CN101604276A - 通用串行总线测试方法 - Google Patents
通用串行总线测试方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN101604276A CN101604276A CNA2008100996360A CN200810099636A CN101604276A CN 101604276 A CN101604276 A CN 101604276A CN A2008100996360 A CNA2008100996360 A CN A2008100996360A CN 200810099636 A CN200810099636 A CN 200810099636A CN 101604276 A CN101604276 A CN 101604276A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- serial bus
- universal serial
- test
- usb
- port
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Information Transfer Systems (AREA)
Abstract
本发明公开了一种通用串行总线测试方法,本方法包括下列步骤。首先,取得待测机台上控制芯片的信息。接着,依据此信息以取得该控制芯片的通用串行总线的数量。选择所述通用串行总线端口的其中之一为一测试端口。对该控制芯片下达测试指令,以触发该控制芯片对该测试端口进行测试。藉此,可不须透过驱动即可进行测试通用串行总线。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试方法,特别是涉及一种可运行于DOS操作系统的通用串行总线(Universal Serial Bus,USB)测试方法。
背景技术
随着科技的进步,计算机(Computer)已经普遍地应用在工作及生活中。目前最常见的计算机包括台式计算机(desktop)及膝上型计算机(laptop)。而厂商在台式计算机及膝上型计算机出货前,皆会对其进行系统芯片的测试。
USB 2.0信号一致性测试是产品分析的一项重要的测试。一直以来,产品分析工程师只能使用USB-IF组织所提供的测试工具USBHSET来完成此项测试。但这种做法在目前thurley平台的测试项目160/180和BluffCreek遇到了执行上的困难。其主要的原因如下:(1)测试工具USBHSET只能运行于windows 2000/xp平台底下;(2)在windows 2000平台底下,上述的两个测试项目无法安装;(3)在windows xp平台底下安装上述的两个测试项目,接着运行测试工具USBHSET,并没有预期的测试信号输出。而上述的问题会导致这两个项目的USB 2.0的信号一致性测试一直无法进行。
发明内容
本发明提供一种通用串行总线测试方法,可运行于DOS操作系统底下,且不须透过驱动即可进行测试通用串行总线,以达到可跨平台测试。
本发明提出一种通用串行总线测试方法,此方法包括下列步骤。首先,取得待测机台上控制芯片的信息。接着,依据此信息以取得此控制芯片的通用串行总线端口(USB port)的数量。然后,选择所述通用串行总线端口的其中之一为测试端口。最后,对此控制芯片下达测试指令,以触发此控制芯片对此测试端口进行测试。
在本发明的一实施例中,此信息以取得此控制芯片的通用串行总线端口的数量的步骤包括。依据此信息取得此待测机台上的通用串行总线控制器的数量。指定所述通用串行总线控制器的其中之一为待测试控制器。依据此信息取得此待测试控制器上的通用串行总线端口的数量。
于本发明的通用串行总线测试方法中,其可运行于DOS操作系统底下,直接取得控制芯片的信息,依据此信息对控制芯片下达测试指令,以对测试端口进行测试。所以,可不须透过驱动即可进行测试通用串行总线,和达到可跨平台测试的功能。
上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明的技术手段,并可依照说明书的内容予以实施,以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
附图说明
图1A为依据本发明一实施例所绘示的通用串行总线测试方法的流程图。
图1B为依据本发明另一实施例所绘示的通用串行总线测试方法的流程图。
图2A为依据本发明再一实施例所绘示的通用串行总线测试方法的流程图。
图2B为依据本发明更一实施例所绘示的通用串行总线测试方法的流程图。
具体实施方式
由于已知的测试工具只能于窗口xp/2000操作系统执行,并且在测试具有新平台的待测机台会有无法执行测试的项目,因此本发明提供一种测试方法,且此测试方法可以于DOS操作系统执行,其中待测机台可以为膝上型计算机、台式计算机或个人数字助理之类具有通用串行总线端口的计算器。以下结合附图及较佳实施例,对依据本发明提出的通用串行总线测试方法其特征及其功效,详细说明如后。
图1A为依据本发明一实施例所绘示的通用串行总线测试方法的流程图。所属领域的技术人员可以软件方式实现此测试方法,并于待测机台上运行此测试软件。请参照图1,此方法包括下列步骤。首先,步骤S101会先取得待测机台上控制芯片的信息。接着,步骤S102会依据此信息来取得控制芯片的通用串行总线端口的数量。接着,步骤S103会选择所述通用串行总线端口的其中之一为测试端口,其中所述选择的动作,可以由软件预设的参数来执行,亦可由测试人员经由选择画面来点选或输入参数来设定。接着,步骤S104会选择此测试端口的测试模式,其中所述选择的动作,同样地可以由软件预设的参数来执行,亦可由测试人员经由选择画面来点选或输入参数来设定。接着,步骤S105会对此控制芯片下达测试指令,以触发此控制芯片对此测试端口进行测试。然后,会执行步骤S106,以检查是否所有的通用串行总线端口都测试完了。如果还有其它未测试的通用串行总线端口时,则回到步骤S103继续测试下一个通用串行总线端口。如果所有的通用串行总线端口都测试过了,则结束此测试方法。
依据上述,在此则举例以说明本实施例。先看到步骤S101,所述的信息则包括控制芯片的型号和通用串行总线端口的数量,此信息中的型号至少可以判别Intel的ICH系列的南桥芯片及NVidia公司的MCP55Pro南桥芯片。由通常知识而得知,一个南桥芯片内部会包含一个以上的通用串行总线控制器,但由于硬件上的设计并不会将所有的通用串行总线端口接出来,使得在不同装置上即使是同一个南桥芯片,其通用串行总线端口的数量会不同。为了方便说明,在此假设通用串行总线端口的数量为2。在接着的步骤S102中,就会设定通用串行总线端口的数量为2。接下来会先选择2个通用串行总线端口的其中之一为测试端口(步骤S103),接着选择此测试端口的测试模式为Test J_State、Test K_State、Test SEO_NEK和TestPacket的其中之一(步骤S104),在此先假设为进行Test J_State测试模式。接着步骤S105会对控制芯片下达Test J_State测试模式的测试指令,让控制芯片对此测试端口进行Test J_State测试模式的测试。
当测试结束及取得测试结果时,会依据其测试结果来判断此测试端口是否良好。此时为完成一个通用串行总线端口的测试,而此控制芯片中还有另一个通用串行总线端口要进行测试。所以,当执行到步骤S106时,其判断结果会为“否”,使得此测试方法会回到执行步骤S103,以选择另一个通用串行总线端口为测试端口。接着依照此测试方法的顺序再执行步骤S104至S106,以进行另一个通用串行总线端口的测试。在测试时,此测试端口的测试模式可以与上一个测试端口相同,也可以与上一个测试端口不同,在此可以为本领域通常知识者及使用者的设计及需求而有所不同。当再次执行步骤S106时,此时所有的通用串行总线端口皆测试过了,则步骤S106的判断结果会为“是”,此判断结果会结束此测试方法。
上述的例子是为假设通用串行总线端口为2的时候,当控制芯片上的通用串行总线端口为3个、4个至多个时,同样可以依照上述实施例的流程来对控制芯片上所有的通用串行总线端口进行测试。除此之外,步骤S103及步骤S104的执行顺序亦可依照本领域通常知识者及使用者的设计及需求而加以更动。换言之,在一些实施例中,可以先选择所要进行的测试模式,选定测试模式后,再选择所要测试的通用串行总线端口。接着,对控制芯片下达测试指令以进行此测试模式,当控制芯片上所有的通用串行总线端口都进行过此测试模式时,则结束本测试方法。
另外,在其它一些实施例中,并不会对控制芯片上所有的通用串行总线端口进行测试,而是选择部份通用串行总线端口作为测试端口。而各个测试端口的测试内容可以依据本领域通常知识者及使用者的设计及需求而相同或不同。举例来说,假设控制芯片上有3个通用串行总线端口,分别编号为“a”、 “b”、 “c”。在此可只选择“b”及“c”来进行测试,以及选择所要进行的测试模式,而测试的方法可以使用上述实施例的其中之一来进行,其中此选择的动作可依上述实施例所述,可由测试人员经由选择画面来点选或输入参数来设定,亦可由软件预设的参数来执行。藉此,可以减少机台测试人员的训练成本,以加速产品的测试线的建立。
另外,依据图1A的实施例,在此可提出另一实施例,可以先对测试端口测试完所有的测试模式,再选择下一个所要测试的通用串行总线端口。图1B为依据本发明一实施例所绘示的通用串行总线测试方法的流程图。请参照图1A与图1B,其最大的不同之处为本实施例的步骤S107。本实施例的步骤S101~S105如图1A实施例相同,故不再赘述。当本实施例执行完步骤S105时,接着会执行步骤S107,以判断是否测试完所有的测试模式。上述实施例提及四种测试模式,在此时只执行完一种测试模式,所以判断结果会为“否”,接着再回到步骤S104,以进行下一个测试模式(步骤S104~S105)。等到步骤S107被第四次执行时,代表所有的测试模式都测试过了,此时判断结果会为“是”,接着则执行步骤S106。而接下来执行的步骤亦会如图1A实施例所示相同,其最大的差别在于本实施例会对每一个测试端口进行完所有测试模式的测试,再选择下一所要测试的通用串行总线端口进行测试。
同样地,本实施例的步骤S103及步骤S104,以及步骤S106及步骤S107,其执行顺序亦可依照本领域通常知识者及使用者的设计及需求而相对应的更动。换言之,亦可先选择测试模式,再选择所要测试的通用串行总线端口。接着对控制芯片下达测试指令以进行此测试模式,当控制芯片上所有的通用串行总线端口都进行过此测试模式时,则进行下一个测试模式。接着,当所有的测试模式在控制芯片上所有的通用串行总线端口都进行过时,则结束本测试方法。
依据上述提及控制芯片包含通用串行总线控制器,亦可以先选择通用串行总线控制器,再选择控制器上的通用串行总线端口,因此可提出另一个实施例。图2A为依据本发明再一实施例所绘示的通用串行总线测试方法的流程图。请参照图1及图2,图2实施例中的步骤S201与图1实施例中的步骤S101相同,其不同之处于本实施例的信息包括控制芯片的型号、和每个通用串行总线控制器的通用串行总线端口的数量。
接着,步骤S202至步骤S207会依照顺序执行。首先,先取得此待测机台上通用串行总线控制器的数量(步骤S202),接着选择所述通用串行总线控制器的其中之一为待测试控制器(步骤S203)。然后,取得此待测试控制器上的通用串行总线端口的数量(步骤S204),并选择所述通用串行总线端口的其中之一为测试端口(步骤S205)。接下来就是选择此测试端口的测试模式(步骤S206),以及对此控制芯片下达测试指令,来触发此控制芯片对此测试端口进行测试(步骤S207)。完成上述动作即完成一个通用串行总线端口的测试,接着会判断在此通用串行总线控制器是否还有的通用串行总线端口未测试(步骤S208)。
承上述,在步骤S208中会判断待测试控制器上所有的通用串行总线端口是否测试完成,如果在待测试控制器中还有其它未测试的通用串行总线端口时,则判断结果为“否”,接着执行步骤S205以选择待测试控制器的下一个通用串行总线端口作为测试端口;反之,则判断结果为“是”,此判断结果表示此通用串行总线控制器上所有的通用串行总线端口都测试过了,接着执行步骤S209。同样地,当执行到步骤S209时会判断控制芯片上所有的通用串行总线控制器是否都测试完成,如果控制芯片上还有通用串行总线控制器未完成测试,则判断结果为“否”,接着执行步骤S203以选择下一个通用串行总线控制器作为待测试控制器;反之,则判断结果为“是”,此判断结果表示所有通用串行总线控制器上的所有通用串行总线端口都测试完成,接着结束此测试方法。
若假设本实施例的通用串行总线控制器数量为1时,其流程会与图1实施例相同,故不在此述叙此情况。在此则假设通用串行总线控制器数量为2,且各个通用串行总线控制器的通用串行总线端口皆为2。在此假设下,本实施例的步骤S205至S208的动作会类似如图1实施例的步骤S103至S106,故不在此赘述。接着第一次执行步骤S209时,此时第一个通用串行总线控制器上的所有通用串行总线端口皆测试完成,但还有另一个通用串行总线控制器要进行测试,其判断结果会为“否”,接着执行步骤S203以进行另一个通用串行总线控制器的测试。当再次执行步骤S209时,代表此控制芯片中所有的通用串行总线控制器皆完成测试,此时其判断结果会为“是”,以结束本测试方法。
另外,当上述实施例的控制芯片上的通用串行总线控制器增加为3个、4个至多个时,同样可以依照上述实施例的流程来对控制芯片上所有的通用串行总线控制器上的通用串行总线端口进行测试。并且,控制芯片上的通用串行总线控制器的数量及各通用串行总线控制器的通用串行总线端口的数量会依照本领域通常知识者的设计及使用者的需求而变动,同样可藉由上述实施例来进行测试。
除此之外,若将步骤S206置于步骤S205之前执行,就会在同一测试模式下,测试完同一个通用串行总线控制器所有的通用串行总线端口后,再对下一个通用串行总线控制器进行测试,而不同的通用串行总线控制器可以执行相同或不同的测试模式,并以此方式测试所有的通用串行总线控制器。接着,若将步骤S206置于步骤S203之后执行,就是先选择通用串行总线控制器,再选择测试模式,此方式的效果则会与上述实施列相同。另外,若是将步骤S206置于步骤S203之前执行,则会先选择测试模式,用此测试模式测试完各个通用串行总线控制器上所有的通用串行总线端口。
另外,依据图2A的实施例,在此可提出另一实施例,可先对的同一个测试端口进行所有测试模式,待测试完成后再进行下一个测试端口的测试。图2B为依据本发明更一实施例所绘示的通用串行总线测试方法的流程图。请参照图2A及图2B,其最大的不同之处为本实施例的步骤S210。本实施例的步骤S201~S207如图2A实施例相同,故不再赘述。当本实施例执行完步骤S207时,接着会执行步骤S210,以判断是否测试完所有的测试模式。上述实施例提及四种测试模式,在此时只执行完一种测试模式,所以判断结果会为“否”,接着再回到步骤S206,以进行下一个测试模式(步骤S206~S207)。等到步骤S210被第四次执行时,代表所有的测试模式都测试过了,此时判断结果会为“是”,接着则执行步骤S208。接下来执行的步骤亦会如图2A实施例所示相同,其最大的差别在于本实施例会对每一个测试端口进行完所有测试模式的测试,再选择下一所要测试的通用串行总线端口进行测试。
同样地,依据图2B的实施例,若将步骤S206置于步骤S205之前执行,以及将步骤S2 10置于步骤S208之后执行,本测试方法就会在同一测试模式下,测试完同一个通用串行总线控制器所有的通用串行总线端口后,再对此通用串行总线控制器进行下一个测试模式,当此通用串行总线控制器皆进行过所有测试模式时,则测试下一个通用串行总线控制器,以此方式测试所有的通用串行总线控制器所有的通用串行总线端口。接着,若将步骤S206置于步骤S203之后执行,以及将步骤S210置于步骤S208之后执行,此测试方法的效果则会与上述实施列相同。另外,若是将步骤S206置于步骤S203之前执行,以及将步骤S210置于步骤S209之后执行,则此测试方法会为先选择一个测试模式,用此测试模式测试完各个通用串行总线控制器上所有的通用串行总线端口,再进行下一个测试模式的测试,以此方式测试所有的通用串行总线控制器。
值得一提的是,其它实施例的测试方法,可以只选择部份通用串行总线控制器上的部份通用串行总线端口,以部份或全部的测试模式来进行测试。同样可以达到所需求的测试功能。举例来说,假设控制芯片上有3个通用串行总线控制器,依序编号为“1”、 “2”、 “3”,并且各个通用串行总线控制器有2个通用串行总线端口,分别称为“A”、“B”,所以“1A”及“1B”为代表通用串行总线控制器表“1”上的2个通用串行总线端口“A”与“B”,其余则以此类推。在此可只选择通用串行总线端口“2A”及“3B”来进行测试,以及选择所要进行的测试模式,而测试的方法可以使用上述实施例的其中之一来进行,其中此选择的动作可依上述实施例所述,可由测试人员经由选择画面来点选或输入参数来设定,亦可由软件预设的参数来执行。藉此,同样可以减少机台测试人员的训练成本,以加速产品的测试线的建立。
综上所述,本发明实施例的通用串行总线测试方法,可运行于DOS操作系统底下,直接取得控制芯片的信息,依据此信息对控制芯片下达测试指令,以对测试端口进行测试。所以,可不须透过驱动软件即可进行测试通用串行总线,和达到可跨平台测试的功能。并且,可藉由软件预设的参数来进行部份或所有的通用串行总线端口的测试,以减少机台测试人员的训练成本。
以上所述,仅是本发明的较佳实施例而已,并非对本发明作任何形式上的限制,虽然本发明已以较佳实施例揭露如上,然而并非用以限定本发明,任何熟悉本专业的技术人员,在不脱离本发明技术方案范围内,当可利用上述揭示的结构及技术内容作出些许的更动或修饰为等同变化的等效实施例,但是凡是未脱离本发明技术方案的内容,依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均仍属于本发明技术方案的范围内。
Claims (9)
1、一种通用串行总线测试方法,其特征在于包括下列步骤:
取得待测机台上控制芯片的信息;
依据该信息以取得该控制芯片的通用串行总线端口的数量;
选择所述通用串行总线端口的其中之一为测试端口;以及
对该控制芯片下达测试指令,以触发该控制芯片对该测试端口进行测试。
2、根据权利要求1所述的通用串行总线测试方法,其特征在于其依据该信息以取得该控制芯片的通用串行总线端口的数量的步骤包括:
依据该信息取得该待测机台上的通用串行总线控制器的数量;
指定所述通用串行总线控制器的其中之一为待测试控制器;以及
依据该信息取得该待测试控制器上的通用串行总线端口的数量。
3、根据权利要求1所述的通用串行总线测试方法,其特征在于,更包括:
选择测试模式。
4、根据权利要求3所述的通用串行总线测试方法,其特征在于其测试模式包括Test J_State、Test K_State、Test SEO_NEK和Test Packet。
5、根据权利要求1所述的通用串行总线测试方法,其特征在于其控制芯片为南桥控制芯片。
6、根据权利要求1所述的通用串行总线测试方法,其特征在于其信息包括该控制芯片的型号。
7、根据权利要求1所述的通用串行总线测试方法,其特征在于其待测机台为计算机。
8、根据权利要求7所述的通用串行总线测试方法,其特征在于其计算机是在DOS操作系统中进行所述通用串行总线的测试方法。
9、根据权利要求7所述的通用串行总线测试方法,其特征在于其计算机包括膝上型计算机、台式计算机及个人数字助理。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CNA2008100996360A CN101604276A (zh) | 2008-06-13 | 2008-06-13 | 通用串行总线测试方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CNA2008100996360A CN101604276A (zh) | 2008-06-13 | 2008-06-13 | 通用串行总线测试方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN101604276A true CN101604276A (zh) | 2009-12-16 |
Family
ID=41470015
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CNA2008100996360A Pending CN101604276A (zh) | 2008-06-13 | 2008-06-13 | 通用串行总线测试方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN101604276A (zh) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012031486A1 (zh) * | 2010-09-09 | 2012-03-15 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种移动终端 |
CN103136083A (zh) * | 2011-11-29 | 2013-06-05 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 通用串行总线的测试设备及方法 |
CN107590034A (zh) * | 2016-07-08 | 2018-01-16 | 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司 | I2c主机适配器系统 |
CN109388528A (zh) * | 2017-08-04 | 2019-02-26 | 神讯电脑(昆山)有限公司 | Usb测试方法及usb装置的测试治具 |
CN109407655A (zh) * | 2018-12-27 | 2019-03-01 | 北京中星微电子有限公司 | 一种调试芯片的方法及装置 |
CN109408443A (zh) * | 2017-08-18 | 2019-03-01 | 神讯电脑(昆山)有限公司 | 电子装置及其通讯方法 |
CN109541434A (zh) * | 2018-11-07 | 2019-03-29 | 广州三星通信技术研究有限公司 | 电子设备的测试电路和测试方法 |
-
2008
- 2008-06-13 CN CNA2008100996360A patent/CN101604276A/zh active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012031486A1 (zh) * | 2010-09-09 | 2012-03-15 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种移动终端 |
CN103136083A (zh) * | 2011-11-29 | 2013-06-05 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 通用串行总线的测试设备及方法 |
CN107590034A (zh) * | 2016-07-08 | 2018-01-16 | 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司 | I2c主机适配器系统 |
CN109388528A (zh) * | 2017-08-04 | 2019-02-26 | 神讯电脑(昆山)有限公司 | Usb测试方法及usb装置的测试治具 |
CN109408443A (zh) * | 2017-08-18 | 2019-03-01 | 神讯电脑(昆山)有限公司 | 电子装置及其通讯方法 |
CN109541434A (zh) * | 2018-11-07 | 2019-03-29 | 广州三星通信技术研究有限公司 | 电子设备的测试电路和测试方法 |
CN109541434B (zh) * | 2018-11-07 | 2021-02-23 | 广州三星通信技术研究有限公司 | 电子设备的测试电路和测试方法 |
CN109407655A (zh) * | 2018-12-27 | 2019-03-01 | 北京中星微电子有限公司 | 一种调试芯片的方法及装置 |
CN109407655B (zh) * | 2018-12-27 | 2021-05-25 | 重庆中星微人工智能芯片技术有限公司 | 一种调试芯片的方法及装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101604276A (zh) | 通用串行总线测试方法 | |
US7305654B2 (en) | Test schedule estimator for legacy builds | |
JP2009085622A (ja) | 試料分析装置およびデータ処理装置 | |
CN104915297B (zh) | 一种android设备的APP耗电量的自动化测试方法 | |
CN103389956A (zh) | 用于动态优化内部集成电路总线的总线频率的方法和电路 | |
EP2946252A1 (en) | Automated input simulation for simulated programmable logic controller | |
US20080209375A1 (en) | Variable Threshold System and Method For Multi-Corner Static Timing Analysis | |
CN102968371A (zh) | 测试java api单元组件的方法及装置 | |
TWI476587B (zh) | 測試電子裝置之功能的測試方法以及測試裝置 | |
CN110673842A (zh) | 一种可视化编程方法及系统、存储介质、设备 | |
US20050044438A1 (en) | Trace data processing apparatus and method | |
CN114281624A (zh) | 一种i2c信号完整性的测试方法、系统、装置及设备 | |
CN102289399A (zh) | 计算机主板测试系统及测试方法 | |
EP3385798B1 (en) | Information processing device, information processing method, and information processing program | |
US20170277613A1 (en) | Multiple mode testing in a vector memory restricted test environment | |
US20080315862A1 (en) | Smart parallel controller for semiconductor experiments | |
CN103345454B (zh) | 一种移动终端的外设连接方法 | |
CN103019944A (zh) | 基于代码注入方式的测试方法和装置 | |
US20030093174A1 (en) | Fabrication process control system emulator | |
CN104461603A (zh) | 一种信息处理方法及电子设备 | |
CN204043759U (zh) | 液位传感器自动测试装置 | |
CN1770119A (zh) | 嵌入式设备调试方法及其调试工具 | |
KR101283026B1 (ko) | 통합 제어시스템의 실시간 제어장치 및 방법 | |
CN103019930A (zh) | 一种针对含有时间控制的plc程序自动测试的方法 | |
CN100375955C (zh) | 使用计算机的程序编写装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Open date: 20091216 |