CN100481960C - 投影管会聚误差实时校正方法及系统 - Google Patents

投影管会聚误差实时校正方法及系统 Download PDF

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Abstract

本发明涉及图像显示技术，特别涉及投影管会聚技术。本发明的技术方案是，投影管会聚误差实时校正方法，在场逆程期间执行以下步骤：a.将校正信号输入会聚通道，在会聚通道出口对所述校正信号进行采样，得到采样信号；其中所述校正信号为增益校正信号或偏移量校正信号；b.对上述采样信号进行数字变换，采集数据；c.如果输入会聚通道的是增益校正信号，则执行采集的数据与设定的增益数据的比较，根据比较结果调整增益寄存器的数据；如果输入会聚通道的是偏移量校正信号，则执行采集的数据与设定的偏移量数据的比较，根据比较结果调整偏移量寄存器的数据。本发明可广泛应用于阴极射线管投影显示系统。

Description

投影管会聚误差实时校正方法及系统
技术领域
本发明涉及图像显示技术，特别涉及投影管会聚技术。
背景技术
由3只阴极射线管(CRT)构成的背投影电视机中，R、G、B三只投影管以不同的角度将图像投影到屏幕上，这样在屏幕上显示的图像将不可避免的出现三基色图像不重合和图像几何失真。为了在屏幕上显示正确的彩色图像，必须使所显示图像的每一个像素的R、G、B三基色在投影电视的屏幕上重合。这个工作是由投影电视的数字会聚电路完成的。数字会聚电路利用行、场扫描的同步信号以及锁定在行同步上的时钟信号将屏幕分成许多会聚校正点，在每一个点上对R、G、B的水平(H)和垂直(V)会聚加以不同的校正数据，控制位于CRT尾部的会聚调整线圈中的电流波形，调整图像的显示位置，从而保证在屏幕上显示的图像没有几何失真且R、G、B三基色相互重合，获得正常的彩色图像。会聚系统的基本工作原理是：六个通道(BV、BH、GV、GH、RV、RH)的会聚数据均与相应通道的增益数据相乘，再与每个通道的偏移数据相加，之后的数据经行滤波器、D/A转换器变为模拟会聚电压信号；模拟的会聚电压信号经LPF(低通滤波器)滤波后进行电压到电流的转换，变为会聚线圈中的电流，驱动会聚线圈进行会聚调整。会聚数据可以通过I2C总线存储到非易失存储器EEPROM中。数字会聚电路中的MCU，通过I2C总线可以对会聚的数据进行调整，同时可以对增益、偏移量寄存器进行控制。
背投影电视出厂前，会聚已通过自动会聚调试仪或手动调试良好，并将会聚数据储存在EEPOM中。增益数据和偏移量数据，也在调试中设定，并分别储存在增益寄存器和偏移量寄存器中。但是，由于投影电视的会聚要求比较精确，在投影电视使用一段时间后，会聚通道模拟信号处理电路(包括LPF、电压/电流变换电路、会聚线圈)的任何元器件老化，或因使用环境的变化而产生的参数变化，都会导致会聚误差的产生，使R、G、B三基色图像产生不同的偏移，影响图像的显示质量。现有技术对这种变化的处理是重新调整会聚数据以适应新的参数。这种调整是比较复杂的，需要专业的售后服务人员上门进行，这便增加了售后服务的成本，而且会聚经常的变化也影响了产品的质量。
发明内容
本发明所要解决的技术问题，就是针对现有技术的上述缺点，提供一种投影管会聚误差实时校正方法及系统。
本发明解决其技术问题采用的技术方案是，投影管会聚误差实时校正方法，在场逆程期间执行以下步骤：
a.将校正信号输入会聚通道，在会聚通道出口对所述校正信号进行采样，得到采样信号；其中所述校正信号为增益校正信号或偏移量校正信号；
b.对上述采样信号进行数字变换，采集数据；
c.如果输入会聚通道的是增益校正信号，则执行采集的数据与设定的增益数据的比较，根据比较结果调整增益寄存器的数据；如果输入会聚通道的是偏移量校正信号，则执行采集的数据与设定的偏移量数据的比较，根据比较结果调整偏移量寄存器的数据。
投影管会聚误差校正系统，包括数字会聚电路，模拟信号处理电路，会聚线圈，其特征在于：还包括校正信号输出电路，取样电路，A/D转换器；所述校正信号输出电路在场消隐脉冲控制下，向模拟信号处理电路输出校正信号；所述取样电路的输入端与会聚线圈冷端连接，输出端与A/D转换器输入端连接；所述A/D转换器输出的数字信号与数字会聚电路的MCU连接；所述校正信号输出电路的输出信号包括增益校正信号及偏移量校正信号。
本发明的有益效果是，提高了会聚系统的稳定性。在会聚系统参数发生变化的情况下，能够自动实时调整会聚数据，保证会聚精确，提高了产品质量。
附图说明
图1是本发明的软件流程图；
图2是现有技术的会聚系统电路图；
图3是实施例的电路图；
图4是主要信号波形。
具体实施方式
下面结合附图及实施例详细描述本发明的技术方案。
投影管会聚误差实时校正方法及系统，是在现有技术的会聚系统基础上，通过对会聚系统软件的修改，结合会聚系统硬件的改进，构成本发明的技术方案。
系统进入工作状态后，MCU发出场消隐检测指令，当检测到场消隐信号时(高电平)，将校正信号从低通滤波器输入端接入会聚通道，该校正信号包括增益校正信号和偏移量校正信号，经电压/电流转换电路(驱动电路)和偏转线圈，在会聚通道出口(偏转线圈冷端)，对校正信号进行采样；采样信号经A/D变换，得到校正信号经过会聚通道(包括低通滤波器、电压/电流转换电路、偏转线圈)后的数据；此时，MCU对半场频方波信号进行检测，当其为高电平时，即输入的校正信号为增益校正信号，将上述数据，与存储在增益寄存器中的增益数据设定值比较，根据比较结果调整增益寄存器数据；当检测到半场频方波信号为低电平时，表示输入的是偏移量校正信号，将上述数据，与存储在偏移量寄存器中的偏移量数据设定值比较，根据比较结果调整偏移量寄存器数据。如此循环往复，自动进行。上述过程均在场逆程期间完成(即场消隐信号为高电平时)。而且增益数据和偏移量数据是轮流调整的(半场频方波信号为高电平时，调整增益数据；半场频方波信号为低电平时，调整偏移量数据。)程序流程见图1。
实施例
见图3。图中仅绘出了RH通道，其余五个通道与此相同。与现有技术的会聚系统电路(图2)比较，可以看出，本例的数字会聚系统，在现有技术的会聚系统中增加了校正信号输出电路，A/D转换器和取样电路。校正信号输出电路由切换开关15、16，二分频器20组成。校正信号输出电路输出的增益校正信号(直流电压Vref)及偏移量校正信号(0V电压)，通过切换开关15、16，在场消隐脉冲的控制下输入会聚通道。取样电阻R19串接在偏转线圈18冷端和地之间，构成本例的取样电路。从会聚线圈18与电阻R19连接处(会聚线圈18冷端)，对校正信号取样，取样信号经MCU内置的A/D转换器转换成数字信号，得到反映会聚通道参数变化的校正信号数据。MCU通过I2C总线将校正信号数据与增益寄存器或偏移量寄存器中存储的数据进行比较，根据比较结果调整寄存器中的数据，以校正会聚通道参数变化而产生的会聚误差。
在会聚系统正常工作时，会聚数据存储器11(EEPROM)中的会聚数据，通过I2C MASTER接口10，被调用到会聚数据处理/RAM/会聚数据输出5中并输出到会聚通道增益乘法器6，在这里会聚数据与会聚通道增益寄存器8中的增益数据相乘后进入会聚偏移加法器7，再与会聚通道偏移量寄存器9中的偏移量数据相加。经上述运算后的会聚数据经行滤波器12后，进入D/A转换器13，变为模拟的会聚电压信号。模拟的会聚信号电压，被会聚信号/校正信号切换开关16选择，通过会聚通道低通滤波器14，滤除频带以外的噪声，经会聚电压/电流转换器17，转换为会聚线圈18中的电流，进行会聚调整。
在场逆程期间，场消隐脉冲21控制会聚信号/校正信号切换开关16，将会聚校正信号(Vref或0V)，切换到会聚通道，通过低通滤波器14、电压/电流转换器17，变成会聚线圈18中的电流。逆程期间D/A转换器13输出的会聚信号将不能通过会聚通道。会聚校正信号在会聚线圈18中产生的电流，经会聚电流取样电阻19取样后变为电压的信息，并送到MCU内置的A/D转换器中转换为数字信号。MCU将这个反馈的数据与预设并存储在存储器11中的数据进行比较，并根据比较结果，通过I2C SLAVE接口4，调整会聚通道增益控制寄存器8中的增益数据，或会聚通道偏移量寄存器9中的偏移量数据，以适应会聚通道参数的变化，从而保证会聚的精确。
场消隐脉冲21经过二分频器20的分频后变为半场频的方波，控制增益校正信号/偏移量校正信号切换开关15，每隔一场将增益校正信号或偏移量校正信号输入会聚通道。增益校正信号(Vref)根据不同的系统，选用不同的固定电压值，用来校正通道的增益，MCU将反馈的数据同设定的增益数据相比较，并根据比较结果调整增益寄存器8的数据，保证增益的稳定性。偏移量校正信号(0V)电压用来校正偏移量，MCU将反馈的数据同设定的偏移量数据(一般设定为OOH)相比较，并根据比较结果调整偏移量寄存器9的数据，保证当会聚数据为0时会聚线圈18中没有电流流过。
场消隐脉冲21和半场频方波22同时送到MCU的输入口进行检测，是为了保证MCU的工作与Vref/0V切换开关15和会聚信号/校正信号切换开关16同步。MCU检测场消隐脉冲输入，当为高电平时，才进行上述反馈电压采样及相应的增益和偏移量的调整。MCU在比较反馈数据与设定数据之前，还需要检测半场频方波输入电平的高低，以确定当前进行的是增益的校正还是偏移量的校正。主要信号波形见图4。
图1是本发明数字实时电反馈会聚稳定系统的相应软件流程图。步骤ST1、ST2检测是否在场逆程期间，如果未在场逆程期间则继续进行检测的操作。步骤ST3采样会聚电流取样电阻上的电压值，并将此模拟信号转换为数字信号。步骤ST4和步骤ST5检测当前进行的是会聚通道增益的校正还是会聚通道偏移量的校正，并根据判断结果转入不同的处理。步骤ST6是在确定为会聚通道增益的校正模式后，进行反馈数据与预设增益数据的比较。步骤ST8是根据步骤ST6的比较结果调整会聚通道增益寄存器数据。步骤ST7是在确定为会聚通道偏移量的校正模式后，进行反馈数据与预设偏移数据的比较。步骤ST9是根据步骤ST7的比较结果调整会聚通道偏移量寄存器数据。步骤ST10是结束本次校正，清零反馈数据，以准备进行下一次校正。
为提高反应的速度，上述步骤ST1、ST2可以将场消隐脉冲连接到MCU的中断输入并利用MCU的中断功能来实现。

Claims (6)

1.投影管会聚误差实时校正方法，在场逆程期间执行以下步骤：
a.将校正信号输入会聚通道，在会聚通道出口对所述校正信号进行采样，得到采样信号；其中所述校正信号为增益校正信号或偏移量校正信号；
b.对上述采样信号进行数字变换，采集数据；
c.如果输入会聚通道的是增益校正信号，则执行采集的数据与设定的增益数据的比较，根据比较结果调整增益寄存器的数据；如果输入会聚通道的是偏移量校正信号，则执行采集的数据与设定的偏移量数据的比较，根据比较结果调整偏移量寄存器的数据。
2.根据权利要求1所述的投影管会聚误差实时校正方法，其特征在于：步骤a中，所述会聚通道包括低通滤波器、电压/电流转换电路、偏转线圈。
3.根据权利要求1所述的投影管会聚误差实时校正方法，其特征在于：所述增益校正信号为非零直流电压；所述偏移量校正信号为0V电压。
4.投影管会聚误差校正系统，包括数字会聚电路，模拟信号处理电路，会聚线圈，其特征在于：还包括校正信号输出电路，取样电路，A/D转换器；所述校正信号输出电路在场消隐脉冲控制下，向模拟信号处理电路输出校正信号；所述取样电路的输入端与会聚线圈冷端连接，输出端与A/D转换器输入端连接；所述A/D转换器输出的数字信号与数字会聚电路的MCU连接；所述校正信号输出电路的输出信号包括增益校正信号及偏移量校正信号。
5.根据权利要求4所述的投影管会聚误差校正系统，其特征在于：所述增益校正信为非零直流电压；所述及偏移量校正信号为0V电压。
6.根据权利要求4或5所述的投影管会聚误差校正系统，其特征在于：所述取样电路由串接在会聚线圈与地之间的电阻构成。
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EP1250815A1 (en) * 1999-11-30 2002-10-23 Thomson Licensing S.A. Projection television set with parity error checking

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