CN111164650B - 用于确定传感器位置的系统和方法 - Google Patents
用于确定传感器位置的系统和方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN111164650B CN111164650B CN201880065295.7A CN201880065295A CN111164650B CN 111164650 B CN111164650 B CN 111164650B CN 201880065295 A CN201880065295 A CN 201880065295A CN 111164650 B CN111164650 B CN 111164650B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- sensor
- calibration target
- images
- segment
- reflective
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G08—SIGNALLING
- G08B—SIGNALLING OR CALLING SYSTEMS; ORDER TELEGRAPHS; ALARM SYSTEMS
- G08B21/00—Alarms responsive to a single specified undesired or abnormal condition and not otherwise provided for
- G08B21/02—Alarms for ensuring the safety of persons
- G08B21/04—Alarms for ensuring the safety of persons responsive to non-activity, e.g. of elderly persons
- G08B21/0438—Sensor means for detecting
- G08B21/0476—Cameras to detect unsafe condition, e.g. video cameras
-
- G—PHYSICS
- G08—SIGNALLING
- G08B—SIGNALLING OR CALLING SYSTEMS; ORDER TELEGRAPHS; ALARM SYSTEMS
- G08B13/00—Burglar, theft or intruder alarms
- G08B13/18—Actuation by interference with heat, light, or radiation of shorter wavelength; Actuation by intruding sources of heat, light, or radiation of shorter wavelength
- G08B13/189—Actuation by interference with heat, light, or radiation of shorter wavelength; Actuation by intruding sources of heat, light, or radiation of shorter wavelength using passive radiation detection systems
- G08B13/194—Actuation by interference with heat, light, or radiation of shorter wavelength; Actuation by intruding sources of heat, light, or radiation of shorter wavelength using passive radiation detection systems using image scanning and comparing systems
- G08B13/196—Actuation by interference with heat, light, or radiation of shorter wavelength; Actuation by intruding sources of heat, light, or radiation of shorter wavelength using passive radiation detection systems using image scanning and comparing systems using television cameras
- G08B13/19639—Details of the system layout
- G08B13/19645—Multiple cameras, each having view on one of a plurality of scenes, e.g. multiple cameras for multi-room surveillance or for tracking an object by view hand-over
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/80—Analysis of captured images to determine intrinsic or extrinsic camera parameters, i.e. camera calibration
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/30—Determination of transform parameters for the alignment of images, i.e. image registration
-
- G—PHYSICS
- G08—SIGNALLING
- G08B—SIGNALLING OR CALLING SYSTEMS; ORDER TELEGRAPHS; ALARM SYSTEMS
- G08B21/00—Alarms responsive to a single specified undesired or abnormal condition and not otherwise provided for
- G08B21/02—Alarms for ensuring the safety of persons
- G08B21/0202—Child monitoring systems using a transmitter-receiver system carried by the parent and the child
- G08B21/0261—System arrangements wherein the object is to detect trespassing over a fixed physical boundary, e.g. the end of a garden
-
- G—PHYSICS
- G08—SIGNALLING
- G08B—SIGNALLING OR CALLING SYSTEMS; ORDER TELEGRAPHS; ALARM SYSTEMS
- G08B21/00—Alarms responsive to a single specified undesired or abnormal condition and not otherwise provided for
- G08B21/18—Status alarms
- G08B21/22—Status alarms responsive to presence or absence of persons
-
- G—PHYSICS
- G08—SIGNALLING
- G08B—SIGNALLING OR CALLING SYSTEMS; ORDER TELEGRAPHS; ALARM SYSTEMS
- G08B29/00—Checking or monitoring of signalling or alarm systems; Prevention or correction of operating errors, e.g. preventing unauthorised operation
- G08B29/18—Prevention or correction of operating errors
- G08B29/20—Calibration, including self-calibrating arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N7/00—Television systems
- H04N7/18—Closed-circuit television [CCTV] systems, i.e. systems in which the video signal is not broadcast
- H04N7/188—Capturing isolated or intermittent images triggered by the occurrence of a predetermined event, e.g. an object reaching a predetermined position
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30244—Camera pose
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Business, Economics & Management (AREA)
- Emergency Management (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Computer Security & Cryptography (AREA)
- Gerontology & Geriatric Medicine (AREA)
- Child & Adolescent Psychology (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Alarm Systems (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Motorcycle And Bicycle Frame (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
在示例中,一种装置包括第一传感器、第二传感器和集成管理系统。第一传感器用于捕获放置在被监视场地中的校准目标的第一图像集合,其中第一传感器在被监视场地中具有第一位置,且其中校准目标的物理外观在从被监视场地内的不同位置观察时变化。第二传感器用于捕获校准目标的第二图像集合,其中第二传感器在被监视场地中具有不同于第一位置的第二位置。集成管理系统用于基于第一图像集合、第二图像集合以及校准目标的物理外观的知识来确定第一传感器和第二传感器的位置关系。
Description
相关申请的交叉引用
本申请要求于2017年10月8日提交的美国临时专利申请序列号62/569,545的优先权,其通过引用以其整体并入本文中。
背景技术
许多工作场所和其他位置可以包括限制人类访问的区域。例如,施工场地或工厂可包括一个或多个区域,在其中限制访问以防止个人遇到潜在危险或不安全状况。政府建筑可以包括一个或多个区域,在其中,除了具有特定安全许可的那些之外,对于所有个人限制访问。
为了连续地监视受限制区域,可以部署安全传感器系统。常规的安全传感器系统包括安装在固定位置中以捕获被监视区域及其周围环境的图像的一个或多个相机。如果图像指示已在被监视区域中检测到未授权的个人,则可触发警报。
发明内容
在示例中,一种装置包括第一传感器、第二传感器和集成管理系统。第一传感器用于捕获放置在被监视场地中的校准目标的第一图像集合,其中第一传感器在被监视场地中具有第一位置,且其中校准目标的物理外观在从被监视场地内的不同位置观察时变化。第二传感器用于捕获校准目标的第二图像集合,其中第二传感器在被监视场地中具有不同于第一位置的第二位置。集成管理系统用于基于第一图像集合、第二图像集合以及校准目标的物理外观的知识来确定第一传感器和第二传感器的位置关系。
在另一示例中,一种方法包括:获取校准目标的第一图像集合,其中第一图像集合由在被监视场地中具有第一位置的第一传感器捕获,且其中校准目标的物理外观在从被监视场地内的不同位置观察时变化;获取校准目标的第二图像集合,其中第二图像集合由在被监视场地中具有第二位置的第二传感器捕获;并且基于第一图像集合、第二图像集合以及校准目标的物理外观的知识来识别第一传感器和第二传感器的位置关系。
在另一示例中,一种非暂时性机器可读存储介质被编码有由处理器可执行的指令,其中,当被执行时,指令使得处理器执行操作。所述操作包括:获取校准目标的第一图像集合,其中第一图像集合由在被监视场地中具有第一位置的第一传感器捕获,且其中校准目标的物理外观在从被监视场地内的不同位置观察时变化;获取校准目标的第二图像集合,其中第二图像集合由在被监视场地中具有第二位置的第二传感器捕获;以及基于第一图像集合、第二图像集合以及校准目标的物理外观的知识来识别第一传感器和第二传感器的位置关系。
附图说明
图1描绘了本公开的示例安全传感器系统100的高级示意图;
图2A-2C图示了可用于校准图1的安全传感器系统的校准目标的各种示例;
图3图示了用于确定在包括两个或更多传感器的安全传感器系统中的传感器的位置的示例方法的流程图;以及
图4描绘了用于确定在包括两个或更多传感器的安全传感器系统中的传感器的位置的示例电子设备的高级框图。
具体实施方式
本公开广泛地描述用于校准包括多个可移动传感器的传感器系统的装置、方法和非暂时性计算机可读介质。如以上所讨论的,许多工作场所和其他位置可以包括限制人类访问的区域。为了连续地监视受限制区域,可以部署安全传感器系统。常规的安全传感器系统包括安装在固定位置中以捕获被监视区域及其周围环境的图像的一个或多个相机。然而,在一些情况下,在其中限制访问的区域可以日复一日地改变。例如,当施工进行时,施工场地上的状况可以处于不断改变。因此,具有其固定位置传感器的常规安全传感器系统可能不提供用来监视不断改变的必要灵活性。
本公开的示例提供了一种安全传感器系统,其包括多个三维传感器,该多个三维传感器的位置(即,定位和/或取向)可以在任何时间在被监视场地内动态地移动。传感器中的每个可以将其相应视场的图像传输到集中式集成管理系统,该集中式集成管理系统可以将来自多个传感器的图像相关以生成被监视场地的完整视图。每次将传感器中的任何一个或多个移动到新位置时,集成管理系统可以校准安全传感器系统以确保来自多个传感器的图像的适当相关性。校准可以涉及从多个传感器获取校准目标的图像并且根据校准目标的图像确定多个传感器的相对位置。为了便于该确定,校准目标可以具有已知的物理外观(例如,形状、颜色、几何结构和/或尺寸),其可以是不规则的、不对称的和/不均匀的(即,当从不同的有利地位或在不同的视场内观察时,校准目标的形状、颜色、几何结构和/或尺寸可以看起来不同)。
在本公开的上下文内,传感器的“位置”被理解为指示被监视场地(即,由包括传感器的传感器系统监视的场地)内的传感器的定位和/或取向。传感器的“定位”可以指三维空间中的传感器的线性位置,而传感器的“取向”可以指三维空间中的传感器角位置。
图1描绘了本公开的示例安全传感器系统100的高级示意图。如图1中所示出的,安全传感器系统100通常包括多个传感器1021-102n(在后文中被单独地称为“传感器102”或统称为“传感器102”)和集成管理系统(IMS)104。
在一个示例中,多个传感器102包括至少两个传感器(例如,第一传感器1021和第二传感器1022),它们分布在围绕被监视场地(例如,施工场地、工厂、办公楼等)的不同定位中。在一个示例中,每个传感器102可以包括允许通过将传感器102可拆卸地安装到支撑表面来移动传感器102的定位的安装件(例如,夹具)。因此,传感器102的定位不需要被永久地固定。例如,传感器102中的一个或多个可以安装在交通锥标的顶上、或者沿着悬挂在一对交通锥标之间的屏障或条安装、或者沿着施工杆安装(例如,如可以用于阻挡施工场地的受限制区域)。在另一示例中,传感器102中的一个或多个可以被安装到机器人,该机器人的定位和取向是可移动的。
在一个示例中,传感器102中的每个能够收集关于出现在表示被监视场地的一部分的至少半球形(即,180度)视场内的对象的三维数据。例如,传感器102中的一个或多个可以包括传感器,所述传感器诸如在美国专利申请序列号14/920,246、15/149,323和/或15/149,429中描述的那些。在这些申请中描述的传感器包括激光器、衍射光学元件和/或协作以投射光束的其他部件,所述光束在视场中创建图案(例如,点、破折号或其他伪影的图案)。当图案入射到视场中的对象上时,能够基于视场的一个或多个图像中的图案的外观(例如,点、破折号或其他伪影的轨迹)来计算从传感器到对象的距离。
每个传感器102可以经由相应的有线或无线连接1061-106n(后文单独地称为“连接106”或统称为“连接106”)通信地耦合到IMS 104。每个传感器102可以具有其自己的唯一标识符,其对于IMS 104和/或对于其他传感器102是已知的。
IMS 104可以包括被配置为集成从传感器102接收的三维数据(例如,静态图像和/或视频图像)的计算系统。例如,IMS 104可以将分别由传感器1021-102n捕获的图像1101-110n(后文单独地称为“图像110”或统称为“图像110”)相关。图像110可以全部描绘相同的对象108,但是来自作为不同传感器的位置(即,定位和取向)的函数的不同有利地位。每个图像110还可以与捕获图像110的传感器102的标识符相关联,使得IMS 104可以知道从哪个定位和取向捕获图像110。
图像110的适当相关性允许IMS 104生成对象108的单个三维模型112,该模型112包括对象在被监视场地内的形状和位置。因此,这可以允许安全传感器系统100检测对象(例如,车辆、人、动物等)何时存在于被监视场地中。可采用附加处理(例如,对象识别、面部识别等)来确定检测到的对象是否被授权在被监视场地中。
IMS 104还可以远程地控制传感器102的某些功能。例如,IMS 104可控制传感器102激活激光器以将光的图案投射到其相应视场中的定时(例如,通过将信号发送到传感器102以指示何时应激活激光器)和/或传感器102捕获图像的定时。例如,IMS 104可以发送多个信号。每个信号可以包括用来激活激光器和/或用来捕获图像的指令,以及识别要执行指令的传感器102的标识符。IMS 104还可以向传感器102发送信号以控制传感器102的位置,例如以便提供被监视场地的完整视觉覆盖。
因为传感器102的位置可被容易地改变,所以一个传感器102到另一传感器102的相对位置可频繁改变。因此,IMS 104可能偶尔需要校准安全传感器系统100,使得传感器102相对于彼此的位置是已知的。如上所讨论,知道传感器102的相对位置对于适当地集成从传感器102接收的三维数据是必要的。可以周期性地(例如,根据所定义的和/或定期的时间表)、按需(例如,响应于来自人类操作者的命令)或响应于预定义事件的发生(例如,一个或多个传感器102的移动)来执行校准。
在一个示例中,使用校准目标来执行安全传感器系统100的校准。例如,图2A-2C分别图示了可用于校准图1的安全传感器系统100的校准目标200a-200c的各种示例。在一个示例中,根据本公开的校准目标是可以具有不规则、不对称和/或不均匀的物理外观(例如,形状、颜色、几何结构和/或尺寸)的物理物品。换句话说,当从不同的有利地位或在不同的视场内(例如,由安全传感器系统100的不同传感器102)观察时,校准目标的形状、颜色、几何结构和/或尺寸可以看起来不同。
例如,图2A图示了具有不均匀的物理尺寸的校准目标200a。例如,校准目标200a可以包括具有不同三维形状的多个连接段。在图2A中所图示的示例中,校准目标200a包括第一段202、第二段204和第三段206。第一段202具有圆柱形形状,第二段204具有正方形金字塔形状,并且第三段206具有立方体形状。因此,当从不同角度和/或方向(例如,如由箭头208和210所示出的)观察校准目标200a时,校准目标200a的物理外观(例如,形状、几何结构和/或尺寸)可以不同。
尽管校准目标200a被图示为具有三个连接段,其具有圆柱形、金字塔形和立方体形状,但是将领会的是,校准目标200a可以包括具有任何形状的任何数量的连接段。例如,校准目标200a可以包括少于三个连接段,或者多于三个连接段。任何一个或多个段可具有类似于圆柱形、金字塔形、立方体、多边形棱柱或任何其他形状的形状。而且,任何给定段的形状不一定是对称的。
图2B图示了显示不均匀视觉图案的校准目标200b。例如,校准目标200b可以包括显示不同图案的多个图案化分段。在图2B中所图示的示例中,校准目标200b至少包括第一图案化分段212和第二图案化分段214。第一图案化分段212显示一系列水平条,而第二图案化分段214显示一系列竖直条。第一图案化分段212和第二图案化分段214可位于校准目标200b的不同部分上(例如,在校准目标200b的外围p周围的不同定位处和/或在沿着校准目标200b的长度l的不同定位处)。因此,当从不同角度和/或方向观察校准目标200b时,校准目标200b的物理外观(例如,不同图案的可观察部分)可以不同。
应当注意,在校准目标200b的情况下,在第一图案化分段212和第二图案化分段214中显示的图案不需要仅在图案的形状上不同(例如,竖直条相对于水平条)。可替代地或另外地,图案可以在颜色上变化(例如,蓝色竖直条相对于红色竖直条)。图案的形状也可以是随机的或不规则的。而且,尽管图2B的角度示出两个图案化分段(即,第一图案化分段212和第二图案化分段214),校准目标200b可包括任何数量的图案化分段。例如,校准目标200b可包括少于两个图案化分段或多于两个图案化分段。
图2C图示了显示不均匀反射性质的校准目标200c。例如,校准目标200c可以包括具有不同反射性质的多个反射分段。在图2C中所图示的示例中,校准目标200c至少包括第一反射分段216、第二反射分段218和第三反射分段220。第一反射分段216、第二反射分段218和第三反射分段220可以被处理(例如,涂覆)以具有不同的表面反射。例如,第一反射分段216可以被处理以展现漫反射,第二反射分段218和第三反射分段220可以被处理以展现镜面表面反射。第一反射分段216、第二反射分段218和第三反射分段220可以位于校准目标200c的不同部分上(例如,在校准目标200c的外围p周围的不同定位处和/或在沿着校准目标200c的长度l的不同定位处)。因此,当从不同角度和/或方向观察校准目标200c时,校准目标200c的物理外观(例如,表面反射)可以不同。
应当注意,在校准目标200c的情况下,反射分段不需要仅在表面反射方面不同(例如,镜面反射相对于漫反射)。反射分段展现出镜面反射或漫反射的程度也可以变化。可替代地或另外地,反射分段可以在形状上变化(例如,矩形相对于圆形或不规则)。而且,尽管图2C的角度示出三个反射分段,校准目标200c可以包括任何数量的反射分段。例如,校准目标200c可以包括少于三个反射分段或多于三个反射分段。
在另外的示例中,校准目标可以组合图2A-2C中所示的特征中的任何两个或更多。例如,单个校准目标可以包括以下的组合:(1)具有不同形状的连接段;(2)不同的图案或颜色;以及(2)具有不同反射性质的补片)。而且,校准目标200a-200c或并入校准目标200a-200c的特征的任何校准目标可以由任何类型的材料制造,所述材料包括金属、聚合物、木材、陶瓷、合成材料和/或其组合。
当从不同角度观察时具有不同物理外观(例如,当从第一角度观察时具有第一物理外观、当从第二不同角度观察时具有第二物理外观等)的校准目标(诸如在图2A-2C中图示的校准目标200a-200c中的任何(或其任何组合))可用于校准安全传感器系统,诸如图1中所图示的系统100。只要在校准之前已知校准目标的物理外观(包括大小、(一个或多个)颜色、几何结构和尺寸),就可以高效地确定观察校准目标的传感器的相对位置。校准目标的已知物理外观可以在被使得对于控制器或IMS可用的三维模型中描述。
特别地,校准目标可以被放置在被监视场地中的任意定位中,其中任意定位可以由安全传感器系统的至少两个传感器(例如,第一传感器和第二传感器)可观察。任意定位可以是恒定的或固定在被监视定位中,例如,使得校准目标的定位和取向不改变,直到校准过程完成。
一旦校准目标被放置在其恒定定位中,则第一传感器(例如,图1的第一传感器1021)可从被监视场地中的第一位置捕获校准目标的第一图像集合,而第二传感器(例如,图1的第二传感器1022)可从被监视场地中的第二位置捕获校准目标的第二图像集合。任何附加传感器可以从其在被监视场地中的相应位置捕获校准目标的附加图像集合。第一传感器和第二传感器(以及任何附加传感器)可以将图像集合发送到IMS(例如,图1的IMS104)。第一传感器和第二传感器(以及任何附加传感器)可以同时操作以捕获校准目标的图像,或者第一传感器和第二传感器(以及任何附加传感器)可以一次一个地操作(例如,第二传感器可以直到第一传感器完成捕获图像才开始捕获图像)。
第一图像集合和第二图像集合(以及任何附加图像集合)可以由IMS连同校准目标的三维模型一起使用,以确定第一传感器和第二传感器(以及任何附加传感器)的位置。参考图3较详细地描述了使用该信息来确定传感器的位置的方法的一个示例。
图3图示了用于确定在包括两个或更多传感器的安全传感器系统中的传感器的位置的示例方法300的流程图。方法300可以例如由图1的IMS 104执行。因此,可以在对方法300的讨论中参考图1的安全传感器系统100的部件。然而,这样的参考仅仅是为了示例做出的,并且不旨在是限制性的。
方法300开始于框302。在框304中,获得校准目标的三维模型。当从视场的不同的有利地位观察时,校准目标的物理外观看起来是不同的。例如,校准目标的物理外观可以是不均匀的、不对称的或不规则的。三维模型描述校准目标的几何结构和尺寸以及潜在地校准目标的其他物理特性(例如,颜色、大小等)。三维模型可以从用于校准目标的计算机辅助设计数据、从校准目标的三维成像(例如,由安全传感器系统)或通过其他可靠手段获得。
在框306中,从部署在被监视场地中的安全传感器系统的第一传感器获取校准目标的第一图像集合。校准目标可以在第一传感器捕获第一图像集合之前已经被放置在被监视场地中的任意定位中。第一传感器在被监视场地中可具有第一位置。从该第一位置,第一传感器具有允许第一传感器捕获校准目标的图像的第一视场,其中图像描绘校准目标的至少一部分的物理特性。在一个示例中,第一图像集合可由第一传感器响应于IMS向第一传感器发送指示第一传感器激活激光器和/或获取图像的信号而被发送到IMS。然而,由于信号可能不精确地与第一传感器的图像捕获单元的操作定时一致,所以可以相对于信号的定时来调整激光器激活和/或图像捕获的实际定时。
在框308中,从部署在被监视场地中的安全传感器系统的第二传感器获取校准目标的第二图像集合。第二传感器可以在被监视场地中具有不同于第一传感器的第一位置的第二位置。从该第二位置,第二传感器具有允许第二传感器捕获校准目标的图像的第二视场,其中图像描绘校准目标的至少一部分的物理特性。第二视场可以或可以不与第一视场重叠。在一个示例中,第二图像集合可由第二传感器响应于IMS向第二传感器发送指示第二传感器激活激光器和/或获取图像的信号而被发送到IMS。然而,由于信号可能不精确地与第二传感器的图像捕获单元的操作定时一致,所以可以相对于信号的定时来调整激光器激活和/或图像捕获的实际定时。
在一个示例中,同时从第一传感器和第二传感器获取第一图像集合和第二图像集合;然而,在另一示例中,在不同时间获取第一图像集合和第二图像集合。然而,校准目标的位置保持恒定并且在由第一传感器和第二传感器进行的图像捕获之间不改变。
在框310中,第一图像集合和第二图像集合与校准目标的三维模型对准。例如,第一图像集合可以与第一图像集合最接近地匹配的三维模型的第一部分对准,而第二图像集合可以与第二图像集合最接近地匹配的三维模型的第二部分对准。在一个示例中,第一图像集合和第二图像集合可以重叠。即,校准目标的某些部分可在第一图像集合和第二图像集合两者中描绘(例如,对于第一传感器和第二传感器两者都可以是可见的)。
在框312中,基于第一图像集合和第二图像集合与校准目标的三维模型的对准来识别第一传感器相对于第二传感器的位置。
在框314中,存储第一传感器相对于第二传感器的位置。在一个示例中,第一传感器和第二传感器的位置关系的存储涉及存储第一传感器和第二传感器之间的线性距离、第一传感器和第二传感器的光学轴之间的角度以及描述位置关系的其他统计数据。
方法300在框316中结束。
方法300可以针对安全传感器系统中的附加传感器对重复(例如,如果安全传感器系统包括多于两个传感器)。一旦已经确定了所有传感器的相对位置,安全传感器系统就可以准备好监视被监视的场地。已知传感器在被监视场地内的相应位置允许安全传感器系统将由传感器收集的图像适当地相关到存在于被监视场地内的对象的准确三维模型。例如,传感器的位置关系可以用于引导从传感器收集的图像的对准,这可以描绘来自各种不同角度或视场的相同对象。如以上所讨论的,一旦构建了被监视场地内存在的对象的准确三维模型,该模型就可以被转发以用于进一步的处理,诸如对象识别、面部识别等。
应当注意的是,尽管未明确指定,但以上所描述的方法300的框、功能或操作中的一些可包括存储、显示和/或输出用于特别应用。换言之,方法300中讨论的任何数据、记录、字段和/或中间结果可以取决于特别应用而被存储、显示和/或输出到另一设备。此外,图3中记载确定操作或涉及决策的框、功能或操作并不暗示实践确定操作的两个分支。换言之,取决于确定操作的结果,可以不执行确定操作的分支之一。
图4描绘了用于确定在包括两个或更多传感器的安全传感器系统中的传感器的位置的示例电子设备400的高级框图。例如,图1中图示的IMS 104可以以类似于电子设备400的方式来配置。因此,电子设备400可实现为电子设备或系统(诸如安全传感器系统)的控制器。
如图4中所描绘的,电子设备400包括:硬件处理器元件402(例如,中央处理单元(CPU)、微处理器或多核处理器)、存储器404(例如,随机存取存储器(RAM)和/或只读存储器(ROM))、用于确定在包括两个或更多传感器的安全传感器系统中的传感器的位置的模块405,以及各种输入/输出设备406(例如,存储设备,包括但不限于磁带驱动器、软盘驱动器、硬盘驱动器或致密光盘驱动器、接收器、发射器、显示器、输出端口、输入端口和用户输入设备(诸如键盘、小键盘、鼠标、麦克风等))。
尽管示出了一个处理器元件,但是应当注意,电子设备400可以采用多个处理器元件。此外,尽管在图中示出了一个电子设备400,但是对于特别说明性示例,如果以分布式或并行方式实现如上所讨论的(一个或多个)方法,即,跨多个或并行电子设备实现上述(一个或多个)方法或整个(一个或多个)方法的框,则该图的电子设备400旨在表示那些多个电子设备中的每个。
应当注意,本公开可以由机器可读指令和/或以机器可读指令和硬件组合来实现,例如使用专用集成电路(ASIC)、包括现场可编程门阵列(FPGA)的可编程逻辑阵列(PLA)、或部署在硬件设备、通用计算机或任何其他硬件等效物上的状态机来实现(例如,涉及以上讨论的(一个或多个)方法的计算机可读指令可用于配置硬件处理器以执行以上公开的(一个或多个)方法的框、功能和/或操作)。
在一个示例中,针对用于确定在包括两个或更多传感器的安全传感器系统中的传感器的位置的本模块或过程405的指令和数据(例如,机器可读指令)可以被加载到存储器404中并且由硬件处理器元件402执行以实现如以上结合方法300所讨论的块、功能或操作。此外,当硬件处理器执行指令以执行“操作”时,这可以包括硬件处理器直接执行操作和/或促进、引导或与另一硬件设备或部件(例如,协处理器等)协作以执行操作。
执行与以上描述的(一个或多个)方法相关的机器可读指令的处理器可以被认识为编程处理器或专用处理器。因此,用于确定在本公开的包括两个或更多传感器的安全传感器系统中的传感器的位置的本模块405可以存储在有形的或物理的(广泛地来说,非暂时性)计算机可读存储设备或介质上,所述计算机可读存储设备或介质例如是易失性存储器、非易失性存储器、ROM存储器、RAM存储器、磁性或光学驱动器,设备或磁盘等。更具体地,计算机可读存储设备可以包括提供存储诸如要由处理器或电子设备(诸如计算机或安全传感器系统的控制器)访问的数据和/或指令的信息的能力的任何物理设备。
将领会的是,以上公开内容和其他特征和功能的变型或其替代方案可被组合成许多其他不同的系统或应用。随后可做出各种目前未预见或未预料到的替代方案、修改或其中的变化,这些替代方案、修改或变化也旨在由以下权利要求所涵盖。
Claims (20)
1.一种用于确定传感器位置的系统,包括:
第一传感器,其用于捕获被放置在被监视场地中的校准目标的第一图像集合,其中所述第一传感器在所述被监视场地中具有第一位置,并且其中所述校准目标具有物理外观,所述校准目标包括:
第一反射分段,其展现第一反射性质;以及
第二反射分段,其显示不同于所述第一反射性质的第二反射性质,
其中所述第一反射分段和所述第二反射分段位于所述校准目标的外围的不同部分上,并且其中所述第一图像集合描绘所述第一反射分段;
第二传感器,其用于捕获所述校准目标的第二图像集合,其中所述第二传感器在所述被监视场地中具有不同于所述第一位置的第二位置,并且其中所述第二图像集合描绘所述第二反射分段;以及
处理器,其用于通过将所述第一图像集合和所述第二图像集合与所述校准目标的三维模型对准来确定所述第一传感器和所述第二传感器的位置关系。
2.根据权利要求1所述的系统,其中所述校准目标被放置在所述被监视场地内的任意位置中。
3.根据权利要求1所述的系统,其中所述第一传感器和所述第二传感器中的至少一个是可移动的。
4.根据权利要求1所述的系统,其中所述处理器还用于使用由所述第一传感器和所述第二传感器捕获的对象的图像来生成存在于所述被监视场地内的对象的三维模型。
5.根据权利要求1所述的系统,其中所述第一传感器和所述第二传感器中的至少一个具有至少半球形的视场。
6.根据权利要求1所述的系统,其中所述第一传感器和所述第二传感器中的至少一个包括激光源,其用于将多个光束投射到对应的视场中,使得所述多个光束在所述视场中创建伪影的图案。
7.根据权利要求1所述的系统,其中所述校准目标的所述物理外观包括不均匀的物理尺寸。
8.根据权利要求7所述的系统,其中所述校准目标还包括:
第一段,其具有第一三维形状;以及
第二段,其连接到所述第一段且具有不同于所述第一三维形状的第二三维形状。
9.根据权利要求1所述的系统,其中所述校准目标的所述物理外观包括不均匀的视觉图案。
10.根据权利要求9所述的系统,其中所述校准目标还包括:
第一图案化分段,其显示第一图案;以及
第二图案化分段,其显示不同于所述第一图案的第二图案,
其中所述第一图案和所述第二图案位于所述校准目标的外围的不同部分上。
11.根据权利要求1所述的系统,其中所述第一反射分段利用展现漫反射的涂覆处理,以及所述第二反射分段利用展现镜面表面反射的涂覆处理。
12.根据权利要求1所述的系统,其中所述第一反射分段利用第一涂覆处理,所述第二反射分段利用第二涂覆处理,并且所述第一涂覆展现比所述第二涂覆更大程度的反射。
13.根据权利要求1所述的系统,其中所述第一反射分段的形状与所述第二反射分段的形状不同。
14.一种用于确定传感器位置的方法,包括:
获取校准目标的第一图像集合,其中所述第一图像集合由在被监视场地中具有第一位置的第一传感器捕获,并且其中所述校准目标具有物理外观,所述校准目标包括:
第一反射分段,其展现第一反射性质;以及
第二反射分段,其显示不同于所述第一反射性质的第二反射性质,
其中所述第一反射分段和所述第二反射分段位于所述校准目标的外围的不同部分上,并且其中所述第一图像集合描绘所述第一反射分段;
获取所述校准目标的第二图像集合,其中所述第二图像集合由在所述被监视场地中具有第二位置的第二传感器捕获,并且其中所述第二图像集合描绘所述第二反射分段;以及
通过将所述第一图像集合和所述第二图像集合与所述校准目标的模型对准来识别所述第一传感器和所述第二传感器的位置关系。
15.根据权利要求14所述的方法,其中所述校准目标被放置在所述被监视场地内的任意位置中。
16.根据权利要求14所述的方法,其中所述校准目标还包括:
第一段,其具有第一三维形状;以及
第二段,其连接到所述第一段且具有不同于所述第一三维形状的第二三维形状。
17.根据权利要求14所述的方法,其中所述校准目标还包括:
第一图案化分段,其显示第一图案;以及
第二图案化分段,其显示不同于所述第一图案的第二图案,
其中所述第一图案和所述第二图案位于所述校准目标的外围的不同部分上。
18.根据权利要求14所述的方法,其中所述第一传感器和所述第二传感器中的至少一个是可移动的。
19.根据权利要求14所述的方法,其中所述第一传感器和所述第二传感器中的至少一个将多个光束投射到对应的视场中,使得所述多个光束在所述视场中创建伪影的图案。
20.一种编码有由处理器可执行的指令的非暂时性机器可读存储介质,其中,当被执行时,所述指令使得所述处理器执行包括以下步骤的操作:
获取校准目标的第一图像集合,其中所述第一图像集合由在被监视场地中具有第一位置的第一传感器捕获,并且其中所述校准目标具有物理外观,所述校准目标包括:
第一反射分段,其展现第一反射性质;以及
第二反射分段,其显示不同于所述第一反射性质的第二反射性质,
其中所述第一反射分段和所述第二反射分段位于所述校准目标的外围的不同部分上,并且其中所述第一图像集合描绘所述第一反射分段;
获取所述校准目标的第二图像集合,其中所述第二图像集合由在所述被监视场地中具有第二位置的第二传感器捕获,并且其中所述第二图像集合描绘所述第二反射分段;以及
通过将所述第一图像集合和所述第二图像集合与所述校准目标的模型对准来识别所述第一传感器和所述第二传感器的位置关系。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201762569545P | 2017-10-08 | 2017-10-08 | |
US62/569545 | 2017-10-08 | ||
PCT/US2018/054099 WO2019070806A1 (en) | 2017-10-08 | 2018-10-03 | CALIBRATION OF A SENSOR SYSTEM COMPRISING MULTIPLE MOBILE SENSORS |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN111164650A CN111164650A (zh) | 2020-05-15 |
CN111164650B true CN111164650B (zh) | 2021-10-29 |
Family
ID=65993339
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201880065295.7A Active CN111164650B (zh) | 2017-10-08 | 2018-10-03 | 用于确定传感器位置的系统和方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10885761B2 (zh) |
EP (1) | EP3692501A4 (zh) |
JP (2) | JP2020537242A (zh) |
KR (1) | KR20200054324A (zh) |
CN (1) | CN111164650B (zh) |
TW (1) | TWI808101B (zh) |
WO (1) | WO2019070806A1 (zh) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10337860B2 (en) | 2016-12-07 | 2019-07-02 | Magik Eye Inc. | Distance sensor including adjustable focus imaging sensor |
KR20200054326A (ko) | 2017-10-08 | 2020-05-19 | 매직 아이 인코포레이티드 | 경도 그리드 패턴을 사용한 거리 측정 |
US11062468B2 (en) | 2018-03-20 | 2021-07-13 | Magik Eye Inc. | Distance measurement using projection patterns of varying densities |
CN112119628B (zh) | 2018-03-20 | 2022-06-03 | 魔眼公司 | 调整相机曝光以用于三维深度感测和二维成像 |
EP3803266A4 (en) * | 2018-06-06 | 2022-03-09 | Magik Eye Inc. | DISTANCE MEASUREMENT USING HIGH DENSITY PROJECTION PATTERNS |
US11475584B2 (en) | 2018-08-07 | 2022-10-18 | Magik Eye Inc. | Baffles for three-dimensional sensors having spherical fields of view |
US11483503B2 (en) | 2019-01-20 | 2022-10-25 | Magik Eye Inc. | Three-dimensional sensor including bandpass filter having multiple passbands |
WO2020197813A1 (en) | 2019-03-25 | 2020-10-01 | Magik Eye Inc. | Distance measurement using high density projection patterns |
US11019249B2 (en) | 2019-05-12 | 2021-05-25 | Magik Eye Inc. | Mapping three-dimensional depth map data onto two-dimensional images |
JP2023504157A (ja) | 2019-12-01 | 2023-02-01 | マジック アイ インコーポレイテッド | 飛行時間情報を用いた三角測量ベースの3次元距離測定の向上 |
WO2021138139A1 (en) | 2019-12-29 | 2021-07-08 | Magik Eye Inc. | Associating three-dimensional coordinates with two-dimensional feature points |
CN115151945A (zh) | 2020-01-05 | 2022-10-04 | 魔眼公司 | 将三维相机的坐标系转成二维相机的入射点 |
Family Cites Families (132)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4914460A (en) | 1987-05-29 | 1990-04-03 | Harbor Branch Oceanographic Institution Inc. | Apparatus and methods of determining distance and orientation |
US4954962A (en) | 1988-09-06 | 1990-09-04 | Transitions Research Corporation | Visual navigation and obstacle avoidance structured light system |
JPH08555A (ja) | 1994-06-16 | 1996-01-09 | Fuji Photo Optical Co Ltd | 内視鏡の照明装置 |
US5699444A (en) * | 1995-03-31 | 1997-12-16 | Synthonics Incorporated | Methods and apparatus for using image data to determine camera location and orientation |
US6038415A (en) * | 1997-07-18 | 2000-03-14 | Minolta Co., Ltd. | Image forming apparatus and image-carrier cartridge device which is employed in the same |
EP0898245B1 (en) * | 1997-08-05 | 2004-04-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing method and apparatus |
JPH11108637A (ja) * | 1997-10-03 | 1999-04-23 | Dakku Engineering Kk | 品質検査装置 |
US5980454A (en) | 1997-12-01 | 1999-11-09 | Endonetics, Inc. | Endoscopic imaging system employing diffractive optical elements |
US5870136A (en) * | 1997-12-05 | 1999-02-09 | The University Of North Carolina At Chapel Hill | Dynamic generation of imperceptible structured light for tracking and acquisition of three dimensional scene geometry and surface characteristics in interactive three dimensional computer graphics applications |
AUPP299498A0 (en) * | 1998-04-15 | 1998-05-07 | Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation | Method of tracking and sensing position of objects |
JP2001338280A (ja) * | 2000-05-30 | 2001-12-07 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 3次元空間情報入力装置 |
US7193645B1 (en) * | 2000-07-27 | 2007-03-20 | Pvi Virtual Media Services, Llc | Video system and method of operating a video system |
US6937350B2 (en) | 2001-06-29 | 2005-08-30 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and methods for optically monitoring thickness |
JP2003065737A (ja) * | 2001-08-28 | 2003-03-05 | Topcon Corp | 表面形状測定装置及びその方法、並びに表面状態図化装置 |
US7940299B2 (en) | 2001-08-09 | 2011-05-10 | Technest Holdings, Inc. | Method and apparatus for an omni-directional video surveillance system |
US6917702B2 (en) | 2002-04-24 | 2005-07-12 | Mitsubishi Electric Research Labs, Inc. | Calibration of multiple cameras for a turntable-based 3D scanner |
US6831641B2 (en) | 2002-06-17 | 2004-12-14 | Mitsubishi Electric Research Labs, Inc. | Modeling and rendering of surface reflectance fields of 3D objects |
GB2395261A (en) | 2002-11-11 | 2004-05-19 | Qinetiq Ltd | Ranging apparatus |
AU2003289106A1 (en) * | 2002-12-27 | 2004-07-29 | Hiroshi Arisawa | Multi-view-point video capturing system |
TWI247104B (en) | 2003-02-26 | 2006-01-11 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | A measuring method for pattern of light guide plate |
DE10308383A1 (de) | 2003-02-27 | 2004-09-16 | Storz Endoskop Produktions Gmbh | Verfahren und optisches System zur Vermessung der Topographie eines Meßobjekts |
KR100764419B1 (ko) * | 2004-02-09 | 2007-10-05 | 강철권 | 불규칙패턴을 이용한 3차원형상 측정장치 및 측정방법 |
US20050288956A1 (en) * | 2004-06-16 | 2005-12-29 | Ewald Speicher | Systems and methods for integrating business process documentation with work environments |
US7191056B2 (en) * | 2005-01-04 | 2007-03-13 | The Boeing Company | Precision landmark-aided navigation |
JP2006313116A (ja) | 2005-05-09 | 2006-11-16 | Nec Viewtechnology Ltd | 距離傾斜角度検出装置および該検出装置を備えたプロジェクタ |
JP2006329817A (ja) * | 2005-05-26 | 2006-12-07 | Konica Minolta Sensing Inc | 3次元計測におけるターゲット座標の取得方法およびそれに用いられるターゲット |
JP4599515B2 (ja) * | 2005-05-27 | 2010-12-15 | コニカミノルタセンシング株式会社 | 3次元形状データの位置合わせ方法および装置 |
JP4644540B2 (ja) | 2005-06-28 | 2011-03-02 | 富士通株式会社 | 撮像装置 |
US20070091174A1 (en) | 2005-09-30 | 2007-04-26 | Topcon Corporation | Projection device for three-dimensional measurement, and three-dimensional measurement system |
JP5002144B2 (ja) * | 2005-09-30 | 2012-08-15 | 株式会社トプコン | 三次元計測用投影装置及びシステム |
JP4760391B2 (ja) | 2006-01-13 | 2011-08-31 | カシオ計算機株式会社 | 測距装置及び測距方法 |
JP4799216B2 (ja) | 2006-03-03 | 2011-10-26 | 富士通株式会社 | 距離測定機能を有する撮像装置 |
US7375803B1 (en) | 2006-05-18 | 2008-05-20 | Canesta, Inc. | RGBZ (red, green, blue, z-depth) filter system usable with sensor systems, including sensor systems with synthetic mirror enhanced three-dimensional imaging |
JP4889373B2 (ja) | 2006-05-24 | 2012-03-07 | ローランドディー.ジー.株式会社 | 3次元形状測定方法およびその装置 |
US8471892B2 (en) | 2006-11-23 | 2013-06-25 | Z. Jason Geng | Wide field-of-view reflector and method of designing and making same |
TWI320480B (en) | 2007-04-23 | 2010-02-11 | Univ Nat Formosa | One diffraction 6 degree of freedom optoelectronic measurement system |
US8282485B1 (en) | 2008-06-04 | 2012-10-09 | Zhang Evan Y W | Constant and shadowless light source |
WO2010006081A1 (en) | 2008-07-08 | 2010-01-14 | Chiaro Technologies, Inc. | Multiple channel locating |
US8334900B2 (en) | 2008-07-21 | 2012-12-18 | The Hong Kong University Of Science And Technology | Apparatus and method of optical imaging for medical diagnosis |
JP2010091855A (ja) | 2008-10-09 | 2010-04-22 | Denso Corp | レーザビーム照射装置 |
JP5251419B2 (ja) | 2008-10-22 | 2013-07-31 | 日産自動車株式会社 | 距離計測装置および距離計測方法 |
JP5287152B2 (ja) * | 2008-11-04 | 2013-09-11 | オムロン株式会社 | 3次元モデルの作成方法および物体認識装置 |
CN101794065A (zh) | 2009-02-02 | 2010-08-04 | 中强光电股份有限公司 | 投影显示系统 |
US20100223706A1 (en) * | 2009-03-03 | 2010-09-09 | Illinois Tool Works Inc. | Welding helmet audio communication systems and methods with bone conduction transducers |
JP5484098B2 (ja) | 2009-03-18 | 2014-05-07 | 三菱電機株式会社 | 投写光学系及び画像表示装置 |
JP4991787B2 (ja) | 2009-04-24 | 2012-08-01 | パナソニック株式会社 | 反射型光電センサ |
US8320621B2 (en) | 2009-12-21 | 2012-11-27 | Microsoft Corporation | Depth projector system with integrated VCSEL array |
US20110188054A1 (en) | 2010-02-02 | 2011-08-04 | Primesense Ltd | Integrated photonics module for optical projection |
JP5499985B2 (ja) | 2010-08-09 | 2014-05-21 | ソニー株式会社 | 表示装置組立体 |
CN103069250B (zh) | 2010-08-19 | 2016-02-24 | 佳能株式会社 | 三维测量设备、三维测量方法 |
JP5163713B2 (ja) | 2010-08-24 | 2013-03-13 | カシオ計算機株式会社 | 距離画像センサ及び距離画像生成装置並びに距離画像データ取得方法及び距離画像生成方法 |
JP5639821B2 (ja) * | 2010-09-03 | 2014-12-10 | 株式会社Ihi | 3次元点群の合成方法 |
US20120056982A1 (en) | 2010-09-08 | 2012-03-08 | Microsoft Corporation | Depth camera based on structured light and stereo vision |
US8593535B2 (en) * | 2010-09-10 | 2013-11-26 | Apple Inc. | Relative positioning of devices based on captured images of tags |
EP2433716A1 (en) | 2010-09-22 | 2012-03-28 | Hexagon Technology Center GmbH | Surface spraying device with a nozzle control mechanism and a corresponding method |
TWI428558B (zh) | 2010-11-10 | 2014-03-01 | Pixart Imaging Inc | 測距方法、測距系統與其處理軟體 |
JP5815940B2 (ja) | 2010-12-15 | 2015-11-17 | キヤノン株式会社 | 距離計測装置、距離計測方法、およびプログラム |
CN103477644B (zh) * | 2011-02-04 | 2017-04-12 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 记录图像和从图像获得3d信息的方法、相机系统 |
JP5746529B2 (ja) | 2011-03-16 | 2015-07-08 | キヤノン株式会社 | 三次元距離計測装置、三次元距離計測方法、およびプログラム |
WO2012123948A1 (en) | 2011-03-17 | 2012-09-20 | Mirobot Ltd. | System and method for three dimensional teat modeling for use with a milking system |
JP2012202694A (ja) * | 2011-03-23 | 2012-10-22 | Canon Inc | カメラ校正方法 |
JP2014122789A (ja) | 2011-04-08 | 2014-07-03 | Sanyo Electric Co Ltd | 情報取得装置、投射装置および物体検出装置 |
JP5830270B2 (ja) | 2011-05-24 | 2015-12-09 | オリンパス株式会社 | 内視鏡装置および計測方法 |
EP2718668B1 (en) | 2011-06-07 | 2023-07-26 | Creaform Inc. | Sensor positioning for 3d scanning |
US9185401B2 (en) * | 2011-07-15 | 2015-11-10 | Electronics And Telecommunications Research Institute | Method and apparatus for camera network calibration with small calibration pattern |
US10054430B2 (en) | 2011-08-09 | 2018-08-21 | Apple Inc. | Overlapping pattern projector |
US9142025B2 (en) | 2011-10-05 | 2015-09-22 | Electronics And Telecommunications Research Institute | Method and apparatus for obtaining depth information using optical pattern |
KR101605224B1 (ko) | 2011-10-05 | 2016-03-22 | 한국전자통신연구원 | 패턴 광을 이용한 깊이 정보 획득 장치 및 방법 |
TW201329509A (zh) | 2012-01-10 | 2013-07-16 | Walsin Lihwa Corp | 立體掃瞄裝置及其立體掃瞄方法 |
US9986208B2 (en) * | 2012-01-27 | 2018-05-29 | Qualcomm Incorporated | System and method for determining location of a device using opposing cameras |
JP2015513070A (ja) | 2012-01-31 | 2015-04-30 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 表面の三次元構造を測定するための方法及び装置 |
WO2013129387A1 (ja) | 2012-03-01 | 2013-09-06 | 日産自動車株式会社 | 距離計測装置及び距離計測方法 |
KR101630558B1 (ko) | 2012-03-28 | 2016-06-14 | 후지쯔 가부시끼가이샤 | 촬상 장치 |
JP6250040B2 (ja) | 2012-05-18 | 2017-12-20 | シーメンス・ヘルスケア・ダイアグノスティックス・インコーポレーテッドSiemens Healthcare Diagnostics Inc. | 魚眼レンズ・アナライザ |
WO2014002849A1 (ja) * | 2012-06-29 | 2014-01-03 | 富士フイルム株式会社 | 3次元測定方法、装置及びシステム、並びに画像処理装置 |
ES2616462T3 (es) | 2012-07-10 | 2017-06-13 | Wavelight Gmbh | Proceso y aparato para determinar las aberraciones ópticas de un ojo |
US20140016113A1 (en) | 2012-07-13 | 2014-01-16 | Microsoft Corporation | Distance sensor using structured light |
JP2014020978A (ja) | 2012-07-20 | 2014-02-03 | Fujitsu Ltd | 照射装置、距離測定装置、照射装置のキャリブレーションプログラム及びキャリブレーション方法 |
EP2696590B1 (en) | 2012-08-06 | 2014-09-24 | Axis AB | Image sensor positioning apparatus and method |
US9275459B2 (en) * | 2012-10-05 | 2016-03-01 | Qualcomm Incorporated | Method and apparatus for calibrating an imaging device |
US9741184B2 (en) | 2012-10-14 | 2017-08-22 | Neonode Inc. | Door handle with optical proximity sensors |
CN110749951B (zh) | 2012-10-24 | 2022-12-30 | 视瑞尔技术公司 | 照明设备 |
US9285893B2 (en) | 2012-11-08 | 2016-03-15 | Leap Motion, Inc. | Object detection and tracking with variable-field illumination devices |
US10466359B2 (en) | 2013-01-01 | 2019-11-05 | Inuitive Ltd. | Method and system for light patterning and imaging |
US9691163B2 (en) | 2013-01-07 | 2017-06-27 | Wexenergy Innovations Llc | System and method of measuring distances related to an object utilizing ancillary objects |
US8768559B1 (en) | 2013-01-22 | 2014-07-01 | Qunomic Virtual Technology, LLC | Line projection system |
US9142019B2 (en) | 2013-02-28 | 2015-09-22 | Google Technology Holdings LLC | System for 2D/3D spatial feature processing |
US9364167B2 (en) | 2013-03-15 | 2016-06-14 | Lx Medical Corporation | Tissue imaging and image guidance in luminal anatomic structures and body cavities |
US10105149B2 (en) | 2013-03-15 | 2018-10-23 | Board Of Regents Of The University Of Nebraska | On-board tool tracking system and methods of computer assisted surgery |
US20140320605A1 (en) | 2013-04-25 | 2014-10-30 | Philip Martin Johnson | Compound structured light projection system for 3-D surface profiling |
CN103559735B (zh) | 2013-11-05 | 2017-03-01 | 重庆安钻理科技股份有限公司 | 一种三维重建方法及系统 |
US9404742B2 (en) | 2013-12-10 | 2016-08-02 | GM Global Technology Operations LLC | Distance determination system for a vehicle using holographic techniques |
EP3092601A4 (en) | 2014-01-06 | 2017-11-29 | Eyelock Llc | Methods and apparatus for repetitive iris recognition |
GB2522248A (en) | 2014-01-20 | 2015-07-22 | Promethean Ltd | Interactive system |
KR102166691B1 (ko) | 2014-02-27 | 2020-10-16 | 엘지전자 주식회사 | 객체의 3차원 형상을 산출하는 장치 및 방법 |
US9307231B2 (en) | 2014-04-08 | 2016-04-05 | Lucasfilm Entertainment Company Ltd. | Calibration target for video processing |
JP6002275B2 (ja) | 2014-04-30 | 2016-10-05 | シナノケンシ株式会社 | 計測装置 |
JP5829306B2 (ja) | 2014-05-12 | 2015-12-09 | ファナック株式会社 | レンジセンサの配置位置評価装置 |
US10207193B2 (en) * | 2014-05-21 | 2019-02-19 | Universal City Studios Llc | Optical tracking system for automation of amusement park elements |
KR20160020323A (ko) | 2014-08-13 | 2016-02-23 | 옥은호 | 평행 적외선 투사기와 카메라 모듈로 구성되는 거리 측정 센서 |
JP6370177B2 (ja) * | 2014-09-05 | 2018-08-08 | 株式会社Screenホールディングス | 検査装置および検査方法 |
JP6648147B2 (ja) | 2014-10-24 | 2020-02-14 | マジック アイ インコーポレイテッド | 距離センサ |
EP3167430A4 (en) * | 2014-11-04 | 2017-08-16 | SZ DJI Technology Co., Ltd. | Camera calibration |
US20160128553A1 (en) | 2014-11-07 | 2016-05-12 | Zheng Jason Geng | Intra- Abdominal Lightfield 3D Endoscope and Method of Making the Same |
CN107110637B (zh) * | 2014-12-22 | 2019-11-01 | 赛博光学公司 | 对三维测量系统的校准进行更新 |
KR102369792B1 (ko) * | 2015-03-05 | 2022-03-03 | 한화테크윈 주식회사 | 촬영 장치 및 촬영 방법 |
JP6484072B2 (ja) | 2015-03-10 | 2019-03-13 | アルプスアルパイン株式会社 | 物体検出装置 |
JP6340477B2 (ja) | 2015-03-26 | 2018-06-06 | 富士フイルム株式会社 | 距離画像取得装置及び距離画像取得方法 |
WO2016157593A1 (ja) | 2015-03-27 | 2016-10-06 | 富士フイルム株式会社 | 距離画像取得装置及び距離画像取得方法 |
CN107407559B (zh) | 2015-03-30 | 2019-10-18 | 富士胶片株式会社 | 距离图像获取装置以及距离图像获取方法 |
EP3295119A4 (en) | 2015-05-10 | 2019-04-10 | Magik Eye Inc. | DISTANCE SENSOR |
US10488192B2 (en) | 2015-05-10 | 2019-11-26 | Magik Eye Inc. | Distance sensor projecting parallel patterns |
WO2016194018A1 (ja) | 2015-05-29 | 2016-12-08 | オリンパス株式会社 | 照明装置及び計測装置 |
DE102015115011A1 (de) | 2015-09-08 | 2017-03-09 | Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh | Laserscanner für Kraftfahrzeuge |
US10176554B2 (en) * | 2015-10-05 | 2019-01-08 | Google Llc | Camera calibration using synthetic images |
JP6597150B2 (ja) | 2015-10-09 | 2019-10-30 | 富士通株式会社 | 距離測定装置、距離測定方法、距離測定プログラムおよびテーブルの作成方法 |
DE112015007146T5 (de) | 2015-11-25 | 2018-08-02 | Mitsubishi Electric Corporation | Vorrichtung und verfahren zur dreidimensionalen bildmessung |
KR20170094968A (ko) | 2016-02-12 | 2017-08-22 | 엘지이노텍 주식회사 | 피사체 거리 측정 부재, 이를 갖는 카메라 모듈 |
US11030775B2 (en) * | 2016-03-17 | 2021-06-08 | Flir Systems, Inc. | Minimal user input video analytics systems and methods |
US9686539B1 (en) * | 2016-06-12 | 2017-06-20 | Apple Inc. | Camera pair calibration using non-standard calibration objects |
US10337860B2 (en) | 2016-12-07 | 2019-07-02 | Magik Eye Inc. | Distance sensor including adjustable focus imaging sensor |
US20180227566A1 (en) | 2017-02-06 | 2018-08-09 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Variable field of view and directional sensors for mobile machine vision applications |
US11025887B2 (en) | 2017-02-27 | 2021-06-01 | Sony Corporation | Field calibration of stereo cameras with a projector |
US10769914B2 (en) * | 2017-06-07 | 2020-09-08 | Amazon Technologies, Inc. | Informative image data generation using audio/video recording and communication devices |
KR20200054326A (ko) | 2017-10-08 | 2020-05-19 | 매직 아이 인코포레이티드 | 경도 그리드 패턴을 사용한 거리 측정 |
US10679076B2 (en) | 2017-10-22 | 2020-06-09 | Magik Eye Inc. | Adjusting the projection system of a distance sensor to optimize a beam layout |
US11062468B2 (en) | 2018-03-20 | 2021-07-13 | Magik Eye Inc. | Distance measurement using projection patterns of varying densities |
CN112119628B (zh) | 2018-03-20 | 2022-06-03 | 魔眼公司 | 调整相机曝光以用于三维深度感测和二维成像 |
EP3803266A4 (en) | 2018-06-06 | 2022-03-09 | Magik Eye Inc. | DISTANCE MEASUREMENT USING HIGH DENSITY PROJECTION PATTERNS |
US11475584B2 (en) | 2018-08-07 | 2022-10-18 | Magik Eye Inc. | Baffles for three-dimensional sensors having spherical fields of view |
US20200182974A1 (en) | 2018-12-08 | 2020-06-11 | Magik Eye Inc. | Vertical cavity surface emitting laser-based projector |
US11483503B2 (en) | 2019-01-20 | 2022-10-25 | Magik Eye Inc. | Three-dimensional sensor including bandpass filter having multiple passbands |
-
2018
- 2018-10-03 JP JP2020520048A patent/JP2020537242A/ja active Pending
- 2018-10-03 KR KR1020207012920A patent/KR20200054324A/ko unknown
- 2018-10-03 WO PCT/US2018/054099 patent/WO2019070806A1/en unknown
- 2018-10-03 CN CN201880065295.7A patent/CN111164650B/zh active Active
- 2018-10-03 EP EP18863949.6A patent/EP3692501A4/en active Pending
- 2018-10-03 US US16/150,512 patent/US10885761B2/en active Active
- 2018-10-08 TW TW107135339A patent/TWI808101B/zh active
-
2023
- 2023-11-02 JP JP2023188651A patent/JP2024012508A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN111164650A (zh) | 2020-05-15 |
US10885761B2 (en) | 2021-01-05 |
TW201926271A (zh) | 2019-07-01 |
EP3692501A1 (en) | 2020-08-12 |
TWI808101B (zh) | 2023-07-11 |
KR20200054324A (ko) | 2020-05-19 |
EP3692501A4 (en) | 2021-07-07 |
WO2019070806A1 (en) | 2019-04-11 |
JP2020537242A (ja) | 2020-12-17 |
US20190108743A1 (en) | 2019-04-11 |
JP2024012508A (ja) | 2024-01-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN111164650B (zh) | 用于确定传感器位置的系统和方法 | |
EP2048557B1 (de) | Optoelektronischer Sensor und mobile Vorrichtung sowie Verfahren zur Konfiguration | |
US11195264B1 (en) | Laser-assisted image processing | |
US20180278919A1 (en) | System for tracking subject moving within space using stereo cameras | |
EP2798840B1 (en) | Visual command processing | |
JP5664161B2 (ja) | 監視システム及び監視装置 | |
EP3300045A1 (en) | System and method for surveilling a scene comprising an allowed region and a restricted region | |
DE112015005095T5 (de) | Menschenorientierter Roboter mit Vorrichtung zur kontaktlosen Messung | |
EP3452848B1 (en) | Monitoring method using a camera system with an area movement detection | |
TW201301897A (zh) | 監視系統 | |
WO2006128124A2 (en) | Total awareness surveillance system | |
US20150092040A1 (en) | Gesture-Based Industrial Monitoring | |
JP6624800B2 (ja) | 画像処理装置、画像処理方法、及び画像処理システム | |
KR101324221B1 (ko) | 영상 촬영을 통한 물체 추적 시스템 및 그 방법 | |
CN109863469B (zh) | 使用热标签进行实时活动监控 | |
JP4982254B2 (ja) | 動線管理システムおよび動線監視装置 | |
US20200128188A1 (en) | Image pickup device and image pickup system | |
KR20060065657A (ko) | 입체 영상을 위한 두 개 이상의 비디오 카메라를 상호위치조정하기 위한 방법 및 그 장치 | |
JP2020088840A (ja) | 監視装置、監視システム、監視方法、監視プログラム | |
EP4105817A1 (en) | Surveillance system and method for automatically executing a security function and system and method for generating a synthetic training data set | |
JP6562722B2 (ja) | 侵入監視装置及び侵入監視システム | |
JP6581280B1 (ja) | 監視装置、監視システム、監視方法、監視プログラム | |
JP7086752B2 (ja) | 監視装置 | |
DE102016211349A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Überprüfen eines Vorhandenseins eines Retroreflektor-Sicherheitselements an einer Person | |
KR102367118B1 (ko) | 디스플레이 장치 및 그의 제어 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |