BR112015012559B1

BR112015012559B1 - Sistema e método de escala de tensão adaptativa

Info

Publication number: BR112015012559B1
Application number: BR112015012559-0A
Authority: BR
Inventors: Madan Krishnappa
Original assignee: Qualcomm Incorporated
Priority date: 2012-12-03
Filing date: 2013-11-22
Publication date: 2021-12-07
Also published as: WO2014088843A1; HUE031440T2; KR101564900B1; CN104823130B; EP2926211B1; BR112015012559A2; KR20150082686A; US8984308B2; JP2016504674A; CN104823130A; ES2602281T3; JP6009689B2; US20140157007A1; EP2926211A1

Abstract

sistema e método de escala de tensão adaptativa um método particular inclui, antes da emissão de uma recomendação por um sistema de escala de tensão adaptativa (avs), realizar uma primeira iteração de uma operação de avs para amostrar características de um dispositivo semicondutor para determinar uma primeira recomendação de ajuste. o método adicionalmente inclui a realização de pelo menos uma iteração adicional da operação de avs para determinar pelo menos uma iteração de ajuste adicional. quando um número limite de recomendações de ajuste consecutivas são consistentes, o método inclui emitir a recomendação pelo sistema de avs.

Description

I. Campo

[0001] A presente invenção está geralmente relacionada à escala de tensão adaptativa nos dispositivos semicondutores.

II. Descrição da Técnica Relacionada

[0002] A matriz do semicondutor pode incluir vários sistemas (por exemplo, núcleos) que podem ser movidos seletivamente desligados quando não estiverem em uso para melhorar o consumo de potência na matriz do semicondutor. Um sistema de escala de tensão adaptativa (AVS) pode ser implementado na matriz do semicondutor para monitorar periodicamente as condições de funcionamento e emitir recomendações a um regulador de tensão (por exemplo, um circuito integrado de gerenciamento de potência externa (CIMP)) para aumentar ou diminuir a tensão de alimentação. Quando o regulador de tensão tem um tempo de resposta relativamente lento para uma recomendação de AVS, uma próxima operação de monitorização do AVS pode ocorrer durante uma transição da tensão de alimentação conforme a tensão de alimentação está sendo alterada. Como resultado, o controlador de AVS pode emitir uma próxima recomendação com base em uma tensão medida durante a transição, em vez de depois da tensão de alimentação estabelecer para o valor reduzido, o que pode resultar em instabilidade da fonte de alimentação.

III. Sumário

[0003] Em uma modalidade particular, um sistema de AVS está configurado para esperar até que o sistema de AVS determine um número limite de recomendações de ajuste consistentes com base em dados obtidos a partir de vários sensores amostrando informação a partir de um dispositivo semicondutor antes de emitir uma recomendação para um controlador de tensão. A recomendação pode ser a de modificar uma característica operacional associada com um dispositivo semicondutor, tal como uma recomendação para aumentar a tensão de alimentação do dispositivo semicondutor. Ao esperar por um número limite de recomendações de ajuste consistentes, o sistema de AVS pode evitar a emissão da recomendação com base nos dados adquiridos, enquanto o dispositivo semicondutor está em um estado transiente. Por conseguinte, o sistema de AVS pode operar com estabilidade aumentada.

[0004] Em uma modalidade particular, um método inclui a emissão de uma recomendação por um sistema de AVS. Antes de emitir a recomendação, uma primeira iteração de uma operação de AVS pode ser realizada para características de amostra de um dispositivo semicondutor para determinar uma primeira recomendação de ajuste. Pelo menos uma iteração adicional da operação de AVS pode também ser realizada para determinar pelo menos uma recomendação de ajuste adicional. Quando a primeira recomendação de ajuste e cada uma de pelo menos uma das recomendações de ajuste adicionais são consistentes, o sistema pode emitir uma recomendação de AVS (por exemplo, uma recomendação para aumentar ou diminuir potência).

[0005] Em uma outra modalidade particular, um aparelho inclui um sistema de AVS que compreende vários sensores configurados para características de amostra de um dispositivo semicondutor. Um controlador pode ser acoplado aos sensores para determinar uma recomendação de ajuste para cada iteração de uma operação de AVS que inclui amostragem as características do dispositivo semicondutor. O controlador pode ainda ser configurado para emitir uma recomendação (por exemplo, uma recomendação para aumentar ou diminuir a potência) em resposta a um número limite de recomendações de ajuste consecutivas, sendo consistente.

[0006] Em uma outra modalidade particular, um aparelho inclui um meio de amostragem para as características de um dispositivo semicondutor. O aparelho inclui ainda um meio para determinar uma recomendação de ajuste para cada iteração de uma operação de AVS que inclui características de amostragem do dispositivo semicondutor. O aparelho inclui ainda um meio para emitir uma recomendação (por exemplo, uma recomendação para aumentar ou diminuir a potência) em resposta a um número limite de recomendações de ajuste consecutivas, sendo consistente.

[0007] Em outra modalidade particular, um dispositivo de armazenamento legível por computador inclui instruções que, quando executadas por um processador, fazem com que o processador emita uma recomendação por um sistema de AVS. As instruções são adicionalmente executáveis pelo processador para executar uma primeira iteração de uma operação de AVS para características de amostra de um dispositivo semicondutor para determinar uma primeira recomendação de ajuste. As instruções são adicionalmente executáveis pelo processador para realizar pelo menos uma iteração adicional da operação de AVS para determinar pelo menos uma recomendação de ajuste adicional. Quando a primeira recomendação de ajuste e cada uma de pelo menos uma das recomendações de ajuste adicionais são consistentes, o sistema de AVS pode emitir uma recomendação (por exemplo, uma recomendação para aumentar ou diminuir a potência).

[0008] Uma vantagem particular provida por pelo menos uma das modalidades divulgadas é que ao retardar recomendações de emissão até depois de um número mínimo de repetições consecutivas resulta em recomendações de ajuste consistentes, o sistema de AVS pode evitar a instabilidade devido a um período de amostra que ocorre durante uma transição. Assim, a fiabilidade do sistema AVS pode ser aumentada.

[0009] Outros aspectos, vantagens e características da presente divulgação serão evidentes após revisão de todo o pedido, incluindo as seguintes seções: Breve descrição dos desenhos, Descrição detalhada, e reivindicações.

IV. Breve Descrição dos Desenhos

[0010] A figura 1 é um diagrama de uma primeira modalidade de um sistema de escala de tensão adaptativa;

[0011] A figura 2 é um diagrama de temporização que ilustra uma recomendação de amostra do sistema de escala de tensão adaptativa da figura 1;

[0012] A figura 3 é um fluxograma que ilustra uma primeira modalidade de um método de escala de tensão adaptativa;

[0013] A figura 4 é um fluxograma que ilustra uma segunda modalidade de um método de escala de tensão adaptativa; e

[0014] A figura 5 é um diagrama de blocos de um dispositivo de comunicação que incorpora um sistema de escala de tensão adaptativa.

V. Descrição Detalhada

[0015] Com referência à figura 1, uma modalidade ilustrativa particular, de um sistema 100 é mostrada. O sistema 100 pode incluir um ou mais sistemas de escala de tensão adaptativa (AVS), tal como um sistema de AVS representativo 106, de um dispositivo semicondutor. O sistema de AVS 106 pode ser configurado para realizar múltiplas iterações de uma operação de AVS e emitir uma recomendação 126 de um regulador de tensão 128 para ajustar uma característica de um primeiro circuito (Núcleo 1) 108 do dispositivo semicondutor. O sistema 100 pode incluir um ou mais dispositivos, os quais podem ser distribuídos através de uma ou mais matrizes de semicondutores 102, 104.

[0016] O sistema de AVS 106 pode incluir uma cadeia de um ou mais sensores 122 acoplados a um controlador de AVS, como um primeiro controlador de AVS (controlador de AVS 1) 110. O primeiro controlador de AVS 110 pode incluir pelo menos uma memória, por exemplo, uma memória 112, que pode ser configurada para armazenar valores associados com o sistema de AVS 106. Os valores podem incluir um intervalo 114 entre períodos de amostragem, um número limite 116 de recomendações de ajuste consistentes para emitir uma recomendação 126, uma contagem de recomendações de ajuste consistentes 118, uma recomendação de ajuste mais recente 120, ou uma sua combinação. A memória 112 pode ser programável através de uma interface, tal como uma interface 124.

[0017] O sistema de AVS 106 incluindo o primeiro controlador de AVS 110 e os sensores 122 pode ser programável através da interface 124, para realizar a amostragem de sensor paralelo ou de amostragem de sensor em série durante cada iteração da operação de AVS. Quando os sensores 122 são configurados para realizar amostragem de sensor paralelo, os sensores 122 podem amostrar características de um primeiro circuito 108 e, simultaneamente, enviar o resultado da amostragem (por exemplo, os valores correspondentes para características da amostra) ao longo da cadeia de sensores 122. Quando os sensores 122 são configurados para executar amostragem de sensor em série, os sensores 122 podem esperar para receber resultados de amostras de um sensor anterior, antes de amostrar uma característica do primeiro circuito 108. Assim, um primeiro tempo de um primeiro período de amostragem da amostragem de sensor em série pode ser maior do que um segundo tempo de um segundo período de amostragem da amostragem de sensor paralelo.

[0018] Múltiplos sistemas de AVS podem ser implementados em uma primeira matriz de semicondutor 102. Por exemplo, o sistema 100 pode incluir um segundo sistema de AVS que inclui um segundo controlador de AVS (controlador de AVS 2) 134 acoplado a um segundo circuito (Núcleo 2) 132 e um terceiro sistema de AVS incluindo um terceiro controlador de AVS (controlador de AVS 3) 140 acoplado a um terceiro circuito (Núcleo 3) 138. Embora três controladores de AVS e os seus circuitos correspondentes sejam exibidos na figura 1, o sistema 100 pode incluir mais do que três controladores de AVS e os seus circuitos correspondentes ou menos do que três controladores de AVS e os seus circuitos correspondentes. O regulador de tensão 128 pode ser implementado em um circuito integrado de gerenciamento de potência (CIMP) 130 em uma segunda matriz de semicondutor 104 que é distinta da primeira matriz de semicondutor 102. Em alternativa, o regulador de tensão 128 e o sistema de AVS (s) podem ser implementados em uma matriz comum. Na modalidade ilustrada na figura 1, o sistema 100 inclui o regulador de tensão 128. Em outras modalidades, o sistema 100 pode também, ou em alternativa, incluir outros sistemas de controle configurados para ajustar as outras características do circuito (s), tais como a corrente.

[0019] O sistema de AVS 106 pode atrasar a emissão de uma recomendação 126 para o regulador de tensão 128 até depois de um número limite 116 de iterações consecutivas de uma operação de AVS tendo resultado em recomendações de ajuste consistentes. Em um primeiro exemplo, o sistema de AVS 106 pode: amostrar os sensores 122 em série com base em uma entrada na interface 124, determinar uma recomendação de ajuste no primeiro controlador de AVS 110, armazenar a recomendação de ajuste na memória 112 como a recomendação de ajuste mais recente 120, amostrar os sensores 122 em série novamente, determinar outra recomendação de ajuste no primeiro controlador de AVS 110, e comparar a recomendação de ajuste atual (por exemplo, uma recomendação de ajuste para uma amostra mais recente que não tenha sido armazenada como a recomendação de ajuste mais recente 120) com a recomendação de ajuste mais recente 120. Quando a recomendação de ajuste atual e a recomendação de ajuste mais recente 120 não são consistentes, o primeiro controlador de AVS 110 pode definir a contagem de recomendações de ajuste consistentes 118 para zero, armazenar a recomendação de ajuste atual na memória 112 como a recomendação de ajuste mais recente 120, e o sistema de AVS 106 pode amostrar os sensores 122 em série novamente. Quando a recomendação de ajuste atual e a recomendação de ajuste mais recente 120 são consistentes, o primeiro controlador de AVS 110 pode aumentar a contagem de recomendações de ajuste consistentes 118 armazenadas na memória 112 em um. O primeiro controlador de AVS 110 pode comparar a contagem de recomendações de ajuste consistentes 118 com o número limite 116 armazenado na memória 112. Quando a contagem das recomendações de ajuste consistentes 118 não é igual ao número limite 116, o primeiro controlador de AVS 110 pode armazenar a recomendação de ajuste atual na memória 112 como a recomendação de ajuste mais recente 120 e o sistema de AVS 106 pode amostrar os sensores 122 em série novamente. Quando a contagem de recomendações de ajuste consistentes 118 é igual ao número limite 116, o primeiro controlador de AVS 110 pode enviar uma recomendação 126 para o regulador de tensão 128, definir a contagem de recomendações de ajuste consistentes 118 para zero, e armazenar a recomendação de ajuste atual na memória 112 como a recomendação de ajuste mais recente 120.

[0020] Em um segundo exemplo, o sistema de AVS 106 pode: amostrar os sensores 122 em paralelo com base em uma entrada na interface 124, determinar uma recomendação de ajuste no primeiro controlador de AVS 110, armazenar a recomendação de ajuste na memória 112 como a recomendação de ajuste mais recente 120, amostrar os sensores 122 em paralelo novamente, determinar outra recomendação de ajuste no primeiro controlador de AVS 110, e comparar a recomendação de ajuste atual com a recomendação de ajuste mais recente 120. Quando a recomendação de ajuste atual e a recomendação de ajuste mais recente 120 não são consistentes, o primeiro controlador de AVS 110 pode definir a contagem de recomendações de ajuste consistentes 118 para zero, armazenar a recomendação de ajuste atual na memória 112 como a recomendação de ajuste mais recente 120, e o sistema de AVS 106 pode amostrar os sensores 122 em paralelo novamente. Quando a recomendação de ajuste atual e a recomendação de ajuste mais recente 120 são consistentes, o primeiro controlador de AVS 110 pode aumentar a contagem de recomendações de ajuste consistentes 118 armazenados na memória 112 por um. O primeiro controlador de AVS 110 pode comparar a contagem de recomendações de ajuste consistentes para 118 o número limite 116 armazenado na memória 112. Quando a contagem das recomendações de ajuste consistentes 118 não é igual ao número limite 116, o primeiro controlador de AVS 110 pode armazenar a recomendação de ajuste atual na memória 112 como a recomendação de ajuste mais recente 120, e o sistema de AVS 106 pode amostrar os sensores 122 em paralelo novamente. Quando a contagem de recomendações de ajuste consistentes 118 é igual ao número limite 116, o primeiro controlador de AVS 110 pode enviar uma recomendação 126 para o regulador de tensão 128, definir a contagem de recomendações de ajuste consistentes 118 para zero, e armazenar a recomendação de ajuste atual na memória 112 como a recomendação de ajuste mais recente 120. Assim, o sistema de AVS 106 pode evitar a instabilidade devido a um período de amostragem que ocorre durante a transição. Assim, a fiabilidade do sistema de AVS 106 pode ser aumentada.

[0021] A figura 1 e figura 2 em conjunto ilustram uma operação de amostragem de um sistema de AVS. A figura 2 ilustra um gráfico da tensão de alimentação 200 e múltiplas iterações 221-225 de uma operação de AVS que podem ser realizadas pelo sistema de AVS 106.

[0022] Tal como ilustrado no gráfico 200, a tensão de alimentação pode ter um valor V1 quando uma primeira iteração 221 da operação de AVS é realizada. Em um exemplo particular, a primeira iteração 221 inclui características de amostragem do dispositivo semicondutor no primeiro circuito 108 pelos sensores 122. Os resultados das amostras podem ser providos para o primeiro controlador de AVS 110 e uma recomendação de ajuste para a primeira iteração 221 pode ser gerada pelo primeiro controlador de AVS 110 e armazenada na memória 112. Para ilustrar, uma recomendação de ajuste pode corresponder a um aumento de tensão ou uma diminuição de tensão. Tal como ilustrado, a recomendação de ajuste para a primeira iteração 221 é para uma diminuição da tensão.

[0023] A recomendação de ajuste mais recente 120 pode mantida pelo primeiro controlador de AVS 110 e pode ser armazenada na memória 112. A recomendação de ajuste mais recente 120 pode ser usada para determinar se a recomendação de ajuste atual é consistente com a recomendação de ajuste mais recente 120, indicando assim se a uma contagem de recomendações de ajuste consistentes 118 para iterações consecutivas será aumentada ou ajustada para zero. Após a contagem de recomendações de ajuste consistentes 118 ser modificada, a recomendação de ajuste atual pode ser armazenada na memória 112 como a recomendação de ajuste mais recente 120.

[0024] A contagem de recomendações de ajuste consistentes 118 para iterações consecutivas pode ser mantida pelo primeiro controlador de AVS 110, armazenada na memória 112, e comparada com um limite de número 116 "N", em que N é um número inteiro maior do que um. No exemplo ilustrado na figura 2, a recomendação de ajuste para a primeira iteração 221 é uma (N-1)-ésima recomendação de ajuste consecutiva para uma diminuição da tensão. Como a contagem de recomendações de ajuste consecutivas consistentes 118 é menor que o número limite 116, o primeiro controlador de AVS 110 não emite uma recomendação em resposta à primeira iteração 221.

[0025] Uma segunda iteração 222 da operação de AVS pode também resultar em uma recomendação de ajuste para diminuição da tensão. Porque a segunda iteração 222 resulta no número limite 116, N-ésima recomendação de ajuste consecutiva para uma diminuição da tensão, o primeiro controlador de AVS 110 emite uma recomendação 126 para o regulador de tensão 128 para uma diminuição da tensão. Depois de emitir a recomendação 126, a contagem de recomendações de ajuste consistentes 118 pode ser redefinida para 0.

[0026] Em resposta a recomendação 126, o regulador de tensão 128 pode reduzir a tensão provida para o primeiro circuito 108 de V1 a V2. Uma transição de V1 para V2 pode ser iniciada depois de um atraso no regulador de tensão 128, o que pode resultar em um tempo transiente 208 durante o qual a tensão pode ultrapassar V1 e/ou V2 subestimativa antes de se fixar a um valor em estado estacionário de V2.

[0027] Tal como ilustrado, uma terceira iteração 223 da operação de AVS pode ocorrer durante o tempo transiente 208. Uma vez que um período de amostra 204 da terceira iteração 223 ocorre durante uma ultrapassagem da tensão, a terceira iteração 223 resulta em uma recomendação de ajuste para um diminuição de tensão e a contagem das recomendações de ajuste consistentes 118 é aumentada de zero para 1. Como a contagem das recomendações de ajuste consistentes 118 é inferior a um número limite 116 (N), o primeiro controlador de AVS 110 não emite uma recomendação 126 para o regulador de tensão 128.

[0028] Uma quarta iteração 224 da operação de AVS ocorre após a tensão se instalar para V2. Porque V2 pode ser uma tensão apropriada para o primeiro circuito 108, a quarta iteração 224 pode resultar em nenhuma recomendação de ajuste. Porque a recomendação de ajuste mais recente 120 recomendou uma diminuição da tensão, a contagem das recomendações de ajuste consistentes 118 pode ser redefinida para 0. Do mesmo modo, uma quinta iteração 225 da operação de AVS resulta em nenhuma recomendação de ajuste e, portanto, nenhuma recomendação 126 é emitida pelo primeiro controlador de AVS 110 para o regulador de tensão 128.

[0029] Ao atrasar emissão de recomendações 126 para o regulador de tensão 128 até depois de um número limite 116 (N) de iterações consecutivas resultarem em recomendações de ajuste consistentes, o primeiro controlador de AVS 110 pode evitar a instabilidade, devido a um período de amostragem 204 que ocorre durante uma ultrapassagem da tensão ou subestimativa durante uma transição, tal como ilustrado na terceira iteração 223. O limite de número 116 pode ser um valor programável que pode ser programável através de uma interface, tal como a interface 124. Além disso, um intervalo de tempo entre amostras 214 entre cada uma das iterações 221-225 pode ser programável através de uma interface, tal como a interface 124 e pode ser selecionado para exceder o tempo transiente 208 de uma mudança de potência do circuito regulador de tensão 128. A interface 124 pode ligar o primeiro controlador de AVS 110 a um dispositivo na mesma matriz 102 que o primeiro controlador de AVS 110 ou a um dispositivo que não está no mesmo chip que o primeiro controlador 110 AVS.

[0030] Cada iteração 221-225 da operação de AVS pode incluir os sensores 122 amostrando uma ou mais condições e o primeiro controlador de AVS 110 que faz uma recomendação de ajuste correspondente com base pelo menos parcialmente em uma condição de funcionamento, uma temperatura, um desempenho do dispositivo semicondutor, ou uma combinação dos mesmos. Por exemplo, o estado de funcionamento pode incluir uma medição de tensão, e os sensores 122 podem, cada um determinar uma tensão. Como outro exemplo, uma medição de desempenho pode incluir a determinação de uma frequência de relógio de um circuito em particular (por exemplo, o primeiro circuito 108), e os sensores 122 podem, cada um determinar uma frequência. O primeiro controlador de AVS 110 pode corresponder a um processador configurado para executar instruções para iniciar e analisar os dados dos sensores 122, para gerar recomendações de ajuste, e para manter a contagem de recomendações de ajuste consistentes 118.

[0031] Porque atrasar a emissão de recomendações 126 para o regulador de tensão 128 até depois de um número limite 116, iterações consecutivas de recomendações de ajuste consistentes pode melhorar a confiabilidade de ajustes de tensão, uma área do primeiro circuito 108 pode ser reduzida (por exemplo, uma área de 5% redução). Redução da área do primeiro circuito 108 pode ser alcançada porque maior precisão das decisões de AVS permite maior confiança pelo primeiro circuito 108 no acesso à tensão em uma base como necessária, aumentando a capacidade de confiar no sistema de AVS 106 para cumprir com restrições de projeto.

[0032] A figura 3 é um fluxograma que ilustra uma primeira modalidade particular de um método 300 de emissão de uma recomendação de um sistema de AVS para um regulador de tensão, em resposta a um número de recomendações de ajuste sendo consistentes. Em uma modalidade, o sistema de AVS do método 300 corresponde ao sistema de AVS 106 da figura 1, e o regulador de tensão do método 300 corresponde ao regulador de tensão 128 da figura 1. O método 300 inclui, em 302, a execução de uma primeira iteração de uma operação de AVS para características de amostra de um dispositivo semicondutor para determinar uma primeira recomendação de ajuste. Por exemplo, o sistema de AVS 106 pode amostrar os sensores 122 em série ou em paralelo com base em uma entrada na interface 124, e determinar uma recomendação de ajuste no primeiro controlador de AVS 110. O método 300 inclui também, em 304, realizar pelo menos uma iteração adicional da operação de AVS para determinar pelo menos uma recomendação de ajuste adicional. Por exemplo, o sistema de AVS 106 pode amostrar os sensores 122 novamente e determinar pelo menos uma recomendação de ajuste adicional no primeiro controlador de AVS 110. O método de 300 inclui ainda, em 306, emitir uma recomendação pelo sistema de AVS, em resposta a primeira recomendação de ajuste e cada uma das pelo menos uma das recomendações de ajuste adicionais sendo consistentes. Por exemplo, o sistema de AVS 106 pode comparar a primeira recomendação de ajuste e cada uma das pelo menos uma das recomendações de ajuste adicionais, determinar que as recomendações de ajuste são consistentes, e emitir uma recomendação 126.

[0033] Assim, o método 300 permite que o sistema de AVS atrase a emissão de uma recomendação até depois de um número limite de iterações consecutivas resultarem em recomendações de ajuste consistentes. Por conseguinte, o sistema de AVS pode evitar a instabilidade devido a um período de amostragem que ocorre durante a transição. Assim, a fiabilidade do sistema de AVS pode ser aumentada.

[0034] A figura 4 é um fluxograma que ilustra uma segunda modalidade particular de um método 400 de emitir uma recomendação de um sistema de AVS para um regulador de tensão em resposta a um número de recomendações de ajuste sendo consistentes. Em uma modalidade, o sistema de AVS do método 400 corresponde ao sistema de AVS 106 da figura 1, e o regulador de tensão do método 400 corresponde ao regulador de tensão 128 da figura 1. O método 400 inclui, em 402, amostrar características de um circuito para determinar uma primeira recomendação de ajuste e definir um contador que representa uma contagem de recomendações de ajuste consistentes para zero. Por exemplo, o sistema de AVS 106 pode amostrar os sensores 122 em série ou em paralelo com base em uma entrada na interface 124, determinar uma recomendação de ajuste no primeiro controlador de AVS 110, e definir a contagem de recomendações de ajuste 118 consistentes na memória 112 para zero usando o primeiro controlador de AVS 110. O método também inclui 400 salvando a recomendação de ajuste na memória como a recomendação de ajuste mais recente. Por exemplo, o primeiro controlador de AVS 110 pode armazenar a recomendação de ajuste na memória 112 como a recomendação de ajuste mais recente 120. O método 400 inclui também, em 404, amostrar características do dispositivo para determinar uma recomendação de ajuste adicional. Por exemplo, o sistema de AVS 106 pode amostrar os sensores 122 novamente e determinar uma recomendação de ajuste adicional no primeiro controlador de AVS 110.

[0035] O método 400 inclui ainda, em 406, determinar se uma recomendação de ajuste atual (por exemplo, uma recomendação de ajuste para uma amostra mais recente que não tenha sido armazenada como a recomendação de ajuste mais recente) é consistente com a recomendação de ajuste mais recente. Por exemplo, o primeiro controlador de AVS 110 pode comparar a recomendação de ajuste atual com a recomendação de ajuste mais recente 120 armazenada na memória 112. Quando a recomendação de ajuste atual não é compatível com a recomendação de ajuste mais recente, o método 400 pode redefinir o contador para zero, em 408. Por exemplo, quando a recomendação de ajuste atual não é compatível com a recomendação de ajuste mais recente 120, o primeiro controlador de AVS 110 pode definir a contagem de recomendações de ajuste 118 consistentes na memória 112 para zero. Depois de redefinir o contador para zero, o método pode incluir 400 salvar a recomendação de ajuste atual como a recomendação de ajuste mais recente e amostrar características do dispositivo para determinar uma recomendação de ajuste adicional, em 404. Por exemplo, o primeiro controlador de AVS 110 pode armazenar a recomendação de ajuste atual na memória 112 como a recomendação de ajuste mais recente 120 e o sistema de AVS 106 pode amostrar os sensores 122 novamente e determinar uma recomendação de ajuste adicional no primeiro controlador de AVS 110. Quando a recomendação de ajuste atual é consistente com a recomendação de ajuste mais recente, o método 400 pode aumentar o contador em um, em 410. Por exemplo, quando a recomendação de ajuste atual não é compatível com a recomendação de ajuste mais recente 120, o primeiro controlador de AVS 110 pode aumentar a contagem de recomendações de ajuste 118 consistentes na memória 112 em um.

[0036] Depois de aumentar o contador em um, em 410, o método 400 pode incluir, em 412, determinar se o contador é igual a um número limite. Por exemplo, o primeiro controlador de AVS 110 pode determinar se a contagem de recomendações de ajuste consistentes 118 é igual ao número limite 116 armazenado na memória 112. Quando o contador não for igual ao número limite, o método pode incluir 400 salvar a recomendação de ajuste atual como a recomendação de ajuste mais recente e amostrar características do dispositivo para determinar uma recomendação de ajuste adicional, em 404. Por exemplo, quando o primeiro controlador de AVS 110 determina que a contagem de recomendações de ajuste consistentes 118 não é igual ao número limite 116, o primeiro controlador de AVS 110 pode armazenar a recomendação de ajuste atual na memória 112 como a recomendação de ajuste mais recente 120 e o sistema de AVS 106 pode amostrar os sensores 122 novamente e determinar uma recomendação de ajuste adicional no primeiro controlador de AVS 110. Quando o contador é igual ao número limite, o método 400 pode incluir emitir uma recomendação e redefinir o contador para zero, em 414. Por exemplo, quando o primeiro controlador de AVS 110 determina que a contagem de recomendações de ajuste consistentes 118 não é igual ao número limite 116, o sistema de AVS 106 pode emitir a recomendação 126 e o primeiro controlador de AVS pode redefinir a contagem de recomendações de ajuste consistentes 118 para zero. Depois de redefinir o contador para zero, o método pode incluir 400 salvar a recomendação de ajuste atual como a recomendação de ajuste mais recente e amostrar características do dispositivo para determinar uma recomendação de ajuste adicional, em 404. Por exemplo, após o primeiro controlador de AVS redefinir a contagem de recomendações de ajuste consistentes 118 para zero, o primeiro controlador de AVS 110 pode armazenar a recomendação de ajuste atual na memória 112 como a recomendação de ajuste mais recente 120 e o sistema de AVS 106 pode amostrar os sensores 122 novamente e determinar uma recomendação de ajuste adicional no primeiro controlador de AVS 110.

[0037] Assim, o método 400 permite que o sistema de AVS atrase a emissão de uma recomendação até depois de um número limite de iterações consecutivas resultarem em recomendações de ajuste consistentes. Por conseguinte, o sistema de AVS pode evitar a instabilidade devido a um período de amostragem que ocorre durante a transição. Assim, a fiabilidade do sistema de AVS pode ser aumentada.

[0038] Os métodos das Figuras 3 e 4 podem ser implementados por vários dispositivos, tais como um dispositivo de arranjo de porta programável em campo (FPGA), um circuito integrado de aplicação específica (ASIC), uma unidade de processamento (por exemplo, uma unidade de processamento central (CPU)), um processador de sinal digital (DSP), um controlador, um outro dispositivo de hardware, um dispositivo de firmware, ou qualquer combinação dos mesmos. Como um exemplo, os métodos das Figuras 3 e 4 podem ser realizados por um ou mais processadores que executam instruções, conforme a seguir descritas com referência à figura 5.

[0039] Com referência à figura 5, um diagrama de blocos de uma modalidade ilustrativa particular de um dispositivo de comunicação que incorpora um sistema de escalona de tensão adaptável está representado e geralmente designado 500. O dispositivo de comunicação 500, ou componentes dos mesmos, podem incluir, implementar, ou ser incluído no interior de um dispositivo, tal como: uma estação móvel, um ponto de acesso, uma set top box, uma unidade de entretenimento, um dispositivo de navegação, um dispositivo de comunicação, um assistente pessoal digital (PDA), uma unidade de dados de localização fixa, uma unidade de dados de localização celular, um telefone móvel, um telefone celular, um computador, um computador portátil, um computador desktop, um tablet, um monitor, um monitor de computador, uma televisão, um sintonizador, um rádio, um rádio por satélite, um leitor de música, um leitor de música digital, um leitor de música portátil, um reprodutor de vídeo, um reprodutor de vídeo digital, um leitor de discos de vídeo digital (DVD), ou um leitor de vídeo digital portátil, cada um dos quais pode ser configurado para executar um ou mais dos métodos das figuras 3 e 4. Em uma modalidade, o dispositivo de comunicação 500 inclui o sistema 100 da figura 1.

[0040] O dispositivo de comunicação 500 inclui um processador 510, tal como um processador de sinal digital (DSP), acoplado a uma memória 532. Em uma modalidade particular, o processador 510 inclui uma primeira matriz 564 e uma segunda matriz 566. Em uma determinada modalidade, a primeira matriz 564 inclui um primeiro circuito (Núcleo 1) 570 ligado a um primeiro controlador de AVS (controlador de AVS 1) 572 e um segundo circuito (Núcleo 2) 574 ligado a um segundo controlador de AVS (controlador de AVS 2) 576. Em uma modalidade particular, a segunda matriz 566 inclui uma CIMP 580 e um regulador de tensão 582. O processador 510 pode ser configurado para executar os métodos das figuras 3 e 4. O processador 510 pode proporcionar: pelo menos um meio para amostrar características de um dispositivo semicondutor, pelo menos um meio para determinar uma recomendação de ajuste para cada iteração de operação de um AVS, que inclui amostrar as características, pelo menos um meio para emitir uma recomendação em resposta a um número limite de recomendações de ajuste consecutivas sendo consistentes, um meio para a programação de um componente de memória do processador 510 (por exemplo, a memória 532), um meio de regulação de tensão, ou qualquer combinação dos mesmos.

[0041] Na modalidade particular ilustrada na figura 5, o dispositivo de comunicação 500 inclui um controlador de display 526 que é acoplado ao processador 510 e um display 528. Um codificador / decodificador (CODEC) 534, também pode ser acoplado ao processador 510. Um altofalante 536 e um microfone 538 podem ser acoplados ao CODEC 534. Um controlador sem fio 540 (por exemplo, um receptor, um transmissor ou um transceptor) pode ser acoplado ao processador 510 e a uma antena 542.

[0042] Em uma modalidade particular, o processador 510, o controlador de display 526, a memória 532, o CODEC 534, e o controlador sem fio 540 estão incluídos em dispositivo de sistema em pacote ou sistema em chip 522. Em uma modalidade particular, um dispositivo de entrada 530 e uma fonte de alimentação 544 estão acoplados ao dispositivo de sistema em chip 522. Além disso, em uma modalidade particular, tal como ilustrado na figura 5, o display 528, o dispositivo de entrada 530, o altofalante 536, o microfone 538, a antena 542, e a fonte de alimentação 544 são exteriores ao dispositivo de sistema em chip 522. No entanto, cada um do display 528, o dispositivo de entrada 530, o altofalante 536, o microfone 538, a antena 542, e a fonte de alimentação 544 pode ser acoplado a um componente do dispositivo de sistema em chip 522, tal como uma interface ou um controlador.

[0043] Os versados na técnica iriam adicionalmente apreciar que os diversos blocos lógicos ilustrativos, configurações, módulos, circuitos, e etapas de algoritmo descritos em ligação com as modalidades aqui divulgadas podem ser implementados como hardware eletrônico, software de computador executado por um processador, ou combinações de ambos. Vários componentes ilustrativos, blocos, configurações, módulos, circuitos, e etapas foram descritos acima, geralmente em termos da sua funcionalidade. Se essa funcionalidade é implementada como hardware ou instruções executáveis por processador depende da aplicação de projeto e limitações específicas impostas ao sistema global. Os versados na técnica podem implementar a funcionalidade descrita de maneiras diferentes para cada aplicação em particular, mas tais decisões de execução não devem ser interpretadas como causa de afastamento do âmbito da presente divulgação.

[0044] As etapas de um processo ou algoritmo descritas em ligação com as modalidades aqui divulgadas podem ser incorporados diretamente em hardware, em um módulo de software executado por um processador, ou em uma combinação dos dois. Um módulo de software pode residir na memória de acesso aleatório (RAM), memória flash, memória somente de leitura (ROM), memória somente de leitura programável (PROM), memória somente de leitura programável apagável (EPROM), memória somente de leitura programável eletricamente apagável (EEPROM), registradores, disco rígido, um disco removível, uma memória somente de leitura de disco compacto (CD-ROM), ou qualquer outra forma de mídia de armazenamento não transitória conhecida na técnica. Um meio de armazenamento exemplar é acoplado ao processador de modo que o processador pode ler informação a partir de, e gravar informação no meio de armazenamento. Em alternativa, o meio de armazenamento pode ser parte integral do processador. O processador e o meio de armazenamento podem residir em um circuito integrado de aplicação específica (ASIC). O ASIC pode residir num dispositivo de computação ou um terminal de usuário. Em alternativa, o processador e o meio de armazenamento podem residir como componentes discretos em um dispositivo de computação ou terminal do usuário.

[0045] A descrição anterior das modalidades descritas é proporcionada para permitir que um versado na técnica possa fazer ou utilizar as modalidades descritas. Várias modificações a estas modalidades serão facilmente evidentes para os versados na técnica, e os princípios aqui definidos poderão ser aplicados a outras modalidades sem se afastar do âmbito da divulgação. Assim, a presente divulgação não se destina a ser limitada às modalidades aqui apresentadas, mas deve ser atribuído o mais amplo escopo consistente com os princípios e características inovadoras, tal como definido pelas reivindicações seguintes.

Claims

1. Método (300) para emitir periodicamente uma recomendação por um sistema de escala de tensão adaptativa, AVS, para aumentar ou diminuir uma tensão de alimentação de um semicondutor, caracterizadopelo fato de que compreende: antes de emitir uma recomendação por um sistema de AVS: realizar (302) uma primeira iteração de uma operação de AVS para amostrar características de pelo menos uma dentre uma tensão, temperatura e frequência de relógio do dispositivo semicondutor para determinar uma primeira recomendação de ajuste; e realizar (304) pelo menos uma iteração adicional da operação de AVS para determinar pelo menos uma recomendação de ajuste adicional; e em resposta à primeira recomendação de ajuste e cada uma dentre a pelo menos uma recomendação de ajuste adicional sendo consistentes, emitir (306) a recomendação pelo sistema de AVS.

2. Método (300), de acordo com a reivindicação 1, caracterizadopelo fato de que a recomendação é emitida em resposta à primeira recomendação de ajuste e cada uma dentre a pelo menos uma recomendação de ajuste adicional correspondendo a um aumento de tensão.

3. Método (300), de acordo com a reivindicação 1, caracterizadopelo fato de que a recomendação é emitida em resposta à primeira recomendação de ajuste e cada uma dentre a pelo menos uma recomendação de ajuste adicional correspondendo a uma diminuição de tensão.

4. Método (300), de acordo com a reivindicação 1, caracterizadopelo fato de que a recomendação é emitida em resposta a um número limite de iterações consecutivas tendo recomendações de ajuste consistentes, em que o número limite é um valor inteiro programável maior do que um.

5. Método (300), de acordo com a reivindicação 1, caracterizadopelo fato de que um intervalo de tempo entre iterações é programável.

6. Método (300), de acordo com a reivindicação 1, caracterizadopelo fato de que a operação de AVS é realizada por um sistema de AVS que inclui múltiplos sensores acoplados a um controlador de AVS.

7. Método (300), de acordo com a reivindicação 6, caracterizadopelo fato de que o sistema de AVS é programável para selecionar entre técnicas de amostragem incluindo amostragem de sensor em série e amostragem de sensor em paralelo e para realizar uma técnica de amostragem selecionada durante cada iteração.

8. Método (300), de acordo com a reivindicação 1, caracterizadopelo fato de que a recomendação é emitida para um regulador de tensão.

9. Método (300), de acordo com a reivindicação 8, caracterizadopelo fato de que a operação de AVS é realizada por um sistema de AVS em uma primeira pastilha, e em que o regulador de tensão é implementado em um circuito integrado de gerenciamento de potência, PMIC, em uma segunda pastilha que é distinta da primeira pastilha.

10. Método (300), de acordo com a reivindicação 9, caracterizadopelo fato de que um intervalo de tempo entre iterações da operação de AVS é maior do que um transiente de uma mudança de potência do PMIC.

11. Método (300), de acordo com a reivindicação 9,caracterizadopelo fato de que múltiplos sistemas de AVS são implementados na primeira pastilha.

12. Aparelho (110) configurado para emitir periodicamente uma recomendação por um sistema de escala de tensão adaptativa, AVS, para aumentar ou diminuir uma tensão de alimentação de um dispositivo semicondutor (108), caracterizadopelo fato de que compreende: meios (122) para amostrar características de pelo menos uma dentre uma tensão, temperatura e frequência de relógio do dispositivo semicondutor (108); meios para determinar uma recomendação de ajuste para cada iteração da operação de AVS que inclui amostragem das características; e meios para emitir uma recomendação (126) em resposta a um número limite de recomendações de ajuste consecutivas ser consistente.

13. Aparelho (110), de acordo com a reivindicação 12, caracterizadopelo fato de que um intervalo de tempo entre iterações é configurado através de um meio para programação.

14. Aparelho (110), de acordo com a reivindicação 12, caracterizadopelo fato de que os meios para amostragem são programáveis para selecionar entre técnicas de amostragem incluindo amostragem de sensor em série e amostragem de sensor em paralelo e para realizar uma técnica de amostragem selecionada durante cada iteração.

15. Memória caracterizadapelo fato de que compreende instruções armazenadas na mesma, as instruções sendo executadas por um computador para realizar o método conforme definido em qualquer uma das reivindicações 1 a 11.