JP6484072B2 - 物体検出装置 - Google Patents

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Description

本発明は、所定のパターンを有する測定光を被測定物体に照射し、この反射光に基づいて被測定物体を検出する物体検出装置に関する。
特許文献1に記載された三次元測定装置は、光源にて生成された多数のスポット光がランダムに配置された、ランダムスペックルパターンが照明領域に照射され、照明領域からの光応答がイメージセンサで検知される。被測定物体が照明領域に移動したときに得られるパターン画像と、被測定物体が存在していないときのランダムスペックルパターンの参照画像とでスペックルパターンの変位を検出し、三次元測量法を利用して、被測定物体の三次元マップを構築する。このように三次元マップを構築するにあたっては、画像化ユニットが照明領域の一端側からラスタスキャン方式に従って、1ラインずつ走査を繰り返すことで、照明領域全体の撮像画像を入手した上で、スペックルパターンの変位を算出し、被測定物体の三次元マップを構築するものである。また更に、構築された三次元マップを時系列で比較することで、被測定物体が照明領域内を移動した速度を算出することが可能となる。
特許文献2に記載の物体検出装置では、被測定物体の三次元マップを構築する際、光源とイメージセンサの瞳方向を平行とさせることでスペックルパターンの変位方向を1軸方向(X軸)に沿った方向に限定させる構成が開示されている。このようにして、X軸に沿った変位のみを検出させることで、被測定物体による変位量を算出することができることから、演算処理を簡易化することができる。
特許第5001286号公報 特開2014−48124号公報
しかし、特許文献1の三次元測定装置においては、被測定物体の移動速度を算出しようとした場合には、所定の時間間隔ごとに構築された三次元マップを、都度比較し続ける必要があるため、非常に処理負荷が高いものであった。
また、特許文献2の物体検出装置を用いて変位量の算出を簡易化したとしても、移動速度の算出に三次元マップを用いることには変わりは無く、やはり処理負荷が高いものであった。
特に、被測定物体の三次元マップを精度良く構築するためには、スペックルパターンの数を多く、且つ、密にする必要がある。そのため、移動速度の算出において時間軸上で比較するべきスポット光が非常に多くなり、処理負荷が高くなってしまう。結果として、被測定物体の移動速度が速いと、処理が追いつかずに速度の検出ができなくなってしまうものであった。
そこで本発明は、被測定物体の三次元マップを精度良く構築することができると共に、移動速度の算出を容易に行うことが可能な物体検出装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明の物体検出装置は、光源と、光源からの出射光を所定のパターンを有する測定光に変換して基準面へ出射する照射光学系と、基準面を撮像する受光素子を有し、受光素子が撮像した画像を、水平方向に延び、所定の間隔をおいて配置された複数のラインのラインごとに読み込む撮像部材と、撮像部材による撮像データに基づいて、パターン形成部と基準面の間に入った被測定物体を検出する検出部と、を備え、パターンは、基準面において、ラインに対応して水平方向に沿ってそれぞれ配置された、複数の分割パターンを有し、パターンは、少なくとも、複数の第1ドットと複数の第2ドットとが混在したドットパターンであり、複数の第2ドットの間隔は、複数の第1ドットの間隔よりも大きく、検出部は、少なくとも第1ドットにおける、被測定物体からの反射光に基づいて被測定物体の形状を検出し、検出部は、第2ドットにおける、被測定物体からの反射光に基づいて被測定物体の移動情報を検出することを特徴としている。
これにより、照射光学系からの測定光が有するパターンが、撮像部材が画像を読み込む単位であるラインに対応した分割パターンを有することから、ラインの読み込みのたびに被測定物体の検出を行うことができるため、被測定物体の三次元マップを精度良く構築することができると共に、被測定物体の形状や移動速度の算出を容易かつ迅速に行うことが可能となる。
本発明の物体検出装置において、複数の分割パターンのうち、複数の第2ドットの間隔と同じ間隔をおいて配置された分割パターンで、第1ドットと第2ドットとが混在していることが好ましい。
本発明の物体検出装置において、第1ドットと第2ドットは異なる特性値を有し、検出部は、特性値についての閾値に基づいて、第1ドットと第2ドットを判別することが好ましい。
これにより、第1ドットと第2ドットを明確に判別することができるため、被測定物体の形状及び移動情報の検出をそれぞれ正確に行うことができる。
本発明の物体検出装置において、受光素子は、個別の分割パターンごとに撮像することが好ましい。
1つの分割パターンごとに検出できるため、被測定物体の形状や移動速度の算出処理の負担を軽減することができる。
本発明の物体検出装置において、受光素子は、複数の分割パターンごとに撮像することが好ましい。
1つのラインの読み込みで複数の分割パターン分の検出を行うことができ、多数の情報を得ることができるため、より詳細な検出結果を得ることができる。
本発明の物体検出装置において、特性値は、輝度、ドット径、形状、明度、色相、波長、及び位相のうち少なくとも1つであることが好ましい。
これにより、測定条件等に合わせて、パターンの識別が容易かつ確実に行うことができる。
本発明によると、被測定物体の三次元マップを精度良く構築することができると共に、被測定物体の形状や移動速度の算出を容易かつ迅速に行うことが可能となる。
本発明の実施形態に係る物体検出装置を示す斜視図である。 図1に示す物体検出装置を上方から見た平面図である。 基準面に形成される参照ドットの配列を示す説明図である。
以下、本発明の実施形態に係る物体検出装置について図面を参照しつつ詳しく説明する。
図1と図2に示す物体検出装置1は、基準面2と、この基準面2に対向する光照射部材10及び撮像部材20を有している。図1と図2に示す基準面2は平面であるが、基準面2は凹凸を有するものであってもよい。
図1と図2には、基準座標としてX−Y−Z座標が示されている。X−Y面は基準面2と平行な面であり、X−Z面は基準面2と垂直な平面である。以下の説明ではX方向を、撮像部材20の受光素子及び基準面2における水平方向としている。
光照射部材10は、コヒーレント光源であるレーザー光源11と、レーザー光源11から発せられる発散光束14aを平行光束14bに変換するコリメートレンズ12と、コリメートレンズ12で変換された平行光束14bが通過する透過型のホログラム素子13とを有している。レーザー光源11は、人が目視できない近赤外線の波長領域のレーザー光を発する。あるいは、可視光のレーザー光を発するものであってもよい。ここで、コリメートレンズ12とホログラム素子13は、レーザー光源11からの出射光を、後述の所定のパターンを有する測定光に変換して基準面2へ出射する照射光学系を構成する。
ホログラム素子13は位相型の回折格子であり、平行光束14bが回折されて、測定光として所定の発散角度を有する照射光束14cが形成され、照射光束14cが基準面2に与えられる。照射光束14cが基準面2に照射されると、基準面2に、複数の基準参照ドット31が投影される。複数の基準参照ドット31は、前記レーザー光がホログラム素子13で回折されて形成されるものであり、図3に示す例では、基準面2に小丸形状の基準参照ドット31が形成されている。基準参照ドット31の形状は小丸に限られるものではなく、任意の形状を選択できる。
図3に示すように、平面である基準面2に形成されている基準参照ドット31が、規則的な投影パターンに従って配列されて、基準パターン30(ドットパターン)が形成される。ここでの「規則的」とは、いずれか1つの基準参照ドット31に着目したときに、その基準参照ドット31とそれぞれの方向で隣接する基準参照ドット31との方向ならびに距離の相対関係が、他の全ての基準参照ドット31において同じである関係を意味している。
図3に示す基準パターン30では、基準参照ドット31がX方向とY方向へ一定のピッチで並ぶ正方格子状に配列している。ここで、X方向に沿って並ぶ基準参照ドット31の列D1、D2、D3、D4、...は、撮像部材20のビデオカメラ21の受光素子による撮像単位であるラインL1、L2、L3、L4、...にそれぞれ沿って並んでいる。すなわち、基準参照ドット31の列D1、D2、D3、D4、...のそれぞれと、受光素子による撮像単位であるラインL1、L2、L3、L4、...のそれぞれとが1対1で対応している。基準参照ドット31の列D1、D2、D3、D4、...は、それぞれ分割パターンを構成し、すべての分割パターンによって基準パターン30が構成される。
図3に示すように、基準参照ドット31は、複数の第1ドット131(黒い丸印)と複数の第2ドット231(白抜きの丸印)から構成され、一定のピッチdの間隔で配置されている。第2ドット231は、2つの第1ドット131を間に入れるように配置され、第2ドット231間のピッチd’は、第1ドット131間のピッチdの3倍となる。第2ドット231の配置間隔は、物体検出装置の仕様等に応じて任意に設定することができ、例えば3つの第1ドット131ごとに配置してもよい。ここで、第1ドット131の配置密度(単位面積あたりの配置数)は、第2ドット231の配置密度の所定数倍、特に5〜7倍であることが好ましい。
第1ドット131及び第2ドット231は、ホログラム素子13の回折面の構成を異ならせることによって、特性値としての、基準面2における輝度が異なっている。ホログラム素子13は、回折面として、第1ドット131に対応した第1の格子形状と、第2ドット231に対応した第2の格子形状とを備えている。第1ドット131と第2ドット231の輝度の差は、検出環境や被測定物体の形状・色等によって生じる反射光の強度の変化に影響を受けない程度の大きさであることが好ましく、例えば、第2ドット231の輝度を第1ドット131の輝度の1.5〜10倍とするとよい。
また、第1ドット及び第2ドットが有する特性値として、輝度の違いに代えて、又は、輝度の違いに加えて、第1ドット131と第2ドット231とで、ドット径、形状、明度、色相、波長、及び位相のうち少なくとも1つ異ならせてよい。例えば、ドット径・出射強度等が異なるドットをそれぞれ形成可能な2つの光源を用意し、時間をずらしてコリメートレンズ12の光軸に沿ってそれぞれ入射させる。これによって、第1ドット131と第2ドット231のドット径・明度・波長・位相等に違いを生じさせることができる。また、ホログラム素子13の出射面近傍に基準パターンに対応したフィルタを設け、このフィルタを通してホログラム素子13からの出射光を基準面2に照射することによっても、ドット径・形状・明度・色相・波長等に違いを生成することができる。
図2には、光照射部材10から基準面2に向けて照射される照射光束14cの照射基準線Oaが示されている。照射基準線Oaは、レーザー光源11とコリメートレンズ12ならびにホログラム素子13の光軸に一致している。照射基準線OaはX−Z平面と平行な面内に位置しており、図2の平面図に示すように、照射基準線Oaは基準面2からの垂直線Hに対して90度未満の角度θを有して配置されている。
ホログラム素子13から基準面2に延びる照射光束14cの内部には、それぞれの基準参照ドット31に個別に対応する照射線15が含まれている。ホログラム素子13の回折現象で生成された複数の基準参照ドット31は、それぞれの照射線15と基準面2との交点に生成される。照射光束14cは発散光であるため、厳密には個々の照射線15が拡散角を有しているが、光照射部材10と基準面2との距離を十分に長く確保することで、図2に示すように、照射線15を互いにほぼ平行な配置関係として表すことができる。
図2には、ビデオカメラ21の撮像基準線Obが示されている。撮像基準線Obはビデオカメラ21の撮像視野の中心線であり、カメラレンズの光軸に一致している。撮像基準線Obは、X−Z面と平行な面内に位置し、この面内において、撮像基準線Obは垂直線Hと平行に配置されている。その結果、照射基準線Oaと撮像基準線Obとが、X−Z面と平行な面内で、角度θを有して対向している。図2に示す実施の形態では角度θは鋭角である。なお、前記角度θを有していれば、照射基準線Oaが垂直線Hと平行であってもよいし、照射基準線Oaと撮像基準線Obの双方が垂直線Hと非平行であってもよい。また角度θは鋭角に限られるものではない。
図1では、光照射部材10と基準面2との間に被測定物体5が入り込んだ状態が示されている。図1では被測定物体5が人の手である。被測定物体5が入り込むと、その表面に参照ドットが投影される。本明細書では、被測定物体5の表面に投影された参照ドットを移動参照ドット32と呼んでいる。図2に示すように、移動参照ドット32は、個々の照射線15と被測定物体5の表面との交点に生成される。基準参照ドット及び移動参照ドットによって被測定物体の三次元マップを構築することができる。
図2に示すように、撮像部材20は、ビデオカメラ21を有している。ビデオカメラ21は、CCD(電荷結合素子)、CMOS(相補型金属酸化膜半導体)等の受光素子を備える。この受光素子は、X方向(水平方向)に沿って延び、かつ、所定の間隔を置いて配置された複数のラインL1、L2、L3、L4、...(図3)の1つのラインごとに基準面2を撮像し、ホログラム素子13と基準面2の間に入った被測定物体5からの反射光を検出する。ラインごとに撮像した画像は、1つのラインごとに画像分析部22に読み込まれる。
ここで、ビデオカメラ21は、樽型歪みを抑えた撮像光学系を有することが好ましい。また、このような撮像光学系に代えて、又は、加えて、樽型歪みを補正するフィルタを配置したり、補正演算処理によって樽型歪みを補正することが好ましい。樽型歪みを抑えることによって、より正確な検出結果を得ることができる。
なお、受光素子は、複数の分割パターン、例えば図3のドット列D1とドット列D2、ごとに撮像してもよい。この場合、受光素子が撮影する1つのラインに複数のドット列が含まれるため、より精細な検出を行うことができる。
また、受光素子は、複数のラインごとに基準面2を撮像してもよく、さらには全てのラインを一度に撮像してもよい。これにより、1フレーム分の撮像を高速に行うことができる。ただし、いずれの場合においても、撮像した画像は、1つのラインごとに画像分析部22に読み込まれる。
画像分析部22では、受光素子が撮像した画像がラインごとに保存され、同じラインの新旧の画像を比較してどのドット像が移動したかが分析され、分析結果が検出部23に送られる。検出部23は、受光素子が検出した反射光に基づいて、被測定物体の形状及び移動情報を検出する。このため、従来の物体検出装置では全画面を1フレーム分フレームメモリに蓄えた上でフレームごとに検知動作を行うのに対して、本実施形態の物体検出装置1では画像走査のラインに沿ってドット像、及びドット像の移動に関するエピポーラ線が配置されていることから、ラインメモリーを用いて検出を行うことが可能である。つまり、画像分析部22に新しい画像が全ライン読み込まれるまで待つ必要なく、所望のラインの情報が保存された時点で分析が行われるため、処理を早めることが可能となる。また、仮に広角レンズ等で湾曲したひずみ等が存在する際も、1画素ごとにルックアップテーブル等で配置変換を予め行えば、同様にライン単位での処理が可能となる。
検出部23は、画像分析部22から出力されたラインごとの画像について、予め定めた閾値に基づいて、第1ドット131と第2ドット231を判別する。より具体的には、閾値よりも高い輝度を有するドットを第2ドット231と判別し、閾値以下の輝度を有するドットを第1ドット131と判別する。
検出部23は、第1ドット131と第2ドット231の判別後に、第1ドット131における反射光に基づいて被測定物体5の形状を検出し、第2ドット231における反射光に基づいて被測定物体5の移動情報を検出する。より具体的には、装置起動時の初期状態の第1ドット131及び第2ドット231の検出データから始まって、毎回の検出データをルックアップテーブルとして順次更新して画像分析部22のメモリに記憶させ、このルックアップテーブルのデータと最新の検出データをドットごとに比較し、ドットが所定量以上移動した場合に、被測定物体5が撮像部材20と基準面2の間に入り、又は、撮像部材20と基準面2の間で被測定物体5が移動したことを検出する。
ここで、移動情報は、複数の第2ドット231のそれぞれについての、基準面2に対応する平面内での移動量や移動方向を含む。
物体検出装置1においては、基準参照ドット31の列D1、、D3、D4、...のそれぞれと、受光素子による撮像単位であるラインL1、L2、L3、L4、...のそれぞれとが1対1で対応しており、1つのラインごとに被測定物体の検出が可能である。このため、1フレーム分の画面全体の撮像データが画像分析部22に読み込まれるのを待つことなく、被測定物体の検出を行うことができ、これにより新旧のラインの各ドットを比較することによって被測定物体の検出を行うことができるため、被測定物体の形状や移動情報の算出を容易かつ迅速に実行できる。また、検出データをラインごとに更新することにより、被測定物体の三次元マップを順次更新することができる。
さらに、移動情報を検出するための第2ドット231の間隔を、被測定物体5の形状を検出するための第1ドット131の間隔よりも大きくしたことにより、被測定物体5が所定量、例えば第1ドット131の間隔よりも大きな量より大きく移動した場合でも被測定物体5の移動情報を確実に検出することができる。
物体検出装置1においては、基準面2にドットパターンが投影されている状態で、撮像部材20でラインごとに画像が取得される。物体検出装置1では画像走査のラインに沿ってドット像、及びドット像の移動に関するエピポーラ線が配置されており、ラインメモリーを用いて検出を行う。ラインごとに取得された画像は、画像分析部22において、同じラインの新旧の画像を比較してどのドットが移動したかが分析される。ドットの移動の分析としては、例えば、前後のラインの画像が取得される間に、撮像部材20と基準面2の間に被測定物体5が入ったり、撮像部材20と基準面2の間にあった被測定物体5が移動したことによるドット像の移動が、直前のラインのドット像上を通るエピポーラ線上で起きることを利用して、エピポーラ線上におけるドットの移動距離に基づいて行う。このため、従来の物体検出装置では全画面を1フレーム分フレームメモリに蓄えた上でフレームごとに検知動作を行うのに対して、本実施形態の物体検出装置1では、画像分析部22に新しい画像が全ライン読み込まれるまで待つ必要なく、所望のラインの情報が保存された時点で分析が行われるため、処理を早めることが可能となる。また、仮に広角レンズ等で湾曲したひずみ等が存在する際も、1画素ごとにルックアップテーブル等で配置変換を予め行えば、同様にライン単位での処理が可能となる。
本発明について上記実施形態を参照しつつ説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、改良の目的または本発明の思想の範囲内において改良または変更が可能である。
以上のように、本発明に係る物体検出装置は、被測定物体の形状や移動情報の検出における演算処理の負担の軽減に有用である。
1 物体検出装置
2 基準面
5 被測定物体
10 光照射部材
11 レーザー光源
12 コリメートレンズ
13 ホログラム素子
20 撮像部材
21 ビデオカメラ
22 画像分析部
23 検出部
30 基準パターン
31 基準参照ドット
131 第1ドット
231 第2ドット
Oa 照射基準線
Ob 撮像基準線

Claims (6)

  1. 光源と、前記光源からの出射光を所定のパターンを有する測定光に変換して基準面へ出射する照射光学系と、前記基準面を撮像する受光素子を有し、
    前記受光素子が撮像した画像を、水平方向に延び、所定の間隔をおいて配置された複数のラインのラインごとに読み込む撮像部材と、
    前記撮像部材による撮像データに基づいて、前記照射光学系と前記基準面の間に入った被測定物体を検出する検出部と、を備え、
    前記パターンは、前記基準面において、前記ラインに対応して水平方向に沿ってそれぞれ配置された、複数の分割パターンを有し、
    前記パターンは、少なくとも、複数の第1ドットと複数の第2ドットとが混在したドットパターンであり、前記複数の第2ドットの間隔は、前記複数の第1ドットの間隔よりも大きく、
    前記検出部は、少なくとも前記第1ドットにおける、前記被測定物体からの反射光に基づいて前記被測定物体の形状を検出し、
    前記検出部は、前記第2ドットにおける、前記被測定物体からの反射光に基づいて前記被測定物体の移動情報を検出することを特徴とする物体検出装置。
  2. 前記複数の分割パターンのうち、前記複数の第2ドットの間隔と同じ間隔をおいて配置された分割パターンで、前記第1ドットと前記第2ドットとが混在していることを特徴とする請求項1に記載の物体検出装置。
  3. 前記第1ドットと前記第2ドットは異なる特性値を有し、前記検出部は、前記特性値についての閾値に基づいて、前記第1ドットと前記第2ドットを判別することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の物体検出装置。
  4. 前記受光素子は、個別の前記分割パターンごとに撮像することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の物体検出装置。
  5. 前記受光素子は、複数の前記分割パターンごとに撮像することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の物体検出装置。
  6. 前記特性値は、輝度、ドット径、形状、明度、色相、波長、及び位相のうち少なくとも1つであることを特徴とする請求項3に記載の物体検出装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3295119A4 (en) 2015-05-10 2019-04-10 Magik Eye Inc. DISTANCE SENSOR
US10488192B2 (en) 2015-05-10 2019-11-26 Magik Eye Inc. Distance sensor projecting parallel patterns
US10337860B2 (en) 2016-12-07 2019-07-02 Magik Eye Inc. Distance sensor including adjustable focus imaging sensor
JP7230358B2 (ja) * 2017-07-27 2023-03-01 大日本印刷株式会社 回折光学素子、光照射装置、光照射システム、投影パターンの補正方法
JP2020537242A (ja) 2017-10-08 2020-12-17 マジック アイ インコーポレイテッド 複数の可動センサを含むセンサシステムの校正
KR20200054326A (ko) 2017-10-08 2020-05-19 매직 아이 인코포레이티드 경도 그리드 패턴을 사용한 거리 측정
US10679076B2 (en) 2017-10-22 2020-06-09 Magik Eye Inc. Adjusting the projection system of a distance sensor to optimize a beam layout
US11062468B2 (en) 2018-03-20 2021-07-13 Magik Eye Inc. Distance measurement using projection patterns of varying densities
CN112119628B (zh) 2018-03-20 2022-06-03 魔眼公司 调整相机曝光以用于三维深度感测和二维成像
EP3803266A4 (en) 2018-06-06 2022-03-09 Magik Eye Inc. DISTANCE MEASUREMENT USING HIGH DENSITY PROJECTION PATTERNS
US11475584B2 (en) 2018-08-07 2022-10-18 Magik Eye Inc. Baffles for three-dimensional sensors having spherical fields of view
US10839536B2 (en) * 2018-10-02 2020-11-17 Facebook Technologies, Llc Depth sensing using grid light patterns
US11483503B2 (en) 2019-01-20 2022-10-25 Magik Eye Inc. Three-dimensional sensor including bandpass filter having multiple passbands
WO2020197813A1 (en) 2019-03-25 2020-10-01 Magik Eye Inc. Distance measurement using high density projection patterns
US11019249B2 (en) 2019-05-12 2021-05-25 Magik Eye Inc. Mapping three-dimensional depth map data onto two-dimensional images
JP2023504157A (ja) 2019-12-01 2023-02-01 マジック アイ インコーポレイテッド 飛行時間情報を用いた三角測量ベースの3次元距離測定の向上
WO2021138139A1 (en) 2019-12-29 2021-07-08 Magik Eye Inc. Associating three-dimensional coordinates with two-dimensional feature points
CN115151945A (zh) 2020-01-05 2022-10-04 魔眼公司 将三维相机的坐标系转成二维相机的入射点

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2395261A (en) * 2002-11-11 2004-05-19 Qinetiq Ltd Ranging apparatus
JP2006528770A (ja) 2003-07-24 2006-12-21 コグニテンス リミテッド 対象物の3次元表面再構築の方法およびシステム
JP5001286B2 (ja) 2005-10-11 2012-08-15 プライム センス リミティド 対象物再構成方法およびシステム
JP5448599B2 (ja) * 2009-06-24 2014-03-19 キヤノン株式会社 測定システム及び測定処理方法
JP2011112639A (ja) * 2009-11-27 2011-06-09 Nippon Kensaki Kk 三次元形状測定装置
GB0921461D0 (en) * 2009-12-08 2010-01-20 Qinetiq Ltd Range based sensing
JP2011169701A (ja) * 2010-02-17 2011-09-01 Sanyo Electric Co Ltd 物体検出装置および情報取得装置
WO2014011179A1 (en) * 2012-07-12 2014-01-16 California Institute Of Technology Defocusing with projection grid including identification features
JP2014048124A (ja) 2012-08-30 2014-03-17 Sanyo Electric Co Ltd 情報取得装置および物体検出装置
US20150378080A1 (en) * 2014-06-30 2015-12-31 Microsoft Corporation Volume hologram for optic illumination
US20150381972A1 (en) * 2014-06-30 2015-12-31 Microsoft Corporation Depth estimation using multi-view stereo and a calibrated projector

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