CN100591181C - 倒装焊发光二极管芯片的制造方法 - Google Patents

倒装焊发光二极管芯片的制造方法 Download PDF

Info

Publication number
CN100591181C
CN100591181C CN200710053027A CN200710053027A CN100591181C CN 100591181 C CN100591181 C CN 100591181C CN 200710053027 A CN200710053027 A CN 200710053027A CN 200710053027 A CN200710053027 A CN 200710053027A CN 100591181 C CN100591181 C CN 100591181C
Authority
CN
China
Prior art keywords
chip
led chip
enclosure wall
manufacture method
metal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN200710053027A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101119601A (zh
Inventor
鲍坚仁
应华兵
张建宝
曾灵琪
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Huacan Photoelectric (Suzhou) Co., Ltd.
Original Assignee
HC Semitek Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by HC Semitek Corp filed Critical HC Semitek Corp
Priority to CN200710053027A priority Critical patent/CN100591181C/zh
Publication of CN101119601A publication Critical patent/CN101119601A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN100591181C publication Critical patent/CN100591181C/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Led Device Packages (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Abstract

一种倒装焊发光二极管芯片的制造方法,其特征在于包括以下步骤:①首先,根据LED芯片工艺制作好LED芯片B,在芯片B的嵌合面蒸镀有Ag金属反光层,既让电流更为均匀,又让光从LED芯片的背面射出;②根据芯片B,制造大小合适的芯片A,在芯片A上通过光刻或电镀或蒸发工艺制作出金属凸点和金属围墙,然后把LED芯片B放入芯片A的围墙内,通过加压和加热,把芯片B和芯片A结合在一起。本发明简化了倒装焊LED芯片的制造工艺,提高了芯片的可靠性,从而提升良率,而且无需使用复杂的设备,因此大大降低了制造成本,有望应用于LED芯片特别是大功率LED芯片的大规模制造。

Description

倒装焊发光二极管芯片的制造方法
技术领域
本发明提供了一种改进的倒装焊发光二极管芯片的制造方法,特别是用于大功率发光二极管的制造。
背景技术
倒装焊发光二极管(LED)芯片通常是指一个LED芯片(例如氮化镓GaN LED)和一个基片(例如Si芯片)结合在一起。倒装焊芯片能够较好地解决LED芯片中两个问题:散热和抗静电,原因在于基片的导热性良好,可以有助于LED芯片的散热,同时基片上制造有抗静电的保护二极管,可以用于提高LED芯片的抗静电能力,从而提高了LED芯片的可靠性。
倒装焊芯片主要用于大功率(功率大于等于1瓦)LED的制造,原因在于大功率LED芯片对于散热和抗静电的要求更高。已经有了不少技术用于制造倒装焊LED芯片,但是现有的倒装焊LED芯片普遍存在着工艺复杂,良率较低,LED芯片和基片结合并不牢靠等问题,并且需要使用复杂而昂贵的倒装焊设备,由于这些原因,倒装焊LED芯片的技术并没有被广泛应用于制造领域。
本发明简化了倒装焊LED芯片的制造工艺,提高了芯片的可靠性,从而提升良率,而且无需使用复杂的设备,因此大大降低了制造成本,有望应用于LED芯片特别是大功率LED芯片的大规模制造。
发明内容
本发明的目的在于提供一种倒装焊发光二极管芯片的制造方法,用简单的制造技术,将基片(称为芯片A)和LED芯片(称为芯片B)两者准确且可靠地焊牢,同时具有提高发光效果和散热效果的优点。
本发明的技术方案是:一种倒装焊发光二极管芯片的制造方法,其特征在于包括以下步骤:
1)首先,根据LED芯片工艺制作好LED芯片B,在芯片B的嵌合面蒸镀有良好的金属反光层,既可以让电流更为均匀,又可以让光从LED芯片的背面射出;
2)根据芯片B,制造大小合适的芯片A,在芯片A上通过光刻或电镀或蒸发工艺制作出金属“凸点”和金属“围墙”,然后把LED芯片B放入芯片A的“围墙”内,通过加压和加热,把芯片B和芯片A可靠地结合在一起。
如上所述的倒装焊发光二极管芯片的制造方法,其特征在于:制作“围墙”和“凸点”的材料为锌、铬、镍、金、银、铜、铝或锡,或者它们的合金。
如上所述的倒装焊发光二极管芯片的制造方法,其特征在于:“围墙”和“凸点”是多层金属构成。多层金属结构有助于制造所需的“围墙”和“凸点”结构,例如它们的高度和表层金属的熔点,这便于调整芯片A和B倒装焊在一起所需的工艺参数。
如上所述的倒装焊发光二极管芯片的制造方法,其特征在于:“围墙”的高度比“凸点”的高度更高,“凸点”的高度为2~40微米,“围墙”的高度为5~100微米。“围墙”比“凸点”更高的高度保证了芯片B能够放入芯片A的“围墙”内,调整“凸点”的高度是为了调整芯片A和B倒装焊在一起所需的工艺参数。
如上所述的倒装焊发光二极管芯片的制造方法,其特征在于:芯片B(LED芯片)的尺寸为200微米到2英寸,形状是正方形,长方形,三角形,菱形,六边形或圆形。
如上所述的倒装焊发光二极管芯片的制造方法,其特征在于:芯片A和芯片B两个结合在一起的压强范围为10~1000大气压,温度为150~500℃。调整压强范围和温度是为了芯片A和B牢靠地焊在一起,提高产品的可靠性。
本发明的主要优点是:由于金属的导热性很好,围墙由金属制造,这有利于芯片的散热,另外由于金属具有良好的光反射性,所以金属“围墙”还有聚光作用。通过简单的“围墙”设置,方便地解决倒装焊芯片中A、B两个晶片的对位问题,并且这种对位不需要昂贵的设备来实现,必要时可以进行简单的人工操作来完成。这样制造的倒装焊芯片可靠而且便宜,成本至少可以降低20%。
附图说明
图1是本发明实施例的芯片B刻蚀后镀上P电极反射金属的剖面示意图;
图2是芯片B镀上N电极的剖面示意图;
图3是芯片B淀积上钝化保护层的剖面示意图;
图4是芯片A掺杂扩散后的剖面示意图;
图5是芯片A电镀前“围墙”和“凸点”金属剖面示意图;
图6是芯片A“围墙”和“凸点”电镀后金属加厚剖面示意图;
图7是芯片A和芯片B对准后,加压粘合的剖面示意图。
其中,1、GaN LED芯片;2、P电极反射金属;3、N电极;4、钝化层;5、硅基板;6、硅表面氧化;7、掺杂扩散;8、电镀前“凸点”处的金属;9、SiO2;10、电镀前“围墙”;11、电镀后“凸点”;12、电镀后“围墙”。
具体实施方式:
实施例1:
步骤一,以GaN LED芯片的制造为例,从GaN外延片开始以下工艺步骤:
1.先对GaN进行刻蚀,然后蒸镀金属Ag,制作P电极和反光层;(图1)
2.蒸镀金属Ti和Zn,制作N电极,进行刻蚀,把P电极和N电极分离;(图2)
3.蒸镀二氧化硅,制作钝化层;(图3)
步骤二:基片工艺,以硅基板为例,进行以下工艺步骤:
1.硅氧化,光刻,SiO2刻蚀,离子注入或扩散;(图4)
2.蒸镀金属,光刻,制作电极,沉积SiO2,光刻,刻蚀SiO2,露出部分金属,用于制作金属电极的“凸点”和“围墙”;(图5)所述的“围墙”对于对位而言可以是连续的,也可以是断续的,其对位效果相似,但本实施例中是连续的,这是为了提高聚光和散热效果。
3.通过Zn电镀工艺,在金属电极处镀上较厚的金属“凸点”,厚度为15um,通过电镀工艺,在金属“围墙”处镀上更厚的金属,即加高“围墙”,高度为50um。(图6)
步骤三:把前面两步得到的LED芯片和基片对准和粘牢:
1.把LED芯片放入基片的金属“围墙”内;
2.在一定压力(压强为100大气压)和温度400℃下,把LED芯片和基片粘牢;(图7)

Claims (7)

1、一种倒装焊发光二极管芯片的制造方法,其特征在于包括以下步骤:
①首先,根据LED芯片工艺制作好LED芯片B,在芯片B的嵌合面蒸镀有Ag金属反光层,既让电流均匀,又让光从LED芯片的背面射出;
②根据芯片B,制造大小合适的芯片A,在芯片A上通过光刻或电镀或蒸发工艺制作出金属凸点和金属围墙,然后把LED芯片B放入芯片A的围墙内,通过加压和加热,把芯片B和芯片A可靠地结合在一起。
2、如权利要求1所述的倒装焊发光二极管芯片的制造方法,其特征在于:制作围墙和凸点的材料为锌、铬、镍、金、银、铜、铝或锡,或者它们的合金。
3、如权利要求2所述的倒装焊发光二极管芯片的制造方法,其特征在于:围墙和凸点是多层金属构成。
4、如权利要求2所述的倒装焊发光二极管芯片的制造方法,其特征在于:围墙的高度比凸点的高度高,凸点的高度为2~40微米,围墙的高度为5~100微米。
5、如权利要求1或2或3或4所述的倒装焊发光二极管芯片的制造方法,其特征在于:芯片B的尺寸为200微米到2英寸,形状是正方形、长方形、三角形、菱形、六边形或圆形。
6、如权利要求5所述的倒装焊发光二极管芯片的制造方法,其特征在于:芯片A和芯片B两个结合在一起的压强范围为10~1000大气压,温度为150~500℃。
7、权利要求5所述的倒装焊发光二极管芯片的制造方法,其特征在于:所述的围墙是连续的或者是断续的。
CN200710053027A 2007-08-24 2007-08-24 倒装焊发光二极管芯片的制造方法 Active CN100591181C (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN200710053027A CN100591181C (zh) 2007-08-24 2007-08-24 倒装焊发光二极管芯片的制造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN200710053027A CN100591181C (zh) 2007-08-24 2007-08-24 倒装焊发光二极管芯片的制造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101119601A CN101119601A (zh) 2008-02-06
CN100591181C true CN100591181C (zh) 2010-02-17

Family

ID=39055479

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN200710053027A Active CN100591181C (zh) 2007-08-24 2007-08-24 倒装焊发光二极管芯片的制造方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN100591181C (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104362242A (zh) * 2014-10-17 2015-02-18 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 Led芯片及其应用

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1156003C (zh) * 1996-12-19 2004-06-30 艾利森电话股份有限公司 一种组件结构
CN1627544A (zh) * 2003-12-12 2005-06-15 中国科学院半导体研究所 倒装焊技术制作氮化镓基发光二极管管芯的方法
CN1627543A (zh) * 2003-12-09 2005-06-15 中国科学院半导体研究所 利用倒装焊技术制作氮化镓基发光二极管管芯的方法
CN1755921A (zh) * 2004-09-30 2006-04-05 威盛电子股份有限公司 倒装焊封装方法及封装结构
US7084391B1 (en) * 2005-04-05 2006-08-01 Wen Ching Chen Image sensing module

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1156003C (zh) * 1996-12-19 2004-06-30 艾利森电话股份有限公司 一种组件结构
CN1627543A (zh) * 2003-12-09 2005-06-15 中国科学院半导体研究所 利用倒装焊技术制作氮化镓基发光二极管管芯的方法
CN1627544A (zh) * 2003-12-12 2005-06-15 中国科学院半导体研究所 倒装焊技术制作氮化镓基发光二极管管芯的方法
CN1755921A (zh) * 2004-09-30 2006-04-05 威盛电子股份有限公司 倒装焊封装方法及封装结构
US7084391B1 (en) * 2005-04-05 2006-08-01 Wen Ching Chen Image sensing module

Also Published As

Publication number Publication date
CN101119601A (zh) 2008-02-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2430673B1 (en) Semiconductor light emitting diodes having reflective structures and methods of fabricating same
KR101138306B1 (ko) Led 칩의 다이-본딩 방법과 이에 의해 제조된 led
TWI334655B (en) Light emitting device and production method of light emitting device
CN100479208C (zh) 利用倒装技术制作功率型微结构发光二极管管芯的方法
CN103560193B (zh) 低成本的垂直结构发光二极管芯片及其制备方法
CN101465402B (zh) 一种基于无缝隙平面键合的薄膜led芯片器件制造方法
CN102971877A (zh) 用于倒装芯片led的基于硅树脂的反射底部填充和热耦合器
CN105518887A (zh) 发光装置
CN1731592A (zh) 倒装焊结构发光二极管及其制造方法
US10017870B2 (en) Method for fabricating a heat sink, and heat sink
CN100499189C (zh) 纯金Au的合金键合LED倒装芯片的制备方法
CN106449932A (zh) 一种垂直结构发光二极管及其制造方法
CN101005107A (zh) 带金属凸点阵列结构的倒装发光二极管及其制作方法
CN105514231A (zh) 一种用于GaN生长的低应力状态复合衬底
CN106463596A (zh) 发光器件的成形方法
CN100591181C (zh) 倒装焊发光二极管芯片的制造方法
TWI446577B (zh) Led晶圓之接合方法、led晶粒之製造方法及led晶圓與基體之接合結構
CN100383989C (zh) 在金属热沉上的激光剥离功率型led芯片及其制备方法
TW201225227A (en) Method for manufacturing heat dissipation bulk of semiconductor device
CN101937957A (zh) 氮化镓基垂直结构发光二极管电极结构的制作方法
CN201450017U (zh) 一种单电极led芯片结构
CN101626000A (zh) 金属阵列基板、光电元件和发光元件及其制造方法
CN104347762A (zh) 一种具有回熔层的led薄膜芯片的制备方法及结构
CN202601711U (zh) 一种垂直led芯片
CN101937956A (zh) 氮化镓基垂直结构发光二极管桥联电极制备方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C56 Change in the name or address of the patentee

Owner name: HC SEMITEK CORPORATION

Free format text: FORMER NAME: HUACAN PHOTOELECTRIC CO., LTD., WUHAN

CP01 Change in the name or title of a patent holder

Address after: 430223 Hubei city of Wuhan province Wuhan University Science Park East Lake New Technology Development Zone business building room 2015

Patentee after: HC SemiTek Corporation

Address before: 430223 Hubei city of Wuhan province Wuhan University Science Park East Lake New Technology Development Zone business building room 2015

Patentee before: Huacan Photoelectric Co., Ltd., Wuhan

TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20191226

Address after: 215600 Huacan photoelectric (Suzhou) Co., Ltd., CHENFENG Road, Zhangjiagang Economic Development Zone, Suzhou City, Jiangsu Province

Patentee after: Huacan Photoelectric (Suzhou) Co., Ltd.

Address before: 430223 Hubei city of Wuhan province Wuhan University Science Park East Lake New Technology Development Zone business building room 2015

Patentee before: HC SemiTek Corporation

TR01 Transfer of patent right
DD01 Delivery of document by public notice

Addressee: Yang Chunyan

Document name: Notification of Passing Examination on Formalities

DD01 Delivery of document by public notice