CN101185055A - 电容式触摸传感器中杂散电容的检测和补偿 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了检测电容式触摸传感器中的杂散电容的系统和方法。杂散电容的存在导致了触摸检测以及触摸位置确定的错误。这些错误可以在杂散电容被检测出来的时候避免或者改正。对杂散电容的检测包括分析用于表征杂散电容噪声事件的特性的信号。这些特性可包括空间特性，例如由杂散电容产生的信号所确定的测试触摸位置的定位，以及包括时间特性，例如检测到的信号的变化率。

Description

电容式触摸传感器中杂散电容的检测和补偿
技术领域
本发明涉及电容式触摸传感器以及对电容式触摸传感器中的噪声进行检测和补偿。
背景技术
触摸输入设备能够为用户提供一种方便直观的方法来与类似于计算机、视频游戏、公共信息亭、自动导航系统等的电子系统互动。多数这些系统包括放置在触摸传感器后面并紧挨着触摸传感器的显示器，所以显示器是透过触摸传感器看见的。各种触摸传感技术包括在现有技术中已知的电容式、投射电容式、电阻式、表面声波式、以及红外式。
发明内容
本发明提供了检测触摸传感器系统中的杂散电容的方法，其中所述触摸传感器系统包括具有覆盖有效区域(active area)的电阻层的电容式触摸传感器，以及耦接到所述电阻层上多个位置的电子器件，所述电子器件用于根据由于触摸工具与所述电阻层的电容耦合而产生的流经所述多个位置的电流来确定触摸位置。所述方法包括将检测到的信号电平与阈值比较，例如低于记录触摸的阈值的第一阈值。
另一个步骤是当阈值被超过的时候确定一个测试触摸位置，并利用该测试触摸位置来确定杂散电容存在与否。本发明的方法可以附加地或者可替换地包括检测所述电阻层上的信号、在包括信号电平到达阈值以上的上升过程的一段时间内为信号建立分布图(profile)、确定上升过程中信号分布图中的变化率、以及利用所述变化率来确定杂散电容存在与否。
本发明还提供了电容式触摸屏系统，所述电容式触摸屏系统包括电容式触摸传感器，该电容式触摸传感器合并了电阻层以及在所述电阻层的多个位置上耦接到所述电阻层的电子器件，所述电子器件用于检测通过对所述电阻层的电容耦合而产生的信号，所述电子器件被配置成根据由于电容耦合而产生的流经所述多个位置的电流来确定触摸工具电容耦合到所述电阻层的位置。所述电子器件还配置来根据针对杂散电容一个或多个典型特性而对信号进行的分析，来把由杂散电容耦合到电阻层而产生的信号与由触摸工具耦合到电阻层而产生的信号区别开。
以上对本发明的总结不是用于描述本发明的每一个实施方式或每一个实施例。本发明的优点、成就、以及对本发明更深刻的理解通过参考以下的详细描述和权利要求并结合附图而将变得明显而且可以理解。
附图说明
图1是电容式触摸屏显示器的示意性分解图。
图2(a)是触摸输入在触摸传感器的左上角附近发生的时候由电容式触摸传感器检测到的总信号的示例性时域图。
图2(b)是图2(a)中同样的信号的时域图，它将每个角落电流对信号的作用分离出来。
图3(a)是杂散电容被耦合到触摸传感器的时候由电容式触摸传感器检测到的总信号的示例性时域图。
图3(b)是图3(a)中同样的信号的时域图，它将每个角落电流对信号的作用分离出来。
本发明可进行各种修改或者具有其它替换形式，其中的细节通过附图中的例子示出并将详细描述。然而，应该理解的是，本发明并不被所描述的实施例的发明所限定。相反，本发明意在覆盖所附权利要求所限定的范围内的所有修改、等同物、以及替换。
具体实施方式
本发明涉及检测电容式触摸输入系统中的杂散电容，尤其是在结合了缺乏屏蔽层(否则可以为有效触摸层屏蔽一些杂散电容)的电容式触摸传感器的系统中。本发明可以使用任何将由于杂散电容而产生的信号从由于触摸输入或者即将到来的接触而产生的信号中区别出来的技术的结合，这些技术包括：空间上的技术，其中从非触摸信号中计算出了一个三角位置并且这个三角位置与由杂散电容预期到的位置指示相比较；和时间上的技术，其中信号的变化率与由杂散电容信号所预期的表现相比较，以及类似的技术。这些技术中的任何技术都可以使用静态或者动态信号阈值作为触发事件，而这个空间的或者时间的标准可以是预先设定的并随着系统经历和记录了各种杂散电容事件而随时间得到学习或进一步改进。
未予说明的是，杂散电容会导致在报告的触摸输入位置中出现位置错误，或者甚至导致有效触摸输入的无报告。杂散电容通常产生信号，当这些信号被三角化时会造成位于触摸传感器可预测区域的“幻影”点。杂散电容通常还会引起非常迅速地增大的信号，在此之前没有通常在有效触摸输入前检测到的逐渐信号增大，也没有随后超过触摸阈值。在本发明中，对位于触摸传感器上的特殊区域中的测试触摸点的观察和/或对直接远离相对平坦的基线而迅速上升的信号的观察可与各种信号阈值一起被用于检测杂散电容，并且在一些情况下用于补偿杂散电容。
在典型的操作中，电容式触摸传感器的电子器件可以监控背景信号从而产生和更新信号基线。当触摸输入发生，随之产生的信号被作为基线。杂散电容的存在增大了整体信号电平。如果在触摸靠近传感器的时候杂散信号在太长的时间里更新成基线，那么触摸阈值相应的增大，从而降低触摸输入的灵敏度。于是，存在这样的信号电平，在该信号电平上杂散信号的基线更新优选地被暂停(suspended)了。但是，如果杂散电容信号的基线更新过早地被暂停，会发生位置错误，因为杂散信号被混入触摸输入信号。该位置错误的形式一般是由杂散信号引起的从真实触摸位置向幻影点的微扰。
在一些电容式触摸传感器系统中，定义一个阈值，高于该阈值时正常基线更新被暂停。超过该阈值将使得系统进入所谓的“盘旋模式”。杂散电容的影响会错误地导致电容式触摸传感器的电子器件进入盘旋模式，于是妨碍了触摸输入检测。这会导致不报告有效触摸输入或者错误地报告触摸输入位置的不希望的影响。本发明的系统和方法可以识别杂散电容和旁路正常响应，于是使得触摸输入即使在杂散电容存在的情况下也能被适当地检测并精确地报告。
在噪声环境中，噪声本身可触发盘旋阈值，于是在触摸之前错误地暂停杂散更新。这在缺乏后部屏蔽层的电容式触摸传感器系统中尤其可能发生。后部屏蔽层是放置于触摸屏后部表面的透明导电层或网格，这个后部表面是指面向在下面的显示装置的表面。所述后部屏蔽用于屏蔽触摸屏使之不会电容耦合到显示器或者用于将触摸屏与其它杂散电容屏蔽开。没有这种屏蔽存在的情况下，杂散电容的突然变化会错误地造成杂散电容的更新暂停一个延长的时间段。即使在具有后部屏蔽的系统中，杂散电容还是可能产生于是造成类似的影响，例如触摸传感器前的移动框(moving bezel)。
在本发明的系统和方法中，跟踪算法可被用来通过检测、应用、或者比较信号变化率、信号阈值、超时的发生、噪声过滤、噪声分析等等将真实触摸信号和杂散电容信号隔离。这种分析可以采用时域信号进行，例如通过分析信号变化率来确定信号分布曲线是否指示了由杂散电容、噪声、或靠近接触引起的变化。同样可以使用空间域，例如通过利用模糊逻辑来估计多少计算的“测试触摸”位置偏离了有限的且定义明确的区域(例如触摸屏物理中心)，无论该区域是预定的还是随时间改变。空间域分析可以利用杂散电容引起的预期的或观察的信号行为。
图1示意性地示出了放置在显示面板120例如液晶显示器(LCD)前面的电容式触摸传感器110。电容式触摸传感器110包括覆盖有效触摸区域的电阻层。电阻层的四个角(习惯上指定为UL、UR、LL、LR)由来自控制器电子器件的小的交流电压激励，该电压在图1中由各个角落上的电压V表示。当一个接地的导电触摸工具(例如用户手130上的手指135)足够靠近触摸传感器110的电阻层时，手指135和触摸传感器110通过电容136耦合。由于耦合，电流流经电阻层的每个角落，如图1中以电流IUL、IUR、ILL、ILR表示，它们从各个角落流入电阻层到达接触点P。接触点P的位置利用高于改进基线的电流的相对比率来确定，因此考虑了噪声和缓慢变化，并且接触点P的位置是基于这样的原理：越靠近接触就会有越多的电流流经角落。还存在由于用户手的剩余部分137而造成的电容耦合138，它在某种程度上干扰了手指触摸的位置定位，为了达到一个更精确的触摸位置确定这个耦合是可以被减去的。
相对于由于触摸屏和与其很邻近的各种物体耦合而产生的杂散电容而引起的流经电阻层的电流，响应于触摸输入的流经电阻层的电流是比较小的。能造成杂散电容的物体包括显示器(例如图1中显示器120与触摸传感器110之间的电容耦合121)、围绕触摸屏显示器的框(未示出)、用户触摸部位以外的其它部分(例如用户身体、头部、其它手、等等)、其它人、产生在触摸屏显示系统内或者周围的各种电路电容、等等。
电容式触摸传感器的稳定性和位置精确性可以部分地通过对杂散电容变化的检测和补偿来实现。触摸传感控制器电子器件可以被用于通过将瞬时电流与经过相对较长的一段时间建立的基线信号相比较来区分角落电流变化的各种源。当检测到的电流变化缓慢，瞬时值的变化被视为环境影响并随时间滤波至基线。当检测到的电流变化迅速时，它们被解释为由于靠近触摸或者真实触摸接触而产生的变化，称为“触按”。在充分迅速变化的电流的情况下，杂散电容更新被暂停以利于对即将到来的和预期的有效触摸进行检测和记录，而基线更新一般直到触摸输入被释放之后的一定时间段以后才重新开始，称为“抬起”。在预期记录了实际并没有到来的触按而杂散电容却触发了基线更新的暂停的情况下，这些动作是存在问题的。
由控制器电子器件执行的算法根据如下来作出确定判断：所有角落电流的总和是否在小于杂散电容滤波时间常数(典型地在1到60秒的范围)的持续时间内超过了预定的阈值。可以预定义多个阈值，即：(i)用作零信号基准的缓慢变化的杂散电容基线；(ii)触摸阈值，当触摸阈值被超过时，发送一个触发对触摸位置和触摸位置数据流的检测和报告的触按事件；(iii)设置为触摸阈值以下的某电平的抬起阈值，例如大约为触摸阈值的90％，从而当信号在先前超过触摸阈值以后降落到抬起阈值以下时，抬起事件被报告并且触摸位置数据流停止；(iv)设置为触摸阈值和抬起阈值之下的某电平的盘旋阈值，例如大约为触摸阈值的25％，在盘旋阈值之下杂散电容通过慢速低通滤波器(slow low pass filter)被更新至基线，而在盘旋阈值之上慢速杂散电容更新被暂停从而有利于快速临时杂散电容更新；以及(v)设置为盘旋阈值和触摸阈值之间的某电平的快速杂散阈值，例如大约为触摸阈值的75％，在该快速杂散阈值之上所有的基线更新被暂停。由于这些阈值定义，当信号降落到快速杂散阈值之下(例如在抬起之后)，快速杂散更新重新开始，并且当信号降落到盘旋阈值之下，快速杂散更新继续而慢速杂散更新直到触摸离开了预定的时间段以后才重新开始。
图2(a)示出了由电容式触摸传感器在一段包括有效触摸输入事件的时间内检测到的总信号分布曲线210。信号分布曲线210代表了流经触摸传感器各个角落的电流总和。信号分布曲线210包括几个典型特性，包括基线208、指示一个迫近的触摸物体的逐渐上升区域212、指示触摸物体在传感器表面上的触按的快速上升区域214、指示触摸抬起的快速下降区域216。有关基线208的各种阈值电平同样被指示，包括慢速杂散更新、或盘旋阈值240、快速杂散更新阈值230、以及触摸阈值220。一旦总信号超过触摸阈值220，就计算出触摸位置数据。
图2(b)示出了流经各个角落UL、UR、LL、和LR的电流对图2(a)中总信号的分别作用。发生在触摸传感器左上角附近的触摸输入引起来自UL角的最大作用，来自LR角的最小作用，来自UR和LL的介于这两者之间的作用。虽然每个角落电流的整体信号分布图的形状在某种程度上是相似的，但是包括相对幅度在内的变化的确切特性是相当不同的。利用检测到的各个角落的电流和基线电流电平的不同来计算触摸位置。
图3(a)示出了由图2(a)和图2(b)中所示的同一个电容式触摸传感器在一段时间内所检测到的信号的整个信号分布曲线310，该时间段包括由于打开位于触摸传感器后面的LCD而引起的杂散电容事件。分布图310包括一些典型特性，例如基线308和在LCD被打开时发生的几乎瞬时上升314。盘旋阈值电平240和快速杂散更新阈值230电平同样被示出。分布曲线310和分布曲线210的比较显示了由于杂散电容引起的信号上升要快过由于触摸输入事件引起的信号上升，由于杂散电容引起的快速信号上升直接从基线开始发生并且不会被在触按之前发生的逐渐上升所超过，并且杂散电容可以建立超过盘旋阈值的信号电平，尽管该信号电平远在触摸阈值之下。
图3(b)示出了流经各个角落UL、UR、LL、和LR的各个电流对图3(a)中所示总信号的分别作用。由于因打开临近的LCD而产生的杂散电容很可能对各个角落的电流产生几乎相同的影响，因此来自每个角落的信号作用大致相等。于是，每个角落的信号的分布曲线、幅度、典型特性显示了很小的区别甚至没有区别，而在快速上升314以后计算出来的测试触摸位置可以被定位在触摸屏中心附近。
能够产生杂散电容的环境变化包括周围环境的温度波动，其可进一步被打开或关闭很靠近触摸屏的显示器所干扰。此外，LCD通常已经驱动了前端带有交流电压并显示出对地可变有效阻抗的前面层。本发明人已观察到杂散电容的影响(例如热波动和LCD相关变量)在整个触摸屏上是均匀的，因此对触摸传感器的四个角落的电流的影响大致相等。触摸传感器非线性、屏幕扭曲、触摸传感器集成偏离显示器中心、显示器电子器件偏置等等可能会导致每个角落电流被杂散影响的不均等性，但是即使这些偏离是随着时间漂移的，这种偏离通过校正程序或测量历史也应当是可确定的。其它的杂散电容可能会产生指示触摸屏除中心点之外的其它点附近位置的信号，这些点也应该同样是可预测的或是可确定的。
这样，由于杂散引起的信号可以被类比为由迫近触摸屏中心(或者位于一个点附近的其它区域)的触摸工具所产生的信号。这种本质上的自行观察对于将真实的触摸信号从由杂散引起的信号中区别出来是很有用的。例如，当超过盘旋阈值时，现有信号可被用于三角化测试触摸位置。如果测试触摸位置并没有位于或者足够靠近屏幕的中心(或者其它确定的点)，很可能信号不是由于显示器、温度变化、或其它杂散电容引起的，指示出杂散更新预期为有效触摸输入而可被暂停。位于屏幕的中心或者足够靠近屏幕的中心(或者其它确定的点)的测试触摸可能指示杂散电容，因此使得杂散更新的暂停被禁止。构成“足够近”的部分是根据观察的或者预期的表现或者可根据考虑了屏幕尺寸(在更大的触摸屏中，构成足够近的部分即使占屏幕尺寸的比例较小，但是总距离是更大了)之类的因素的系统“最佳位置(sweetspot)”。指示了杂散电容的确定的区域可以是预设的、随时间变化的和/或由校正程序确定的、以及是静态的或可以更新的。此外，系统可以在存储器中保存对杂散电容事件的记录，因此根据哪一个刚定位的触摸屏区域可被指定成杂散电容可能的位置标志符来形成了历史记录。以这种方式来使用信号历史记录还可导致未知的或者在生产和安装的时候不可预见的杂散电容的位置标志符。
由于杂散电容例如环境影响产生的信号可以根据测试触摸位置被成功地与由于触摸影响产生的信号分离。例如，测试到的信号变化可被归类为“共模”变化或者“差模”变化。共模变化对应于几何集中于触摸屏的定义的点(例如触摸屏中心)的影响，因此指示了杂散电容影响。差模变化对应于充分区别于定义的点(例如远离触摸屏中心)的影响，因此指示了有效触摸影响。共模信号变化随事件变化是恒定的，并且对于同一事件在每个角落检测到的信号之间是恒定的，如图3(b)所示。差模信号变化随事件变化而不同，并且对于同一事件在每个角落检测到的信号之间是不同的，如图2(b)所示。
在本发明的一个实施例中，不同的滤波时间常数可被应用到共模和差模中，例如对共模信号采用比对差模信号更快的滤波器从而在面临杂散电容影响时补偿预期降低的对有效触摸信号的灵敏度。在另一个实施例中，杂散电容被监控从而当信号超过预定的自适应阈值时，触摸输入位置被计算出来，其中自适应阈值不同于触摸阈值并考虑了杂散电容影响。根据指示的位置是否靠近屏幕的中心(或其它定义的点)，该算法可确定信号是否应该被处理为慢漂移(因此更新至基线)或触摸相关的短期干扰(因此暂停基线更新)。
在示例性的实施例中，一种功能可被加入到触摸检测算法中，即当总信号在盘旋阈值之上时禁止杂散更新的暂停并且计算出来的测试触摸位置对应于15英寸(对角线)触摸屏几何中心的+/-5％内的位置，+/-5％可以既是x方向(横跨屏幕)又是y方向(纵跨屏幕)的。对应于整个触摸屏区域的中心1％的区域在保持检测和报告有效触摸输入(不一定位于屏幕中心的1％处)的能力的同时足够捕捉由环境或显示器引起的典型的杂散电容。这个区域还足以考虑屏幕与屏幕之间的小差异例如触摸传感器与显示器之间在集成过程中出现的对准差异。禁止暂停杂散更新允许杂散电容信号被更新至基线，并且允许触按事件被检测。同样的+/-5％(或其它合适的量)可以被应用于已被识别为指示了杂散的触摸屏上的其它点。在示例性的实施例中，当测试触摸位置在触摸屏上预定点的确定距离内时，系统的固件可被预设为禁止杂散更新的暂停，并且杂散电容事件的积累的历史记录可被用于例如将预定的点漂移至杂散电容位置群的静态中心，减小围绕确定点的区域大小，或定义指示了杂散的新的点。
本发明不与被广泛应用于区别其它类型的噪声或无意触摸信号的技术相抵触。例如，对于触摸屏显示器用户而言将手放置在显示器侧边是很普遍的，而这会造成杂散电容信号的变化。被这种事件引入的杂散对触摸屏的一个角落或者一边的总体上的影响显著地比其它角落和边大得多。三角化的等同的“触摸”点因此偏离中心并且很容易从共模噪声源中区分出来。
是否暂停基线杂散的更新的决定同样可以根据观察到的信号的变化率来做出。当触摸物体靠近电容式触摸传感器时，信号变化是由于传感器对手、臂、手指等等的耦合。变化率随着触摸对象接触传感器而增加，如图2(a)所示。这个不同的变化率被用于从杂散中区分出有效触摸事件。在其之前没有较缓信号变化的突发信号变化和/或没有超过触摸阈值的突发信号变化可指示可从触摸中区分出来的噪声事件。本发明的系统和方法在检测到这种信号分布曲线时允许杂散跟踪继续。这种技术可被独自使用或者作为类似“足够靠近中心”方法的空间技术的鉴定。作为鉴定，信号变化率方法可被用于检测和补偿在盘旋于传感器中心附近(或其它已被识别为指示杂散事件的区域)的即将到来的触摸期间发生的杂散电容。
在本发明的另一个实施例中，动态的、或自适应的阈值被用于补偿杂散电容和用于在存在噪声时避免不希望地进入盘旋模式。动态阈值包括根据对检测到的噪声包络的分析来调节一个或者多个定义的阈值，例如盘旋阈值。触摸传感器信号上携带的噪声产生通常被信号滤波器处理的瞬时偏移。然而，如果噪声电平足够大，它可能超过盘旋阈值，造成基线更新的暂停。在这种情况下，本发明可被用于检测噪声，并基于对噪声幅度的分析盘旋阈值可被升高与噪声电平成比例的量。利用这种分析其它任何阈值同样可以类似地调节。
当把测试触摸位置作为杂散电容的标识使用时，其中在被指定为指示杂散的区域内发生有效触摸输入的情形应该被识别。总体上，本发明的系统和方法不与在被指定为指示杂散电容信号的区域中的有效触摸的登记相抵触。然而，在缓慢杂散更新被暂停的方法中，指定区域内的有效触摸输入的位置可能会被不太精确地报告。在触摸屏的中心部分就是指定域的特殊情况下，杂散电容信号趋向于使有效信号朝着触摸屏的中心偏移，这样位于中心的有效触摸将不会被不利地影响。在指定区域远离触摸屏中心的情况下，在有效触摸确认之前的信号被减去(很类似于基线)，以移除杂散电容的影响并给出足够精确的触摸位置。
前述对本发明的各种实施例的描述出于示意和说明的目的而予以介绍。目的不在于穷尽或者把本发明限制为这些公开的具体形式。根据以上的指教，多种修改和变化都是可能的。本发明的范围并不被这些详细的描述所限制，而是被所附的权利要求所限制。

Claims (24)

1.一种检测触摸传感器系统中的杂散电容的方法，所述触摸传感器系统包括：具有覆盖有效区域的电阻层的电容式触摸传感器，以及耦接到所述电阻层上的多个位置并用于根据由于触摸工具与所述电阻层的电容耦合而产生的流经所述多个位置的电流来确定触摸位置的电子器件，所述方法包括步骤：
当检测到的信号电平超过阈值的时候，确定测试触摸位置；并且
利用所述测试触摸位置来确定杂散电容是否存在。
2.如权利要求1所述的方法，进一步包括：当确定不存在杂散电容的时候暂停对基线信号电平的更新，并且当确定存在杂散电容的时候禁止暂停对所述基线信号电平的更新。
3.如权利要求1所述的方法，进一步包括当确定存在杂散电容的时候独立地跟踪由于杂散电容产生的信号。
4.如权利要求3所述的方法，其中所述由于杂散电容产生的信号被用于校正所述基线信号电平。
5.如权利要求3所述的方法，其中所述由于杂散电容产生的信号被用于调整一个或者多个信号阈值。
6.如权利要求1所述的方法，进一步包括：当确定不存在杂散电容的时候使用第一时间常数来过滤信号，并且当确定存在杂散电容的时候使用第二时间常数来过滤信号。
7.如权利要求6所述的方法，其中所述第一时间常数大于所述第二时间常数。
8.如权利要求1所述的方法，其中距电容式触摸传感器上定义的点的确定距离内的测试触摸位置指示杂散电容的存在。
9.如权利要求8所述的方法，其中所述确定距离是预设的。
10.如权利要求8所述的方法，其中所述确定距离是基于包括触摸传感器尺寸在内的标准的。
11.如权利要求8所述的方法，其中所述确定距离在所述定义的点的+/-5％内。
12.如权利要求8所述的方法，其中所述确定距离基于杂散电容事件的记录的历史而被精确。
13.如权利要求8所述的方法，其中所述定义的点在触摸传感器的中心。
14.如权利要求8所述的方法，其中所述定义的点被预设。
15.如权利要求8所述的方法，其中所述定义的点从杂散电容事件的记录的历史产生。
16.如权利要求1所述的方法，其中所述阈值低于触摸阈值。
17.如权利要求16所述的方法，其中所述触摸阈值是基于杂散电容的存在或不存在而被动态地调整的。
18.如权利要求1所述的方法，进一步包括使用信号电平的变化率来确认杂散电容的存在与否。
19.一种检测触摸传感器系统中的杂散电容的方法，所述触摸传感器系统包括：具有覆盖有效区域的电阻层的电容式触摸传感器，以及耦接到所述电阻层上的多个位置并用于根据由于触摸工具与所述电阻层的电容耦合而产生的流经所述多个位置的电流来确定触摸位置的电子器件，所述方法包括步骤：
检测所述电阻层上的信号；
在包括信号电平到达阈值以上的上升过程的一段时间内为信号建立分布图；
确定在所述上升期间信号分布曲线中的变化率；以及
利用所述变化率来确定杂散电容的存在与否。
20.如权利要求19所述的方法，其中当所述变化率超过预定值时，指示杂散电容的存在。
21.一种电容式触摸屏系统，包括：
电容式触摸传感器，其包括电阻层；和
电子器件，所述电子器件耦接到所述电阻层上的多个位置以检测由于电容耦合到所述电阻层而引起的信号，并且所述电子器件被设置成根据由于电容耦合而产生的流经所述多个位置的电流来确定触摸工具电容耦合到所述电阻层的位置，并且所述电子器件被进一步设置成根据对比杂散电容的一个或多个典型特性而对信号进行的分析来将由杂散电容耦合到电阻层而引起的信号与由触摸工具耦合到电阻层而引起的信号区别开。
22.如权利要求21所述的系统，进一步包括电子显示器，所述电子显示器被放置的很靠近所述电容式触摸传感器并能透过该电容式触摸传感器被观看。
23.如权利要求21所述的系统，其中所述杂散电容的一个或者多个典型特性包括测试触摸位置与指示杂散电容的确定位置的接近度，其中当所述信号超过阈值的时候计算所述测试触摸位置。
24.如权利要求21所述的系统，其中所述杂散电容的一个或者多个典型特性包括当信号超过阈值时所述信号的变化率。
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