CN101329527B - 总层厚检测装置和检测方法、充电装置及图像形成装置 - Google Patents

总层厚检测装置和检测方法、充电装置及图像形成装置 Download PDF

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Abstract

本发明公开一种用于被充电体的总层厚检测装置，该总层厚检测装置包括：饱和电荷量检测单元，其检测被充电体的饱和电荷量，所述被充电体具有多个相对介电常数彼此不同的涂层；存储单元，其存储关系信息，所述关系信息表示所述被充电体的饱和电荷量的变化相对于所述被充电体的表面层的层厚变化的关系；以及计算部分，其基于由所述饱和电荷量检测单元检测出的饱和电荷量的变化和存储在所述存储单元中的所述关系信息来计算所述被充电体的所述多个涂层的总层厚。

Description

总层厚检测装置和检测方法、充电装置及图像形成装置
技术领域
本发明涉及总层厚检测装置、充电装置、图像形成装置及总层厚检测方法。
背景技术
日本专利No.3064643披露了这样一种图像形成装置：在该图像形成装置中，被充电体的厚度基于通过将不同电压施加于电极部件上而获得的V-I特性来检测。
发明内容
本发明提供这样一种总层厚检测装置、充电装置、图像形成装置、总层厚检测方法和存储用于总层厚检测的程序的计算机可读取介质：其能够检测具有多个相对介电常数不同的涂层的被充电体的总层厚。
根据本发明的一方面，提供一种用于被充电体的总层厚检测装置，该总层厚检测装置包括：饱和电荷量检测单元，其检测被充电体的饱和电荷量，所述被充电体具有多个相对介电常数彼此不同的涂层；存储单元，其存储关系信息，所述关系信息表示所述被充电体的饱和电荷量的变化相对于所述被充电体的表面层的层厚变化的关系；以及计算部分，其基于由所述饱和电荷量检测单元检测出的饱和电荷量的变化和存储在所述存储单元中的所述关系信息来计算所述被充电体的所述多个涂层的总层厚。
在所述总层厚检测装置中，当至少所述多个涂层中各涂层的层厚(数值)或相对介电常数在公差范围内变化时，所述存储单元还可以存储多个对应信息项，在所述多个对应信息项中，使得多个关系信息项分别与由所述饱和电荷量检测单元检测出的饱和电荷量的多个初始值对应，所述多个关系信息项表示所述被充电体的饱和电荷量的变化相对于所述被充电体的表面层的层厚变化的关系。此外，所述计算部分可以基于由所述饱和电荷量检测单元检测出的饱和电荷量的初始值和存储在所述存储单元中的所述多个对应信息项来计算所述被充电体的所述多个涂层的总层厚。
此外，根据本发明的另一方面，提供一种充电装置，该充电装置包括：充电部件，其与被充电体接触或接近于所述被充电体并给所述被充电体充电，所述被充电体具有多个相对介电常数彼此不同的涂层；饱和电荷量检测单元，其检测由所述充电部件充电的所述被充电体的饱和电荷量；存储单元，其存储关系信息，所述关系信息表示所述被充电体的饱和电荷量的变化相对于所述被充电体的表面层的层厚变化的关系；以及计算部分，其基于由所述饱和电荷量检测单元检测出的饱和电荷量的变化和存储在所述存储单元中的所述关系信息来计算所述被充电体的所述多个涂层的总层厚。
在所述充电装置中，当至少所述多个涂层中各涂层的层厚或相对介电常数在公差范围内变化时，所述存储单元还可以存储多个对应信息项，在所述多个对应信息项中，使得多个关系信息项分别与由所述饱和电荷量检测单元检测出的饱和电荷量的多个初始值对应，所述多个关系信息项表示所述被充电体的饱和电荷量的变化相对于所述被充电体的表面层的层厚变化的关系。此外，所述计算部分可以基于由所述饱和电荷量检测单元检测出的饱和电荷量的初始值和存储在所述存储单元中的所述多个对应信息项来计算所述被充电体的所述多个涂层的总层厚。
此外，所述充电装置还可以包括：电源单元，其向所述充电部件提供电力；以及控制器，其基于所述计算部分的计算结果控制所述电源单元。
此外，所述充电装置还可以包括：判断部分，其基于所述计算部分的计算结果判断所述被充电体的寿命。
此外，根据本发明的另一方面，提供一种图像形成装置，该图像形成装置包括：图像载体，其具有多个相对介电常数彼此不同的涂层；充电部件，其与所述图像载体接触或接近于所述图像载体并给所述图像载体充电；饱和电荷量检测单元，其检测由所述充电部件充电的所述图像载体的饱和电荷量；存储单元，其存储关系信息，所述关系信息表示所述图像载体的饱和电荷量的变化相对于所述图像载体的表面层的层厚变化的关系；以及计算部分，其基于由所述饱和电荷量检测单元检测出的饱和电荷量的变化和存储在所述存储单元中的所述关系信息来计算所述图像载体的所述多个涂层的总层厚。
在所述图像形成装置中，当至少所述多个涂层中各涂层的层厚或相对介电常数在公差范围内变化时，所述存储单元还可以存储多个对应信息项，在所述多个对应信息项中，使得多个关系信息项分别与由所述饱和电荷量检测单元检测出的饱和电荷量的多个初始值对应，所述多个关系信息项表示所述图像载体的饱和电荷量的变化相对于所述图像载体的表面层的层厚变化的关系。此外，所述计算部分可以基于由所述饱和电荷量检测单元检测出的饱和电荷量的初始值和存储在所述存储单元中的所述多个对应信息项来计算所述图像载体的所述多个涂层的总层厚。
此外，所述图像形成装置还可以包括：电源单元，其向所述充电部件提供电力；以及控制器，其基于所述计算部分的计算结果控制所述电源单元。
此外，所述图像形成装置还可以包括：判断部分，其基于所述计算部分的计算结果判断所述图像载体的寿命。
此外，根据本发明的另一方面，提供一种用于被充电体的总层厚检测方法，该总层厚检测方法包括：获得被充电体的饱和电荷量的变化，所述被充电体具有多个相对介电常数彼此不同的涂层；以及基于所获得的饱和电荷量的变化和关系信息来计算所述被充电体的所述多个涂层的总层厚，所述关系信息表示所述被充电体的饱和电荷量的变化相对于所述被充电体的表面层的层厚变化的关系。
此外，根据本发明的另一方面，提供一种存储程序的计算机可读取介质，所述程序使计算机执行被充电体的总层厚检测过程，所述过程包括：获得被充电体的饱和电荷量的变化，所述被充电体具有多个相对介电常数彼此不同的涂层；以及基于所获得的饱和电荷量的变化和关系信息来计算所述被充电体的所述多个涂层的总层厚，所述关系信息表示所述被充电体的饱和电荷量的变化相对于所述被充电体的表面层的层厚变化的关系。
根据本发明的另一方面，可以检测具有多个相对介电常数不同的涂层的被充电体的总层厚。
附图说明
基于下列附图详细说明本发明的示例性实施例，其中：
图1是示出根据本发明示例性实施例的图像形成装置的结构的横截面视图；
图2示出根据本发明示例性实施例的图像形成装置的构造；
图3示意性示出图像载体、充电部件及其周围部分的细节；
图4示意性示出图像载体的横截面结构；
图5是示出构成图像载体的部件之中的比较结果的表格；
图6是示出由电流检测部分检测到的直流电流值和图像载体的电位之间关系的曲线图；
图7是示出根据公差范围内感光层的变化(波动值)对图像载体的饱和电荷量Q相对于感光层的总层厚的减小量的变化进行计算的结果的曲线图；
图8是示出为控制图像载体而由控制单元执行的控制程序的构造的框图；
图9A是示出包括在控制程序中的关系信息数据库中的关系信息的表格；
图9B是示出包括在控制程序中的对应信息数据库中的预先计算出的饱和电荷量Q的多个不同的初始值和图像载体中的多个变化样本之间的对应关系的表格；以及
图10是示出通过由控制单元执行控制程序而进行的用于控制图像载体的处理(S10)的流程图。
具体实施方式
接下来，基于附图说明本发明的示例性实施例。
图1和图2示意性示出根据本发明示例性实施例的图像形成装置10的总体结构。图像形成装置10具有图像形成部分12和文档读取装置14。作为例如静电复印式单元的图像形成部分12具有四级(四层)其上堆放例如纸张等记录介质的送纸托盘16a至16d和手动送纸托盘18。图像形成部分12在从这些送纸托盘16a至16d和手动送纸托盘18供给到记录介质传送路径20上的记录介质上形成图像。
更确切地说，图像形成部分12具有：可旋转的图像载体，其具有例如圆筒形形状；例如充电辊的充电部件24，其均匀地给图像载体22充电；曝光装置(光学写入装置)26，其在由充电部件24均匀充电的图像载体22上形成静电潜像；显影装置28，其用显影剂使图像载体22上由曝光装置26形成的潜像可见；转印装置30，其将由显影装置28形成的调色剂图像转印到记录介质上；以及清洁器32，其清除残留在图像载体22上的调色剂。
在其表面上具有例如橡胶等弹性部件的充电部件24在与图像载体22接触的状态下旋转。作为激光扫描式装置的曝光装置26将由文档读取装置14读取的原稿的图像转换成激光on/off信号并输出该信号。具有例如转印辊的转印装置30将调色剂图像转印到记录介质上并将记录介质传送到定影装置34。通过定影装置34将调色剂图像定影到记录介质上。其上定影有调色剂图像的记录介质被排出到排纸托盘36上。
记录介质传送路径20设置有多个记录介质输送辊38。在转印装置30的上游侧附近设置有定位辊40作为一个记录介质输送辊。定位辊40暂时停止供给的记录介质，并与在图像载体22上形成潜像的定时(时间)同步将记录介质供给到转印装置30。
文档读取装置14具有光学读取原稿的光学系统42和自动原稿输送装置44。
光学系统42具有扫掠由自动原稿输送装置44输送的原稿的功能和通过扫描反射镜等来读取放置在稿台玻璃54上的原稿的功能。
自动原稿输送装置44具有其上放置若干原稿的稿台56、文档传送路径58和其上排出读取之后的原稿的排出台60。
此外，图像形成装置10具有控制单元62、包括显示器、键盘等的用户界面装置(UI装置)64、例如HDD或CD等存储装置66、通信装置68等。包括CPU 70和存储器72的控制单元62控制构成图像形成装置10的各个部件。
这样，包括作为计算机的功能的图像形成装置10执行经由存储介质74或通信装置68接收到的程序，从而进行打印等作业。
接下来，详细说明图像载体22、充电部件24及其周围部分。
图3示意性示出图像载体22、充电部件24及其周围部分的细节。充电部件24与电源部分(电源单元)82连接。具有交流电源84和直流电源86的电源部分82根据控制单元62的控制而将下述电压施加于充电部件24上：所述电压是通过将交流电压Vac叠加在预定直流电压Vdc上而获得的。例如，在电源部分82中，交流电源84将频率为1000Hz、峰间电压Vpp约为800V到2500V的交流电压施加于充电部件24上，而直流电源86将约-750V的直流电压Vdc施加于充电部件24上，从而将预定电流供给到充电部件24。电流检测部分88检测从电源部分82供给到充电部件24的电流，并将检测结果输出到控制单元62。
图像载体22具有例如铝制的具有圆筒形形状的接地导电支撑体90和覆盖导电支撑体90的外表面的感光层92。如图4所示，感光层92具有例如电荷生成层94、电荷输送层(CT层)96和保护层(OC层)98。如图5所示，层厚(膜厚)为0.15μm并包括电荷载体生成材料的电荷生成层94覆盖导电支撑体90。具有包括电荷载体输送材料的部件、相对介电常数为例如3、层厚约为20μm的电荷输送层96沉积在电荷生成层94外部。具有相对介电常数为例如4.5的部件构成的层厚约为5μm的保护层98沉积在电荷输送层96外部。此外，保护层98的硬度高于电荷输送层96的硬度。例如，电荷输送层96每经1000次循环处理磨损掉约30nm，而保护层98每经1000次循环处理磨损掉约3nm。
图6是示出由电流检测部分88检测到的直流电流值和图像载体22的电位之间关系的曲线图。电源部分82将交流电压和直流电压施加于充电部件24上以便给图像载体22充电。由直流电源86施加于充电部件24上的直流电压是-750V。当-750V直流电压施加于充电部件24上并且图像载体22旋转一次时，图像载体22被充电至约-720V。控制单元62根据包括由电流检测部分88检测到的充电电流和泄漏电流的直流电流值来计算电荷量Q1。在图像载体22中，在这次旋转之后电荷量不饱和。
当图像载体22旋转两次时，图像载体22被充电至约-740V。控制单元62根据包括由电流检测部分88检测到的充电电流和泄漏电流的直流电流值来计算电荷量Q2。在图像载体22中，在第二次旋转之后电荷量不饱和。当图像载体22旋转三次时，图像载体22被充电至约-750V。控制单元62根据包括由电流检测部分88检测到的充电电流和泄漏电流的直流电流值来计算电荷量Q3。在图像载体22中，在第三次旋转之后电荷量饱和。当图像载体22旋转四次时，由于图像载体22中的电荷量已经饱和，所以控制单元62根据仅包括由电流检测部分88检测到的泄漏电流的直流电流值来计算电荷量Q4。应当注意到，由电流检测部分88检测到的泄漏电流包括根据从电源部分82施加的电压值而变化的泄漏电流和独立于从电源部分82施加的电压值而流动的泄漏电流。
通过图像载体22的三次旋转由控制单元62计算出的电荷量Q1至Q3分别包括与泄漏电流对应的电荷量Q4。控制单元62通过使用下列表达式进行计算来检测图像载体22的饱和电荷量Q。
饱和电荷量Q＝Q1+Q2+Q3-Q4×3...(1)
此外，如上所述，由于图像载体22是圆筒形部件，所以该图像载体因与充电部件24接触而从外表面侧受到磨损。当感光层92的总层厚因磨损而减小时，饱和电荷量Q增大。
图7是示出根据公差范围内感光层92的变化对图像载体22的饱和电荷量Q相对于感光层92的总层厚的减小量的变化进行计算的结果的曲线图。应当注意到，图7示出九个变化样本(variationsamples)(变化a至i)，即保护层98的层厚的变化4.5μm、5μm和5.5μm；电荷输送层96的层厚的变化19μm、20μm和21μm；以及相对介电常数的变化ε1、ε2和ε3。
如图7所示，图像载体22的饱和电荷量Q与感光层92的总层厚的减小量成反比增大，直到感光层92的总层厚变为预定值为止。如上所述，由于保护层(OC层)98是圆筒形图像载体22的表面层，所以随着图像形成装置10的成像次数的增加(循环次数的增大或工作时间的延长)，感光层92开始从保护层98开始磨损。此外，直到感光层92的总层厚变为预定厚度为止，只有保护层98磨损，并且当感光层92进一步磨损时，电荷输送层(CT层)96开始磨损，然后图像载体22中的饱和电荷量Q开始迅速增大。
在图像载体22中，由于电荷输送层96和保护层98通过图像形成装置随着变化a至i的情况而变化，所以饱和电荷量Q的初始值和图像载体22的饱和电荷量相对于保护层98的磨损量(层厚减小量)的变化量(倾斜度α)随着电荷输送层96和保护层98的变化而变化。应当注意到，不同倾斜度α值分别与饱和电荷量Q的不同初始值对应。
接下来，说明由控制单元62进行的控制图像载体22的处理。
图8是示出为控制图像载体22而由控制单元62执行的控制程序100的构造的框图。
如图8所示，控制程序100具有饱和电荷量检测部分102、对应信息数据库(DB)104、选择部分106、存储部分108、关系信息数据库(DB)110、计算部分112、寿命判断部分114和充电条件控制器116。
饱和电荷量检测部分102接收由电流检测部分88检测出的电流值，利用上述表达式(1)检测饱和电荷量Q，并将饱和电荷量Q输出到后述存储部分108。此外，当检测出的饱和电荷量Q是初始值时，饱和电荷量检测部分102还将检测结果输出到选择部分106。
如图9B所示，对应信息数据库104是表示预先计算出的饱和电荷量Q的多个不同的初始值和图像载体22中的多个变化样本之间的对应关系的数据库。例如，该对应信息数据库104存储在存储器72中，并根据选择部分106的访问而将数据输出到选择部分106。应当注意到，对应信息数据库104存储有多个对应信息项，在对应信息项中，使得多个倾斜度α值(利用图9A而在后描述的关系信息)经由变化样本名(变化a至i)与饱和电荷量Q的相应多个初始值相对应。
选择部分106接收由饱和电荷量检测部分102检测出的饱和电荷量Q的初始值并访问对应信息数据库104。然后，选择部分106选择与接收到的初始值最接近的初始值对应的变化样本，并将选择结果输出到计算部分112。
存储部分108存储由饱和电荷量检测部分102检测出的各个饱和电荷量Q，并根据计算部分112的访问输出所存储的饱和电荷量Q的值。
如图9A所示，关系信息数据库110按照变化样本存储表示图像载体22的饱和电荷量Q相对于保护层(OC层)98磨损1μm(层厚减小1μm)的变化量(倾斜度α值：关系信息)的数据。例如，关系信息数据库110存储在存储器72中，并根据计算部分112的访问将数据输出到计算部分112。
计算部分112从选择部分106接收变化样本的选择结果，并从关系信息数据库110接收与选择的变化样本对应的倾斜度α值(关系信息)。然后，计算部分112访问存储部分108，利用下列表达式(2)计算感光层92的磨损量(层厚减小量)，利用下列表达式(3)计算感光层92的总层厚，并将与选择的变化样本对应的各个计算结果输出到寿命判断部分(单元)114和充电条件控制器116。
感光层92的磨损量(层厚减小量)＝α(Qm-Qx0)…(2)
α：倾斜度(关系信息：A至I中的任何一个)
Qm：饱和电荷量的检测值
Qx0：饱和电荷量的初始值(Qa0至Qi0中的任何一个)
感光层92的总层厚D＝Dx-α(Qm-Qx0)      …(3)
Dx：感光层92的总层厚的初始值(D1至D3中的任何一个)
α：倾斜度(关系信息：A至I中的任何一个)
Qm：饱和电荷量的检测值
Qx0：饱和电荷量的初始值(Qa0至Qi0中的任何一个)
应当注意到，在上述表达式(3)中，如图7所示，可以为各个变化样本(变化a至i)设定下列表达式中所示D1至D3中的任何一个作为感光层92的总层厚的初始值Dx。
D1＝OC层+CT层+电荷生成层
  ＝4.5+19+0.15＝23.65(μm)   …(4)
D2＝OC层+CT层+电荷生成层
  ＝5+20+0.15＝25.15(μm)     …(5)
D3＝OC层+CT层+电荷生成层
  ＝5.5+21+0.15＝26.65(μm)   …(6)
然后，计算部分112根据由选择部分106选择的变化样本从D1至D3中选择总层厚的初始值Dx。
寿命判断部分114接收从计算部分112输出的计算结果，根据接收到的计算结果判断图像载体22的寿命并输出判断结果。例如，寿命判断部分114基于从计算部分112输出的感光层92的磨损量(层厚减小量)是否已经达到作为图像载体22的寿命基准的磨损量(寿命基准磨损量)来判断图像载体22的寿命。此外，寿命判断部分114也可以根据从计算部分112输出的感光层92的总层厚来判断图像载体22的寿命。
充电条件控制器116接收从计算部分112输出的计算结果，并根据接收到的计算结果将控制信息输出到电源部分82，以控制电源部分82的输出，从而控制图像载体22的充电条件。例如，充电条件控制器116根据从计算部分112输出的感光层92的总层厚来控制电源部分82。此外，充电条件控制器116也可以根据从计算部分112输出的感光层92的磨损量(层厚减小量)来控制电源部分82。
图10是示出通过由控制单元62执行控制程序100而进行的用于控制图像载体22的处理(S10)的流程图。
如图10所示，在步骤S100中，饱和电荷量检测部分102经由电流检测部分88检测图像载体22的饱和电荷量的初始值。
在步骤S102中，计算部分112从选择部分106接收变化样本的选择结果，并从关系信息数据库110接收与选择的变化样本对应的倾斜度α值(关系信息)。即，计算部分112选择一个倾斜度α值(关系信息)。
在步骤S104中，为了利用上述表达式(2)计算磨损量，计算部分112使用饱和电荷量的检测值Qm和饱和电荷量的初始值Qx0来检测饱和电荷量Q的变化(计算Qm-Qx0)。
在步骤S106中，计算部分112使用选择的倾斜度α值(关系信息)利用上述表达式(2)计算感光层92的磨损量(层厚减小量)。
在步骤S108中，计算部分112利用上述关系信息、对应信息和上述表达式(3)计算感光层92的总层厚。
在步骤S110中，充电条件控制器116根据在步骤S108的处理中计算出的感光层92的总层厚控制电源部分82，从而控制图像载体22的充电条件。
在步骤S112中，寿命判断部分114基于从计算部分112输出的感光层92的磨损量(层厚减小量)是否已经达到作为图像载体22的寿命基准的磨损量(寿命基准磨损量)来判断图像载体22的寿命。当寿命判断部分114判定图像载体22的寿命期满(到更换时间)时，过程转入步骤S114，而当寿命判断部分114判定图像载体22的寿命未期满时，过程返回到步骤S104。
在步骤S114，控制单元62经由UI装置64显示更换图像载体22的指示。
应当注意到，在上述示例性实施例中，使多个变化样本中各变化样本与感光层92的饱和电荷量的初始值和总层厚的初始值相对应并进行存储，并且当选择一个变化样本时，检测感光层92的磨损量和总层厚。然而，本发明不局限于这样的设置。例如，在控制程序100中，可以用函数定义感光层92的饱和电荷量的初始值和总层厚的初始值。
为了解释和说明起见，已经提供了对于本发明实施例的前述说明。本发明并非意在穷举或将本发明限制在所披露的具体形式。显然，许多修改和变型对于所属领域的技术人员而言是显而易见的。实施例的选取和说明是为了更好地解释本发明的原理及其实际应用，从而使所属领域的其他技术人员能够理解本发明适用于各种实施例，并且具有各种变型的本发明适合于所设想的特定用途。本发明意在用前面的权利要求书及其等同内容来限定本发明的保护范围。

Claims (15)

1. 一种用于被充电体的总层厚检测装置，包括：
饱和电荷量检测单元，其检测被充电体的饱和电荷量，所述被充电体具有多个相对介电常数彼此不同的涂层；
存储单元，其存储关系信息，所述关系信息表示所述被充电体的饱和电荷量的变化相对于所述被充电体的表面层的层厚变化的关系；以及
计算部分，其基于由所述饱和电荷量检测单元检测出的饱和电荷量的变化和存储在所述存储单元中的所述关系信息来计算所述被充电体的所述多个涂层的总层厚。
2. 根据权利要求1所述的总层厚检测装置，其中，
当至少所述多个涂层中各涂层的层厚值或相对介电常数在公差范围内变化时，所述存储单元还存储多个对应信息项，在所述多个对应信息项中，使得多个关系信息项分别与由所述饱和电荷量检测单元检测出的饱和电荷量的多个初始值对应，所述多个关系信息项表示所述被充电体的饱和电荷量的变化相对于所述被充电体的表面层的层厚变化的关系，并且
所述计算部分基于由所述饱和电荷量检测单元检测出的饱和电荷量的初始值和存储在所述存储单元中的所述多个对应信息项来计算所述被充电体的所述多个涂层的总层厚。
3. 一种充电装置，包括：
充电部件，其与被充电体接触或接近于所述被充电体并给所述被充电体充电，所述被充电体具有多个相对介电常数彼此不同的涂层；
饱和电荷量检测单元，其检测由所述充电部件充电的所述被充电体的饱和电荷量；
存储单元，其存储关系信息，所述关系信息表示所述被充电体的饱和电荷量的变化相对于所述被充电体的表面层的层厚变化的关系；以及
计算部分，其基于由所述饱和电荷量检测单元检测出的饱和电荷量的变化和存储在所述存储单元中的所述关系信息来计算所述被充电体的所述多个涂层的总层厚。
4. 根据权利要求3所述的充电装置，其中，
当至少所述多个涂层中各涂层的层厚或相对介电常数在公差范围内变化时，所述存储单元还存储多个对应信息项，在所述多个对应信息项中，使得多个关系信息项分别与由所述饱和电荷量检测单元检测出的饱和电荷量的多个初始值对应，所述多个关系信息项表示所述被充电体的饱和电荷量的变化相对于所述被充电体的表面层的层厚变化的关系，并且
所述计算部分基于由所述饱和电荷量检测单元检测出的饱和电荷量的初始值和存储在所述存储单元中的所述多个对应信息项来计算所述被充电体的所述多个涂层的总层厚。
5. 根据权利要求3或4所述的充电装置，还包括：
电源单元，其向所述充电部件提供电力；以及
控制器，其基于所述计算部分的计算结果控制所述电源单元。
6. 根据权利要求3所述的充电装置，还包括：
判断部分，其基于所述计算部分的计算结果判断所述被充电体的寿命。
7. 根据权利要求4所述的充电装置，还包括：
判断部分，其基于所述计算部分的计算结果判断所述被充电体的寿命。
8. 根据权利要求5所述的充电装置，还包括：
判断部分，其基于所述计算部分的计算结果判断所述被充电体的寿命。
9. 一种图像形成装置，包括：
图像载体，其具有多个相对介电常数彼此不同的涂层；
充电部件，其与所述图像载体接触或接近于所述图像载体并给所述图像载体充电；
饱和电荷量检测单元，其检测由所述充电部件充电的所述图像载体的饱和电荷量；
存储单元，其存储关系信息，所述关系信息表示所述图像载体的饱和电荷量的变化相对于所述图像载体的表面层的层厚变化的关系；以及
计算部分，其基于由所述饱和电荷量检测单元检测出的饱和电荷量的变化和存储在所述存储单元中的所述关系信息来计算所述图像载体的所述多个涂层的总层厚。
10. 根据权利要求9所述的图像形成装置，其中，
当至少所述多个涂层中各涂层的层厚或相对介电常数在公差范围内变化时，所述存储单元还存储多个对应信息项，在所述多个对应信息项中，使得多个关系信息项分别与由所述饱和电荷量检测单元检测出的饱和电荷量的多个初始值对应，所述多个关系信息项表示所述图像载体的饱和电荷量的变化相对于所述图像载体的表面层的层厚变化的关系，并且
所述计算部分基于由所述饱和电荷量检测单元检测出的饱和电荷量的初始值和存储在所述存储单元中的所述多个对应信息项来计算所述图像载体的所述多个涂层的总层厚。
11. 根据权利要求9或10所述的图像形成装置，还包括：
电源单元，其向所述充电部件提供电力；以及
控制器，其基于所述计算部分的计算结果控制所述电源单元。
12. 根据权利要求9所述的图像形成装置，还包括：
判断部分，其基于所述计算部分的计算结果判断所述图像载体的寿命。
13. 根据权利要求10所述的图像形成装置，还包括：
判断部分，其基于所述计算部分的计算结果判断所述图像载体的寿命。
14. 根据权利要求11所述的图像形成装置，还包括：
判断部分，其基于所述计算部分的计算结果判断所述图像载体的寿命。
15. 一种用于被充电体的总层厚检测方法，包括：
获得被充电体的饱和电荷量的变化，所述被充电体具有多个相对介电常数彼此不同的涂层；以及
基于所获得的饱和电荷量的变化和关系信息来计算所述被充电体的所述多个涂层的总层厚，所述关系信息表示所述被充电体的饱和电荷量的变化相对于所述被充电体的表面层的层厚变化的关系。
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