CN109541434A - 电子设备的测试电路和测试方法 - Google Patents

Abstract

提供一种电子设备的测试电路和测试方法，所述测试电路包括第一接口模块、第二接口模块和识别芯片，其中，第一接口模块用于在对电子设备的电路板进行测试时，获取与第一接口模块相连接的电路板测试设备的接口信息，并发送电路板测试设备的接口信息到识别芯片；第二接口模块用于在对电子设备的整机进行测试时，获取与第二接口模块相连接的整机测试设备的接口信息，并发送整机测试设备的接口信息到识别芯片；识别芯片用于识别电路板测试设备的接口信息以得到电路板测试设备的接口类型，并将接口类型发送给电子设备的中央处理器，或者，识别芯片用于识别整机测试设备的接口信息以得到整机测试设备的接口类型。

Description

电子设备的测试电路和测试方法

技术领域

本发明总体来说涉及电子设备测试领域，更具体地讲，涉及一种电子设备的测试电路和测试方法。

背景技术

通常，电子设备在出厂之前要进行相关测试以保证电子设备的质量，例如，可以分别对电子设备的电路板和整机进行工程测试，在现有技术中，针对电子设备的电路板工程测试和整机工程测试需要设计两套不同的工程测试电路。例如，如图1所示，在电子设备的电路板工程测试的过程中需要电路板工程测试控制芯片来参与，整机工程测试的过程中需要整机工程测试芯片来参与。

然而，电路板工程测试控制芯片和整机工程测试芯片均是定制芯片，价格较高，并且，电路板工程测试控制芯片和整机工程测试芯片均设置在电子设备的电路板上，占用了较多的电子设备的电路板的空间，使得电子设备的电路板的布局空间紧张。

发明内容

本发明的示例性实施例在于提供一种电子设备的测试电路和测试方法，其能够克服现有技术中电路板工程测试芯片和整机工程测试芯片占用电子设备空间较多的缺陷。

根据本发明的示例性实施例的一方面，提供一种电子设备的测试电路，其特征在于，所述测试电路包括第一接口模块、第二接口模块和识别芯片，其中，所述第一接口模块用于在对所述电子设备的电路板进行测试时，获取与所述第一接口模块相连接的电路板测试设备的接口信息，并发送所述电路板测试设备的接口信息到所述识别芯片；所述第二接口模块用于在对所述电子设备的整机进行测试时，获取与所述第二接口模块相连接的整机测试设备的接口信息，并发送所述整机测试设备的接口信息到所述识别芯片；所述识别芯片用于识别所述电路板测试设备的接口信息以得到所述电路板测试设备的接口类型，并将所述接口类型发送给所述电子设备的中央处理器，以使所述中央处理器基于所述接口类型开启相应的数据端口，或者，所述识别芯片用于识别所述整机测试设备的接口信息以得到所述整机测试设备的接口类型，并将所述接口类型发送给所述电子设备的中央处理器，以使所述中央处理器基于所述接口类型开启相应的数据端口。

可选地，在测试过程中，当所述中央处理器开启相应的数据端口后，所述第一接口模块和/或所述第二接口模块还用于将获取的测试信号经由所述中央处理器开启的数据端口发送给所述中央处理器或者接收所述中央处理器返回的测试结果信号。

可选地，当对所述电子设备的整机进行测试时，所述测试电路还包括切换模块，其中，所述切换模块响应于从所述中央处理器获取的预定端口开启指令开启相应的预定端口，其中，在测试过程中，所述切换模块经由开启的预定端口接收测试信号或者接收测试结果信号。

可选地，当对所述电子设备的电路板进行测试时，所述第一接口模块为用于电路板测试的金手指；当对所述电子设备的整机进行测试时，所述第二接口模块为USB Type-C连接器。

可选地，所述测试信号包括通用串行总线数据测试信号和通用串口总线数据测试信号。

可选地，所述第一接口模块包括：第一端口，用于发送第一通用串行总线正电压数据测试信号，或者，用于接收第一通用串行总线正电压数据测试结果信号；第二端口，用于发送第一通用串行总线负电压数据测试信号，或者，用于接收第一通用串行总线负电压数据测试结果信号；第三端口，用于发送通用串口总线数据测试信号；第四端口，用于接收通用串口总线数据测试结果信号；第五端口，用于将获取的与所述第一接口模块相连接的电路板测试设备的接口信息发送到所述识别芯片。

可选地，所述第二接口模块包括：第六端口，用于发送第一通用串行总线正电压数据测试信号，或者，用于接收第一通用串行总线正电压数据测试结果信号；第七端口，用于发送第一通用串行总线负电压数据测试信号，或者，用于接收第一通用串行总线负电压数据测试结果信号；第八端口，用于发送通用串口总线数据测试信号，或者，用于发送第二通用串行总线数据测试信号；第九端口，用于接收通用串口总线数据结果测试信号，或者，用于接收第二通用串行总线数据测试结果信号；第十端口，用于将获取的与所述第二接口模块相连接的电路板测试设备的接口信息发送到所述识别芯片。

可选地，所述切换模块包括：第十一端口，用于从所述中央处理器获取预定端口开启指令；第十二端口，用于接收所述第二接口模块向所述切换模块发送的通用串口总线数据测试信号，或者，用于接收所述第二接口模块向所述切换模块发送的第二通用串行总线数据测试信号；第十三端口，用于发送所述切换模块向所述第二接口模块发送的通用串口总线数据测试结果信号，或者，用于发送所述切换模块向所述第二接口模块发送的第二通用串行总线数据测试结果信号；第十四端口，用于将从所述第二接口模块接收的通用串口总线测试信号发送给所述中央处理器；第十五端口，用于接收从所述中央处理器接收的通用串口总线测试结果信号；第十六端口，用于将从所述第二接口模块接收的第二通用串行总线测试信号发送给所述中央处理器；第十七端口，用于将接收从所述中央处理器接收的第二通用串行总线测试结果信号。

可选地，所述测试芯片包括：第十八端口，用于接收与所述第一接口模块相连接的电路板测试设备的接口信息或者接收与所述第二接口模块相连接的整机测试设备的接口信息；第十九端口，用于将所述电路板测试设备或者所述整机测试设备的接口类型发送给所述中央处理器。

根据本发明示例性实施例的另一方面，提供一种电子设备的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：在对所述电子设备的电路板进行测试时，由第一接口模块获取与所述第一接口模块相连接的电路板测试设备的接口信息，并发送所述电路板测试设备的接口信息到识别芯片；在对所述电子设备的整机进行测试时，由第二接口模块获取与所述第二接口模块相连接的整机测试设备的接口信息，并发送所述整机测试设备的接口信息到识别芯片；由所述识别芯片用于识别所述电路板测试设备的接口信息以得到所述电路板测试设备的接口类型，并将所述接口类型发送给所述电子设备的中央处理器，以使所述中央处理器基于所述接口类型开启相应的数据端口，或者，由所述识别芯片用于识别所述整机测试设备的接口信息以得到所述整机测试设备的接口类型，并将所述接口类型发送给所述电子设备的中央处理器，以使所述中央处理器基于所述接口类型开启相应的数据端口。

可选地，在测试过程中，当所述中央处理器开启相应的数据端口后，由所述第一接口模块和/或所述第二接口模块还用于将获取的测试信号经由所述中央处理器开启的数据端口发送给所述中央处理器或者接收所述中央处理器返回的测试结果信号。

可选地，当对所述电子设备的整机进行测试时，所述方法还包括：由切换模块响应于从所述中央处理器获取的预定端口开启指令开启相应的预定端口，其中，在测试过程中，由所述切换模块经由开启的预定端口接收测试信号或者接收测试结果信号。

可选地，当对所述电子设备的电路板进行测试时，由所述第一接口模块为用于电路板测试的金手指；当对所述电子设备的整机进行测试时，所述第二接口模块为USBType-C连接器。

可选地，所述测试信号包括通用串行总线数据测试信号和通用串口总线数据测试信号。

在根据本发明示例性实施例的电子设备的测试电路和测试方法中，可以使用一个识别芯片实现对电路板或整机进行工程测试，不仅降低了电子设备的造价，还节省了电子设备的电路板的布局空间，为后续电子设备的电路板的进一步改进奠定了有利的基础。

将在接下来的描述中部分阐述本发明总体构思另外的方面和/或优点，还有一部分通过描述将是清楚的，或者可以经过本发明总体构思的实施而得知。

附图说明

通过下面结合示例性地示出实施例的附图进行的详细描述，本发明示例性实施例的上述和其他目的将会变得更加清楚，其中：

图1示出现有技术中电子设备的测试电路的结构图；

图2示出根据本发明示例性实施例的电子设备的测试电路的结构图；

图3示出根据本发明另一示例性实施例的电子设备的测试电路的结构图；

图4示出根据本发明示例性实施例的电子设备的测试电路的示例；

图5示出根据本发明另一示例性实施例的电子设备的测试电路的示例；

图6示出根据本发明示例性实施例的电子设备的测试方法的流程图。

具体实施方式

现将详细参照本发明的示例性实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中，相同的标号始终指的是相同的部件。以下将通过参照附图来说明所述实施例，以便解释本发明。

图2示出根据本发明示例性实施例的电子设备的测试电路的结构图。这里，作为示例，所述电子设备可以是智能手机、平板电脑、个人计算机、游戏机、多媒体播放器等电子设备。

如图2所示，根据本发明示例性实施例的电子设备的测试电路包括：第一接口模块10、第二接口模块20和识别芯片30。

具体说来，在对电子设备的电路板进行测试时，所述第一接口模块10获取与所述第一接口模块10相连接的电路板测试设备的接口信息，并发送所述电路板测试设备的接口信息到所述识别芯片30。然后，所述识别芯片30识别电路板测试设备的接口信息以得到电路板测试设备的接口类型，并将接口类型发送给电子设备的中央处理器40以使所述中央处理器40基于所述接口类型开启相应的数据端口。作为示例，所述第一接口模块10可以为用于电路板测试的金手指，这里，应理解，所述第一接口模块10也可以是其他任何可以实现电路板测试的接口模块，本发明在此不做任何限定。

在对所述电子设备的整机进行测试时，获取与所述第二接口模块20相连接的整机测试设备的接口信息，并发送所述整机测试设备的接口信息到所述识别芯片30，然后，所述识别芯片30用于识别所述整机测试设备的接口信息以得到所述整机测试设备的接口类型，并将所述接口类型发送给所述电子设备的中央处理器40，以使所述中央处理器40基于所述接口类型开启相应的数据端口。作为示例，所述第二接口模块20可以为USB Type-C连接器，这里，应理解，所述第二接口模块20可以为其他任何可以实现整机测试的接口模块，本发明在此不做任何限定。

相应地，作为示例，在测试过程中，当所述中央处理器40开启相应的数据端口后，所述第一接口模块10和/或所述第二接口模块20还用于将获取的测试信号经由所述中央处理器40开启的数据端口发送给所述中央处理器40或者接收所述中央处理器40返回的测试结果信号。

作为示例，所述测试信号可以包括通用串行总线数据测试信号和通用串口总线数据测试信号。这里，通用串行总线数据测试信号可以是通用串行总线标准下不同版本的通用串行总线数据测试信号，例如，USB2.0测试信号、USB3.0测试信号、USB3.1测试信号等。通用串口总线数据测试信号可以是通用异步收发传输器信号，例如，UART信号等。

通过上述方式，可以使用一个识别芯片实现对电路板和整机进行工程测试，不仅降低了电子设备的造价，还节省了电子设备的电路板的布局空间，为后续电子设备的电路板的进一步改进奠定了有利基础。

此外，为了实际需要，当对所述电子设备的整机进行测试时，还可以增加一个切换模块来满足不同接口类型的设计需求。

图3示出根据本发明另一示例性实施例的电子设备的测试电路的结构图。

如图3所示，作为示例，当对所述电子设备的整机进行测试时，所述测试电路可还包括切换模块50，其中，在所述中央处理器40基于第二接口模块20发送的接口类型开启相应的数据端口后，还会向所述切换模块50发送预定端口开启指令，所述切换模块50响应于从所述中央处理器获取的预定端口开启指令开启相应的预定端口，其中，在测试过程中，所述切换模块50经由开启的预定端口接收测试信号或者接收测试结果信号。这里，所述测试信号同样是如上所述的通用串行总线数据测试信号和通用串口总线数据测试信号，在此不再赘述。

通过这种方式，可以在判断出整机测试设备的接口信息后，通过切换模块来切换到相应的接口来传输测试信号和测试结果信号。

下面将结合具体的示例来描述根据本发明示例性实施例的电子设备的测试电路的示例。

图4示出根据本发明示例性实施例的电子设备的测试电路的示例。

如图4所示，在一个示例性实施例中，所述第一接口模块10包括：第一端口111、第二端口112、第三端口113、第四端口114和第五端口115。

这里，作为示例，第五端口115用于将获取的与所述第一接口模块10相连接的电路板测试设备的接口信息发送到所述识别芯片30。

第一端口111用于发送第一通用串行总线正电压数据测试信号，或者，用于接收第一通用串行总线正电压数据测试结果信号。第二端口112用于发送第一通用串行总线负电压数据测试信号，或者，用于接收第一通用串行总线负电压数据测试结果信号。例如，第一通用串行总线数据信号可以是USB2.0信号。

此外，第三端口113用于发送通用串口总线数据测试信号。第四端口114用于接收通用串口总线数据测试结果信号。这里，串口总线数据测试信号可以是UART信号。

作为示例，所述第二接口模块20包括：第六端口211、第七端口212、第八端口213、第九端口214和第十端口215。

这里，作为示例，第十端口215用于将获取的与所述第二接口模块20相连接的电路板测试设备的接口信息发送到所述识别芯片30。

第六端口211用于发送第一通用串行总线正电压数据测试信号，或者，用于接收第一通用串行总线正电压数据测试结果信号；第七端口212用于发送第一通用串行总线负电压数据测试信号，或者，用于接收第一通用串行总线负电压数据测试结果信号。例如，第一通用串行总线数据信号可以是USB2.0信号。

此外，第八端口213用于发送通用串口总线数据测试信号。第九端口214用于接收通用串口总线数据结果测试信号。这里，串口总线数据测试信号可以是UART信号。

所述测试芯片30包括第十八端口311和第十九端口312。

这里，作为示例，第十八端口311用于接收与所述第一接口模块10相连接的电路板测试设备的接口信息或者接收与所述第二接口模块20相连接的整机测试设备的接口信息；第十九端口312用于将所述电路板测试设备或者所述整机测试设备的接口类型发送给所述中央处理器30。

具体说来，可以根据特定的通信协议来通过电路板测试设备的接口信息来判断出与所述第一接口模块10相连接的电路板测试设备的接口信息，例如，可以根据电路板工程测试协议来通过电路板测试设备的接口信息来判断出与所述第一接口模块10相连接的电路板测试设备的接口信息，然后，在中央处理器40接收到电路板测试设备的接口信息后开启相应的数据端口，从而对电路板进行测试时，可以通过第一端口111和第二端口112与中央处理器40对应的端口的连接传输相应的测试信号或测试结果信号，或者，可以通过第三端口113和第四端口114与中央处理器40对应的端口的连接传输相应的测试信号或测试结果信号。

例如，假设识别芯片30识别出所述电路板测试设备的接口信息为USB接口，则中央处理器40开启相应的端口，电路板测试设备发送USB_D+信号和USB_D-信号，第一接口111和第二接口112分别将USB_D+信号和USB_D-信号发送给中央处理器40，中央处理器40对接收到的USB_D+信号和USB_D-信号进行处理，并通过相应的端口将AP_USB_D+结果信号和AP_USB_D-结果信号返回给第一端口111和第二端口112，从而使电路板测试设备获取并使用AP_USB_D+结果信号和AP_USB_D-结果信号来完成电路板测试。

此外，可以根据特定的通信协议来通过电路板测试设备的接口信息来判断出与所述第一接口模块20相连接的电路板测试设备的接口信息，例如，可以根据整机工程测试协议来通过电路板测试设备的接口信息来判断出与所述第一接口模块20相连接的电路板测试设备的接口信息，然后，在中央处理器40接收到电路板测试设备的接口信息后开启相应的数据端口，从而对整机进行测试时，可以通过第六端口211和第七端口212与中央处理器40对应的端口的连接传输相应的测试信号或测试结果信号，或者，可以通过第八端口213和第九端口214与中央处理器40对应的端口的连接传输相应的测试信号或测试结果信号。

例如，假设识别芯片30识别出所述整机测试设备的接口信息为UART接口，则中央处理器40开启相应的端口，电路板测试设备发送UART信号，第六接口211将UART信号发送给中央处理器40，中央处理器40对接收到的UART信号进行处理，并通过相应的端口将UART结果信号返回给第七端口212，从而使电路板测试设备获取并使用UART结果信号来完成电路板测试。

所述测试芯片30包括第十八端口311和第十九端口312。

这里，作为示例，第十八端口311用于接收与所述第一接口模块相连接的电路板测试设备的接口信息或者接收与所述第二接口模块相连接的整机测试设备的接口信息；第十九端口312用于将所述电路板测试设备或者所述整机测试设备的接口类型发送给所述中央处理器。

通过上述方式，可以使用一个识别芯片实现对电路板和整机进行工程测试，不仅降低了电子设备的造价，还节省了电子设备的电路板的布局空间，为后续电子设备的电路板的进一步改进奠定了有利基础。

图5示出根据本发明另一示例性实施例的电子设备的测试电路的示例。

如图5所示，在另一个示例性实施例中，由于第二接口模块20可适应高版本的通用串行总线数据测试信号，因此，所述电子设备的测试电路可还包括切换模块50，这里，第一接口电路10和第二接口电路20与上一示例结构相同，在此不再赘述。

此外，第二接口电路20中的第八端口213还用于发送第二通用串行总线数据测试信号；第九端口214还用于接收串行总线数据测试结果信号。

作为示例，所述切换模块50包括第十一端口511、第十二端口512、第十三端口513、第十四端口514、第十五端口515、第十六端口516和第十七端口517。

这里，第十一端口511用于从所述中央处理器40获取预定端口开启指令；第十二端口512用于接收所述第二接口模块20向所述切换模块50发送的通用串口总线数据测试信号，或者，用于接收所述第二接口模块20向所述切换模块50发送的第二通用串行总线数据测试信号；第十三端口513用于发送所述切换模块50向所述第二接口模块20发送的通用串口总线数据测试结果信号，或者，用于发送所述切换模块50向所述第二接口模块20发送的第二通用串行总线数据测试结果信号；第十四端口514用于将从所述第二接口模块20接收的通用串口总线测试信号发送给所述中央处理器40；第十五端口515用于接收从所述中央处理器40接收的通用串口总线测试结果信号；第十六端口516用于将从所述第二接口模块20接收的第二通用串行总线测试信号发送给所述中央处理器40；第十七端口517用于将接收从所述中央处理器40接收的第二通用串行总线测试结果信号。作为示例，所述第二通用串行总线测试信号可以是USB3.1信号。

例如，假设识别芯片30识别出所述整机测试设备的接口信息为USB3.1接口，则中央处理器40开启相应的端口，并基于所述整机测试设备的接口信息确定切换模块50的预定端口开启指令，切换模块50经由第十一端口511在获取预定端口开启指令后，开启相应的第十二端口512、第十三端口513、第十六端口516和第十七端口517，并通过第十二端口512将从第二接口模块20的第八端口213接收USB3.1信号，并通过第十六端口516发送给中央处理器40，然后，中央处理器40对接收到的USB3.1信号进行处理，并通过第十七端口517从中央处理器40接收USB3.1结果信号，从而使整机测试设备使用USB3.1结果信号来完成整机测试。

图6示出根据本发明示例性实施例的电子设备的测试方法的流程图。这里，作为示例，所述电子设备可以是智能手机、平板电脑、个人计算机、游戏机、多媒体播放器等电子设备。

如图6所示，在对所述电子设备的电路板进行测试时，在步骤S10，由第一接口模块10获取与所述第一接口模块10相连接的电路板测试设备的接口信息，并发送所述电路板测试设备的接口信息到识别芯片30。然后，在步骤S20，由所述识别芯片30用于识别所述电路板测试设备的接口信息以得到所述电路板测试设备的接口类型，并将所述接口类型发送给所述电子设备的中央处理器40，以使所述中央处理器40基于所述接口类型开启相应的数据端口。作为示例，所述第一接口模块10可以为用于电路板测试的金手指，这里，应理解，所述第一接口模块10也可以是其他任何可以实现电路板测试的接口模块，本发明在此不做任何限定。

在对所述电子设备的整机进行测试时，在步骤S30，由第二接口模块20获取与所述第二接口模块相连接的整机测试设备的接口信息，并发送所述整机测试设备的接口信息到识别芯片30。然后，在步骤S40，由所述识别芯片30用于识别所述整机测试设备的接口信息以得到所述整机测试设备的接口类型，并将所述接口类型发送给所述电子设备的中央处理器40，以使所述中央处理器40基于所述接口类型开启相应的数据端口。作为示例，所述第二接口模块20可以为USB Type-C连接器，这里，应理解，所述第二接口模块20可以为其他任何可以实现整机测试的接口模块，本发明在此不做任何限定。

相应地，作为示例，在测试过程中，当所述中央处理器40开启相应的数据端口后，由所述第一接口模块10和/或所述第二接口模块20还用于将获取的测试信号经由所述中央处理器40开启的数据端口发送给所述中央处理器40或者接收所述中央处理器40返回的测试结果信号。

作为示例，所述测试信号可以包括通用串行总线数据测试信号和通用串口总线数据测试信号。这里，通用串行总线数据测试信号可以是通用串行总线标准下不同版本的通用串行总线数据测试信号，例如，USB2.0测试信号、USB3.0测试信号、USB3.1测试信号等。通用串口总线数据测试信号可以是通用异步收发传输器信号，例如，UART信号等。

通过上述方式，可以使用一个识别芯片实现对电路板和整机进行工程测试，不仅降低了电子设备的造价，还节省了电子设备的电路板的布局空间，为后续电子设备的电路板的进一步改进奠定了有利基础。

此外，为了实际需要，当对所述电子设备的整机进行测试时，还可以增加一个切换模块来满足不同接口类型的设计需求。

具体说来，当对所述电子设备的整机进行测试时，所述方法还包括切换端口的步骤(图6中未示出)，具体说来，由切换模块50响应于从所述中央处理器40获取的预定端口开启指令开启相应的预定端口，其中，在测试过程中，由所述切换模块50经由开启的预定端口接收测试信号或者接收测试结果信号。这里，所述测试信号同样是如上所述的通用串行总线数据测试信号和通用串口总线数据测试信号，在此不再赘述。通过这种方式，可以在判断出整机测试设备的接口信息后，通过切换模块来切换到相应的接口来传输测试信号和测试结果信号。

综上所述，在根据本发明示例性实施例的电子设备的测试电路和测试方法中，可以使用一个识别芯片实现对电路板或整机进行工程测试，不仅降低了电子设备的造价，还节省了电子设备的电路板的布局空间，为后续电子设备的电路板的进一步改进奠定了有利的基础。

尽管已经参照其示例性实施例具体显示和描述了本发明，但是本领域的技术人员应该理解，在不脱离权利要求所限定的本发明的精神和范围的情况下，可以对其进行形式和细节上的各种改变。

Claims (10)

1.一种电子设备的测试电路，其特征在于，所述测试电路包括第一接口模块、第二接口模块和识别芯片，其中，

所述第一接口模块用于在对所述电子设备的电路板进行测试时，获取与所述第一接口模块相连接的电路板测试设备的接口信息，并发送所述电路板测试设备的接口信息到所述识别芯片；

所述第二接口模块用于在对所述电子设备的整机进行测试时，获取与所述第二接口模块相连接的整机测试设备的接口信息，并发送所述整机测试设备的接口信息到所述识别芯片；

所述识别芯片用于识别所述电路板测试设备的接口信息以得到所述电路板测试设备的接口类型，并将所述接口类型发送给所述电子设备的中央处理器，以使所述中央处理器基于所述接口类型开启相应的数据端口，或者，所述识别芯片用于识别所述整机测试设备的接口信息以得到所述整机测试设备的接口类型，并将所述接口类型发送给所述电子设备的中央处理器，以使所述中央处理器基于所述接口类型开启相应的数据端口。

2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，在测试过程中，当所述中央处理器开启相应的数据端口后，所述第一接口模块和/或所述第二接口模块还用于将获取的测试信号经由所述中央处理器开启的数据端口发送给所述中央处理器或者接收所述中央处理器返回的测试结果信号。

3.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，当对所述电子设备的整机进行测试时，所述测试电路还包括切换模块，

其中，所述切换模块响应于从所述中央处理器获取的预定端口开启指令开启相应的预定端口，

其中，在测试过程中，所述切换模块经由开启的预定端口接收测试信号或者接收测试结果信号。

4.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，当对所述电子设备的电路板进行测试时，所述第一接口模块为用于电路板测试的金手指；当对所述电子设备的整机进行测试时，所述第二接口模块为USB Type-C连接器。

5.如权利要求1或3所述的测试电路，其特征在于，所述测试信号包括通用串行总线数据测试信号和通用串口总线数据测试信号。

6.如权利要求5所述的测试电路，其特征在于，所述第一接口模块包括：

第一端口，用于发送第一通用串行总线正电压数据测试信号，或者，用于接收第一通用串行总线正电压数据测试结果信号；

第二端口，用于发送第一通用串行总线负电压数据测试信号，或者，用于接收第一通用串行总线负电压数据测试结果信号；

第三端口，用于发送通用串口总线数据测试信号；

第四端口，用于接收通用串口总线数据测试结果信号；

第五端口，用于将获取的与所述第一接口模块相连接的电路板测试设备的接口信息发送到所述识别芯片。

7.如权利要求6所述的测试电路，其特征在于，所述第二接口模块包括：

第六端口，用于发送第一通用串行总线正电压数据测试信号，或者，用于接收第一通用串行总线正电压数据测试结果信号；

第七端口，用于发送第一通用串行总线负电压数据测试信号，或者，用于接收第一通用串行总线负电压数据测试结果信号；

第八端口，用于发送通用串口总线数据测试信号，或者，用于发送第二通用串行总线数据测试信号；

第九端口，用于接收通用串口总线数据结果测试信号，或者，用于接收第二通用串行总线数据测试结果信号；

第十端口，用于将获取的与所述第二接口模块相连接的电路板测试设备的接口信息发送到所述识别芯片。

8.如权利要求7所述的测试电路，其特征在于，所述切换模块包括：

第十一端口，用于从所述中央处理器获取预定端口开启指令；

第十二端口，用于接收所述第二接口模块向所述切换模块发送的通用串口总线数据测试信号，或者，用于接收所述第二接口模块向所述切换模块发送的第二通用串行总线数据测试信号；

第十三端口，用于发送所述切换模块向所述第二接口模块发送的通用串口总线数据测试结果信号，或者，用于发送所述切换模块向所述第二接口模块发送的第二通用串行总线数据测试结果信号；

第十四端口，用于将从所述第二接口模块接收的通用串口总线测试信号发送给所述中央处理器；

第十五端口，用于接收从所述中央处理器接收的通用串口总线测试结果信号；

第十六端口，用于将从所述第二接口模块接收的第二通用串行总线测试信号发送给所述中央处理器；

第十七端口，用于将接收从所述中央处理器接收的第二通用串行总线测试结果信号。

9.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试芯片包括：

第十八端口，用于接收与所述第一接口模块相连接的电路板测试设备的接口信息或者接收与所述第二接口模块相连接的整机测试设备的接口信息；

第十九端口，用于将所述电路板测试设备或者所述整机测试设备的接口类型发送给所述中央处理器。

10.一种电子设备的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：

在对所述电子设备的电路板进行测试时，由第一接口模块获取与所述第一接口模块相连接的电路板测试设备的接口信息，并发送所述电路板测试设备的接口信息到识别芯片；

在对所述电子设备的整机进行测试时，由第二接口模块获取与所述第二接口模块相连接的整机测试设备的接口信息，并发送所述整机测试设备的接口信息到识别芯片；

由所述识别芯片用于识别所述电路板测试设备的接口信息以得到所述电路板测试设备的接口类型，并将所述接口类型发送给所述电子设备的中央处理器，以使所述中央处理器基于所述接口类型开启相应的数据端口，或者，由所述识别芯片用于识别所述整机测试设备的接口信息以得到所述整机测试设备的接口类型，并将所述接口类型发送给所述电子设备的中央处理器，以使所述中央处理器基于所述接口类型开启相应的数据端口。