DE60100007T2 - Verfahren zum Analysieren einer Test-Software - Google Patents

Description

• Die vorliegende Erfindung hat zur Aufgabe, ein Verfahren zur Analyse einer Test-Software anzugeben. Sie findet insbesondere Anwendung auf dem Gebiet von Test-Software für Prüfgeräte zum Testen von elektronischen Bauteilen, vor allem, um die Eigenschaften einer Software zu evaluieren, die als Werkzeug zur Überwachung der Qualität der Herstellung von elektronischen Bauteilen verwendet wird, wobei die Herstellung von Bauteilen im Allgemeinen in großen Serien erfolgt. Beim Stand der Technik sind Verfahren zur Analyse einer derartigen Test-Software unbekannt. Ziel der Erfindung ist es, ein Verfahren zur Analyse anzugeben, das es ermöglicht, ein Prüfgerät zu warten und Ergebnisse, die im Rahmen des Verfahrens zur Analyse anfallen, auszuwerten, wie zum Beispiel diejenigen, die durch die Test-Software erzeugt werden, um die Software zu optimieren.
• Beim Stand der Technik ist ein Prüfgerät bekannt, das ein Programm zum Prüfen der Test-Software abarbeitet, wobei das Prüfprogramm eine Abfolge von auszuführenden Befehlen aufweist, um ein zu prüfendes Bauteil zu testen. Diese Abfolge von Befehlen wie auch Kriterien zum Akzeptieren in Bezug auf die erhaltenen Ergebnisse bei der Umsetzung dieser Befehle sind in einem Datenspeicher des Prüfgerätes abgelegt. Ein Prüfgerät umfaßt im Allgemeinen einen Mikroprozessor zum Austauschen von Informationen mit dem Datenspeicher. Andererseits steuert der Mikroprozessor einen Multiplexer des Prüfgerätes. Der Multiplexer ermöglicht es, Anschlüsse des Prüfgerätes auf Potentiale zu legen, die an speziellen Punkten des zu prüfenden elektronischen Bauteils anliegen sollen. Andererseits wird dadurch außerdem ermöglicht, Potentiale zu identifizieren, die an den Anschlüssen des Bauteils entstehen. Der Mikroprozessor speichert die Potentiale an jedem der Anschlüsse ab, wodurch die Ergebnisse des Prüfprogramms festgelegt werden. Die Ergebnisse werden danach in einem Meßspeicher des Prüfgerätes abgespeichert.
• Um die Qualität der Ergebnisse, die von einem derartigen Prüfgerät erzeugt wurden, garantieren zu können, muß die Funktion jedes der elektrischen und elektronischen Bauteile, aus denen das Prüfgerät besteht, selbst sichergestellt sein. Beim Stand der Technik muß man somit häufig das Prüfgerät reparieren. Wenn beispielsweise eine große Zahl von zu prüfenden Bauteilen nacheinander zurückgewiesen werden und dies aus dem gleichen Grund geschieht, muß man daher das Prüfgerät anhalten und mit der Suche nach einem Fehler bei den elektronischen Bauteilen beginnen, aus denen es aufgebaut ist. Desgleichen, wenn der hypothetische Fall eintritt, daß das Prüfgerät das Prüfprogramm nicht mehr vollständig durchführen kann, muß man die mit diesem Gerät durchgeführten Tests unterbrechen und mit der Suche nach dem Fehler beginnen. Die Suche nach dem Fehler ist beim Stand der Technik aufwendig. Tatsächlich wird die Suche nach Fehlern beim Prüfgerät in einer logischen Reihenfolge durchgeführt, die von der Häufigkeit des Auftretens von Fehlern bei jedem Bauteil abhängt, das Teil des Prüfgerätes ist. Diese Reihenfolge der Suche nach dem Fehler ergibt sich empirisch in Abhängigkeit von Beobachtungen der Anwender des Prüfgerätes. Diese Suche nach dem Fehler wird unabhängig von der Kenntnis der Befehle durchgeführt, die in dem Prüfprogramm enthalten sind und die verschiedenen Bauteile des Gerätes ansprechen.
• Beim Stand der Technik ist aus US-A-5 355 320 ein System zum Überwachen eines Verfahrens zur Herstellung von elektronischen Bauteilen bekannt, wobei dieses System ein Programm aufweist, das eine Analyse des Systems vorsieht.
• In dem Stand der Technik ergeben sich bei der Verwendung eines Prüfgerätes, das ein Prüfprogramm abarbeitet, Probleme. Tatsächlich versagt ein solches Prüfgerät häufig und unerwartet, was bei einem Fehler, der unvermutet während einer Testreihe bei zu prüfenden Bauteillosen auftritt, störend sein kann. Andererseits, wenn das Prüfgerät aufgrund eines Fehlers angehalten wird, kann die Reparatur dieses Fehlers langwierig sein, wenn es kein Verfahren gibt, um den Grund des Fehlers schnell aufzuspüren, und keine Mittel, um ihn zu beheben. Tatsächlich erlaubt es die empirische Vorgehensweise nicht, die Lösung dieser Art von Problemen zu optimieren. Im Übrigen gibt es beim Stand der Technik keine präventiven Wartungseinrichtungen, wodurch das unvermutete Auftreten von Fehlern minimiert werden kann. Tatsächlich kann man erst in dem entsprechenden Moment auf das Problem reagieren. Es gibt keine Mittel, so etwas zu vermeiden.
• Es ist Aufgabe der Erfindung, die genannten Probleme zu beseitigen, indem ein Verfahren zur Analyse einer Test-Software vorgeschlagen wird, wobei das Verfahren zur Analyse eine Anzahl von Realisierungen einer gegebenen Operation eines Programms zum Prüfen der Software abspeichert. Ein Programm zum Testen kann Programme umfassen, wobei jedes Programm auf einen gegebenen Typ von elektronischen Bauteilen spezialisiert ist. Ein Prüfprogramm umfaßt Operationen oder Befehle, die durch das Prüfgerät ausgeführt werden. Man speichert daher für jedes Prüfprogramm die Anzahl der Ausführungen jeder der Operationen. Außerdem evaluiert das Verfahren zur Analyse zusätzlich die Häufigkeit, mit der ein elektronisches Bauteil des Prüfgerätes durch irgendeines der Prüfprogramme der Test-Software aufgerufen wird. So kann man eine Klassifizierung von elektronischen Bauteilen des Prüfgerätes in Abhängigkeit von der Häufigkeit vornehmen, mit der sie durch das Programm aufgerufen werden. Im Übrigen kann man die Operationen ermitteln, die durch jedes der Prüfprogramme am häufigsten durchgeführt werden. Gemäß dem erfindungsgemäßen Verfahren kann man die Nutzungsrate jedes der Bauteile des Prüfgerätes ermitteln und außerdem die Entwicklung dieser Nutzungsrate bei jedem der Bauteile zu Beginn einer Testserie bei einer Serie von zu prüfenden Bauteilen vorhersagen. So kann man einen vorzeitigen Austausch vorhersehen, sogar eine Häufigkeit des Austauschs bei jedem dieser Bauteile, um auf diese Art das Auftreten von Fehlern zu vermeiden.
• Darüber hinaus kann man aufgrund dieser durch das Analyseverfahren erzeugten Informationen außerdem eine Optimierung einer Abfolge von Operationen in jedem der Prüfprogramme vorsehen. Diese Optimierung zielt darauf, die Zahl der Ausführungen von häufigsten Operationen zu reduzieren. Andererseits wird man in Abhängigkeit davon, wie weit man aufgrund des Analyseverfahrens eine Dauer der Ausführung jeder Operation kennen kann, vorzugsweise versuchen, die Zahl der Ausführungen der längsten Operationen zu verringern. Die durch die Erfindung gebrachte Lösung ermöglicht es, eine präventive Wartung bei Prüfgeräten durchzuführen und außerdem die Software sowie sogar die durch die Software aufgerufenen Prüfprogramme zu optimieren.
• Die Erfindung betrifft daher ein Verfahren zum Analysieren einer Test-Software, wobei die Test-Software mit einem Testgerät zum Testen von elektronischen Bauteilen durchgeführt wird, die Software mehrere Testprogramme aufweist, jedes Programm mehrere Befehle enthält, die durch das Testgerät in Bezug auf die elektronischen Bauteile ausgeführt werden können, das durch die folgenden Schritte gekennzeichnet ist:
• Testen von elektronischen Bauteilen mit dem Testgerät mittels Programmen der Test-Software,
• Aufzeichnen der Anzahl jedes der Befehle während der Durchführung mit einer oder mehreren elektronischen Bauteilen bei einem oder dem Verbund von Programmen.
• Die Erfindung wird in der folgenden Beschreibung mit Bezug auf die beigefügten Figuren erläutert. Diese dienen nur zur Veranschaulichung und die Erfindung ist auf sie nicht beschränkt.
• Fig. 1 zeigt schematisch ein Analyseverfahren einer erfindungsgemäßen Software.
• Fig. 2 zeigt schematisch die Analyse von Daten mit dem erfindungsgemäßen Analyseverfahren.
• Fig. 1 zeigt ein Testgerät 1 zum Testen eines elektronischen Bauteils 2. Das elektronische Bauteil 2 ist beispielsweise eine Karte mit einem elektronischen Mikroschaltkreis, wie eine Chipkarte oder ein Speicherbauteil. Allgemein befindet sich dieses elektronische Bauteil 2 auf einer "Wafer" genannten Platte 3, wobei ein Wafer 3 allgemein mehrere elektronische Bauteile 2 aufweist, die zu testen sind. Diese Bauteile auf einem derartigen Wafer 3 können alle miteinander identisch sein oder sich voneinander unterscheiden. Bei einem bevorzugten Beispiel umfaßt ein Wafer 3 integrierte Schaltkreise, die alle miteinander identisch sind.
• Das Testgerät 1 umfaßt ein Modul 4 mit Anschlüssen, beispielsweise P1, P2, P3 und P4, um Kontakt mit speziellen Punkten 5 des zu prüfenden elektronischen Bauteils 2 herzustellen. Das Modul 4 kann mehrere Anschlüsse aufweisen, um mit mehreren speziellen Punkten des elektronischen Bauteils 2 Kontakt herzustellen. Die Anschlüsse sind in einer speziellen Geometrie angeordnet, die es erlaubt, jeden der Anschlüsse mit jeweils jedem speziellen Punkt des zu prüfenden elektronischen Bauteils 2 auf bekannte Art zu verbinden.
• Das Testgerät 1 umfaßt außerdem einen Mikroprozessor 6, um den Informationsfluß zu verwalten, sowie Busse für Daten, Befehle und Adressen, die an das Modul 4 ausgegeben werden und von diesem Modul 4 empfangen werden. Der Mikroprozessor 6 ruft in einer Software 7 ein Testprogramm 8 auf. Das Testprogramm 8, das aufgerufen wurde, hängt von den Eigenschaften des zu testenden Bauteils ab. Die Software 7 umfaßt mehrere derartiger Testprogramme 8.
• In einem bevorzugten Beispiel kann ein Anwender den Mikroprozessor 6 über eine Tastatur 11 steuern und von dem Mikroprozessor 6 ausgegebene Informationen über einen Schirm 12 empfangen. Zum Beispiel kann ein Anwender mit Hilfe der Tastatur 11 bewirken, daß der Mikroprozessor 6 das Programm 8 oder ein anderes Programm 13 in der Software 7 abarbeitet. Andererseits kann dieser Anwender eventuell sich auf dem Schirm 12 die Meßergebnisse anzeigen lassen, die in dem Programm 8 abgerufen wurden, oder die Ergebnisse des Analyseverfahrens des Programms 8, oder sogar die Ergebnisse des Analyseverfahrens der Software 7.
• Das Programm 8 umfaßt mehrere Operationen oder Befehlszeilen 14. Diese Operationen 14 werden durch das Modul 4 ausgeführt. Die Befehlszeilen 14 befinden sich kodiert beispielsweise bei C1, C2, C3, C4, C5, C6, C7. Eine gleiche Befehlszeile oder Operation 14 kann mehrfach in einem gleichen Programm wiederholt werden. Beispielsweise wird die Befehlszeile mit dem Code C 1, wie in Fig. 1 dargestellt, einmal in dem Programm 8 wiederholt, während die Befehlszeile 2 viermal in dem gleichen Programm 8 wiederholt wird.
• In einem Beispiel umfaßt das Programm 8 im Wesentlichen zwei Arten von Befehlen. Einerseits Befehle der Art "Anlegen eines Potentials", zum Beispiel S/P1/S1 mit Code C1, die zum Ziel haben, den Anschluß P1 mit einem Wert SI zu versorgen. Andererseits umfaßt das Programm 8 Befehle der Art "Messen", zum Beispiel M P2 mit Code C2, der zum Ziel hat, eine Messung eines Potentials am Anschluß P2 vorzunehmen. Das Programm 8 wird Zeile für Zeile durch den Mikroprozessor 6 abgearbeitet. Im Fall, daß eine Befehlszeile vom Typ S/P1/S1 auftritt, ruft der Mikroprozessor 6 in dem Datenspeicher 9 den Wert S1 auf. In dem Fall der Befehlszeile MP2 wird die Messung des Potentials am Anschluß P2 durch den Mikroprozessor 6 in dem Meßspeicher 10 abgespeichert.
• Fig. 2 ist eine Tabelle Tab1 mit jeweils einer Befehlszeile 14, bezeichnet durch ihren Code, in der man in einer Spalte 15 in der Tabelle die Häufigkeit dieses Befehls 14 bei der Durchführung eines Testprogramms in Bezug auf ein elektronisches Bauteil 2 findet. Unter der Annahme, daß die Software 7 verwendet wird, um mehrere elektronische Bauteile 2 zu testen, umfaßt die Tabelle Tab1 mehrere Spalten 15. Jede Spalte 15 umfaßt die Häufigkeit jedes Befehls für alle Befehle, die durch die Software 7 vorgesehen sind, und zwar bei jeder neuen Durchführung eines Programms 8 oder 13 der Software 7.
• Bei einer solchen Tabelle kann man außerdem in einer Spalte 16 eine Gesamtzahl der Häufigkeiten jedes der Befehle 14 auflisten. Eine Spalte 16 kann der Summe der Häufigkeiten entsprechen, mit der Durchführungen ein und desgleichen Programms 8 erfolgen. Man hat so mehrere Spalten 16 in der Tabelle Tab1, eine pro Programm 8 oder 13 der Software 7. Man kann darüber hinaus in einer anderen Spalte als der Spalte 16 eine Gesamtzahl ermitteln, die einer Gesamtzahl der Häufigkeit eines Befehls entspricht, abhängig von dem Verbund von Programmen der Software 7, d. h. eine Gesamtzahl der Häufigkeiten für jedes Programm der Software 7, wodurch dieser Befehl ausgeführt wird. Darüber hinaus kann man in einer Spalte 18 statistische Werte abspeichern, die berechnet sind aufgrund dieser verschlüsselten Daten. Beispielsweise kann man eine typische Abweichung und/oder eine Varianz dieser Daten berechnen.
• Auf die gleiche Art wie bei jedem Befehl 14 in der Tabelle Tab1 kann man eine zweite Tabelle Tab2 für jedes der Bauteile des Moduls 4 aufstellen, insbesondere für die, die durch Programme 8 der Software 7 durchgeführt werden. Das Modul 4 unterteilt sich in Elemente wie die Anschlüsse P1, P2, P3 und P4 und elektronische Mikroschaltkreise, um jeden der Anschlüsse zu steuern. Die Tabelle Tab2 umfaßt daher eine Zeile für jedes dieser Elemente. In der Tabelle Tab2 wird eine Verbindungsrate für jedes der Bauteile des Moduls 4 evaluiert. Bei dem Beispiel nach Fig. 1 ergibt sich so, daß bei der Ausführung des Programms 8 zum Testen eines Bauteils der Anschluß P 1 einmal verbunden wurde, während der Anschluß P2 fünfmal verbunden wurde.
• Die Verbindungsraten werden also in einer Spalte 17 abgespeichert. Für jede Durchführung eines Programms 8 speichert man in einer solchen Spalte 17 die Raten der Verbindungen von Bauteilen, die zustande gekommen sind, ab. Eine derartige Tabelle Tab2 kann so viele Spalten 17 umfassen, wie es Ausführungen von Programmen der Software 7 gibt. Man kann in einer Spalte 18 für jedes Bauteil die Gesamtraten der Verbindung auflisten, wobei die Gesamtzahl die Summe der Verbindungen aufgrund des Verbundes von Programmen für das Testen der Bauteile ergibt, oder mit Bezug auf die Durchführung überein gegebenes Intervall. So kann man auch eine Gesamtzahl der Raten der Verbindungen aufgrund der Software 7 für jedes der Bauteile abschätzen. Statistische Analysen können mit den Werten durchgeführt werden, beispielsweise kann man für jedes Bauteil eine typische Abweichung und/oder eine Varianz und/oder einen Mittelwert in einer Spalte 18 angeben.
• Man kann außerdem in der Tabelle Tab2 für jedes Bauteil eine Verbindungsrate angeben, die sich seit dem Einsatz des Testgerätes ergeben hat. Unter der Annahme, daß alle Bauteile eines Testgerätes nicht gleichzeitig erneuert werden, kann man vorsehen, daß die Zähler individuell für jedes Bauteil auf null zurückgesetzt werden.
• Bei jeder der beiden oben beschriebenen Tabellen kann man aus diesen Informationen einen Parameter zum Klassifizieren von Operationen eines Programms oder einer Software in Abhängigkeit von einer Auftrittshäufigkeit der Durchführung ableiten. Man kann zum Beispiel diese Befehle oder Operationen untereinander klassifizieren, insbesondere kann diese Klassifizierung in absteigender Reihenfolge in Abhängigkeit von ihrer gesamten Auftrittshäufigkeit bei der Ausführung erfolgen. Mit einer solchen Klassifizierung kann man so die Befehle, die durch ein Testprogramm am häufigsten aufgerufen werden, oder allgemeiner, die am häufigsten durch die Test-Software aufgerufen werden, vorziehen.
• Ausgehend von den Verbindungsraten jedes der Bauteile des Testgerätes kann man desgleichen eine Gesamtzahl der Verbindungen für jedes dieser Elemente bestimmen. Die Gesamtzahl kann entweder ermittelt werden für ein spezielles Programm oder für den Verbund von Programmen, die durch die Software 7 für das Testen aufgerufen werden. So kann man ermitteln, welches die Elemente des Testgerätes sind, die am häufigsten durch die Testprogramme verbunden werden. Man kann so eine Klassifizierung der Bauteile untereinander in absteigender Reihenfolge in Bezug auf die Gesamtzahl der Verbindungen aufstellen. Mit dieser Klassifizierung, insbesondere einer mit abfallender Reihenfolge der Gesamtzahl der Verbindungen nach Inbetriebnahme, läßt sich eine Vorzugsreihenfolge bei der Suche nach Fehlern festlegen. Tatsächlich sind die Elemente eines Testgerätes, die am häufigsten verbunden werden, diejenigen, die das höchste Risiko eines Ausfalls haben, sie sind durch den Verbund von durchgeführten Tests diejenigen, die am empfindlichsten geworden sind, und sie sind daher im Allgemeinen diejenigen, bei denen als ersten ein Fehler auftritt. Die Kenntnis dieser Reihenfolge erlaubt es daher, die Suche nach dem Fehler zu vereinfachen und zu beschleunigen.
• Andererseits kann man in derselben Tabelle eine Zahl von beobachteten und identifizierten Fehlern für jedes Bauteil abspeichern. Beispielsweise ist einer Spalte 19 der Tabelle Tab2 die Anzahl x1, x3 und x4 für die jeweiligen Bauteile P1, P3 und P4 angegeben. Diese Kenntnis ist empirisch und wird durch einen Anwender des Testgerätes angegeben. Man kennt eine statistische Lebensdauer von Bauteilen.
• So kann man auch für ein Element des Testgerätes die Zahl der beobachteten Fehler empirisch mit seiner Verbindungsrate seit Inbetriebnahme korrelieren. In Abhängigkeit von einer beobachteten Korrelation wird durch Sammeln von Daten, die nacheinander bei mehreren Bauteilen erhalten wurden, welche an ein und demselben Ort in dem Testgerät eingesetzt wurden, zwischen der Verbindungsrate und der Zahl der Fehler eine theoretische Lebensdauer dieses Bauteils in dem Testgerät festgelegt. Im Übrigen kann man unter der Annahme, daß man die Zahl der Verbindungen dieses Bauteils durch das Programm und die Software kennt, am Ende irgendeines Zeitabschnittes vorsehen, d. h. der theoretischen Lebensdauer, daß dieses Bauteil ausgewechselt werden muß. Um die Wartung eines Testgerätes zu verbessern, legt man vorzugsweise diese theoretische Lebensdauer niedriger als die statistische Lebensdauer fest, so daß diese Fehler nicht auftreten. Man realisiert so eine präventive Wartung. Man kann beispielsweise vorsehen, die theoretische Lebensdauer eines Bauteils jedesmal neu zu bestimmen, wenn die Zahl der beobachteten Fehler für dieses Bauteil zu groß wird.
• Desgleichen kann man unter der Annahme, daß man im Voraus die Art der Testreihen kennt, die durch das Testgerät durchgeführt werden, die Anzahl berechnen, mit der voraussichtlich jedes Bauteil verbunden werden wird, das heißt, man kann die Zunahme der Verbindungsrate jedes Bauteils berechnen. Man kann so eventuell vorsehen, daß ein Bauteil ausgetauscht wird, bevor eine Testreihe bei einem Verbund von zu testenden Bauteilen durchgeführt wird, um zu vermeiden, daß die Tests in der Mitte dieses Verbundes unterbrochen werden müssen.
• Andererseits kann man bei jeder Operation eines Testprogramms außerdem in einer Spalte 20 der Tabelle Tab1 die elementare Dauer abspeichern, die jedesmal beobachtet wird, wenn die Operation durchgeführt wird. Man hat so eine Spalte 20 für jede Durchführung der betrachteten Operation. Man kann danach statistische Berechnungen durchführen, um Mittelwerte, typische Abweichungen mit diesen Werten zu berechnen. Die Dauer ist für jede der Testoperationen spezifisch.
• Man kann darüber hinaus eine Gesamtdauer für die Durchführung eines Testprogramms bestimmen. Man kann die Berechnung für jede Durchführung eines Testprogramms in Bezug auf ein zu testendes Bauteil durchführen. So erhält man so viel Werte, wie es getestete Bauteile gibt. Man kann eine Gesamtzahl berechnen, einen Mittelwert, eine typische Abweichung oder andere statistische Werte aufgrund dieser Gesamtdauern der Durchführung eines Tests in Bezug auf ein zu testendes Bauteil.
• Etwas weniger formell kann man einfach vorsehen, die Dauern der Abfolgen der Tests abzuspeichern. Eine Abfolge umfaßt also mehrere aufeinanderfolgende Testoperationen. Um die Software zu verbessern, kann man jedes Programm optimieren, indem seine Ausführungsdauer bei einem Test in Bezug auf ein Bauteil verringert wird. Dazu ordnet man zwei Hauptachsen für die Suche nach der Verringerung der elementaren Dauer eines Programms an. Die erste Achse besteht darin, die Zahl der Operationen zu verringern, die als diejenigen identifiziert wurden, die am längsten dauern, siehe Tabelle Tab1. Eine zweite Achse für die Suche nach der Verringerung kann darin bestehen, die Operationen zu verringern, die am häufigsten aufgerufen werden, siehe ebenfalls die Daten in Tab1. Tatsächlich kann man daran denken, daß eine Operation, die häufig aufgerufen wird, für unterschiedliche Testfunktionen verwendet wird und daher nur einmal umgesetzt werden muß. Man muß daher die durch diese Operation erhaltenen Ergebnisse für mehrere verschiedene Tests nutzen.

Claims (8)

1. Verfahren zum Analysieren einer Test-Software (7), wobei die Test-Software mit einem Testgerät (1) zum Testen von elektronischen Bauteilen (2) durchgeführt wird, die Software mehrere Testprogramme (8, 13) aufweist, jedes Programm mehrere Befehle (14) enthält, die durch das Testgerät in Bezug auf die elektronischen Bauteile ausgeführt werden können,

gekennzeichnet durch die folgenden Schritte:

Testen von elektronischen Bauteilen mit dem Testgerät (1) mittels Programmen (8, 13) der Test-Software (7),

Aufzeichnen der Anzahl (15, 16) jedes der Befehle (14) während der Durchführung mit einer oder mehreren elektronischen Bauteilen bei einem oder dem Verbund von Programmen.

2. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch Klassifizieren der Testbefehle in Abhängigkeit von einer statistischen Durchführungsanzahl.

3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch Ableiten oder Aufzeichnen eines Belastungsgrades (17) von Bauteilen des Testgerätes.

4. Verfahren nach Anspruch 3, gekennzeichnet durch Klassifizieren von Bauteilen in Abhängigkeit von einem statistischen Belastungsgrad.

5. Verfahren nach Anspruch 3 oder 4, gekennzeichnet durch Bestimmen einer Klassifizierung von Bauteilen des Testgerätes in Abhängigkeit von ihrem Belastungsgrad, um eine optimierte Suchreihenfolge festzulegen, die bei Ausfall des Gerätes durchzuführen ist.

6. Verfahren nach einem der Ansprüche 3 bis 5, gekennzeichnet durch

Aufzeichnen der Anzahl (19) von Ausfällen von jedem der Bauteile des Testgerätes,

Bestimmen einer statistischen Lebensdauer dieser Bauteile, indem bei jedem Element der Belastungsgrad und die Anzahl der Ausfälle korreliert wird.

7. Verfahren nach Anspruch 6, gekennzeichnet durch präventives Auswechseln der Bauteile des Testgerätes mit einer Rate, die kleiner als deren statistische Lebensdauer ist.

8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, gekennzeichnet durch

Aufzeichnen der Durchführungsdauer der Testprogrammsequenzen,

Optimieren der Software durch Verringern einer Dauer der Durchführung eines Testprogramms für elektronische Bauteile, wobei eine Verringerung dieser Dauer erreicht wird, indem die Anzahl der Durchführungen der längsten Befehle verringert wird und die Anzahl der Durchführungen der häufigsten Befehle verringert wird.