CN101308254B - 扫描光学装置、图像形成装置和抖动校正方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供扫描光学装置、图像形成装置和抖动校正方法。一种扫描光学装置，包括具有多个反射面的旋转多面镜。第一光源从通过用经过旋转多面镜的旋转轴的平面分割扫描光学装置获得的一个部分发射第一光束。第二光源从另一部分发射第二光束。第一计算单元计算第一光源的扫描时间。第二计算单元计算第二光源的扫描时间。抖动校正单元通过根据第二光源的扫描时间控制提供给第一光源的像素时钟来校正抖动。抖动校正单元也通过根据第一光源的扫描时间控制提供给第二光源的像素时钟来校正抖动。

Description

扫描光学装置、图像形成装置和抖动校正方法
技术领域
本发明涉及一种适用于图像形成装置等的扫描光学装置，以及用于该装置的抖动校正方法。
背景技术
已知图像形成装置，其中感光部件对激光曝光以形成静电潜像，静电潜像用调色剂显影并转印到记录纸上以获得图像。这样的图像形成装置设置有扫描光学装置，用于使感光部件对激光曝光。一般来说，扫描光学装置使用旋转多面镜偏转/扫描激光。
然而，由于旋转多面镜的反射面的反射系数之间的差异，或由于驱动旋转多面镜的电动机的旋转周期的变化而发生抖动。如这里所使用的，“抖动”指感光部件上的主扫描方向上曝光位置的偏移。
日本专利第2615668号提议一种方法，用于通过校正旋转多面镜的反射面的反射系数之间的差异和驱动旋转多面镜的电动机的旋转周期的变化来减小抖动。
日本专利第2615668号针对单色图像形成装置。然而最近，对彩色图像形成装置的需求也在增长。特别地，使用多个感光部件的级联型彩色图像形成装置具有这样的问题：当调色剂图像叠加时抖动引起主扫描方向上的色移(color shifting)。
发明内容
考虑到前述，一个目标是至少解决上述问题和其它问题之一。本发明的一个特征为例如提供可以减小主扫描方向上的色移的低价小型扫描光学装置。其它问题将通过整个说明书来理解。
本发明可以被实施为例如扫描光学装置、图像形成装置或抖动校正方法。一种扫描光学装置，包括：旋转多面镜，设置有多个反射面，所述多个反射面在旋转多面镜旋转的同时反射入射光束；第一光源，它从通过用经过旋转多面镜的旋转轴的平面分割扫描光学装置获得的一个部分发射第一光束；以及第二光源，它从另一部分发射第二光束。扫描光学装置进一步包括成像单元、第一到第四检测单元、第一和第二计算单元、存储单元、抖动校正单元等。成像单元把被旋转多面镜偏转/扫描的第一和第二光束成像于相应的感光部件上。第一检测单元在主扫描方向上的扫描开始侧检测第一光束。第二检测单元在主扫描方向上的扫描结束侧检测第一光束。第三检测单元在主扫描方向上的扫描开始侧检测第二光束。第四检测单元在主扫描方向上的扫描结束侧检测第二光束。第一计算单元计算第一检测单元检测到第一光束时的时刻与第二检测单元检测到第一光束时的时刻之间的时间间隔，作为第一光源的扫描时间。第二计算单元计算第三检测单元检测到第二光束时的时刻与第四检测单元检测到第二光束时的时刻之间的时间间隔，作为第二光源的扫描时间。存储单元存储通过第一计算单元和第二计算单元计算的旋转多面镜的各反射面的扫描时间。抖动校正单元通过根据第二光源的扫描时间控制提供给第一光源的像素时钟来校正抖动。抖动校正单元也通过根据第一光源的扫描时间控制提供给第二光源的像素时钟来校正抖动。
图像形成装置包括：多个感光部件；充电装置，它给感光部件充电；上述扫描光学装置，它通过用对应于图像信息的光束扫描感光部件的表面而形成静电潜像；显影装置，它通过对静电潜像进行显影而形成显影后的图像；转印装置，它把显影后的图像转印到纸上；以及定影装置，它把显影后的图像定影在纸上。
一种用于扫描光学装置的抖动校正方法，所述扫描光学装置包括：旋转多面镜，设置有多个反射面，所述多个反射面在旋转多面镜旋转的同时反射入射光束；第一光源，它从通过用经过旋转多面镜的旋转轴的平面分割扫描光学装置获得的一个部分发射第一光束；第二光源，它从通过用平面进行分割获得的另一部分发射第二光束；以及成像单元，它把被旋转多面镜偏转/扫描的第一和第二光束成像于相应的感光部件上。该方法包括：第一检测步骤，在主扫描方向上的扫描开始侧检测第一光束；第二检测步骤，在主扫描方向上的扫描结束侧检测第一光束；第三检测步骤，在主扫描方向上的扫描开始侧检测第二光束；第四检测步骤，在主扫描方向上的扫描结束侧检测第二光束；第一计算步骤，计算第一检测步骤中检测到第一光束时的时刻与第二检测步骤中检测到第一光束时的时刻之间的时间间隔，作为第一光源的扫描时间；第二计算步骤，计算第三检测步骤中检测到第二光束时的时刻与第四检测步骤中检测到第二光束时的时刻之间的时间间隔，作为第二光源的扫描时间；存储步骤，存储第一计算步骤和第二计算步骤中计算的旋转多面镜的各反射面的扫描时间；以及抖动校正步骤，通过根据第二光源的扫描时间控制提供给第一光源的像素时钟，以及根据第一光源的扫描时间控制提供给第二光源的像素时钟来校正抖动。
从下列参考附图对示例性实施例的描述，本发明的进一步特征将变得清晰。
附图说明
图1是根据本发明一个实施例的级联型彩色打印机的示意截面图。
图2是示出扫描光学装置和图像形成单元的示意截面图。
图3是根据本发明一个实施例的扫描光学装置的示意平面图。
图4是激光器支架单元的截面图。
图5是激光器支架单元的截面图。
图6是根据本发明一个实施例的级联型彩色打印机的框图。
图7示出根据本发明一个实施例的BD传感器的时序图(timechart)。
图8A和8B是示出根据本发明一个实施例的扫描时间变化的图。
图8C是示出根据本发明一个实施例的抖动校正方法的流程图。
图9是根据本发明实施例2的扫描光学装置的简单平面图。
图10是根据本发明实施例2的级联型彩色打印机的框图。
图11是根据本发明实施例2的BD传感器的时序图。
图12是根据本发明实施例3的扫描光学装置的示意平面图。
图13是根据本发明实施例3的级联型彩色打印机的框图。
图14是根据本发明实施例3的BD传感器的时序图。
具体实施方式
在下文中，将描述本发明的实施例。下述个别实施例有益于理解本发明的各种概念，例如上位概念、中位概念和下位概念。应该理解，本发明的技术范围通过所附的权利要求限定，不受下述个别实施例的限制。
实施例1
在下文中，将参照附图描述一个实施例，其中根据本发明的扫描光学装置应用于级联型多色图像形成装置(特别地，彩色打印机)。扫描光学装置下文也可以称为“光学扫描装置”、“扫描仪”或“曝光装置”。图像形成装置可以实施为例如打印设备、打印机、复印机、多功能外围设备或传真机。
图1是根据本发明一个实施例的级联型彩色打印机的示意截面图。彩色打印机100包括多个图像形成单元(也称为“图像形成站”)。图像形成单元81Bk形成黑色图像。图像形成单元81C形成青色图像。图像形成单元81M形成品红色图像。图像形成单元81Y形成黄色图像。这四个图像形成单元81Bk、81C、81M和81Y以预定的相互间距布置成一条线。
图像形成单元81Bk、81C、81M和81Y分别具有鼓形感光部件(在下文中称为“感光鼓”)82a、82b、82c和82d。感光鼓82a、82b、82c和82d是由以光电导层覆盖的铝鼓基底构成的充负电的OPC感光部件，并通过驱动装置(未示出)在箭头方向(图1中的顺时针方向)上以预定的处理速度旋转地被驱动。充当转印装置的转印辊85a、85b、85c和85d布置成分别面向感光鼓82a、82b、82c和82d。转印辊85a、85b、85c和85d分别与感光鼓82a、82b、82c和82d接触，其间在相应的初次转印辊隙部分布置有中间转印带87。
中间转印带87在一对带传送辊88和89之间拉紧，并沿着箭头A的方向(图1中的逆时针方向)旋转(移动)。中间转印带87由诸如聚碳酸酯、聚对苯二甲酸乙二醇酯树脂膜或聚偏二氟乙烯树脂膜之类的电介质树脂配置成。
带传送辊88与二次转印辊90接触，其间插入有中间转印带87，形成二次转印单元。带传送辊88和二次转印辊90是转印装置的例子。除去和收集转印之后留在中间转印带87表面上的残留调色剂的带清洁装置91布置于中间转印带87之外靠近带传送辊89。
馈纸盒92存储转印纸，所述转印纸是片材形记录介质。转印纸下文也称为“记录材料”、“记录介质”、“片材”、“转印材料”或“转印纸”，或者简单称为“纸”。存储在馈纸盒92中的转印纸通过馈纸辊93逐张提供。当转印纸传送到一对配准辊94时，传送停止一次。在调色剂图像到达二次转印单元时的时刻，转印纸的传送再次开始。调色剂图像通过二次转印单元而转印于其上的转印纸被传送到定影装置95，在这里调色剂图像通过热而被定影。转印纸然后通过一对传送辊96和一对排出辊97传送，并被排出到排出盘98上。
图2是示出扫描光学装置和图像形成单元的示意截面图。初次充电装置83a、83b、83c和83d，显影装置84a、84b、84c和84d，以及鼓清洁装置86a、86b、86c和86d分别布置于感光鼓82a、82b、82c和82d周围。扫描光学装置50布置于初次充电装置83a、83b、83c和83d以及显影装置84a、84b、84c和84d下方。
显影装置84a、84b、84c和84d分别包含黑色调色剂、青色调色剂、品红色调色剂和黄色调色剂。充当初次充电单元的初次充电装置83a、83b、83c和83d利用通过充电偏压电源(未示出)施加的充电偏压，分别把感光鼓82a、82b、82c和82d的表面充电为预定的负电位。显影装置84a、84b、84c和84d包含调色剂，并把其相应颜色的调色剂粘附到形成于感光鼓82a、82b、82c和82d上的静电潜像上，从而显影调色剂图像(以形成可见图像)。鼓清洁装置86a、86b、86c和86d例如由清洁刀片构成，用于清除在从感光部件初次转印之后留在感光鼓上的残留调色剂。调色剂图像下文也称为“显影后的图像”。
扫描光学装置50设置有多面镜10。多面镜10是具有多个反射面的旋转多面镜的示例，这些反射面在多面镜旋转的同时反射入射光束。下面参照图2到5，详细描述扫描光学装置50。
图3是根据本发明一个实施例的扫描光学装置的示意平面图。图3示出从图1和2的图像形成单元观察的扫描光学装置50的视图。图4和5是激光器支架单元的截面图。
参考图3和4，激光器支架1支持半导体激光器(单束激光器)2和3，它们是光源的例子，它们分别被压装(press-fitted)到套筒1a和1b。电路板4设置有驱动半导体激光器2和3的激光器驱动电路。BD传感器5布置于电路板4上。BD传感器5检测被多面镜10反射的光束，并输出主扫描方向的检测信号。该检测信号指示扫描从图像的端部开始。在实施例1中，BD传感器5是第一检测单元的示例，它检测主扫描方向上的扫描开始侧的第一光束。如这里所使用的，“主扫描方向”一般指平行于光束的扫描平面的方向。而且，“副扫描方向”一般指正交于主扫描方向的方向。主扫描方向和副扫描方向是通过光束的扫描平面定义的相对方向，而不是三维空间中的绝对方向。
如图4所示，管状支持(holding)部件1a和1b支持半导体激光器2和3，以便半导体激光器2和3的光轴在副扫描方向上以预定的角度θ彼此相交。因此，半导体激光器2和3可以以其间很小的间距被支持。光圈单元1c和1d布置在管状支持部件1a和1b的前端，分别与半导体激光器2和3相对应。光圈单元1c和1d把从半导体激光器2和3发射的光束整形成期望的且最优的光束形状。进一步，把经过了光圈单元1c和1d的光束转换成充分平行的光束的准直透镜6和7布置在管状支持部件1a和1b的更前端。
如图5所示，激光器支架11是与激光器支架1相同的组件，并且分别支持压装到管状支持部件11a和11b的半导体激光器12和13。电路板14设置有驱动半导体激光器12和13的激光器驱动电路。BD传感器15布置于电路板14上。参考图3，BD传感器15检测被多面镜反射的光束，并输出主扫描方向的检测信号。该检测信号指示扫描在图像的另一端部结束。在实施例1中，BD传感器15是第四检测单元的示例，它在主扫描方向上的扫描结束侧检测第二光束。
管状支持部件11a和11b支持半导体激光器12和13，以便半导体激光器12和13的光轴在副扫描方向上以预定的角度θ彼此相交。因此，半导体激光器12和13可以以其间很小的间距被支持。光圈单元11c和11d布置在管状支持部件11a和11b的前端，与半导体激光器12和13相对应。光圈单元11c和11d把从半导体激光器12和13发射的光束整形成期望的且最优的光束形状。进一步，把经过了光圈单元11c和11d的光束转换成基本上平行的光束的准直透镜16和17布置在管状支持部件11a和11b的更前端。
图2和3所示的光学外壳(optical casing)40是用于容纳扫描光学装置50的光学组件的外壳。在光学外壳40的侧壁中设置装配孔和深孔以安放激光器支架1。形成于激光器支架1的管状支持部件1a和1b外部的装配部分被装配到装配孔和深孔中。激光器支架1如上所述连附到光学外壳40上，以便可以高度精确地确保半导体激光器2、3与光学外壳40中容纳的光学组件之间的位置关系。
激光器支架11以与激光器支架1相同的方式被安放于光学外壳40中。因此能够高度精确地确保半导体激光器12、13与光学外壳40中容纳的光学组件之间的位置关系。
图3所示的柱形透镜8仅在副扫描方向上具有预定的折射力。BD透镜9把被多面镜10反射的光束成像于BD传感器5的光接收表面上。注意，在本实施例中，在对应于半导体激光器2的位置设置BD传感器5，在对应于半导体激光器3的位置不设置BD传感器。因为在单个激光器支架1中在副扫描方向上设置半导体激光器2和3，所以半导体激光器3可以在与半导体激光器2相同的时刻开始扫描。由于该原因，可以省略对应于半导体激光器3的BD传感器。
柱形透镜18仅在副扫描方向上具有预定的折射力。BD透镜19把被多面镜10反射的光束成像于BD传感器15的光接收表面上。注意，在本实施例中，在对应于半导体激光器12的位置设置BD传感器15，在对应于半导体激光器13的位置不设置BD传感器。此中原因与对半导体激光器2和3描述的原因相同。
多面镜10通过电动机(未示出)在图3中箭头的方向(顺时针方向)上以预定的速度旋转，从而偏转/扫描从半导体激光器发射的光束。可以从图3看到，半导体激光器2是第一光源的示例，它从通过用经过多面镜10的旋转轴的平面分割扫描光学装置获得的一个部分发射第一光束。也可以看到，半导体激光器12是第二光源的示例，它从通过用该平面进行分割获得的另一部分发射第二光束。根据图3，该平面是想象的平面，它以多面镜10的旋转轴为中心把扫描光学装置50分成右边和左边部分，并且垂直于纸表面。
图1和2中所示的第一成像透镜21用作fθ透镜，它与第二成像透镜22和23相结合以均匀的速度把激光扫描和点成像于鼓上。因为从半导体激光器2和3发射的光束以不同的角度入射，所以第一成像透镜21被配置为柱形透镜。至于副扫描方向，来自半导体激光器2的光束通过第二成像透镜22成像。类似地，来自半导体激光器3的光束通过第二成像透镜23成像。这些成像透镜是成像单元的示例，所述成像单元把被旋转多面镜偏转/扫描的光束成像于各相应的感光部件上。
弯折镜(bending mirror)24到26是在预定方向上反射光束的反射镜。弯折镜24是为半导体激光器2的光束布置的最终弯折镜。弯折镜25是为半导体激光器3的光束布置的分离弯折镜。弯折镜26是为半导体激光器3的光束布置的最终弯折镜。通过该布置，半导体激光器3的光束被分离弯折镜25和最终弯折镜26多次反射。因此，能够有效利用很小的空间并提供光路长度与半导体激光器2的光束的光路长度相同的光束。
BD传感器28检测从半导体激光器2发射并被多面镜10反射的光束，并输出主扫描方向上的检测信号。该检测信号指示扫描在图像的另一端部结束时的时刻。在实施例1中，BD传感器28是第二检测单元的示例，它在主扫描方向上的扫描结束侧检测第一光束。BD透镜29把被多面镜10反射的光束成像于BD传感器28的光接收表面上。如上文所述，BD传感器5检测扫描开始的时刻，BD传感器28检测扫描结束的时刻，由此，能够测量用于从半导体激光器2发射并被多面镜10反射的光束的扫描时间。
在多面镜10的另一侧，布置了对应于半导体激光器12和13的第一成像透镜31以及第二成像透镜32和33。类似于前述，最终弯折镜34为半导体激光器13的光束而布置，分离弯折镜35为半导体激光器12的光束而布置，最终弯折镜36为半导体激光器12的光束而布置。这些成像透镜是成像单元的示例，它把被旋转多面镜偏转/扫描的光束成像于各相应的感光部件上。半导体激光器12的光束被分离弯折镜35和最终弯折镜36多次反射，由此，能够有效利用很小的空间并提供光路长度与半导体激光器13的光束的光路长度相同的光束。因此能够使扫描光学装置50小型化。
BD传感器38检测从半导体激光器2发射并被多面镜10反射的光束，并输出主扫描方向上的检测信号。该检测信号指示在图像的一个端部的扫描开始时刻。在实施例1中，BD传感器38是第三检测单元的示例，它在主扫描方向上的扫描开始侧检测第二光束。
BD透镜19把被多面镜10反射的光束成像于BD传感器38的光接收表面上。BD传感器38检测扫描开始的时刻，BD传感器15检测扫描结束的时刻，由此，能够测量用于从半导体激光器12发射并被多面镜10反射的光束的扫描时间。
图2中所示的上盖41连附在光学外壳40上。因此，扫描光学装置50是密封的，防止灰尘、调色剂等进入扫描光学装置50。上盖41在对应于感光鼓82a、82b、82c和82d的位置设置有狭缝开口。防尘玻璃部件43a、43b、43c和43d(它们是透明组件)附在这些开口上。从而，扫描光可以通过防尘玻璃部件43a、43b、43c和43d照射到感光鼓82a、82b、82c和82d上。进一步，这些防尘玻璃部件防止灰尘、调色剂等进入扫描光学装置50。
图6是根据本发明一个实施例的控制单元的框图。抖动校正单元60控制用于半导体激光器2、3、12和13的像素时钟从而校正由于多面镜10的反射面的反射系数之间的差异和驱动多面镜10的电动机的旋转周期的变化引起的相应抖动。向半导体激光器2、3、12和13提供来自相应激光器驱动单元66、67、68和69的像素时钟。抖动校正单元60包括计算电路61和62、存储器63和64以及计算电路65。
从半导体激光器2发射并被多面镜10反射的光束被布置于主扫描方向上的扫描开始侧的BD传感器5并且被布置于主扫描方向上的扫描结束侧的BD传感器28检测。指示扫描开始时刻的检测信号从BD传感器5输入到计算电路61。类似地，指示扫描结束时刻的检测信号从BD传感器28输入到计算电路61。计算电路61根据BD传感器5和28的检测信号测量多面镜10的各反射面的扫描时间Ani，并把测量到的扫描时间Ani存储到存储器63中。这里，i表示第i反射面(本实施例中i＝1，2，4，...6)。Ani也可以被表示为“An，i”，n表示多面镜10的第n旋转。例如，A12表示第一旋转中第二反射面的扫描时间。计算电路61是第一计算单元的示例，它计算第一光束被第一检测单元检测时的时刻与它被第二检测单元检测时的时刻之间的时间间隔，作为第一光源的扫描时间。
图7示出根据本发明一个实施例的BD传感器的时序图。对应于第一到第六反射面的扫描时间A11到A16存储在存储器63中。扫描时间A21到A26在多面镜10的第二旋转过程中被测量，并被存储在存储器63中。如此，在第n-1旋转和第n旋转过程中从半导体激光器2发射的各光束的扫描时间对于各反射面被存储在存储器63中。在本实施例中，假设相对于两次旋转的扫描时间被存储在存储器中。存储器63和64是存储单元的示例，它存储通过第一计算单元和第二计算单元计算的旋转多面镜的反射面的扫描时间。
从半导体激光器12发射并被多面镜10反射的光束被布置于主扫描方向上的扫描开始侧的BD传感器38并且被布置于主扫描方向上的扫描结束侧的BD传感器15检测。指示扫描开始时刻的检测信号从BD传感器38输入到计算电路62。类似地，指示扫描结束时刻的检测信号从BD传感器15输入到计算电路62。计算电路62根据BD传感器38和15的检测信号测量多面镜10的各反射面的扫描时间Bnj，并把测量到的时间Bnj存储到存储器64中。这里，j表示反射面(本实施例中j＝1，2，3，...6)的标识号码。n表示多面镜10的第n旋转。例如，B12表示第一旋转中第二反射面的扫描时间。计算电路62是第二计算单元的示例，它计算第二光束被第三检测单元检测时的时刻与它被第四检测单元检测时的时刻之间的时间间隔，作为第二光源的扫描时间。
对应于第一到第六反射面的扫描时间B11到B16被存储在存储器64中。在多面镜10的第二旋转过程中，测量扫描时间B21到B26，并将其存储在存储器64中。如此，在第n-1旋转和第n旋转过程中从半导体激光器12发射的各光束的扫描时间对于各反射面被存储在存储器64中。在本实施例中，假设相当于两次旋转的扫描时间被存储在存储器中。
激光器驱动单元66基于通过计算电路65确定的像素时钟使半导体激光器2发射光。激光器驱动单元67基于与通过计算电路65计算的激光器驱动单元66的像素时钟类似的像素时钟使半导体激光器3发射光。激光器驱动单元68基于通过计算电路65确定的像素时钟使半导体激光器12发射光。激光器驱动单元69基于与通过计算电路65计算的激光器驱动单元68的像素时钟类似的像素时钟使半导体激光器13发射光。
计算电路65是抖动校正单元的示例，它通过根据第二光源的扫描时间控制提供给第一光源的像素时钟来校正抖动。当使得半导体激光器2和3发射光时，实施例1的计算电路65通过使用对应于多面镜10的反射面的第n旋转的扫描时间来调制像素时钟，校正反射面的反射系数之间的差异。例如，在第一反射面的情况下，计算电路65从存储器63读出扫描时间A21，并调制像素时钟以使像素时钟成为T0/A21，即，充当参考的参考扫描时间T0的1/A21倍。
进一步，计算电路65通过根据多面镜10的反射面使用在第n-1旋转中获得的半导体激光器12的扫描时间和第n旋转中获得的半导体激光器12的扫描时间来调制像素时钟，校正驱动多面镜10的电动机的旋转周期的变化。例如，计算电路65从存储器64读出扫描时间B11和B21，并调制像素时钟以使像素时钟成为B11/B21倍。最后，半导体激光器2和3的目标扫描时间TA可以通过下列等式表示。
TA＝(T0/A21)×(B11/B21)
计算电路65调制像素时钟以便获得扫描时间TA。计算电路65基于扫描时间Ani、扫描时间B(n-1)i和Bni确定抖动校正所必需的第一目标扫描时间TA，并根据第一目标扫描时间TA调制要提供给第一光源的像素时钟。Bni也可以表示为“Bn，i”。TA是第一目标扫描时间的示例。扫描时间Ani表示在第n旋转过程中被第i反射面偏转的第一光束的扫描时间。扫描时间B(n-1)i和Bni表示在第n-1旋转和第n旋转过程中获得的被第i反射面偏转的第二光束的扫描时间。
如上文所述，使用一个旋转前的扫描时间A21以及在多面镜10另一侧获得的从大约1.5个旋转前的扫描时间B11到大约0.5个旋转前的扫描时间B21的变化，校正抖动。
图8A是示出旋转次数与扫描时间之间的关系的图。在图8A中，T0表示上述参考扫描时间。图8B是用来示出根据本实施例的抖动校正的概念图。特别地，如图8B所示，扫描时间TA的残差ΔB1减小到使用从两个旋转前的扫描时间A11到一个旋转前的扫描时间A21的变化获得的残差ΔA1的大约一半。换句话说，通过校正电动机的旋转周期的更加当前的变化，可以进一步减小抖动。使用各反射面的扫描时间以相同的方式也对第二到第六反射面执行抖动校正。
另一方面，计算电路65是抖动校正单元的示例，它通过根据第一光源的扫描时间控制要提供给第二光源的像素时钟来校正抖动。当使得半导体激光器12和13发射光时，计算电路65通过根据多面镜10的反射面来调制像素时钟，校正反射面的反射系数之间的差异。例如，在第一反射面的情况下，计算电路65从存储器64读出扫描时间B21，并调制像素时钟以使像素时钟成为T0/B21，即，参考扫描时间T0的1/B21倍。进一步，计算电路65通过使用在第n-1旋转中获得的半导体激光器2的扫描时间和在第n旋转中获得的半导体激光器2的扫描时间来调制像素时钟，校正驱动多面镜10的电动机的旋转周期的变化。例如，计算电路65从存储器63读出扫描时间A11和A21，并调制像素时钟以使像素时钟成为A11/A21倍。最后，半导体激光器12和13的目标扫描时间TB可以通过下列等式表示。
TB＝(T0/B21)×(A11/A21)
计算电路65调制像素时钟以便获得计算出的扫描时间TB。计算电路65基于扫描时间Bnj、扫描时间A(n-1)j和Anj确定校正抖动所必需的第二目标扫描时间TB，并根据第二目标扫描时间TB调制要提供给第二光源的像素时钟。TB是第二目标扫描时间的示例。扫描时间Bnj表示在第n旋转过程中被第j反射面偏转的第二光束的扫描时间。扫描时间A(n-1)j和Anj表示在第n-1旋转和第n旋转过程中获得的被第j反射面反射的第一光束的扫描时间。
如上文所述，在本实施例中，使用一个旋转前的扫描时间B21以及在多面镜10的另一侧获得的从大约1.5个旋转前的扫描时间A11到大约0.5个旋转前的扫描时间A21的变化，校正抖动。因此，能够校正比从两个旋转前的扫描时间B11到一个旋转前的扫描时间B12的变化更加当前的电动机旋转周期变化，使得可以进一步减小抖动。使用各反射面的扫描时间以相同的方式也对第二到第六反射面执行抖动校正。
接下来将描述用于通过把从半导体激光器2、3、12和13发射的光束分别曝光于感光鼓82a、82b、82c和82d上作为扫描光E1、E2、E3和E4而用彩色打印机100形成图像的处理流程。
图8C是示出根据本发明一个实施例的抖动校正方法的流程图。如果输入开始打印的信号，则多面镜10通过电动机(未示出)而被旋转驱动。当多面镜10旋转预定的次数时，半导体激光器2开始发射光。BD传感器5在主扫描方向上的扫描开始侧检测来自半导体激光器2的第一光束(S801)。BD传感器28在主扫描方向上的扫描结束侧检测来自半导体激光器2的第一光束(S802)。多面镜10的第一到第六反射面的扫描时间A11到A16根据BD传感器5和28的检测信号而被计算(S803)。测量的扫描时间A11到A16被存储在存储器63中(S804)。然后，测量多面镜10的反射面的第二扫描时间A21到A26，并将其存储在存储器63中(S801到S804)。如此，用于多面镜的各反射面的从半导体激光器2发射的光束的相当于两个旋转的最当前的扫描时间被存储在存储器中。
类似地，BD传感器38在主扫描方向上的扫描开始侧检测来自半导体激光器12的第二光束(S805)。BD传感器15在主扫描方向上的扫描结束侧检测来自半导体激光器12的第二光束(S806)。计算电路62根据BD传感器38和15的检测信号计算多面镜10的第一到第六反射面的扫描时间B11到B16(S807)。测量的扫描时间B11到B16被存储在存储器64中(S808)。然后，测量多面镜10的反射面的第二扫描时间B21到B26，并将其存储在存储器64中(S805到S808)。如此，用于多面镜的各反射面的从半导体激光器12发射的光束的相当于两个旋转的最当前扫描时间被存储在存储器中。
接下来，当使得半导体激光器2和3发射光时，计算电路65根据多面镜10的反射面，校正反射面的反射系数之间的差异和驱动多面镜10的电动机的旋转周期的变化(S809)。通过使用下列等式执行该控制。这里，i表示第i反射面，n表示多面镜10的第n旋转。
TA＝(T0/An,i)×(Bn-1，i/Bn,i)
例如，在第一反射面的情况下，计算电路65使用扫描时间A21、扫描时间B11和B21以及参考扫描时间T0计算目标扫描时间TA。
TA＝T0/A21×B11/B21
计算电路65调制像素时钟以使得满足扫描时间TA(S809)。换句话说，为多面镜10的各反射面计算的像素时钟用图像信息调制。激光器驱动单元66根据该调制信号使半导体激光器2发射光。类似地，激光器驱动单元67根据该调制信号使半导体激光器3发射光。
从半导体激光器2和3发射的光束的横截面尺寸受激光器支架1的光圈单元1c和1d限制。进一步，光束通过准直透镜6和7被转换成基本上平行的光束，并入射到柱形透镜8的透镜上。主扫描横截面内的入射到柱形透镜8上的那些光束通过。另一方面，副扫描横截面中的入射光束会聚并成像于多面镜10的同一面上，作为基本上线性的图像。这时，光束在副扫描方向上以角度θ倾斜入射。然后在多面镜10旋转的同时光束被偏转/扫描，使得光束在副扫描方向上以角度θ发射。在从多面镜10发射的两个光束中，从半导体激光器2发射的光束通过BD透镜9，并被BD传感器接收。BD传感器5检测从半导体激光器2发射的光束，并输出检测信号。根据该检测信号，调节从半导体激光器2和3的图像的一个端部开始扫描的时刻。
在该实施例中，在单个激光器支架1中在副扫描方向上提供半导体激光器2和3，使得半导体激光器3可以在与半导体激光器2相同的时刻从图像的一个端部开始扫描。在调节后的时刻从半导体激光器2和3发射的光束通过第一成像透镜21。之后，从半导体激光器2发射的光束通过第二成像透镜22，被最终弯折镜24反射，通过防尘玻璃部件43a，并作为扫描光E1照射到感光鼓82a上。另一方面，从半导体激光器3发射的光束被分离弯折镜25向下反射，通过第二成像透镜23，并被最终弯折镜26反射。该光束进一步通过防尘玻璃部件43b，并作为扫描光E2照射到感光鼓82b上。然后，从半导体激光器2发射并被多面镜10反射的光束通过BD透镜29，并被BD传感器28接收。BD传感器28检测在图像另一端部扫描结束的时刻。计算电路61然后测量扫描时间，最当前的扫描时间被存储在存储器63中。换句话说，扫描时间被连续更新。
当使得半导体激光器12和13发射光时，计算电路65通过根据多面镜10的反射面调制像素时钟，校正多面镜10的反射面的反射系数之间的差异和驱动多面镜10的电动机的旋转周期的变化(S810)。通过使用下列等式执行该控制。这里，i表示第i反射面，n表示多面镜10的第n旋转。
TB＝(T0/Bn，i)×(An-1，i/An，i)
在第一反射面的情况下，扫描时间B21、扫描时间A11和A21以及参考扫描时间T0被代入下列等式从而计算目标扫描时间TB。
TB＝T0/B21×A11/A21
因此，通过计算电路65为多面镜10的每个反射面计算的像素时钟用图像信息来调制(S810)。激光器驱动单元68根据该调制信号使半导体激光器12发射光。同样地，激光器驱动单元69根据该调制信号使半导体激光器13发射光。
从半导体激光器12和13发射的光束通过光圈单元11c和11d、准直透镜16和17以及柱形透镜18，并入射到多面镜10上。这时，光束在副扫描方向上以角度θ倾斜入射。然后在多面镜10旋转的同时光束被偏转/扫描，使得光束在副扫描方向上以角度θ发射。在从多面镜10发射的两个光束中，起源于半导体激光器12的光束通过BD透镜19，并被BD传感器38接收。BD传感器38检测从半导体激光器12发射的光束，并输出检测信号。根据该检测信号，调节对于半导体激光器12和13的从图像的一个端部扫描开始的时刻。
在该实施例中，在单个激光器支架11中在副扫描方向上提供半导体激光器12和13，使得半导体激光器13可以在与半导体激光器12相同的时刻从图像的另一端部开始扫描。在调节后的时刻从半导体激光器12和13发射的光束通过第一成像透镜31。之后，从半导体激光器12发射的光束被分离弯折镜35向下反射，通过第二成像透镜33，并被最终弯折镜36反射。该光束进一步通过防尘玻璃部件43c，并作为扫描光E3照射到感光鼓82c上。
另一方面，从半导体激光器13发射的光束通过第二成像透镜32，并被最终弯折镜34反射。进一步，该光束通过防尘玻璃部件43d，并作为扫描光E4照射到感光鼓82d上。之后，起源于半导体激光器12的光束通过BD透镜39，并被BD传感器15接收。BD传感器15检测在图像另一端部的扫描结束的时刻。进一步，计算电路62根据来自BD传感器15和38的检测信号测量扫描时间，最当前的扫描时间被存储在存储器64中。
如此，经历了抖动校正的扫描光E1、E2、E3和E4作为扫描光分别照射到感光鼓82a、82b、82c和82d上。感光鼓通过相应的初次充电装置83a、83b、83c和83d事先均匀地带电。通过曝光，静电潜像形成于各感光鼓82a、82b、82c和82d上。显影装置84a、84b、84c和84d把它们的彩色调色剂附在静电潜像上以便在感光鼓82a、82b、82c和82d上形成调色剂图像。调色剂图像从感光鼓82a、82b、82c和82d转印到初次转印辊隙部分处的中间转印带87上。另一方面，转印纸通过馈纸辊93从馈纸盒92逐张提供。当转印纸传送到配准辊对94时，传送停止一次。在传送调色剂图像时的时刻，转印纸的传送再次开始。在二次转印单元中，调色剂图像从中间转印带87转印到转印纸上。从而，图像形成于转印纸上。定影装置95通过热把图像定影在转印纸上。转印纸通过传送辊对96和排出辊对97传送，并被排出到排出盘98上。
如上文所述，在对各颜色执行抖动校正的同时执行曝光，使得抑制主扫描方向上的曝光位置的偏移，并可以形成主扫描方向上色移更小的高清晰度图像。
如上文所述，扫描光学装置50与单个多面镜10同时地偏转/扫描从半导体激光器2、3、12和13发射的多个激光束，并把激光束照射到多个感光鼓82a、82b、82c和82d上。从而，组件个数减少，可以低成本地使扫描光学装置50小型化。进一步，在扫描光学装置50中，半导体激光器3的光束被分离弯折镜25和最终弯折镜26反射多次。进一步，在扫描光学装置50中，半导体激光器12的光束被分离弯折镜35和最终弯折镜36反射多次。通过该配置，能够有效利用很小的空间和提供具有相同光路长度的光束，并且可以使扫描光学装置50更小型化。因此，也可以低成本地使彩色打印机100小型化。
光束从通过用经过关于多面镜10的各反射面的旋转轴的平面分割扫描光学装置获得的两个部分入射并且测量扫描时间也是可能的。换句话说，在多面镜10的单个旋转过程中，对于各反射面，扫描时间可以被测量两次。抖动校正单元60根据半导体激光器12的扫描时间控制提供给半导体激光器2和3的像素时钟。另一方面，抖动校正单元60通过根据半导体激光器2的扫描时间控制提供给半导体激光器12和13的像素时钟来校正抖动。例如，抖动校正单元60使用在一个部分中测量的扫描时间和在另一个部分中测量的从大致1.5个旋转前的扫描时间到大致0.5个旋转前的扫描时间的变化，调制像素时钟。因此，能够减少由反射面的反射系数之间的差异引起的短期抖动和由驱动多面镜10的电动机的旋转周期的变化引起的长期抖动。特别地，通过使用在多面镜10的另一侧获得的大致1.5个旋转前的扫描时间与大致0.5个旋转前的扫描时间之间的变化量调制像素时钟，可以校正电动机的旋转周期的更加当前的变化。因此，可以进一步减小抖动。如上文所述，能够校正抖动和执行曝光控制，使得可以抑制主扫描方向上的曝光位置的偏移。换句话说，彩色打印机100可以形成主扫描方向上色移更小的高清晰度图像。因此，能够实现小型并能够提供高清晰度图像的彩色打印机100。
实施例2
下面将参照图9到11描述实施例2。特别地，实施例2采用其中可以省略BD传感器28和38的配置。
图9是根据本发明实施例2的扫描光学装置的示意平面图。在实施例2中，相同的参考数字被分配给与实施例1相同的组件，这里省略对它们的描述。
从图9和3之间的比较可以看到，省略了BD传感器28，取而代之，添加了BD镜27，并且BD透镜29的位置改变。BD镜27是反射镜，它把从半导体激光器2发射并被多面镜10反射的光束向BD传感器5反射。BD透镜29是把被BD镜27反射的光束成像于BD传感器5的光接收表面上的透镜。
换句话说，当扫描开始时，从半导体激光器2发射并被多面镜10反射的光束通过BD透镜9并被BD传感器5接收。当扫描结束时，光束被BD镜27反射，通过BD透镜29，并再次被BD传感器5接收。因此，当扫描开始时，BD传感器5检测通过了BD透镜9的光束，并输出检测信号。当扫描结束时，BD传感器5检测被BD镜27反射并通过了BD透镜29的光束，并输出检测信号。因此，能够根据在扫描开始时从BD传感器5输出的检测信号与在扫描结束时从BD传感器5输出的检测信号之间的时间间隔测量半导体激光器2的扫描时间。
如上文所述，实施例2是有优势的，在于第一检测单元和第二检测单元可以通过提供BD镜27而由同一传感器实现。另一个优势为半导体激光器2的扫描时间的测量不受传感器之间的灵敏度差异影响。即使发生不规则变化，例如如果传感器的灵敏度特性由于温度变化而变化，或者如果传感器的检测面污染，测量的扫描时间也不受传感器之间的差异影响，使得稳定抖动校正。进一步，可以减少电气组件数和束线数，导致装配特性改善。而且，可以低成本地容易地实现小型扫描光学装置50。BD镜27是第一反射镜的示例，它把主扫描方向上向扫描结束侧偏转的第一光束向第一检测单元反射。
从图9和3之间的比较可以看到，省略了BD传感器38，取而代之，添加了BD镜37，并且BD透镜19的位置改变。BD镜37为反射镜，它把从半导体激光器12发射并被多面镜10反射的光束向BD传感器15反射。BD透镜19是把被BD镜37反射的光束成像于BD传感器15的光接收表面上的透镜。换句话说，当扫描开始时，从半导体激光器12发射并被多面镜10反射的光束被BD镜37反射，通过BD透镜19，并被BD传感器15接收。当扫描结束时，光束通过BD透镜39，并再次被BD传感器15接收。因此，当扫描开始时，BD传感器15检测被BD镜37反射并通过了BD透镜19的光束，并输出检测信号。当扫描结束时，BD传感器15检测通过了BD透镜39的光束，并输出检测信号。因此，能够根据在扫描开始时从BD传感器15输出的检测信号与在扫描结束时从BD传感器15输出的检测信号之间的时间间隔测量半导体激光器12的扫描时间。如上文所述，实施例2是有优势的，在于第三检测单元和第四检测单元可以通过提供BD镜37而由同一传感器实现。另一个优势为扫描时间的测量如上所述不受传感器之间的差异影响。进一步，可以减少电气组件数和束线数，导致装配特性改善。而且，可以低成本地容易地实现小型扫描光学装置50。BD镜37是第二反射镜的示例，它把在主扫描方向上向扫描开始侧偏转的第二光束向第四检测单元反射。
图10是根据本发明实施例2的级联型彩色打印机的框图。图11是根据本发明实施例2的BD传感器的时序图。
从图10和6之间的比较可以看到，省略了BD传感器28和38。由于该原因，计算电路61可以根据在扫描开始时从BD传感器5输出的检测信号与在扫描结束时从BD传感器5输出的检测信号之间的间隔测量半导体激光器2的扫描时间。类似地，计算电路62可以根据在扫描开始时从BD传感器5输出的检测信号与在扫描结束时从BD传感器5输出的检测信号之间的间隔测量半导体激光器12的扫描时间。
参考图11，计算电路61根据从BD传感器5连续输出的两个检测信号测量多面镜10的各反射面的扫描时间Ani。测量的扫描时间Ani被存储在存储器63中。这里，i表示第i反射面(本实施例中i＝1到6)。n表示多面镜10的第n旋转。
计算电路62根据从BD传感器15连续输出的两个检测信号检测多面镜10的各反射面的扫描时间Bnj。测量的扫描时间Bnj被存储在存储器64中。这里，j表示第j反射面(本实施例中j＝1到6)，n表示多面镜10的第n旋转。
通过计算电路65执行的抖动校正处理与实施例1的相同，所以这里省略对其的描述。
如上文所述，根据实施例2，除了实施例1的效果以外还可以产生进一步效果。具体地，实施例2被这样配置使得实施例1中描述的BD传感器5和28通过同一传感器(BD传感器5)实现，使得可以省略BD传感器28。进一步，由于传感器之间的差异引起的影响可以被消除。类似地，实施例2被这样配置使得实施例1中描述的BD传感器15和38通过同一传感器(BD传感器15)实现，使得可以省略BD传感器38。进一步，由于传感器之间的差异引起的影响可以被消除。
实施例3
下面将参照图12到14描述实施例3。类似于实施例2，实施例3也采用其中可以省略BD传感器28和38的配置。
图12是根据本发明实施例3的扫描光学装置的示意平面图。在实施例3中，相同的参考数字被分配给与实施例1相同的组件，这里省略对它们的描述。
从图12和3之间的比较可以看到，省略了BD传感器28和38，取而代之，添加了BD镜27和37。从图12和9之间的比较可以看到，添加了进一步的BD镜20和30。
与实施例2的差异是提供了BD镜20，它把发射自半导体激光器2的光束中向主扫描方向上的扫描开始侧偏转的光束向BD传感器15反射。BD透镜9的位置也改变。被BD镜20反射的光束通过BD透镜9，并入射到BD传感器15上。BD镜20是第一反射镜的示例，它把向主扫描方向上的扫描开始侧偏转的第一光束向第三检测单元反射。
而且，提供BD镜30，它把发射自半导体激光器12的光束中向主扫描方向上的扫描结束侧偏转的光束向BD传感器5反射。因此，BD透镜39的位置也改变。被BD镜30反射的光束通过BD透镜39，并入射到BD传感器5上。BD镜30是第二反射镜的示例，它把向主扫描方向上的扫描结束侧偏转的第二光束向第二检测单元反射。
图13是根据本发明实施例3的控制单元的框图。从图6和9之间的比较可以看到，BD传感器5的检测信号输入到计算电路61和62二者。类似地，BD传感器15的检测信号输入到计算电路61和62二者。
图14是根据本发明实施例3的BD传感器的时序图。计算电路61根据从BD传感器5输出的检测信号和从BD传感器15输出的检测信号测量多面镜10的各反射面的扫描时间Ani。测量的扫描时间Ani被存储在存储器63中，其中，i表示第i反射面(本实施例中i＝1到6)，n表示多面镜10的第n旋转。
计算电路62根据从BD传感器15输出的检测信号和从BD传感器5输出的检测信号测量多面镜10的各反射面的扫描时间Bnj。测量的扫描时间Bnj被存储在存储器64中，其中j表示第j反射面，本实施例中j＝1到6，n表示多面镜10的第n旋转。
通过计算电路65执行的抖动校正处理与实施例1的相同，所以这里省略对其的描述。
如上文所述，根据实施例3，可以获得类似于实施例2的效果。
其它实施例
上面实施例中描述的配置在适当时可以结合。例如，图3右半边所示的配置可以由图9右半边所示的配置代替。相反地，可以用图9左半边所示的配置代替图3左半边所示的配置。
进一步，上面实施例中描述的反射镜个数和反射次数仅是示例性的，本发明不局限于此。在本发明中，反射镜个数和反射次数可以设置为任何值，只要各反射面的扫描时间Ani和Bnj可以被测量。
上述实施例采用其中两个激光束入射到单个多面镜两侧的每一侧以曝光四个感光鼓的方法。然而，本发明不局限于该配置。例如，能够使用其中单个激光束入射到单个多面镜两侧的每一侧以曝光两个感光鼓的方法。在这种情况下，需要两个扫描光学装置来曝光四个感光鼓。
虽然已经参考示例性实施例描述了本发明，但是应该理解，本发明并不局限于公开的示例性实施例。应给予下列权利要求的范围最宽的解释以包括所有这样的修改以及等同结构和功能。

Claims (8)

1.一种扫描光学装置，包括：
旋转多面镜，设置有多个反射面，所述多个反射面在旋转多面镜旋转的同时反射入射光束；
第一光源，它从通过用经过所述旋转多面镜的旋转轴的平面分割所述扫描光学装置获得的一个部分发射第一光束；
第二光源，它从通过用所述平面进行分割获得的另一部分发射第二光束；
成像单元，它把被所述旋转多面镜偏转/扫描的第一和第二光束成像于相应的感光部件上；
第一检测单元，它在主扫描方向上的扫描开始侧检测第一光束；
第二检测单元，它在主扫描方向上的扫描结束侧检测第一光束；
第三检测单元，它在主扫描方向上的扫描开始侧检测第二光束；
第四检测单元，它在主扫描方向上的扫描结束侧检测第二光束；
第一计算单元，它基于所述第一检测单元和所述第二检测单元的检测结果，计算所述第一检测单元检测到由所述旋转多面镜扫描的第一光束时的时刻与所述第二检测单元检测到由所述旋转多面镜扫描的第一光束时的时刻之间的第一扫描时间；
第二计算单元，它基于所述第三检测单元和所述第四检测单元的检测结果，计算所述第三检测单元检测到由所述旋转多面镜扫描的第二光束时的时刻与所述第四检测单元检测到由所述旋转多面镜扫描的第二光束时的时刻之间的第二扫描时间；
存储单元，它存储所述第一计算单元和所述第二计算单元计算的所述旋转多面镜的所述多个反射面中的相应反射面的第一扫描时间和第二扫描时间；和
抖动校正单元，它通过根据所述第二光源的第二扫描时间控制提供给所述第一光源的像素时钟，并且根据所述第一光源的第一扫描时间控制提供给所述第二光源的像素时钟，校正抖动。
2.根据权利要求1的扫描光学装置，其中所述抖动校正单元适用于根据被第i反射面偏转的第一光束在第n旋转时的扫描时间，以及被所述第i反射面偏转的第二光束在第n旋转时的扫描时间和在第n-1旋转时的扫描时间，确定校正抖动所必需的第一目标扫描时间，并且进一步适用于根据所确定的第一目标扫描时间调制提供给所述第一光源的像素时钟。
3.根据权利要求1的扫描光学装置，
其中所述抖动校正单元适用于根据被第j反射面偏转的第二光束在第n旋转时的扫描时间，以及被所述第j反射面偏转的第一光束在第n旋转时的扫描时间和在第n-1旋转时的扫描时间，确定校正抖动所必需的第二目标扫描时间，并且进一步适用于根据所确定的第二目标扫描时间调制提供给所述第二光源的像素时钟。
4.根据权利要求1的扫描光学装置，
其中通过进一步提供第一反射镜，所述第一检测单元和所述第二检测单元由同一传感器实现，所述第一反射镜把向主扫描方向上的扫描结束侧偏转的第一光束向也用作第二检测单元的所述第一检测单元反射。
5.根据权利要求1的扫描光学装置，
其中通过进一步提供第二反射镜，所述第三检测单元和所述第四检测单元由同一传感器实现，所述第二反射镜把向主扫描方向上的扫描开始侧偏转的第二光束向也用作所述第三检测单元的所述第四检测单元反射。
6.根据权利要求1的扫描光学装置，
其中通过进一步提供第一反射镜和第二反射镜，所述第一检测单元和所述第三检测单元由同一传感器实现，所述第一反射镜把向主扫描方向上的扫描开始侧偏转的第一光束向也用作所述第一检测单元的所述第三检测单元反射，所述第二反射镜把向主扫描方向上的扫描开始侧偏转的第二光束向所述第三检测单元反射，和
通过进一步提供第三反射镜和第四反射镜，所述第二检测单元和所述第四检测单元由同一传感器实现，所述第三反射镜把向主扫描方向上的扫描结束侧偏转的第二光束向也用作所述第四检测单元的所述第二检测单元反射，所述第四反射镜把向主扫描方向上的扫描结束侧偏转的第一光束向所述第二检测单元反射。
7.一种图像形成装置，包括：
多个感光部件；
充电装置，它对所述感光部件充电；
根据权利要求1的扫描光学装置，它通过用对应于图像信息的光束扫描所述感光部件的表面形成静电潜像；
显影装置，它通过显影静电潜像形成显影后的图像；
转印装置，它把显影后的图像转印到纸上；和
定影装置，它把显影后的图像定影到纸上。
8.一种用于扫描光学装置的抖动校正方法，所述扫描光学装置包括：
旋转多面镜，设置有多个反射面，所述多个反射面在旋转多面镜旋转的同时反射入射光束；
第一光源，它从通过用经过所述旋转多面镜的旋转轴的平面分割所述扫描光学装置获得的一个部分发射第一光束；
第二光源，它从通过用所述平面进行分割获得的另一部分发射第二光束；和
成像单元，它把被所述旋转多面镜偏转/扫描的第一和第二光束成像于相应的感光部件，所述方法包括：
第一检测步骤，在主扫描方向上的扫描开始侧检测第一光束；
第二检测步骤，在主扫描方向上的扫描结束侧检测第一光束；
第三检测步骤，在主扫描方向上的扫描开始侧检测第二光束；
第四检测步骤，在主扫描方向上的扫描结束侧检测第二光束；
第一计算步骤，基于在所述第一检测步骤和所述第二检测步骤中的检测结果，计算所述第一检测步骤中检测到由所述旋转多面镜扫描的第一光束时的时刻与所述第二检测步骤中检测到由所述旋转多面镜扫描的第一光束时的时刻之间的第一扫描时间；
第二计算步骤，基于在所述第三检测步骤和所述第四检测步骤中的检测结果，计算所述第三检测步骤中检测到由所述旋转多面镜扫描的第二光束时的时刻与所述第四检测步骤中检测到由所述旋转多面镜扫描的第二光束时的时刻之间的第二扫描时间；
存储步骤，存储所述第一计算步骤和所述第二计算步骤中计算的所述旋转多面镜的所述多个反射面中的相应的反射面的第一扫描时间和第二扫描时间；和
抖动校正步骤，通过根据所述第二光源的第二扫描时间控制提供给所述第一光源的像素时钟，并且根据所述第一光源的第一扫描时间控制提供给所述第二光源的像素时钟，校正抖动。
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