CN100530528C - 进行rta控温测量的方法及其所用的测控晶片 - Google Patents
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制备步骤编号 | 步骤描述 |
10 | 应用N型掺杂的晶片,电阻率范围:0.1-10ohm-cm |
20 | 对该测控晶片进行刻字,刻好晶片编号 |
30 | 清洗测控晶片表面微粒沾污 |
40 | 在测控晶片上生长3000A的氧化硅层 |
50 | 在测控晶片上沉积1500A的氮化硅层 |
60 | 应用化学机械抛光清除掉晶片正面的1500A氮化硅层 |
70 | 应用HF清除掉晶片表面的3000A氧化硅层 |
80 | 对测控晶片进行B离子注入,注入能量30Kev,注入剂量1E15 |
90 | 清洗测控晶片表面微粒沾污 |
100 | 低辐射率测控晶片完成制备,可以应用 |
110 | 完成应用后将测控晶片报废掉 |
制备步骤编号 | 步骤描述 |
10 | 应用N型掺杂的晶片,电阻率范围:0.1-10ohm-cm |
20 | 对该测控晶片进行刻字,刻好晶片编号 |
30 | 清洗测控晶片表面微粒沾污 |
40 | 在测控晶片上生长1000A的氧化硅层 |
50 | 在测控晶片上沉积2000A的多晶硅层 |
60 | 应用化学机械抛光清除掉晶片正面的2000A多晶硅层 |
70 | 应用HF清除掉晶片表面的1000A氧化硅层 |
80 | 对测控晶片进行B离子注入,注入能量30Kev,注入剂量1E15 |
90 | 清洗测控晶片表面微粒沾污 |
100 | 高辐射率测控晶片完成制备,可以应用 |
110 | 完成应用后将测控晶片报废掉 |
步骤代码 | 步骤描述 |
1 | 分别应用高/低辐射率测控晶片在RTP设备上进行反应,反应条件:925度,20秒 |
2 | 对反应后的晶片测量其薄层电阻值 |
3 | 根据测得的薄层电阻值计算设备控温准确性(薄层电阻值每偏高2.3个单位,则RTP反应温度偏低1度,反之亦然。) |
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CNB2006100299926A CN100530528C (zh) | 2006-08-11 | 2006-08-11 | 进行rta控温测量的方法及其所用的测控晶片 |
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CN101123170A CN101123170A (zh) | 2008-02-13 |
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