AT237940B - Verfahren und Einrichtung zur Prüfung von Banknoten - Google Patents

Description

   <Desc/Clms Page number 1> 
 



  Verfahren und Einrichtung zur Prüfung von Banknoten 
 EMI1.1 
 

 <Desc/Clms Page number 2> 

 so dassprüfenden Note vom Original gebildet wird und dass die zu prüfende Note   ausgeschieden w & d, wenn nach   Abschluss der Prüfung diese Gesamtsumme einen Toleranzwert überschreitet, wobei vorzugsweise die In-   tensitätsunterschiede,   insbesondere Helligkeitsunterschiede in elektrische Impulse umgeformt werden, deren Dauer und bzw. oder deren Zahl summiert wird. 



   Ein einfacher Aufbau sowie geringer Aufwand für eine Einrichtung zur   DuhfShmng des erfindungs-   gemässen Verfahrens werden vorteilhaft dadurch   erreicht, dass   zur Aufnahme de ? zu prüfenden Note und des Originals der Note je ein formattreues Fach vorgesehen ist, dass jeder der beiden Noten ein Sender elektromagnetischer   Wellenein Abtastorgan   und eine Messvorrichtung   zugeordnet : sind,   und dass eine Fördervorrichtung zur synchronen Förderung beider Noten in bezug auf Abtastorgane und Messvorrichtungen vorgesehen ist. Bei der einfachsten Ausführung sind die Fächer transparent und jeder der beiden Noten ist 
 EMI2.1 
 se beiden Fächer 1 und 2 sind in Schienen 3 bzw. 4 geführt.

   Zur   Durchleuchümg je   eines    beider Fächer   sind Lämpchen 5 und 6 vorgesehen, die mit je einem   Reäektor 5'bzw. 6* versellen   sind. Vorzugsweise auf der diesen   Lämpchen   gegenüberliegenden Seite des betreffenden Faches   1   oder 2 ist ein Abtastorgan angeordnet, das vorteilhaft jeweils aus einer rotierenden, mit wenigstens einem Loch versehenen   Scheibe n bzw.   8 besteht. Als photoelektrische Messeinrichtungen sind Phototransistoren 9 und 10 vorgesehen, die jeweils einen Reflektor 9' bzw, 10' aufweisen und in dessen Brennpunit angeordnet sind. 



   Im folgenden wird der Prüfungsvorgang beschrieben: Die zu prüfende Note wird bei der Eingabe 11 in das transparente und formattreue Eingabefach   1   eingeschoben. Die zum Vergleich dienende Originalnote verbleibt im ähnlich ausgebildeten Depotfach 2. Beide Fächer sind mit einem Kunststoffband 12, das einen möglichst geringen Dehnungsfaktor aufweist, verbunden und werden durch dieses an den Lämpchen 5 bzw. 6 synchron vorbeibewegt. Die beiden Noten sind längskantenverltehrt eingelegt, um einen gegensinnigen Vorbeilauf zu gestatten.

   Der Lichtweg verläuft jeweils vom Lämpchen 5 bzw. 6 durch das entsprechende Fach 1 bzw. 2 samt Note und durch ein Loch der entsprechenden Scheibe 7 bzw. 8 zum zugehörigen Phototransistor 9 bzw. 10, wobei die beiden Noten durch die Rotation der Scheiben sowie den Vorschub der Fächer punktweise nach etwa bogenförmigen Zeilen von den Lichtstrahlen abgetastet werden. Die Scheiben 7 und 8 rotieren synchron und sind vorteilhaft auf eines gemeinsamen,   abgetrie-   benen Welle 13 befestigt.

   Vorzugsweise ist jede der Scheiben 7,8 mit zwei oder mehreren Löchern versehen, deren Abstand wenigstens der   Banknotenbreite entspricht,   so dass, wenn der durch das eine vorzugsweise-als Bohrung hergestellte Loch durchtretende Lichtstrahl die   Banknote verlässt,   der durch das nächste Loch tretende Lichtstrahl mit dem Abtasten beginnt. 



   Vorteilhaft sind die Phototransistoren 9,10 derart geschaltet, dass jeder eine Impulskette liefert, die der Durchleuchtung der zugehörigen Note entspricht. Nach   jeder Zeile wesden ;. Normalfehler,   das 
 EMI2.2 
 
Verkehrs abnutzung, festgestelltPrüfvorganges die Note ausgeschieden bzw. storniert wird. Werden hingegen im Wege der Prüfung grobe Beschädigungen, fehlende Teile oder abnorme Verschmutzungen   (Tinte od. dgl,) registriert, wird   die Prüfung unterbrochen und die Note sofort storniert.

   Liegen die Feder dagegen innerhalb des   zulässigen   Toleranzwertes, so gelangt die geprüfte Note in einen im unteren Teil des Gehäuses angeordneten Sammelraum, während der Ausgang der Transistorschaltung das positive   Ptuiesgebnis   an eine   Zähleiinica-     tung,   an einen   Münzausgabe- oder   Warenausgabeautomaten od. dgl. weitergibt. 



   Bei Umstellung der Prüfeinrichtung auf eine andere Banknote ist lediglich der Austausch der Originalnote und im Falle verschiedenen Notenformates auch der Austausch der beiden Fächer 1 und 2 selbst, gegebenenfalls unter Überprüfung des Lochabstandes der Scheiben 7 und 8, erforderlich. 

**WARNUNG** Ende DESC Feld kannt Anfang CLMS uberlappen**.

Claims (1)

1. PATENTANSPRÜCHE : 1. Verfahren zur. Prüfung von Banknoten od. dgl., wobei die zu prüfende Note von elektromagneti- schen Wellen, insbesondere Lichtstrahlen, durchsetzt wird, dadurch gekennzeichnet, dass die zu prüfende Note sowie ein Original der Note in bezug auf den Vergleich synchron gefördert und von elektromagnetischen Wellen durchsetzt werden und dass die Intensitäten der durch einander entsprechende, vorzugsweise nach bogenförmigen Zeilen geordnete Punkte beider Noten durchtretende Wellen, insbesondere Lichtstrahlen, gemessen und miteinander verglichen werden. <Desc/Clms Page number 3>

   2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die zu prüfende Note und das Original synchron an Quellen elektromagnetischer Wellen, insbesondere Lichtquellen vorbeigeführt werden.

   3. Verfahren nach Anspruch l oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Summe der Unterschiede innerhalb jeder Zeile gebildet und festgehalten wird.

   4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die zu prüfende Note, wenn die Summe der Unterschiede innerhalb einer Zeile einen Toleranzwert überschreitet, ausgeschieden wird.

   5. Verfahren nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Gesamtsumme der Unterschiede der zu prüfenden Note vom Original gebildet wird und dass die zu prüfende Note ausgeschieden wird, wenn nach Abschluss der Prüfung diese Gesamtsumme einen Toleranzwert überschreitet.

   6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Intensitätsunterschiede, insbesondere Helligkeitsunterschiede in elektrische Impulse umgeformt werden, deren Dauer und bzw. oder deren Zahl summiert wird.

   7. Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der vorhergehenden Ansprüche unter Verwendung von Aufnahme-, Förder- und Messeinrichtungen sowie Sendern elektromagnetischer Wellen, dadurch gekennzeichnet, dass zur Aufnahme der zu prüfenden Note und des Originals der Note je ein formattreues Fach vorgesehen ist, dass jeder der beiden Noten ein Sender elektromagnetischer Wellen, ein Abtastorgan und eine Messvorrichtung zugeordnet sind und dass eine Fördervorrichtung zur synchronen Förderung beider Noten in bezug auf Abtastorgane und Messvorrichtungen vorgesehen ist.

   8. Einrichtung nach Anspruch 7, mit Lichtquellen und photoelektrischen Messeinrichtungen, dadurch gekennzeichnet, dass die Fächer transparent sind und dass jeder der beiden Noten eine Lichtquelle und eine photoelektrische Messeinrichtung, insbesondere Phototransistor, zugeordnet sind.

   9. Einrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Fächer-an wenigstens einem Band, insbesondere aus Kunststoff, angeordnet sind, das einen geringen Dehnungsfaktor aufweist.

   10. Einrichtung nach Anspruch 8 oder 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Abtastorgane aus je einer rotierenden, mit wenigstens einem Loch versehenen Scheibe. bestehen.

   11. Einrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass die beiden Scheiben synchron rotieren und vorzugsweise auf einer gemeinsamen Welle angeordnet sind.

   12. Einrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Abtastorgane jeweils zwischen dem Fach und der entsprechenden photoelektrischen Messeinrichtung angeordnet sind.

   13. Einrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Messeinrichi. tungen, insbesondere Phototransistoren, mit Reflektoren versehen und in deren Brennpunkten angeordnet sind.

   14. Einrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass die beiden Fächer in bezug auf die Abtastorgane gegensinnig bewegt sind.

   15. Einrichtung nach einem der Ansprüche 10 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass jede Scheibe mit zwei oder mehreren Löchern, insbesondere Bohrungen, versehen ist, deren Mindestabstand der Banknotenbreite mindestens gleich ist.