AT222698B - Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung - Google Patents

Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung

Info

Publication number
AT222698B
AT222698B AT639960A AT639960A AT222698B AT 222698 B AT222698 B AT 222698B AT 639960 A AT639960 A AT 639960A AT 639960 A AT639960 A AT 639960A AT 222698 B AT222698 B AT 222698B
Authority
AT
Austria
Prior art keywords
pill
alloyed
single crystal
metal
aluminum
Prior art date
Application number
AT639960A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Siemens Ag
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens Ag filed Critical Siemens Ag
Application granted granted Critical
Publication of AT222698B publication Critical patent/AT222698B/de

Links

Landscapes

  • Bipolar Transistors (AREA)

Description


   <Desc/Clms Page number 1> 
 



  Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung 
 EMI1.1 
 

 <Desc/Clms Page number 2> 

    sistorenherstellungDas Aluminiumplättchen   wird also,   z. B.   durch Eintauchen in flüssiges Indium von etwa   3500C   unter Ver- wendung einer alkoholischen Lösung von wasserfreiem Zinn-II-Chlorid als Flussmittel mit einem Indium- überzug versehen. 



   Das Verfahren kann so vereinfacht   werden, dass der zweite   Arbeitsgang entfällt, wenn man die früher ! beschriebene Aufkippmethode verwendet. Dieses Verfahren wird zur Herstellung von Halbleitervorrich- tungen mit legierten flächenhaften pn-Übergängen verwendet. Dabei wird vorgeschlagen, dass der Halb- leiterkörper in einer festen Legierungsform angebracht wird, welche einen oder mehrere Kanäle, Rinnen oder sonstigeFührungen aufweist, welche zu den Legieroberflächenbereichen des Halbleiterkörpers   führen,   wobei diese Führungen mit Legiermaterial, z. B. in Form von Pillen, beschickt werden und dieses Legier- material mit der entsprechenden Legierungstemperatur durch Kippen der Legierungsform aus einer für die
Aufnahme vorgesehenen Mulde mit dem Halbleiterkörper in Berührung gebracht wird. 



   Die aus einer Aluminiumfolie ausgestanzten Scheibchen 3 werden, wie aus der Anordnung nach Fig. 2 hervorgeht, in die   Benetzungs- bzw.   Kippform 6, insbesondere unter die Indiumemitterpille 2, gelegt.
Beim Aufheizen in Wasserstoffatmosphäre auf die zum Reduzieren der Oberfläche dienende Temperatur von etwa 600 bis   640 C   umhüllt das geschmolzene Indium der Emitterpille das Scheibchen und löst es mindestens zum Teil auf, während der Rest durch die umgebende Indiummenge vor der Oxydation ge- schützt bleibt. Nach dem Abkühlen auf etwa   300-40 0 C,   wobei die Form in der Wasserstoffatmosphäre verbleibt, kann das Aluminium-Indium-Gemisch auf das Germaniumscheibchen aufgekippt werden. Man erhält eine einwandfreie Benetzung.

   Es hat sich dabei als zweckmässig erwiesen, dass die für den Kipp- vorgang benutzte Form aus Graphit besteht. Nun kann durch Erhöhung der Temperatur die mit dem Alu- minium versetzte Metallpille bis zu der gewünschten Tiefe in den Halbleiterkristall einlegiert werden. 



   Das benetzte, aber noch nicht fertig legierte System kann aber auch aus der Form herausgenommen wer- den, einige Tage gelagert und in einem andem Ofen,   z. B.   einem Durchlaufofen, auf die gewünschte
Eindringtiefe legiert werden. Da bei dem letzten Prozess kein Teil anlegiert zu werden braucht, kann der
Legiervorgang in einer Stickstoffatmosphäre, gegebenenfalls unter Zugabe von Sauerstoff, stattfinden. In dieser nicht   reduzierenden Atmosphäre   kann nämlich das Indium des Emitters und gegebenenfalls auch das des Kollektors nicht verlaufen, da es durch eine bei Lagerung an Luft oder durch Sauerstoffreste im Stick- stoff bedingte Oxydhaut zusammengehalten wird, so dass keine Formen zur Begrenzung notwendig sind. 



   Nach dem zuletzt beschriebenen Verfahren des Zusammenlegierens einer Indiumpille mit einer mit
Indium   überzogenen Aluminiumscheibe   können mit Aluminium versetzte Indiumpillen hergestellt werden, die auch noch nach Lagern an Luft beim Legieren in Wasserstoffatmosphäre eine einwandfreie Benetzung des Germaniums ergeben. 



   Es zeigt sich, dass eine Zugabe von etwa 0,   70/0   Aluminium zum Indium ausreichend ist, um die ge- wünschte Verbesserung der Emitterergiebigkeit bzw. des Emitterwirkungsgrades zu erhalten. Mit dem er- findungsgemässen Verfahren, bei dem das Aluminium feinverteilt im Indium vorliegt, und durch das lang- same Legieren im Durchlaufofen   (dasEinlegieren   auf die gewünschte Eindringtiefe ist ein im Ausführungs- beispiel etwa   fünfstündiger Vorgang,   um planparallele Übergänge zu erhalten) kann ein sehr hoher Anteil von Aluminium in die Rekristallisationsschicht eingebaut werden. 



   Selbstverständlich kann in Abänderung des oben beschriebenen Verfahrens statt Indium zur Benetzung des Germaniums und/oder des Aluminiums auch Blei oder Zinn verwendet werden. 



   Um durchgehend ebene pn-Übergänge zu erhalten, ist es ausserdem günstig, wenn die Oberfläche der zur Legierung gelangenden Germaniumscheibchen sehr genau in der 111-Kristallebene liegt. 



   In Fig. 3 ist ein Transistor dargestellt, bei dem in das Germaniumscheibchen 8, das einen spezifi- schen Widerstand von etwa 3 bis 8 Ohm. cm aufweist, der Emitter 9 nach dem erfindungsgemässen Ver- fahren einlegiert ist. Bei diesem Ausführungsbeispiel besteht die Emitterpille aus Indium, in dem etwa
0,   5-1 Gew.-%   Aluminium gelöst sind. Der Anteil des Aluminiums kann für bestimmte Anwendungsgebiete auch entsprechend höher oder tiefer liegen. Auch die Kollektorelektrode 10 kann nach dem erfindungsgemässen Verfahren einlegiert sein. Der Kollektorübergang kann aber auch in bekannter Weise durch Einlegieren einer   Indiumpille   In den Halbleiterkörper hergestellt werden. Die Basiselektrode 11 umgibt die Emitterelektrode   z. B.   ringförmig. 



   Auch Gleichrichter oderEmitter von Vierschichtdioden können nach dem erfindungsgemässen Verfahren hergestellt werden. Allgemein lässt sich das Verfahren bei allen legierten Bauelementen, bei denen eine hochdotierte Rekristallisationszone oder eine grosse Eindringtiefe erwünscht ist, mit Vorteil anwenden. 



   Das erfindungsgemässe Verfahren ist ausserdem nicht auf Germanium beschränkt, sondern kann in analoger Weise auch bei andern Halbleiterkörpem, wie Silizium oder Verbindungen von Elementen der III. und V. Gruppe des periodischen Systems angewendet werden.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRÜCHE : 1. Verfahren zum Herstellen einer Halbleiteranordnung, insbesondere eines Transistors, mit einem einseitig hochdotierten pn-Übergang in einem vorzugsweise aus Germanium bestehenden Einkristall, bei dem Aluminium in eine aus einem den Einkristall benetzenden Metall, wie z. B. Indium, Blei oder Zinn bestehende Pille und den Einkristall einlegiert wird, dadurch gekennzeichnet, dass die aus dem benetzenden Metall bestehende Pille (2) in den Einkristall (1) einlegiert, ein mit dem benetzenden Metall überzogenes Aluminiumplättchen (3) auf die Metallpille (2) aufgelegt und in die Metallpille (2) und dann in den Einkristall (1) in an sich bekannterweise in einer reduzierendenGasatmosphäre einlegiert wird (Fig. l).
    2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das mit dem benetzenden Metall überzogene Aluminiumplättchen (3) zuerst mit der Metallpille (2) legiert und diese mit dem Aluminium versetzte Metallpille dann in den Einkristall (1) einlegiert wird (Fig. 2).
    3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Einkristall (1) durch die mit dem Aluminium versetzte Metallpille in einer reduzierenden Atmosphäre benetzt wird und dann in einer nicht reduzierenden Atmosphäre, insbesondere einer Stickstoffatmosphäre, gegebenenfalls unter Zusatz von Sauerstoff, in den Einkristall einlegiert wird.
    4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass in einer aus Indium bestehenden Emitterpille (9) etwa 0, 1-5 Gew.- o Aluminium gelöst werden.
AT639960A 1959-11-13 1960-08-22 Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung AT222698B (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE222698X 1959-11-13

Publications (1)

Publication Number Publication Date
AT222698B true AT222698B (de) 1962-08-10

Family

ID=5846682

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
AT639960A AT222698B (de) 1959-11-13 1960-08-22 Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung

Country Status (1)

Country Link
AT (1) AT222698B (de)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2654063A1 (de) Verfahren zum herstellen eines bandes aus polykristallinem halbleitermaterial
DE1089074B (de) Verfahren zur Erzeugung eines hochdotierten p-Bereiches und des zugehoerigen Kontaktes einer Halbleiteranordnung mittels Einlegieren
AT222698B (de) Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung
DE1118360B (de) Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines einlegierten Kontaktes an einem Siliziumkoerper
DE1018558B (de) Verfahren zur Herstellung von Richtleitern, Transistoren u. dgl. aus einem Halbleiter
DE1439429A1 (de) Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterstromtores vom pnpn-Typ
DE1444521A1 (de) Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung
DE1044977B (de) Legierungsverfahren zur Herstellung von p-n-UEbergaengen in Halbleitern
DE1012696B (de) Halbleiteruebergang zwischen Zonen verschiedenen Leitungstypus und Verfahren zur Herstellung des UEberganges
DE1268117B (de) Verfahren zum Eindiffundieren von Bor in einen Halbleiterkoerper
US3060018A (en) Gold base alloy
DE1160192B (de) Verfahren zur Erzeugung von Schwefel enthaltendem Gold
DE1113520B (de) Verfahren zur Herstellung von Halbleiteranordnungen, insbesondere fuer Starkstromzwecke, mit mehreren verhaeltnismaessig grossflaechigen Schichten unterschiedlichen Leitfaehigkeitstyps
AT215484B (de) Verfahren zum Herstellen und Kontaktieren einer Halbleitervorrichtung und nach diesem Verfahren hergestellte Halbleitervorrichtung
AT226779B (de) Verfahren zur Herstellung eines Transistors, insbesondere für Schaltzwecke
DE2007752A1 (de) Verfahren zum Herstellen von diffun dierten Halbleiterbauelementen unter Ver Wendung von festen Dotierstoffquellen
DE1064153B (de) Verfahren zur Herstellung eines einseitig hochdotierten pn-UEbergangs fuer Emitterzonen durch Einlegieren von Aluminium und einem weiteren benetzenden Metall in einen Germaniumeinkristall
AT239856B (de) Verfahren zum Herstellen eines, eine Querschnittsverminderung aufweisenden Halbleiterkörpers für Halbleiteranordnungen
AT214485B (de) Verfahren zur Herstellung von pn-Übergängen in einem Grundkörper aus vorwiegend einkristallinem Halbleitermaterial
AT213960B (de) Verfahren zur Herstellung von Störstellenhalbleitern nach der Dampfdiffusionsmethode
AT226327B (de) Verfahren zum Anbringen eines elektrischen Anschlusses an einer Halbleiteranordnung
US3192081A (en) Method of fusing material and the like
DE1110321B (de) Legierungsverfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung mit einem Siliziumkoerper
DE2023110C3 (de) Verfahren zur Herstellung einer Siliziumdiode mit hyperabruptem pn-übergang
AT233631B (de) Verfahren zum Herstellen von Halbleitervorrichtungen