JP7078543B2 - 多方向の照明及び関連デバイスによって表面上の欠陥を検出するための方法 - Google Patents
多方向の照明及び関連デバイスによって表面上の欠陥を検出するための方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7078543B2 JP7078543B2 JP2018552217A JP2018552217A JP7078543B2 JP 7078543 B2 JP7078543 B2 JP 7078543B2 JP 2018552217 A JP2018552217 A JP 2018552217A JP 2018552217 A JP2018552217 A JP 2018552217A JP 7078543 B2 JP7078543 B2 JP 7078543B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- point
- illumination
- detection method
- parameters
- light sources
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8812—Diffuse illumination, e.g. "sky"
- G01N2021/8816—Diffuse illumination, e.g. "sky" by using multiple sources, e.g. LEDs
Description
-光軸を有する光学デバイスを用いて表面の複数のイメージを取得するステップであって、各イメージが、表面の各点に関して与えられる照明方向に沿った表面の照明によって、且つ所与の光学的方向に沿った光学デバイスの光軸によって、取得され、イメージが、異なる照明方向又は照明方向の異なる組み合わせによって、及び/又は異なる光学的方向によって取得される、ステップと;
-表面の各点に関して、複数のパラメータの取得イメージから、計算するステップであって、パラメータが、照明方向及び観測方向の関数として表面の上記点の応答を特徴づける方程式の係数を含む、ステップと;
-表面が上記点で欠陥を有するかどうかを、計算されたパラメータから推定するステップと、を含む。
-光学的方向が、複数のイメージに関して同じである;
-光学的方向が、表面に対して実質的に垂直である;
-照明が照明デバイスによって行われ、照明デバイスが第1の数の光源を含み、第1の数が6より大きく、各光源が各取得イメージに関して、異なる照明方向を有し、単一の光源又は画定されたソースの組み合わせが照らされ、単一の光源又は組み合わせが、各取得イメージに関して異なる;
-光源が、同一の照明強度を有する;
-光源が、表面を囲む半球に配される;
-照明デバイスが、表面に対して第1の数の位置において動くことが可能である1つ又は複数の光源を含む;
-表面の各点に関して、パラメータの計算が以下のステップを含む:
・取得イメージの関数として発達する量を画定するステップと、
・量の発展に関して照明方向及び/又は観測方向に応じて表面のモデルを選択するステップであって、モデルが係数を含む、ステップと、
・量の発展の回帰によって係数を計算するステップと;
-量が、表面の点のグレー強度に対応し、モデルが照明方向に応じる;
-上記点で少なくとも1つのパラメータが、画定された区間に含まれないとき、欠陥が上記点で検出される;
-上記点で少なくとも1つのパラメータが、表面の点のセット上で上記パラメータの平均値を中心とする区間に含まれないとき、欠陥が上記点で検出される;
-上記点での少なくとも1つのパラメータが、隣接する点で上記パラメータのバックグラウンドノイズに対して検出しきい値として選択された値と異なるとき、欠陥が上記点で検出され、表面が隣接する点で欠陥を有さない。
-光軸を有する光学デバイスであって、上記光学デバイスが、所与の光学的方向に沿って上記表面のイメージを取得することが可能である、光学デバイスと、
-いくつかの異なる照明方向を有する照明デバイスと、
-電子計算デバイスであって、上記電子計算デバイスが:
・上記光学デバイスを介して上記表面の複数のイメージを取得し、各イメージが、異なる照明方向又は各イメージに関して照明方向の異なる組み合わせによって、所与の光学的方向に沿って取得され、
・表面の各点に関して、取得イメージから、複数のパラメータを計算し、パラメータが、照明方向及び観測方向の関数として表面の上記点の応答を特徴づける方程式の係数を含み;
・表面が上記点で欠陥を有するかどうかを、計算されたパラメータから推定する、ように構成される電子計算デバイスと、を含む。
-取得100、
-パラメータ102を計算するステップ、及び
-欠陥104の存在を推定するステップ。
-量を画定するステップ106、
-モデルを選択するステップ108、及び
-係数を計算するステップ110。
Claims (11)
- 表面(12)上の欠陥を検出するための方法であって、本方法は:
-光軸を有する光学デバイス(14)を用いて表面(12)の複数のイメージ(200)を取得するステップ(100)であって、複数の取得イメージ(200)それぞれが、前記表面(12)の各点に当てられる照明方向(E,E’)に沿った照明で光軸方向(O)に沿って前記光学デバイス(14)により取得され、前記複数の取得イメージ(200)が、異なる前記照明方向(E,E’)又は異なる前記照明方向の組み合わせによって、かつ/又は、異なる前記光軸方向(O)に沿って取得される、ステップと;
-前記表面(12)の各点(202)に関して、前記複数の取得イメージ(200)から複数のパラメータを計算するステップ(102)であって、前記複数のパラメータが、前記照明方向(E,E’)及び前記光学デバイス(14)の観測方向(B,B’)の関数として前記表面(12)の各点(202)の応答を特徴づける方程式の係数を含み、前記表面(12)の各点(202)が、前記複数の取得イメージにおける一ピクセルで取得された前記表面の一部と一致する、ステップと;
欠陥がない又は欠陥がないと考えられる前記表面(12)の少なくとも第1の点を画定するステップと;
-表面が前記表面(12)の前記各点(202)で欠陥を有するかどうかを、計算された前記複数のパラメータから推定する(104)ステップと、を含み、
所与の点(202)で欠陥が検出されるのは、前記所与の点における少なくとも1つのパラメータが、欠陥がない又は欠陥がないと考えられる隣接点での前記パラメータのバックグラウンドノイズに対する検出しきい値とは異なるときである、検出方法。 - 前記光軸方向(O)が、前記複数の取得イメージ(200)に対して同一であることを特徴とする、請求項1に記載の検出方法。
- 前記光軸方向(O)が、前記表面(12)に対して垂直であることを特徴とする、請求項2に記載の検出方法。
- 前記照明が照明デバイス(15)によって行われ、前記照明デバイス(15)が第1の数の光源(16)を含み、前記第1の数が6より大きく、前記第1の数の光源(16)それぞれが異なる前記照明方向(E,E’)を有し、前記複数の取得イメージそれぞれに対して、単一の前記光源(16)又は所定の複数の前記光源(16)の組み合わせで照射され、前記単一の光源(16)又は前記所定の複数の光源(16)の組み合わせが、前記複数の取得イメージ(200)それぞれに対して異なることを特徴とする、請求項1から3の何れか一項に記載の検出方法。
- 前記第1の数の光源(16)それぞれが、同一の光強度を有する、請求項4に記載の検出方法。
- 前記第1の数の光源(16)が、前記表面(12)を覆う半球面(20)上に配置されることを特徴とする、請求項4又は5に記載の検出方法。
- 前記照明が照明デバイス(15)によって行われ、前記照明デバイス(15)が、前記表面(12)に対して第1の数の位置間を移動可能な1つ又は複数の光源を含むことを特徴とする、請求項1に記載の検出方法。
- 前記表面(12)の各点(202)に関して、前記複数のパラメータの計算が:
-前記複数の取得イメージ上で変化する量を決めるステップ(106)と、
-前記照明方向(E,E’)及び/又は前記観測方向(B,B’)に応じて前記表面(12)のモデルを選択するステップ(108)であって、前記モデルが前記量の変化を表し、前記モデルが係数を含む、ステップと、
-前記量の変化の回帰によって前記係数を計算するステップ(110)と、を含むことを特徴とする、請求項1から7の何れか一項に記載の検出方法。 - 前記量が、前記表面(12)の各点(202)のグレー強度であり、前記モデルが前記照明方向(E,E’)に応じることを特徴とする、請求項8に記載の検出方法。
- 前記表面(12)の一点(202)での前記複数のパラメータの少なくとも1つが、所定の範囲に含まれないとき、欠陥が前記一点(202)で検出されることを特徴とする、請求項1から9の何れか一項に記載の検出方法。
- 前記表面(12)の一点(202)での前記複数のパラメータの少なくとも1つが、前記表面(12)の点のセットの前記パラメータの平均値を中心とする範囲に含まれないとき、欠陥が前記一点(202)で検出されることを特徴とする、請求項1から10の何れか一項に記載の検出方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR1652980A FR3049709B1 (fr) | 2016-04-05 | 2016-04-05 | Procede de detection d'un defaut sur une surface par eclairage multidirectionnel et dispositif associe |
FR1652980 | 2016-04-05 | ||
PCT/EP2017/058162 WO2017174683A1 (fr) | 2016-04-05 | 2017-04-05 | Procédé de détection d'un défaut sur une surface par éclairage multidirectionnel et dispositif associé |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019510981A JP2019510981A (ja) | 2019-04-18 |
JP7078543B2 true JP7078543B2 (ja) | 2022-05-31 |
Family
ID=56741146
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018552217A Active JP7078543B2 (ja) | 2016-04-05 | 2017-04-05 | 多方向の照明及び関連デバイスによって表面上の欠陥を検出するための方法 |
Country Status (12)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10648920B2 (ja) |
EP (1) | EP3440452B1 (ja) |
JP (1) | JP7078543B2 (ja) |
CN (1) | CN108885181B (ja) |
BR (1) | BR112018069960B1 (ja) |
ES (1) | ES2956762T3 (ja) |
FI (1) | FI3440452T3 (ja) |
FR (1) | FR3049709B1 (ja) |
HR (1) | HRP20230954T1 (ja) |
SA (1) | SA518400151B1 (ja) |
WO (1) | WO2017174683A1 (ja) |
ZA (1) | ZA201806534B (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR3103602B1 (fr) * | 2019-11-21 | 2021-12-10 | Ingenico Group | Terminal de paiement électronique, procédé d’optimisation du fonctionnement et programme d’ordinateur correspondants |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003098100A (ja) | 2001-09-25 | 2003-04-03 | Konica Corp | 表面欠陥検査装置 |
CN1940534A (zh) | 2006-09-22 | 2007-04-04 | 中国科学院安徽光学精密机械研究所 | 地面brdf自动测量架 |
JP2008070145A (ja) | 2006-09-12 | 2008-03-27 | Dainippon Printing Co Ltd | 印刷物検査装置及び印刷物検査方法 |
JP2008516224A (ja) | 2004-10-08 | 2008-05-15 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 検査表面の光学検査 |
US20090079987A1 (en) | 2007-09-25 | 2009-03-26 | Microsoft Corporation | Photodiode-based Bi-Directional Reflectance Distribution Function (BRDF) Measurement |
JP2010510520A (ja) | 2006-11-20 | 2010-04-02 | イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニー | 限られた測定データでゴニオ外観性材料の双方向反射分布関数を生成するための方法 |
CN102590150A (zh) | 2012-03-01 | 2012-07-18 | 浙江大学 | 室内高光谱brdf测定系统 |
JP2015232477A (ja) | 2014-06-09 | 2015-12-24 | 株式会社キーエンス | 検査装置、検査方法およびプログラム |
JP2015232482A (ja) | 2014-06-09 | 2015-12-24 | 株式会社キーエンス | 検査装置、検査方法およびプログラム |
JP2015232483A (ja) | 2014-06-09 | 2015-12-24 | 株式会社キーエンス | 画像検査装置、画像検査方法、画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5952735A (ja) * | 1982-09-20 | 1984-03-27 | Kawasaki Steel Corp | 熱間鋼片の表面欠陥検出方法 |
US5313542A (en) * | 1992-11-30 | 1994-05-17 | Breault Research Organization, Inc. | Apparatus and method of rapidly measuring hemispherical scattered or radiated light |
US6327374B1 (en) * | 1999-02-18 | 2001-12-04 | Thermo Radiometrie Oy | Arrangement and method for inspection of surface quality |
FR2806478B1 (fr) * | 2000-03-14 | 2002-05-10 | Optomachines | Dispositif et procede de controle optique de pieces de vaisselle comme des assiettes emaillees ou tout produit ceramique emaille |
US6850637B1 (en) * | 2000-06-28 | 2005-02-01 | Teradyne, Inc. | Lighting arrangement for automated optical inspection system |
US7113313B2 (en) * | 2001-06-04 | 2006-09-26 | Agilent Technologies, Inc. | Dome-shaped apparatus for inspecting a component or a printed circuit board device |
FR2858412B1 (fr) * | 2003-07-31 | 2007-03-30 | Stephane Louis Frederi Perquis | Systeme et procede de mesure de l'aspect visuel des materiaux. |
US20050180160A1 (en) * | 2004-02-17 | 2005-08-18 | Brett K. Nelson | Hemispherical illuminator for three dimensional inspection |
DE102004034160A1 (de) * | 2004-07-15 | 2006-02-09 | Byk Gardner Gmbh | Vorrichtung zur Untersuchung optischer Oberflächeneigenschaften |
KR20080079173A (ko) * | 2005-12-14 | 2008-08-29 | 가부시키가이샤 니콘 | 표면검사장치 및 표면검사방법 |
US8103491B2 (en) * | 2006-11-20 | 2012-01-24 | E.I. Du Pont De Nemours And Company | Process for generating bidirectional reflectance distribution functions of gonioapparent materials with limited measurement data |
US8280144B2 (en) * | 2007-02-21 | 2012-10-02 | Goldfinch Solutions, Llc | System and method for analyzing material properties using hyperspectral imaging |
JP5882730B2 (ja) * | 2011-12-28 | 2016-03-09 | 株式会社ブリヂストン | 外観検査装置及び外観検査方法 |
FI125320B (en) * | 2012-01-05 | 2015-08-31 | Helmee Imaging Oy | ORGANIZATION AND SIMILAR METHOD FOR OPTICAL MEASUREMENTS |
JP6053506B2 (ja) * | 2012-12-25 | 2016-12-27 | キヤノン株式会社 | 反射特性の測定装置 |
JP6119663B2 (ja) * | 2014-04-25 | 2017-04-26 | Jfeスチール株式会社 | 表面欠陥検出方法及び表面欠陥検出装置 |
JP6287360B2 (ja) * | 2014-03-06 | 2018-03-07 | オムロン株式会社 | 検査装置 |
US9885671B2 (en) * | 2014-06-09 | 2018-02-06 | Kla-Tencor Corporation | Miniaturized imaging apparatus for wafer edge |
CN104897616B (zh) * | 2015-05-26 | 2017-09-01 | 北京理工大学 | 任意形状样品多光谱双向反射分布函数的测量方法和系统 |
-
2016
- 2016-04-05 FR FR1652980A patent/FR3049709B1/fr active Active
-
2017
- 2017-04-05 BR BR112018069960-8A patent/BR112018069960B1/pt active IP Right Grant
- 2017-04-05 EP EP17714822.8A patent/EP3440452B1/fr active Active
- 2017-04-05 ES ES17714822T patent/ES2956762T3/es active Active
- 2017-04-05 HR HRP20230954TT patent/HRP20230954T1/hr unknown
- 2017-04-05 WO PCT/EP2017/058162 patent/WO2017174683A1/fr active Application Filing
- 2017-04-05 FI FIEP17714822.8T patent/FI3440452T3/fi active
- 2017-04-05 CN CN201780021518.5A patent/CN108885181B/zh active Active
- 2017-04-05 US US16/091,682 patent/US10648920B2/en active Active
- 2017-04-05 JP JP2018552217A patent/JP7078543B2/ja active Active
-
2018
- 2018-09-30 SA SA518400151A patent/SA518400151B1/ar unknown
- 2018-10-02 ZA ZA2018/06534A patent/ZA201806534B/en unknown
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003098100A (ja) | 2001-09-25 | 2003-04-03 | Konica Corp | 表面欠陥検査装置 |
JP2008516224A (ja) | 2004-10-08 | 2008-05-15 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 検査表面の光学検査 |
JP2008070145A (ja) | 2006-09-12 | 2008-03-27 | Dainippon Printing Co Ltd | 印刷物検査装置及び印刷物検査方法 |
CN1940534A (zh) | 2006-09-22 | 2007-04-04 | 中国科学院安徽光学精密机械研究所 | 地面brdf自动测量架 |
JP2010510520A (ja) | 2006-11-20 | 2010-04-02 | イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニー | 限られた測定データでゴニオ外観性材料の双方向反射分布関数を生成するための方法 |
US20090079987A1 (en) | 2007-09-25 | 2009-03-26 | Microsoft Corporation | Photodiode-based Bi-Directional Reflectance Distribution Function (BRDF) Measurement |
CN102590150A (zh) | 2012-03-01 | 2012-07-18 | 浙江大学 | 室内高光谱brdf测定系统 |
JP2015232477A (ja) | 2014-06-09 | 2015-12-24 | 株式会社キーエンス | 検査装置、検査方法およびプログラム |
JP2015232482A (ja) | 2014-06-09 | 2015-12-24 | 株式会社キーエンス | 検査装置、検査方法およびプログラム |
JP2015232483A (ja) | 2014-06-09 | 2015-12-24 | 株式会社キーエンス | 画像検査装置、画像検査方法、画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN108885181A (zh) | 2018-11-23 |
JP2019510981A (ja) | 2019-04-18 |
US20190162674A1 (en) | 2019-05-30 |
SA518400151B1 (ar) | 2022-12-05 |
CN108885181B (zh) | 2021-01-29 |
ZA201806534B (en) | 2019-08-28 |
EP3440452B1 (fr) | 2023-08-02 |
FI3440452T3 (fi) | 2023-10-02 |
BR112018069960B1 (pt) | 2022-11-16 |
ES2956762T3 (es) | 2023-12-27 |
WO2017174683A1 (fr) | 2017-10-12 |
BR112018069960A2 (pt) | 2019-02-05 |
HRP20230954T1 (hr) | 2023-11-24 |
EP3440452A1 (fr) | 2019-02-13 |
US10648920B2 (en) | 2020-05-12 |
FR3049709A1 (fr) | 2017-10-06 |
FR3049709B1 (fr) | 2019-08-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6425755B2 (ja) | 基板の異物質検査方法 | |
US10489900B2 (en) | Inspection apparatus, inspection method, and program | |
US11562480B2 (en) | System and method for set up of production line inspection | |
KR101078781B1 (ko) | 3차원 형상 검사방법 | |
US8660336B2 (en) | Defect inspection system | |
CA2989515C (en) | Colour measurement of gemstones | |
CN112088387B (zh) | 检测成像物品缺陷的系统和方法 | |
TW201840991A (zh) | 電路板點膠檢測裝置及檢測方法 | |
JP2022507678A (ja) | 自動目視検査プロセスにおけるセットアップ段階の最適化 | |
US20240044778A1 (en) | Inspection method and inspection system | |
TWI639977B (zh) | 檢查裝置、檢查方法以及電腦可讀取的記錄媒體 | |
JP7078543B2 (ja) | 多方向の照明及び関連デバイスによって表面上の欠陥を検出するための方法 | |
US20130265410A1 (en) | Color vision inspection system and method of inspecting a vehicle | |
US10241000B2 (en) | Method for checking the position of characteristic points in light distributions | |
KR101024598B1 (ko) | 표면 밝기 분포의 분산 산출 알고리즘을 이용한 대상물 표면의 영상 검사방법 | |
CN115375610A (zh) | 检测方法及装置、检测设备和存储介质 | |
KR102117697B1 (ko) | 표면검사 장치 및 방법 | |
JP3661466B2 (ja) | 塗装ムラ検査装置および方法 | |
JP2004101338A (ja) | 画像処理方法及び装置並びに画像処理方法のプログラム | |
KR20150024122A (ko) | 차량용 부품 표면 검사 방법 | |
JP2009085900A (ja) | 部品の検査システム及び検査方法 | |
KR20180045776A (ko) | 영상 처리를 이용한 엘이디 모듈 검사 장치 | |
JPH08313226A (ja) | 透明物体の検査方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200213 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20201119 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20201130 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210301 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210830 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20211130 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220425 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220519 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7078543 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |