CN101458355A - 一种cf显示面板以及加工方法 - Google Patents

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一种CF显示面板以及加工方法,它属于彩色滤光片加工技术领域,其特征在于它包括钠钙玻璃基板,在所述的钠钙玻璃基板上设置有二氧化硅SiO2膜层,在所述的二氧化硅SiO2层上再设置一层AlNd膜层;所述的钠钙玻璃基板设置二氧化硅SiO2层后的钠钙玻璃基板透过率为90.5~91.5%,二氧化硅SiO2膜厚为210~255,设置AlNd层后的钠钙玻璃基板的反射率89~92%、方阻0.6~0.8Ω/□、所述的AlNd膜层厚度为1000~1650。本发明克服了现有工艺技术中容易产生针孔超标、打弧、膜层均匀性差的缺陷,解决了彩色滤光片显示颜色异常、短路、开路等问题;本发明的CF显示面板方阻低、反射率高,表面质量良好,提高了合格率,降低了产品的生产成本。

Description

一种CF显示面板以及加工方法
技术领域:
本发明涉及一种CF显示面板以及加工方法,它属于彩色滤光片加工技术领域。
背景技术:
现有技术中的CF显示面板是指彩色滤光片,及Color Filter,简称“CF面板”,它被广泛应用于手机、数码相机、数码摄像机、PDA、MP4、车载显示屏、工业控制面板等。随着此类消费电子产品的市场需求不断增长,CF面板拥有广阔的市场前景,彩色滤光片的发展创造了良好的市场空间。彩色滤光片生产技术,包括盖光刻技术、清洗技术、膜厚控制技术、段差控制技术、线宽控制技术、总间距控制技术、图形对位精度控制、表面质量控制技术等,而CF基板镀SiO2+AlNd是彩色滤光片生产的关键技术,目前比较成熟的工艺方法其设备昂贵,加工难度比较高,因此导致了成品价格高居不下。而现有的一些比较简单的工艺方法均不成熟,容易产生针孔超标、打弧、膜层均匀性差的缺陷,导致彩色滤光片显示颜色异常、短路、开路等等不良,合格率偏低,严重影响彩色滤光片产品的质量。
发明内容:
本发明的目的在于提供一种加工工艺简单,加工成本低,膜层的方阻低、反射率高,表面质量良好的CF显示面板以及加工方法。
本发明的目的是这样实现的:
一种CF显示面板,其特征在于它包括钠钙玻璃基板,在所述的钠钙玻璃基板上设置有二氧化硅SiO2膜层,在所述的二氧化硅SiO2层上再设置一层AlNd膜层。
所述的钠钙玻璃基板设置二氧化硅SiO2层后的钠钙玻璃基板透过率为90.5~91.5%,二氧化硅SiO2膜厚为210
Figure A200810241332D0007174852QIETU
~255
Figure A200810241332D0007174852QIETU
,设置AlNd层后的钠钙玻璃基板的反射率89~92%、方阻0.6~0.8Ω/□、所述的AlNd膜层厚度为1000~1650
Figure A200810241332D0007174852QIETU
所述的CF显示面板的加工方法,其特征在于它包括如下的工艺步骤:
A:清洗装片:在进行镀膜之前对钠钙玻璃进行超声波预清洗,再使用平板清洗、热烘干燥后,上架装片镀膜,所述的装片使用专用铝框防止绕射;
B:镀膜:镀膜采用LHKJ立式全自动连续磁控溅射镀膜机,用于与氧化硅SiO的相反应的气体纯度O2为99.99%、溅射气体为铬Ar,纯度为99.99%;钠钙玻璃基片的加热温度为55~70℃,镀膜室传动速度频率为11~17Hz,加热时间为10~20分钟后,在4号室镀二氧化硅SiO2,二氧化硅SiO2溅射功率4500~4500W、氧气O2流量为20~30Sccm、铬Ar流量160~220Sccm、镀膜室真空度3.0*10-1Pa~4.5*10-1Pa之间,加热15~30分钟后镀AlNd膜层膜:总气压为0.30~0.45Pa,使用6个靶进行镀膜,镀膜室铬Ar流量为160~220Sccm、镀膜室真空度为3.0*10-1Pa~4.5*10-1Pa之间。
本发明的优选的工艺步骤:
A:清洗装片:在进行镀膜之前对钠钙玻璃进行超声波预清洗,再使用平板清洗、热烘干燥后,上架装片镀膜,装片使用专用铝框防止绕射;
B:镀膜:镀膜采用LHKJ立式全自动连续磁控溅射镀膜机,用于与氧化硅SiO的相反应的气体纯度氧气O2为99.99%、溅射气体为铬Ar,纯度为99.99%;钠钙玻璃基片加热温度为70℃,镀膜室传动速度频率为17Hz,加热时间10分钟后,在4号室镀SiO2,SiO2溅射功率4500W、氧气O2流量为30Sccm、铬Ar流量200~220Sccm、镀膜室真空度为4.0*10-1Pa~4.5*10-1Pa之间,加热15分钟后镀AlNd膜:总气压为0.40~0.45Pa,使用6个靶进行镀膜,镀膜室铬Ar流量为200~220Sccm、镀膜室真空度4.0*10-1Pa~4.5*10-1Pa之间;所产出的CF显示面板中的二氧化硅SiO2的膜厚为210
Figure A200810241332D0007174852QIETU
、SiO2透过率为90.5%、AlNd膜厚1550
Figure A200810241332D0007174852QIETU
、AlNd膜的反射率为89%、方阻为0.6Ω/□。
本发明的进一步的优选工艺步骤:
A:清洗装片:在进行镀膜之前对钠钙玻璃进行超声波预清洗,再使用平板清洗、热烘干燥后,上架装片镀膜,装片使用专用铝框防止绕射;
B:镀膜:镀膜采用LHKJ立式全自动连续磁控溅射镀膜机,用于与氧化硅SiO的相反应的气体纯度氧气O2为99.99%、溅射气体为铬Ar,纯度为99.99%;钠钙玻璃基片加热温度为65℃,镀膜室传动速度频率为14Hz,加热时间15分钟后,在4号室镀二氧化硅SiO2,二氧化硅SiO2溅射功率为4200W、氧气O2流量为25Sccm、铬Ar流量180~200Sccm、镀膜室真空度3.5*10-1Pa~4.0*10-1Pa之间,加热20分钟后镀AlNd膜膜:总气压为0.35~0.40Pa,使用6个靶进行镀膜,镀膜室Ar流量为180~200Sccm、镀膜室真空度3.5*10-1Pa~4.0*10-1Pa之间,所产出的CF显示面板中的二氧化硅SiO2膜厚为235
Figure A200810241332D0007174852QIETU
、二氧化硅SiO2透过率为91.5%、AlNd膜厚为1590
Figure A200810241332D0007174852QIETU
、AlNd膜的反射率为90.5%、方阻为0.7Ω/□。
本发明的另一个优选的工艺步骤:
A:清洗装片:在进行镀膜之前对钠钙玻璃进行超声波预清洗、再使用平板清洗、热烘干燥后,上架装片镀膜,装片使用专用铝框防止绕射;
B:镀膜:镀膜采用LHKJ立式全自动连续磁控溅射镀膜机,用于与氧化硅SiO的相反应的气体纯度氧气O2为99.99%、溅射气体为铬Ar,纯度为99.99%;钠钙玻璃基片加热温度为55℃,镀膜室传动速度频率为11Hz,加热时间20分钟后,在4号室镀SiO2,SiO2溅射功率4000W、氧气O2流量为20Sccm、铬Ar流量160~180Sccm、镀膜室真空度3.0*10-1Pa~3.5*10-1Pa之间,加热30分钟后镀AL膜:总气压为0.3~0.35Pa,使用6个靶进行镀膜,镀膜室铬Ar流量为160~180Sccm、镀膜室真空度3.0*10-1Pa~3.5*10-1Pa之间所产出的CF显示面板中的二氧化硅SiO2膜厚为255
Figure A200810241332D0007174852QIETU
、二氧化硅SiO2透过率为91%、AlNd膜厚为1650
Figure A200810241332D0007174852QIETU
、AlNd膜的反射率为92%、方阻为0.8Ω/□
本发明克服了现有工艺技术中容易产生针孔超标、打弧、膜层均匀性差的缺陷,解决了彩色滤光片显示颜色异常、短路、开路等问题,所生产出的CF显示面板的膜层方阻低、反射率高,表面质量良好,提高了合格率,降低了产品的生产成本。
具体实施方式:
实施例1:
A:清洗装片:在进行镀膜之前对钠钙玻璃进行超声波预清洗,再使用平板清洗、热烘干燥后,上架装片镀膜,装片使用专用铝框防止绕射;
B:镀膜:镀膜采用LHKJ立式全自动连续磁控溅射镀膜机,用于与氧化硅SiO的相反应的气体纯度氧气O2为99.99%、溅射气体为铬Ar,纯度为99.99%;钠钙玻璃基片加热温度为70℃,镀膜室传动速度频率为17Hz,加热时间10分钟后,在4号室镀SiO2,SiO2溅射功率4500W、氧气O2流量为30Sccm、铬Ar流量200~220Sccm、镀膜室真空度为4.0*10-1Pa~4.5*10-1Pa之间,加热15分钟后镀AlNd膜:总气压为0.40~0.45Pa,使用6个靶进行镀膜,镀膜室铬Ar流量为200~220Sccm、镀膜室真空度4.0*10-1Pa~4.5*10-1Pa之间;所产出的CF显示面板中的二氧化硅SiO2的膜厚为210
Figure A200810241332D0007174852QIETU
、SiO2透过率为90.5%、AlNd膜厚1550
Figure A200810241332D0007174852QIETU
、AlNd膜的反射率为89%、方阻为0.6Ω/□。
实施例2:
A:清洗装片:在进行镀膜之前对钠钙玻璃进行超声波预清洗,再使用平板清洗、热烘干燥后,上架装片镀膜,装片使用专用铝框防止绕射;
B:镀膜:镀膜采用LHKJ立式全自动连续磁控溅射镀膜机,用于与氧化硅SiO的相反应的气体纯度氧气O2为99.99%、溅射气体为铬Ar,纯度为99.99%;钠钙玻璃基片加热温度为65℃,镀膜室传动速度频率为14Hz,加热时间15分钟后,在4号室镀二氧化硅SiO2,二氧化硅SiO2溅射功率为4200W、氧气O2流量为25Sccm、铬Ar流量180~200Sccm、镀膜室真空度3.5*10-1Pa~4.0*10-1Pa之间,加热20分钟后镀AlNd膜膜:总气压为0.35~0.40Pa,使用6个靶进行镀膜,镀膜室Ar流量为180~200Sccm、镀膜室真空度3.5*10-1Pa~4.0*10-1Pa之间,所产出的CF显示面板中的二氧化硅SiO2膜厚为235
Figure A200810241332D0007174852QIETU
、二氧化硅SiO2透过率为91.5%、AlNd膜厚为1590
Figure A200810241332D0007174852QIETU
、AlNd膜的反射率为90.5%、方阻为0.7Ω/□。
实施例3:
A:清洗装片:在进行镀膜之前对钠钙玻璃进行超声波预清洗、再使用平板清洗、热烘干燥后,上架装片镀膜,装片使用专用铝框防止绕射;
B:镀膜:镀膜采用LHKJ立式全自动连续磁控溅射镀膜机,用于与氧化硅SiO的相反应的气体纯度氧气O2为99.99%、溅射气体为铬Ar,纯度为99.99%;钠钙玻璃基片加热温度为55℃,镀膜室传动速度频率为11Hz,加热时间20分钟后,在4号室镀SiO2,SiO2溅射功率4000W、氧气O2流量为20Sccm、铬Ar流量160~180Sccm、镀膜室真空度3.0*10-1Pa~3.5*10-1Pa之间,加热30分钟后镀AL膜:总气压为0.3~0.35Pa,使用6个靶进行镀膜,镀膜室铬Ar流量为160~180Sccm、镀膜室真空度3.0*10-1Pa~3.5*10-1Pa之间所产出的CF显示面板中的二氧化硅SiO2膜厚为255
Figure A200810241332D0007174852QIETU
、二氧化硅SiO2透过率为91%、AlNd膜厚为1650
Figure A200810241332D0007174852QIETU
、AlNd膜的反射率为92%、方阻为0.8Ω/□.

Claims (6)

1、一种CF显示面板,其特征在于它包括钠钙玻璃基板,在所述的钠钙玻璃基板上设置有二氧化硅SiO2膜层,在所述的二氧化硅SiO2层上再设置一层AlNd膜层。
2、如权利要求1中所述的CF显示面板,其特征在于所述的钠钙玻璃基板设置二氧化硅SiO2层后的钠钙玻璃基板透过率为90.5~91.5%,二氧化硅SiO2膜厚为210
Figure A200810241332C0002151050QIETU
~255
Figure A200810241332C0002151050QIETU
,设置AlNd层后的钠钙玻璃基板的反射率89~92%、方阻0.6~0.8Ω/□、所述的AlNd膜层厚度为1000~1650
Figure A200810241332C0002151050QIETU
3、如权利要求1中所述的CF显示面板的加工方法,其特征在于它包括如下的工艺步骤:
A:清洗装片:在进行镀膜之前对钠钙玻璃进行超声波预清洗,再使用平板清洗、热烘干燥后,上架装片镀膜,所述的装片使用专用铝框防止绕射;
B:镀膜:镀膜采用LHKJ立式全自动连续磁控溅射镀膜机,用于与氧化硅SiO的相反应的气体纯度O2为99.99%、溅射气体为铬Ar,纯度为99.99%;钠钙玻璃基片的加热温度为55~70℃,镀膜室传动速度频率为11~17Hz,加热时间为10~20分钟后,在4号室镀二氧化硅SiO2,二氧化硅SiO2溅射功率4500~4500W、氧气O2流量为20~30Sccm、铬Ar流量160~220Sccm、镀膜室真空度3.0*10-1Pa~4.5*10-1Pa之间,加热15~30分钟后镀AlNd膜层膜:总气压为0.30~0.45Pa,使用6个靶进行镀膜,镀膜室铬Ar流量为160~220Sccm、镀膜室真空度为3.0*10-1Pa~4.5*10-1Pa之间。
4、如权利要求1中所述的CF显示面板的加工方法,其特征在于它包括如下优选的工艺步骤:
A:清洗装片:在进行镀膜之前对钠钙玻璃进行超声波预清洗,再使用平板清洗、热烘干燥后,上架装片镀膜,装片使用专用铝框防止绕射;
B:镀膜:镀膜采用LHKJ立式全自动连续磁控溅射镀膜机,用于与氧化硅SiO的相反应的气体纯度氧气O2为99.99%、溅射气体为铬Ar,纯度为99.99%;钠钙玻璃基片加热温度为70℃,镀膜室传动速度频率为17Hz,加热时间10分钟后,在4号室镀SiO2,SiO2溅射功率4500W、氧气O2流量为30Sccm、铬Ar流量200~220Sccm、镀膜室真空度为4.0*10-1Pa~4.5*10-1Pa之间,加热15分钟后镀AlNd膜:总气压为0.40~0.45Pa,使用6个靶进行镀膜,镀膜室铬Ar流量为200~220Sccm、镀膜室真空度4.0*10-1Pa~4.5*10-1Pa之间;所产出的CF显示面板中的二氧化硅SiO2的膜厚为210
Figure A200810241332C0002151050QIETU
、SiO2透过率为90.5%、AlNd膜厚1550
Figure A200810241332C0002151050QIETU
、AlNd膜的反射率为89%、方阻为0.6Ω/□。
5、如权利要求1中所述的CF显示面板的加工方法,其特征在于它包括如下进一步的优选工艺步骤:
A:清洗装片:在进行镀膜之前对钠钙玻璃进行超声波预清洗,再使用平板清洗、热烘干燥后,上架装片镀膜,装片使用专用铝框防止绕射;
B:镀膜:镀膜采用LHKJ立式全自动连续磁控溅射镀膜机,用于与氧化硅SiO的相反应的气体纯度氧气O2为99.99%、溅射气体为铬Ar,纯度为99.99%;钠钙玻璃基片加热温度为65℃,镀膜室传动速度频率为14Hz,加热时间15分钟后,在4号室镀二氧化硅SiO2,二氧化硅SiO2溅射功率为4200W、氧气O2流量为25Sccm、铬Ar流量180~200Sccm、镀膜室真空度3.5*10-1Pa~4.0*10-1Pa之间,加热20分钟后镀AlNd膜膜:总气压为0.35~0.40Pa,使用6个靶进行镀膜,镀膜室Ar流量为180~200Sccm、镀膜室真空度3.5*10-1Pa~4.0*10-1Pa之间,所产出的CF显示面板中的二氧化硅SiO2膜厚为235
Figure A200810241332C0002151050QIETU
、二氧化硅SiO2透过率为91.5%、AlNd膜厚为1590
Figure A200810241332C0002151050QIETU
、AlNd膜的反射率为90.5%、方阻为0.7Ω/□。
6、如权利要求1中所述的CF显示面板的加工方法,其特征在于它包括如下另一个优选的工艺步骤:
A:清洗装片:在进行镀膜之前对钠钙玻璃进行超声波预清洗、再使用平板清洗、热烘干燥后,上架装片镀膜,装片使用专用铝框防止绕射;
B:镀膜:镀膜采用LHKJ立式全自动连续磁控溅射镀膜机,用于与氧化硅SiO的相反应的气体纯度氧气O2为99.99%、溅射气体为铬Ar,纯度为99.99%;钠钙玻璃基片加热温度为55℃,镀膜室传动速度频率为11Hz,加热时间20分钟后,在4号室镀SiO2,SiO2溅射功率4000W、氧气O2流量为20Sccm、铬Ar流量160~180Sccm、镀膜室真空度3.0*10-1Pa~3.5*10-1Pa之间,加热30分钟后镀AL膜:总气压为0.3~0.35Pa,使用6个靶进行镀膜,镀膜室铬Ar流量为160~180Sccm、镀膜室真空度3.0*10-1Pa~3.5*10-1Pa之间所产出的CF显示面板中的二氧化硅SiO2膜厚为255
Figure A200810241332C0002151050QIETU
、二氧化硅SiO2透过率为91%、AlNd膜厚为1650
Figure A200810241332C0002151050QIETU
、AlNd膜的反射率为92%、方阻为0.8Ω/□。
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Free format text: FORMER NAME: SHENZHEN LEAGUER FILM TECHNOLOGY CO., LTD.

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Address after: 518024 Guangdong Shenzhen Guangming New District Gongming office Chang Zhen community Changxin science and Technology Industrial Park 16 to three layers

Patentee after: Shenzhen Leaguer Optronics Co., Ltd.

Address before: 518024, Guangdong, Baoan District, Gongming mayor Shenzhen village fourth industrial zone 19, 20

Patentee before: Shenzhen Leaguer Film Technology Co., Ltd.

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Address after: 518132 Guangdong Shenzhen Guangming New District Gongming office Chang Zhen community Changxin science and Technology Industrial Park 16 to three layers

Patentee after: Shenzhen Leaguer Optronics Co., Ltd.

Address before: 518024 Guangdong Shenzhen Guangming New District Gongming office Chang Zhen community Changxin science and Technology Industrial Park 16 to three layers

Patentee before: Shenzhen Leaguer Optronics Co., Ltd.

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Granted publication date: 20110406

Termination date: 20181217