BR112018012651B1 - Processo para produção de um corpo tridimensional em um processo estereolitográfico - Google Patents

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Abstract

PROCESSO PARA PRODUÇÃO DE UM CORPO TRIDIMENSIONAL EM UM PROCESSO ESTEREOLITOGRÁFICO. A presente invenção refere-se a um processo para produção de um corpo tridimensional (3) em um processo estereolitográfico, sendo que um material fotossensível (9) é endurecido por radiação, bem como a radiação de medição é acoplada em uma camada de referência (80) e pela reflexão interna, permanece em parte predominante dentro da camada de referência (80), e que a radiação de medição é detectada por um sensor (5) com resolução local, bem como temporal.

Description

[001] A invenção refere-se, em geral, a um dispositivo de estere- olitografia para produção de um corpo tridimensional por endurecimento em camadas de um material fotossensível, bem como a um processo para aceleração do processo de produção por um método de medição localmente e temporalmente resolvido; o dispositivo compreende, nesse caso: - uma camada de referência; - uma fonte de radiação para produção da radiação específica, necessária para o endurecimento; - um sensor; e - pelo menos uma fonte de radiação passiva, para produção de uma radiação de medição.
[002] A invenção refere-se em particular a um processo para pro dução de um corpo tridimensional em um processo estereolitográfico, sendo que um material fotossensível é endurecido por radiação.
[003] Em unidades de estereolitografia, comp., por exemplo, o documento EP 2 173 538 B1, um líquido fotossensível é transformado em uma camada de um corpo tridimensional por ação de uma radiação apropriada, por exemplo, radiação de UV. A invenção trata da aceleração desse processo esterolitográfico por um processo de medição óptico, que pode ser usado em uma unidade desse tipo.
[004] Por estereolitografia normalmente entende-se um processo, que permite produzir um corpo tridimensional por enfileiramento de formações de camadas individuais. Esse princípio básico também é conhecido sob termos, tais como Rapid Prototyping, impressão em 3D, produção generativa etc.
[005] Em processos esterolitográficos, além de fontes de laser controláveis, também são usadas fontes de radiação, que produzem a formação de camadas pelo uso de sistemas de exposição por máscara, os chamados chips de MSEM ou DLP, ou displays. A vantagem em sistemas de exposição baseados em pixels reside no fato de que toda a formação de camadas é produzida em uma vez, sendo que em sistemas baseados em laser, o raio laser precisa percorrer a geometria da camada. Nesse caso, o endurecimento do material fotossensível ocorre em uma camada de referência ou plano de referência; isso pode ser a superfície de um fundo ou uma outra superfície definida apropriada, e, de acordo com a aplicação, ela pode estar formada de modo sólido, flexível ou líquido. Depois da solidificação de uma camada, a mesma precisa ser separada da camada de referência, o mais cuidadosamente possível, por um movimento relativo entre a camada de referência e uma superfície de suporte, na qual a camada produzida deve aderir. Depois da separação bem-sucedida da camada produzida, material novo, apropriado para solidificação, é realimentado entre a camada de referência e a última camada formada; isso pode ser garantido, por exemplo, por um simples movimento de elevação da superfície de suporte. Depois, o material fotossensível realimentado pode ser novamente endurecido por irradiação. Para produzir o objeto tridimensional desejado, os passos de processo individuais descritos são repetidos por tantas vezes, até que tenham sido produzidas todas as camadas necessárias para formação do corpo ou objeto.
[006] Desvantajoso nesse processo de esterolitografia são os longos tempos de processo e tempos de espera, que ocorrem durante a separação de uma camada produzida. Esses tempos perfazem a maior parte de todo o tempo do processo. Ainda é desvantajoso que erros de exposição não podem ser identificados, e que não pode ocorrer uma aderência na superfície de suporte; também é problemático o ajuste da posição de início, bem como da posição zero da unidade.
[007] Do estado da técnica é conhecido medir integralmente as forças de retirada em um processo de estereolitografia durante a separação da camada produzida da camada de referência na plataforma de suporte. Um exemplo de um processo desse tipo está descrito no documento EP2 043 84 B1, sendo que um sensor de medição de força está fixado em uma plataforma de construção ou plataforma de suporte. Esse sensor possibilita a medição das forças de retirada, que ocorrem durante o desprendimento de uma camada do componente acabado de ser formado ou do componente de uma camada de referência. Desse modo, o processo de construção pode ser acelerado. O sensor de força descrito no documento EP2 043 84 B1, que pode estar realizado, por exemplo, como tira de medição de extensão, mede na disposição descrita a soma das forças, que é gerada no desprendimento das camadas geradas. Desvantajoso, nesse caso, é que só a soma das forças, que ocorrem na separação de várias camadas de componente, pode ser detectada, mas não a força de separação de um determinado componente ou de uma determinada camada. Também só pode ser detectada a força de separação total ocorrida como função do tempo. Além disso, não podem ser feitas informações nem conclusões sobre a dependência da força da geometria da camada de um corpo individual e, assim, também quaisquer informações sobre o fato de se, no caso da geração simultânea de vários corpos, todos os corpos podem ser construídos de modo confiável e completo. Além disso, nos processos conhecidos, não se pode chegar a conclusões sobre o processo de polimerização da camada ou do corpo.
[008] O objetivo da invenção é, portanto, eliminar as desvanta gens citadas acima com uma técnica aperfeiçoada (dispositivo, processo), e possibilitar uma produção de corpos tridimensionais simples, rápida, sem perturbações, contínua, econômica, bem como autoverifi- cadora.
[009] Mais detalhadamente, é tarefa da presente invenção prever um processo, tal como indicado inicialmente, no qual é correntemente possível uma informação exata sobre o estado do processo, e no qual é possibilitada a produção e vários corpos, simultaneamente, em um processo esterolitográfico, sendo que, em cada caso, também é possibilitado o estado dos processos individuais ou corpos/camadas produzidos. Mais detalhadamente, deve poder ser detectada uma interação entre uma área/camada de referência e das camadas em cada caso formadas.
[010] De acordo com a invenção, o presente processo para pro dução de um corpo tridimensional distingue-se, sobretudo, pelo fato de que a radiação de medição é acoplada em uma camada de referência e pela reflexão interna, permanece em parte predominante dentro da camada de referência, e que a radiação de medição é detectada com resolução local e temporal por um sensor. Com esse procedimento, é possível monitorar e detectar correntemente, de modo praticamente pontual ou em seções, o processo de produção de camadas, portanto, o processo de impressão em 3D ou seu progresso, e, nesse caso, também evitar, particularmente, tempos de espera desnecessários.
[011] Nesse caso, é particularmente vantajoso quando a reflexão interna é perturbada por deformação da camada de referência, sendo que radiação de medição sai da camada de referência. Dessa maneira, é possível uma detecção precisa do progresso do processo, particularmente, também em seções.
[012] Para aperfeiçoar a medição, é favorável, ainda, quando o sensor detecta a radiação de medição de saída, simultaneamente em várias seções de medição.
[013] Para a realização da medição, também é vantajoso quando a camada de referência é flexível e, pelo menos em partes, transparente para a radiação de medição. Em consequência da formação fle- xível da camada de referência, na atuação de forças resulta uma deformação dessa camada de referência, com o que a radiação de medição é influenciada com vista a uma medição precisa.
[014] Resultados particularmente vantajosos podem ser obtidos quando a camada de referência consiste em silicone. Para a realização da medição, também é favorável quando dentro da camada de referência ocorre uma reflexão total.
[015] Uma modalidade particularmente vantajosa do presente processo distingue-se, finalmente, pelo fato de que como radiação medição é usada radiação infravermelha. Quando, então, o sensor está adicionalmente configurado para detectar a radiação de calor, que se apresenta durante a solidificação de uma camada de pelo menos um corpo sobre a camada de referência, o endurecimento pode ser controlado de maneira vantajosa.
[016] No presente processo ou no respectivo dispositivo de este- reolitografia, podem estar previstas pelo menos duas fontes de radiação de medição, isto é, fontes de radiação passiva, e pelo menos um sensor de medição correspondente.
[017] De acordo com a invenção, pela detecção da radiação de pendente de local e tempo desacoplada da camada de referência, pode-se deduzir, pelo menos qualitativamente, a existência de uma fase intermediária dentro da substância fotorreativa. Essa fase intermediária, que, pelo menos em parte, apresenta por pelo menos um inibidor (de preferência, oxigênio), nenhuma reatividade ou apenas uma muito pequena, forma uma espécie de filme lubrificante “inerte”. Desse modo, forças adesivas, que normalmente se apresentam durante o processo, podem ser fortemente reduzidas e/ou reduzidas quase completamente. Como a radiação de medição de saída está em conexão com as forças adesivas, pelo método de acordo com a invenção pode ser deduzida a existência de uma fase intermediária, de resolução local, assim como também temporal, durante o processo.
[018] A invenção é explicada adicionalmente por meio de exem plos de modalidade preferidos por meio de exemplos de modalidade preferidos e sob referência ao desenho. No detalhe, mostram no desenho em forma esquemática:
[019] Figura 1 uma vista esquemática de um exemplo de uma unidade estereolitográfica para ilustração do presente processo;
[020] Figura 2 uma vista de uma unidade estereolitográfica modi ficada em relação à anterior;
[021] Figura 3 um diagrama esquemático de uma disposição para fins de ilustração da medição de uma radiação dispersa;
[022] Figura 3a uma disposição simplificada em relação à figura 3;
[023] Figura 4 uma outra modalidade com posição modificada da fonte de radiação (de medição);
[024] Figura 4a a modalidade representada na figura 4, mas sem fundo separado;
[025] Figura 5 esquematicamente, um exemplo de uma informa ção de radiação detectada pelo sensor;
[026] Figura 6 esquematicamente, um corte por uma parte de uma unidade, com dispositivo de medição modificada;
[027] Figura 7a um diagrama esquemático de uma disposição d medição, para determinação da existência de uma fase intermediária, sendo que pode ser presumido, por exemplo, que as forças sejam muito pequenas; e
[028] Figura 7b um diagrama esquemático, no qual a fase inter mediária apresenta a altura h, sendo que h < H e radiação de medição é desacoplada.
[029] A figura 1 mostra exemplificadamente um exemplo de mo dalidade de uma unidade esterolitográfica 1, parcialmente em corte, sendo que essa unidade 1 serve para a produção de um ou mais corpos tridimensionais 3 (veja, também, as figuras 2 a 4) de camadas individuais, que por solidificação em seções de um material fotossensí- vel 9, que se encontra em uma cuba 2, que forma um espaço de alojamento 14, são endurecidas por meio de uma radiação actínica. O material fotossensível 9, que se encontra no espaço de alojamento 14, é líquido, sendo que, aqui, o termo “líquido”, deve ser entendido como líquidos com qualquer viscosidade desejada, inclusive suspensões e substâncias pastosas.
[030] Uma ou mais fonte(s) de radiação 10, 11 passivas es- tá/estão disposta(s) de tal modo que uma diferença de radiação, resultante da deformação de uma camada de referência 80, pode ser detectada por pelo menos um sensor 5. De acordo com a figura 1, um fundo 8 e a cabeça de ferramenta 80, inclusive paredes correspondentes, formam uma cuba 2, que serve como espaço de alojamento 14 para o material líquido fotossensível 9. Por “fonte de radiação passiva”, é entendida aqui a fonte de radiação que serve como meio de medição, sendo que sua radiação, pela intensidade e/ou pelo comprimento de onda usado, não está em condições de solidificar o material fotos- sensível. Uma fonte de radiação controlável, particularmente, fonte de luz 60, está disposta, por exemplo, abaixo da cuba 2, sendo que o raio emitido da fonte de luz 60 é desviado, por exemplo, por um espelho 7. Nesse caso, o espelho 7 pode estar realizado de tal modo que ele só reflete a radiação da fonte de luz 60, mas é translúcido para outras faixas de comprimento de onda. À fonte de radiação 6, de acordo com a figura 1, está anteposto, por exemplo, um elemento óptico 61, por exemplo, uma lente, e a unidade de radiação formada desse modo está designada, no total, com 6. A fonte de radiação 60 pode emitir, por exemplo, luz convencional, mas também radiação de IV ou UV.
[031] Uma superfície de suporte 4 pode ser movida por um atua- dor 12, por exemplo, um acionamento de um motor escalonado, em relação ao espaço de alojamento 14. A cuba 2 está realizada, vantajosamente, de tal modo que no encaixe na unidade de estereolitografia, ela é alinhada e centralizada exatamente à(s) fonte(s) de luz passi- va(s), por exemplo, 10, 11, bem como à unidade de radiação 6 e pode assumir uma determinada posição vantajosa para o método de medição à(s) fonte(s) de luz passiva(s) 10, 11, que e encontram no espaço da unidade 15. Vantajosamente, também o sensor pode assumir qualquer posição desejada, apropriada para o método de medição, dentro do espaço da unidade 15. A cuba 2 em si também pode estar configurada de tal modo que ela está em condições de desviar o curso dos raios das fontes de luz passivas 10 ou 11, compare, também, a figura 6, para, desse modo, possibilitar em uma determinada modalidade uma disposição econômica em espaço das fontes de luz 10, 11.
[032] De acordo com afigura 1, a radiação passiva é acoplada pelo lado na cabeça de ferramenta 89, para propagar-se uniformemente, por exemplo, por reflexão total interna (compare a figura 3) dentro da cabeça de ferramenta 80. Um dispositivo de controle 13, por exemplo, um computador de controle, controlados movimentos da superfície de suporte 4, bem como todos os fluxos de processo, que são necessários para a produção do corpo 3 na unidade 1, inclusive da fonte de luz 60 ou 6, e através do pelo menos um sensor 5, detecta a radiação de medição passiva, para avaliar a mesma.
[033] A figura 2 mostra, em comparação com a figura 1, uma va riante de moda de uma unidade de estereolitografia 101, na qual as fontes d radiação passiva 110, 111 se encontram abaixo da cuba 2 no espaço da unidade 15 e irradiam o lado inferior da cuba 2, bem como, de preferência, iluminam o mesmo uniformemente. Nesse caso, o pelo menos um sensor 5 também e encontra no espaço da unidade 15 e ele detecta o reflexo ou a radiação dispersa do lado inferior da cuba 2, que está formado, pelo menos, pela superfície de referência 80, opcio-nalmente, também por um fundo 8. Nessa modalidade, a radiação passiva não é acoplada forçosamente na camada de referência 80 ou na cuba 2, e a cuba 2 não precisa ser completamente transparente para a radiação passiva, é preciso haver apenas uma determinada capacidade de reflexão da camada de referência 80 para a radiação passiva.
[034] Divergindo das modalidades de acordo com as figuras 1 e 2, a unidade, por exemplo, 1, também pode apresentar um sensor 5, que está em condições de detectar os processos de solidificação exo- térmicos ativados pela fonte de radiação 5. Isso permite a detecção pelo menos parcial do estado de polimerização da camada formada, por exemplo, 30, 31, 32, e pela absorção da radiação pelo sensor 5, também pode ser obtida uma conclusão sobre o possível processo de separação da camada produzida, por exemplo, 30, 31, 32.
[035] A figura 3 mostra um corte detalhado pelo espaço de alo jamento 14, no qual são produzidos dois corpos 60, 70. Nessa figura 3, para melhor entendimento, a camada de referência 80 e a radiação passiva das fontes de radiação passivas 10, 11, acoplada na mesma, transportada por reflexão total interna, estão representadas esquematicamente por cursos de raios geométricos exemplificados, em forma de zigue-zague. A figura 3 também mostra a deformação da camada de referência 80 elástica, produzida pelas forças de separação F1 e F2 nos corpos 60 ou 61. Nesse caso, o fundo 8 - opcional - serve apenas como apoio da superfície de referência 80 elástica. As forças de separação F1 e F2 não são iguais na representação mostrada, uma vez que o corpo 60 apresenta uma área de seção transversal substancial-mente maior do que o corpo 70 e, portanto, nesse exemplo vale F1 > F2, sendo que, consequentemente, também a deformação da camada de referência 80 é diferente.
[036] Pela deformação diferente, portanto, também a reflexão to tal dentro da camada de referência 80 é perturbada, na dependência do local, e, por conseguinte, radiações 40, 50 são desacopladas da camada de referência 80 em uma determinada relação com a força de separação F1, F2, respectivamente ocorrida. Nesse caso, a posição das fontes de luz passivas 10, 11, para o ajuste ótimo da reflexão total dentro da camada de referência 80, são posicionadas, por exemplo, em um ângulo α no espaço da unidade 15, mas entende-se que as fontes de radiação passivas 10, 11 podem ser posicionadas livremente em todas as coordenadas espaciais. O sensor 5 detecta, nesse caso, a posição, bem como o comportamento lateral (perfil de intensidade) da radiação dispersa 40 ou 50, dependente da respectiva força, por exemplo, F1 ou F2.
[037] A figura 3a mostra uma modalidade da unidade 1 sem fun do 8 separado, mais precisamente, também em um corte esquemático. Nesse caso, a camada de referência 80 elástica forma, simultaneamente, o fundo da cuba 2. Isso oferece a vantagem de que as radiações dispersas 40, 50, representadas nessa figura 3a, não são amortecidas por uma outra camada. Adicionalmente, a camada de referência 80 pode ser realizada em sua elasticidade e espessura de tal modo que uma capacidade de suporte da cuba 2 (na figura 1 e 2) para o líquido fotossensível 9, resulta, mais precisamente, em um comportamento “à maneira de membrana” simultâneo da camada de referência 80, que favorece a separação dos corpos 60, 70 e minimiza as forças de separação F1, F2. Também, por exemplo, por uma camada de refe-rência 80 mais espessa, pode ser acoplada mais facilmente radiação passiva nessa camada de referência 80, e a posição da cuba 2 ou das fontes de radiação passivas 10, 11 no espaço da unidade 15 (veja a figura 2) pode ser ajustada de modo menos exato.
[038] A figura 4 também ilustra um corte pelo espaço de aloja- mento 14 de uma unidade, na qual as fontes de radiação passivas 110, 111 estão dispostas abaixo da cuba 2 em uma posição no espaço da unidade 15 e iluminam pelo menos a camada de referência 80, bem como o fundo 8 opcional de modo mais ou menos uniforme. As forças dependentes da área de seção transversal do corpo ou dos corpos formado(s) 60 ou 70, é deformada pelo menos, tal como mostrada a camada de referência 80 elástica. Na representação está ilustrado, novamente, que o corpo 60 apresenta uma área de seção transversal maior do que o corpo 70 e, assim, pode ser presumido que a força de separação F1 é maior do que a força de separação F2.Pelas forças de separação F1, F2, a camada de referência 80 elástica é novamente deformada dependendo do local e resulta, de acordo com o tamanho da deformação, pelo menos da camada de referência 80, uma mudança da iluminação pelas fontes de radiação passivas 110, 111. Pela deformação, é causado um outro comportamento de reflexão local e dependente de local da cuba 2 ou da camada de referência 80 e/ou do fundo 8, que, por sua vez, pode ser detectado pelo sensor 5.
[039] A figura 4a mostra uma variante de modalidade, partindo da unidade de acordo com a figura 4, sendo que, novamente, o fundo 8 foi omitido, de modo similar ao caso da figura 3a, em relação à figura 3. Também aqui parte-se novamente do fato de que a camada de referência 80 é suficientemente estável, para sustentar o liquido 9 e os corpos formados 60, 70. Além disso, de modo similar, tal como na figura 4, os raios das fontes de radiação 110 e 111 estão ilustrados esquematicamente em 202 e 203. Finalmente, também está novamente ilustrada a respectiva radiação 50 ou 40.
[040] A figura 5 ilustra, exemplificadamente, uma modificação dependente de local e tempo, da distribuição da intensidade da radiação passiva, opcionalmente, também, do fundo 8 da cuba, detectada pelo sensor 5, causada, por exemplo, por ação das forças F1, F2 e da deformação dependente de tempo e local, daí resultante, da superfície de referência 80, e opcionalmente, também do fundo 8 da cuba 2, por uma radiação desacoplada (veja figura 3, figura 3a), ou por modificação da reflexão (veja figura 4 e figura 4a) no espaço de medição 15,detectado por pelo menos um sensor 5. Nese caso, por exemplo, na região detectada pelo sensor 5, dependendo da deformação ocorrida da camada de referência 80, apresentam-se regiões 61,71, que dependem, em cada caso, da distribuição de intensidade diferente do respectivo corpo 60, 70; essas distribuições de intensidade são detectadas na dependência do local e do tempo pelo sensor 5 e estão em uma relação às forças de separação F1, F2 ocorridas. Se, por exemplo, o sensor 5 estiver realizado como câmera de infravermelho, e como radiação passiva for usada radiação de infravermelho, então o sensor 5 detecta uma determinada região de medição do espaço de medição 15 como informação de imagem ou informação de vídeo, que representa uma expressão geométrica das áreas de seção transversal, uma distribuição de intensidade corresponde às forças de separação ocorridas F1, F2, tanto em passos de resolução temporal especificados como continuamente. Nesse caso, por exemplo, nas regiões 72, nas quais se apresenta nenhuma ou menos deformação, é detecta menos radiação passiva pelo sensor 5 e na imagem total detectada pelo sensor, elas parecem mais escuras do que, por exemplo, as regiões 61, 71, nas quais ocorre uma deformação da camada de referência 80 elástica.
[041] Está claro que das modalidades aqui descritas, o técnico pode facilmente realizar diversas variações e complementações.
[042] Na figura 6 está mostrado esquematicamente, com cuba 2 ilustrada parcialmente, uma modalidade, na qual fontes de radiação 210, 211 previstas abaixo da cuba 2, acoplam radiação para cima, no fundo 8 da cuba 2, que, por sua vez, está formado pela camada de referência 80. Nessa camada da referência 80 estão instalados ou formados espelhos ou elementos condutores de luz 212 ou 213, dispostos obliquamente no curso dos raios das fontes de radiação 210, 211, os quais estão formados diretamente do material da superfície de referência 80, para desviar a radiação de medição emitida pelas fontes de radiação 207, 211 e, acoplar a mesma no fundo 8 ou na camada de referência 80. Mesmo quando isso não está ilustrado mais detalhadamente na figura 6, nesse caso, o acoplamento pode dar-se, novamente, tal como de acordo com a figura 3, com um ângulo, de modo que resulta uma reflexão total da camada de referência 80 (não representada na figura 6).
[043] Aliás, pode estar previsto, novamente, um sensor 5 do lado inferior, tal como mostrado nas figuras 1 a 5, e, igualmente, pode estar instalado um dispositivo de controle 13, tal como mostrado nas figuras 1 e 2.
[044] A figura 7a mostra um corte de detalhe por um espaço de alojamento 14, no qual são produzidos dois corpos 60, 70, O material fotossensível 9 apresenta, tal como mostrado na figura 7 a, uma fase intermediária 9’. Essa fase intermediária 9’ apresenta uma reatividade reduzida em relação ao material 9. Essa diferença de reatividade, que leva à formação da fase intermediária 9’ no material fotorreativo, pode ser obtida, por exemplo, por inibidores químicos, tal como, por exemplo, oxigênio. A espessura H da camada intermediária 9’ tem, nesse caso, tal como representado na figura 7a, um valor tal (assim como, por exemplo, 30, 50, 100 micrômetros etc.), de modo que a camada intermediária 9’ impede, pelo menos o mais extensivamente possível, a formação das forças de separação F1, F2, quando não supri- me/impede completamente a mesma. Pela ausência das forças de separação, no caso ideal, não ocorre nenhum desacoplamento de radiação de medição. Assim, pode ser obtida uma conclusão sobre a exis- tência de uma camada intermediária suficiente.
[045] A figura 7b mostra, tal como a figura 7a, um corte de deta lhe pelo espaço de alojamento 14, sendo que nesse diagrama esquemático está representado um caso, no qual a camada intermediária 9’ apresenta uma espessura h. Nesse caso, vale que h é menor do que H (h<H). No diagrama esquemático está representado, portanto, exemplificadamente, um possível caso limite, no qual a camada intermediária 9’ caiu para um valor limite h, por exemplo, por consumo do inibidor ou por variáveis de processo., de modo que, primeiramente ocorrem forças de separação F1 e F2 mensuráveis. Desse modo, pode ser constado em conclusão - e isso, opcionalmente, em resolução local e temporal -, onde o caso limite da espessura da camada intermediária foi atingido, pra, opcionalmente ativar passos de tecnologia de processo para regenerar de modo correspondente a camada intermediária 9’ e/ou reproduzir a mesma ativamente. Por exemplo, isso pode dar-se por alimentação adicional e/ou aumentada de pelo menos um inibidor, por modificação de uma concentração de inibidor (por exemplo, ar enriquecido com oxigênio), por variação correspondente das variáveis de processo, tais como da energia de exposição, tempos de espera, velocidade de curso etc., e/ou por introdução seletiva de pausas.
[046] Essas modificações contribuem, isoladamente ou em com binação, para o aumento da extensão em altura da camada intermediária 9’. Com o método de medição descrito, também podem ser detectadas modificações da camada intermediária 9’ resolvidas localmente e resolvidas temporalmente, por exemplo, por uma alimentação seletiva, resolvida localmente, de inibidor, que só ocorre na região, onde a camada intermediária deve ser aumentada seletivamente ou regenerada. Essa alimentação seletiva também poderia dar-se na dependência da extensão geométrica do corpo ou dependendo da área de ex posição. Assim, pelo processo de medição descrito, dependendo da extensão do corpo a ser gerado, a espessura da camada intermediária 9’ pode ser detectada, opcionalmente, localmente, e aumentada.

Claims (12)

1. Processo para produção de um corpo tridimensional (60, 70) em um processo estereolitográfico, sendo que um material fotossensível (9) é endurecido por radiação, caracterizado pelo fato de que radiação de medição é acoplada em uma camada de referência (80) e permanece por reflexão interna em parte predominante dentro da camada de referência (80), e sendo que a radiação de medição é detectada por um sensor (5) com resolução local, bem como temporal.
2. Processo de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que, por deformação da camada de referência (80), a reflexão interna é perturbada, sendo que radiação de medição sai da camada de referência (80).
3. Processo de acordo com a reivindicação 1 ou 2, caracterizado pelo fato de que o sensor (5) detecta a radiação de medição de saída (80) simultaneamente em várias áreas de medição.
4. Processo de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 3, caracterizado pelo fato de que a camada de referência (80) é flexível e pelo menos parcialmente transparente para a radiação de medição.
5. Processo de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 4, caracterizado pelo fato de que a camada de referência (80) consiste em silicone.
6. Processo de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 5, caracterizado pelo fato de que dentro da camada de referência (80) ocorre reflexão total.
7. Processo de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 6, caracterizado pelo fato de que como radiação de medição é usada radiação de infravermelho.
8. Processo de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 7, caracterizado pelo fato de que como sensor (5) é usada uma câmera, particularmente, uma câmera de CCD.
9. Processo de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 8, caracterizado pelo fato de que como sensor (5) é usado um detector de IR, que detecta o calor de polimerização surgido no processo estereolitográfico.
10. Processo de acordo com a reivindicação 9, caracterizado pelo fato de que na base do calor de polimerização é deduzido o estado de processo.
11. Processo de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 10, caracterizado pelo fato de que o sensor (5) detecta toda a camada de referência (80).
12. Processo de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 11, caracterizado pelo fato de que o sensor (5) detecta a radiação de medição abaixo da camada de referência (80)
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