ATE418815T1 - Verfahren zum zyklischen umsetzen eines analogsignals in ein mehrbit- digitalausgangssignal und umsetzer zur durchführung des verfahrens - Google Patents

Verfahren zum zyklischen umsetzen eines analogsignals in ein mehrbit- digitalausgangssignal und umsetzer zur durchführung des verfahrens

Info

Publication number
ATE418815T1
ATE418815T1 AT05745163T AT05745163T ATE418815T1 AT E418815 T1 ATE418815 T1 AT E418815T1 AT 05745163 T AT05745163 T AT 05745163T AT 05745163 T AT05745163 T AT 05745163T AT E418815 T1 ATE418815 T1 AT E418815T1
Authority
AT
Austria
Prior art keywords
signal
implementing
converter
digital output
bit digital
Prior art date
Application number
AT05745163T
Other languages
English (en)
Inventor
Dimitrios Karavidas
Cremoux Guillaume De
Sasa Ristic
Yovgos Christoforou
Original Assignee
Nxp Bv
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nxp Bv filed Critical Nxp Bv
Application granted granted Critical
Publication of ATE418815T1 publication Critical patent/ATE418815T1/de

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12—Analogue/digital converters
    • H03M1/34—Analogue value compared with reference values
    • H03M1/38—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type
    • H03M1/40—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type recirculation type
    • H03M1/403—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type recirculation type using switched capacitors
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/10—Calibration or testing
    • H03M1/1009—Calibration
    • H03M1/1014—Calibration at one point of the transfer characteristic, i.e. by adjusting a single reference value, e.g. bias or gain error

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Selective Calling Equipment (AREA)
AT05745163T 2004-06-10 2005-06-08 Verfahren zum zyklischen umsetzen eines analogsignals in ein mehrbit- digitalausgangssignal und umsetzer zur durchführung des verfahrens ATE418815T1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP04102648 2004-06-10

Publications (1)

Publication Number Publication Date
ATE418815T1 true ATE418815T1 (de) 2009-01-15

Family

ID=34970201

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
AT05745163T ATE418815T1 (de) 2004-06-10 2005-06-08 Verfahren zum zyklischen umsetzen eines analogsignals in ein mehrbit- digitalausgangssignal und umsetzer zur durchführung des verfahrens

Country Status (7)

Country Link
US (1) US7830293B2 (de)
EP (1) EP1759461B1 (de)
JP (1) JP2008502264A (de)
CN (1) CN1965485B (de)
AT (1) ATE418815T1 (de)
DE (1) DE602005011965D1 (de)
WO (1) WO2005122410A1 (de)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007324696A (ja) * 2006-05-30 2007-12-13 Toyota Motor Corp スイッチトキャパシタアンプ回路
JP4506864B2 (ja) * 2007-08-01 2010-07-21 株式会社デンソー 可変ゲイン増幅器
DE102009012767B4 (de) * 2009-03-12 2013-05-23 Texas Instruments Deutschland Gmbh Geschaltete Spannungsversorgung mit Stromabtastung
US8274179B2 (en) * 2009-03-20 2012-09-25 Qualcomm Incorporated Passive differential voltage doubler
EP2571168B1 (de) * 2010-05-14 2016-12-14 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Abtast-halte-schaltung und a/d-wandler
WO2012005777A1 (en) * 2010-07-08 2012-01-12 Microchip Technology Incorporated 2-phase gain calibration and scaling scheme for switched capacitor sigma-delta modulator using a chopper voltage reference
JP5346993B2 (ja) * 2011-07-08 2013-11-20 株式会社エルイーテック 物理乱数生成装置及び物理乱数生成回路
US20130322142A1 (en) * 2012-05-31 2013-12-05 General Electric Company Multilevel power converter
CN103067015B (zh) * 2012-12-20 2015-04-08 天津大学 用于cmos图像传感器的循环模数转换器及转换方法
CN103124177B (zh) * 2013-02-27 2014-05-14 天津大学 一种循环模数转换器及数字校准方法
CN103762989B (zh) * 2014-01-16 2017-01-25 四川和芯微电子股份有限公司 数模转换电路
CN103762988B (zh) * 2014-01-16 2017-01-25 四川和芯微电子股份有限公司 音频数模转换电路
US9411987B2 (en) * 2014-08-18 2016-08-09 Qualcomm Incorporated Low noise and low power passive sampling network for a switched-capacitor ADC with a slow reference generator
US10910946B2 (en) * 2018-09-27 2021-02-02 Intel Corporation Self-tuning zero current detection circuit
US10733391B1 (en) 2019-03-08 2020-08-04 Analog Devices International Unlimited Company Switching scheme for low offset switched-capacitor integrators
US10972119B1 (en) 2020-02-17 2021-04-06 Movellus Circuits, Inc. Regulated charge sharing analog-to-digital converter (ADC) apparatus and methods

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5027116A (en) * 1987-02-24 1991-06-25 Micro Linear Corporation Self-calibrating analog to digital converter
KR930007719B1 (ko) 1990-05-12 1993-08-18 금성일렉트론 주식회사 아날로그/디지탈 변환회로
US5796842A (en) * 1996-06-07 1998-08-18 That Corporation BTSC encoder
CN1240542A (zh) * 1996-12-16 2000-01-05 艾利森电话股份有限公司 循环模－数变换
CN1185794C (zh) * 2000-08-31 2005-01-19 凌阳科技股份有限公司 电荷积分循环运算式模拟对数字转换器及其转换方法
US6545627B1 (en) * 2001-12-19 2003-04-08 Intel Corporation Method and apparatus to perform an analog to digital conversion
US6909393B2 (en) * 2003-07-30 2005-06-21 Freescale Semiconductor, Inc. Space efficient low power cyclic A/D converter
US7215612B2 (en) * 2003-07-30 2007-05-08 Hitachi, Ltd. Disk recording apparatus and disk recording method
US6967611B2 (en) * 2004-03-19 2005-11-22 Freescale Semiconductor, Inc. Optimized reference voltage generation using switched capacitor scaling for data converters
DE102004037162A1 (de) * 2004-07-30 2006-03-23 Infineon Technologies Ag Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung eines Taktsignals
KR20060099322A (ko) * 2005-03-11 2006-09-19 엘지전자 주식회사 저전압 차동신호 수신장치
JP2006303671A (ja) * 2005-04-18 2006-11-02 Digian Technology Inc 積分器およびそれを使用する巡回型ａｄ変換装置
US7697380B2 (en) * 2006-06-05 2010-04-13 Mediatek Inc. Apparatus for detecting the wobble carrier frequency of an optical disk and method for same

Also Published As

Publication number Publication date
CN1965485A (zh) 2007-05-16
US20100201555A1 (en) 2010-08-12
EP1759461A1 (de) 2007-03-07
DE602005011965D1 (de) 2009-02-05
CN1965485B (zh) 2010-12-01
EP1759461B1 (de) 2008-12-24
JP2008502264A (ja) 2008-01-24
US7830293B2 (en) 2010-11-09
WO2005122410A1 (en) 2005-12-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ATE418815T1 (de) Verfahren zum zyklischen umsetzen eines analogsignals in ein mehrbit- digitalausgangssignal und umsetzer zur durchführung des verfahrens
WO2008094014A3 (en) Method for generating a reference signal sequence using grouping
EP2043267A4 (de) Analog-digital-wandler, a/d-wandlerstufe, verfahren zum erzeugen eines einem analogsignal entsprechenden digitalsignals und verfahren zum erzeugen eines den umwandlungsfehler in der a/d-wandlerstufe anzeigenden signals
TW200601710A (en) Test framework and test method of analog to digital converter
DE502006005581D1 (de) Ukmischungen, ein verfahren zu deren herstellung, verfahren zur herstellung von verbund-formteilen und deren verwendung
NO20092854L (no) Fremgangsmate og apparat for a oppna en fluidmigrasjonsprofil
ATE341127T1 (de) Umsetzer von perioden zu digital
TW200706897A (en) Apparatus and methods for measurement of analog voltages in an integrated circuit
EA200801026A1 (ru) Способ, система и устройство для числовой декомпозиции тяжелой нефти
ATE452492T1 (de) Steuerung eines datenflusses in einem netzwerk
ATE523963T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur analog-digital umsetzung
TW200502850A (en) Improved architecture for generating intermediate representations for program code conversion
ATE387031T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur funktionsprüfung eines analog-digital-wandlers sowie analog- digital-wandler
TW200516862A (en) Space efficient low power cyclic A/D converter
ATE348451T1 (de) Vorrichtung und verfahren zum abw rtsmischen eines eingangss ignals in ein ausgangssignal
DE602006019728D1 (de) Switched-capacitor-system mit und verfahren zur ausgangsglitch-reduktion
EP1657546A3 (de) Verfahren zur Erzeugung von Stosswellenformen für Stoss- Ansprechspektrum über kurze Zeitintervalle, digitaler Filter um Stossreaktionsverlauf zu erhalten, und entsprechender inverser Filter
DE102006041827A1 (de) Verfahren zur Bestimmung eines Zeitintervalls
EP1724755A3 (de) Verfahren und System zum Vergleich von Tonsignalen und Erkennung einer Tonquelle
TW200644440A (en) Cyclic pipeline analog to digital converter
WO2009090135A3 (de) Digitales optimal-filter für periodische wechselsignale
TW200601354A (en) Apparatus for generating internal voltage in test mode and its method
TW200518472A (en) Semiconductor device having on-chip reference voltage generator
ATE441120T1 (de) Auswertung eines ausgangssignals eines gerade geprüften bausteins
JP2003018007A5 (de)

Legal Events

Date Code Title Description
RER Ceased as to paragraph 5 lit. 3 law introducing patent treaties