BR112018069960B1 - Método para detectar um defeito em uma superfície e dispositivo para detectar um defeito em uma superfície - Google Patents

Abstract

O método para detectar um defeito em uma superfície (12) inclui as seguintes etapas: adquirir (100) uma pluralidade de imagens (200) de superfície (12) usando um dispositivo ótico (14) possuindo um eixo ótico, cada imagem (200) sendo adquirida com uma iluminação de superfície ao longo de uma direção de iluminação (E, E?) determinada para cada ponto de superfície (12) e uma direção ótica (O), as imagens (200) sendo obtidas com diferentes direções de iluminação (E, E?) ou diferentes combinações e/ ou com diferentes direções óticas (O); para cada ponto (202), calcular uma pluralidade de parâmetros, os parâmetros incluindo coeficientes de uma equação que caracterizam a resposta do referido ponto de superfície como uma função da direção de iluminação (E, E?) e uma direção de observação (B, B?); deduzir (104) a partir dos parâmetros calculados se a superfície (12) possui um defeito no referido ponto (202).

Description

CAMPO DA INVENÇÃO

[001] A presente invenção refere-se a um método para detectar um defeito em uma superfície. Também se refere a um dispositivo de detecção associado.

ANTECEDENTES DA INVENÇÃO

[002] Um método atual consiste em adquirir uma imagem ou um filme de superfície. Essa imagem ou filme é vista em seguida por um operador, que indica os defeitos que ele identificou.

[003] No entanto, o operador pode não identificar um defeito devido à falta de atenção. Além disso, os critérios que permitem julgar um defeito são subjetivos, isto é, a definição do que constitui um defeito pode variar dependendo do operador.

[004] Uma solução frequentemente implementada para compensar esses problemas é ter o filme ou imagem visualizado por vários operadores. Além disso, exemplos de imagens de superfície são usados para mostrar o que é ou não um defeito.

[005] No entanto, os exemplos apresentados não são exaustivos nem reprodutíveis.

[006] Em caso de defeito, os especialistas são consultados. Muitas discussões entre especialistas acontecem, os especialistas não necessariamente concordando uns com os outros.

[007] A análise de uma superfície pode ser demorada e complexa.

[008] A invenção, em particular, visa resolver este inconveniente, fornecendo um método simples e seguro, a fim de detectar um defeito em uma superfície.

DESCRIÇÃO RESUMIDA DA INVENÇÃO

[009] O método de detecção de acordo com a invenção pode ainda incluir uma ou mais das seguintes características, consideradas isoladamente ou de acordo com qualquer combinação tecnicamente possível: - a direção ótica é a mesma para a pluralidade de imagens; - a direção ótica é substancialmente perpendicular à superfície; - a iluminação é feita por um dispositivo de iluminação, o dispositivo de iluminação incluindo um primeiro número de fontes de luz, o primeiro número sendo maior que seis, tendo cada fonte de luz uma direção de iluminação diferente, para cada imagem adquirida, uma fonte única de luz ou uma combinação definida de fontes sendo iluminadas, a fonte única de luz ou combinação sendo diferente para cada imagem adquirida; - as fontes de luz possuem uma intensidade de iluminação idêntica; - as fontes de luz estão dispostas em meia esfera em torno da superfície; - o dispositivo de iluminação inclui uma ou várias fontes de luz que são capazes de se mover em um primeiro número de posições em relação à superfície; - para cada ponto de superfície, o cálculo dos parâmetros inclui as seguintes etapas: - definir uma quantidade evoluindo como uma função das imagens adquiridas, - escolher um modelo de superfície dependendo da (s) direção (ões) de iluminação e/ ou direção de observação para a evolução da quantidade, o modelo incluindo os coeficientes, e - calcular os coeficientes por regressão da evolução da quantidade; - a quantidade corresponde à intensidade cinzenta do ponto de superfície, o modelo dependendo da direção de iluminação; - um defeito é detectado no referido ponto quando pelo menos um parâmetro no referido ponto não está compreendido em um intervalo definido; - um defeito é detectado no referido ponto quando pelo menos um parâmetro no referido ponto não está compreendido em um intervalo centrado em torno do valor médio do referido parâmetro sobre o conjunto de pontos de superfície; e - um defeito é detectado no referido ponto quando pelo menos um parâmetro no referido ponto difere de um valor selecionado como limiar de detecção em relação ao ruído de fundo do referido parâmetro em um ponto adjacente, não tendo a superfície um defeito no ponto adjacente.

[010] A invenção também se refere a um dispositivo para detectar um defeito em uma superfície, o dispositivo de detecção incluindo: - um dispositivo ótico com um eixo ótico, o dispositivo ótico sendo capaz de adquirir uma imagem de superfície ao longo de uma determinada direção ótica, - um dispositivo de iluminação com várias direções de iluminação diferentes e - um dispositivo de cálculo eletrônico, o dispositivo de cálculo eletrônico sendo configurado para: - adquirir uma pluralidade de imagens de superfície através do dispositivo ótico, cada imagem sendo adquirida ao longo de uma determinada direção ótica determinada com diferentes direções de iluminação ou diferentes combinações de direções de iluminação para cada imagem, - para cada ponto de superfície, calcular, a partir de imagens adquiridas, uma pluralidade de parâmetros, os parâmetros incluindo coeficientes de uma equação determinando a resposta do referido ponto de superfície como uma função da direção de iluminação e uma direção de observação; e - deduzir a partir dos parâmetros calculados se a superfície possui um defeito no referido ponto.

BREVE DESCRIÇÃO DOS DESENHOS

[011] A invenção será melhor compreendida usando a seguinte descrição, fornecida apenas como um exemplo e feita em referência às Figuras anexas, em que: - A Figura 1 é uma vista esquemática de um exemplo de dispositivo usado no método de detecção da invenção; - A Figura 2 é um diagrama das etapas de uma forma de realização do método da invenção, - A Figura 3 é uma imagem de exemplo da superfície na qual o método de detecção é aplicado, - A Figura 4 é um exemplo da evolução de três parâmetros em uma linha de superfície da Figura 3, - A Figura 5 é um exemplo de detecção de defeitos na superfície da Figura 3, e - A Figura 6 é um exemplo de parâmetros em um ponto possuindo um defeito e um ponto não possuindo um defeito.

DESCRIÇÃO DETALHADA DA INVENÇÃO

[012] Um exemplo de dispositivo (10) para detectar um defeito em uma superfície (12) é mostrado na Figura 1.

[013] O dispositivo de detecção (10) inclui um dispositivo ótico (14), um dispositivo de iluminação (15) incluindo um primeiro número de fonte (s) de luz (16) e um dispositivo (18) de cálculo eletrônico.

[014] O dispositivo ótico (14) tem um eixo ótico alinhado com uma determinada direção ótica (O). Tem um campo de aquisição.

[015] O dispositivo ótico (14) é capaz de adquirir uma imagem de superfície (12) ao longo de uma determinada direção ótica (O). O campo de aquisição coincide com a superfície (12) a ser inspecionada, de tal modo que a imagem adquirida representa a superfície (12).

[016] Para cada ponto de superfície, uma direção de observação (B, B’) é definida entre o dispositivo ótico (14) e o ponto de superfície (12).

[017] O campo de aquisição aqui é fixo.

[018] A direção ótica (O) é tipicamente substancialmente perpendicular à superfície (12). De forma alternativa, a direção ótica (O) não é substancialmente perpendicular à superfície (12).

[019] O dispositivo ótico (14) é, por exemplo, uma câmera.

[020] De forma alternativa, o campo de aquisição coincide com apenas uma parte da superfície (12) e é capaz de se mover relativamente à superfície (12) de modo a ser capaz de adquirir toda a superfície (12) em várias partes.

[021] Cada imagem adquirida é composta de uma matriz de pixels com tamanho i*j, com i sendo o número de linhas horizontais e j sendo o número de linhas verticais da matriz, com pelo menos um dos dois parâmetros (i, j) maior que 1. O pixel é, por exemplo, um retângulo com o tamanho denotado h*L, sendo h sua altura e L sua largura. A altura h é igual à largura L. De forma alternativa, a altura é diferente da largura.

[022] Daqui em diante “ponto de superfície” se refere indiferentemente a um pixel de uma imagem adquirida ou parte da superfície adquirida em um pixel.

[023] As fontes de luz (16) são capazes de iluminar a superfície (12).

[024] Para cada ponto de superfície, as fontes de luz (16) possuem, cada uma, uma determinada direção de iluminação (E, E’) ligando a fonte de luz ao ponto da superfície (12). A direção de iluminação é diferente para cada fonte de luz.

[025] As fontes de luz (16) estão tipicamente dispostas em uma meia esfera (20) envolvendo a superfície (12).

[026] O primeiro número é, por exemplo, maior que seis, mais particularmente maior que vinte. O primeiro número é, por exemplo, entre 32 e 128, mais particularmente igual a 96.

[027] As fontes de luz (16) são, por exemplo, díodos emissores de luz (LED).

[028] Eles podem estar desligados ou ligados. Eles são configurados para serem ativados de forma independente um do outro.

[029] As fontes de luz (16) possuem tipicamente uma intensidade de iluminação idêntica.

[030] De forma alternativa, o dispositivo de iluminação (15) inclui uma ou várias fontes de luz que são capazes de se mover, por exemplo, na meia esfera (20), em um primeiro número de posições em relação à superfície.

[031] De forma alternativa, o dispositivo de iluminação (15) inclui uma ou várias luzes que podem não ser idênticas. Quando o dispositivo de iluminação está totalmente ligado, por exemplo, fornece iluminação não homogênea da superfície adquirida. O sistema de aquisição e a superfície possuem um movimento relativo.

[032] O dispositivo de cálculo eletrônico (18) é, por exemplo, um computador, uma calculadora, um módulo de computação, pelo menos um componente lógico programável, tal como um FPGA (Matriz de Portas Programável em Campo), ou pelo menos um circuito integrado dedicado, tal como ASICs (Circuitos Integrados de Aplicação Específica).

[033] O dispositivo de cálculo eletrônico (18) está, por exemplo, ligado ao dispositivo ótico (14) e ao dispositivo de iluminação (15).

[034] O dispositivo de cálculo eletrônico (18) é capaz de ligar ou desligar cada uma das fontes de luz (16) de forma independente uma da outra.

[035] O dispositivo de cálculo eletrônico (18) é ainda proporcionado para desencadear a aquisição de pelo menos uma imagem de superfície pelo dispositivo ótico (14).

[036] É assim configurado para conduzir a aquisição de uma pluralidade de imagens de superfície pelo dispositivo ótico (14), cada imagem sendo adquirida ao longo de uma determinada direção ótica (O) e com uma fonte única de luz ou uma combinação definida de diferentes fontes únicas iluminadas para cada imagem.

[037] Para cada ponto de superfície, o dispositivo de cálculo eletrônico (18) está configurado para calcular, a partir de imagens adquiridas, uma pluralidade de parâmetros, os parâmetros incluindo coeficientes de uma equação que caracterizam a resposta do referido ponto de superfície como uma função da direção de iluminação e uma direção de observação, então deduzir a partir dos parâmetros calculados se a superfície possui um defeito no referido ponto.

[038] Este último ponto é descrito em detalhes abaixo em conexão com o método para detectar um defeito.

[039] Um método para detectar um defeito em uma superfície será agora descrito à luz da Figura 2.

[040] O método é realizado aqui pelo dispositivo descrito anteriormente, mais especificamente utilizando o dispositivo de cálculo eletrônico (18).

[041] O método compreende as seguintes etapas: - aquisição (100), - calculo dos parâmetros (102) e - dedução da presença de um defeito (104).

[042] Durante a aquisição (100), uma pluralidade de imagens (200) de superfície é adquirida pelo dispositivo ótico (14). Uma dessas imagens é mostrada na Figura 3.

[043] Cada imagem (200) é adquirida com uma iluminação de superfície (12) ao longo de uma determinada direção de iluminação (E, E’) para cada ponto de superfície e com o eixo ótico do dispositivo ótico (14) ao longo de uma determinada direção ótica (O).

[044] As imagens (200) são adquiridas com diferentes direções de iluminação (E, E’) ou combinações de direções de iluminação.

[045] De forma alternativa, as imagens (200) são adquiridas com diferentes direções óticas (O).

[046] De forma alternativa, as imagens (200) são adquiridas com diferentes direções de iluminação (E, E’) ou combinações de direções de iluminação e com diferentes direções óticas (O).

[047] Na forma de realização ilustrada, as direções de iluminação (E, E’) diferem para cada imagem adquirida e a direção ótica (O) é invariável e substancialmente perpendicular à superfície (12).

[048] Para cada imagem adquirida, uma fonte de luz única ou uma combinação definida de fontes únicas (16) do dispositivo de iluminação é iluminada, a fonte de luz única ou a combinação sendo diferente para cada imagem adquirida.

[049] O conjunto de fontes de luz ou combinações é iluminado por sua vez, de modo a adquirir uma imagem por fonte de luz ou por combinação. De forma alternativa, certas fontes ou combinações não são iluminadas.

[050] Então, durante o cálculo dos parâmetros (102), para cada ponto (202) de superfície, isto é, para cada pixel das imagens aqui adquiridas, uma pluralidade de parâmetros é calculada a partir das imagens adquiridas.

[051] Os parâmetros são calculados a partir de coeficientes de uma equação que caracteriza a resposta do referido ponto de superfície em função da direção de iluminação (E, E’) e uma direção de observação (B, B’).

[052] Para cada ponto (202) de superfície, o cálculo dos parâmetros (102) inclui aqui as seguintes etapas: - definir uma quantidade (106), - escolher um modelo (108) e - cálculo dos coeficientes (110).

[053] Durante a definição de uma quantidade (106), uma quantidade que evolui como uma função das imagens adquiridas é definida.

[054] Por exemplo, a quantidade aqui é a intensidade cinzenta do ponto de superfície, a intensidade cinzenta sendo variável dependendo das imagens adquiridas.

[055] Em paralelo, um modelo representando a evolução da quantidade é selecionado (108). O modelo depende da (s) direção (ões) de iluminação (E, E’) e/ ou direção de observação (B, B’). O modelo inclui coeficientes.

[056] Aqui o modelo depende unicamente da direção de iluminação. Por exemplo, ele assume a seguinte forma: G (F) = a0 x Du2 + a1 x Dv2 + a2 x Du x Dv + a3 xDu+a4 x Dv + a5 G, com G sendo a quantidade, E sendo a direção de iluminação, a0, a1, a2, a3, a4 e a5 sendo os coeficientes e Du e Dv sendo as coordenadas do vetor que conecta a fonte de iluminação ao ponto de superfície.

[057] Os coeficientes (a0, a1, a2, a3, a4 e a5) aqui são indeterminados.

[058] Então, durante o cálculo dos coeficientes (110), uma aplicação da quantidade no modelo é feita de modo a calcular os valores de a0, a1, a2, a3, a4 e a5.

[059] Os parâmetros aqui são iguais aos coeficientes (a0, a1, a2, a3, a4 e a5) assim calculados.

[060] Para cada ponto de superfície, a mesma quantidade e o mesmo modelo são definidos. Assim, para cada ponto de superfície, os parâmetros a0, a1, a2, a3, a4 e a5 são obtidos. Por exemplo, obtém um mapa de superfície mostrando os valores dos parâmetros para cada ponto de superfície.

[061] A Figura 4 mostra a evolução de três parâmetros ao longo da linha (204) de pontos de superfície mostrada na Figura 3.

[062] De forma alternativa, os parâmetros são outros valores calculados a partir dos coeficientes.

[063] Ao deduzir a presença de um defeito (104), deduz-se a partir dos parâmetros calculados se a superfície possui um defeito no referido ponto.

[064] Na Figura 6, por exemplo, os parâmetros são mostrados com a curva (C1) em um ponto não possuindo um defeito e com a curva (C2) em um ponto possuindo um defeito.

[065] O resultado obtido na etapa (104) para cada ponto é, por exemplo, um booleano mostrando, de uma maneira binária, se um defeito é detectado no referido ponto.

[066] A Figura 5 mostra o booleano ao longo da linha (204): se o booleano é igual a 0, nenhum defeito é detectado; se o booleano é igual a 1, um defeito é detectado.

[067] Assim, na Figura 5, um único defeito (300) é detectado e se estende por vários pontos adjacentes.

[068] Um ou vários critérios são usados para deduzir a presença de um defeito dos parâmetros. Estes critérios são descritos abaixo e são usados sozinhos ou combinados para detectar um defeito. Por exemplo, um defeito é detectado quando pelo menos dois dos critérios são validados.

[069] Um primeiro critério é que um defeito é detectado no referido ponto quando pelo menos um parâmetro no referido ponto não está compreendido em um intervalo.

[070] Mais particularmente, o intervalo é centrado em torno do valor médio do referido parâmetro sobre o conjunto de pontos de superfície.

[071] De forma alternativa, o intervalo é um intervalo determinado.

[072] De forma alternativa, um defeito é detectado no referido ponto quando pelo menos um determinado número de parâmetros no referido ponto não está compreendido em um intervalo respectivo.

[073] Um segundo critério é que um defeito é detectado no referido ponto quando pelo menos um parâmetro no referido ponto difere de um valor selecionado como limiar de detecção relativo ao ruído de fundo do referido parâmetro em um ponto adjacente, a superfície não possuindo um defeito no ponto adjacente.

[074] Assim, a superfície é analisada de um para o outro.

[075] É então apropriado definir pelo menos um primeiro ponto de superfície para o qual um defeito não está presente.

[076] De forma alternativa, o dispositivo de cálculo eletrônico (18) considera que a localização de superfície está isenta de defeitos e, de um para o outro, detecta defeitos na superfície. Se o resultado for considerado inaceitável, por exemplo, se a maioria da superfície for detectada como possuindo um defeito, a etapa será reiterada, considerando que outro local, diferente do anterior, está livre de defeitos.

[077] Um terceiro critério é baseado na geometria de um sinal.

[078] O sinal aqui é a evolução de um ou vários parâmetros em um conjunto definido de pontos. Os pontos do conjunto aqui são adjacentes. O conjunto de pontos é, por exemplo, uma zona centrada em um ponto central.

[079] Os padrões são definidos correspondendo aos casos em que um defeito é detectado e/ ou no qual nenhum defeito é detectado. A forma do sinal é comparada aos padrões, para decidir se um defeito é detectado. O defeito é detectado no ponto central, em uma zona que inclui o ponto central e incluído no conjunto de pontos ou no conjunto de pontos.

[080] Assim, para cada ponto de superfície, deduz-se dos parâmetros se um defeito está presente.

[081] Este é, por exemplo, capaz de ser representado em um mapa binário de superfície, a fim de visualizar os defeitos facilmente.

[082] De forma alternativa, as fontes de luz (16) não possuem uma intensidade de iluminação idêntica. Uma calibração do dispositivo é então feita.

[083] Em outra forma de realização, a direção ótica do dispositivo ótico varia, a superfície e uma fonte de iluminação permanecem estacionárias entre cada imagem adquirida. De forma alternativa, a direção ótica e a direção de iluminação são móveis em relação à superfície.

[084] De forma alternativa, o cálculo dos parâmetros (102) é baseado em outro modelo matemático, tal como a função de distribuição de refletância bidirecional (BRDF) ou a decomposição modal discreta (DMD) ou o mapeamento de textura polinomial (PTM).

[085] A dedução direta de parâmetros calculados, a partir de imagens adquiridas, em particular, permite eliminar a suscetibilidade à presença de um defeito que varia com base nos operadores. O método permite, assim, obter um resultado único e objetivo. Assim, o método é simplificado e seguro.

Claims (12)

1. MÉTODO PARA DETECTAR UM DEFEITO EM UMA SUPERFÍCIE (12), o método incluindo as seguintes etapas: adquirir (100) uma pluralidade de imagens (200) da superfície (12) usando um dispositivo ótico (14) possuindo um eixo ótico, cada imagem (200) sendo adquirida com uma iluminação da superfície (12) ao longo de uma direção de iluminação (E, E’) determinada para cada ponto (202) da superfície (12) e com o eixo ótico do dispositivo ótico (14) ao longo de uma determinada direção ótica (O), as imagens (200) sendo adquiridas com diferentes direções de iluminação (E, E’) ou diferentes combinações de direções de iluminação (E, E’) e/ ou com diferentes direções óticas (O); para cada ponto (202) da superfície (12), calcular (102), a partir das imagens adquiridas (200) de uma pluralidade de parâmetros, os parâmetros incluindo coeficientes (110) de uma equação determinando a resposta do ponto (202) da superfície (12) como uma função da direção de iluminação (E, E’) e uma direção de observação (B, B’); deduzir (104) a partir dos parâmetros calculados se a superfície (12) possui um defeito no ponto (202), o método sendo caracterizado por, para cada ponto (202) da superfície (12), o cálculo (102) dos parâmetros incluir as seguintes etapas: - definir uma quantidade (106) evoluindo como uma função das imagens adquiridas (200), - escolher um modelo (108) da superfície (12) dependendo da(s) direção(ões) de iluminação (E, E’) e/ ou da direção de observação (B, B’) para a evolução da quantidade (106), o modelo (108) incluindo os coeficientes (110), e - calcular os coeficientes (110) por regressão da evolução da quantidade (106).

2. MÉTODO, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pela direção ótica (O) ser a mesma para a pluralidade de imagens (200).

3. MÉTODO, de acordo com a reivindicação 2, caracterizado pela direção ótica (O) ser perpendicular à superfície (12).

4. MÉTODO, de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 3, caracterizado pela iluminação ser feita por um dispositivo de iluminação (15), o dispositivo de iluminação (15) incluindo um primeiro número de fontes de luz (16), o primeiro número sendo superior a seis, cada fonte de luz (16) possuindo uma direção de iluminação diferente (E, E’) para cada imagem adquirida (200), uma fonte única de luz ou uma combinação definida de fontes (16) sendo iluminadas, a fonte única de luz ou combinação (16) sendo diferente para cada imagem adquirida (200).

5. MÉTODO, de acordo com a reivindicação 4, caracterizado pelas fontes de luz (16) possuírem uma intensidade de luz idêntica.

6. MÉTODO, de acordo com qualquer uma das reivindicações 4 a 5, caracterizado pelas fontes de luz (16) estarem dispostas em uma meia esfera (20) em torno da superfície (12).

7. MÉTODO, de acordo com qualquer uma das reivindicações 4 a 6, caracterizado pelo dispositivo de iluminação (15) incluir uma ou várias fontes de luz que são capazes de se mover em um primeiro número de posições em relação à superfície (12).

8. MÉTODO, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pela quantidade (106) corresponder a uma intensidade cinzenta do ponto (202) da superfície (12), o modelo (108) dependendo da direção de iluminação (E, E’).

9. MÉTODO, de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 8, caracterizado por um defeito ser detectado no ponto (202) quando pelo menos um parâmetro no ponto (202) não está compreendido em um intervalo definido.

10. MÉTODO, de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 9, caracterizado por um defeito ser detectado no ponto (202) quando pelo menos um parâmetro no ponto (202) não está compreendido em um intervalo centrado em torno de um valor médio do parâmetro no conjunto de pontos (202) da superfície (12).

11. MÉTODO, de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 10, caracterizado por um defeito ser detectado no ponto (202) quando pelo menos um parâmetro no ponto (202) difere de um valor selecionado como limiar de detecção em relação ao ruído de fundo do parâmetro em um ponto adjacente, a superfície (12) não possuindo um defeito no ponto adjacente.

12. DISPOSITIVO (10) PARA DETECTAR UM DEFEITO EM UMA SUPERFÍCIE (12), caracterizado pelo dispositivo (10) de detecção incluir: um dispositivo ótico (14) possuindo um eixo ótico, o dispositivo ótico (14) sendo capaz de adquirir uma imagem (200) da superfície (12) ao longo de uma determinada direção ótica (O), dispositivo de iluminação (15) possuindo várias direções de iluminação diferentes (E, E’), e dispositivo de cálculo eletrônico (18), o dispositivo de cálculo eletrônico (18) sendo configurado para: adquirir uma pluralidade de imagens (200) da superfície (12) através do dispositivo ótico (14), cada imagem (200) sendo adquirida ao longo da determinada direção ótica (O) com diferentes direções de iluminação (E, E’) ou diferentes combinações de direções de iluminação para cada imagem (200), para cada ponto (202) da superfície (12), calcular, a partir das imagens adquiridas (200), uma pluralidade de parâmetros, os parâmetros incluindo coeficientes de uma equação determinando a resposta do ponto (202) da superfície (12) como uma função da direção de iluminação (E, E’) e uma direção de observação (B, B’); e deduzir a partir dos parâmetros calculados se a superfície (12) possui um defeito no ponto (202).

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