CN101644654B - 控制装置的老化诊断系统 - Google Patents

Abstract

提供高精度推定导电构件腐蚀量的老化诊断系统。具有：测定收容具有导电构件的印刷线路板的控制装置内的温度的温度传感器；湿度传感器；腐蚀传感器；诊断处理装置，在设定期间记录由各传感器测定的控制装置内环境数据和导电构件的腐蚀数据，根据记录的箱体内环境数据和腐蚀数据推定导电构件将来的腐蚀量进行老化诊断；记录外部空气环境数据的外部空气环境数据库，诊断处理装置求出设定期间记录的控制装置内环境数据与腐蚀数据的相关关系，求出与设定期间同时期的外部空气环境数据与控制装置内环境数据的对应关系，由对应关系和过去外部空气环境数据推定将来的控制装置内环境数据，由推定的控制装置内环境数据和相关关系推定导电构件将来的腐蚀量。

Description

控制装置的老化诊断系统

技术领域

本发明涉及一种控制装置的老化诊断系统。 

背景技术

导致对电梯和各种设备等进行控制的控制装置发生故障的主要原因之一是因收容在控制装置中且安装有电子器件等的印刷线路板上的配线和电子器件的连接端子(以下统称为导电构件)腐蚀而产生的老化。因此，优选预先对导电构件进行老化诊断，推定将来的老化进度情况，以便能够在因老化而产生故障之前更换老化部分。 

作为现有的老化诊断技术，已知有将与导电构件相同的金属材料作为试验片，使其在控制装置内暴露一定期间，测定腐蚀厚度，根据腐蚀厚度和暴露期间来求出平均的腐蚀进度，并根据求出的平均腐蚀进度来推定将来的腐蚀量的方法。此外，在专利文献1中公开了一种方法，其对作为腐蚀量的影响因素的温度和湿度等进行测定，并对测定值的范围给予评分数，同时根据评分数的函数来求出将来的腐蚀量。 

【专利文献1】日本特开2001-215187。 

然而，作为腐蚀量的影响因素的温度和湿度因暴露试验片的季节而有较大变动，另外，控制装置内的温度和湿度也会因控制装置的运行状态而变动，因此，实际的腐蚀进度并不是恒定的。在上述现有的方法中，没有对温度以及湿度的变动作出考虑，难以进行高精度的腐蚀量的推定。 

发明内容

本发明的目的在于提供一种能够高精度地推定导电构件的将来的腐蚀量的老化诊断系统。 

为了解决上述课题，本发明的老化诊断系统的特征在于，具有：温度传感器，其测定收容有印刷线路板的箱体的内部温度，其中该印刷线路板 上安装有具有作为诊断对象的导电构件的电子器件或者电气器件；湿度传感器，其测定箱体内部的湿度；腐蚀传感器，其测定诊断对象的腐蚀量；诊断处理装置，其在设定期间记录由利用各个传感器中测定的箱体内的温度以及湿度构成的箱体内环境数据和诊断对象的腐蚀数据，根据所记录的箱体内环境数据和腐蚀数据来推定诊断对象的将来的腐蚀量，进行老化诊断；外部空气环境(open-air environment)数据库，其记录有由箱体外的过去的温度以及湿度构成的外部空气环境数据，其中，诊断处理装置求出在设定期间记录的箱体内环境数据与腐蚀数据的相关关系，并求出设定期间内的外部空气环境数据与箱体内环境数据的对应关系，根据该对应关系和过去的外部空气环境数据来推定将来的箱体内环境数据，并根据该推定的箱体内环境数据及其相关关系来推定诊断对象的将来的腐蚀量。 

根据本发明，能够按照实际情况来推定将来的箱体内环境数据，因此能够高精度地推定诊断对象的将来的腐蚀量。即，根据与设定期间相同时期的外部空气环境数据和箱体内环境数据的对应关系，求出例如外部空气环境数据与箱体内环境数据的温度差、湿度差以及它们的周期性变化，并将该数据与过去的外部空气环境数据进行对照，如此，能够在考虑到箱体内环境数据的周期性变化以及外部空气环境数据的影响的情况下对将来的箱体内部环境数据进行推定。由于温度和湿度是影响腐蚀量的影响因素，因此，如果能够根据实际情况高精度地对将来的箱体内环境数据进行推定，便能够高精度地推定将来的腐蚀量。此外，设定期间一般为1至3个月，但为了进行高精度推定，设定期间优选在3个月以上。进行简易推定时，设定期间可以为一个星期左右，但此时优选使用高精度的腐蚀传感器即电阻式腐蚀传感器。另外，外部空气环境数据库可以使用例如气象厅的气象统计信息。 

在此，在控制装置的设置环境是进行空调控制的情况下，箱体外的温度及湿度即为空调的设定温度及湿度。 

此时，优选老化诊断系统具有：温度传感器，其测定收容有印刷线路板且处于空调氛围中的箱体的内部温度，其中该印刷线路板上安装有具有作为诊断对象的导电构件的电子器件或者电气器件；湿度传感器，其测定箱体内的湿度；腐蚀传感器，其测定诊断对象的腐蚀量；诊断处理装置， 其在设定期间记录由利用各个传感器中测定的箱体内的温度以及湿度构成的箱体内环境数据和诊断对象的腐蚀数据，根据所记录的箱体内环境数据和腐蚀数据来推定诊断对象的将来的腐蚀量，进行老化诊断；空调数据库，其记录有由空调的设定温度以及湿度构成的空调数据，其中，诊断处理装置求出在设定期间记录的箱体内环境数据与腐蚀数据的相关关系，并根据箱体内环境数据与空调数据之间的对应关系来推定将来的箱体内环境数据，同时通过该推定的箱体内环境数据及其相关关系来推定诊断对象的将来的腐蚀量。 

由此，与外部空气环境数据的情况一样，能够根据空调的设定温度以及湿度对将来的箱体内温度以及湿度的变化进行高精度的推定，从而能够高精度地推定腐蚀量。 

然而，作为导致控制装置发生故障的其他主要原因，可以列举出印刷线路板上的导电构件之间的绝缘老化。由此，还需要与对腐蚀量进行推定相同地，对绝缘老化进行推定。 

此时，优选老化诊断系统具有：温度传感器，其测定收容有印刷线路板的箱体的内部温度，其中该印刷线路板上安装有具有作为诊断对象的导电构件的电子器件或者电气器件；湿度传感器，其测定箱体内的湿度；尘埃传感器，其测定附着在诊断对象上的尘埃量；诊断处理装置，其在设定期间记录由利用各个传感器中测定的箱体内的温度以及湿度构成的箱体内环境数据和尘埃数据，并根据所记录的箱体内环境数据和尘埃数据对诊断对象的绝缘老化进行诊断；外部空气环境数据库，其记录有由箱体外的过去的温度以及湿度构成的外部空气环境数据，其中，诊断处理装置求出在设定期间记录的箱体内环境数据与绝缘老化的进度的相关关系，并求出设定期间内的外部空气环境数据与箱体内环境数据的对应关系，根据该对应关系和过去的外部空气环境数据来推定将来的箱体内环境数据，并根据该推定的箱体内环境数据及其相关关系来推定诊断对象的将来的绝缘老化的进度。 

由此，能够与上述腐蚀量的推定相同地对将来的箱体内环境数据进行高精度的推定。导致绝缘老化的主要原因是离子迁移，由于温度和湿度以及尘埃量是离子迁移的影响因素，因此，通过推定的箱体内环境数据以及 根据设定期间记录的箱体内环境数据与绝缘老化的进度的相关关系推定的尘埃量，能够对绝缘老化的进度进行高精度地推定。 

另外，当控制装置的设置环境是进行空调控制的情况下，优选与上述腐蚀量的推定相同地，具有空调数据库。 

发明效果 

根据本发明，能够提供一种高精度地推定将来的腐蚀量的老化诊断系统。 

附图说明

图1(a)是本发明的第1实施例的老化诊断系统的结构图，(b)是收容在控制装置中的印刷线路板的俯视图。 

图2是老化诊断系统的处理流程图。 

图3是诊断处理装置的环境推定部分的处理工序。 

图4(a)是内部温度和外部温度的曲线图，(b)是内部温度和外部温度的频率特性。 

图5是控制装置的内部绝对湿度和外部绝对湿度的曲线图。 

图6表示对环境推定部进行腐蚀量推定的处理工序。 

图7(a)是表示银腐蚀量的实测值和推定值的图，(b)是表示腐蚀寿命与经过年数的关系图。 

图8是表示对环境推定部进行绝缘老化推定的处理工序的图。 

图9(a)是表示离子迁移寿命与相对湿度和尘埃量的关系的图，(b)是离子迁移寿命与经过年数的关系图。 

图10是本发明的第2实施例的老化诊断系统的环境推定部的处理工序。 

符号说明 

1老化诊断系统 

2环境测定装置 

4诊断处理装置 

6外部空气环境数据库 

9导电构件 

10印刷线路板 

12温度传感器 

14湿度传感器 

16腐蚀传感器 

18尘埃传感器 

17腐蚀积算损伤率 

18离子迁移积算损伤率 

30环境推定部 

32损伤推定部 

34寿命诊断部 

36腐蚀数据库 

38空调数据库 

具体实施方式

实施例1 

以下，参照附图对本发明的第1实施例进行说明。 

图1(a)是老化诊断系统1的结构图，图1(b)是收容在控制装置3中的印刷线路板10的俯视图。老化诊断系统1由环境测定装置2、诊断处理装置4、外部空气环境数据库6和诊断结果输出装置8构成。 

环境测定装置2设置在控制电梯等的控制装置3内，控制装置3内收容有具有作为诊断对象的导电构件9的印刷线路板10。环境测定装置2具有测定控制装置3内的温度(以下称为内部温度)的温度传感器12、测定控制装置3内的相对湿度(以下称为内部相对湿度)的湿度传感器14、测定导电构件9的腐蚀量的腐蚀传感器16、测定附着在导电构件9的尘埃量的尘埃传感器18以及记录各个传感器的数据的数据库22。温度传感器12和相对湿度传感器14被构成为以一定间隔测定内部温度以及内部相对湿度并将数据发送至数据库22。 

以下参照图1(b)对腐蚀传感器16以及尘埃传感器18进行说明。腐蚀传感器16是电阻式腐蚀传感器，其由玻璃等制成的基板23、电极垫24和银电极25构成，并且安装在印刷线路板10上。腐蚀传感器16被构成 为利用银电极25的截面积因腐蚀而减小后，电阻会增加这一特性，以一定间隔测定腐蚀量并将数据发送至数据库22。尘埃传感器18由玻璃等制成的基板26、电极垫27以及梳齿电极28构成，并且安装在印刷线路板10上。尘埃传感器18构成为以一定间隔根据因附着的尘埃而在电极之间产生的泄漏电流来测定尘埃量并将数据发送至数据库22中。此外，作为尘埃的种类，除了灰尘和线头外，还可列举出气溶胶等。另外，可以由印刷线路板10兼作基板23、26使用。 

环境测定装置2的测定结果由诊断处理装置4进行处理。诊断处理装置4安装在未图示的计算机等信息处理终端中。外部空气环境数据库6中保存有控制装置3的外部温度(以下称为“外部温度”)的履历以及控制装置3的外部的绝对湿度(以下称为“外部绝对湿度”)的履历。外部空气环境数据库6可以利用气象厅公开的气象统计信息中的离控制装置3最近的测定地点的信息。 

如图1(a)所示，诊断处理装置4由环境推定部30、损伤度推定部32和寿命诊断部34构成。环境推定部30构成为根据环境测定装置2的测定结果以及外部空气环境数据库6的数据来推定内部温度以及控制装置3的内部相对湿度(以下称为“内部相对湿度”)，并将推定的结果输出至损伤度推定部32。损伤度推定部32构成为根据环境推定部30的推定结果来推定腐蚀量以及绝缘老化，并将推定的结果输出到寿命诊断部34中。寿命诊断部34构成为根据损伤度推定部32的推定结果来诊断寿命，并将诊断结果输出到诊断结果输出装置8中。诊断结果输出装置8构成为将诊断结果输出到未图示的信息处理终端的显示画面中。 

参照图2对上述结构的老化诊断系统1的动作进行说明。图2是老化诊断系统1的处理流程图。在步骤1中，将环境测定装置2的温度传感器12以及湿度传感器14设置在控制装置3内，如图1(b)所示，将腐蚀传感器16和尘埃传感器18设置在印刷线路板10或者印刷线路板10的附近。通过设置的各个传感器进行1至3个月的测定。进行高精度测定时可以设定为3个月以上，进行简易测定时可以设定为1个星期左右。测定时期优选在对腐蚀和绝缘老化影响大的相对湿度高的时期。在本实施例中，作为示例，在2007年8月到10月的3个月中进行了测定。此外，通常，导电 构件9采用铜制成，但在此使用由不同于导电构件9的金属制成的银电极25进行腐蚀量的推定。选择银电极的理由是，银比铜容易腐蚀，由于腐蚀在短期内加剧，所以，通过推定银的腐蚀，能够尽早地对铜制的导电构件9的腐蚀采取措施。当然，也可以使用铜来进行腐蚀的推定。 

以下参照图3至图5对步骤2进行说明。图3是诊断处理装置4的环境推定部30的处理工序，图4(a)是内部温度和外部温度的曲线图，图4(b)是内部温度和外部温度的频率特性，图5是控制装置3的内部绝对湿度(以下称为内部绝对湿度)和外部绝对湿度的曲线图。在步骤1中测定的8月到10月的内部温度以及内部相对湿度、保存在外部空气环境数据库6中的8月到10月的外部温度以及外部绝对湿度被输入到环境推定部30中。 

首先，如图4所示，在温度方面，计算内部温度和外部温度的温度差ΔT。温度差ΔT根据8月到10月这3个月的平均温度求出。并且，通过离散傅立叶解析(Discrete Fourier Analysis)提取内部温度的频率特性。内部温度受到外部温度和控制装置3在运行时产生的热量的影响。例如，每天运行和停止的控制装置3的内部温度受到外部温度的变动以及运行和停止的影响而具有以一天为周期的特征。另外，在工作日运行和停止，而在周末停止的控制装置3除了具有以一天为周期的特征，同时还具有以一个星期为周期的特征。通常，具有一个星期以上的周期特征的控制装置3不多，但通过傅立叶解析，能够取得任何周期的频率特性。图4(b)表示内部温度和外部温度的周期特性。内部温度和外部温度均具有以一天为周期的特征。但是，内部温度与控制装置3的使用频率对应，具有显著的以一个星期为周期的特征。 

根据测定期间比将求出的频率特性保存在外部空气环境数据库6中的测定期间更早的过去的外部温度，例如2006年1月至12月的外部温度，并且结合由上述方法求出的温度差ΔT以及频率特性，能够求出将来的例如2009年1月至12月的内部温度的推定值。 

以下对内部相对湿度的推定方法进行说明。由于控制装置3外部的水分立刻会进入到控制装置3的内部，所以外部绝对湿度和内部绝对湿度大致一致。因此，将从外部空气环境数据库6得到的外部绝对湿度与根据测 定的内部温度和内部相对湿度算出的内部绝对湿度进行比较，如果能够确认为同等的值，则能够根据过去的外部绝对湿度，例如2006年的1月至12月的外部绝对湿度，采用绝对湿度-温度-相对湿度的换算式来推定将来的例如2009年1月至12月的内部相对湿度。 

如上所述，在环境测定部分30中求出与测定期间相同时期的外部温度以及外部绝对湿度和内部温度以及内部相对湿度的对应关系，根据该对应关系和过去的外部温度以及外部绝对湿度，能够推定将来的内部温度以及内部相对湿度。 

以下参照图6对步骤3中关于损伤推定部32的腐蚀的处理进行说明。图6表示环境推定部30的处理工序。在步骤1中测定的腐蚀量以及在步骤2中推定的内部温度以及内部相对湿度被输入到环境推定部30中。 

此后，求出内部温度和内部相对湿度与腐蚀量的相关关系。银的腐蚀量X以硫化银的生成为主，例如在古河电工时报76卷98页(1985年)中揭示了作为实验式的式(1)。 

X＝X₀·[H₂S]^1.0·[RH]ⁿ·exp(-E/kT)·t    (1) 

式中，X₀表示系数，[H₂S]表示硫化氢的浓度，[RH]表示相对湿度，E表示活性能量，K表示波耳兹曼常数(Boltzmann constant)，T表示绝对温度，t表示时间。其中，如果将X₀·[H₂S]^1.0定义为腐蚀性气体系数Co，则腐蚀量X由式(2)求出。 

X＝C₀·[RH]ⁿ·exp(-E/kT)·t    (2) 

其中，环境测定装置2的各个传感器的单位测定时间t_UT的腐蚀量X_UT在温度T、相对湿度RH的环境下通过式(3)求出。 

X_UT＝C₀·[RH]ⁿ·exp(-E/kT)·t_UT  (3) 

其中，由于银的腐蚀量X与时间成正比，因此，在腐蚀传感器16的测定期间t_CS内的腐蚀量X_CS作为单位时间t_UT的腐蚀量X_UT的积算值通过式(4)求出。 

X_CS＝∑X_UT＝C₀·∑{[RH]ⁿ·exp(-E/kT)·t_UT}(4) 

根据式(4)，由式(5)求出Co。 

Co＝X_CS/∑{[RH]ⁿ·exp(-E/kT)·t_UT}(5) 

如上所述，腐蚀性气体系数Co在控制装置的各个设置环境中为固有 值，能够通过将所测定的内部温度、内部相对湿度、腐蚀量和测定期间代入式(5)而决定。在使用计算机进行实际的推定时，也可以通过如下方法设定腐蚀性气体系数，即，预先假设临时的腐蚀性气体系数，使得推定的积算腐蚀量与腐蚀传感器16的测定期间t_CS内的腐蚀量X_CS相等，以此来设定腐蚀性气体系数。在此，虽然没有考虑腐蚀性气体Co的季节性变动，但只要以某一规定的间隔进行测定，考虑腐蚀性气体Co的季节性变动，便能够进行更高精度的推定。通过将决定的腐蚀性气体系数Co和在步骤2中推定的内部温度和内部相对湿度的值代入式(4)中，能够推定积算腐蚀量。图7(a)表示银腐蚀量的实测值和推定值。两者的值非常接近，表明本推定方法是适当的推定方法。 

以下对诊断对象金属为铜的情况进行说明。由于铜的腐蚀量与时间的1/2次方成比例，因此不能简单地积算单位时间的腐蚀量。铜的腐蚀量X_Cu由式(6)求出。 

X＝C₀·[RH]ⁿ·exp(-E/kT)·t^0.5    (6) 

假定最初的单位时间t＝t₁时的温度为T₀，相对湿度为RH₀，膜厚为X₀时，腐蚀量由式(7)求出。 

X₀＝C₀·[RH₀]ⁿ·exp(-E/kT₀)·t₁ ^0.5    (7) 

将接下来的单位时间t＝(t₂-t₁)的温度设定为T₁，相对湿度设定为RH₁，膜厚设定为X₁。在铜的表面形成有膜厚X₀的腐蚀皮膜。在此，假定铜的腐蚀皮膜的耐腐蚀性与温度和相对湿度无关。则在温度为T₁和相对湿度为RH₁的环境形成膜厚X₀的换算时间t_2C由式(8)求出。 

t_2C＝[X₀/{Co·[RH₁]ⁿ·exp(-E/kT₁)}]²    (8) 

因此，接下来的单位时间t＝(t₂-t₁)的腐蚀量X₁由式(9)求出。 

X₁＝C₀·[RH₁]ⁿ·exp(-E/kT₁)·(t_2c+t₁)^0.5    (9) 

如上所述，通过修正经过时间求出等价经过时间，即使是像铜那样的腐蚀量不与时间成比例的金属，也能够高精度地推定腐蚀量。 

在步骤4中，将在步骤3中推定的腐蚀量和保存在腐蚀数据库36中的腐蚀容许值的比例输入到寿命诊断部34中。寿命诊断部34根据上述数据求出腐蚀积算损伤率，如图7(b)所示，将腐蚀积算损伤率到达1的时间点作为腐蚀寿命求出。 

以下参照图8对步骤3’中关于损伤度推定部32的绝缘老化的处理进行说明。图8表示环境推定部30的绝缘老化的处理工序，在步骤1中测定的尘埃量和在步骤2中推定的内部温度以及内部相对湿度被输入到环境推定部分30中。 

绝缘老化的主要原因是离子迁移。离子迁移的产生经过阳极金属的电化学性溶解析出、金属离子的传输和阴极中的电化学性析出这3个阶段的反应，因此，在进行寿命评价时，有必要对各个阶段的反应进行评价。在此，使用对3个阶段的反应进行综合计算的寿命。图9(a)表示温度和电场强度为一定时的离子迁移寿命与相对湿度和尘埃量的关系。离子迁移寿命L与绝对温度T和相对湿度RH以及尘埃量D有关，并且由式(10)求出。 

L＝C·V^-m·[RH]^-n·D^-p·exp(E/kT)(10) 

式中，C表示常数，m、n、p表示指数，E表示活性能量，k表示波耳兹曼常数。由于在实际环境中温度和湿度会发生变动，因此需要对温度和湿度的变动作出了考虑的寿命推定式。在此，导入在疲劳寿命的推定中使用的线性累积损伤法则(Miner法则)这一方法。假定相对湿度RH₁、RH₂、RH₃、...的寿命为L₁、L₂、L₃、...。当在相对湿度RH₁、RH₂、RH₃、...下分别暴露了t₁、t₂、t₃、...时间时，可以将t₁/L₁、t₂/L₂、t₃/L₃、...作为离子迁移损伤。因此，离子迁移损伤率的积算值由式(11)求出。 

(t₁/L₁)+(t₂/L₂)+(t₃/L₃)+...(11) 

离子迁移寿命的判断值可以由式(12)求出。 

(t₁/L₁)+(t₂/L₂)+(t₃/L₃)+...＝1(12) 

将在步骤2中推定的内部温度以及内部相对湿度代入离子迁移寿命推定式(12)中，此外，根据在测定期间内附着的尘埃量求出每一单位时间内附着的尘埃量并代入离子迁移寿命推定式(12)中。由此，可以求出单位时间(例如1个小时)的离子迁移损伤量。 

在步骤4’中，将在步骤3’中求出的每一单位时间内的离子迁移损伤量输入到寿命诊断部34中。寿命诊断部34据此求出离子迁移的积算损伤率，如图9(b)所示，将离子迁移的积算损伤率达到1的时间点作为绝缘老化寿命求出。 

在步骤5中，将在步骤4以及4’中求出的腐蚀寿命以及绝缘老化寿命输出到未图示的信息处理终端的显示画面上。老化诊断系统1的处理至此结束。 

如上所述，本实施例的老化诊断系统1具有：测定控制装置3内的温度的温度传感器12，其中该控制装置3中收容有具有导电构件9的印刷线路板10；测定相对湿度的湿度传感器14；测定导电构件9的腐蚀量的腐蚀传感器16；诊断处理装置4；外部空气环境数据库6，本实施例的老化诊断系统1能够根据与测定期间相同时期的外部空气环境数据和控制装置3内的环境数据的对应关系求出外部空气环境数据与控制装置3内环境数据的温度差和湿度差以及它们的周期，通过将该数据与过去的外部空气环境数据进行对照，能够推定将来的控制装置3内环境数据。由此，能够高精度地推定温度和相对湿度为影响因素的腐蚀量。 

另外，具有尘埃传感器18，能够与推定腐蚀量相同地，推定将来的控制装置3内环境数据，并根据在设定期间记录的箱体内环境数据与绝缘老化的进度的相关关系推定尘埃量，从而，能够高精度地推定绝缘老化的进度。 

实施例2 

图10表示本发明的第2实施例的老化诊断系统1的结构。在本实施例中，控制装置3的设定环境为进行空调控制，取代第1实施例的外部空气环境数据库6，具有空调数据库38，其他结构与第1实施例相同。空调数据库38中保存有控制装置3的设置环境的设定温度以及设定相对湿度。能够使用所述设定温度以及设定相对湿度，采用与实施例1相同的步骤，推定内部温度以及内部相对湿度。 

如上所述，根据本实施例的以空调数据库38替代了外部空气环境数据库6的老化诊断系统1，与第1实施例相同地，能够根据空调的设定温度以及湿度来高精度地推定将来的内部温度以及内部湿度的变化，并且还能够高精度地推定腐蚀量以及绝缘老化。 

以上对本实施例的老化诊断系统1进行了说明，但本发明并不仅限于上述实施例，本发明的上述结构在应用时可以进行适当的变更。例如，在本实施例中，将腐蚀传感器16以及尘埃传感器18安装在印刷线路板10 进行了测定，但也可以将具有腐蚀传感器16以及尘埃传感器18的测定用基板作为测定组件使用。另外，腐蚀传感器16也可以构成为通过比色法或阴极还原法来测定腐蚀量。另外，尘埃传感器18也可以构成为使用“为了评价大气环境的腐蚀性而进行的环境因子的测定”(JIS-Z-2382)和JEIDA-63-2000示出的暴露纱布进行的收集来进行测定。 

另外，腐蚀的诊断对象并不限于导电构件，也能够将控制装置3内的金属部分(例如断路器等)作为对象。此时，优选使用上述测定组件。 

另外，对通过傅立叶解析法求出所测定的内部温度以及外部温度的周期性等的方法作了说明，但并不限于通过傅立叶解析法求出的方法，也可以采用通过移动平均值求出平均特征，并根据对象温度数据和平均特征的差分求出周期性特征的方法。另外，按照傅立叶解析法求出的周期性特征，决定移动平均值的条件，由此，能够进行高精度的推定。并且，也可以使用其他的时序性数据的解析方法。 

进而，在尘埃对腐蚀产生影响时，也可以在温度和湿度之外，进一步推定尘埃量，并用于腐蚀量的推定中。 

Claims (5)

1.一种控制装置的老化诊断系统，其具有：温度传感器，其测定收容有印刷线路板的箱体的内部温度，其中该印刷线路板上安装有具有作为诊断对象的导电构件的电子器件或者电气器件；湿度传感器，其测定所述箱体内的湿度；腐蚀传感器，其测定所述诊断对象的腐蚀量；诊断处理装置，其在设定期间记录由利用所述各个传感器测定的所述箱体内的温度以及湿度构成的箱体内环境数据和所述诊断对象的腐蚀量，根据所记录的所述箱体内环境数据和所述腐蚀量来推定所述诊断对象的将来的腐蚀量，进行老化诊断；外部空气环境数据库，其记录有由所述箱体外的过去的温度以及湿度构成的外部空气环境数据，所述控制装置的老化诊断系统的特征在于，

所述诊断处理装置求出在所述设定期间记录的所述箱体内环境数据的温度、湿度与所述腐蚀量的相关关系，并求出所述设定期间内的所述外部空气环境数据的温度、湿度与所述箱体内环境数据的温度、湿度的对应关系，根据该对应关系和过去的所述外部空气环境数据的温度、湿度推定将来的所述箱体内环境数据的温度、湿度，并根据该推定的箱体内环境数据的温度、湿度和所述相关关系来推定所述诊断对象的将来的腐蚀量。

2.一种控制装置的老化诊断系统，其具有：温度传感器，其测定收容有印刷线路板且处于空调氛围中的箱体的内部温度，其中该印刷线路板上安装有具有作为诊断对象的导电构件的电子器件或者电气器件；湿度传感器，其测定所述箱体内的湿度；腐蚀传感器，其测定所述诊断对象的腐蚀量；诊断处理装置，其在设定期间记录由利用所述各个传感器测定的所述箱体内的温度以及湿度构成的箱体内环境数据和所述诊断对象的腐蚀量，根据所记录的所述箱体内环境数据和所述腐蚀量来推定所述诊断对象的将来的腐蚀量，进行老化诊断；空调数据库，其记录有由所述空调的设定温度以及湿度构成的空调数据，所述控制装置的老化诊断系统的特征在于，

所述诊断处理装置求出在所述设定期间记录的所述箱体内环境数据的温度、湿度与所述腐蚀量的相关关系，并根据所述箱体内环境数据的温度、湿度与所述空调数据的温度、湿度的对应关系来推定将来的所述箱体内环境数据的温度、湿度，同时根据该推定的箱体内环境数据的温度、湿度和所述相关关系来推定所述诊断对象的将来的腐蚀量。

3.一种控制装置的老化诊断系统，其具有：温度传感器，其测定收容有印刷线路板的箱体的内部温度，其中该印刷线路板上安装有具有作为诊断对象的导电构件的电子器件或者电气器件；湿度传感器，其测定所述箱体内的湿度；尘埃传感器，其测定附着在所述诊断对象上的尘埃量；诊断处理装置，其在设定期间记录由利用所述各个传感器测定的所述箱体内的温度以及湿度构成的箱体内环境数据和尘埃量，并根据所记录的所述箱体内环境数据和所述尘埃量来诊断所述诊断对象的绝缘老化；外部空气环境数据库，其记录有由所述箱体外的过去的温度以及湿度构成的外部空气环境数据，所述控制装置的老化诊断系统的特征在于，

所述诊断处理装置求出在所述设定期间记录的所述箱体内环境数据的温度、湿度与所述绝缘老化的进度的相关关系，并求出所述设定期间的所述外部空气环境数据的温度、湿度与所述箱体内环境数据的温度、湿度的对应关系，根据该对应关系和过去的所述外部空气环境数据的温度、湿度来推定将来的所述箱体内环境数据的温度、湿度，并根据该推定的箱体内环境数据的温度、湿度和所述相关关系来推定所述诊断对象的将来的绝缘老化的进度。

4.一种控制装置的老化诊断系统，其具有：温度传感器，其测定收容有印刷线路板且处于空调氛围中的箱体的内部温度，其中该印刷线路板上安装有具有作为诊断对象的导电构件的电子器件或者电气器件；湿度传感器，其测定所述箱体内的湿度；尘埃传感器，其测定附着在所述诊断对象上的尘埃量；诊断处理装置，其在设定期间记录由利用在所述各个传感器测定的所述箱体内的温度以及湿度构成的箱体内环境数据和尘埃量，并根据所记录的所述箱体内环境数据和所述尘埃量来诊断所述诊断对象的绝缘老化；空调数据库，其记录有由所述空调的设定温度以及湿度构成的空调数据，所述控制装置的老化诊断系统的特征在于，

所述诊断处理装置求出在所述设定期间记录的所述箱体内环境数据的温度、湿度与所述绝缘老化的进度的相关关系，并根据所述箱体内环境数据的温度、湿度与所述空调数据的温度、湿度的对应关系来推定将来的所述箱体内环境数据的温度、湿度，同时根据该推定的箱体内环境数据的温度、湿度和所述相关关系来推定所述诊断对象的将来的绝缘老化的进度。

5.根据权利要求1或者2所述的控制装置的老化诊断系统，其特征在于，所述腐蚀传感器为电阻式腐蚀传感器。

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