CA1126389A - Convertisseur auto-adaptatif en tout ou rien d'un signal d'analyse d'image - Google Patents

Abstract

L'invention concerne un convertisseur auto-adaptatif en tout ou rien d'un signal analogique d'analyse d'image fonctionnant par comparaison du signal d'analyse avec un seuil de décision et correction relative préalable du seuil de décision et des niveaux de modulation du signal d'analyse à partir d'une détection des crêtes de modulation du signal d'analyse. Selon l'invention chacune des valeurs de crête détectée successivement est traitée en lui appliquant une décroissance lente puis une décroissance rapide si le niveau de modulation se maintient à un niveau inférieur au seuil de décision pendant une durée correspondant à une dizaine de points d'image représentés dans le signal d'analyse. Application: transmission de signaux de fac-similés.

Description

~6~9 MB/NV

CIT-ALCATEL/T-DEL
4 pl.

BREVET D'INVENTION

CONYERTISSEUR AUTO-ADAPTATIF ~N TOUT OU RIEN
D'UN SIGNAL D'ANALYSE D'IMAGE

Invention de Jean-Claude DECUYPER

_ Société Anonyme dite COMPAGNIE INDUSTRIELLE DES TELE~OMMUNICATIONS CIT-ALCATEL

La présente invention concerne les oonvertisseurs en tout ou rien d'un signal analogique d'analyse d'une image, d'un document ou analogue, désigné ci-après d'~me manière générale par signal d'analyse d'image. De tels convertisseurs ~ont utilisés notamment dans les installat:ions ds transmission de signaux de fac-similé.
On sait qu'un signal analogique d'analyse d'image est un signal modulé en amplitude entre deux niveaux limite~g le niveau noir maximal et le niveau blanc maximal correspondant respectivement aux éléments noirs et blancs d'image. D'une manière générale, dans le signal d'analyse, détecté par exemple par photodiode, le niveau blanc est ~' ~

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supérieur au niveau noir ; cependant, ces niveaux relatifs peuvent être inversés dans le signal d'analyse détecté, par traitement analogique, par exemple à l'aide d'un amplificateur opérationnel délivrant l'écart entre le signal d'analyse et une tension de référence constante.
La conversion en tout ou rien, ou la trans~ormation en deux niveaux noir et blanc, du signal analogique nécessite la comparaison de ce signal avec un seuil de déciaion compris entre les deux limites de la modulation.
En pratique, on choigit ce geuil de décision à une valeur voisine du niveau blanc maximal.
Lorsque l'image analysée présente un fond plutôt gris, ou coloré, uniforme ou non, ou bien des zones blanches et des zones grises avec en aurimpre~sion de~ éléments conakituant les informations utiles, la comparaison du signal analogique d'analyse avec un seuil de déci~ion Pixe, pour la conversion de ce signal en tout ou rien, n'est plu~ satis-faisante : dans ce cas le signal d'analyse présente dea amplitudes très variables et un bon nombre d'in~ormations utiles risquent cle dis-paraître dans la conversion en tout ou rien. Il a donc été nécessaire d'appliquer une correction sur la position relative du seuil par rapport au niveau de la modulation. Il est connu d'effectuer une telle correction à partir de la valeur de crête du aignal dtanalyse, de manière à tenir compte notamment des variations de niveaux du fond du document, ou d'un document à un autre, et des variations de niveaux des in~ormations utiles à détecter.
La présente invention a pour but d'adapter de manière précise et automatigue la correction relative du seuil de décision et des niveaux de modulation du signal d t image.

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2~38~

La présente invantion a pour ob~et un convertisseur auko- ;
adaptatif en tout ou rien dlun signal analogique d'analyse d'image, ~onctionnant par comparaison, dans un comparateur, des niveau~ de modu ~ :
lation du signal d'analyse d'image avec un seuil de décision et par correction relative ~ans un rapport sensiblement proportionnel de la valeur du seuil de décision et des niveaux de modulation du signal d'analyse effectuée, préalablement à la comparaison, à partir d'une détection, dans un détecteur de crete, des crêtes de modulation clu signal d'analyse significatlves des éléments d'image les plus clairs représentés successivement dans le signal d'analyse, caractérisé en ce qu'il comporte des premiers moyens de traitement des valeurs de crêtPs détectées appliquant une décroissance lente à chacune des valeurs de cretes successivement détectées, des deuxièmes moyens de traitement des valeurs de crêtes détectées appliquank une décroissance rapide aux valeurs de crêtes détectées associés, pour leur commande, à un circuit de détection de maintien des niveaux de modulation du signal d'analyse au-dessou dudit seuil de décision pendant une durée corres-pondant au moins à une dizaine de points élémentaires d'image représentés dans ledit signal d'analyse, lesdits deuxième~ moyenq de traitement lorsqu'ils sont oommandés ramenant rapidement la valeur de crête détectée et traitée par lesdits premiers moyens à une valeur proche du niveau le plus clair représenté alors dans ledit signal d'analyse.
D'autres caractéristiques et avantages de l'invention appara;-tront au cours de la description donnée ci-après en regard des dessins ci-annexés dans lesquels :
- la ~igure 1 est le schéma synoptique d'un convertisseur auto-adaptatif en tout ou rien selon l'invention, . , . .. , , . ,: ~ , ~ .
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3~Z63fl~33 4.

~ la figure 2 est un schéma plus détaillé illustrant un mode de réal.isation du convertisseur selon la ~igure 1, - la figure 3 est un schéma détaillé du convertisseur selon la ~igure 1, indiquart une variante de réalisation de certains circuits rentrant dans la figure 2, - la ~igure 4 est un diagramme expliquant le fonctionnant du convertisseur selon l'invention.
Dans la fieure 1, le converti~.seur auto-adaptati~ en tout ou rien est du type à seuil de décision Vd variable. Il comporte un circuit comparateur 1, constitué par un amplificateur opérationnel, ~`
recevant sur l'ure de ses entrées, ici l'entrée -, le signal analogique d'analyse Va présent à l'entrée E du convertisseur, à travers une résis-tance 10. Le signal Va est ici tel que l'amplitude du niveau blanc est 9upérieure à celle du niveau noir. Cet amplificateur opérationnel reçoit sur son autre entrée, l'entrée +, la tension de comparaison ou seuil de décision Vd. Une résistance 11 relie en outre la sortie du comparateur et son entrée -. La sortie de l'ampli~icateur opéra-tionnel 1 constitue la ~ortie S du convertisseur sur laquelle le signal ;~
de sortie Vs e~t le signal d'analyse Va restitué sous forme binaire.
Le seuil de décision Vd variable appliqué au comparateur 1 ;~
est dé~ini, à partir d'une détection des crêtes de modulation du signal d'analy~e Va, par traitement des valeurs des crêtes successivement détectées. Le convertlsseur comporte, en conséquence, un circuit 2 -~
de détection des crêtes de modulation du signal Va qu'il reçoit, incluant un élément de mémorisation, tel qu'un condensateur, de la valeur de la tension de crête détectée, et des moyens de traitement de la tension `~
de crête détectée appliquant à cette ten~ion de crête un décalage adapté
au signal d'analyse. Ces moyens de traitement, non repérés globalement , : ' , , :' , .,, '., .,' ~ '', , ' ~, ' " i'' ' .', '; , ., ' '' , ' , .' . ~; '' ... ' ' ` ~' ' "
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~ 1263~9 IL 5.

dans la fiæure 1, se divisent en plusieur~ moyens appliquant chaclm une décroissance spéci~ique à la tension de crête détectée et mémorisée.
Un premier moyen, constitué par une résistance 3 reliée à la sortie du circuit 2 et mise à la masse, applique à la tension de crête détectée et mémorisée, une décroissance lente, d'allure exponentielle, avec une constante de temps de l'ordre de la durée de balayage de 20 à 100 points élémentaires d'image représentés dans le signal d'analyse. Un deuxième moyen a constitué ici par un transistor 4 co~mandé, applique à la tension de crête détectée et mémorisée une décroissance rapide à travers une résistance de très faible valeur 41. Cette commande est obtenue par u~ circuit 40 de détection de maintien du signal de sortie Vs qu'il recoit au niveau significatiP du niveau noir d'image~ pendant ur,e durée de l'ordre de la durée de balayage d'une dizaine de points élémen-taires d'image donnée à partir d'un signal H d'horlo~e de balayage d'image appliqué à ce circuit 40.
Un troisième moyen de traitement est constitué par un interrupteur co~mandé 5, relié entre la sortie du circuit 2 et la masse. Il permet une mi~e à zéro de la tension de crête détectée et mémorisée. Cet interrupteur est commandé par un signal de détection de fin de ligne de balayage d'image, maintenu ~usqu7au début de balayage de la ligne sulvante, délivré par un circuit 50 à partir du ~ignal H qui lui est appliqué età partir d'un signal de commande dit de "top local interne"
en abrégé "Tli" fourni par le dispositif d~analyse d~image au début de chaque ligne. La tension de crête détectée et mémorisée, ;
puis traitée par les décroissances respectives qui lui sont ainsi appliquées, est tranqmise à travers un circuit d'adaptation d'impédance 6;, sur l'entrée ~ du comparateur 1, elle définit la valeur du seuil de décision Vd compte tenu du niveau de modulation du signal Va alors ,,;. ~.

. .

6~
6.

appliqué au comparateur.
Danq ce convertisseur en tout ou rien, par la décroissance lente de la tension de crete mémorisée, obtenue à travers la résistance 3, la tension de crête détectée et mémorisée est conservée a une valeur pratiquement constante tant que des points élémentaires sensiblement au même niveau de blanc se succèdent de façon ralpprochée, ceci correspondant notamment à un signal d'analy~e traduiqant une zone de document à
grande densité d'informationg sur fond sensiblement uni~orme. Dans ce cas, la décroissance lente de la tension de crête mémorisée est ~;
compensée rapidement par une détection de tension de crête légèrement supérieure dans le signal d'analyse : on a alors simplement une légère ondulation de la valeur de tension de orête mémorisée. Par contre, la tension de crête détectée et mémorisée prendra une valeur de plus en plus faible si le signal d'analyse traduit 1'analyse d'une zone à ~ond plus gris : la tension de crête mémorisée continue à s'a~uster automatiquement vers une valeur plus faible, avec la constante de temps défirie pour ce mode de décroissance, et l'ajustement s'ef~ectue dan~ un rapport sensiblement constant par rapport à la tension des crêtes de modulation du signal d'analyse Va.
Par la décroissance rapide de la ten~ion de crête mémorisée, déJà en cours d'ajuqtement par la décroissance lente qui lui est appliquée, le transistor 4 commandé permet d'aboutir plus rapidement à une valeur mémorisée voisine du niveau le plus clair représenté dans le signal d'analyse. Cette forte accélération de la décroissance du seuil est appliquée dès que le signal de sortie du comparateur reste significati~
d'un signal d'analyse dont l'amplitude reste inférieure au seuil de décision, ou valeur de la tension de crête mémorisée, pendant un laps de temps de l'ordre de la durée de balayage d'une dizaine de points ~ ~2~3~ 7-élémentaires. Cette décroissance linéaire, à ~orte pente, subsiste tant que le signal de sortie se maintient à ce même niveau binaire, elle permet donc de retrou~er rapidement le niveau ds modulation.
Par 1'interrupteur commandé 5 fermé pendant chaque intervalle de temps entre deux lignes de balayage d'image, on assure une remise à zéro de la valeur de tension de crête mémorisee au début de chaque ligne d'analy~e, pour le signal d'analyse traduisant les informations contenues dans ohacune des ligres d~analyse.
En variante, non illuqtrée, le convertisseur auto-adaptatif en tout ou rien peut être du type à seuil de déclsion fixe. Dans le ¢onvertisseur de ce type, un comparateur, tel que le comparateur de ~;
la figure 1, reçoit d'une part le seuil de décision fixe, appliqué
sur l'entrée ~ de l'amplificateur opérationnel qui le constitue, et d'autre part le signal d'analyse Va à travers un circuit atténuateur variable, comprenant un réseau ré~isti~ variable commandé par la tension de crête mémorisée et traitée par les moyens de décroissance utilisés dans le convertisseur à seuil de décision variable. Dans ce oas, le converti~seur vient effectuer un rattrappage appro~imatif de la variation des niveaux de modulation en appliquant un gain variable au signal analogique d'analyse Va.
Dans la figure 2, on a illustré le sché~a éleotrique d'un convertisseur auto-adaptatif qelon la figure 1. On y a repéré les circuits se retrouvant dans la figure l par les ré~érences précédemment utilisée~.
Dans cette figure 2, le circuit 2 de détection des crêtes de modulation du signal d'analyse Va comporte e3sentiellement deux transistors 20 et 21 Le transistor 20, de type NPN raçoit ~ur sa base, à travers une résistance reglable 22, le signal Ya ; une résistance 23 , ' ' . ' ':' ' , . . . .
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~.~2~3~
8.

relie par ailleurs la base de ce transistor à la masse. Le transistor 21, de type PNP, a sa base reliée au collecteur du transistor 20 tandis que son émetteur est relié à une source de polarisation ~ VO ; il a son collecteur relié à l'émetteur du transistor 20 et à une source _VO à travers une ré~istance de polarisation non référencée. La tension de crete du sigral Va est mémorisée sur un condensateur 24 relié à
traver~ une résistance de charge 25 au collecteur du transistor 21.
Une tension auxiliaire, prélevée à partir de la source ~ VO est en outre injectée sur la base du transistor 20 : deux résistances 26 et 27 sont reliées entre la source ~ VO et la masse, leur point de connexion est relié à la base du tran~istor 20 à traver~ une diode 28.
Des diodes 29 et 30 assurent la stabilité en température du circuit 2 :
la diode 29 montée entre la résistance 27 et la masse compense les effets de température sur la diode 28, la diode 30 montée entre le collecteur du transistor 21 et le point de connexion de sa résistance de polarisation avec l'émetteur du transistor 20 assure une compensation en température de la jonction base-émetteur du transistor 20.
En désignant par A le point de connexion du condensateur 24 et de sa résistanae de charge 25, par A' la connexion du collecteur du transistor 21 et de la résistance 25 et par B la connexion des deux résistances 22 et 23 et de la diode 28 sur la base du transistor 20, dans ce oircuit 2, la tension en B augmente avec le signal Va, elle est égale à Va atténuée dans le rapport défini par les résistances 22 et 23. Les deux transistors 20 et 21 sont passants lorsque la tension en B passe à une valeur supérieure à la tension en A' : dans ce cas la tension en A' devient sensiblement égale à la tension en B et le condensateur 24 se charge rapidement (la constante de temps définle par le condensateur 24 et sa résiC~tance de charge 25 étant très faible).

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~63~

La tension en A atteint alors rapidement la tension en B, à la faible chute de tension dans la résistance 25 près.
Lorsque la tension en B devient inférieure à celle en A', les deux transi~tors 20 et 21 sont bloquéY.
Le point A est connecté à travers le circuit d7adaptation d'impédance 6 à la borne + de l'amplificateur opérationnel l pour lui appliquer la tension de 3euil de décision Vd. Ce circuit 6 comporte deux transistors 60 et 610 Le transistor 60 da type NPN a sa base reliée au point .4 à traverq une résistance 62, son collecteur est relié à une source de polarisation + V0, son émetteur est relié à
traver~ une résistance 63 à une source - V0. Le transistor 61 de type PNP a sa ba3e reliée à l'émetteur du transi~or 60, son collecteur est relié à la source ~ V0 tandig que son émetteur polarisé à partir de la sour¢e ~ V0 est relié à l'entrée ~ de l'ampli~icateur opérationnel l.
Un condensateur de ~iltrage haute fréquence 64 est en outre monté
entre la connexion émetteur du transistor 60 et base du transistor 61, et la masse. Ce circuit 6 est un circuit à haute impédance d'entrée et basse impédance de sortie. Le gain apporté par le circuit 6 étant ~;
de 1, la tension Vd constituant le seuil de décision est égale à la tension au point A.
Au circuit 2 de détection des crêtes sont associés les moyens de décrois~ance de la valeur de cr8te mémorisée dans le condensateur 24.
La résistance 3 montée en parallèle sur ce condensateur apporte une décroissance lente d'allure exponentielle à la valeur de crête mémorisée lorsque les deux transistors 20 et 21 sont bloqués (la constante de temps de décharge définie par le condensateur 24 et la résistance 3 étant très supérieure à la congtante de temps de charge dé~inie par le condensateur 24 et la résistance 25) ~ ~Z63~
10 .

En plus de cette décroissance d'allure exponentielle, le transistor 4 permet d'accélérer la décroiqsance de la valeur mémorisée Ce transistor 4 de type NPN a son collecteur connecté à travers une résistance 41 au point A, il a son émetteur relié à la masse. Sa base est co~mandée à travers une résistance 42 par le circuit 40. Ce circuit 40 est un compteur par 12 recevant leg impulsions d'horloge H donnant le rythme de balayage des points succe~sifs d'ima~e représentés dans le signal dtanalyse, ce compteur est commandé par le signal de sortie d'un inverseur 43 relié à la sortie de l'amplificateur 1. Cet inverseur 43 maintient le compteur à zéro tant que la sortie de l'amplificateur 1 est au niveau si~nificati~ d'un signal d'analyse Va supérieur au seuil de décision Vd. Il autoriqe le comptage d'impulsions d'horloge H
par le compteur 40 tant que la sortie de l'amplificateur opérationnel 1 indique que le signal Va reste in~érieur au seuil Vd. L'état 12 de ce compteur commande le transistor 4 qui devenant passant provoque une décharge rapide du condensateur 24 jusqu'à ce que la tension en A, ou le seuil de décision Vd~ devienne inférieure à Va. Cette décharge ~
du condensateur 24 à tra~ers le transistor 4 permet de retrou~er rapidement ~::
le niveau de modulation du signal d'analyse Va.
La mise à zéro de la charge du condensateur 24 e~t obtenue par l'interrupteur commandé 5 (~igure 1) ; cet interrupteur commandé
est oonstitué ici par un transistor à ef~et de champ dont le "drain"
et la "jource" sont connectés entre le point A et la masse. Le "gate"
de ce transistor est relié au collecteur d'un transistor 51, de type PNP. Le oolleoteur de ce transistor est également relié à la source -V0 à travers une résistance 52. La base de ce transistor 51 est reliée à la masse à travers une résistance 53 et ~qcn émetteur est relié
à traver~ une diode 54 au circuit 50 permettant une polarisati.on convenable - ~ ~Ll;Z6~39 11.

rendant le transi.stor 51 passant, à chaque ~in de ligne d'analyse d1image, pendant la durée séparant deux lignes d'analyse d'imaga con~écutives.
Ce circuit 50 comporte un circuit de comptage commandé à chaque début de ligne par un signal dit de "top local interne", en abrégé "Tli", issu du dispositif d'analyse d'image. Ce circuit détecte le nombre d'impul3ions H correspondant à l'ensemble des points d'image rentrant dans chaque ligne e~ le nombre d'impulsions H correspondant à la durée ;i ~-de retour de ligne de balayage, pour com~ander pendant le retour de ligne la conduction du transistor 51 et du transistor à e~fet de champ 5. Ce transistor à ef~et de champ 5 assure la décharge totale du condensateur 24 et le maintient déchargé pendant toute la durée du retour de ligne d'analyse d'image. A titre de variante non illustrée, l'information relative au retour de ligne peut être Pournie au circuit 50 sur la borne d'entr~e "Tli" SOU9 Porme d'un signal de 1'top local interne"
émis par le dispo~itif d'analy~e d'image pendant la durée du retour de ligne de balayage, ce qui permet de supprimer le circuit de co~ptage du circuit 50.
Le circuit de la figure 2 comporte en outre un circuit de retard 7 recevant le signal Va et l'appliquant, avec un retard de quelque3 microsecondes correspondant à quelques points d'image représentés dans le signal Va, à l'amplificateur opérationnel 1. Ce retard apporté
au signal Va avant sa comparai~on au seuil de décision Vd lui apporte un léger décalage avec la valeur de crëte détectée et ajustée par les traitements de décroissance qui lui sont appliqués. Le circuit est ainsi rendu plus ~ensible aux transitions d'une zone d'image à
fond gris à une zone d'image a ~ond plus clair. Une telle transition apparaîtra dans le signal V9 qui sera mis ainsi au niveau significati~
du noir pendant quelques points d'i~age.

... ~ . . .
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~ 3~ 12.

Dans la ~igure 3, on a illustré una variante de réalisation consiqtant à remplacer le circuit de retard 7 par un circuit de traitement 8, les autres éléments restant identiques.
Le circuit 8 comporte un translstQr 80, de type NPN dont le collecteur est relié à la voie transmettant le ~ignal Va à l'ampli- ;
ficateur opérationnel 1 et dont l'émetteur est mis à la masse. Le tran i~tor 80 est commandé par une bascule 81 de type D : la sortie inverse ~ de cette bascule 81 e~t reliée à la base du transistor 80 à tra~ers une rési~tance 82. Cette bascule 81 reçoit sur son entrée horloge h les impulsion d'horloge H donnant le rythme de balayage le long d'une ligne d'image, son entrée donnée d e~t mise en permanence au niveau 1. Elle reçoit en outre un signal dè commande appliqué ~ur son entrée de remise à zéro r. Ce signal de commande est élaboré à
partir d'une détection d'une remontée significative du seuil de déci-sion Vd alorg que le signal V9 de sortie du convertisseur est significati~
d'un niveau blanc. A cet e~fet, l'émetteur du transistor 60 du circuit d'adaptation d'impédance 6 est relié d'une part à travers une résis- ~
tance 83 découplée par un cond~nsateur 84 à l'entrée ~ dlun amplifica -teur opérationnel 85, par ailleurs reliée par une résistance 86 à
la masse, et d'autre part par un circuit intégrateur à résistance 87 et condan~ateur 88 à l'entrée - de cet amplificateur opérationnel . ,: . . . .
également reliée par une ré~istance 89 à la mas~e. Cet amplificakeur opérationnel 85 délivre une lmpulsion brève à chaque détection de remontée importante du seuil Vd. Une porte Nand 90 combine le signal de sortie de cet ampli~icateur opérationnel auquel elle est reliée et le slgnal délivré par l'inverseur 43 auquel elle est reliée par ur,e riésistance 91 as~ociée à un condensateur 92 connecté à la mas~e.

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263~9 13.

C'est cette porte NAND 90 qui commande la remise à zéro de la bascule 81 lorsqu'il y a détection d'une remontée importante du seuil alors que le signal Vs ast significatif du niveau blanc. Cette bascule 81 applique alors une impulsion brève de commande au transistor 80 qui abaisse de manière momentanee le niveau du signal Va qui ~era perçu par le comparateur 1 comme étant in~érieur au seuil Vd et sera donc traduit par quelque points d'image au niveau noir.
Le fonctionnement du circuit de la ~igure 2 est expliqué
plu9 en détail en regard du diagramme donné dans la ~igure 4. Dans cette ~igure 4 en trait plein on a illu3tré l'allure d'un signal Va et en traits pointillés le seuil de décision Vd ajusté en fonction de Va qui sont appliqués à l'amplificateur opérationnel 1. Dans ce :~
diagramma, le signal Va eqt considéré ~ans le retard apporté norma-lement par le circuit 7 avant sa comparai~on aveo Vd. On a désigné
par VBL le niveau blanc maximal d'image, par VN le niveau noir maximal ;
d'image, VBL étant ici supérieur à VN. On a repéré par l'intervalle a-b la durée du retour de ligne de balayage, pendant cet intervalle le transistor a effet de champ 5 est passant, il décharge et maintient le condensateur 24 déchargé : la tension en A, ou la valeur du seuil de décision Vd~ est voiqine de la masse et est in~érieure à VN.
Dans l'intervalle repéré b-c, le signal Va traduit la présence d'in~ormations sur un fond blanc maximal. Dès le début de cet intervalle le tran~istor à effet de champ 5 est bloqué. La tension en B augmente avec Va, les deux transistors 20 et 21 sont passants et la ten~ion en A' est sensiblement égale à celle en B. Le condensateur 24 se charge rapidement et la tension en A ou Vd prend rapidement, lorsque le signal Va a le niveau VBL, une valeur désignée par Vdmax égale à VBL atténuée .. .... . .

~ 6 3~9 14.

dans le rapport défini par les valeurs des résistances 22 et 23 et par la faible chute de tension dans la résistance 25. Lorsque la valeur du signal Va diminue rapidement, la ten~ion en B devient inférieure à celle en A' et les transi~tors 20 et 21 se bloquent. Le condensateur 24 se décharge alors lentement à travers la résistance 3. La valeur de Va remontant presque tout de suite à VBL, ou à une valeur très proche, les deux transistor~ 20 et 2l redeviennent passants. Pendant cet inter-valle la tension en A reste sensiblement constante : la décharge lente du condensateur 24 est compensée par les détections successives des crêtes VBL. Le seuil de décision Vd se maintient donc pendant cet intervalle pratiquement au même niveau Vdmax, il peut présenter simplement quelque~ ondulations légèrement au-dessous de Vdmax.
Dans l'intervalle repéré c-d, on a considéré un slgnal d'ana-lyse Va traduisant des informations d'image portées sur un ~ond gris de document. Le niveau le plus clair sur le dooument qui était précédemment VBL devient maintenart VG, VG VBL. Les deux transistors 20 et 21 sont bloqués. Ce niveau VG se mairtient suffisam~ent longtemps pour -~-que le condensateur 24 se décharge tout d'abord lentement à travers la résistance 3 puis brusquement à traver~ le transistor 4 co~mandé
à l'état passant par le circuit 40 ~usqu'à ce que la tension en A
ou la tension Vd atteigne une valeur VdG légèrement in~érieure à VG.
Les transistors 20 et 21 ~ont ensuite rendus pa3sants et le circuit ~onctionne comme dans l'intervalle b-c avec de brève décharges lentes du condensateur 24 lors des incursions de Va en dessous de VG puis un retour de la tension en A au niveau VdG à chaque nouvelle détection de crête alors à VG.
Dans l'inter~alle repéré d-e, le signal Va traduit à nouvsau ~ ~-l;analyse du fond de document au niveau VBL.Par les deux transistors 20 :: : ~ ,. ' ~ ' . : ' ' ' ;

``` ~L~263~
15.

et 21 passants le seuil de décision remonte à la valeur Vdmax .
Dans l'intervalle repéré e-f, le signal d'analyse Va prend une valeur très proche de VN tout en étant légèrement supérieure à
VN et traduit l~analyse d'un trait noir par exemple, sur la portion correspondante de la ligne d'analyse d'image La tension en B diminue avec Va, les deux transistors 20 et 21 sont bloqués et la charge du conden~ateur diminue tout d'abord lentement pui~ brusquement. Le ~euil de décision Vd s~abaisse alorg jusqu'à une valeur VdN, légèrement supérieure à VNJ donnée par l'injection à partir de la source V0 et à travers la diode 28 alors passante d'une ten~ion auxiliaire débloquant le~ transistors 20 et 21. La tension en A se maintient alors con~tante et Vd conserve la valeur VdN, ce qui permet de maintenir le signal de sortie V9 au niveau significati~ du noir en correspondance au trait noir tradult alor.~ dans le signal d'analyse. Le maintien du signal V~ .
au niveau du noir peut provoquer, par la commande du transistor 4 à partir du circuit 40 et de l'inverseur 43, de brèves incursions du signal Vd en dessou~ de ce niveau VdN, ce niveau VdN 3era aussitot rétablit par l'injection de la tension auxiliaire par le circuit 2. ~:~
Dans l'intervalle repéré f-g, on a considéré le retour du signal Va au niveau VBL, le signal Vd remonte au niveau Vdmax co~me dans l'intervalle d e.
Dans l'intervalle repéré g-h, le signal Va traduit la durée de retour de ligne d'analyse. Le seuil Vd durant cet intervalle prend une valeur inférieure à VN~ comme pour l'intervalle a-b, grace à
la décharge complète du condensateur 24 à travers le transi~tor à
effet de champ 5.

. . . , ~ :, - . ...:
: ~ .

Claims (8)

16.
REVENDICATIONS

1/ Convertisseur auto-adaptatif en tout ou rien d'un signal analogique d'analyse d'image, fonctionnant par comparaison, dans un comparateur, des niveaux de modulation du signal d'analyse d'image avec un seuil de décision et par correction relative dans un rapport sensiblement proportionnel de la valeur du seuil de décision et des niveaux de modulation du signal d'analyse effectuée, préalablement à la comparaison, à partir d'une détection, dans un détecteur de crête, des crête de modulation du signal d'analyse significatives des éléments d'image les plus clairs représentés successivement dans le signal d'analyse, caractérisé en ce qu'il comporte des premiers moyens de traitement des valeurs de crêtes détectées appliquant une décroissance lente à chacune des valeurs de crêtes successivement détectées, des deuxièmes moyens de traitement des valeurs de crêtes détectées appliquant une décroissance rapide aux valeurs de crêtes détectées associés, pour leur commande, à un circuit de détection de maintien des niveaux de modulation du signal d'analyse au-dessous dudit seuil de décision pendant une durée correspondant au moins à une dizaine de points élémentaires d'image représentés dans ledit signal d'analyse, lesdits deuxièmes moyens de traitement, lorsqu'ils sont commandés, ramenant rapidement la valeur de crête détectée et traitée par lesdits premiers moyens à une valeur proche du niveau le plus clair représenté alors dans ledit signal d'analyse.

17.

2/ Convertisseur auto-adaptatif en tout ou rien selon la revendication 1, dans lequel chaque valeur de crête détectée est mémorisée sur un conden-sateur caractérisé en ce que lesdits premiers moyens sont constitués par une résistance en parallèle sur ledit condensateur et présentant avec lui une constante de temps élevée correspondant à la durée de plusieurs dizaines de points élémentaires d'image représentés dans ledit signal d'analyse et en ce que lesdits seconds moyens sont constitués par un transistor commandé par un compteur recevant en entrée des impulsions d'horloge donnant le rythme des points élémentaires d'image représentés dans le signal d'analyse et dont la mise à zéro est assurée à partir du signal de sortie dudit comparateur.

3/ Convertisseur auto-adaptatif en tout ou rien selon la reven-dication 1, caractérisé en ce que ledit détecteur de crête compor-te deux transistors complémentaires, l'un de type NPN recevant sur sa base le signal d'analyse à travers un réseau résistif et ayant son collecteur relié à la base de l'autre transistor de type PNP et son émetteur relié au collecteur de cet autre transistor.

4/ Convertisseur auto-adaptatif en tout ou rien selon la revendication 3, caractérisé en ce que ledit détecteur de crête comporte en outre un circuit d'injection d'une tension auxiliaire, de valeur légèrement supérieure au niveau minimum du signal d'analyse significatif du noir maximum d'image, relié à la base du transistor NPN à travers une diode rendue passante lorsque ledit signal d'analyse devient inférieure à ladite tension auxiliaire, lesdites crêtes détectées étant ainsi limitées, en valeur minimale, à la valeur de ladite tension auxiliaire.

5. Convertisseur auto-adaptatif en tout ou rien selon l'une des revendications 1 ou 4, caractérisé en ce qu'il comporte un circuit à retard transmettant ledit signal d'analyse audit comparateur en lui apportant un retard corres-pondant à quelques points d'image représentés dans ledit signal d'analyse.

6. Convertisseur auto-adaptatif en tout ou rien selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il comporte un circuit de détection des remontées importantes dudit seuil de décision appliquant une impulsion de commande de diminution temporaire du niveau du signal d'analyse.

7. Convertisseur auto-adaptatif en tout ou rien selon l'une des revendications 1 ou 6, caractérisé en ce qu'il comporte des moyens de mise à zéro des valeurs de crêtes détectées, commandés par un circuit de détection de fin de ligne d'analyse d'image et de début de ligne d'analyse d'image constitué par un circuit de comptage du nombre de points d'image rentrant dans chaque ligne d'analyse d'image et représenté dans le signal d'analyse et du nombre de points d'image correspondant à la durée de retour de ligne d'analyse.

8. Convertisseur auto-adaptatif en tout ou rien selon l'une des revendications 1 ou 6, caractérisé en ce qu'il comporte des moyens de mise à zéro des valeurs de crêtes détectées, commandés par un signal émis par le dispositif d'analyse d'image pendant la durée de retour de ligne d'analyse.