CN101339537B - 一种以页为单位的nand闪存管理方法 - Google Patents

一种以页为单位的nand闪存管理方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101339537B
CN101339537B CN2008100458086A CN200810045808A CN101339537B CN 101339537 B CN101339537 B CN 101339537B CN 2008100458086 A CN2008100458086 A CN 2008100458086A CN 200810045808 A CN200810045808 A CN 200810045808A CN 101339537 B CN101339537 B CN 101339537B
Authority
CN
China
Prior art keywords
page
leaf
flash memory
bad
good
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN2008100458086A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101339537A (zh
Inventor
孙银明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Phicomm Shanghai Co Ltd
Original Assignee
IPGoal Microelectronics Sichuan Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by IPGoal Microelectronics Sichuan Co Ltd filed Critical IPGoal Microelectronics Sichuan Co Ltd
Priority to CN2008100458086A priority Critical patent/CN101339537B/zh
Publication of CN101339537A publication Critical patent/CN101339537A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101339537B publication Critical patent/CN101339537B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Abstract

本发明公开的一种以页为单位的NAND闪存管理方法,其特征在于:对闪存进行扫描判断得到好页坏页,并形成坏页表,然后剔除坏页表中的坏页信息,将坏页表转换成映射表;所述映射表是只有好页的逻辑地址到物理地址的一个对应关系;本发明以页为单位来管理,页是块的更小单位,这样可以把坏块中的好页利用起来,提高闪存的实际可使用容量。同时,该管理方法能将部分废弃的闪存和因生产缺陷而无法使用的闪存,重新按照页的方式来使用,回收利用,有很好的发展前景。

Description

一种以页为单位的NAND闪存管理方法
技术领域
本发明涉及移动存储设备的闪存数码产品,特别是一种以页为单位的NAND闪存管理方法。
背景技术
根据现有闪存自身的特性,在出厂和使用过程中都会出现坏块,必须有相应的方法来管理。
传统的管理方法都按照块为单位进行管理,只要该块内有坏的位或者是坏的位数超出了限定值,就将该块废弃。这种以块为单位的管理方法,主要缺点是闪存利用率低,同时两种方法的共同缺点是数据的回拷贝消耗较大,这是由闪存的自身特性决定的。随着闪存的发展每块的容量不断增大,丢弃整块的做法会产生很大的浪费,以页为单位的管理方法就显得非常的重要。
对于闪存中块页和扇区的关系,以三星K9F2G08UOM为例,它由2048个块组成,每块有64个页组成,每页有4个扇区组成,每个扇区的大小是512个字节。闪存大概的发展趋势是每块的页数目增加,目前最大128页,每页的扇区数目增加,有8,16,32不等,即单个块的容量增大了很多。
对于由生产工艺缺陷造成的闪存损坏,比如所有块的某页(或某些页)全部损坏,或者某扇区(或某些扇区)损坏,用块管理的方法就会判定为坏块,不可使用,而页管理的方法就可以利用其中的好页,使闪存重新得到利用。
发明内容
本发明为解决上述问题提供了一种以页为单位的NAND闪存管理方法,特别适用于坏块数多且坏块内有好页的情况,可以大幅提高闪存的利用率。
本发明的技术方案如下:
一种以页为单位的NAND闪存管理方法,其特征在于:对闪存进行扫描判断得到好页坏页,并形成坏页表,然后剔除坏页表中的坏页信息,将坏页表转换成映射表;所述映射表是只有好页的逻辑地址到物理地址的一个对应关系。
NAND闪存是一种比硬盘更好的存储介质,“NAND”是与非门的意思,代表其存储的原理,这种闪存效率很高,加上存储单元面积小和写(编程)和擦除操作的速率快等优点,使它成为当今低成本消费市场的主要存储介质。
所述好页坏页用一个位表示,即位信息,“1”表示坏页,“0”表示好页,8个页的好坏位刚好组成一个8位数据,如“20H”,二进制就是“0010 0000”则表示第6个页是坏页,依次类推,闪存有多少页就有多少个位信息。
所述将坏页表转换成映射表,是指将单个位的坏页信息转换为物理地址信息,然后剔除坏页对应的物理地址信息,最后得到只保留了好页物理地址信息的映射表。
所述物理地址信息包括页所在的块地址和页地址,所述物理地址信息为4个字节。
所述映射表中的逻辑地址是连续的,物理地址是不连续的。
所述坏页表的位信息分成很多小段来管理,每段的好页数相等,最后一个段的好页数可以不等,每一段就称为一个区。
所述坏页表转换成映射表是按照区来进行的,即一次只转换一个区,当操作的逻辑地址不在该区内时,就建立新的区,每个区的大小指定比较灵活,根据闪存的容量和系统资源来分配。也就是说实际的对闪存的访问就变成了,先建立坏页表,然后根据访问的闪存的页地址,计算它在哪个区内,然后建立区的闪存影射表,得到实际操作的闪存物理地址。
本发明的有益效果如下:
本发明以页为单位来管理,页是块的更小单位,这样可以把坏块中的好页利用起来,提高闪存的实际可使用容量。同时,该管理方法能将部分废弃的闪存和因生产缺陷而无法使用的闪存,重新按照页的方式来使用,回收利用,有很好的发展前景。
具体实施方式
实施例1
一种以页为单位的NAND闪存管理方法,对闪存进行扫描判断得到好页坏页,并形成坏页表,然后剔除坏页表中的坏页信息,将坏页表转换成映射表;所述映射表是只有好页的逻辑地址到物理地址的一个对应关系。
NAND闪存是一种比硬盘更好的存储介质,“NAND”是与非门的意思,代表其存储的原理,这种闪存效率很高,加上存储单元面积小和写(编程)和擦除操作的速率快等优点,使它成为当今低成本消费市场的主要存储介质。
闪存在使用之前都需要对其块的好坏进行分析,方法一般有两种,一是检测闪存出厂时候的标记,二是工具扫描检测。第一种方式对块管理方法有效,但是通常出厂的标记也存在误差,所有基本不使用,第二种方式使用比较普遍,简单来说先向闪存的某块写入数据,然后再读出该数据,和写入时候的数据比较,有差异认为块为坏,反之则认为块为好块。页的好坏扫描的方法大致相同,页数据的写读比较有差异就认为该页不可用。
所述好页坏页用一个位表示,即位信息,“1”表示坏页,“0”表示好页,8个页的好坏位刚好组成一个8位数据,如“20H”,二进制就是“0010 0000”则表示第6个页是坏页,依次类推,闪存有多少页就有多少个位信息。
所述将坏页表转换成映射表,是指将单个位的坏页信息转换为物理地址信息,然后剔除坏页对应的物理地址信息,最后得到只保留了好页物理地址信息的映射表。
所述物理地址信息包括页所在的块地址和页地址,所述物理地址信息为4个字节。
所述映射表中的逻辑地址是连续的,物理地址是不连续的。
所述坏页表的位信息分成很多小段来管理,每段的好页数相等,最后一个段的好页数可以不等,每一段就称为一个区。
如坏页的数据为“0010 0001 000 00001 0000 0100”顺序从左到右,以字节为单位转换。首先分析,一共有24个页信息,坏页4个,好页20个,那么实际可用的逻辑地址区间就是1-20,得到的映射表就是(均以十六进制表示):
 
逻辑 物理地址 逻辑 物理地址
1 00 00 00 02 11 00 00 00 0E
2 00 00 00 03 12 00 00 00 0F
3 00 00 00 04 13 00 00 00 10
4 00 00 00 05 14 00 00 00 11
5 00 00 00 07 15 00 00 00 12
6 00 00 00 08 16 00 00 00 14
 
7 00 00 00 0A 17 00 00 00 15
8 00 00 00 0B 18 00 00 00 16
9 00 00 00 0C 19 00 00 00 17
10 00 00 00 0D 20 00 00 00 18
其中“00 00 00 01”,“00 00 00 06”,“00 00 00 09”,“00 00 00 13“4个页为坏页不可用,已经从映射表中剔除。
在坏页表转换成映射表时,都是按照区来进行的,即一次只转换一个区,当操作的逻辑地址不在该区内时,就建立新的区,每个区的大小指定比较灵活,根据闪存的容量和系统资源来分配。也就是说实际的对闪存的访问就变成了,先建立坏页表,然后根据访问的闪存的页地址,计算它在哪个区内,然后建立区的闪存影射表,得到实际操作的闪存物理地址。
实施例2
针对一片MLC类型的HYUT088G2M闪存,属于废弃闪存的管理,说明如下:
闪存从单位存储单元存储的信息量的角度,可以分为SLC,MCL和QLC等几种,以后随着技术的发展还会有更新的。SLC是指每个存储单元存储一个信息,MLC则存储2个信息位,QLC存储4个信息位。
废弃闪存一般是出厂检测全部为坏块,或者是使用过程中出现坏块过多,导致块管理方法放弃使用的部分闪存。
该闪存的容量是1G字节,共有4096个物理块,每块128个页,每页4个扇区2048字节。
扫描的结果显示:4096个物理块中,完全好的块没有,有2768个块中存在可以使用的页,其中最多的一个块中有124个页可以用,最少的是8个页可以使用。经统计,一共有254656个页可以使用,每个页的大小为2K字节,即该闪存实际可以使用的容量为497M字节。建立坏页表和映射表后,闪存可以正常使用。
实施例3
针对一片MLC类型K9L8G08UOM的闪存,由加工缺陷造成坏页的管理,说明如下:
加工缺陷造成的损坏,一大特点就是坏块或坏页分布是有规律的,页管理方法对这种情况效果很好。
该闪存的容量是1G字节,共有4096个物理块,每块128个页,每页4个扇区2048字节。
用块管理方法,扫描的结果是一半为坏块,实际可以使用的容量为512M字节。改用页管理的方法,扫描精确到页,发现以下规律,每个坏块都有可以用的页,且基本都是坏块的前64页为坏页,后64页为好页。再对坏块中的好页进行多次读写测试,无异常,判定属于工艺缺陷造成的损坏。
扫描的结论是块管理,2048个好块,2048个坏块,实际可以使用的闪存容量就是512M字节;页管理,2048个好块共262144个好页,2048个坏块中共131072个好页,即总共393216个好页,实际可使用的闪存容量为768M字节。建立坏页表和映射表后,闪存可以正正常使用。

Claims (6)

1.一种以页为单位的NAND闪存管理方法,其特征在于:对闪存进行扫描判断得到好页坏页,并形成坏页表,然后剔除坏页表中的坏页信息,将坏页表转换成映射表;所述映射表是只有好页的逻辑地址到物理地址的一个对应关系;所述将坏页表转换成映射表,是指将单个位的坏页信息转换为物理地址信息,然后剔除坏页对应的物理地址信息,最后得到只保留了好页物理地址信息的映射表。
2.根据权利要求1所述的一种以页为单位的NAND闪存管理方法,其特征在于:所述好页坏页用一个位表示,即位信息,“1”表示坏页,“0”表示好页。
3.根据权利要求1所述的一种以页为单位的NAND闪存管理方法,其特征在于:所述物理地址信息包括页所在的块地址和页地址,所述物理地址信息为4个字节。
4.根据权利要求1所述的一种以页为单位的NAND闪存管理方法,其特征在于:所述映射表中的逻辑地址是连续的,物理地址是不连续的。
5.根据权利要求1所述的一种以页为单位的NAND闪存管理方法,其特征在于:所述坏页表的位信息分成很多小段,每段的好页数相等,最后一个段的好页数不等,每一段就称为一个区。
6.根据权利要求1所述的一种以页为单位的NAND闪存管理方法,其特征在于:所述坏页表转换成映射表是按照区转换的,即一次只转换一个区。
CN2008100458086A 2008-08-14 2008-08-14 一种以页为单位的nand闪存管理方法 Active CN101339537B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2008100458086A CN101339537B (zh) 2008-08-14 2008-08-14 一种以页为单位的nand闪存管理方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2008100458086A CN101339537B (zh) 2008-08-14 2008-08-14 一种以页为单位的nand闪存管理方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101339537A CN101339537A (zh) 2009-01-07
CN101339537B true CN101339537B (zh) 2011-11-23

Family

ID=40213608

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2008100458086A Active CN101339537B (zh) 2008-08-14 2008-08-14 一种以页为单位的nand闪存管理方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN101339537B (zh)

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101859605B (zh) * 2009-04-10 2013-05-01 国民技术股份有限公司 一种使用瑕疵闪存的方法
TWI426528B (zh) * 2009-09-30 2014-02-11 Phison Electronics Corp 用於快閃記憶體的區塊管理方法、控制器與儲存系統
CN101719383B (zh) * 2009-11-10 2012-12-26 上海宏力半导体制造有限公司 闪存芯片的测试方法
CN102063382B (zh) * 2009-11-12 2014-08-27 慧荣科技股份有限公司 数据储存装置、控制器及于次等级存储器存取数据的方法
CN101930345B (zh) * 2010-08-24 2012-05-02 苏州国芯科技有限公司 一种基于块访问的闪存读写方法
CN101944065B (zh) * 2010-08-24 2012-07-04 苏州国芯科技有限公司 一种基于扇区的闪存坏块屏蔽方法
CN102222025A (zh) * 2011-06-17 2011-10-19 华为数字技术有限公司 一种消除内存故障的方法及装置
CN103177772A (zh) * 2011-12-20 2013-06-26 绿智慧流科技公司 闪存测试方法
CN102622306B (zh) * 2012-02-21 2014-11-26 中颖电子股份有限公司 存储装置的坏块管理方法
CN102968353B (zh) * 2012-10-26 2015-12-09 华为技术有限公司 一种失效地址处理方法及装置
CN103077118A (zh) * 2012-12-28 2013-05-01 深圳市硅格半导体有限公司 一种无效数据回收方法及系统
CN104461750B (zh) * 2013-09-25 2018-05-04 北京兆易创新科技股份有限公司 一种NAND flash的访问方法和装置
CN103559144A (zh) * 2013-11-12 2014-02-05 上海华兴数字科技有限公司 一种嵌入式系统安全存储数据的方法及装置
CN105023608B (zh) * 2014-04-29 2019-05-10 华邦电子股份有限公司 闪速存储器及坏区块的管理方法
TWI557559B (zh) * 2015-01-06 2016-11-11 國立臺灣科技大學 利用快閃記憶體的壞頁來存取資料的方法
CN108701488A (zh) * 2015-12-01 2018-10-23 科内克斯实验室公司 用于在逻辑上去除非易失性存储器存储设备中的缺陷页的方法和装置
CN107704193B (zh) * 2016-08-08 2021-08-20 紫光同芯微电子有限公司 一种flash存储器块擦电路及块擦方法
CN106681664B (zh) * 2016-12-29 2020-01-07 至誉科技(武汉)有限公司 一种用于提高固态硬盘使用寿命的管理策略
CN110334032A (zh) * 2019-07-02 2019-10-15 深圳市德名利电子有限公司 基于混合大小单元的闪存操作方法及系统
CN110457233A (zh) * 2019-08-10 2019-11-15 深圳市德名利电子有限公司 一种基于混合大小单元的闪存管理方法和装置以及设备
CN110597741B (zh) * 2019-08-23 2021-09-10 苏州浪潮智能科技有限公司 一种l2p表的读写、更新方法及l2p表
CN112764670A (zh) * 2019-11-04 2021-05-07 深圳宏芯宇电子股份有限公司 闪存设备及闪存管理方法
CN115599701B (zh) * 2022-10-13 2023-05-23 深圳三地一芯电子股份有限公司 闪存颗粒容量的计算方法、装置、设备及存储介质

Also Published As

Publication number Publication date
CN101339537A (zh) 2009-01-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101339537B (zh) 一种以页为单位的nand闪存管理方法
CN102135942B (zh) 一种存储设备中实现损耗均衡的方法及存储设备
CN101236789A (zh) 检测静态数据区、磨损均衡、和合并数据单元的方法和装置
CN102063266A (zh) 非易失存储器控制器与用于将当前数据写入非易失存储器的方法
CN103455435A (zh) 数据写入方法及装置
CN104360958A (zh) 基于块保留区替换的坏块管理系统及管理方法
CN101231617B (zh) 闪存设备的数据处理方法
TW201703052A (zh) 平均磨損方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元
CN102298543A (zh) 一种存储器管理方法和装置
CN101546294A (zh) 一种Flash存储器的数据存储方法
CN104699413A (zh) 数据管理方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元
CN103778964B (zh) 一种NAND Flash烧写数据的处理、使用方法及装置、系统
CN102929795A (zh) 一种NandFlash坏块管理方法
CN101567220A (zh) 闪存的损坏区块辨识方法、储存系统及其控制器
CN102609358B (zh) 聚集静态数据的方法及其固态硬盘
CN101499315A (zh) 快闪存储器平均磨损方法及其控制器
CN102915770A (zh) 降低闪存芯片内部数据互相串扰的方法、闪存存储系统及其控制器
CN102097125A (zh) Pcm的写操作方法
CN101409108B (zh) 平均磨损方法及使用此方法的控制器
CN103268267A (zh) 一种基于块的nandflash坏区动态标记处理方法
CN203311409U (zh) 一种Nand Flash的坏列管理装置
CN102360568B (zh) 一种并行异步存储器及其数据读取方法
CN102543177B (zh) 一种固态盘静态磨损平衡算法
CN101661433B (zh) 一种基于Flash的事务处理方法
WO2019136978A1 (zh) 一种提高闪存可利用率的方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
ASS Succession or assignment of patent right

Owner name: SHANGHAI FEIXUN DATA COMMUNICATION TECHNOLOGY CO.,

Free format text: FORMER OWNER: IPGOAL MICROELECTRONICS (SICHUAN) CO., LTD.

Effective date: 20121101

C41 Transfer of patent application or patent right or utility model
COR Change of bibliographic data

Free format text: CORRECT: ADDRESS; FROM: 610041 CHENGDU, SICHUAN PROVINCE TO: 201620 SONGJIANG, SHANGHAI

TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20121101

Address after: 201620 Shanghai city Songjiang District Guangfulin Road No. 4855, No. 90 in the territory

Patentee after: PHICOMM (SHANGHAI) Co.,Ltd.

Address before: 409 room 7, building 610041, incubator Park, hi tech Zone, Sichuan, Chengdu

Patentee before: IPGoal Microelectronics (Sichuan) Co.,Ltd.

PP01 Preservation of patent right
PP01 Preservation of patent right

Effective date of registration: 20180313

Granted publication date: 20111123

PD01 Discharge of preservation of patent
PD01 Discharge of preservation of patent

Date of cancellation: 20210313

Granted publication date: 20111123

PP01 Preservation of patent right
PP01 Preservation of patent right

Effective date of registration: 20210313

Granted publication date: 20111123

PD01 Discharge of preservation of patent

Date of cancellation: 20240313

Granted publication date: 20111123