WO2025258697A1 - 樹脂基板の製造方法 - Google Patents
樹脂基板の製造方法Info
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- WO2025258697A1 WO2025258697A1 PCT/JP2025/021542 JP2025021542W WO2025258697A1 WO 2025258697 A1 WO2025258697 A1 WO 2025258697A1 JP 2025021542 W JP2025021542 W JP 2025021542W WO 2025258697 A1 WO2025258697 A1 WO 2025258697A1
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Definitions
- This disclosure relates to a method for manufacturing a resin substrate.
- AR augmented reality
- FOV field of view
- the projected light emitted from this type of AR wearable device passes through a light guide plate and travels to the field of vision of the wearer, where it is focused using a diffraction grating or similar device, and transmitted light from outside is delivered to the wearer's field of vision along with the projected light.
- polymerizable composition containing an epithio compound When a polymerizable composition containing an epithio compound is used as a resin material, it tends to produce a resin composition with low density and a high refractive index.
- polymerizable compositions containing epithio compounds require long periods of stirring to dissolve the catalyst, so there is a need to reduce the processing time.
- the objective of this disclosure is to provide a method for manufacturing resin substrates that can shorten work time.
- the inventors have discovered that in a polymerizable composition containing an epithio compound, the dissolution time of the polymerization catalyst can be shortened by mixing a polymerization catalyst with an alcohol having 1 to 3 carbon atoms to prepare a catalyst solution, and then mixing this with the epithio compound and a thioether compound. They have also discovered that a resin substrate can be obtained by removing the alcohol by placing the polymerizable composition under reduced pressure, thereby providing a method for producing a resin substrate that can achieve the above-mentioned objectives.
- One embodiment of the present disclosure is a method for manufacturing a resin substrate, a step of mixing a polymerization catalyst with an alcohol having 1 to 3 carbon atoms to obtain a catalyst solution; the catalyst solution and a compound of formula (E1): (wherein X is S or O, a is an integer of 0 to 1, R is a divalent hydrocarbon having 1 to 10 carbon atoms, b is an integer of 0 to 1, and c is an integer of 0 to 2), and a thioether compound having a mercapto group to obtain a polymerizable composition; placing the polymerizable composition under reduced pressure; curing the polymerizable composition in a mold;
- the present invention relates to a method for manufacturing a resin substrate, including:
- This disclosure provides a method for manufacturing resin substrates that can shorten work time.
- FIG. 1 is a diagram showing a method for manufacturing a resin substrate according to this embodiment.
- FIG. 2 is a conceptual diagram showing an embodiment of the resin substrate according to this embodiment.
- FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing an embodiment of the light guide plate according to the present embodiment.
- the method for manufacturing a resin substrate includes the steps of: a step of mixing a polymerization catalyst with an alcohol having 1 to 3 carbon atoms to obtain a catalyst solution; the catalyst solution and a compound of formula (E1): (wherein X is S or O, a is an integer of 0 to 1, R is a divalent hydrocarbon having 1 to 10 carbon atoms, b is an integer of 0 to 1, and c is an integer of 0 to 2), and a thioether compound having a mercapto group to obtain a polymerizable composition; placing the polymerizable composition under reduced pressure; curing the polymerizable composition in a mold; Includes.
- the above configuration provides a method for manufacturing a resin substrate that can shorten the working time, and the manufacturing method also provides a resin, a resin substrate, a light guide plate, a waveguide device, an optical component for eyewear, and a wearable device that use the same, with reduced yellowness.
- the method for manufacturing a resin substrate according to this embodiment may be carried out in accordance with the procedure shown in FIG.
- the method for manufacturing a resin substrate according to this embodiment includes the steps of: a step of mixing a polymerization catalyst with an alcohol having 1 to 3 carbon atoms to obtain a catalyst solution (hereinafter also referred to as a "catalyst solution preparation step”); a step of mixing the catalyst solution, an epithio compound containing a compound represented by formula (E1), and a thioether compound having a mercapto group to obtain a polymerizable composition (hereinafter also referred to as a "polymerizable composition preparation step”); a step of placing the polymerizable composition under reduced pressure (hereinafter also referred to as a "decompression step”); a step of curing the polymerizable composition in a mold (hereinafter also referred to as a "cast polymerization step”); Includes.
- the method for manufacturing a resin substrate according to this embodiment includes the following steps: an annealing step to remove residual stress by heat treatment;
- the method may further include a slicing step of slicing the resin substrate to obtain a resin substrate having a desired thickness, and a polishing step of polishing the resin substrate with a polishing device to achieve a predetermined roughness and flatness.
- a polymerization catalyst is mixed with an alcohol having 1 to 3 carbon atoms to obtain a catalyst solution.
- the polymerization catalyst requires prolonged stirring to dissolve in the epithio compound and the thioether compound. Meanwhile, the use of an alcohol having 1 to 3 carbon atoms in the catalyst solution preparation step allows the polymerization catalyst to be easily dissolved.
- polymerization catalysts include nitrogen-containing compounds such as tertiary amines, ammonium salts, imidazole compounds, and pyrazole compounds, and phosphorus-containing compounds such as tetrabutylphosphonium bromide.
- ammonium salts are preferred.
- ammonium salts include quaternary ammonium salts.
- quaternary ammonium salts include tetraalkylammonium salts.
- the tetraalkylammonium salt is preferably a tetraalkylammonium salt having at least one benzyl group.
- tetraalkylammonium salts examples include benzyltriethylammonium chloride, benzyltrimethylammonium chloride, benzyltripropylammonium chloride, and benzyltributylammonium chloride. Among these, benzyltriethylammonium chloride is preferred.
- alcohols having 1 to 3 carbon atoms include methanol, ethanol, n-propanol, and isopropanol. Among these, methanol or ethanol is preferred, with methanol being more preferred, due to the ease of removal in the decompression step described below.
- the mass ratio of the polymerization catalyst to the alcohol having 1 to 3 carbon atoms is preferably 10/90 to 90/10, more preferably 30/70 to 70/30, and even more preferably 40/60 to 60/40.
- a catalyst solution, an epithio compound containing a compound represented by formula (E1), and a thioether compound having a mercapto group are mixed to obtain a polymerizable composition.
- a homogeneous polymerizable composition in which the polymerization catalyst is dissolved can be prepared in a short time.
- the amount of the polymerization catalyst added in the polymerizable composition is preferably 0.001 to 2 mass%, more preferably 0.005 to 1 mass%, even more preferably 0.01 to 0.5 mass%, and still more preferably 0.03 to 0.07 mass%, based on the total amount of the epithio compound and the thioether compound.
- the epithio compound is Formula (E1): (wherein X is S or O, a is an integer of 0 to 1, R is a divalent hydrocarbon having 1 to 10 carbon atoms, b is an integer of 0 to 1, and c is an integer of 0 to 2) (hereinafter also referred to as "compound (1)").
- the term "epithio compound” is a general term for epithio compounds contained in the polymerizable composition.
- X is preferably S.
- a is preferably 0.
- the number of carbon atoms in R is preferably 1 to 4, and more preferably 2 or 3.
- Examples of the divalent hydrocarbon group represented by R include an ethylene group, a propylene group, and a butylene group.
- compound (1) include bis( ⁇ -epithiopropyl) sulfide, bis( ⁇ -epithiopropyl) disulfide, bis( ⁇ -epithiopropyl) trisulfide, bis( ⁇ -epithiopropylthio)methane, 1,2-bis( ⁇ -epithiopropylthio)ethane, 1,3-bis( ⁇ -epithiopropylthio)propane, 1,3-bis( ⁇ -epithiopropyloxy)propane, 1,4-bis( ⁇ -epithiopropylthio)butane, and bis( ⁇ -epithiopropylthioethyl)sulfide.
- the compound represented by formula (E1) is a compound represented by the following formula (1-1): It is more preferable that the compound is a compound represented by the following formula:
- the content (also referred to as purity) of compound (1) in the epithio compound of this embodiment is preferably 90% by mass or more, more preferably 95% by mass or more, even more preferably 98% by mass or more, and even more preferably 99% by mass or more, based on the total amount of the epithio compound.
- the content of the epithio compound is preferably 50 to 98% by mass, more preferably 60 to 96% by mass, and even more preferably 70 to 96% by mass, based on the total amount of the polymerizable composition after the decompression step.
- the polymerizable composition according to this embodiment contains an epithio compound including a compound represented by formula (E1) and a thioether compound including at least one compound selected from the group consisting of a compound represented by formula (T1) and a compound represented by formula (T2).
- the thioether compound having a mercapto group is preferably a compound represented by the formula (T1):
- R 1 and R 2 each independently represent a divalent hydrocarbon group having 1 to 6 carbon atoms; m and n each independently represent an integer of 0 to 2.
- the polymerizable composition according to this embodiment can obtain a resin that exhibits a high Abbe number.
- compounds represented by formula (T1) include 2,5-bis(mercaptoethyl)-1,4-dithiane and 2,5-bis(mercaptomethyl)-1,4-dithiane.
- the thioether compound having a mercapto group preferably contains at least one selected from the group consisting of these. Of these, 2,5-bis(mercaptomethyl)-1,4-dithiane is preferred.
- the content of the compound represented by formula (T1) may be 50% by mass or more, 80% by mass or more, 90% by mass or more, 95% by mass or more, or even 100% by mass, based on the total amount of thioether compounds having a mercapto group.
- the thioether compound is preferably represented by formula (T2): (In the formula, R 11 and R 12 are each independently hydrogen or a mercaptomethyl group; and p is 1 or 2.
- the polymerizable composition according to this embodiment can obtain a resin that exhibits a high Abbe number.
- compounds represented by formula (T2) include bis(mercaptoethylthio)mercaptopropane and bis(mercaptomethyl)-3,6,9-trithiaundecanedithiol. Of these, bis(mercaptomethyl)-3,6,9-trithiaundecanedithiol is preferred.
- Bis(mercaptomethyl)-3,6,9-trithiaundecanedithiol may also be a mixture of 4,7-bis(mercaptomethyl)-3,6,9-trithiaundecane-1,11-dithiol, 4,8-bis(mercaptomethyl)-3,6,9-trithiaundecane-1,11-dithiol, and 5,7-bis(mercaptomethyl)-3,6,9-trithiaundecane-1,11-dithiol.
- the content of the compound represented by formula (T2) may be 50% by mass or more, 80% by mass or more, 90% by mass or more, 95% by mass or more, or even 100% by mass, based on the total amount of thioether compounds having a mercapto group.
- the content of the thioether compound having a mercapto group is preferably 5 to 50 parts by mass, more preferably 8 to 30 parts by mass, and even more preferably 10 to 20 parts by mass per 100 parts by mass of the epithio compound.
- the content of the thioether compound having a mercapto group is 10 to 20% by mass, more preferably 12 to 19% by mass, and even more preferably 13 to 18% by mass, based on the total amount of the polymerizable composition after the decompression step.
- the polymerizable composition preferably further contains elemental sulfur in combination with the epithio compound.
- the content of elemental sulfur is preferably 1 to 30% by mass, more preferably 5 to 20% by mass, and even more preferably 10 to 20% by mass or more, based on the total amount of the polymerizable composition after the decompression step.
- the polymerizable composition may contain other additives such as ultraviolet absorbers, release agents, colorants, antioxidants, refractive index modifiers, birefringence modifiers, color inhibitors, and fluorescent brighteners. These may be used alone or in combination of two or more.
- the polymerizable composition preferably contains an ultraviolet absorber.
- an ultraviolet absorber improves the weather resistance of the resin, preventing deterioration and yellowing over time and maintaining transparency during use.
- ultraviolet absorbers examples include benzotriazole compounds, benzophenone compounds, dibenzoylmethane, and 4-tert-butyl-4'-methoxybenzoylmethane. Of these, benzotriazole compounds are preferred.
- the polymerizable composition contains, as a benzotriazole-based compound, a compound of the formula (U1): (wherein R3 is an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms or an alkoxy group having 1 to 20 carbon atoms, and m is an integer of 1 to 2.
- U1 a compound of the formula (U1): (wherein R3 is an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms or an alkoxy group having 1 to 20 carbon atoms, and m is an integer of 1 to 2.
- R3 is preferably an alkoxy group having 1 to 20 carbon atoms.
- the number of carbon atoms in the alkoxy group of R3 is preferably 1 to 20, more preferably 3 to 18, and even more preferably 6 to 16.
- Examples of the alkoxy group of R3 include a methoxy group, an ethoxy group, a propyloxy group, a hexyloxy group, an octyloxy group, a dodecenyloxy group, and a lauryloxy group.
- the number of carbon atoms in the alkyl group of R3 is preferably 1 to 20, more preferably 3 to 18, and even more preferably 6 to 16.
- Examples of the alkyl group of R3 include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a tertiary butyl group, a hexyl group, an octyl group, a dodecenyl group, and a lauryl group.
- m is preferably 1.
- benzotriazole compounds include 2-(2-hydroxy-5-methylphenyl)-2H-benzotriazole, 2-(2-hydroxy-3,5-di-tert-amylphenyl)-2H-benzotriazole, 2-(2-hydroxy-3,5-di-tert-butylphenyl)-2H-benzotriazole, 2-(2-hydroxy-5-tert-butylphenyl)-2H-benzotriazole, 2-(2-hydroxy-5-tert-octylphenyl)-2H-benzotriazole, and 2-(2-hydroxy-4-octyloxyphenyl)-2H-benzotriazole. These may be used alone or in combination of two or more. Of these, 2-(2-hydroxy-4-octyloxyphenyl)-2H-benzotriazole or 2-(2-hydroxy-4-ethoxyphenyl)-2H-benzotriazole is preferred.
- benzophenone compounds include 2,4-dihydroxybenzophenone, 2-hydroxy-4-methoxybenzophenone, 2-hydroxy-4-methoxybenzophenone-5-sulfonic acid, 2-hydroxy-4-n-octoxybenzophenone, 2-hydroxy-4-n-dodecyloxybenzophenone, 2-hydroxy-4-benzyloxybenzophenone, and 2,2'-dihydroxy-4-methoxybenzophenone.
- the content of the ultraviolet absorber is preferably 0.001% to 5% by mass, more preferably 0.01% to 3% by mass, and even more preferably 0.05% to 1% by mass, based on the total amount of the epithio compound and the thioether compound.
- colorant L a colorant having a maximum absorption wavelength of 550 nm or more and 600 nm or less in a 20 ppm by mass toluene solution is 0.1 mass% or less.
- colorant L has a maximum absorption wavelength of 550 nm or more and 600 nm or less in a 20 ppm by mass toluene solution.
- the maximum absorption wavelength of colorant L is preferably 550 nm or longer, more preferably 560 nm or longer, and even more preferably 580 nm or longer, from the viewpoint of obtaining a lens substrate with a slightly bluish, favorable color tone.
- the maximum absorption wavelength of colorant L is preferably 600 nm or shorter, and even more preferably 590 nm or shorter, from the viewpoint of obtaining a resin with a slightly bluish, favorable color tone.
- colorant L examples include C.I. Solvent Violet 11, 13, 14, 26, 31, 33, 36, 37, 38, 45, 47, 48, 51, 59, and 60; and C.I. Disperse Violet 26, 27, and 28.
- C.I. Disperse Violet 27, C.I. Solvent Violet 13, and 31 are preferred, and C.I. Disperse Violet 27 and C.I. Solvent Violet 13 are more preferred, with C.I. Disperse Violet 27 being even more preferred, from the viewpoint of high stability and minimal change in color tone even during polymerization of the polymerizable composition.
- antioxidants examples include phenol-based antioxidants, epoxy-based antioxidants, sulfur-based antioxidants, and phosphorus-based antioxidants.
- Phenol-based antioxidants include 2,6-di-t-butyl-4-methylphenol and phenol.
- Epoxy-based antioxidants include, for example, bisphenol A diglycidyl ether.
- Sulfur-based antioxidants include, for example, dilauryl 3,3'-thiodipropionate.
- Phosphorus-based antioxidants include, for example, phosphite compounds such as triphenyl phosphite, trioctyl phosphite, and tridecyl phosphite. Antioxidants can be used alone or in combination of two or more.
- ⁇ Decompression step> In the depressurization step, the polymerizable composition is placed under reduced pressure. The depressurization step removes the alcohol having 1 to 3 carbon atoms contained in the polymerizable composition. The depressurization step also allows degassing of the polymerizable composition.
- the pressure during the decompression step is preferably 0.133 to 20 KPa, more preferably 1 to 10 KPa, and even more preferably 10 to 5 KPa.
- the decompression process may be continued until a weight change occurs equivalent to the amount of alcohol having 1 to 3 carbon atoms added.
- the curing method in the cast polymerization step is not particularly limited, but the polymerizable composition can be cured by heating.
- the lens substrate is obtained, for example, by injecting a polymerizable composition into a mold that combines a glass or metal mold with tape or a gasket, and then polymerizing the composition.
- the method for producing a resin substrate according to this embodiment may further include an annealing step of removing residual stress by heat treatment.
- the heat treatment temperature in the annealing step is preferably 80 to 150°C.
- the method for producing a resin substrate according to this embodiment may further include a slicing step of slicing the resin substrate to obtain a resin substrate having a desired thickness. After the cast polymerization step, the resin substrate released from the mold may be sliced into a predetermined thickness of 0.3 to 2.0 mm using a wire saw.
- the substrate can be polished with a polishing device with sufficient removal until the wire saw marks disappear, leaving a resin substrate with a thickness of 0.1 to 1.5 mm. If necessary, the outer periphery of the released resin substrate can be cut to create a smooth surface, and then sliced with a wire saw.
- the density of the resin in the resin substrate is preferably 0.93 to 2.10 g/ cm3 , more preferably 1.20 to 1.80 g/ cm3 , and even more preferably 1.30 to 1.50 g/ cm3 . Having the density within this range enables the light guide plate to be made lighter.
- the resin density can be measured by the underwater displacement method in accordance with JIS K7112-1:2023.
- the average internal transmittance IT 420-780 of the resin substrate for light with wavelengths of 420 nm to 780 nm is preferably 95% or more, more preferably 97% or more, and even more preferably 98% or more, from the viewpoint of suppressing an effect on the color tone of an image passing through the light guide plate.
- the average internal transmittance IT 420-780 is the average value of the internal transmittance IT w of light in the wavelength range of 420 nm to 780 nm.
- the internal transmittance IT w is calculated for each wavelength using the following formula by preparing two samples with different thicknesses.
- the internal transmittance IT w of the resin substrate is preferably 83% or more for all light having wavelengths of 420 nm to 780 nm. From the viewpoint of further suppressing the influence on the color tone of an image passing through the light guide plate, the internal transmittance IT w is more preferably 85% or more, even more preferably 90% or more, and even more preferably 95% or more for all light having wavelengths of 420 nm to 780 nm.
- the method for measuring the internal transmittance IT w is as described above.
- the condition for the internal transmittance IT w can be achieved by using a material that is less colored as the resin material and by not containing a dye such as a bluing agent.
- the average internal transmittance IT 300-380 of a resin substrate for light with a wavelength of 300 to 380 nm is preferably 50% or less, more preferably 30% or less, even more preferably 10% or less, and still more preferably 1% or less, from the viewpoint of improving the light resistance of the resin.
- the average internal transmittance IT 300-380 is the average value of the internal transmittance IT w of light with a wavelength of 300 nm to 380 nm.
- the measurement and calculation methods are the same as those for the above-mentioned average internal transmittance IT 420-780 , except that the wavelength range of light is different.
- the average internal transmittance IT 300-320 of a resin substrate for light with a wavelength of 300 to 320 nm is preferably 30% or less, more preferably 10% or less, even more preferably 1% or less, and even more preferably 0.1% or less, from the viewpoint of improving the light resistance of the resin.
- the average internal transmittance IT 300-320 is the average value of the internal transmittance IT w of light with a wavelength of 300 nm to 320 nm.
- the measurement and calculation methods are the same as those for the above-mentioned average internal transmittance IT 420-780 , except that the wavelength range of light is different.
- the thickness of the resin substrate is preferably 0.1 to 2.0 mm, more preferably 0.2 to 1.5 mm, and even more preferably 0.3 to 1.0 mm.
- the thickness of the resin substrate is the thickness of the light guide plate.
- the thickness of the resin substrate or the substrate of the light guide plate can be measured using an ultrasonic thickness gauge.
- the resin substrate according to this embodiment may have any shape, but may be a disk.
- the diameter of the disk is also not limited to any particular shape, but may be, for example, 50 mm to 450 mm, or 60 mm to 150 mm.
- the resin substrate according to this embodiment may also have a shape that does not have a base curve, such as a convex or concave surface, like a lens substrate, and may be, for example, flat.
- the flatness of the resin substrate is preferably 25.0 ⁇ m or less, more preferably 20.0 ⁇ m or less, even more preferably 12.0 ⁇ m or less, and even more preferably 10.0 ⁇ m or less.
- Flatness measures the flatness of one side of the substrate, and tends to be higher if the substrate is curved or warped. Flatness can be measured using a Nidek flatness tester (FT-15). By removing residual stress, it is possible to adjust the flatness value of the resin substrate to a smaller value.
- the total thickness variation (TTV) of the resin substrate is preferably 3 ⁇ m or less, more preferably 1 ⁇ m or less, and even more preferably 0.5 ⁇ m or less. There is no particular lower limit to the TTV, but it is, for example, 0.01 ⁇ m or more.
- TTV refers to the difference between the maximum and minimum values of the thickness (i.e., the distance between the first surface 10a and the second surface 10b of the light guide plate substrate) (i.e., TTV (Total Thickness Variation)).
- TTV can be measured using the Bow/Warp measuring device SBW-331ML/d manufactured by Kobelco Research Institute Co., Ltd.
- [Waveguide device] 3 is a schematic cross-sectional view showing an embodiment of a waveguide device according to the present invention.
- the waveguide device 1 includes a light guide plate 10 containing a resin, a diffraction grating 52, and a diffraction grating 32.
- the diffraction grating 52 and the diffraction grating 32 are each formed on one main surface of the light guide plate 10. Light of each wavelength is introduced into the diffraction grating 52 from the image display device 24.
- the image display device 24 is, for example, a transmissive liquid crystal display (LCD T-LCOS) panel driven by a field sequential method.
- the image display device 24 modulates light of each wavelength according to the image signal generated by the image engine (not shown) of the signal processing device 5.
- the light of each wavelength modulated by the pixels in the effective area of the image display device 24 is incident on the light guide plate 10 with a predetermined beam cross section (approximately the same shape as the effective area).
- the image display device 24 can also be replaced with other types of display elements, such as a DMD (Digital Mirror Device), a reflective liquid crystal display (LCOS) panel, MEMS (Micro Electro Mechanical Systems), organic EL (Electro-Luminescence), or inorganic EL.
- a diffraction grating 52 is laminated on the second surface 10b of the light guide plate 10.
- the diffraction grating 52 may have, for example, an interference fringe pattern pitch. Note that the diffraction grating 52 may also be a hologram.
- the light of each wavelength modulated by the image display device 24 is sequentially incident on the first surface 10a into the light guide plate 10.
- the diffraction grating 52 diffracts the light of each wavelength incident sequentially at a predetermined angle to guide it to the wearer's eye.
- the light of each wavelength diffracted by the diffraction grating 52 is repeatedly totally reflected at the interface between the light guide plate 10 and the air, propagates within the light guide plate 10, and is then incident on the diffraction grating 32.
- the light of each wavelength incident on the diffraction grating 32 is diffracted by the diffraction grating 32 and sequentially emitted approximately perpendicularly to the outside from the second surface 10b of the light guide plate 10.
- the light of each wavelength emitted in this manner as approximately parallel light is focused on the wearer's retina as a virtual image I of the image generated by the image display device 24.
- the light guide plate 10 in the waveguide device 1 according to this embodiment contains the resin according to this embodiment described above.
- a substrate containing the resin according to this embodiment as the substrate, it is possible to use a material that has a high refractive index but a relatively low density, which enables a light guide plate to be obtained that can reduce the weight of a wearable device and has reduced yellowness.
- the shape of the substrate of the light guide plate is not particularly limited, but it may be a quadrilateral plate.
- the eyewear optical member according to this embodiment includes a resin lens substrate and the waveguide device according to this embodiment.
- the refractive index (RW) of the light guide plate is greater than the refractive index (RT) of the lens substrate, and the difference (RW-RT) between the refractive index (RW) of the light guide plate and the refractive index (RT) of the lens substrate is preferably 0.2 to 1.0, more preferably 0.3 to 0.8, and even more preferably 0.3 to 0.5.
- the eyewear optical component may be, for example, a spectacle lens to be applied to a spectacle-type wearable device.
- the lens substrate has the shape of a spectacle lens substrate.
- the spectacle lens substrate does not necessarily have to have a spherical surface, and may be a flat plate shaped to fit a spectacle-type frame.
- the head-mounted display includes, for example, a spectacle-type frame worn on the head of a wearer and an eyewear optical element according to this embodiment attached to the frame.
- the spectacle-type frame may be equipped with a backlight for illuminating images, a signal processing device for displaying images, a speaker for reproducing sound, and the like.
- a method for manufacturing a resin substrate a step of mixing a polymerization catalyst with an alcohol having 1 to 3 carbon atoms to obtain a catalyst solution; the catalyst solution and a compound of formula (E1): (wherein X is S or O, a is an integer of 0 to 1, R is a divalent hydrocarbon having 1 to 10 carbon atoms, b is an integer of 0 to 1, and c is an integer of 0 to 2), and a thioether compound having a mercapto group to obtain a polymerizable composition; placing the polymerizable composition under reduced pressure; curing the polymerizable composition in a mold; A method for manufacturing a resin substrate, comprising: ⁇ 2> The method for producing a resin substrate according to ⁇ 1>, wherein the polymerization catalyst contains a quaternary ammonium salt.
- ⁇ 3> The method for producing a resin substrate according to ⁇ 1> or ⁇ 2>, wherein the polymerization catalyst contains a tetraalkylammonium salt.
- the tetraalkylammonium salt is at least one selected from the group consisting of benzyltriethylammonium chloride, benzyltrimethylammonium chloride, benzyltripropylammonium chloride, and benzyltributylammonium chloride.
- ⁇ 5> ⁇ 4> The method for producing a resin substrate according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 4>, wherein the compound represented by formula (E1) includes bis-( ⁇ -epithiopropyl) sulfide or bis-( ⁇ -epithiopropyl) disulfide.
- the compound represented by formula (E1) includes bis-( ⁇ -epithiopropyl) sulfide or bis-( ⁇ -epithiopropyl) disulfide.
- ⁇ 6> ⁇ 5> The method for producing a resin substrate according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 5>, wherein the content of the epithio compound is 50 to 98 mass % with respect to the total amount of the polymerizable composition after the pressure reduction.
- thioether compound includes a compound having a cyclic thioether skeleton.
- the thioether compound is represented by formula (T1): (In the formula, R 1 and R 2 each independently represent a divalent hydrocarbon group having 1 to 6 carbon atoms; m and n each independently represent 0 to 2.
- the thioether compound is represented by formula (T2): (In the formula, R 11 and R 12 are each independently hydrogen or a mercaptomethyl group; p is 1 or 2.
- ⁇ 10> ⁇ 9> The method for producing a resin substrate according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 9>, wherein the content of the thioether compound is 10 to 20 mass % with respect to the total amount of the polymerizable composition after the pressure reduction.
- ⁇ 12> ⁇ 12> The method for producing a resin substrate according to ⁇ 11>, wherein the content of the ultraviolet absorber is 0.001% by mass to 5% by mass with respect to the total amount of the polymerizable composition after the reduced pressure.
- ⁇ 13> ⁇ 13> The method for producing a resin substrate according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 12>, wherein the resin substrate has an average internal transmittance IT 420-780 of 95% or more for light having a wavelength of 420 nm to 780 nm.
- ⁇ 14> ⁇ 14> The method for producing a resin substrate according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 13>, wherein the resin substrate has an internal transmittance IT w of 83% or more for light having a wavelength of 420 nm to 780 nm.
- ⁇ 15> ⁇ 15> The method for producing a resin substrate according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 14>, wherein the resin substrate has an average internal transmittance IT 300-380 of 50% or less for light with a wavelength of 300 to 380 nm.
- ⁇ 18> ⁇ 18> The method for producing a resin substrate according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 17>, wherein the resin substrate has a value of (IT 420-780 - IT 550-650 )/IT 420-780 of 5% or less.
- ⁇ 19> ⁇ 19> The method for producing a resin substrate according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 18>, wherein the parallelism of the resin substrate is 10 ⁇ m or less.
- ⁇ 20> ⁇ 19> The method for producing a resin substrate according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 19>, wherein the resin substrate has a thickness of 0.1 to 2.0 mm.
- ⁇ 21> ⁇ 21> The method for producing a resin substrate according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 20>, wherein the resin substrate is for a cross reality device light guide plate.
- Abbe number ⁇ d (nd ⁇ 1)/(nF ⁇ nC) nd is the refractive index measured at the d line, nF is the refractive index measured at the F line, and nC is the refractive index measured at the C line.
- Tg Glass transition temperature
- Thermo Plus EVO2 manufactured by Rigaku Corporation
- the yellowness index (YI) was measured in accordance with JIS K 7373:2006 using a spectrophotometer "U-4100" (manufactured by Hitachi, Ltd.) as the measuring device.
- the yellowness index (YI) is a numerical value indicating the intensity of yellowness, with a larger YI value indicating a stronger yellowness.
- Comparative Production Example 2 15 g of 2,5-bismercaptomethyl-1,4-dithiane and 0.069 g of benzyltriethylammonium chloride as a catalyst were weighed into a sample tube and stirred at room temperature. As a result, after 3 hours, the catalyst had hardly dissolved. Furthermore, after 5 hours from the start of stirring, the catalyst had hardly dissolved.
- Example 1 0.138 parts by mass of benzyltriethylammonium chloride as a catalyst was dissolved in 0.138 parts by mass of methanol to obtain a catalyst-containing methanol solution.
- Example 2 The polymerizable composition described in Example 1 was injected into a cavity formed by two molds arranged at a predetermined distance. A resin substrate was formed by the curing reaction of the raw material liquid and then released from the mold. The released resin substrate was then sliced using a wire saw to obtain multiple resin substrates with a thickness of 1.1 mm. To remove residual stress caused by slicing due to scratches during processing, the multiple resin substrates were stacked with spacers interposed between them and annealed at 170°C for 3 hours. Subsequently, the resin substrates were polished at a pressure of 6 kPa using a double-side lapping polishing machine using an alumina slurry with an average particle size of 0.5 ⁇ m. A resin substrate with a thickness of 1.0 mm was formed using the above method. The flatness of the resin substrate was 3.5 ⁇ m, and the total thickness variation (TTV) of the resin substrate was 0.8 ⁇ m.
- TTV total thickness variation
- Waveguide device 10 Light guide plate 24 Image display device 32, 52 Diffraction grating
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Abstract
樹脂基板の製造方法であって、重合触媒と炭素数1~3のアルコールとを混合し、触媒溶液を得る工程と、前記触媒溶液と、式(E1):(式中、XはS又はOであり、aは0~1の整数であり、Rは炭素数1~10の2価の炭化水素であり、bは0~1の整数であり、cは0~2の整数である。)で表される化合物を含むエピチオ化合物と、メルカプト基を有するチオエーテル化合物とを混合し、重合性組成物を得る工程と、前記重合性組成物を減圧下に配する工程と、前記重合性組成物を成型型内で硬化させる工程と、を含む、樹脂基板の製造方法。
Description
本開示は、樹脂基板の製造方法に関する。
ヘッドマウントディスプレイ等の拡張現実(AR)ウェアラブルデバイスにおいて、視野角(FOV)を拡大する等の観点から高屈折率のガラス基板からなる導光板を用いることが提案されてきた(例えば、特許文献1)。
この種のARウェアラブルデバイスから出射された投影光を導光板を通過させてディバイス装用者の視界まで移動させ、回折格子等を使って投影光を結像させるとともに、外部からの透過光を投影光と併せてディバイス装用者の視覚へと届ける構造となっている。
密度の大きい(3.0-5.5g/cm3)ガラス組成を選択することで、ガラス基板の屈折率を高くすることができるが、その場合、ウェアラブルデバイスの軽量化を阻害するとともに、ガラス基板の製造歩留まり及び加工性が低下する原因となっていた。そこで、低密度で屈折率の高い樹脂組成物によって導光板を製造することが検討されている。
樹脂材料として、エピチオ化合物を含む重合性組成物を用いると、低密度で高い屈折率を有する樹脂組成物が得られる傾向にある。しかしながら、エピチオ化合物を含む重合性組成物において、触媒を溶解させるためには長時間の攪拌が必要になるため、作業時間の短縮が求められていた。
そこで本開示においては、作業時間の短縮が可能な樹脂基板の製造方法を提供することを目的とする。
本発明者らは、エピチオ化合物を含む重合性組成物において、重合触媒と炭素数1~3のアルコールとを混合して触媒溶液を調製し、エピチオ化合物及びチオエーテル化合物と混合することで、重合触媒の溶解時間を短縮でき、更に重合性組成物を減圧下に配することでアルコールを除去することで樹脂基板が得られることを見出し、上述の課題を達成できる樹脂基板の製造方法を提供することができることを見出した。
本開示の一実施形態は、樹脂基板の製造方法であって、
重合触媒と炭素数1~3のアルコールとを混合し、触媒溶液を得る工程と、
前記触媒溶液と、式(E1):
(式中、XはS又はOであり、aは0~1の整数であり、Rは炭素数1~10の2価の炭化水素であり、bは0~1の整数であり、cは0~2の整数である。)で表される化合物を含むエピチオ化合物と、メルカプト基を有するチオエーテル化合物とを混合し、重合性組成物を得る工程と、
前記重合性組成物を減圧下に配する工程と、
前記重合性組成物を成型型内で硬化させる工程と、
を含む、樹脂基板の製造方法に関する。
重合触媒と炭素数1~3のアルコールとを混合し、触媒溶液を得る工程と、
前記触媒溶液と、式(E1):
(式中、XはS又はOであり、aは0~1の整数であり、Rは炭素数1~10の2価の炭化水素であり、bは0~1の整数であり、cは0~2の整数である。)で表される化合物を含むエピチオ化合物と、メルカプト基を有するチオエーテル化合物とを混合し、重合性組成物を得る工程と、
前記重合性組成物を減圧下に配する工程と、
前記重合性組成物を成型型内で硬化させる工程と、
を含む、樹脂基板の製造方法に関する。
本開示は、作業時間の短縮が可能な樹脂基板の製造方法を提供することができる。
以下、本開示の実施形態(以下、「本実施形態」という。)について詳細に説明するが、本発明はこれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で様々な変形が可能である。なお、本明細書において、例えば「1~100」との数値範囲の表記は、その下限値「1」及び上限値「100」の双方を包含するものとする。また、他の数値範囲の表記も同様である。
[樹脂基板の製造方法]
本実施形態に係る樹脂基板の製造方法は、
重合触媒と炭素数1~3のアルコールとを混合し、触媒溶液を得る工程と、
前記触媒溶液と、式(E1):
(式中、XはS又はOであり、aは0~1の整数であり、Rは炭素数1~10の2価の炭化水素であり、bは0~1の整数であり、cは0~2の整数である。)で表される化合物を含むエピチオ化合物と、メルカプト基を有するチオエーテル化合物とを混合し、重合性組成物を得る工程と、
前記重合性組成物を減圧下に配する工程と、
前記重合性組成物を成型型内で硬化させる工程と、
を含む。
以上の構成により、作業時間の短縮が可能な樹脂基板の製造方法を提供することができる。また、当該製造方法により、黄色度の抑制された樹脂、樹脂基板、導光板、それを用いた導波路装置、アイウェア用光学部材及びウェアラブルデバイスが得られる。
本実施形態に係る樹脂基板の製造方法は、
重合触媒と炭素数1~3のアルコールとを混合し、触媒溶液を得る工程と、
前記触媒溶液と、式(E1):
(式中、XはS又はOであり、aは0~1の整数であり、Rは炭素数1~10の2価の炭化水素であり、bは0~1の整数であり、cは0~2の整数である。)で表される化合物を含むエピチオ化合物と、メルカプト基を有するチオエーテル化合物とを混合し、重合性組成物を得る工程と、
前記重合性組成物を減圧下に配する工程と、
前記重合性組成物を成型型内で硬化させる工程と、
を含む。
以上の構成により、作業時間の短縮が可能な樹脂基板の製造方法を提供することができる。また、当該製造方法により、黄色度の抑制された樹脂、樹脂基板、導光板、それを用いた導波路装置、アイウェア用光学部材及びウェアラブルデバイスが得られる。
本実施形態に係る樹脂基板の製造方法は、図1に示す手順で行われてもよい。
本実施形態に係る樹脂基板の製造方法は、
重合触媒と炭素数1~3のアルコールとを混合し、触媒溶液を得る工程(以下、「触媒溶液調製工程」ともいう)と、
前記触媒溶液と、式(E1)で表される化合物を含むエピチオ化合物と、メルカプト基を有するチオエーテル化合物とを混合し、重合性組成物を得る工程(以下、「重合性組成物調製工程」ともいう)と、
前記重合性組成物を減圧下に配する工程(以下、「減圧工程」ともいう)と、
前記重合性組成物を成型型内で硬化させる工程(以下、「注型重合工程」ともいう)と、
を含む。
本実施形態に係る樹脂基板の製造方法は、
重合触媒と炭素数1~3のアルコールとを混合し、触媒溶液を得る工程(以下、「触媒溶液調製工程」ともいう)と、
前記触媒溶液と、式(E1)で表される化合物を含むエピチオ化合物と、メルカプト基を有するチオエーテル化合物とを混合し、重合性組成物を得る工程(以下、「重合性組成物調製工程」ともいう)と、
前記重合性組成物を減圧下に配する工程(以下、「減圧工程」ともいう)と、
前記重合性組成物を成型型内で硬化させる工程(以下、「注型重合工程」ともいう)と、
を含む。
本実施形態に係る樹脂基板の製造方法は、上述の工程に加え、
熱処理により残留応力を除去するアニール工程、
樹脂基板をスライスして所望の厚みを有する樹脂基板を得るスライス工程、及び
樹脂基板を所定の粗さ、平坦度とする目的で、研磨装置により研磨する研磨工程
を更に有していてもよい。
熱処理により残留応力を除去するアニール工程、
樹脂基板をスライスして所望の厚みを有する樹脂基板を得るスライス工程、及び
樹脂基板を所定の粗さ、平坦度とする目的で、研磨装置により研磨する研磨工程
を更に有していてもよい。
<触媒溶液調製工程>
触媒溶液調製工程では、重合触媒と炭素数1~3のアルコールとを混合し、触媒溶液を得る。重合触媒は、エピチオ化合物及びチオエーテル化合物へ溶解させるためには、長時間の攪拌が求められる。一方、触媒溶液調製工程では、炭素数1~3のアルコールを用いることで、重合触媒を容易に溶解させることができる。
触媒溶液調製工程では、重合触媒と炭素数1~3のアルコールとを混合し、触媒溶液を得る。重合触媒は、エピチオ化合物及びチオエーテル化合物へ溶解させるためには、長時間の攪拌が求められる。一方、触媒溶液調製工程では、炭素数1~3のアルコールを用いることで、重合触媒を容易に溶解させることができる。
重合触媒としては、例えば、3級アミン、アンモニウム塩、イミダゾール系化合物、ピラゾール系化合物等の含窒素化合物、テトラブチルフォスフォニウムブロマイド等の含リン化合物が挙げられる。これらの中でもアンモニウム塩が好ましい。アンモニウム塩としては、例えば、4級アンモニウム塩が挙げられる。4級アンモニウム塩としては、例えばテトラアルキルアンモニウム塩が挙げられる。テトラアルキルアンモニウム塩は、少なくとも1つのベンジル基を有するテトラアルキルアンモニウム塩であることが好ましい。テトラアルキルアンモニウム塩としては、例えば、ベンジルトリエチルアンモニウムクロライド、ベンジルトリメチルアンモニウムクロライド、ベンジルトリプロピルアンモニウムクロライド、又はベンジルトリブチルアンモニウムクロライドが挙げられる。これらの中でも、ベンジルトリエチルアンモニウムクロライドが好ましい。
炭素数1~3のアルコールとしては、例えば、メタノール、エタノール、n-プロパノール、イソプロパノールが挙げられる。これらの中でも、後述の減圧工程における除去の容易性から、メタノール、又はエタノールが好ましく、メタノールがより好ましい。
重合触媒と炭素数1~3のアルコールとの質量比(重合触媒/アルコール)は、好ましくは10/90~90/10であり、より好ましくは30/70~70/30であり、更に好ましくは40/60~60/40である。
<重合性組成物調製工程>
重合性組成物調製工程では、触媒溶液と、式(E1)で表される化合物を含むエピチオ化合物と、メルカプト基を有するチオエーテル化合物とを混合し、重合性組成物を得る。重合性組成物調製工程によれば、重合触媒の溶解した均一な重合性組成物を短時間で調製することができる。
重合性組成物調製工程では、触媒溶液と、式(E1)で表される化合物を含むエピチオ化合物と、メルカプト基を有するチオエーテル化合物とを混合し、重合性組成物を得る。重合性組成物調製工程によれば、重合触媒の溶解した均一な重合性組成物を短時間で調製することができる。
<重合性組成物>
重合性組成物における重合触媒の添加量は、エピチオ化合物及びチオエーテル化合物の合計量に対して、好ましくは0.001~2質量%であり、より好ましくは0.005~1質量%であり、更に好ましくは0.01~0.5質量%であり、更に好ましくは0.03~0.07質量%である。
重合性組成物における重合触媒の添加量は、エピチオ化合物及びチオエーテル化合物の合計量に対して、好ましくは0.001~2質量%であり、より好ましくは0.005~1質量%であり、更に好ましくは0.01~0.5質量%であり、更に好ましくは0.03~0.07質量%である。
本実施形態に係る重合性組成物において、エピチオ化合物は、
式(E1):
(式中、XはS又はOであり、aは0~1の整数であり、Rは炭素数1~10の2価の炭化水素であり、bは0~1の整数であり、cは0~2の整数である。)で表される化合物(以下、「化合物(1)」ともいう)を含む。
なお、本開示において、「エピチオ化合物」は、重合性組成物に含まれるエピチオ化合物の総称である。
Xは、好ましくはSである。なお、XがOである場合、aは0が好ましい。
Rの炭素数は、好ましくは1~4、より好ましくは2又は3である。
Rの2価の炭化水素は、例えば、エチレン基、プロピレン基、及びブチレン基が挙げられる。
式(E1):
(式中、XはS又はOであり、aは0~1の整数であり、Rは炭素数1~10の2価の炭化水素であり、bは0~1の整数であり、cは0~2の整数である。)で表される化合物(以下、「化合物(1)」ともいう)を含む。
なお、本開示において、「エピチオ化合物」は、重合性組成物に含まれるエピチオ化合物の総称である。
Xは、好ましくはSである。なお、XがOである場合、aは0が好ましい。
Rの炭素数は、好ましくは1~4、より好ましくは2又は3である。
Rの2価の炭化水素は、例えば、エチレン基、プロピレン基、及びブチレン基が挙げられる。
化合物(1)としては、具体的には、例えば、ビス(β-エピチオプロピル)スルフィド、ビス(β-エピチオプロピル)ジスルフィド、ビス(β-エピチオプロピル)トリスルフィド、ビス(β-エピチオプロピルチオ)メタン、1,2-ビス(β-エピチオプロピルチオ)エタン、1,3-ビス(β-エピチオプロピルチオ)プロパン、1,3-ビス(β-エピチオプロピルオキシ)プロパン、1,4-ビス(β-エピチオプロピルチオ)ブタン、ビス(β-エピチオプロピルチオエチル)スルフィドが挙げられる。これらの中でも、ビス(β-エピチオプロピル)スルフィド、ビス(β-エピチオプロピル)ジスルフィドが好ましく、ビス(β-エピチオプロピル)スルフィドがより好ましい。つまり、式(E1)で表される化合物が、下記式(1-1):
で表される化合物であることがより好ましい。
で表される化合物であることがより好ましい。
本実施形態に係るエピチオ化合物における化合物(1)の含有量(純度ともいう)は、エピチオ化合物全量に対して、好ましくは90質量%以上であり、より好ましくは95質量%以上であり、更に好ましくは98質量%以上であり、更により好ましくは99質量%以上である。化合物(1)の含有量は、その上限は特に限定されないが、エピチオ化合物全量に対して、100質量%以下であってもよい。
エピチオ化合物の含有量は、減圧工程後の重合性組成物全量に対して、好ましくは50~98質量%であり、より好ましくは60~96質量%であり、更に好ましくは70~96質量%である。
本実施形態に係る重合性組成物は、式(E1)で表される化合物を含むエピチオ化合物と、式(T1)で表される化合物、及び式(T2)で表される化合物からなる群より選ばれる少なくとも1種を含むチオエーテル化合物を含有する。重合性組成物は当該チオエーテル化合物を含有することで、得られるエピスルフィド樹脂の黄色度をより低く抑えることができる。
メルカプト基を有するチオエーテル化合物は、得られる樹脂の黄色度をより抑制する観点から、好ましくは、式(T1):
(式中、
R1及びR2は、それぞれ独立に炭素数1~6の2価の炭化水素基であり、
m及びnは、それぞれ独立に0~2である。)で表される化合物を含む。また、本実施形態に係る重合性組成物は、式(T1)で表される化合物を含むことで、高いアッベ数を示す樹脂を得ることができる。
(式中、
R1及びR2は、それぞれ独立に炭素数1~6の2価の炭化水素基であり、
m及びnは、それぞれ独立に0~2である。)で表される化合物を含む。また、本実施形態に係る重合性組成物は、式(T1)で表される化合物を含むことで、高いアッベ数を示す樹脂を得ることができる。
式(T1)で表される化合物としては、具体的には、例えば、2,5-ビス(メルカプトエチル)-1,4-ジチアン及び2,5-ビス(メルカプトメチル)-1,4-ジチアンが挙げられる。メルカプト基を有するチオエーテル化合物は、これらのからなる群より選ばれる少なくとも1種を含むことが好ましい。これらの中でも、2,5-ビス(メルカプトメチル)-1,4-ジチアンが好ましい。
式(T1)で表される化合物の含有量は、メルカプト基を有するチオエーテル化合物全量に対して、50質量%以上であってもよく、80質量%以上であってもよく、90質量%以上であってもよく、95質量%以上であってもよく、100質量%であってもよい。
チオエーテル化合物は、好ましくは、式(T2):
(式中、
R11及びR12は、それぞれ独立に、水素又はメルカプトメチル基であり、
pは、1又は2である。)で表される化合物を含む。また、本実施形態に係る重合性組成物は、式(T2)で表される化合物を含むことで、高いアッベ数を示す樹脂を得ることができる。
(式中、
R11及びR12は、それぞれ独立に、水素又はメルカプトメチル基であり、
pは、1又は2である。)で表される化合物を含む。また、本実施形態に係る重合性組成物は、式(T2)で表される化合物を含むことで、高いアッベ数を示す樹脂を得ることができる。
式(T2)で表される化合物としては、具体的には、例えば、ビス(メルカプトエチルチオ)メルカプトプロパン、ビス(メルカプトメチル)-3,6,9-トリチアウンデカンジチオールが挙げられる。これらの中でも、ビス(メルカプトメチル)-3,6,9-トリチアウンデカンジチオールが好ましい。なお、ビス(メルカプトメチル)-3,6,9-トリチアウンデカンジチオールは、4,7-ビス(メルカプトメチル)-3,6,9-トリチアウンデカン-1,11-ジチオール、4,8-ビス(メルカプトメチル)-3,6,9-トリチアウンデカン-1,11-ジチオール、及び5,7-ビス(メルカプトメチル)-3,6,9-トリチアウンデカン-1,11-ジチオールの混合物であってもよい。
式(T2)で表される化合物の含有量は、メルカプト基を有するチオエーテル化合物全量に対して、50質量%以上であってもよく、80質量%以上であってもよく、90質量%以上であってもよく、95質量%以上であってもよく、100質量%であってもよい。
メルカプト基を有するチオエーテル化合物の含有量は、得られる樹脂の黄色度をより抑制する観点から、エピチオ化合物100質量部に対して、好ましくは5~50質量部であり、より好ましくは8~30質量部であり、更に好ましくは10~20質量部である。
メルカプト基を有するチオエーテル化合物の含有量は、減圧工程後の重合性組成物全量に対して、10~20質量%であり、より好ましくは12~19質量%であり、より好ましくは13~18質量%である。
重合性組成物は、エピチオ化合物との組合せで、元素状硫黄を更に含有することが好ましい。元素状硫黄の含有量は、減圧工程後の重合性組成物全量に対して、好ましくは1~30質量%であり、より好ましくは5~20質量%であり、更に好ましくは10~20質量%以上である。
重合性組成物は、紫外線吸収剤、離型剤、着色剤、酸化防止剤、屈折率調整剤、複屈折調整剤、着色防止剤、蛍光増白剤等のその他の添加剤を含んでいてもよい。これらは、1種又は2種以上を用いてもよい。
重合性組成物は、紫外線吸収剤を含有することが好ましい。紫外線吸収剤を含有することで樹脂の対候性を向上させ経年劣化及び黄変を防止して、使用時の透明性を維持することができる。
紫外線吸収剤としては、例えば、ベンゾトリアゾール系化合物、ベンゾフェノン系化合物、ジベンゾイルメタン、4-tert-ブチル-4’-メトキシベンゾイルメタン等が挙げられる。これらの中でもベンゾトリアゾール系化合物が好ましい。
重合性組成物は、ベンゾトリアゾール系化合物として、式(U1):
(式中
R3は、炭素数1~20のアルキル基又は炭素数1~20のアルコキシ基であり、
mは、1~2の整数である。)で表される紫外線吸収剤を更に含有することが好ましい。当該紫外線吸収剤を使用することで、高エネルギーの光の吸収による樹脂の劣化を抑制しながら、可視光領域における吸収がほとんどなく、導光板を通過する画像情報の劣化を抑制することができる。
(式中
R3は、炭素数1~20のアルキル基又は炭素数1~20のアルコキシ基であり、
mは、1~2の整数である。)で表される紫外線吸収剤を更に含有することが好ましい。当該紫外線吸収剤を使用することで、高エネルギーの光の吸収による樹脂の劣化を抑制しながら、可視光領域における吸収がほとんどなく、導光板を通過する画像情報の劣化を抑制することができる。
R3は、好ましくは炭素数1~20のアルコキシ基である。R3のアルコキシ基の炭素数は、好ましくは1~20であり、より好ましくは3~18であり、更に好ましくは6~16である。R3のアルコキシ基としては、例えば、メトキシ基、エトキシ基、プロピルオキシ基、ヘキシルオキシ基、オクチルオキシ基、ドデセニルオキシ基、ラウリルオキシ基などが挙げられる。
R3のアルキル基の炭素数は、好ましくは1~20であり、より好ましくは3~18であり、更に好ましくは6~16である。R3のアルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、ターシャリーブチル基、ヘキシル基、オクチル基、ドデセニル基、ラウリル基などが挙げられる。
mは、好ましくは1である。
ベンゾトリアゾール系化合物としては、例えば、2-(2-ヒドロキシ-5-メチルフェニル)-2H-ベンゾトリアゾール、2-(2-ヒドロキシ-3,5-ジ-tert-アミルフェニル)-2H-ベンゾトリアゾール、2-(2-ヒドロキシ-3,5-ジ-tert-ブチルフェニル)-2H-ベンゾトリアゾール、2-(2-ヒドロキシ-5-tert-ブチルフェニル)-2H-ベンゾトリアゾール、2-(2-ヒドロキシ-5-tert-オクチルフェニル)-2H-ベンゾトリアゾール及び2-(2-ヒドロキシ-4-オクチルオキシフェニル)-2H-ベンゾトリアゾール等のベンゾトリアゾール系化合物が挙げられる。これらは、1種を単独で、又は2種類以上を組み合わせて使用してもよい。これらの中でも、2-(2-ヒドロキシ-4-オクチルオキシフェニル)-2H-ベンゾトリアゾール、または、2-(2-ヒドロキシ-4-エトキシフェニル)-2H-ベンゾトリアゾールが好ましい。
ベンゾフェノン系化合物としては、例えば、2,4-ジヒドロキシベンゾフェノン、2-ヒドロキシ-4-メトキシベンゾフェノン、2-ヒドロキシ-4-メトキシベンゾフェノン-5-スルホニックアシッド、2-ヒドロキシ-4-n-オクトキシベンゾフェノン、2-ヒドロキシ-4-n-ドデシルオキシベンゾフェノン、2-ヒドロキシ-4-ベンジルオキシベンゾフェノン及び2,2’-ジヒドロキシ-4-メトキシベンゾフェノン等が挙げられる。
紫外線吸収剤の含有量は、エピチオ化合物及びチオエーテル化合物の合計量に対し、好ましくは0.001質量%~5質量%であり、より好ましくは0.01質量%~3質量%であり、更に好ましくは0.05質量%~1質量%である。
減圧工程後の重合性組成物において、高い内部透過率を有する樹脂基板を得る観点から、20質量ppmのトルエン溶液中で550nm以上600nm以下に最大吸収波長を有する着色剤(以下、「着色剤L」ともいう)の含有量が、0.1質量%以下であることが好ましい。
着色剤Lは、わずかに青みを帯びた良好な色調の樹脂を得る観点から、20質量ppmのトルエン溶液中で550nm以上600nm以下に最大吸収波長を有する。なお、20質量ppmのトルエン溶液とは、トルエン溶液全体に対する溶質の割合を意味する。
また、着色剤Lの最大吸収波長は、わずかに青みを帯びた良好な色調のレンズ基材を得る観点から、好ましくは550nm以上、好ましくは560nm以上、好ましくは580nm以上である。そして、着色剤Lの最大吸収波長は、わずかに青みを帯びた良好な色調の樹脂を得る観点から、好ましくは600nm以下、好ましくは590nm以下である。
また、着色剤Lの最大吸収波長は、わずかに青みを帯びた良好な色調のレンズ基材を得る観点から、好ましくは550nm以上、好ましくは560nm以上、好ましくは580nm以上である。そして、着色剤Lの最大吸収波長は、わずかに青みを帯びた良好な色調の樹脂を得る観点から、好ましくは600nm以下、好ましくは590nm以下である。
着色剤Lとしては、例えば、C.I.ソルベントバイオレット11、13、14、26、31、33、36、37、38、45、47、48、51、59、60;C.I.ディスパースバイオレット26、27、28;が挙げられる。これらの中でも、C.I.ディスパースバイオレット27、C.I.ソルベントバイオレット13、31が好ましく、重合性組成物の重合によっても安定性が高く色調の変化が少ないという観点から、C.I.ディスパースバイオレット27、C.I.ソルベントバイオレット13がより好ましく、C.I.ディスパースバイオレット27が更に好ましい。
着色剤Lの含有量は、好ましくは0.01質量%以下であり、より好ましくは0.001質量%以下であり、更に好ましくは0.001質量%以下である。
酸化防止剤としては、例えば、フェノール系酸化防止剤、エポキシ系酸化防止剤、硫黄系酸化防止剤、及びリン系酸化防止剤が挙げられる。
フェノール系酸化防止剤としては、2,6-ジ-t-ブチル-4-メチルフェノール、フェノールなどが挙げられる。エポキシ系酸化防止剤としては、例えばビスフェノールAジグリシジルエーテルなどが挙げられる。硫黄系酸化防止剤としては、例えば、ジラウリル3,3’-チオジプロピオネートが挙げられる。リン系酸化防止剤としては、例えば、トリフェニルホスファイト、トリオクチルホスファイト、トリデシルホスファイト等のホスファイト化合物が挙げられる。酸化防止剤は、単独又は2種以上を組み合わせて使用することができる。
酸化防止剤の添加量は、重合性組成物全量に対して、好ましくは0.001質量%~5質量%であり、より好ましくは0.01質量%~3質量%であり、更に好ましくは0.1質量%~2質量%である。
<減圧工程>
減圧工程では、重合性組成物を減圧下に配する。減圧工程により、重合性組成物に含まれる炭素数1~3のアルコールを除去する。また、減圧工程を経ることで、重合性組成物の脱気を行うこともできる。
減圧工程では、重合性組成物を減圧下に配する。減圧工程により、重合性組成物に含まれる炭素数1~3のアルコールを除去する。また、減圧工程を経ることで、重合性組成物の脱気を行うこともできる。
減圧工程における圧力は、好ましくは0.133~20KPaであり、より好ましくは1~10KPaであり、更に好ましくは10~5KPaである。
減圧工程は、炭素数1~3のアルコールの添加量に相当する重量変化が生じるまで継続してもよい。
<注型重合工程>
注型重合工程における硬化方法は、特に限定されないが、重合性組成物は、加熱により硬化させることができる。
注型重合工程における硬化方法は、特に限定されないが、重合性組成物は、加熱により硬化させることができる。
注型重合工程における重合は、成型型内で行われる。レンズ基材は、例えば、重合性組成物を、ガラス又は金属製のモールドと、テープ又はガスケットとを組み合わせたモールド型に注入して重合を行うことで得られる。
重合条件は、重合性組成物に応じて、適宜設定することができる。重合開始温度は、好ましくは0℃以上、より好ましくは10℃以上であり、好ましくは50℃以下、より好ましくは40℃以下である。重合開始温度から昇温し、その後、加熱して硬化形成することが好ましい。例えば、昇温最高温度は、通常80℃以上130℃以下である。
<アニール工程>
本実施形態に係る樹脂基板の製造方法は、熱処理により残留応力を除去するアニール工程を更に有していてもよい。アニール工程における熱処理の温度は、好ましくは80~150℃である。
本実施形態に係る樹脂基板の製造方法は、熱処理により残留応力を除去するアニール工程を更に有していてもよい。アニール工程における熱処理の温度は、好ましくは80~150℃である。
<スライス工程>
本実施形態に係る樹脂基板の製造方法は、樹脂基板をスライスして所望の厚みを有する樹脂基板を得るスライス工程を更に有していてもよい。注型重合工程後、離型した樹脂基板をワイヤソーを用いて0.3~2.0mmの所定の厚みにスライスしてもよい。
本実施形態に係る樹脂基板の製造方法は、樹脂基板をスライスして所望の厚みを有する樹脂基板を得るスライス工程を更に有していてもよい。注型重合工程後、離型した樹脂基板をワイヤソーを用いて0.3~2.0mmの所定の厚みにスライスしてもよい。
<研磨工程>
本実施形態に係る樹脂基板の製造方法は、樹脂基板を所定の粗さ、平坦度とする目的で、研磨装置により研磨する研磨工程を更に有していてもよい。
本実施形態に係る樹脂基板の製造方法は、樹脂基板を所定の粗さ、平坦度とする目的で、研磨装置により研磨する研磨工程を更に有していてもよい。
具体的には、所定の間隔をもって配置される2つのモールドにより形成されるキャビティ内に樹脂基板の原料液を注入する。原料液の硬化反応により樹脂基板を形成し、モールドより離型する。
その後、研磨装置によりワイヤソー痕が消失するまで十分な取り代で研磨し、厚みが0.1~1.5mmの樹脂基板としてもよい。なお、離型した樹脂基板は必要に応じて外周を切断してなめらかな面としたうえで、ワイヤソーでスライスしてもよい。
研磨装置は、基板表面に異方性を与えることなく研磨できるものであればよく、具体的にはラップ研磨装置を好ましく用いることができる。
平面定盤の上に樹脂基板を配置し、アルミナ又はシリカ等のスラリーを流して定盤及び樹脂基板を所定の圧力で押さえながら互いに回転させて研磨することで、樹脂基板表面のキズ及び残留応力除去することができる。樹脂基板の研磨には、片面研磨装置及び両面研磨装置のいずれも使用することが可能であるが、ワイヤソー痕など基板両面に生じた加工痕や残留応力を均等に除去して平坦度を小さく抑えることができる。
平面定盤の上に樹脂基板を配置し、アルミナ又はシリカ等のスラリーを流して定盤及び樹脂基板を所定の圧力で押さえながら互いに回転させて研磨することで、樹脂基板表面のキズ及び残留応力除去することができる。樹脂基板の研磨には、片面研磨装置及び両面研磨装置のいずれも使用することが可能であるが、ワイヤソー痕など基板両面に生じた加工痕や残留応力を均等に除去して平坦度を小さく抑えることができる。
[樹脂基板]
本実施形態に係る樹脂基板は、上述の本実施形態に係る製造方法により得られる樹脂を含有する。
図2は、本実施形態に係る樹脂基板の概略形状を示す図面である。樹脂基板100は、円盤形状を有する。樹脂基板100の中から後述する導光板10の基材を切り出して使用する。
本実施形態に係る樹脂基板は、上述の本実施形態に係る製造方法により得られる樹脂を含有する。
図2は、本実施形態に係る樹脂基板の概略形状を示す図面である。樹脂基板100は、円盤形状を有する。樹脂基板100の中から後述する導光板10の基材を切り出して使用する。
樹脂基板における樹脂の密度は、好ましくは0.93~2.10g/cm3であり、より好ましくは1.20~1.80g/cm3であり、更に好ましくは1.30~1.50g/cm3である。密度が当該範囲であることで、導光板の軽量化を可能とする。樹脂の密度は、JIS K7112-1:2023に準拠して、水中置換法により測定することができる。
樹脂基板における樹脂の屈折率は、好ましくは1.60以上であり、より好ましくは1.65以上であり、更に好ましくは1.70以上である。樹脂の屈折率の上限は特に限定されないが、例えば、2.00以下である。基板の屈折率を当該範囲とすることで視野角を広くすることができる。屈折率は、JIS K7142:2014に準拠して測定することができる。
樹脂基板における、波長420nm~780nmの光の平均内部透過率IT420-780は、導光板を通過する画像の色調へ影響を抑制する観点から、好ましくは95%以上であり、より好ましくは97%以上であり、更に好ましくは98%以上である。
平均内部透過率IT420-780は、波長420nm~780nmにおける光の内部透過率ITwの平均値である。内部透過率ITwは、厚みの異なる二つの試料を作成し、波長ごとに以下の式から算出する。
ただし、Tw1は、特定の厚みを有する測定試料における波長w(nm)の光の透過率であり、Tw2は、Tw1の厚みより、大きな厚みを有する測定試料における波長w(nm)の光の透過率であり、Δdは、Tw2とTw1との厚みの差(mm)である。上述の内部透過率ITwは、10mmの厚みにおける内部透過率を意味する。各波長の光における透過率は、紫外可視近赤外分光光度計「UH4150」(商品名、株式会社日立ハイテク)を用いて測定可能である。なお、平均内部透過率IT420-780は、樹脂材料として着色の少ない材料を用いること、ブルーイング剤などの色素を含有しないことで、達成される。
平均内部透過率IT420-780は、波長420nm~780nmにおける光の内部透過率ITwの平均値である。内部透過率ITwは、厚みの異なる二つの試料を作成し、波長ごとに以下の式から算出する。
ただし、Tw1は、特定の厚みを有する測定試料における波長w(nm)の光の透過率であり、Tw2は、Tw1の厚みより、大きな厚みを有する測定試料における波長w(nm)の光の透過率であり、Δdは、Tw2とTw1との厚みの差(mm)である。上述の内部透過率ITwは、10mmの厚みにおける内部透過率を意味する。各波長の光における透過率は、紫外可視近赤外分光光度計「UH4150」(商品名、株式会社日立ハイテク)を用いて測定可能である。なお、平均内部透過率IT420-780は、樹脂材料として着色の少ない材料を用いること、ブルーイング剤などの色素を含有しないことで、達成される。
樹脂基板における、内部透過率ITwが、導光板を通過する画像の色調へ影響を抑制する観点から、波長420nm~780nmの光においていずれも83%以上であることが好ましい。内部透過率ITwは、導光板を通過する画像の色調へ影響をより抑制する観点から、波長420nm~780nmの光においていずれも、より好ましくは85%以上であり、更に好ましくは90%以上であり、より更に好ましくは95%以上である。内部透過率ITwの測定方法は、上述のとおりである。なお、当該内部透過率ITwの条件は、樹脂材料として着色の少ない材料を用いること、ブルーイング剤などの色素を含有しないことで、達成される。
樹脂基板における、導光板を通過する画像の色調へ影響を抑制する観点から、波長550nm~650nmの光の平均内部透過率IT550-650は、好ましくは95%以上であり、より好ましくは96%以上であり、更に好ましくは98%以上である。平均内部透過率IT550-650は、波長420nm~780nmにおける光の内部透過率ITwの平均値である。その測定方法及び算出方法は、光の波長範囲が異なること以外、上述の平均内部透過率IT420-780と同様である。
(IT420-780-IT550-650)/IT420-780の値は、導光板を通過する画像の色調へ影響をより抑制する観点から、好ましくは5%以下であり、より好ましくは3%以下であり、更に好ましくは1%以下である。当該値は、上述の平均内部透過率IT420-780及び平均内部透過率IT550-650から算出する。
樹脂基板における、波長300~380nmの光の平均内部透過率IT300-380は、樹脂の耐光性を向上させる観点から、好ましくは50%以下であり、より好ましくは30%以下であり、更に好ましくは10%以下であり、より更に好ましくは1%以下である。平均内部透過率IT300-380は、波長300nm~380nmにおける光の内部透過率ITwの平均値である。その測定方法及び算出方法は、光の波長範囲が異なること以外、上述の平均内部透過率IT420-780と同様である。
樹脂基板における、波長300~320nmの光の平均内部透過率IT300-320は、樹脂の耐光性を向上させる観点から、好ましくは30%以下であり、より好ましくは10%以下であり、更に好ましくは1%以下であり、より更に好ましくは0.1%以下である。平均内部透過率IT300-320は、波長300nm~320nmにおける光の内部透過率ITwの平均値である。その測定方法及び算出方法は、光の波長範囲が異なること以外、上述の平均内部透過率IT420-780と同様である。
樹脂基板の厚みは、好ましくは0.1~2.0mmであり、より好ましくは0.2~1.5mmであり、更に好ましくは0.3~1.0mmである。なお、樹脂基板の厚みは、導光板の厚みとなる。なお、樹脂基板又は導光板の基板の厚みは、超音波厚さ計を用いて測定することができる。
本実施形態に係る樹脂基板は、その形状は特に限定されないが円盤であってもよい。円盤の直径は、特に限定されないが、例えば、50mm~450mmであってもよく、60mm~150mmであってもよい。また、本実施形態に係る樹脂基板は、レンズ基材のように凸面及び凹面などのベースカーブが形成されていない形状であってもよく、例えば平板形状であってもよい。
樹脂基板の平坦度は、好ましくは25.0μm以下、より好ましくは、20.0μm以下、更に好ましくは12.0μm以下、更に好ましくは10.0μm以下である。平坦度は、その下限値は特に限定されないが、例えば、0.1μm以上である。平坦度は、基板片面の平坦さを測定するものであって、基板に湾曲・反りが発生していると値が大きくなる傾向にある。平坦度は、ニデック社製のフラットネステスター(FT-15)で計測することができる。残留応力を除去することで、樹脂基板の平坦度の値を小さく調整することが可能となる。
樹脂基板のTTVは、好ましくは3μm以下、より好ましくは、1μm以下、更に好ましくは0.5μm以下である。TTVは、その下限値は特に限定されないが、例えば、0.01μm以上である。TTVとは、厚み(つまり、導光板の基板における第1面10aと第2面10bの距離)の最大値と最小値の差(つまり、TTV(Total Thickness Variation))を意味する。TTVは、コベルコ科研社製のBow/Warp測定装置SBW-331ML/dで計測することができる。
樹脂基板は、クロスリアリティデバイス導光板用であることが好ましい。クロスリアリティとは、現実世界と仮想世界の映像を融合する技術であり、VR(仮想現実)、AR(拡張現実)、MR(複合現実)等の包括的な総称である。クロスリアリティデバイスとは、当該クロスリアリティに用いられる装置であり、例えば、ヘッドマウントディスプレイなどが挙げられる。クロスリアリティデバイスには、前述のとおり、装用者の網膜に映像を映し出すために、導光板が用いられる。本実施形態に係る樹脂基板は、当該導光板に用いられることが好ましい。本実施形態に係る樹脂基板から、導光板に用いる基板を切り出して使用する。
[導波路装置]
図3は本実施形態に係る導波路装置の一実施形態を示す模式的断面図である。導波路装置1は、樹脂を含む導光板10と、回折格子52と、回折格子32とを備える。回折格子52及び回折格子32は、それぞれ導光板10の一方の主面に形成されている。回折格子52には、画像表示装置24から各波長の光が導入される。
図3は本実施形態に係る導波路装置の一実施形態を示す模式的断面図である。導波路装置1は、樹脂を含む導光板10と、回折格子52と、回折格子32とを備える。回折格子52及び回折格子32は、それぞれ導光板10の一方の主面に形成されている。回折格子52には、画像表示装置24から各波長の光が導入される。
画像表示装置24は、例えばフィールドシーケンシャル方式で駆動する透過型液晶(LCD T-LCOS)パネルである。画像表示装置24は、各波長の光に、信号処理機器5の画像エンジン(不図示)が生成する画像信号に応じた変調をかける。画像表示装置24の有効領域の画素で変調された各波長の光は、所定の光束断面(該有効領域と略同じ形状)をもって導光板10に入射される。なお、画像表示装置24は、例えばDMD(Digital Mirror Device)や反射型液晶(LCOS)パネル、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)、有機EL(Electro-Luminescence)、無機EL等の他の形態の表示素子に置換することも可能である。
図3に示すように、導光板10の第2面10b上には回折格子52が積層されている。回折格子52には、例えば干渉縞パターンのピッチが形成されていてもよい。なお、回折格子52は、ホログラムを用いてもよい。
画像表示装置24により変調された各波長の光は、第1面10aから導光板10内部に順次入射される。
回折格子52は、順次入射される各波長の光を装用者の眼に導くため所定の角度を付与して回折する。回折格子52により回折された各波長の光はそれぞれ、導光板10と空気との界面で全反射を繰り返して導光板10内部を伝搬し、回折格子32に入射される。
回折格子32上に入射された各波長の光は、回折格子32により回折されて導光板10の第2面10bから外部に略垂直に順次射出される。このように略平行光として射出された各波長の光はそれぞれ、画像表示装置24により生成された画像の虚像Iとして装用者の網膜に結像する。
<導光板>
本実施形態に係る導波路装置1における導光板10は、上述の本実施形態に係る樹脂を含む。基材として上述の本実施形態に係る樹脂を含む基材を用いることで、高い屈折率を有しながら、比較的密度の小さい材料を利用することができるため、ウェアラブルデバイスの軽量化を可能とし、更には黄色度の抑制された導光板が得られる。
本実施形態に係る導波路装置1における導光板10は、上述の本実施形態に係る樹脂を含む。基材として上述の本実施形態に係る樹脂を含む基材を用いることで、高い屈折率を有しながら、比較的密度の小さい材料を利用することができるため、ウェアラブルデバイスの軽量化を可能とし、更には黄色度の抑制された導光板が得られる。
導光板の基板の形状は特に限定されないが、四辺形板であってもよい。
[アイウェア用光学部材]
本実施形態に係るアイウェア用光学部材は、樹脂製レンズ基材と、本実施形態に係る導波路装とを有する。
なお、導光板の屈折率(RW)は、レンズ基材の屈折率(RT)より大きい。導光板の屈折率(RW)とレンズ基材の屈折率(RT)との差(RW-RT)は、好ましくは0.2~1.0であり、より好ましくは0.3~0.8であり、更に好ましくは0.3~0.5である。
本実施形態に係るアイウェア用光学部材は、樹脂製レンズ基材と、本実施形態に係る導波路装とを有する。
なお、導光板の屈折率(RW)は、レンズ基材の屈折率(RT)より大きい。導光板の屈折率(RW)とレンズ基材の屈折率(RT)との差(RW-RT)は、好ましくは0.2~1.0であり、より好ましくは0.3~0.8であり、更に好ましくは0.3~0.5である。
アイウェア用光学部材は、ウェアラブルデバイスに適用可能なものであれば特に限定されないが、例えば、眼鏡型のウェアラブルデバイスに適用する眼鏡レンズであってもよい。この場合、レンズ基材は、眼鏡レンズ基材形状を有する。眼鏡レンズ基材は、必ずしも球面を有している必要はなく、眼鏡型フレームに適合する形状の平板であってもよい。
[ウェアラブルデバイス]
本実施形態に係る導光板を用いたウェアラブルデバイスとしては、例えば、ヘッドマウントディスプレイが挙げられる。ヘッドマウントディスプレイは、例えば、装用者の頭部に装着される眼鏡型フレームと、フレーム内に取り付けられた本実施形態に係るアイウェア用光学部材とを有する。眼鏡型フレームには、画像を照明するためのバックライト、画像を映し出すための信号処理機器、及び音声を再生するスピーカーなどが取り付けられていてもよい。
本実施形態に係る導光板を用いたウェアラブルデバイスとしては、例えば、ヘッドマウントディスプレイが挙げられる。ヘッドマウントディスプレイは、例えば、装用者の頭部に装着される眼鏡型フレームと、フレーム内に取り付けられた本実施形態に係るアイウェア用光学部材とを有する。眼鏡型フレームには、画像を照明するためのバックライト、画像を映し出すための信号処理機器、及び音声を再生するスピーカーなどが取り付けられていてもよい。
以上、本開示は、以下の実施形態を示す。
<1>
樹脂基板の製造方法であって、
重合触媒と炭素数1~3のアルコールとを混合し、触媒溶液を得る工程と、
前記触媒溶液と、式(E1):
(式中、XはS又はOであり、aは0~1の整数であり、Rは炭素数1~10の2価の炭化水素であり、bは0~1の整数であり、cは0~2の整数である。)で表される化合物を含むエピチオ化合物と、メルカプト基を有するチオエーテル化合物とを混合し、重合性組成物を得る工程と、
前記重合性組成物を減圧下に配する工程と、
前記重合性組成物を成型型内で硬化させる工程と、
を含む、樹脂基板の製造方法。
<2>
前記重合触媒が、4級アンモニウム塩を含む、<1>に記載の樹脂基板の製造方法。
<3>
前記重合触媒が、テトラアルキルアンモニウム塩を含む、<1>又は<2>に記載の樹脂基板の製造方法。
<4>
前記テトラアルキルアンモニウム塩が、ベンジルトリエチルアンモニウムクロライド、ベンジルトリメチルアンモニウムクロライド、ベンジルトリプロピルアンモニウムクロライド、及びベンジルトリブチルアンモニウムクロライドからなる群より選ばれる少なくとも1種である、<1>~<3>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<5>
前記式(E1)で表される化合物は、ビス-(β-エピチオプロピル)スルフィド、又はビス-(β-エピチオプロピル)ジスルフィドを含む、<1>~<4>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<6>
前記エピチオ化合物の含有量は、前記減圧後の重合性組成物全量に対して、50~98質量%である、<1>~<5>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<7>
前記チオエーテル化合物が、環状チオエーテル骨格を有する化合物を含む、<1>~<6>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<8>
前記チオエーテル化合物が、式(T1):
(式中、
R1及びR2は、それぞれ独立に炭素数1~6の2価の炭化水素基であり、
m及びnは、それぞれ独立に0~2である。)で表される化合物を含む、<7>に記載の樹脂基板の製造方法。
<9>
前記チオエーテル化合物が、式(T2):
(式中、
R11及びR12は、それぞれ独立に、水素又はメルカプトメチル基であり、
pは、1又は2である。)で表される化合物を含む、<1>~<8>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<10>
前記チオエーテル化合物の含有量が、前記減圧後の重合性組成物全量に対して、10~20質量%である、<1>~<9>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<11>
前記重合性組成物を得る工程で、式(U1):
(式中
R3は、炭素数1~20のアルキル基又は炭素数1~20のアルコキシ基であり、
mは、1~2の整数である。)で表される紫外線吸収剤を更に混合する、<1>~<11>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<12>
前記紫外線吸収剤の含有量が、前記減圧後の重合性組成物全量に対して、0.001質量%~5質量%である、<11>に記載の樹脂基板の製造方法。
<13>
前記樹脂基板における、波長420nm~780nmの光の平均内部透過率IT420-780が、95%以上である、<1>~<12>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<14>
前記樹脂基板における、内部透過率ITwが、波長420nm~780nmの光においていずれも83%以上である、<1>~<13>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<15>
前記樹脂基板における、波長300~380nmの光の平均内部透過率IT300-380が、50%以下である、<1>~<14>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<16>
前記樹脂基板における、波長300~320nmの光の平均内部透過率IT300-320が、30%以下である、<1>~<15>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<17>
前記樹脂基板における、波長550nm~650nmの光の平均内部透過率IT550-650が、95%以上である、<1>~<16>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<18>
前記樹脂基板における、(IT420-780-IT550-650)/IT420-780の値が、5%以下である、<1>~<17>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<19>
前記樹脂基板の平行度が、10μm以下である、<1>~<18>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<20>
前記樹脂基板の厚みが、0.1~2.0mmである、<1>~<19>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<21>
前記樹脂基板が、クロスリアリティデバイス導光板用である、<1>~<20>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<1>
樹脂基板の製造方法であって、
重合触媒と炭素数1~3のアルコールとを混合し、触媒溶液を得る工程と、
前記触媒溶液と、式(E1):
(式中、XはS又はOであり、aは0~1の整数であり、Rは炭素数1~10の2価の炭化水素であり、bは0~1の整数であり、cは0~2の整数である。)で表される化合物を含むエピチオ化合物と、メルカプト基を有するチオエーテル化合物とを混合し、重合性組成物を得る工程と、
前記重合性組成物を減圧下に配する工程と、
前記重合性組成物を成型型内で硬化させる工程と、
を含む、樹脂基板の製造方法。
<2>
前記重合触媒が、4級アンモニウム塩を含む、<1>に記載の樹脂基板の製造方法。
<3>
前記重合触媒が、テトラアルキルアンモニウム塩を含む、<1>又は<2>に記載の樹脂基板の製造方法。
<4>
前記テトラアルキルアンモニウム塩が、ベンジルトリエチルアンモニウムクロライド、ベンジルトリメチルアンモニウムクロライド、ベンジルトリプロピルアンモニウムクロライド、及びベンジルトリブチルアンモニウムクロライドからなる群より選ばれる少なくとも1種である、<1>~<3>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<5>
前記式(E1)で表される化合物は、ビス-(β-エピチオプロピル)スルフィド、又はビス-(β-エピチオプロピル)ジスルフィドを含む、<1>~<4>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<6>
前記エピチオ化合物の含有量は、前記減圧後の重合性組成物全量に対して、50~98質量%である、<1>~<5>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<7>
前記チオエーテル化合物が、環状チオエーテル骨格を有する化合物を含む、<1>~<6>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<8>
前記チオエーテル化合物が、式(T1):
(式中、
R1及びR2は、それぞれ独立に炭素数1~6の2価の炭化水素基であり、
m及びnは、それぞれ独立に0~2である。)で表される化合物を含む、<7>に記載の樹脂基板の製造方法。
<9>
前記チオエーテル化合物が、式(T2):
(式中、
R11及びR12は、それぞれ独立に、水素又はメルカプトメチル基であり、
pは、1又は2である。)で表される化合物を含む、<1>~<8>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<10>
前記チオエーテル化合物の含有量が、前記減圧後の重合性組成物全量に対して、10~20質量%である、<1>~<9>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<11>
前記重合性組成物を得る工程で、式(U1):
(式中
R3は、炭素数1~20のアルキル基又は炭素数1~20のアルコキシ基であり、
mは、1~2の整数である。)で表される紫外線吸収剤を更に混合する、<1>~<11>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<12>
前記紫外線吸収剤の含有量が、前記減圧後の重合性組成物全量に対して、0.001質量%~5質量%である、<11>に記載の樹脂基板の製造方法。
<13>
前記樹脂基板における、波長420nm~780nmの光の平均内部透過率IT420-780が、95%以上である、<1>~<12>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<14>
前記樹脂基板における、内部透過率ITwが、波長420nm~780nmの光においていずれも83%以上である、<1>~<13>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<15>
前記樹脂基板における、波長300~380nmの光の平均内部透過率IT300-380が、50%以下である、<1>~<14>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<16>
前記樹脂基板における、波長300~320nmの光の平均内部透過率IT300-320が、30%以下である、<1>~<15>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<17>
前記樹脂基板における、波長550nm~650nmの光の平均内部透過率IT550-650が、95%以上である、<1>~<16>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<18>
前記樹脂基板における、(IT420-780-IT550-650)/IT420-780の値が、5%以下である、<1>~<17>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<19>
前記樹脂基板の平行度が、10μm以下である、<1>~<18>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<20>
前記樹脂基板の厚みが、0.1~2.0mmである、<1>~<19>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
<21>
前記樹脂基板が、クロスリアリティデバイス導光板用である、<1>~<20>のいずれかに記載の樹脂基板の製造方法。
以下、実施例により本実施形態を更に具体的に説明するが、本実施形態は以下の実施例に限定されるものではない。
<屈折率及びアッベ数>
精密屈折率計「KPR-2000型」(カルニュー光学工業株式会社製)を用いて、20℃でF線(486.1nm)、C線(656.3nm)、d線(587.6nm)、e線(546.1nm)、r線(706.52nm)、C’線(643.9nm)、F’線(488.0nm)で試料の屈折率を測定した。そして、下記の式からアッベ数を算出した。
アッベ数νd=(nd-1)/(nF-nC)
ndはd線で測定した屈折率であり、nFはF線で測定した屈折率であり、nCはC線で測定した屈折率である。
精密屈折率計「KPR-2000型」(カルニュー光学工業株式会社製)を用いて、20℃でF線(486.1nm)、C線(656.3nm)、d線(587.6nm)、e線(546.1nm)、r線(706.52nm)、C’線(643.9nm)、F’線(488.0nm)で試料の屈折率を測定した。そして、下記の式からアッベ数を算出した。
アッベ数νd=(nd-1)/(nF-nC)
ndはd線で測定した屈折率であり、nFはF線で測定した屈折率であり、nCはC線で測定した屈折率である。
<ガラス転移温度(Tg)>
熱機械分析装置「Thermo Plus EVO2」(株式会社リガク製)を用いて、ペネトレーション法(サンプル厚3mm、ピン径0.5mm、加重10g、昇温速度10℃/分)にて測定を行い、熱膨張が変化したピーク値の温度をガラス転移温度(Tg)とした。ピーク値が観測されない場合、ガラス転移温度は、検出不可と評価した。
熱機械分析装置「Thermo Plus EVO2」(株式会社リガク製)を用いて、ペネトレーション法(サンプル厚3mm、ピン径0.5mm、加重10g、昇温速度10℃/分)にて測定を行い、熱膨張が変化したピーク値の温度をガラス転移温度(Tg)とした。ピーク値が観測されない場合、ガラス転移温度は、検出不可と評価した。
<YI>
YI(Yellowness Index、黄色度)は、JIS K 7373:2006に準拠し、測定装置として分光光度計「U-4100」(株式会社日立製作所製)を使用して測定した。黄色度YIは、黄色みの強さを示す数値であり、YI値が大きいほど黄色みが強いことを意味する。
YI(Yellowness Index、黄色度)は、JIS K 7373:2006に準拠し、測定装置として分光光度計「U-4100」(株式会社日立製作所製)を使用して測定した。黄色度YIは、黄色みの強さを示す数値であり、YI値が大きいほど黄色みが強いことを意味する。
<透過率>
各波長の光における透過率は、紫外可視近赤外分光光度計「UH4150」(商品名、株式会社日立ハイテク)を用いて測定した。
各波長の光における透過率は、紫外可視近赤外分光光度計「UH4150」(商品名、株式会社日立ハイテク)を用いて測定した。
<内部透過率ITw>
内部透過率ITwは、厚みの異なる二つの試料を作成し、波長ごとに以下の式から算出した。
ただし、Tw1は、特定の厚みを有する測定試料における波長w(nm)の光の透過率であり、Tw2は、Tw1の厚みより、大きな厚みを有する測定試料における波長w(nm)の光の透過率であり、Δdは、Tw2とTw1との厚みの差(mm)である。各波長の光における透過率は、上述の「透過率」に示す方法により測定した。内部透過率ITwは、10mm厚における内部透過率の値を示す。
内部透過率ITwは、厚みの異なる二つの試料を作成し、波長ごとに以下の式から算出した。
ただし、Tw1は、特定の厚みを有する測定試料における波長w(nm)の光の透過率であり、Tw2は、Tw1の厚みより、大きな厚みを有する測定試料における波長w(nm)の光の透過率であり、Δdは、Tw2とTw1との厚みの差(mm)である。各波長の光における透過率は、上述の「透過率」に示す方法により測定した。内部透過率ITwは、10mm厚における内部透過率の値を示す。
[製造例1]
メタノール0.0345gに、触媒としてベンジルトリエチルアンモニウムクロライド0.0345gを溶解させた。触媒は、即時にメタノールに溶解した。
触媒含有メタノール溶液を、ビス-(β-エピチオプロピル)スルフィド50gに添加して脱気しながら撹拌した。その結果、脱気時間45分で0.037gの重量減少(メタノール揮発分)を確認した。
メタノール0.0345gに、触媒としてベンジルトリエチルアンモニウムクロライド0.0345gを溶解させた。触媒は、即時にメタノールに溶解した。
触媒含有メタノール溶液を、ビス-(β-エピチオプロピル)スルフィド50gに添加して脱気しながら撹拌した。その結果、脱気時間45分で0.037gの重量減少(メタノール揮発分)を確認した。
[比較製造例1]
サンプル管にビス-(β-エピチオプロピル)スルフィド25gと触媒としてベンジルトリエチルアンモニウムクロライド0.01725gを秤量し、室温で撹拌した。その結果、3時間後にも、触媒の溶け残りが確認できた。更に攪拌開始から5時間後、触媒はほぼ溶けていた。
サンプル管にビス-(β-エピチオプロピル)スルフィド25gと触媒としてベンジルトリエチルアンモニウムクロライド0.01725gを秤量し、室温で撹拌した。その結果、3時間後にも、触媒の溶け残りが確認できた。更に攪拌開始から5時間後、触媒はほぼ溶けていた。
[比較製造例2]
サンプル管に、2,5-ビスメルカプトメチル-1,4-ジチアン15gと、触媒としてベンジルトリエチルアンモニウムクロライド0.069gを秤量し、室温で撹拌した。その結果、3時間後、触媒は、ほとんど溶けていなかった。更に攪拌開始から5時間後、触媒は、ほとんど溶けていなかった。
サンプル管に、2,5-ビスメルカプトメチル-1,4-ジチアン15gと、触媒としてベンジルトリエチルアンモニウムクロライド0.069gを秤量し、室温で撹拌した。その結果、3時間後、触媒は、ほとんど溶けていなかった。更に攪拌開始から5時間後、触媒は、ほとんど溶けていなかった。
[実施例1]
メタノール0.138質量部に、触媒としてベンジルトリエチルアンモニウムクロライド0.138質量部を溶解させ、触媒含有メタノール溶液を得た。
メタノール0.138質量部に、触媒としてベンジルトリエチルアンモニウムクロライド0.138質量部を溶解させ、触媒含有メタノール溶液を得た。
上述の触媒含有メタノール溶液0.276質量部に、ビス-(β-エピチオプロピル)スルフィド200質量部、2,5-ビスメルカプトメチル-1,4-ジチアンを30質量部、及び紫外線吸収剤として2-(2-ヒドロキシ-4-オクチルオキシフェニル)-2H-ベンゾトリアゾールを0.20質量部加えて、10mmHgの減圧下で10分間攪拌混合し重合性組成物を得た。所定の間隔をもって配置される2つの平坦なモールドにより形成されるキャビティ内に前述の重合性組成物を注入した。重合性組成物の硬化反応により樹脂基板を形成し、モールドより離型し厚さ10mmの樹脂基板を得た。
[実施例2]
所定の間隔をもって配置される2つのモールドにより形成されるキャビティ内に実施例1で示した重合性組成物を注入した。原料液の硬化反応により樹脂基板を形成し、モールドより離型した。続いて離型した樹脂基板をワイヤソーを用いて1.1mmの厚さの複数の樹脂基板をスライスすることで得た。スライスによって生じた加工時キズ等によって生じる残留応力を除去するため、複数の樹脂基板をスペーサを介して積層した状態で、170℃、3時間の条件でアニール処理を行った。その後、平均粒子径が0.5μmのアルミナスラリーを用いて両面研磨方式のラップ研磨装置により6kPaの圧力で研磨した。上記方法により厚さ1.0mmの樹脂基板が形成された。なお、樹脂基板の平坦度は3.5μmであり、樹脂基板のTTVは0.8μmであった。
所定の間隔をもって配置される2つのモールドにより形成されるキャビティ内に実施例1で示した重合性組成物を注入した。原料液の硬化反応により樹脂基板を形成し、モールドより離型した。続いて離型した樹脂基板をワイヤソーを用いて1.1mmの厚さの複数の樹脂基板をスライスすることで得た。スライスによって生じた加工時キズ等によって生じる残留応力を除去するため、複数の樹脂基板をスペーサを介して積層した状態で、170℃、3時間の条件でアニール処理を行った。その後、平均粒子径が0.5μmのアルミナスラリーを用いて両面研磨方式のラップ研磨装置により6kPaの圧力で研磨した。上記方法により厚さ1.0mmの樹脂基板が形成された。なお、樹脂基板の平坦度は3.5μmであり、樹脂基板のTTVは0.8μmであった。
1 導波路装置
10 導光板
24 画像表示装置
32,52 回折格子
10 導光板
24 画像表示装置
32,52 回折格子
Claims (15)
- 樹脂基板の製造方法であって、
重合触媒と炭素数1~3のアルコールとを混合し、触媒溶液を得る工程と、
前記触媒溶液と、式(E1):
(式中、XはS又はOであり、aは0~1の整数であり、Rは炭素数1~10の2価の炭化水素であり、bは0~1の整数であり、cは0~2の整数である。)で表される化合物を含むエピチオ化合物と、メルカプト基を有するチオエーテル化合物とを混合し、重合性組成物を得る工程と、
前記重合性組成物を減圧下に配する工程と、
前記重合性組成物を成型型内で硬化させる工程と、
を含む、樹脂基板の製造方法。 - 前記重合触媒が、4級アンモニウム塩を含む、請求項1に記載の樹脂基板の製造方法。
- 前記重合触媒が、テトラアルキルアンモニウム塩を含む、請求項1に記載の樹脂基板の製造方法。
- 前記テトラアルキルアンモニウム塩が、ベンジルトリエチルアンモニウムクロライド、ベンジルトリメチルアンモニウムクロライド、ベンジルトリプロピルアンモニウムクロライド、及びベンジルトリブチルアンモニウムクロライドからなる群より選ばれる少なくとも1種を含む、請求項1に記載の樹脂基板の製造方法。
- 前記式(E1)で表される化合物は、ビス-(β-エピチオプロピル)スルフィド、又はビス-(β-エピチオプロピル)ジスルフィドを含む、請求項1に記載の樹脂基板の製造方法。
- 前記エピチオ化合物の含有量は、前記減圧後の重合性組成物全量に対して、50~98質量%である、請求項1に記載の樹脂基板の製造方法。
- 前記チオエーテル化合物が、環状チオエーテル骨格を有する化合物を含む、請求項1に記載の樹脂基板の製造方法。
- 前記チオエーテル化合物が、式(T1):
(式中、
R1及びR2は、それぞれ独立に炭素数1~6の2価の炭化水素基であり、
m及びnは、それぞれ独立に0~2である。)で表される化合物を含む、請求項7に記載の樹脂基板の製造方法。 - 前記チオエーテル化合物が、式(T2):
(式中、
R11及びR12は、それぞれ独立に、水素又はメルカプトメチル基であり、
pは、1又は2である。)で表される化合物を含む、請求項1に記載の樹脂基板の製造方法。 - 前記チオエーテル化合物の含有量が、前記減圧後の重合性組成物全量に対して、10~20質量%である、請求項1に記載の樹脂基板の製造方法。
- 前記重合性組成物を得る工程で、式(U1):
(式中
R3は、炭素数1~20のアルキル基又は炭素数1~20のアルコキシ基であり、
mは、1~2の整数である。)で表される紫外線吸収剤を更に混合する、請求項1に記載の樹脂基板の製造方法。 - 前記紫外線吸収剤の含有量が、前記減圧後の重合性組成物全量に対して、0.001質量%~5質量%である、請求項11に記載の樹脂基板の製造方法。
- 前記樹脂基板の平行度が、10μm以下である、請求項1に記載の樹脂基板の製造方法。
- 前記樹脂基板の厚みが、0.1~2.0mmである、請求項1に記載の樹脂基板の製造方法。
- 前記樹脂基板が、クロスリアリティデバイス導光板用である、請求項1に記載の樹脂基板の製造方法。
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|---|---|---|---|
| JP2024096826 | 2024-06-14 | ||
| JP2024-096826 | 2024-06-14 |
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|---|---|
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- 2025-06-13 WO PCT/JP2025/021542 patent/WO2025258697A1/ja active Pending
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