AT295187B - Einrichtung zur umwandlung eines gewoehnlichen mikroskops in ein interferenz-polarisationsmikroskop - Google Patents

Description

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  Einrichtung zur Umwandlung eines gewöhnlichen Mikroskops in ein Interferenz-Polarisationsmikroskop 
 EMI1.1 
 

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 EMI2.1 
 

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 :- 21 und 22-zur Kompensierung der Verlängerung des Strahlenganges ausgestattet. 



   Die freien Öffnungen in der   Scheibe-8-- und   in der Fassung des Analysators gestatten einen schnellen Übergang von den Interferenzmethoden zur Hellfeldmethode. 



    PATENTANSPRÜCHE :    
1. Einrichtung zur Umwandlung eines gewöhnlichen Mikroskops in ein Interferenz-Polarisationsmikroskop durch Anbringen von Zusatzteilen,   gekennzeichnet durch   einen Interferenzkopf, der nach Art eines bekannten Zusatzgerätes zwischen Objektiv und Okular einsetzbar ist, das eine Revolverscheibe mit optischen Zusatzteilen und an der Eintritts-bzw.

   Austrittsstelle des Strahlenganges Linsen (21,22) zur Kompensierung der Längendifferenz des Strahlenganges trägt, wobei im Interferenzkopf als optische Zusatzteile verschiedene doppelbrechende Prismensysteme (5) einer bekannten   Polarisations-Interferenzanordnung   an der Revolverscheibe um eine zu ihrer optischen Achse senkrechte Achse drehbar und einstellbar gelagert sind und die Revolverscheibe (8) in Führungen (14,18) senkrecht und parallel zur optischen Achse des Mikroskops verstellbar ist, sowie durch einen an Stelle des üblichen Kondensors einsetzbaren Kondensor, der die kondensorseitigen Teile der   Polarisations-Interferenzanordnung   trägt. 
 EMI3.1 

Claims (1)

1. Kondensor (2) eine Führung für den Einsatz eines drehbaren Polarisators (3) besitzt und der im Interferenzkopf befindliche Analysator ebenfalls drehbar gelagert ist. EMI3.2 Kondensor (2 oder 4) die Spaltblende oder einen Kompensator mit doppelbrechenden Prismen einer bekannten Polarisations-Interferenzanordnung enthält.

   Druckschriften, die das Patentamt zur Abgrenzung des Anmeldungsgegenstandes vom Stand der Technik in Betracht gezogen hat : EMI3.3 <tb> <tb> DT-AS <SEP> 1 <SEP> 037 <SEP> 174 <SEP> OE-PS <SEP> 201 <SEP> 316 <SEP> <tb> DT-PS <SEP> 822 <SEP> 023 <SEP> US-PS <SEP> 2 <SEP> 785 <SEP> 601 <tb> DT-PS <SEP> 844 <SEP> 080 <SEP> ABC-der <SEP> Optik, <tb> OE-PS <SEP> 180 <SEP> 744 <SEP> Stichwort <SEP> :"Interferenzmikroskopie" <tb> OE-PS <SEP> 196 <SEP> 639 <tb>