CH390397A - Verfahren zur Oberflächenbehandlung von Halbleiteranordnungen mit mehreren Elektroden und mindestens einem p-n-Übergang - Google Patents

Verfahren zur Oberflächenbehandlung von Halbleiteranordnungen mit mehreren Elektroden und mindestens einem p-n-Übergang

Info

Publication number
CH390397A
CH390397A CH64460A CH64460A CH390397A CH 390397 A CH390397 A CH 390397A CH 64460 A CH64460 A CH 64460A CH 64460 A CH64460 A CH 64460A CH 390397 A CH390397 A CH 390397A
Authority
CH
Switzerland
Prior art keywords
semiconductor
junction
surface treatment
several electrodes
jet
Prior art date
Application number
CH64460A
Other languages
English (en)
Inventor
Reimer Dipl Phys Emeis
Original Assignee
Siemens Ag
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from DES58641A external-priority patent/DE1248169B/de
Application filed by Siemens Ag filed Critical Siemens Ag
Publication of CH390397A publication Critical patent/CH390397A/de

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23FNON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
    • C23F1/00Etching metallic material by chemical means
    • C23F1/02Local etching
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Weting (AREA)

Description


  Verfahren zur     Oberflächenbehandlung    von Halbleiteranordnungen mit mehreren       Elektroden    und     mindestens        einem        p-n-Übergang       Gegenstand des Hauptpatentes ist ein Ver  fahren zur     Oberflächenbehandlung    von Halbleiteran  ordnungen, die mehrere Elektroden und mindestens  einen     p-n-übergang    haben, mit einem strömenden  Ätzmittel, bei dem die Strömungsgeschwindigkeit des  Ätzmittels durch eine Fremdkraft erhöht wird, welche  an der Oberfläche des Halbleiterelementes eine radial  nach aussen gerichtete Strömungskomponente erzeugt.

    Die vorliegende zusätzliche Erfindung besteht darin,  dass die     Fremdkraft    mittels Drehung der Halbleiter  anordnung erzeugt wird, wobei die Drehung der  Halbleiteranordnung durch ein strömendes Medium  hervorgerufen wird.  



  Dieser Antrieb bringt den Vorteil, dass der Elek  tromotor entfällt. Die bei dem     Atzverfahren    entste  henden Dämpfe bringen ausserdem erhöhte Korro  sionsgefahr für alle Metallteile und daher die Not  wendigkeit besonderer Abdichtung des Elektromo  tors, mit dessen Kühlluft auch dampfförmige Reste  des     Ätzmittels    angezogen werden; eine ausreichende  Abdichtung des Motors sowie der stromführenden       Anschlussteile    ist jedoch nur unter erheblichem Auf  wand möglich. Dieser Aufwand wird durch den Weg  fall des Elektromotors erspart.  



  Ein weiterer Vorteil des Antriebes     mittels    eines  strömenden     Mediums    lässt sich dadurch erzielen, dass  ein zur Abdeckung von solchen Teilen der Ober  fläche der Halbleiteranordnung oder seines Gehäuses,  die vor dem     Angriff    des     Ätzmittels    geschützt werden  sollen, bereits vorhandener     Flüssigkeits-    oder Gas  strahl durch geeignete Anordnung der vorhandenen  Düsen oder durch die Anordnung von zusätzlichen  Düsen zum Antrieb der Halbleiteranordnung ver  wendet werden kann.  



  Der     Flüssigkeits-    oder Gasstrahl wird dabei  zweckmässig so auf eine drehbare Unterlage des Halb-    Leiterelementes, beispielsweise eine rotationssymmetri  sche Spritzscheibe, gerichtet, dass sich eine Kompo  nente des     Strahldruckes    ergibt, welche ein Drehmo  ment auf die Unterlage ausübt. Zur Erhöhung des       Wirkungsgrades    wird die Unterlage des Halbleiter  elementes vorteilhaft mit     Schaufeln,    beispielsweise  ähnlich den Schaufeln von Turbinen, oder mit Ver  tiefungen versehen, gegen welche der Strahl gerichtet  wird.  



  In der Zeichnung sind als Ausführungsbeispiel       Ätzvorrichtungen,    mit denen das erfindungsgemässe  Verfahren in einfacher Weise durchgeführt werden  kann, im     Schnitt    dargestellt. Bei der Vorrichtung nach  den     Fig.    1 und 2 sind auf der Oberseite der Spritz  scheibe Schaufeln angeordnet; die Zuführung des an  treibenden Flüssigkeitsstrahles erfolgt dabei vorteil  haft von oben. Die     Fig.    3 und 4 stellen Teilschnitte  einer Vorrichtung mit seitlicher Zuführung des an  treibenden Flüssigkeitsstrahles und Vertiefungen in  der Spritzscheibe dar.  



       Fig.    1 zeigt eine     Vorrichtung,    mit der ein Halb  leiterelement, in diesem Falle ein Flächentransistor,  geätzt werden kann. Der Transistor hat einen Basis  körper 2, beispielsweise aus     p-leitendem        Silizium,     und auf dessen Unterseite einen Kollektor 3, der bei  spielsweise durch     Einlegieren    einer     antimonhaltigen          Goldfolie    hergestellt ist.

   Auf der Oberseite befindet  sich ein ebenso     hergestellter        ringförmiger        Emitter    4  sowie zwei sperrfreie Basiskontakte, ein scheibenför  miger 5 und ein     ringförmiger    6, welch letztere durch       Einlegieren    von     Aluminiumfolien    hergestellt sein kön  nen. Da der     p-n-übergang    des Kollektors an der  Oberseite hochgezogen ist, kann er gemeinsam mit  den     p-n-übergängen    dies     Emitters    geätzt werden.

   Auf  der Unterseite des     Halbleiterelementes    ist eine Grund  platte 7, beispielsweise aus     Molybdän,    aufgelötet, die      ihrerseits am Gehäuseunterteil 8 befestigt     ist.    Das Ge  häuseunterteil 8 ist     mittels    des zentral angebrachten       Gewindebolzens    9 auf eine Welle 10 aufgeschraubt,  welche in einer Bohrung der Grundplatte 11 im  Gleitsitz geführt wird und deren freies Ende als  Gleitlager dient.

   Auf der Welle 10 ist eine     Spritz-          scheibe    12 angeordnet, welche die Form einer     Ku-          gelkalotte    hat und auf deren Oberseite die     Schaufeln     13 für den Flüssigkeitsstrahlantrieb sitzen.

   Ein Auf  fangraum für die     Ätzflüssigkeit    des Antriebsstrahles       wird    gebildet von der Grundplatte 11, in welcher  eine ringförmige Rille 14 und eine     Ablaufbohrung   <B>15</B>  ausgespart sind, und einer Kappe 16, deren Ober  seite eine zentrale Öffnung 17     aufweist.    Durch die  Öffnung 17 hindurch kann ein Rohr 18 mit einer       düsenförmigen        Ausflussöffnung    auf das zu behan  delnde Halbleiterelement gerichtet werden, durch  welches ein strömendes     Ätzmittel,    insbesondere eine       Ätzflüssigkeit,        strahlförmig    zur Wirkung gebracht  werden.

   Die Gehäusewand des Halbleiterelementes  kann vor dem     Angriff    des     Ätzmittels    geschützt wer  den, indem durch     eine    Düse in der Stellung 19 ein       Spülmittel,    z. B.     destilliertes    Wasser, zugeführt wird.

    Durch eine oder auch mehrere     zusätzliche    Düsen 20,  welche     vorzugsweise    durch die Öffnung 17, jedoch  auch durch die Oberseite der Kappe 16     hindurch-          geführt    werden können, wird ein Flüssigkeitsstrahl,  beispielsweise ein     Wasserstrahl,    auf die     Schaufeln    13  gerichtet,     womit    das Halbleiterelement in Drehung       versetzt    werden kann.

   Alle Teile der     Vorrichtung,     welche mit dem     Ätzmittel    in     Berührung    kommen kön  nen, werden zweckmässig aus einem gegen den An  griff des     Atzmittels    widerstandsfähigen Kunststoff her  gestellt.  



       Fig.    2 zeigt in einer Draufsicht (Schnitt     1-I    der       (Fig.    1) die     Richtung    der Düsen 20 für den Antriebs  strahl sowie die Anordnung der     Schaufeln    13 auf  der     Oberfläche    der     Spritzscheibe    12.  



       In.        Fig.    3 ist ein Ausführungsbeispiel veranschau  licht, bei dem die     Spritzscheibe    12 mit Vertiefungen  32 nach Art eines     Peltonrad#es    versehen ist. Eine  oder mehrere Düsen 31 für die     Zuführung    des An  triebsflüssigkeitsstrahles sind durch die     Seitenwände     der Kappe 16 vorzugsweise angenähert     tangential    auf    die     Spritzscheibe    12 gerichtet     und    leiten den Flüssig  keitsstrahl in die Vertiefungen.  



       Fig.    4 zeigt in einem waagrechten Schnitt     H-H     durch den     in.        Fig.    3     dargestellten    Teil einer     Vorrich-          tung    die     Anordnung    der     Vertiefungen    32 in der  Spritzscheibe sowie die Anordnung der Düsen 31.  



  Die     Möglichkeiten    zur     Anordnung    der Düsen  sowie zur Ausgestaltung der Spritzscheibe sind nicht  auf die dargestellten Ausführungsbeispiele beschränkt.       Vielmehr    können beispielsweise auch an den Seiten  flächen der     Spritzscheibe        Schaufeln    angeordnet oder  auch an der Oberseite statt der     Schaufeln        Vertie-          fungen        eingefräst    werden.  



  Eine     ähnliche    Antriebswirkung wie mit     einem     Flüssigkeitsstrahl wird auch erzielt, wenn durch die  Düsen 20 bzw. 31 Druckgas statt einer Flüssigkeit  zugeführt wird.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH Verfahren zur Oberflächenbehandlung von Halb leiteranordnungen, die mehrere Elektroden und min destens einen p-n-Übergang haben, nach dem Patent anspruch des Hauptpatentes, dadurch gekennzeich net, dass die Fremdkraft mittels Drehung der Halb leiteranordnung erzeugt wird, wobei die Drehung der Halbleiteranordnung durch ein strömendes Medium hervorgerufen wird. UNTERANSPRÜCHE 1.
    Verfahren nach Patentanspruch, dadurch ge kennzeichnet, dass die Drehung durch das gleiche Medium hervorgerufen wird, das auch zur Abdek- kung nicht zu ätzender Teile verwendet wird. 2. Verfahren nach Patentanspruch, dadurch ge kennzeichnet, dass das strömende Medium gegen eine drehbare Unterlage der Halbleiteranordnung ge schleudert wird. 3. Verfahren nach Unteranspruch 2, dadurch ge kennzeichnet, d'ass das strömende Medium gegen an der drehbaren Unterlage des Halbleiterelementes an gebrachte Schaufeln geschleudert wird.
CH64460A 1958-06-18 1960-01-21 Verfahren zur Oberflächenbehandlung von Halbleiteranordnungen mit mehreren Elektroden und mindestens einem p-n-Übergang CH390397A (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DES58641A DE1248169B (de) 1958-06-18 1958-06-18 Verfahren zur Oberflaechenbehandlung von Halbleiterbauelementen mit einem stroemenden AEtzmittel
DES0062319 1959-03-26

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CH390397A true CH390397A (de) 1965-04-15

Family

ID=25995539

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CH64460A CH390397A (de) 1958-06-18 1960-01-21 Verfahren zur Oberflächenbehandlung von Halbleiteranordnungen mit mehreren Elektroden und mindestens einem p-n-Übergang

Country Status (1)

Country Link
CH (1) CH390397A (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0130866A1 (de) * 1983-06-29 1985-01-09 Fujitsu Limited Gerät und Anlage für die Behandlung planarer Substrate mit Flüssigkeiten

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0130866A1 (de) * 1983-06-29 1985-01-09 Fujitsu Limited Gerät und Anlage für die Behandlung planarer Substrate mit Flüssigkeiten

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2117097C3 (de) Auffangvorrichtung in einer Turbine zum Auffangen der Bruchstücke eines Turbinenlaufrades nach Überschreiten seiner Bruchdrehzahl
EP0881664A2 (de) Anordnung zum Behandeln scheibenförmiger Gegenstände, insbesondere Siliziumwafer
DE1248169B (de) Verfahren zur Oberflaechenbehandlung von Halbleiterbauelementen mit einem stroemenden AEtzmittel
CH390397A (de) Verfahren zur Oberflächenbehandlung von Halbleiteranordnungen mit mehreren Elektroden und mindestens einem p-n-Übergang
DE3018775A1 (de) Vorrichtung zum arretieren der antriebsspindel von winkelschleifern
DE2050465A1 (de) Schaumzerstorer
DE1542487A1 (de) Vorrichtung zum Verteilen von Fluessigkeiten in chemischen Apparaten
EP1129793A2 (de) Vorrichtung zum Entfernen von Spänen bei Werkzeugmaschinen
EP0374150A1 (de) Vorrichtung zur behandlung von flüssigkeit
AT218571B (de) Verfahren zur Oberflächenbehandlung von Halbleiterelementen mit einem strömenden Ätzmittel
DE587161C (de) Beregnungsvorrichtung
DE490515C (de) Bewaesserungsturbine mit rinnenaehnlichen Fluegeln
DE555736C (de) Gewoelbter Beregnungskopf
DE680099C (de) Fluessigkeitsbeluefter, insbesondere fuer Abwaesser
DE3331816A1 (de) Aetzvorrichtung fuer metall- und halbleiterscheiben
DE866233C (de) Kuehlvorrichtung an Schleudergiessmaschinen, z. B. fuer Verbundlagerschalen
DE2235561C3 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Reinigung eines Gases
AT211873B (de) Verfahren zur Oberflächenbehandlung von Halbleiterelementen mit mehreren Elektroden und mindestens einem p-n-Übergang
DE2454643A1 (de) Technisches korpuskularstrahlgeraet mit einer abfangvorrichtung fuer abgetragenes werkstueckmaterial
DE401245C (de) Vorrichtung zum Malen der Randlinien auf oval geformte keramische Werkstuecke
DE248830C (de)
DE2119068A1 (de) Einrichtung an einer Schleifmaschine zum Kühlen und Reinigen der Schleifscheibe mittels Flüssigkeitsstrahlen
DE1297951B (de) Verfahren zum AEtzen von Halbleiterkoerpern
DE922318C (de) Hydraulische Drehmomentuebertragungseinrichtung nach dem Foettingerprinzip
DE169890C (de)