CN100351626C - 光学检测系统 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种光学检测系统，用于光线需穿过透明体的场合，其包括光源、光学测试仪器，其特征在于：该光学检测系统进一步包括一半反射镜，该光源、半反射镜与光学测试仪器具有适当的位置与角度，使光源发出的光线能垂直进入透明体，经被测物体反射后沿原路返回到达光学测试仪器中。与现有技术相比，因为本发明可使光源发出的光线能垂直进入透明体，经被测物体反射后沿原路返回到达光学测试仪器中，从而能避免光线在透明体中产生折射而影响检测的精确性，保证检测的精确性。

Description

光学检测系统
【技术领域】
本发明涉及一种光学检测系统。
【背景技术】
目前的光学检测系统如图1所示，其包括一平行光源1及一光学测试仪器2(如CCD测试机)。检测时，平行光源1向被测物体3发射平行光线，经被测物体3反射后，到达CCD测试机2中，由CCD测试机2进行分析比较，以判断该被测物体3是否合格。这种光学检测系统一般适用于在空气中直接检测，但如果在光源1与被测物体3之间有一玻璃或其它类似透明物4时，因为玻璃4的折射作用，检测结果会产生较大的误差，严重影响检测的精确性。
【发明内容】
本发明的目的在于提供一种光学检测系统，以能较精确地透过透明物体进行检测。
为实现上述目的，本发明光学检测系统，用于光线需穿过透明体的场合，其包括光源、光学测试仪器，其特征在于：该光学检测系统进一步包括一半反射镜，该光源、半反射镜与光学测试仪器具有适当的位置与角度，使光源发出的光线能垂直进入透明体，经被测物体反射后沿原路返回到达光学测试仪器中。
与现有技术相比，因为本发明可使光源发出的光线能垂直进入透明体，经被测物体反射后沿原路返回到达光学测试仪器中，从而能避免光线在透明体中产生折射而影响检测的精确性，保证检测的精确性。
【附图说明】
图1为现有光学检测系统应用时的工作原理图。
图2为本发明光学检测系统应用时的工作原理图。
图3为本发明另一种光学检测系统应用时的工作原理图。
图4为本发明又一种光学检测系统应用时的工作原理图。
【具体实施方式】
请参阅图3与图4，本发明光学检测系统系用来检测安装LGA型IC后电连接器10端子12上接触端14的位置，其包括以下步骤：1)提供一透明体20(如玻璃)，该透明体20包括主体22及位于主体22两端的导引部24和安装部26；2)提供一工作台30，且将该透明体20安装部26固定于工作台30上：3)将电连接器10放置于透明体20上，该电连接器中央的通孔(未标示)穿过透明体20上的导引部24，且使电连接器端子12的上接触端14面向透明体20；4)将一辅助件40压迫于电连接器10上，且对其施加一定的竖直向下的作用力，使其端子12和透明体20压缩接触，达到正常工作时所处的状态；5)通过一光学检测系统50来检测出端子12与透明体20的接触点16的位置。在本实施例中该光学检测系统50包括CCD测试机52(也可为其它光学测试仪器)、一半反射镜54和一反射镜56以及一平行光源58。半反射镜54为一既能反射光线又能让光线透射的镜子(如在透明玻璃上涂布一些细小的点状可反射物，如水银)，且半反射镜54和反射镜56分别与水平面呈45度和135度夹角；5)通过判断这些接触点16位置是否在设定范围内，来确定该电连接器是否合格。
测试时，首先从平行光源58发射出一组平行光，光线到达半反射镜54后将被反射，由光线反射原理以及半反射镜54的摆放位置，一部份光将被水平方向反射出去到达反射镜56，之后按照同样的原理光线将会垂直向上透过透明体20，然后碰到实物后被反射回来。因为端子12与透明体20的接触点16会因挤压形成一小平面，相当于一小反射镜，故射到该处的光线会沿原路返回，然后再经反射镜56反射、半反射镜54透射而到达CCD测试机52的镜头，而透过透明体20的光线到达除端子接触点16外的其它部位时，因为这些部位不是镜面，且大部分非水平，故经反射后到达CCD镜头的光线较少，从而CCD测试机52可根据亮度的不同检测出接触点16的位置，再将其与设定范围比较，可得出这些接触点16是否落在设定范围内，从而可判断出该电连接器10是否合格。
因为上述光学检测系统50中设有半反射镜，再通过对半反射镜、反射镜、光源及CCD测试机的位置与角度进行适当设计，可保证光线垂直向上透过透明体，使光线能垂直透过透明体而到达CCD镜头，故可避免光线在透明体中产生折射而影响检测的精确性。
当然，本发明光学检测系统还可采取其它多种不同的方式，如改变半反射镜54’与反射镜56’的角度和位置，将其角度分别设为与水平方向成30度及120度夹角(如图5所示)，也可不用反射镜，而直接将其半反射镜54”与水平方向成135度夹角(如图6所示)，等等，这些方式都能使光线沿原路返回，且到达CCD镜头，从而适于应用在需透过透明体进行检测的场合。
容易理解，本发明光学检测系统并不局限于应用在与LGA型IC相配合的电连接器上，还可应用于需穿过透明体进行检测的场合。当然，如果一个CCD镜头分辨不出接触点的位置，可以利用多个CCD镜头从不同方向检测接触点，来检测出接触点的准确位置。

Claims (8)

1.一种光学检测系统，其特征在于：其包括光源、光学测试仪器及透明体，被测物体与透明体接触，并形成反射镜，该光学检测系统进一步包括一半反射镜，该光源、半反射镜与光学测试仪器具有适当的位置与角度，使光源发出的光线能垂直进入透明体，经被测物体与透明体形成的反射镜反射后沿原路返回到达光学测试仪器中。
2.如权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于：该半反射镜与水平面呈135度夹角。
3.如权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于：该光学检测系统进一步设有一反射镜，且该半反射镜和反射镜分别与水平面呈45度和135度夹角。
4.如权利要求1、2或3所述的光学检测系统，其特征在于：该光学测试仪器为CCD测试机。
5.如权利要求1、2或3所述的光学检测系统，其特征在于：该光学检测系统可应用于与LGA型IC相配合的电连接器端子。
6.如权利要求3所述的检测方法，其特征在于：该半反射镜既能反射光线又能让光线透过。
7.如权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于：该透明体包括主体及位于主体两端的导引部和安装部。
8.如权利要求7所述的光学检测系统，其特征在于：被测物体为电连接器，电连接器设有穿过透明体上的导引部的通孔。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1278599A (zh) * 2000-08-03 2001-01-03 中国科学院上海光学精密机械研究所 透明材料破坏的测量装置
JP2007126749A (ja) * 2005-11-01 2007-05-24 Applied Films Corp 新しい膜特性を達成するためのｐｅｃｖｄ放電源の電力及び電力関連ファンクションの変調のためのシステム及び方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1278599A (zh) * 2000-08-03 2001-01-03 中国科学院上海光学精密机械研究所 透明材料破坏的测量装置
JP2007126749A (ja) * 2005-11-01 2007-05-24 Applied Films Corp 新しい膜特性を達成するためのｐｅｃｖｄ放電源の電力及び電力関連ファンクションの変調のためのシステム及び方法

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