CH426024A - Procédé d'analyse par rayonnement X émis par les atomes de la matière d'un échantillon placé dans une enceinte sous vide poussée et bombardé par les électrons émis par une source et installation pour la mise en oeuvre du procédé - Google Patents
Procédé d'analyse par rayonnement X émis par les atomes de la matière d'un échantillon placé dans une enceinte sous vide poussée et bombardé par les électrons émis par une source et installation pour la mise en oeuvre du procédéInfo
- Publication number
- CH426024A CH426024A CH770464A CH770464A CH426024A CH 426024 A CH426024 A CH 426024A CH 770464 A CH770464 A CH 770464A CH 770464 A CH770464 A CH 770464A CH 426024 A CH426024 A CH 426024A
- Authority
- CH
- Switzerland
- Prior art keywords
- sample
- enclosure
- support
- orifice
- electrons
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/2204—Specimen supports therefor; Sample conveying means therefore
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/076—X-ray fluorescence
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| BE39845 | 1963-07-02 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CH426024A true CH426024A (fr) | 1966-12-15 |
Family
ID=3840193
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CH770464A CH426024A (fr) | 1963-07-02 | 1964-06-12 | Procédé d'analyse par rayonnement X émis par les atomes de la matière d'un échantillon placé dans une enceinte sous vide poussée et bombardé par les électrons émis par une source et installation pour la mise en oeuvre du procédé |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| BE (1) | BE634419A (xx) |
| CH (1) | CH426024A (xx) |
| DE (1) | DE1498662A1 (xx) |
| GB (1) | GB1071214A (xx) |
| LU (1) | LU46291A1 (xx) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1245613B (de) * | 1964-04-01 | 1967-07-27 | Ass Sans But Lucratif | Spektrometer, bestehend aus einem Hochvakuumbehaelter mit einer von einer schraegen Ebene umrandeten OEffnung |
| FR1569830A (xx) * | 1967-05-05 | 1969-06-06 | ||
| GB2133208B (en) * | 1982-11-18 | 1986-02-19 | Kratos Ltd | X-ray sources |
-
0
- BE BE634419D patent/BE634419A/xx unknown
-
1964
- 1964-06-10 LU LU46291D patent/LU46291A1/xx unknown
- 1964-06-12 CH CH770464A patent/CH426024A/fr unknown
- 1964-06-25 GB GB2641664A patent/GB1071214A/en not_active Expired
- 1964-06-25 DE DE19641498662 patent/DE1498662A1/de active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| LU46291A1 (xx) | 1964-12-10 |
| BE634419A (xx) | 1964-01-02 |
| GB1071214A (en) | 1967-06-07 |
| DE1498662A1 (de) | 1969-04-03 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5376791A (en) | Secondary ion mass spectometry system | |
| CH426024A (fr) | Procédé d'analyse par rayonnement X émis par les atomes de la matière d'un échantillon placé dans une enceinte sous vide poussée et bombardé par les électrons émis par une source et installation pour la mise en oeuvre du procédé | |
| FR2475277A1 (fr) | Appareil de production d'un faisceau de neutrons orientable | |
| EP0003454B1 (fr) | Tube à rayons X comportant un dispositif de réduction de la divergence de son faisceau utile | |
| EP1320119B1 (fr) | Détecteur de rayonnements ionisants et procédé de fabrication d'un tel détecteur | |
| US3869614A (en) | Phosphor assembly for ultraviolet light absorption detector | |
| FR2704240A1 (fr) | Installation de revêtement sous vide. | |
| FR2735241A1 (fr) | Procede de controle en temps reel du debit de dose de rayonnements ionisants et dispositif pour sa mise en oeuvre | |
| EP1212779A2 (fr) | Dispositif de detection et d'analyse par ablation laser et transfert vers une trappe ionique d'un spectrometre et procede associe | |
| US3356844A (en) | Rotatable sample changer for an electron probe microanalyzer having means for maintaining a vacuum in the analysis chamber | |
| JPS6249929B2 (xx) | ||
| EP3822621B1 (fr) | Dispositif de contrôle non destructif | |
| EP0624417A1 (fr) | Procédé et dispositif de soudage par faisceau d'électrons de deux pièces d'un composant de grande dimension et notamment d'un générateur de vapeur d'un réacteur nucléaire à eau sous pression | |
| US4186980A (en) | Method and apparatus for constructing electronic devices | |
| FR2550006A1 (fr) | Detecteur de rayonnement a cellules multiples | |
| FR2614041A1 (fr) | Procede et appareil pour le traitement de substrats en faisant intervenir un faisceau d'ions acceleres pour l'erosion de ces substrats, ou pour le depot d'une ou plusieurs couches de revetement | |
| EP0040126A1 (fr) | Canon à électrons pour faisceau convergent | |
| Fujiwara et al. | A New Slow Electron Diffraction Apparatus | |
| FR2565407A1 (fr) | Enveloppe sous vide pour tube intensificateur d'images de rayonnement et procede de fabrication d'une telle enveloppe | |
| US4175808A (en) | Method and apparatus for producing electronic devices | |
| JP3934815B2 (ja) | グロー放電分析装置 | |
| US3767283A (en) | Improvements in or relating to electron discharge devices | |
| EP0394108A1 (fr) | Installation de mesures en continu et en temps reel, de masses de métaux en solution acide, et de l'acidité de cette solution | |
| CH401282A (fr) | Détecteur de produits de fission contenus dans un gaz | |
| FR2481869A1 (fr) | Tube accelerateur de neutrons a section d'ionisation tres perfectionnee |