CN101738225A

CN101738225A - 用于将多个仪器的事件进行时间同步的方法和装置

Info

Publication number: CN101738225A
Application number: CN200910212229A
Authority: CN
Inventors: Z·王; Q·T·崔; N·施米德特
Original assignee: Tektronix Inc
Current assignee: Tektronix Inc
Priority date: 2008-11-05
Filing date: 2009-11-04
Publication date: 2010-06-16
Also published as: JP2010112947A; EP2184587A1; US20100114516A1

Abstract

本发明的名称为用于将多个仪器的事件进行时间同步的方法和装置，一种测量系统包括多个测试和测量仪器；以及耦合到这些测试和测量仪器的每一个的集线器。这些测试和测量仪器的每个测试和测量仪器配置成响应从集线器接收到的集线器事件来触发采集。可以从这些测试和测量仪器的其中一个、一些、任何一个或全部测试和测量仪器触发采集。

Description

用于将多个仪器的事件进行时间同步的方法和装置

相关申请的交叉引用

本发明根据35U.S.C.§119(e)要求2008年11月5日提交的美国临时申请序列号61/111,406的优先权，其内容通过引用完整地结合于本文。

技术领域

本公开涉及测试和测量仪器，更具体来说涉及多个测试和测量仪器的触发。

背景技术

可以使用测试和测量仪器上的事件来触发其他测试和测量仪器上的采集。例如，第一测试和测量仪器可以具有触发输出。该触发输出可以输出指示第一测试和测量仪器检测到可导致采集的条件的信号。

可以将其他测试和测量仪器耦合到第一测试和测量仪器的触发输出。这些测试和测量仪器可以响应来自第一测试和测量仪器的外部触发来触发采集。因此，可以通过一个测试和测量仪器检测到的事件来触发多个仪器的采集。

发明内容

一个实施例包括测量系统，该测量系统包括多个测试和测量仪器；以及耦合到每个测试和测量仪器的集线器。每个测试和测量仪器配置成响应从集线器接收到的集线器事件来触发采集。

另一个实施例包括测试和测量仪器，该测试和测量仪器包括配置成接收事件的输入；以及控制器，该控制器耦合到该输入并配置成响应事件和与测试和测量仪器和至少一个其他测试和测量仪器关联的时间而触发采集。

另一个实施例包括测量从集线器到测试和测量仪器的往返程时间；在测试和测量仪器处接收来自集线器的事件；响应该事件而采集数据；以及响应往返程时间来调整呈交数据的时基。

附图说明

图1是根据实施例的测量系统的框图。

图2是说明图1的测量系统中测试和测量仪器与集线器的连接的框图。

图3和4是说明根据实施例的两个测试和测量仪器的往返程时间的测量的时序图。

图5是说明根据实施例的事件从第一测试和测量仪器传播到多个测试和测量仪器的时序图。

图6是说明根据实施例的事件从第二测试和测量仪器传播到多个测试和测量仪器的时序图。

图7是说明根据实施例的被测装置的波形的时间关系的示意图。

图8是说明相应触发点对齐情况下，图7的波形的时间关系的示意图。

图9是说明根据实施例的时间上的波形偏移的时间关系的示意图。

图10是根据实施例的集线器的框图。

图11是说明校准多个测试和测量仪器的示例的流程图。

图12是根据实施例的测试和测量仪器的框图。

具体实施方式

实施例包括其中可使用一个或多个测试和测量仪器上发生的事件来触发任何一个或所有测试和测量仪器上的采集的测试和测量仪器、测量系统、校准和测量技术等。

图1是根据实施例的测量系统的框图。在本实施例中，测量系统10包括耦合到集线器18的多个测试和测量仪器12-15。这些测试和测量仪器12-15各通过通信链路16耦合到集线器18。具体来说，这些测试和测量仪器12-15的每个测试和测量仪器可以配置成响应通过通信链路16从集线器18接收到的事件来触发采集。测量系统10可以耦合到被测设备11(DUT)。这些测试和测量系统12-15的每个测试和测量系统可以耦合到DUT 11。

测试和测量仪器12-15可以包括任何不同类型的仪器。例如，测试和测量仪器可以包括示波器、逻辑分析器、网络分析器、频谱分析器等。可以响应事件而采集数据的任何仪器均可以用作测试和测量仪器。

事件可以是任何不同类型的条件。例如，事件可以是上升沿、电平、假信号(glitch)、脉冲宽度等。在另一个示例中，事件可以包括分组类型、数据序列等。事件可以包括此类事件的组合。测试和测量仪器可测量的任何发生情况均可以是事件。

事件可以但无需在测试和测量仪器之间是一致的。例如，逻辑分析器可以将DUT 11上的特定数据序列检测为事件。示波器可以检测脉冲宽度。即，测试和测量仪器12-15的其中一些可以针对不同类型的事件来监视DUT 11。

具体来说，在一个实施例中，不同类型的测试和测量仪器12-15可以耦合在一起并基于相同的事件而触发。例如，假定测试和测量仪器12是针对特定数据模式监视DUT 11的逻辑分析器，而测试和测量仪器13是针对具有特定上升时间的沿来监视DUT 11的示波器。示波器13可以检测沿并将检测事件传送到集线器18。集线器18可以将该事件传送到测试和测量仪器12-15的每个测试和测量仪器，从而使测试和测量仪器12-15采集数据。或者，该采集可以由逻辑分析器12上检测到的特定数据模式以相似的方式触发。

在另一个实施例中，测试和测量系统12-15的每个测试和测量系统可以是相同或基本相似的。例如，测试和测量仪器12-15的每个测试和测量仪器可以都是示波器。可以使用一个仪器上的特定事件来触发所有测试和测量仪器12-15上的采集。不管所使用的测试和测量仪器的类型，在一个实施例中，测量系统10可以创建为具有多个测试和测量仪器12-15的能力并以与单个集成的测试和测量仪器基本相似的方式同步。因此，测量系统10可以创建为其中可以使用超过单个测试和测量仪器的能力的触发条件

虽然图示的是四个测试和测量仪器，但是任何数量的测试和测量仪器可以是测量系统10的一部分。具体来说，可以使用大于1的任何数量的测试和测量仪器。

此外，虽然集线器18图示为是与测试和测量仪器12-15分开的，但是在一个实施例中，集线器18可以是测试和测量仪器12-15的其中之一的一部分。例如，集线器18可以与测试和测量仪器12集成。至其他测试和测量仪器12-15的连接可以通过至测试和测量仪器12的外部连接来实现。无论如何，测量系统10可以创建为其中可以通过集线器18来路由事件。

图2是说明图1的测量系统中测试和测量仪器与集线器的连接的框图。在本实施例中，通信链路16包括通信线路32和事件传输线路34和36。通信线路32和事件传输线路34和36可以由任何不同类型的连接构成。例如，事件传输线路34和36可以是同轴电缆、双绞线电缆等。通信线路32可以相似地包括任何不同类型的连接。

测试和测量仪器12可以包括耦合到集线器18上的通信端口26的通信端口20。测试和测量仪器12的事件输出22可以通过事件传输线路34耦合到集线器18的事件输入28。测试和测量仪器12的事件输入24可以通过事件传输线路36耦合到集线器18的事件输出30。

在一个实施例中，事件输出22可以配置成将事件输出到集线器18。集线器18可以配置成通过事件输入28接收事件。集线器18可以配置成处理该事件，然后通过事件输出30传送该事件以便被事件输入24接收。

虽然测试和测量仪器12往返于集线器18传送事件的通信被描述为分开的通信，但是此类事件的传输可以通过单个通信链路。例如，在一个实施例中，可以通过同轴电缆来耦合事件输入和事件输出对中的每一个。在另一个实施例中，分开的同轴电缆可以将事件输入耦合到对应的事件输出。无论如何，均可以将事件发送到集线器18，并且可以从集线器18接收事件。

在一个实施例中，可以将事件传输线路34和36构成为使得通过事件传输线路34和36的通信可以基本相似。例如，通过事件传输线路34的时间延迟可以与通过事件传输线路36的时间延迟基本相似。因此，正如下文将描述的，可以计算至集线器18的传播时间。

图3和4是说明根据实施例的两个测试和测量仪器的往返程时间的测量时序图。图3图示测试和测量仪器A的时序图，而图4图示仪器B的时序图。

具体来说，这些时序图表示事件往返于集线器18的往返程传输的时序。例如，参考图3，可以通过事件输出22将事件从测试和测量仪器A传送到集线器18。在时间2*T_A之后，可以通过事件输入24从集线器18接收到该事件。具体来说，可以测量往返于集线器18的往返程时间。正如下文将进一步详细描述的，集线器18可以配置成使得在此测量期间，集线器18返回特定测试和测量仪器传送的事件。

在本实施例中，往返程时间表示为时间2*T_A。因此，至集线器18的传播时间可以约为T_A。相似地，可以测量测试和测量仪器B的往返程时间2*T_B。具体来说，正如下文将进一步详细描述的，每个测试和测量仪器可以配置成测量其本身与集线器18之间的往返程时间。因此，每个测试和测量仪器可以测量事件从测试和测量仪器行进到集线器18的时间。

图5是说明根据实施例的事件从第一测试和测量仪器传播到多个测试和测量仪器的时序图。应该注意在一个实施例中，往返程时间在不同的测试和测量仪器之间可以是不同的。但是，利用此测量，可以基本将测试和测量仪器的触发同步。

具体来说，测试和测量仪器A可以生成事件。可以将该事件延迟时间T_DA。具体来说，时间T_DA可以是时间T_A与T_A和T_B中的最大值之间的差。T_MAX表示此最大时间。在本实施例中，时间T_B是最大时间T_MAX。每个测试和测量仪器可以配置成将任何本地生成的事件延迟对该测试和测量仪器特有的此延迟时间。

然后将延迟的事件从测试和测量仪器A输出到集线器18。事件用去时间T_A到达集线器18。因为该事件已经被延迟时间T_DA并用去时间T_A才到达集线器，所以总时间为T_DA+T_A或T_MAX。相似地，因为每个测试和测量仪器可以将本地生成的事件延迟与该特定仪器对应的时间，所以来自不同仪器的同时发生事件(contemporaneousevents)可以在基本相同的时间到达集线器18。即，无论哪个生成事件的测试和测量仪器，事件均可以在事件发生之后的时间T_MAX到达集线器18。换言之，DUT 11上的事件在事件到达集线器18时可以基本保持时间对齐。

集线器18可以配置成将事件传播到每个测试和测量仪器。但是，由于传输延迟时间可能不同，所以事件可能在不同时间到达不同的测试和测量仪器。例如，在时间T_A之后，事件可能到达测试和测量仪器A，如图所示。相似地，在时间T_B之后，事件可能到达测试和测量仪器B，如图所示。

图6是说明根据实施例的事件从第二测试和测量仪器传播到多个测试和测量仪器的时序图。为了说明基本独立于事件的来源的同步，测试和测量仪器B生成的事件图示为与图5中的测试和测量仪器A的事件相似。

在图6中，测试和测量仪器B上生成事件。因为仪器B具有至集线器18的最大时间，所以其时间T_B为时间T_MAX。因此，在测试和测量仪器B处延迟的事件相对于生成的事件基本未延迟。但是，因为至集线器的传播时间为T_B，所以事件仍是在时间T_MAX之后才到达集线器18，这是因为在本示例中，T_B为时间T_MAX。一旦在集线器18处，则可以将事件传播到这些测试和测量仪器。到达测试和测量仪器A和B的事件与图5中所示的那些事件基本相似，因为事件基本同时到达集线器18。

图7是说明根据实施例的被测设备的波形的时间关系的示意图。波形A表示被测试和测量仪器A探测的DUT 11上的波形。相似地，波形B表示被测试和测量仪器B探测的DUT 11上的波形。这些波形图示为按时间存在于DUT 11上。

在本实施例中，波形A的沿44用作事件。即，响应沿44，测试和测量仪器A生成与图5所示的事件A相似的事件。如上所述。该事件在时间T_MAX+T_A之后被返回到测试和测量仪器A。响应该事件，测试和测量仪器A可以触发采集。触发点40图示了相对于DUT11上发生波形A的时间上接收到事件并发生触发处的点。

相似地，在测试和测量仪器B处可以接收到相同的事件，此情况下可以触发波形B的采集。但是，如上所述，事件在从事件发生到事件到达该测试和测量仪器的时间所用去的时间对于每个测试和测量仪器是不同的。在本示例中，该时间为T_MAX+T_B。因此，测试和测量仪器B在时间T_MAX+T_B之后触发波形B的采集。波形B的触发点42表示此触发点。为了参考，波形B上的点46表示与沿44同时发生的波形B的位置。

图8是说明相应触发点对齐情况下的图7的波形的时间关系的示意图。如图所示，波形A和B的触发点40和42被用于在时间上将波形A和B对齐。但是，如上所述，触发点的出现在时间上过去是不同的。因此，在波形A和B的同时发生点(例如波形A的沿44和波形B的点46)之间引入时间误差48。

图9是说明根据实施例的时间上的波形偏移的时间关系的示意图。在本实施例中，在时间上从其相应触发点起已将波形A和B的每一个按对应测试和测量仪器特有的事件传播时间进行偏移。即，已将波形A按时间T_MAX+T_A偏移，以及已将波形B按时间T_MAX+T_B偏移。因此，现在波形A和B的呈示在时间上是对齐的，基本等效于图7所示的DUT 11上的时间对齐。

因此，一旦执行了校准，其中已经确定了诸如传输时间T_A、时间T_MAX、差时间T_DA等的时间，则给定的测试和测量仪器可以但无需知道生成事件的测试和测量仪器的标识。换言之，每个测试和测量仪器可以配置成将本身的事件延迟为使得从事件发生到事件到达集线器18的时间的时间对于任何测试和测量仪器基本相似。

因为每个测试和测量仪器表征了其至集线器18的连接，所以每个测试和测量仪器可以调整其数据的采集、触发、呈示等等以便将从集线器的特定返回时间纳入考虑。即，因为在集线器18处事件是同步的，所以引入的任何其余时间偏移可以基本只取决于至特定测试和测量仪器的返回路径。因此，测试和测量仪器可以在没有关于哪个测试和测量仪器生成该事件的信息的情况下，将此时间上的差纳入考虑并将采集的数据同步。

虽然如上所述时间T_MAX是这些测试和测量仪器至集线器的传播时间中的最大值，但是该时间可以但无需是最大值。在一个实施例中，该时间可以大于最大时间。仍可以相对于此更大的时间来计算如时间T_DA的差时间。但是，在本实施例中，具有上述的最大时间的测试和测量仪器B的T_DB或差时间可以实质上大于零。

图10是根据实施例的集线器的框图。在本实施例中，集线器18包括控制器50和逻辑电路52。控制器50可以通过通信线路54和56耦合到测试和测量仪器。虽然描述了单独的通信线路，但是可以在这些测试和测量仪器之间使用单个通信系统。

逻辑电路52配置成组合从测试和测量仪器接收到的事件。例如，事件传输线路58和60可以将事件提供到逻辑电路52。在任何处理、组合等之后，可以通过事件传输线路62和64将事件传播到不同多个测试和测量仪器。

在一个实施例中，集线器18可以配置为事件的汇集器(aggregator)。即，集线器18的逻辑电路可以配置成传播集线器18接收的任何事件。例如，逻辑电路52可以包括任何接收的事件的逻辑“或”。因此，任何事件将生成传播到测试和测量仪器的输出事件。

但是，在另一个实施例中，集线器18可以配置成将事件组合在一起。例如，逻辑电路52可以包括任何接收的事件的逻辑“与”。因此，多个事件必须基本一起发生才会将事件传播到这些测试和测量仪器。

虽然上文描述了逻辑“或”功能和逻辑“与”功能，但是还可以使用事件的任何组合。例如，可以使用多门逻辑系统来组合事件。在另一个示例中，可以将状态机与来自测试和测量仪器的多种事件一起用作输入。

具体来说，应该注意测试和测量仪器可以但无需具有关于逻辑电路52中事件的组合的任何信息。测试和测量仪器可以配置成基于从集线器18接收的任何事件而触发。如上所述，测试和测量仪器无需知道事件的来源。

在一个实施例中，从集线器18接收的事件可以但无需是用于触发采集的唯一条件。例如，可以将从集线器18接收的事件组合，仅作为特定测试和测量仪器的触发系统中的任何其他事件。由此，可以生成比导致从集线器18接收的事件的触发更为复杂的触发。

图11是说明校准多个测试和测量仪器的示例的流程图。如上所述，可以使用至集线器18的传播时间中的最大值或更大的值来将到达集线器18的事件基本同步。因此，个体的测试和测量仪器无需知道任何接收的事件的来源。

在一个实施例中，为了免除知道来源的必要，可以执行校准。例如，在80中，可以对第一测试和测量仪器测量事件往返于集线器18的往返程时间。具体来说，可以将该测试和测量仪器配置成使集线器18进入配置模式，在此配置模式中集线器18将从该测试和测量仪器接收的事件返回到该测试和测量仪器。

例如，测试和测量仪器可以控制集线器18以忽略从其他测试和测量仪器接收的任何事件。如上所述，如果集线器18的逻辑电路52包括逻辑“与”运算，则可以将逻辑“与”运算的其他输入设置为高电平。相似地，在逻辑“或”运算的情况中，可以将其他输入设置为逻辑低电平。在另一个示例中，可以将逻辑电路52中的状态机设置为忽略来自其他测试和测量仪器的事件的状态。无论如何，可以将集线器控制为使得可以仅传播来自一个测试和测量仪器的事件。

因此，该测试和测量仪器可以生成事件并测量该事件与从集线器18接收到的事件之间的时间。如上所述，来自集线器18的事件可以来自多种不同来源；但是，在本校准模式中，将传播的唯一事件是来自当前执行校准的测试和测量仪器的事件。可以按上文描述的测量并使用往返程时间。

一旦执行了测量，则在82中，该测试和测量仪器可以将集线器的控制传递到另一个测试和测量仪器。在84中，可以重复地执行80中的测量和82中的控制传递，直到没有耦合到该集线器的其余测试和测量仪器为止。因此，每个测试和测量仪器都将测量了往返程时间，并可以计算至集线器18的传播时间。

在一个实施例中，在86，可以将发起校准的测试和测量仪器配置成确定至集线器的传播时间中的最大值。此类最大值可以采用多种方式来确定。例如，该测试和测量仪器可以接收每个测试和测量仪器的往返程时间。可以计算最大值并除2以确定至集线器的最大传播时间。相似地，该测试和测量仪器可以接收对应的测试和测量仪器各自计算的传播时间，然后计算最大值。而且，该测试和测量仪器可以选择比实际最大值更大的时间作为最大时间。因此，如上所述，可以计算大于或等于最大传播时间的时间并将其用于采集的触发。

可以将此最大时间传送到每个测试和测量仪器。例如，这些测试和测量仪器可以通过集线器、另一个通信接口(例如以太网接口)等彼此通信。因此，每个测试和测量仪器可以基于其本身的传播时间自行配置以使事件基本同时地到达集线器。因此，响应此最大时间，在88中，这些测试和测量仪器可以触发采集，并在时间上将数据的呈示基本对齐，如上所述。

虽然测试和测量仪器被描述为发起和/或控制此最大时间的计算，但是也可以采用其他方式来计算最大时间。例如，集线器18可以发起校准，并轮流向每个测试和测量仪器传送生成事件的指令。集线器18可以配置成收集多种传播时间或往返程时间，并将计算的最大值传送到这些测试和测量仪器。因此，这些测试和测量仪器可以但无需知道任何其他仪器。

而且，在一个实施例中，可以响应多种条件来执行这种校准。例如，如上所述，可以由这些测试和测量仪器的其中之一来发起校准。用户可以按下校准按钮；选择校准菜单项等。在另一个示例中，可以响应检测到新测试和测量仪器而执行校准。即，新测试和测量仪器可能耦合到集线器18。该新测试和测量仪器可以向集线器18、其他测试和测量仪器等通知它的存在。作为响应，可以执行新的校准，以便可以测量包括新测试和测量仪器的每个测试和测量仪器的传播时间，并将其组合成最大值等，如上所述。

图12是根据实施例的测试和测量仪器的框图。在一个实施例中，测试和测量仪器100包括事件发生器101。事件发生器101表示可以生成上述的多种事件的系统。例如，事件发生器101可以包括用于检测跃变(transition)、匹配数据模式等的电路、模式分析等。测试和测量仪器100可以具有任何数量的此类事件发生器101。

测试和测量仪器100包括第一事件解码器102。第一事件解码器102配置成选择来自第一事件解码器102的事件、组合此类事件等。事件解码器102可以配置成生成事件、传播事件等。

可以按延迟104将来自事件解码器102的事件延迟。可以由控制器110将延迟104调整为使通过延迟104的时间可以是诸如如上所述的时间T_DA的差时间。因此，在将来自事件解码器102的事件通过事件输出22输出到集线器18之前可以按上文描述将其延迟。

该测试和测量仪器还可以包括耦合到第二事件解码器108的事件输入24。第二事件解码器108可以基本与第一事件解码器102相似。即，第二事件解码器108也可以从一个或多个事件发生器101接收事件。但是，第二事件解码器108可以采用与内部事件基本相似的方式来使用来自事件输入24的事件。即，使用时间测量装置106表示的触发电路的定时能力，可以测量来自第一事件解码器102的事件与通过事件输入24接收的事件之间的时间。

虽然来自事件输入24的事件被描述为通过第二事件解码器108至时间测量装置106的输入，但是可以将事件输入24直接耦合到时间测量装置106、沿着第一事件解码器102耦合到专用的时间测量装置106等等。即，可以利用如图所示的触发电路的时间测量装置106、专用定时器等来测量往返程时间、传播时间等。

控制器110可以配置成响应通过输入24接收的事件而触发采集系统112的采集。即，控制器110可以与事件解码器108生成的其他事件相似地，使用通过输入24接收的事件来触发采集。但是，如上所述，可以将该数据与其他测试和测量仪器采集的数据的时间对齐偏斜(skewed)。因此，控制器110可以配置成响应与该测试和测量仪器和至少一个其他测试和测量仪器关联的时间来将采集的数据偏移。例如，此时间可以是如上所述的时间T_MAX+T_A。

控制器110还可以耦合到通信接口114。由此，该控制器可以配置成接收与其他测试和测量仪器关联的传播时间、最大时间等。控制器110然后可以配置成计算如上所述的延迟104的延迟时间、时基的偏移时间等。

虽然描述了特定实施例，但是将认识到本发明的原理并不局限于那些实施例。在不背离所附权利要求中提出的本发明的原理的前提下可以进行改变和修改。

Claims

1.一种测试和测量仪器，包括：

配置成接收事件的输入；以及

控制器，所述控制器耦合到所述输入并配置成响应所述事件触发数据的采集，并响应与所述测试和测量仪器和至少一个其他测试和测量仪器关联的偏移时间将所采集的数据偏移。

2.如权利要求1所述的测试和测量仪器，所述事件称为第一事件，所述测试和测量仪器还包括：

配置成输出第二事件的事件解码器；

其中所述控制器配置成测量所述第一事件与所述第二事件之间的往返程时间，并响应所述往返程时间设置所述偏移时间。

3.如权利要求2所述的测试和测量仪器，还包括：

通信接口；

其中所述控制器配置成通过所述通信接口从所述至少一个其他测试和测量仪器的每个测试和测量仪器接收与所述往返程时间关联的至少一个校准时间，并响应所述测试和测量仪器和所述至少一个其他测试和测量仪器的校准时间确定所述偏移时间。

4.如权利要求2所述的测试和测量仪器，所述事件解码器称为第一事件解码器，所述测试和测量仪器还包括：

配置成接收所述第一事件的第二事件解码器；以及

时间测量装置，所述时间测量装置耦合到所述第一事件解码器和所述第二事件解码器，并配置成测量所述第一事件与所述第二事件之间的时间来作为所述往返程时间。

5.如权利要求2所述的测试和测量仪器，还包括：

配置成将所述第二事件延迟的可调延迟；以及

配置成输出延迟的第二事件的输出。

6.如权利要求5所述的测试和测量仪器，还包括通信接口；

其中：

所述控制器配置成通过所述通信接口从所述至少一个其他测试和测量仪器的每个测试和测量仪器接收与所述往返程时间关联的至少一个校准时间；以及

所述控制器配置成将所述可调延迟电路的延迟设置为所述测试和测量仪器的往返程时间的一半与所述测试和测量仪器和所述至少一个其他测试和测量仪器的往返程时间中的最大值的一半之差。

7.如权利要求2所述的测试和测量仪器，所述控制器配置成将所采集的数据的时基按所述测试和测量仪器的往返程时间的一半与所述测试和测量仪器和所述至少一个其他测试和测量仪器的往返程时间中的最大值的一半之和偏移。

8.一种测量系统，包括：

多个测试和测量仪器；以及

耦合到所述测试和测量仪器的每一个测试和测量仪器的集线器；

其中所述测试和测量仪器的每一个测试和测量仪器配置成响应从所述集线器接收到的集线器事件来触发采集；

所述测试和测量仪器的每个测试和测量仪器配置成生成仪器事件；

所述集线器包括逻辑电路，用于将所述仪器事件组合以生成所述集线器事件；

每个测试和测量仪器包括耦合到所述集线器的输入和输出；以及

每个测试和测量仪器包括从所述输出到所述集线器的通信的时间延迟，所述输出到所述集线器的通信的时间延迟基本与从所述集线器到所述输入的通信的时间延迟相似；以及

所述测试和测量仪器配置成使所述集线器进入配置模式，在所述配置模式中所述集线器将从所述测试和测量仪器接收的事件返回到所述测试和测量仪器；以及

所述测试和测量仪器配置成测量所述事件从所述集线器返回所用去的时间。

9.如权利要求8所述的测量系统，其中对于每个测试和测量仪器：

所述测试和测量仪器配置成在所述测试和测量仪器已经测量了所述事件从所述集线器返回所用去的时间之后，将所述集线器的控制传递到另一个测试和测量仪器。

10.如权利要求9所述的测量系统，其中

所述测试和测量仪器的至少其中之一配置成确定所述事件从所述集线器返回所用去的时间中的最大时间；以及

所述测试和测量仪器的每个测试和测量仪器配置成响应所述最大时间来触发所述采集。

11.一种方法，包括：

测量从集线器到测试和测量仪器的往返程时间；

在所述测试和测量仪器处接收来自所述集线器的事件；

响应所述事件而采集数据；以及

响应所述往返程时间来调整呈交所述数据的时基。

12.如权利要求11所述的方法，还包括：

从所述测试和测量仪器输出第一事件；

从所述集线器接收第二事件；

测量所述第一事件的输出与所述第二事件的接收之间的时间；以及

响应所测量的时间来确定所述时基。

13.如权利要求11所述的方法，还包括：

响应所述测试和测量仪器在所述集线器上进入配置模式。

14.如权利要求11所述的方法，还包括：生成事件；

将所述事件按某时间延迟；以及

从所述测试和测量仪器输出延迟的事件。

15.如权利要求11所述的方法，还包括通知第二测试和测量装置以执行与所述集线器的校准。

16.如权利要求11所述的方法，还包括测量第二测试和测量仪器与所述集线器之间的往返程时间。

17.如权利要求11所述的方法，还包括响应来自耦合到所述集线器的每个测试和测量仪器的往返程时间确定所述时基的调整。