ATE112061T1 - Verfahren und gerät zur schaltungsprüfung. - Google Patents

Verfahren und gerät zur schaltungsprüfung.

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ATE112061T1
ATE112061T1 AT90300165T AT90300165T ATE112061T1 AT E112061 T1 ATE112061 T1 AT E112061T1 AT 90300165 T AT90300165 T AT 90300165T AT 90300165 T AT90300165 T AT 90300165T AT E112061 T1 ATE112061 T1 AT E112061T1
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AT
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circuit
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nodes
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computer
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AT90300165T
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Inventor
Alice Mckeon
Antony Wakeling
Original Assignee
Schlumberger Technologies Ltd
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    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G01R31/318392Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences for sequential circuits
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2834Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
AT90300165T 1989-01-09 1990-01-08 Verfahren und gerät zur schaltungsprüfung. ATE112061T1 (de)

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