CN100443901C

CN100443901C - 测试转接卡及其测试设备

Info

Publication number: CN100443901C
Application number: CNB2005100657654A
Authority: CN
Inventors: 王志鸿; 郑君风; 李祥铭
Original assignee: Asustek Computer Inc
Current assignee: Pegatron Corp
Priority date: 2005-04-15
Filing date: 2005-04-15
Publication date: 2008-12-17
Anticipated expiration: 2025-04-15
Also published as: CN1847858A

Abstract

本发明涉及一种测试转接卡及具有该测试转接卡的测试设备，该测试转接卡包含：一连接器转换座，具有多个接脚，用来与一待测电路板上的一待测连接器耦合；以及多个测试连接器，具有多个脚位，且所述脚位分别与该连接器转换座的所述接脚电性连接，其中所述测试连接器与一测试机台电性连接，以通过该连接器转换座与该待测连接器测试该待测电路板的不良位置。在结合制造缺陷分析设备或内线路测试机后可加快找出具有高脚位数的集成电路连接器的电子设备的半成品的不良原因。本发明能有效且快速地协助维修人员找到不良的原因，不仅可以提高维修的效率，且降低生产成本，还可以实时调整生产线的工艺参数与作业标准，使生产线的良率有效提升。

Description

测试转接卡及其测试设备

技术领域

本发明有关于一种集成电路连接器的测试转接卡，特别是有关于一种用来测试具有集成电路连接器的印刷电路板的测试转接卡。

背景技术

随着半导体制造技术与电子工业的突飞猛进，使得集成电路的功能日趋强大，也因而对集成电路功能规格的要求日益升高，现今集成电路的设计已是十分的精致与复杂。以中央处理器(Central Processing Unit；CPU)为例，由于目前使用者及各种应用软件对其均有着强大的需求，因此造成其电路布局较早期显得复杂许多。

为了能使这些功能强大的集成电路与电路板上的电路及其它电子零件一起工作，集成电路的输出输入接脚的数量也日趋增加。一般而言，集成电路动辄上百的接脚，尤其是中央处理器的接脚数量更是惊人。因此，在将这些大量接脚的集成电路安装于电路板上时，传统上大部分是采用先焊接连接器于电路板上，再将集成电路与连接器耦合。通过连接器与电路板的焊接，可避免价格昂贵的集成电路在焊接时损坏，还可以方便进行集成电路的更换。

然而，无可避免地在生产过程中，或者使用过程中，部分具有集成电路的电子设备，可能会造成损坏。传统上，在电子设备损坏后，维修人员必须先找出不良的原因，以进行维修。然而，此时由于电路板上早已布满了各式各样的其它的电子零件，或者是保护组件，例如是密拉片(Mylar film)或绝缘胶等。因此，在生产过程中所使用的测试机台，例如是制造缺陷分析设备(Manufacture defect analyzer；MDA)或内线路测试机(In-circuit tester；ICT)，因为其专属的探针治具，在此时并不合适用来进行此电路板的测试。

尤其是当不良肇因于电路缺陷时，而在集成电路本身并未不良的情况下，维修人员必须通过三用电表等装置进行集成电路的连接器的电路测量。随着集成电路的接脚越来越多的情况下，维修人员的工作也就越来越辛苦。当测量到具有478接脚的Pentium 4中央处理器时，一个熟练的维修人员可能需要30至40分钟的时间，以找到不良接脚的位置。而一般维修人员则将耗费更多的工时，才能找到正确的不良原因。也就是说，传统技术中，维修人员需靠着经验与测量设备，耗费许多的时间才可以找到部分电子设备的不良原因，以进行修复。因此，不仅维修效率不佳，且需长时间的累积维修经验，才能将不良的电子设备修复。

发明内容

本发明的目的之一，是提供一种测试转接卡，以快速地协助维修人员找到不良的原因，进而方便维修人员进行修复。

本发明的另一目的，是提供一种测试设备，该测试设备中的测试转接卡，可快速地与制造缺陷分析设备(Manufacture defect analyzer；MDA)或内线路测试机(In-circuit tester；ICT)结合，以加快不良电路板与其上的电子零件的测试。

为了达到上述目的，本发明提供了一种测试转接卡，其中包含：一连接器转换座，具有多个接脚，用来与一待测电路板上的一待测连接器耦合；以及多个测试连接器，具有多个脚位，且所述脚位分别与该连接器转换座的所述接脚电性连接，其中所述测试连接器与一测试机台电性连接，以通过该连接器转换座与该待测连接器测试该待测电路板的不良位置。

根据本发明的另一方面，提供了一种测试设备，其中包含：一测试机台；多个排线，连接于该测试机台；一测试转接卡，包含：一连接器转换座，具有多个接脚，并用来与一待测电路板上的一待测连接器耦合；以及多个测试连接器，并具有多个脚位，且所述脚位分别与该连接器转换座的所述接脚电性连接，且所述测试连接器与所述排线电性连接，以通过该连接器转换座与该待测连接器测试该待测电路板的不良位置。

根据本发明的构思，该测试机台包含一制造缺陷分析设备。

根据本发明的构思，该测试机台包含一内线路测试机。

根据本发明的构思，该转换座用来测试一中央处理器脚座。

也就是说，根据以上所述的目的，本发明一种测试转接卡，合适于使用在电子设备的半成品测试，例如是计算机主机板的测试。此测试转接卡包含有一测试电路板、一转换座与多个连接器。其中，转换座安装于测试电路板的一侧，用来与一待测电路板上的一集成电路连接器耦合。而多个连接器则安装于测试电路板的另一侧，并通过测试电路板的内部线路与转换座电性耦合。而上述的连接器用来与一测试机台，例如是一制造缺陷分析设备或一内线路测试机等测试机台电性耦合，以经由转换座与集成电路连接器，来测试待测电路板的不良位置。

本发明的测试转接卡，尤其合适于使用在计算机主机板的中央处理器的脚座的测试，例如是用来进行具有478接脚的一Pentium 4中央处理器电路板的测试。并利用8个具有64接脚的牛角连接器，来与测试机台连接，以快速地进行电路板的半成品测试。其中上述的测试机台还利用计算机等装置，来进行不良原因分析与比对，使生产线的不良原因可快速地被发现与改善。

本发明的测试转接卡，有效的避免与计算机等电子设备的半成品上的电子零件或保护组件产生干涉，配合ICT或MDA等测试机台进行半成品的测试，使加快维修人员不良原因与位置的判断，进而改善维修的效率，还可使生产线的良率有效提升。

附图说明

为让本发明的上述和其它目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的详细说明如下：

图1是为本发明的测试转接卡的示意图；以及

图2是为本发明的测试转接卡的一较佳实施例的设备示意图。

其中，附图标记说明如下：

100-测试转接卡；120-转换座；200-测试设备；

220-待测电路板；240-排线；260-测试机台；280-打印机；

110-测试电路板；130-测试连接器；210-底座；

222-集成电路连接器；250-上支撑板；270-计算机。

具体实施方式

本发明的测试转接卡，可加快维修人员发现不良电路板的不良原因，且可避免因为电路板上已安装有其它电子零件或保护组件而产生干涉的情况。因此，此测试转接卡可使用在电子设备的待修品的快速测试，以期实时发现与改善生产线的不良工艺或不良组件，有效提升生产线的良率。以下将以附图及详细说明清楚说明本发明的精神，如熟悉此技术的人员在了解本发明的较佳实施例后，当可由本发明所教示的技术，加以改变及修饰，其并不脱离本发明的精神与范围。

参阅图1，其绘示本发明的测试转接卡的示意图。如图中所示，测试转接卡100包含测试电路板110、转换座120与多个测试连接器130。其中，转换座120用来与一待测电路板(图1未示，将示于图2)上的集成电路连接器电性耦合，转换座120包含多个接脚，所述多个接脚具有与待测的集成电路连接器相同或相近数目的接脚，以用来插入集成电路连接器。

而测试电路板110上则将转换座120的多个接脚分别电性连接至测试连接器130的各脚位，使待测连接器上的每一待测脚位，分别对应至测试连接器130的各脚位。而测试连接器130，例如是牛角接头，则用来与一测试机台，例如是制造缺陷分析设备(Manufacture defect analyzer；MDA)或内线路测试机(In-circuit tester；ICT)等测试机台，的线路相连接，使测试机台可经由测试转接卡100进行待测连接器与待测电路板的测试。

经由比较与正常电路板或者是标准设计值的差异，测试机台可快速地经由测试转接卡100所取得的测量数据，来发现异常的脚位，并进而判断出不良原因进行修复。

由于测试连接器130可以为测试机台常用的任一连接器，故此测试转接卡100可适合使用在任何的测试机台之上。其仅需在选择合适的测试机台后，将测试连接器130更换为相对应的连接器，或者将测试机台的连接排线的连接器选择为与测试转接卡100的测试连接器130相对应的连接器，即可快速地进行测试。且由于转换座120使测试机台可直接对待测连接器的各个脚位进行测试，并且避开其它的电子零件与保护组件。因此，通过本发明的测试转接卡100，测试机台可快速地进行待修电路板的测试。

相较于公知维修人员，利用经验与简单的测量设备进行电路板上的集成电路连接器的脚位测试，本发明的测试转接卡100仅需5至10秒即可将约500pin的连接器以及与其连接的电路测试完毕，并且将不良的情况通知维修人员。使得半成品的不良，得以快速地被发现，进而通知生产线进行对策与改善，使后续的不良机率有效的被降低。

参阅图2，为本发明的测试转接卡的一较佳实施例的测试设备示意图。如图中所示，此测试设备200包含有上支撑板250、底座210、测试转接卡100、测试机台260以及排线240。当进行待测电路板220的测试时，先将待测电路板220放置于底座210之上，且将待测电路板220的集成电路连接器222对准测试转接卡100上的转换座120，使转换座120上的各个接脚插入集成电路连接器222。

而本发明的测试转接卡100的另一端则固定于上支撑板250，并利用排线240与测试机台260电性连接。其中测试机台可以为MDA测试机台或者是ICT测试机台等具有多点测试能力的电路板测试机台。通过测试转接卡100将待测电路板220上集成电路连接器222的各个脚位的测量信号传送至测试机台260，以判断待测电路板220的不良原因。

测试机台260还可以包含有计算机270与打印机280，以进一步的进行不良原因与数据的比对与输出，并将不良原因传送给目前正在生产相同产品的生产线，或做成不良原因分析数据以便日后进行改善。

本发明的测试转接卡，可避免与电子设备半成品上的电子零件或保护组件产生干涉，直接利用ICT或MDA等测试机台进行半成品的测试，使加快维修人员不良原因与位置的判断，以加速维修的效率。本发明的测试转接卡特别合适于使用在具有478接脚的Pentium 4中央处理器或具有更多接脚的中央处理器的电路板的测试，以具有64接脚的牛角连接器快速地来与测试机台连接，因而可快速且正确的进行主机板的测试，使主机板生产时的不良原因可立即被发现与改善。因此，本发明的测试转接卡与应用其的测试设备可更为实时的发现与改善生产线的不良工艺或不良组件，使生产线的良率有效提升。

如熟悉此技术的人员所了解的，以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并非用以限定本发明的专利保护范围。凡其它未脱离本发明所揭示的精神下所完成的等效改变或修饰，均应包含在所附权利要求书的保护范围之中。

Claims

1.一种测试转接卡，其中包含：

一连接器转换座，具有多个接脚，用来与一待测电路板上的一待测连接器耦合；以及

多个测试连接器，具有多个脚位，且所述脚位分别与该连接器转换座的所述接脚电性连接，其中所述测试连接器与一测试机台电性连接，以通过该连接器转换座与该待测连接器测试该待测电路板的不良位置。

2.一种测试设备，其中包含：

一测试机台；

多个排线，连接于该测试机台；

一测试转接卡，包含：

一连接器转换座，具有多个接脚，并用来与一待测电路板上的一待测连接器耦合；以及

多个测试连接器，并具有多个脚位，且所述脚位分别与该连接器转换座的所述接脚电性连接，且所述测试连接器与所述排线电性连接，以通过该连接器转换座与该待测连接器测试该待测电路板的不良位置。

3.如权利要求2所述的测试设备，其特征是该测试机台包含一制造缺陷分析设备。

4.如权利要求2所述的测试设备，其特征是该测试机台包含一内线路测试机。

5.如权利要求2所述的测试设备，其特征是该转换座用来测试一中央处理器脚座。