抗较高,当Icell略大于Iref,第五PMOS管MP5的漏极电流在负载恒流源Iref上形成高电压,并通过输出缓冲放大器buf输出标准高电平“1”,当Icell略小于Iref,MP4的漏极电流在负载恒流源Iref上形成低电压,并通过输出缓冲放大器buf输出标准低电平“0”。
在本发明实施例中,当读出放大器电路启动时,节点IO(位线)为低电平,第三PMOS管MP3充分导通,源漏等效电阻rDS较小,差分放大管等效负载电阻减小,增益下降,能避免节点IO出现不必要的振荡;当需要访问存储单元时,节点IO电压被预充电至基准电压VREF,合理选择第三PMOS管MP3的尺寸W/L使第三PMOS管MP3处于截止状态,第三PMOS管MP3对第一差分放大管MP1和第二差分放大管MP2影响不大,这样既解决了启动自激问题又不影响电路正常工作。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效,而非用于限制本发明。任何本领域技术人员均可在不违背本发明的精神及范畴下,对上述实施例进行修饰与改变。因此,本发明的权利保护范围,应如权利要求书所列。