WO2025229727A1 - レーザ加工装置およびレーザ加工方法 - Google Patents
レーザ加工装置およびレーザ加工方法Info
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- WO2025229727A1 WO2025229727A1 PCT/JP2024/016717 JP2024016717W WO2025229727A1 WO 2025229727 A1 WO2025229727 A1 WO 2025229727A1 JP 2024016717 W JP2024016717 W JP 2024016717W WO 2025229727 A1 WO2025229727 A1 WO 2025229727A1
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- laser
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- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/08—Devices involving relative movement between laser beam and workpiece
- B23K26/082—Scanning systems, i.e. devices involving movement of the laser beam relative to the laser head
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- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/36—Removing material
- B23K26/40—Removing material taking account of the properties of the material involved
- B23K26/402—Removing material taking account of the properties of the material involved involving non-metallic material, e.g. isolators
Definitions
- This disclosure relates to a laser processing apparatus and a laser processing method.
- Patent Document 1 discloses a laser processing device having a laser, a redirection device, and a positioning device.
- the laser processing apparatus disclosed herein processes a workpiece containing sintered diamond or cubic boron nitride by irradiating the workpiece with laser light, and includes a laser irradiation unit, a holding unit, and a control unit.
- the laser irradiation unit irradiates the workpiece with laser light in a first direction.
- the holding unit detachably holds the workpiece while maintaining its orientation, and is capable of moving the workpiece in a direction along the first direction.
- the control unit controls the operation of the laser irradiation unit and the holding unit.
- the laser irradiation unit includes a laser generator, an F ⁇ lens, and a galvanometer mirror.
- the laser generator is switchable between a state in which it generates laser light and a state in which it stops generating laser light.
- the F ⁇ lens is fixed in an orientation that allows it to irradiate laser light in the first direction.
- the galvanometer mirror reflects the laser light generated by the laser generator and changes the position at which it enters the F ⁇ lens, thereby moving the optical axis of the laser light that passes through the F ⁇ lens and is irradiated in a first direction in a second direction that is perpendicular to the first direction and a third direction that is perpendicular to both the first and second directions.
- the control unit alternately performs a laser light irradiation step and a moving step of moving the gripping unit holding the workpiece in a direction along the first direction while stopping irradiation of the laser light on the workpiece.
- the laser light irradiation step includes a step of irradiating the workpiece with laser light in the first direction while the workpiece is stationary, or a step of moving the optical axis of the laser light in at least one of the second and third directions while irradiating the workpiece with laser light in the first direction while the workpiece is stationary.
- FIG. 1 is a perspective schematic view showing the configuration of a laser processing apparatus according to this embodiment.
- FIG. 2 is a functional block diagram showing the configuration of the laser processing device according to this embodiment.
- FIG. 3 is a schematic plan view showing the configuration of the F ⁇ lens.
- FIG. 4 is a flow chart schematically showing the laser processing method according to the first embodiment.
- FIG. 5 is a schematic plan view showing a state in which the workpiece is attached to the gripping member.
- FIG. 6 is a schematic side view showing the laser beam irradiation step in cylindrical R machining.
- FIG. 7 is a perspective schematic view showing a laser beam irradiation step in cylindrical R machining.
- FIG. 8 is a schematic top view showing the laser light irradiation step in cylindrical R machining.
- FIG. 1 is a perspective schematic view showing the configuration of a laser processing apparatus according to this embodiment.
- FIG. 2 is a functional block diagram showing the configuration of the laser processing device according to this embodiment.
- FIG. 3
- FIG. 9 is a schematic plan view showing the positional relationship between the F ⁇ lens and the workpiece.
- FIG. 10 is a schematic side view showing the laser light irradiation step in the cone R processing.
- FIG. 11 is a perspective schematic view showing the laser beam irradiation step in the cone R machining.
- FIG. 12 is a schematic top view showing the laser light irradiation step in the cone R processing.
- FIG. 13 is a partial cross-sectional view showing a method of supplying the assist gas.
- FIG. 14 is a schematic side view showing the rough processing step.
- FIG. 15 is a schematic side view showing the finishing process.
- FIG. 16 is a schematic side view showing the configuration of the blade member after the finishing process.
- Laser processing technology has advanced at an accelerating pace in recent years, and laser processing equipment manufactured by machine tool manufacturers is equipped with oscillators that have high peak powers, such as picoseconds and femtoseconds, and are designed for ablation processing. Furthermore, in this laser processing equipment, technology is applied to synchronize control of five or more axes to create three-dimensional shapes, making advanced processing possible. However, because this advanced technology is used, the unit price of this laser processing equipment is extremely high.
- An object of the present disclosure is to provide a laser processing apparatus and a laser processing method that are easy to control and capable of high-speed processing.
- a laser processing apparatus and a laser processing method that are easy to control and capable of high-speed processing. Description of the embodiments of the present disclosure First, embodiments of the present disclosure (also referred to as the present embodiment) will be listed and described.
- the laser processing apparatus 100 processes a workpiece 7 including sintered diamond or cubic boron nitride by irradiating the workpiece 7 with laser light B, and includes a laser irradiation unit 50, a gripping unit 70, and a control unit 60.
- the laser irradiation unit 50 irradiates the workpiece 7 with laser light B in a first direction A1.
- the gripping unit 70 detachably grips the workpiece 7 while maintaining the posture of the workpiece 7, and is capable of moving the workpiece 7 in a direction along the first direction A1.
- the control unit 60 controls the operation of the laser irradiation unit 50 and the gripping unit 70.
- the laser irradiation unit 50 includes a laser generator 13, an F ⁇ lens 30, and a galvanometer mirror 10.
- the laser generator 13 is switchable between a state in which it generates laser light B and a state in which it stops generating laser light B.
- the F ⁇ lens 30 is fixed in a position that allows the laser beam B to be irradiated in a first direction A1.
- the galvanometer mirror 10 reflects the laser beam B generated by the laser generator 13 and changes the position at which the laser beam B is incident on the F ⁇ lens 30, thereby moving the optical axis of the laser beam B that passes through the F ⁇ lens 30 and is irradiated in the first direction A1 in a second direction A2 that is perpendicular to the first direction A1 and a third direction A3 that is perpendicular to both the first direction A1 and the second direction A2.
- the control unit 60 alternately performs a laser beam irradiation step and a moving step of moving the gripping unit 70 gripping the workpiece 7 in a direction along the first direction A1 while stopping the irradiation of the laser beam B on the workpiece 7.
- the laser light irradiation process includes a process of irradiating the workpiece 7 with laser light B in a first direction A1 while the workpiece 7 is stationary, or a process of irradiating the workpiece 7 with laser light B in the first direction A1 while the workpiece 7 is stationary and moving the optical axis of the laser light B in at least one of the second direction A2 and the third direction A3.
- the laser irradiation unit 50 has a laser generator 13, an F ⁇ lens 30, and a galvanometer mirror 10.
- the laser light B is scanned by the galvanometer mirror 10. Therefore, the laser processing apparatus 100 disclosed herein is capable of high-speed processing compared to laser processing apparatuses in which the laser light is fixed while the workpiece is moved.
- the control unit 60 controls the operation of the laser irradiation unit 50 and the gripping unit 70.
- the control unit 60 alternately performs a laser light irradiation process and a movement process in which the gripping unit 70 gripping the workpiece 7 is moved in a direction along the first direction A1 while the irradiation of the laser light B onto the workpiece 7 is stopped. Therefore, the laser processing apparatus 100 of the present disclosure is easier to control than a laser processing apparatus that synchronously controls five or more axes.
- the maximum width W of the area of the F ⁇ lens 30 that can be irradiated with the laser light B in the first direction A1 may be 30 mm or more. This allows for uniform processing over a wide area.
- the wavelength of the laser light B may be 532 nm or more.
- the cost of the device can be kept low and processing costs can be reduced.
- the gripping unit 70 may have a moving mechanism 45 that moves the workpiece 7 between an attachment/detachment position where the gripping unit 70 attaches/detaches the workpiece 7, and a processing position where the workpiece 7 is irradiated with laser light B to process it. This reduces the total processing time.
- the gripping unit 70 may be capable of rotating the workpiece 7 around a processing rotation axis, which is an axis parallel to the first direction A1, while gripping the workpiece 7.
- the control unit 60 may control the operation of the laser irradiation unit 50 and the gripping unit 70 so that, in the laser light irradiation step, one of the following steps is performed: irradiating the workpiece 7 with laser light B in the first direction A1 while the workpiece 7 is stationary; irradiating the workpiece 7 with laser light B in the first direction A1 while the workpiece 7 is stationary while moving the optical axis of the laser light B in at least one of the second direction A2 and the third direction A3; or rotating the workpiece 7 around the processing rotation axis while irradiating the workpiece 7 with laser light B in the first direction A1.
- This allows cylindrical R processing to be performed on the workpiece 7.
- the gripping unit 70 may be capable of rotating the workpiece 7 around a processing rotation axis, which is an axis tilted with respect to the first direction A1, while gripping the workpiece 7.
- the control unit 60 may control the operation of the laser irradiation unit 50 and the gripping unit 70 so that, in the laser light irradiation step, one of the following steps is performed: irradiating the workpiece 7 with laser light B in the first direction A1 while the workpiece 7 is stationary; irradiating the workpiece 7 with laser light B in the first direction A1 while the workpiece 7 is stationary while moving the optical axis of the laser light B in at least one of the second direction A2 and the third direction A3; or rotating the workpiece 7 around the processing rotation axis while irradiating the workpiece 7 with laser light B in the first direction A1. This allows conical R processing to be performed on the workpiece 7.
- the gripping unit 70 may be capable of changing the distance from the F ⁇ lens 30 to the processing rotation axis as viewed from the first direction A1.
- the gripping unit 70 may be able to tilt the workpiece 7 relative to an imaginary plane perpendicular to the first direction A1 by rotating the workpiece 7 while gripping it around a tilt axis that is an axis perpendicular to the first direction A1.
- the laser processing method disclosed herein is a laser processing method for processing a workpiece 7 including sintered diamond or cubic boron nitride by irradiating the workpiece 7 with laser light B, and includes a laser light irradiation step and a moving step of moving a holding portion 70 holding the workpiece 7 in a direction along a first direction A1 while irradiating the laser light B to the workpiece 7 is stopped.
- the laser light irradiation step includes a step of irradiating the workpiece 7 with laser light B in a first direction A1 while the workpiece 7 is stationary, or a step of irradiating the workpiece 7 with laser light B in the first direction A1 while the workpiece 7 is stationary and moving the optical axis of the laser light B in at least one of a second direction A2 that is perpendicular to the first direction A1 and a third direction A3 that is perpendicular to both the first direction A1 and the second direction A2.
- the laser light irradiation step and a moving step of moving the gripping unit 70 holding the workpiece 7 in a direction along the first direction A1 while halting irradiation of the laser light B onto the workpiece 7 are alternately performed. This allows for simple control and high-speed machining.
- the workpiece 7 in the laser light irradiation step, the workpiece 7 may be irradiated with laser light B generated by the laser generator 13, reflected by the galvanometer mirror 10, and passed through the F ⁇ lens 30.
- the moving step of moving the gripping unit 70 holding the workpiece 7 in a direction along the first direction A1 while the irradiation of the laser light B on the workpiece 7 is stopped the movement of the workpiece 7 in the direction along the first direction A1 may be achieved by moving the gripping unit 70 holding the workpiece 7 in the direction along the first direction A1, and the movement of the optical axis of the laser light B irradiated in the first direction A1 in the second direction A2 and the third direction A3 may be achieved by the galvanometer mirror 10 reflecting the laser light B and changing the position at which it enters the F ⁇ lens 30. This allows the laser light B to be scanned at high speed by the galvanometer mirror 10, enabling even higher-speed processing.
- the workpiece 7 may have a cutting edge 6.
- the area of the F ⁇ lens 30 that can be irradiated with the laser light B in the first direction A1 may surround the cutting edge 6. This allows the entire cutting edge 6 to be machined without moving the workpiece 7 in a direction perpendicular to the optical axis of the F ⁇ lens 30.
- the area of the F ⁇ lens 30 that can be irradiated with the laser light B in the first direction A1, as viewed in the irradiation direction of the laser light B, may surround the workpiece 7. This allows the entire workpiece 7 to be processed without moving the workpiece 7 in a direction perpendicular to the optical axis of the F ⁇ lens 30.
- the wavelength of the laser light B may be 532 nm or more.
- assist gas G may be supplied to the container 80 while the F ⁇ lens 30 and the workpiece 7 are each surrounded by the container 80.
- the laser light irradiation step may include a step of performing rough processing on the workpiece 7 using a laser, and a step of performing finish processing on the workpiece 7 using a laser after the rough processing step.
- the wavelength of the laser used in the rough processing step is longer than the wavelength of the laser used in the finish processing step.
- the wavelength of the laser used in the rough processing step may be 1030 nm or more.
- Fig. 1 is a schematic perspective view showing the configuration of a laser processing apparatus 100 according to this embodiment.
- Fig. 2 is a functional block diagram showing the configuration of the laser processing apparatus 100 according to this embodiment.
- the laser processing apparatus 100 processes a workpiece 7 by irradiating the workpiece 7 with laser light B, and mainly includes a laser irradiation unit 50, a gripping unit 70, and a control unit 60.
- the workpiece 7 includes sintered diamond or cubic boron nitride.
- the laser irradiation unit 50 is a part that irradiates the workpiece 7 with laser light B.
- the laser irradiation unit 50 mainly comprises a laser generator 13, an F ⁇ lens 30, a galvanometer mirror 10, and a galvanometer scanner 20.
- the laser generator 13 can switch between a state in which it generates laser light B and a state in which it stops generating laser light B.
- the control unit 60 switches between a state in which it generates laser light B and a state in which it stops generating laser light B.
- the laser generator 13 generates, for example, a YAG (yttrium aluminum garnet) laser or a YVO 4 (yttrium vanadate) laser.
- the wavelength of the laser light B generated from the laser generator 13 is, for example, 1064 nm.
- the wavelength of the laser light B irradiated onto the workpiece 7 may be converted into a harmonic (for example, a second harmonic) using a harmonic converter (not shown).
- the wavelength of the laser light B irradiated onto the workpiece 7 is, for example, 532 nm or longer.
- the galvanometer mirror 10 has a first galvanometer mirror section 11 and a second galvanometer mirror section 12.
- the first galvanometer mirror section 11 reflects the laser light B irradiated from the laser irradiation section 50.
- the second galvanometer mirror section 12 reflects the laser light B reflected by the first galvanometer mirror section 11.
- the second galvanometer mirror section 12 is positioned opposite the first galvanometer mirror section 11.
- the galvanometer scanner 20 has a first galvanometer scanner unit 21 and a second galvanometer scanner unit 22.
- the first galvanometer scanner unit 21 drives the first galvanometer mirror unit 11.
- the orientation of the first galvanometer mirror unit 11 changes in accordance with the rotation of the drive shaft of the first galvanometer scanner unit 21.
- the second galvanometer scanner unit 22 drives the second galvanometer mirror unit 12.
- the orientation of the second galvanometer mirror unit 12 changes in accordance with the rotation of the drive shaft of the second galvanometer scanner unit 22.
- the F ⁇ lens 30 is positioned below the second galvanometer mirror unit 12.
- the laser light B reflected by the second galvanometer mirror unit 12 is incident on the F ⁇ lens 30.
- the F ⁇ lens 30 focuses the laser light B reflected by the galvanometer mirror 10.
- the F ⁇ lens 30 is fixed in a position that allows the laser light B to be irradiated in the first direction A1.
- the laser light B that passes through the F ⁇ lens 30 is irradiated onto the workpiece 7 in the first direction A1.
- the galvanometer mirror 10 reflects the laser light B generated by the laser generator 13 and changes the position at which it enters the F ⁇ lens 30, thereby moving the optical axis of the laser light B, which passes through the F ⁇ lens 30 and is irradiated in the first direction A1, in the second direction A2 and the third direction A3.
- the second direction A2 is perpendicular to the first direction A1.
- the third direction A3 is perpendicular to both the first direction A1 and the second direction A2.
- the gripping unit 70 grips the workpiece 7. Specifically, the gripping unit 70 detachably grips the workpiece 7 while maintaining the orientation of the workpiece 7.
- the gripping unit 70 is capable of moving the workpiece 7 in a direction along the first direction A1.
- the control unit 60 controls the operation of the laser irradiation unit 50 and the gripping unit 70. Specifically, the control unit 60 controls the operation of the laser irradiation unit 50 and the gripping unit 70 so that the laser light irradiation process and the gripping unit 70 movement process are performed alternately. In the gripping unit 70 movement process, the gripping unit 70 gripping the workpiece 7 is moved in a direction along the first direction A1 while the irradiation of the laser light B onto the workpiece 7 is stopped.
- the laser light irradiation process includes a process of irradiating the workpiece 7 with laser light B in a first direction A1 while the workpiece 7 is stationary, or a process of irradiating the workpiece 7 with laser light B in the first direction A1 while the workpiece 7 is stationary and moving the optical axis of the laser light B in at least one of the second direction A2 and the third direction A3.
- the laser light irradiation process will be described in detail later.
- the gripping unit 70 may have a gripping member 40 and a moving mechanism 45.
- the gripping member 40 grips the workpiece 7.
- the moving mechanism 45 moves the workpiece 7 gripped by the gripping member 40 between an attachment/detachment position where the gripping unit 70 attaches/detaches the workpiece 7, and a processing position where the workpiece 7 is irradiated with laser light B to perform processing (see FIG. 5).
- Figure 3 is a schematic plan view showing the configuration of the F ⁇ lens 30.
- the F ⁇ lens 30 has a lens 31 and a holder 32.
- the holder 32 holds the lens 31.
- the holder 32 surrounds the lens 31.
- the maximum width W of the area of the F ⁇ lens 30 that can irradiate the laser light B in the first direction A1 is, for example, 30 mm or more. As shown in Figure 3, when viewed along the central axis of the F ⁇ lens 30, the maximum width W of the area of the F ⁇ lens 30 that can irradiate the laser light B in the first direction A1 is smaller than the width of the lens 31.
- the maximum width W of the area of the F ⁇ lens 30 that can be irradiated with laser light B in the first direction A1 may be, for example, 40 mm or more, 50 mm or more, or 60 mm or more.
- Fig. 4 is a flow chart schematically showing the laser processing method according to the first embodiment.
- the laser processing method according to the first embodiment is a laser processing method in which the workpiece 7 is processed by irradiating the workpiece 7 with laser light B.
- the laser processing method according to the first embodiment includes a step (S10) of attaching the workpiece 7 to a gripping member 40, a laser light irradiation step (S20), and a movement step (S30).
- FIG. 5 is a schematic plan view showing the state in which the workpiece 7 is attached to the gripping member 40.
- the step (S10) of attaching the workpiece 7 to the gripping member 40 is carried out.
- the gripping member 40 is positioned at the attachment/detachment position, where the workpiece 7 is attached/detached.
- the gripping member 40 has, for example, a first gripping portion 41 and a second gripping portion 42.
- the second gripping portion 42 is continuous with the first gripping portion 41.
- the first gripping portion 41 is, for example, approximately cylindrical.
- the second gripping portion 42 has, for example, a V-shaped groove 43 formed in a plan view.
- the cutting insert, which is the workpiece 7, is positioned in the V-shaped groove 43.
- the cutting insert which is the workpiece 7, has a blade member 4 and a base 5.
- the blade member 4 is attached to the base 5.
- the blade member 4 is the part involved in cutting.
- the shape of the base 5 in a plan view is not particularly limited, but may be a rhombus, for example.
- the blade member 4 is joined to the corners of the base 5.
- the base 5 is made of, for example, cemented carbide or cermet.
- the cutting insert in this embodiment is formed by joining the blade members 4 to the corners of the base 5, but the entire cutting insert may also be formed from the blade members 4.
- the blade member 4 serving as the workpiece 7 contains sintered diamond or cBN (cubic boron nitride).
- the blade member 4 may contain, for example, 50% or more by volume of sintered diamond.
- the blade member 4 may contain, for example, 50% by volume of cBN.
- the workpiece 7 is moved to a processing position where laser light B is irradiated onto the workpiece 7 to perform processing.
- the gripping member 40 holding the workpiece 7 is moved to the processing position by the movement mechanism 45.
- the workpiece 7 is positioned below the F ⁇ lens 30 of the laser irradiation unit 50 by the movement mechanism 45.
- FIG. 6 is a side view schematic showing the laser light irradiation process in cylindrical R processing.
- laser light B is irradiated onto the workpiece 7 while the workpiece 7 is stationary.
- the irradiation direction of laser light B is a first direction A1.
- the control unit 60 controls the operation of the laser irradiation unit 50 and the gripping unit 70 so that laser light B is irradiated onto the workpiece 7 in the first direction A1 while the workpiece 7 is stationary.
- laser light B is generated by laser generator 13 and reflected by galvanometer mirror 10.
- laser light B reflected by second galvanometer mirror section 12 is incident on F ⁇ lens 30 (see Figure 1).
- F ⁇ lens 30 focuses laser light B reflected by galvanometer mirror 10.
- Laser light B passes through F ⁇ lens 30 and is irradiated onto workpiece 7.
- the wavelength of laser light B is, for example, 532 nm or more.
- the output of laser light B is, for example, 2 W or more.
- Figure 7 is a schematic perspective view showing the laser light irradiation process in cylindrical R machining.
- the laser light B may be irradiated in a first direction A1 onto the workpiece 7 while the optical axis of the laser light B is moved in at least one of the second direction A2 and the third direction A3.
- the second direction A2 is a direction perpendicular to the first direction A1.
- the third direction A3 is a direction perpendicular to both the first direction A1 and the second direction A2.
- the scanning speed of the laser light B is, for example, 300 mm/sec or more and 1000 mm/sec or less. By increasing the scanning speed of the laser light B, the time that the laser light B remains in the same position can be reduced, thereby improving the quality of the machined surface.
- the control unit 60 controls the operation of the laser irradiation unit 50 and the gripping unit 70 so that, while the workpiece 7 is stationary, the laser beam B is irradiated onto the workpiece 7 in the first direction A1, while the optical axis of the laser beam B is moved in at least one of the second direction A2 and the third direction A3.
- the movement of the optical axis of the laser beam B in the second direction A2 and the third direction A3 is achieved, for example, by the galvanometer mirror 10 reflecting the laser beam B and changing the position at which it enters the F ⁇ lens 30.
- Figure 8 is a schematic top view showing the laser light irradiation process in cylindrical R machining.
- the workpiece 7 has a first arc portion 1 and a second arc portion 2.
- the first arc portion 1 is formed by a blade member 4.
- the first arc portion 1 is formed along a first imaginary circle C1.
- the second arc portion 2 is formed by a base 5.
- the second arc portion 2 is formed along a second imaginary circle C2.
- the radius of the first imaginary circle C1 (first radius R1) is substantially the same as the radius of the second imaginary circle C2 (second radius R2).
- the moving step (S30) is performed.
- the gripping unit 70 gripping the workpiece 7 is moved in a direction along the first direction A1.
- the direction along the first direction A1 may be the same direction as the first direction A1, or the opposite direction to the first direction A1 (fourth direction A4).
- the movement of the workpiece 7 in the direction along the first direction A1 is achieved by moving the gripping unit 70 gripping the workpiece 7 in a direction along the first direction A1.
- the gripping unit 70 gripping the workpiece 7 moves in a direction approaching the F ⁇ lens 30 (fourth direction A4) so that the focal position of the laser light B is at the processing position of the workpiece 7.
- the processing position of the workpiece 7 moves in the fourth direction A4 along the first direction A1.
- the laser light irradiation step (S20) and the movement step (S30) are performed alternately. Specifically, after laser processing is performed on a portion of the workpiece 7, irradiation of laser light B is stopped. With irradiation of laser light B on the workpiece 7 stopped, the workpiece 7 moves in a direction along the first direction A1. Next, laser processing irradiation is resumed, and laser processing is performed on a portion of the workpiece 7. As described above, the workpiece 7 is intermittently processed from the top end to the bottom end.
- the gripping unit 70 may be capable of rotating the workpiece 7 around a processing rotation axis (first rotation axis D1) while gripping the workpiece 7.
- the first rotation axis D1 is an axis parallel to the first direction A1. In a direction perpendicular to the first direction A1, the distance between the laser beam B and the first rotation axis D1 corresponds to a first radius R1.
- the control unit 60 controls the operation of the laser irradiation unit 50 and the gripping unit 70 so that the workpiece 7 rotates around the processing rotation axis while irradiating the laser beam B onto the workpiece 7 in the first direction A1.
- the first arc portion 1 constitutes a corner R cutting edge.
- the operation of the gripping unit 70 to rotate the workpiece 7 around the processing rotation axis may be performed not only when processing the first arc portion 1, but also when transitioning from processing a linear cutting edge 6 to processing another adjacent cutting edge 6.
- the operation of the gripping unit 70 to rotate the workpiece 7 around the processing rotation axis may be performed during the transition period between the laser light irradiation step (S20) and the movement step (S30), or in the preparation step that precedes the processing step in which the laser light irradiation step (S20) and the movement step (S30) are performed alternately.
- the gripping unit 70 may be capable of changing the distance from the F ⁇ lens 30 to the processing rotation axis as viewed from the first direction A1.
- the moving mechanism 45 may be capable of moving the gripping unit 70 along a direction perpendicular to the first direction A1.
- the gripping unit 70 may be able to rotate the workpiece 7 while gripping it about an inclination axis that is an axis perpendicular to the first direction A1, thereby tilting the workpiece 7 with respect to an imaginary plane perpendicular to the first direction A1.
- the moving mechanism 45 may be able to rotate the gripping unit 70 about the inclination axis that is an axis perpendicular to the first direction A1.
- FIG. 9 is a schematic plan view showing the positional relationship between the F ⁇ lens 30 and the workpiece 7.
- the area of the F ⁇ lens 30 that can irradiate the laser light B in the first direction A1 may surround the cutting edge 6 of the workpiece 7.
- the maximum width W of the area of the F ⁇ lens 30 that can irradiate the laser light B in the first direction A1 is, for example, 30 mm or more.
- the area of the F ⁇ lens 30 that can irradiate the laser light B in the first direction A1 may surround the workpiece 7.
- the area of the F ⁇ lens 30 that can irradiate the laser light B in the first direction A1 surrounds the entire cutting edge 6 of the workpiece 7, but does not have to surround the entire workpiece 7.
- the gripping unit 70 may not have the moving mechanism 45.
- the workpiece 7 may be manually placed at the processing position where the laser light B is irradiated onto the workpiece 7 to perform processing, without using the moving mechanism 45. Specifically, an operator may attach the workpiece 7 to the gripping member 40 at the attachment/detachment position, and then manually place the workpiece 7 below the F ⁇ lens 30. The attitude of the workpiece 7 may be manually adjusted by the operator. Second Embodiment Next, a laser processing method according to a second embodiment will be described.
- the laser processing method according to the second embodiment differs from the laser processing method according to the first embodiment mainly in that the processing rotation axis is inclined with respect to the first direction A1, but is substantially the same as the laser processing method according to the first embodiment in other respects.
- the following description will focus on the differences from the laser processing method according to the first embodiment.
- FIG 10 is a side schematic diagram showing the laser light irradiation process in cone R machining.
- the gripping unit 70 is capable of rotating the workpiece 7 around the machining rotation axis (second rotation axis D2) while gripping the workpiece 7.
- the second rotation axis D2 is inclined with respect to the first direction A1.
- the control unit 60 controls the operation of the laser irradiation unit 50 and the gripping unit 70 so that the workpiece 7 rotates around the second rotation axis D2 while irradiating the workpiece 7 with laser light B in the first direction A1.
- Figure 11 is a schematic perspective view showing the laser light irradiation process in cone R machining.
- laser light B is irradiated onto the workpiece 7 in a first direction A1 while the optical axis of laser light B is moved in at least one of the second direction A2 and the third direction A3.
- the control unit 60 controls the operation of the laser irradiation unit 50 and the gripping unit 70 so that while the workpiece 7 is stationary, laser light B is irradiated onto the workpiece 7 in the first direction A1 while the optical axis of laser light B is moved in at least one of the second direction A2 and the third direction A3.
- Figure 12 is a schematic top view showing the laser light irradiation process in cone R machining.
- the workpiece 7 has a first arc portion 1 and a second arc portion 2.
- the first arc portion 1 is formed by a blade member 4.
- the first arc portion 1 is formed along a first imaginary circle C1.
- the second arc portion 2 is formed by a base 5.
- the second arc portion 2 is formed along a second imaginary circle C2.
- the radius of the first imaginary circle C1 (first radius R1) is larger than the radius of the second imaginary circle C2 (second radius R2).
- the control unit 60 controls the operation of the laser irradiation unit 50 and the gripping unit 70 so as to rotate the workpiece 7 around the second rotation axis D2 while irradiating the workpiece 7 with laser light B in the first direction A1.
- This forms a first arc portion 1 along the first virtual circle C1 and a second arc portion 2 along the second virtual circle C2 (see Figure 11).
- the second rotation axis D2 is inclined with respect to the first direction A1 so that the distance from the laser beam B in the direction perpendicular to the first direction A1 increases with increasing distance from the F ⁇ lens 30.
- the distance from the laser beam B to the second rotation axis D2 in the direction perpendicular to the first direction A1 corresponds to the second radius R2.
- the distance from the laser beam B to the second rotation axis D2 in the direction perpendicular to the first direction A1 corresponds to the first radius R1.
- the laser processing method according to the third embodiment differs from the laser processing methods according to the first and second embodiments mainly in that an assist gas is supplied, but in other respects it is substantially the same as the laser processing methods according to the first and second embodiments.
- the following description will focus on the differences from the laser processing methods according to the first and second embodiments.
- Figure 13 is a partial cross-sectional schematic diagram showing a method of supplying assist gas.
- the laser processing device 100 has an F ⁇ lens 30, a gripping unit 70, and a container 80.
- the workpiece 7 is gripped by the gripping unit 70.
- the gripping unit 70 is movable in an upward and downward direction. The upward and downward directions are parallel to the first direction A1.
- the container 80 has, for example, a first connecting member 81, a second connecting member 82, and a main body member 83.
- the main body member 83 is, for example, cylindrical.
- the main body member 83 surrounds each of the F ⁇ lens 30 and the workpiece 7.
- the main body member 83 is attached to the gripping portion 70 by the first connecting member 81.
- the main body member 83 is attached to the F ⁇ lens 30 by the second connecting member 82.
- a sealed space may be formed by the container 80, the F ⁇ lens 30, and the gripping portion 70.
- the container 80 is provided with an assist gas supply hole 91. Assist gas G is supplied into the container 80 through the assist gas supply hole 91.
- the assist gas G is, for example, nitrogen gas.
- the assist gas G suppresses oxidation of the processed surface, for example.
- the container 80 may be provided with an assist gas exhaust hole 92.
- the assist gas G is exhausted to the outside of the container 80 through the assist gas exhaust hole 92.
- a gap 84 may be provided between the container 80 and the F ⁇ lens 30.
- the assist gas G may be exhausted to the outside of the container 80 through the gap 84.
- the container 80 may be provided with either the assist gas exhaust hole 92 or the gap 84, or with both the assist gas exhaust hole 92 and the gap 84.
- the F ⁇ lens 30 and the workpiece 7 are each surrounded by a container 80, and an assist gas G is supplied to the container 80.
- the inside of the container 80 is filled with the assist gas G.
- the assist gas G may be supplied in a direction substantially perpendicular to the irradiation direction of the laser light B.
- the container 80 and the workpiece 7 may move integrally.
- the container 80 and the workpiece 7 may move integrally by moving the gripper 70 upward and downward.
- the container 80 may be spaced apart from the F ⁇ lens 30.
- the workpiece 7 may move upward and downward inside the container 80 while maintaining the same relative position with respect to the F ⁇ lens 30.
- a laser processing method according to a fourth embodiment will be described.
- the laser processing method according to the fourth embodiment differs from the laser processing methods according to the first to third embodiments mainly in that the laser processing is performed separately into rough processing and finish processing, but is substantially the same as the laser processing methods according to the first to third embodiments in other respects. The following description will focus on the differences from the laser processing methods according to the first to third embodiments.
- the laser light irradiation process includes a rough processing process and a finish processing process.
- Figure 14 is a schematic side view showing the rough processing process.
- the blade member 4 is made of, for example, polycrystalline diamond (PCD).
- the blade member 4 has a first region 71, a second region 72, and a third region 73.
- the first region 71 is continuous with the second region 72.
- the second region 72 is continuous with the third region 73.
- the second region 72 is located between the first region 71 and the third region 73.
- a laser is used to perform rough processing on the workpiece.
- a fiber laser for example, can be used for rough processing.
- laser light B is irradiated onto the first region 71 of the blade member 4.
- Laser light B is a fiber laser.
- the fiber laser is used to remove the first region 71 of the blade member 4.
- a thermally altered layer is formed in the second region 72.
- the thermally altered layer is made of graphite, which has low thermal conductivity.
- the wavelength of the laser used in the rough processing step is longer than the wavelength of the laser used in the finish processing step.
- the wavelength of the laser used in the rough processing step is, for example, 1030 nm or longer.
- FIG 15 is a schematic side view showing the finishing process.
- a laser is used to finish the workpiece.
- a green laser for example, can be used for finishing.
- laser light B is irradiated onto the second region 72 of the blade member 4.
- Laser light B is a green laser. The green laser is used to remove the second region 72 of the blade member 4.
- Figure 16 is a schematic side view showing the configuration of the blade member after the finishing process.
- a thermally altered layer 74 is formed in part of the third region 73 during the finishing process.
- the second region 72 is made of graphite, which has low thermal conductivity. Therefore, during the finishing process, heat conduction from the second region 72 to the third region 73 is suppressed. As a result, the thickness of the thermally altered layer 74 formed during the finishing process is reduced.
- the laser irradiation unit 50 has a laser generator 13, an F ⁇ lens 30, and a galvanometer mirror 10.
- the laser light B is scanned by the galvanometer mirror 10. Therefore, the laser processing apparatus 100 disclosed herein is capable of high-speed processing compared to laser processing apparatuses in which the laser light is fixed while the workpiece is moved.
- the control unit 60 controls the operation of the laser irradiation unit 50 and the gripping unit 70.
- the control unit 60 alternately performs a laser light irradiation process and a movement process in which the gripping unit 70 gripping the workpiece 7 is moved in a direction along the first direction A1 while the irradiation of the laser light B onto the workpiece 7 is stopped. Therefore, the laser processing apparatus 100 of the present disclosure is easier to control than a laser processing apparatus that synchronously controls five or more axes.
- the maximum width W of the area of the F ⁇ lens 30 that can be irradiated with laser light B in the first direction A1 may be 30 mm or more. This allows for uniform processing over a wide area.
- the wavelength of the laser light B may be 532 nm or more.
- the cost of the apparatus can be kept low and processing costs can be reduced.
- the gripping unit 70 may have a movement mechanism 45 that moves the workpiece 7 between an attachment/detachment position where the gripping unit 70 attaches/detaches the workpiece 7, and a processing position where the workpiece 7 is irradiated with laser light B to process it. This reduces the total processing time.
- the gripping unit 70 may be capable of rotating the workpiece 7 around a processing rotation axis, which is an axis parallel to the first direction A1, while gripping the workpiece 7.
- the control unit 60 may control the operation of the laser irradiation unit 50 and the gripping unit 70 so that, in the laser light irradiation step, one of the following steps is performed: irradiating the workpiece 7 with laser light B in the first direction A1 while the workpiece 7 is stationary; irradiating the workpiece 7 with laser light B in the first direction A1 while the workpiece 7 is stationary while moving the optical axis of the laser light B in at least one of the second direction A2 and the third direction A3; or rotating the workpiece 7 around the processing rotation axis while irradiating the workpiece 7 with laser light B in the first direction A1.
- This allows cylindrical R processing to be performed on the workpiece 7.
- the gripping unit 70 may be capable of rotating the workpiece 7 around a processing rotation axis, which is an axis tilted with respect to the first direction A1, while gripping the workpiece 7.
- the control unit 60 may control the operation of the laser irradiation unit 50 and the gripping unit 70 so that, in the laser light irradiation step, one of the following steps is performed: irradiating the workpiece 7 with laser light B in the first direction A1 while the workpiece 7 is stationary; irradiating the workpiece 7 with laser light B in the first direction A1 while the workpiece 7 is stationary while moving the optical axis of the laser light B in at least one of the second direction A2 and the third direction A3; or rotating the workpiece 7 around the processing rotation axis while irradiating the workpiece 7 with laser light B in the first direction A1.
- This allows conical R processing to be performed on the workpiece 7.
- the laser processing method disclosed herein comprises a laser light irradiation step and a moving step of moving the gripping unit 70 gripping the workpiece 7 in a direction along the first direction A1 while irradiation of the laser light B to the workpiece 7 is stopped.
- the laser light irradiation step includes a step of irradiating the workpiece 7 with laser light B in the first direction A1 while the workpiece 7 is stationary, or a step of irradiating the workpiece 7 with laser light B in the first direction A1 while the workpiece 7 is stationary while moving the optical axis of the laser light B in at least one of a second direction A2 that is perpendicular to the first direction A1 and a third direction A3 that is perpendicular to both the first direction A1 and the second direction A2.
- the laser light irradiation step and a moving step of moving the gripping unit 70 gripping the workpiece 7 in a direction along the first direction A1 while irradiation of the laser light B to the workpiece 7 is stopped are performed alternately. This allows for simple control and high-speed processing.
- the workpiece 7 in the laser light irradiation step, the workpiece 7 may be irradiated with laser light B generated by the laser generator 13, reflected by the galvanometer mirror 10, and passed through the F ⁇ lens 30.
- the movement step in which the gripping unit 70 holding the workpiece 7 is moved in a direction along the first direction A1 while the irradiation of the laser light B to the workpiece 7 is stopped, the movement of the workpiece 7 in the direction along the first direction A1 may be achieved by moving the gripping unit 70 holding the workpiece 7 in the direction along the first direction A1, and the movement of the optical axis of the laser light B irradiated in the first direction A1 in the second direction A2 and the third direction A3 may be achieved by the galvanometer mirror 10 reflecting the laser light B and changing the position at which it enters the F ⁇ lens 30. This allows the laser light B to be scanned at high speed by the galvanometer mirror 10, enabling even higher-speed processing.
- the workpiece 7 may have a cutting edge 6.
- the area of the F ⁇ lens 30 that can be irradiated with the laser light B in the first direction A1 may surround the cutting edge 6. This allows the entire cutting edge 6 to be machined without moving the workpiece 7 in a direction perpendicular to the optical axis of the F ⁇ lens 30.
- the area of the F ⁇ lens 30 that can be irradiated with the laser light B in the first direction A1, as viewed in the irradiation direction of the laser light B, may surround the workpiece 7. This allows the entire workpiece 7 to be processed without moving the workpiece 7 in a direction perpendicular to the optical axis of the F ⁇ lens 30.
- the wavelength of laser light B may be 532 nm or longer.
- the workpiece 7 is tilted according to the clearance angle, so the distance between the F ⁇ lens 30 and the workpiece 7 needs to be increased to avoid interference with the gripper 70. Therefore, when assist gas G is supplied to the workpiece 7, the supply nozzle for the assist gas G is positioned away from the workpiece 7. In this case, assist gas G needs to be supplied to the workpiece 7 at high pressure. However, increasing the pressure of the assist gas G distorts the laser light B, which may result in a deterioration in the processing quality of the workpiece 7.
- the F ⁇ lens 30 and the workpiece 7 may each be surrounded by a container 80, and assist gas G may be supplied to the container 80.
- This allows the container 80 to be filled with assist gas G.
- assist gas G there is no need to supply assist gas G at high pressure, which can suppress distortion of the laser light B.
- deterioration in the processing quality of the workpiece 7 can be suppressed.
- using nitrogen gas as assist gas G can suppress oxidation of the processing surface and the formation of a thermally altered layer.
- using a container 80 can reduce the amount of assist gas G used and suppress exposure to assist gas G.
- the laser light irradiation step may include a step of performing rough processing on the workpiece 7 using a laser, and a step of performing finish processing on the workpiece 7 using a laser.
- the wavelength of the laser used in the rough processing step is longer than the wavelength of the laser used in the finish processing step.
- the surface layer of the workpiece 7 is transformed into graphite, which has low thermal conductivity. This suppresses heat conduction in the finish processing step. As a result, the thickness of the thermally altered layer after the finish processing step is reduced.
Landscapes
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Abstract
レーザ加工装置は、レーザ照射部と、把持部と、制御部と、を備えている。レーザ照射部は、加工対象物に第1の方向にレーザ光を照射する。把持部は、加工対象物の姿勢を保持した状態で加工対象物を着脱可能に把持するとともに、加工対象物を第1の方向に沿った方向に移動させることが可能である。制御部は、レーザ照射部および把持部の動作を制御する。レーザ照射部は、レーザ発生器と、Fθレンズと、ガルバノミラーと、を有している。Fθレンズは、レーザ光を第1の方向に照射可能な姿勢で固定されている。制御部は、レーザ光照射工程と、加工対象物へのレーザ光の照射を停止した状態で、加工対象物を把持した把持部を第1の方向に沿った方向に移動させる移動工程と、を交互に行う。
Description
本開示は、レーザ加工装置およびレーザ加工方法に関する。
特開2011-98390号公報(特許文献1)には、レーザと、リダイレクト装置と、位置決め装置とを有するレーザ加工装置が開示されている。
本開示に係るレーザ加工装置は、焼結ダイヤモンドまたは立方晶窒化硼素を含む加工対象物にレーザ光を照射することにより加工対象物を加工するレーザ加工装置であって、レーザ照射部と、把持部と、制御部と、を備えている。レーザ照射部は、加工対象物に第1の方向にレーザ光を照射する。把持部は、加工対象物の姿勢を保持した状態で加工対象物を着脱可能に把持するとともに、加工対象物を第1の方向に沿った方向に移動させることが可能である。制御部は、レーザ照射部および把持部の動作を制御する。レーザ照射部は、レーザ発生器と、Fθレンズと、ガルバノミラーと、を有している。レーザ発生器は、レーザ光を発生している状態と、レーザ光の発生を停止した状態と、を切り替え可能である。Fθレンズは、レーザ光を第1の方向に照射可能な姿勢で固定されている。ガルバノミラーは、レーザ発生器が発生させたレーザ光を反射させてFθレンズに入射する位置を変えることにより、Fθレンズを通過して第1の方向に照射されるレーザ光の光軸を第1の方向に対して垂直な方向である第2の方向ならびに第1の方向および第2の方向の両方に対して垂直な方向である第3の方向に移動させることが可能である。制御部は、レーザ光照射工程と、加工対象物へのレーザ光の照射を停止した状態で、加工対象物を把持した把持部を第1の方向に沿った方向に移動させる移動工程と、を交互に行う。レーザ光照射工程は、加工対象物が静止した状態で加工対象物に第1の方向にレーザ光を照射する工程、または、加工対象物が静止した状態で加工対象物に第1の方向にレーザ光を照射しつつレーザ光の光軸を第2の方向および第3の方向のうち少なくとも一つの方向に移動させる工程を有する。
[本開示が解決しようとする課題]
焼結体ダイヤモンドを刃先材種とする工具製造では、ダイヤモンド砥石を用いた研削加工および放電加工による工具加工が一般的である。近年、被削材の高強度化への対応のため材種開発進展が著しく、バインダレス焼結体のような通電性が低く、高硬度な素材の開発が進んでいる。当該素材の工具加工においては、放電加工が適用できない。また研削加工においては、素材が高硬度なため研削が困難となる。そのため、研削負荷により加工熱が発生し、熱的損傷およびマイクロクラックを引き起こすため工具品質が低下するおそれがある。
焼結体ダイヤモンドを刃先材種とする工具製造では、ダイヤモンド砥石を用いた研削加工および放電加工による工具加工が一般的である。近年、被削材の高強度化への対応のため材種開発進展が著しく、バインダレス焼結体のような通電性が低く、高硬度な素材の開発が進んでいる。当該素材の工具加工においては、放電加工が適用できない。また研削加工においては、素材が高硬度なため研削が困難となる。そのため、研削負荷により加工熱が発生し、熱的損傷およびマイクロクラックを引き起こすため工具品質が低下するおそれがある。
当該難削材種に対し、レーザ加工を適用することで無負荷での加工を実現し、加工応力による加工損傷を無くした工法開発が進んでいる。近年、レーザ加工技術は加速度的に進歩しており、工作機械メーカ製のレーザ加工設備にはピコ秒、フェムト秒といったピークパワーが高く、アブレーション加工を目指した発振器が搭載されている。また当該レーザ加工設備においては、三次元形状創成のため、5軸以上の複数軸を同期制御する技術が適用され、高度な加工が可能となってきている。しかし高度な技術が用いられているがため、当該レーザ加工設備の単価は非常に高額となる。
工具加工においても当該レーザ加工設備を用いることで研削に近い加工品質が得られるものの、設備投資が高額となるため製造コストへの影響が大きく、生産適用の足枷となっている。また従来の工具研削盤では、加工中にクーラント液を加工点に供給しながら加工を実施することで、その駆動熱および外乱による設備変形を軽減している。しかしレーザ加工は、クーラントを用いないドライ加工となるため、設備駆動軸はこれらの影響を直接的に受ける。そのため、設備駆動軸の高速駆動が難しく、市販のレーザ加工設備では高速加工ができなかった。
本開示の目的は、制御が簡便でかつ高速加工が可能なレーザ加工装置およびレーザ加工方法を提供することである。
[本開示の効果]
本開示によれば、制御が簡便でかつ高速加工が可能なレーザ加工装置およびレーザ加工方法を提供することができる。
[本開示の実施形態の説明]
最初に本開示の実施態様(本実施形態とも称する)を列記して説明する。
[本開示の効果]
本開示によれば、制御が簡便でかつ高速加工が可能なレーザ加工装置およびレーザ加工方法を提供することができる。
[本開示の実施形態の説明]
最初に本開示の実施態様(本実施形態とも称する)を列記して説明する。
(1)本開示に係るレーザ加工装置100は、焼結ダイヤモンドまたは立方晶窒化硼素を含む加工対象物7にレーザ光Bを照射することにより加工対象物7を加工するレーザ加工装置100であって、レーザ照射部50と、把持部70と、制御部60と、を備えている。レーザ照射部50は、加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射する。把持部70は、加工対象物7の姿勢を保持した状態で加工対象物7を着脱可能に把持するとともに、加工対象物7を第1の方向A1に沿った方向に移動させることが可能である。制御部60は、レーザ照射部50および把持部70の動作を制御する。レーザ照射部50は、レーザ発生器13と、Fθレンズ30と、ガルバノミラー10と、を有している。レーザ発生器13は、レーザ光Bを発生している状態と、レーザ光Bの発生を停止した状態と、を切り替え可能である。Fθレンズ30は、レーザ光Bを第1の方向A1に照射可能な姿勢で固定されている。ガルバノミラー10は、レーザ発生器13が発生させたレーザ光Bを反射させてFθレンズ30に入射する位置を変えることにより、Fθレンズ30を通過して第1の方向A1に照射されるレーザ光Bの光軸を第1の方向A1に対して垂直な方向である第2の方向A2ならびに第1の方向A1および第2の方向A2の両方に対して垂直な方向である第3の方向A3に移動させることが可能である。制御部60は、レーザ光照射工程と、加工対象物7へのレーザ光Bの照射を停止した状態で、加工対象物7を把持した把持部70を第1の方向A1に沿った方向に移動させる移動工程と、を交互に行う。レーザ光照射工程は、加工対象物7が静止した状態で加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射する工程、または、加工対象物7が静止した状態で加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射しつつレーザ光Bの光軸を第2の方向A2および第3の方向A3のうち少なくとも一つの方向に移動させる工程を有する。
本開示に係るレーザ加工装置100によれば、レーザ照射部50は、レーザ発生器13と、Fθレンズ30と、ガルバノミラー10と、を有している。レーザ光Bは、ガルバノミラー10によって走査される。そのため、本開示に係るレーザ加工装置100は、レーザ光を固定しつつ加工対象物を移動させるレーザ加工装置と比較して、高速加工が可能である。
また本開示に係るレーザ加工装置100によれば、制御部60は、レーザ照射部50および把持部70の動作を制御する。制御部60は、レーザ光照射工程と、加工対象物7へのレーザ光Bの照射を停止した状態で、加工対象物7を把持した把持部70を第1の方向A1に沿った方向に移動させる移動工程と、を交互に行う。そのため、本開示に係るレーザ加工装置100は、5軸以上の複数軸を同期制御するレーザ加工装置と比較して、制御が簡便となる。
(2)上記(1)に係るレーザ加工装置100によれば、レーザ光Bを第1の方向A1に照射可能なFθレンズ30の領域の最大幅Wは、30mm以上であってもよい。これにより、広範囲において均一な加工が可能である。
(3)上記(1)または(2)に係るレーザ加工装置100によれば、レーザ光Bの波長は、532nm以上であってもよい。一般的に利用可能なレーザを用いることにより装置の高額化を抑制し、加工コストを低減することができる。
(4)上記(1)から(3)のいずれかに係るレーザ加工装置100によれば、把持部70は、把持部70が加工対象物7の着脱を行う位置である着脱位置と、加工対象物7にレーザ光Bを照射して加工を行う位置である加工位置と、の間において加工対象物7を移動させる移動機構45を有していてもよい。これにより、トータルの加工時間を低減することができる。
(5)上記(1)から(4)に係るレーザ加工装置100によれば、把持部70は、加工対象物7を把持した状態で加工対象物7を第1の方向A1に平行な軸である加工回転軸周りに回転可能であってもよい。制御部60は、レーザ光照射工程において、加工対象物7が静止した状態で加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射する工程、加工対象物7が静止した状態で加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射しつつレーザ光Bの光軸を第2の方向A2および第3の方向A3のうち少なくとも一つの方向に移動させる工程、または加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射しつつ加工対象物7を加工回転軸周りに回転させる工程のいずれかの工程が実施されるように、レーザ照射部50および把持部70の動作を制御してもよい。これにより、加工対象物7に対して円筒R加工を実施することができる。
(6)上記(1)から(4)に係るレーザ加工装置100によれば、把持部70は、加工対象物7を把持した状態で加工対象物7を第1の方向A1に対して傾斜した軸である加工回転軸周りに回転可能であってもよい。制御部60は、レーザ光照射工程において、加工対象物7が静止した状態で加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射する工程、加工対象物7が静止した状態で加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射しつつレーザ光Bの光軸を第2の方向A2および第3の方向A3のうち少なくとも一つの方向に移動させる工程、または加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射しつつ加工対象物7を加工回転軸周りに回転させる工程のいずれかの工程が実施されるように、レーザ照射部50および把持部70の動作を制御してもよい。これにより、加工対象物7に対して円錐R加工を実施することができる。
(7)上記(5)または(6)に係るレーザ加工装置100によれば、把持部70は、第1の方向A1から見たFθレンズ30から加工回転軸までの距離を変更可能であってもよい。
(8)上記(5)から(7)のいずれかに係るレーザ加工装置100によれば、把持部70は、加工対象物7を把持した状態で第1の方向A1に対して垂直な軸である傾斜軸周りに回転させることにより、加工対象物7を第1の方向A1に垂直な仮想平面に対して傾斜させることが可能であってもよい。
(9)本開示に係るレーザ加工方法は、焼結ダイヤモンドまたは立方晶窒化硼素を含む加工対象物7にレーザ光Bを照射することにより加工対象物7を加工するレーザ加工方法であって、レーザ光照射工程と、加工対象物7へのレーザ光Bの照射を停止した状態で、加工対象物7を把持した把持部70を第1の方向A1に沿った方向に移動させる移動工程と、を備えている。レーザ光照射工程は、加工対象物7が静止した状態で加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射する工程、または、加工対象物7が静止した状態で加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射しつつレーザ光Bの光軸を第1の方向A1に対して垂直な方向である第2の方向A2ならびに第1の方向A1および第2の方向A2の両方に対して垂直な方向である第3の方向A3のうち少なくとも一つの方向に移動させる工程を有し、レーザ光照射工程と、加工対象物7へのレーザ光Bの照射を停止した状態で、加工対象物7を把持した把持部70を第1の方向A1に沿った方向に移動させる移動工程と、は交互に実施される。これにより、制御が簡便でかつ高速加工が可能である。
(10)上記(9)に係るレーザ加工方法によれば、レーザ光照射工程において、レーザ発生器13が発生し、ガルバノミラー10が反射し、Fθレンズ30を通過したレーザ光Bを加工対象物7に照射してもよい。加工対象物7へのレーザ光Bの照射を停止した状態で、加工対象物7を把持した把持部70を第1の方向A1に沿った方向に移動させる移動工程において、加工対象物7の第1の方向A1に沿った方向の移動は加工対象物7を把持する把持部70が第1の方向A1に沿った方向に移動することにより行われ、第1の方向A1に照射されるレーザ光Bの光軸の第2の方向A2および第3の方向A3への移動はガルバノミラー10がレーザ光Bを反射させてFθレンズ30に入射する位置を変えることにより行われてもよい。これにより、ガルバノミラー10により高速でレーザ光Bを走査することができるため、さらに高速加工が可能である。
(11)上記(10)に係るレーザ加工方法によれば、加工対象物7は、切れ刃6を有してもよい。レーザ光照射工程において、レーザ光Bの照射方向に見て、レーザ光Bを第1の方向A1に照射可能なFθレンズ30の領域は、切れ刃6を取り囲んでいてもよい。これにより、加工対象物7をFθレンズ30の光軸に垂直な方向に移動させることなく、切れ刃6の全体を加工することができる。
(12)上記(11)に係るレーザ加工方法によれば、レーザ光照射工程において、レーザ光Bの照射方向に見て、レーザ光Bを第1の方向A1に照射可能なFθレンズ30の領域は、加工対象物7を取り囲んでいてもよい。これにより、加工対象物7をFθレンズ30の光軸に垂直な方向に移動させることなく、加工対象物7の全体を加工することができる。
(13)上記(9)から(12)のいずれかに係るレーザ加工方法によれば、レーザ光Bの波長は、532nm以上であってもよい。一般的に利用可能なレーザを用いることにより装置の高額化を抑制し、加工コストを低減することができる。
(14)上記(10)から(12)のいずれかに係るレーザ加工方法によれば、レーザ光照射工程において、Fθレンズ30および加工対象物7の各々を容器80で取り囲んだ状態で、容器80にアシストガスGが供給されてもよい。
(15)上記(9)から(14)のいずれかに係るレーザ加工方法によれば、レーザ光照射工程は、レーザを用いて加工対象物7に対して粗加工を行う工程と、粗加工を行う工程後、レーザを用いて加工対象物7に対して仕上げ加工を行う工程と、を含んでいてもよい。粗加工を行う工程で使用するレーザの波長は、仕上げ加工を行う工程で使用するレーザの波長よりも長い。
(16)上記(15)に係るレーザ加工方法によれば、粗加工を行う工程で使用するレーザの波長は、1030nm以上であってもよい。
以下、図面に基づいて、本開示の実施形態の詳細について説明する。なお、以下の図面において同一または相当する部分には同一の参照番号を付し、その説明は繰返さない。
<レーザ加工装置>
図1は、本実施形態に係るレーザ加工装置100の構成を示す斜視模式図である。図2は、本実施形態に係るレーザ加工装置100の構成を示す機能ブロック図である。図1および図2に示されるように、本実施形態に係るレーザ加工装置100は、加工対象物7にレーザ光Bを照射することにより加工対象物7を加工するレーザ加工装置100であって、レーザ照射部50と、把持部70と、制御部60と、を主に有している。加工対象物7は、焼結ダイヤモンドまたは立方晶窒化硼素を含んでいる。
図1は、本実施形態に係るレーザ加工装置100の構成を示す斜視模式図である。図2は、本実施形態に係るレーザ加工装置100の構成を示す機能ブロック図である。図1および図2に示されるように、本実施形態に係るレーザ加工装置100は、加工対象物7にレーザ光Bを照射することにより加工対象物7を加工するレーザ加工装置100であって、レーザ照射部50と、把持部70と、制御部60と、を主に有している。加工対象物7は、焼結ダイヤモンドまたは立方晶窒化硼素を含んでいる。
レーザ照射部50は、加工対象物7にレーザ光Bを照射する部分である。レーザ照射部50は、レーザ発生器13と、Fθレンズ30と、ガルバノミラー10と、ガルバノスキャナ20と、を主に有している。レーザ発生器13は、レーザ光Bを発生している状態と、レーザ光Bの発生を停止した状態と、を切り替え可能である。レーザ光Bを発生している状態と、レーザ光Bの発生を停止した状態との切り替えは、制御部60により行われる。
レーザ発生器13は、例えばYAG(イットリウム・アルミニウム・ガーネット)レーザまたはYVO4(イットリウム・バナデート)レーザを発生する。レーザ発生器13から発生されるレーザ光Bの波長は、例えば1064nmである。加工対象物7に照射されるレーザ光Bの波長は、高調波変換器(図示せず)を用いて高調波(例えば2倍高調波)に変換されてもよい。加工対象物7に照射されるレーザ光Bの波長は、例えば532nm以上である。
ガルバノミラー10は、第1ガルバノミラー部11と、第2ガルバノミラー部12と、を有している。第1ガルバノミラー部11は、レーザ照射部50から照射されたレーザ光Bを反射する。第2ガルバノミラー部12は、第1ガルバノミラー部11によって反射されたレーザ光Bを反射する。第2ガルバノミラー部12は、第1ガルバノミラー部11に対向した位置に配置される。
ガルバノスキャナ20は、第1ガルバノスキャナ部21と、第2ガルバノスキャナ部22と、を有している。第1ガルバノスキャナ部21は、第1ガルバノミラー部11を駆動する。第1ガルバノミラー部11の向きは、第1ガルバノスキャナ部21の駆動軸の回転に伴って変化する。第2ガルバノスキャナ部22は、第2ガルバノミラー部12を駆動する。第2ガルバノミラー部12の向きは、第2ガルバノスキャナ部22の駆動軸の回転に伴って変化する。
Fθレンズ30は、第2ガルバノミラー部12の下方に配置されている。第2ガルバノミラー部12により反射されたレーザ光Bは、Fθレンズ30に入射する。Fθレンズ30は、ガルバノミラー10によって反射されたレーザ光Bを集光する。Fθレンズ30は、レーザ光Bを第1の方向A1に照射可能な姿勢で固定されている。Fθレンズ30を通過したレーザ光Bは、加工対象物7に対して第1の方向A1に照射される。
ガルバノミラー10は、レーザ発生器13が発生させたレーザ光Bを反射させてFθレンズ30に入射する位置を変えることにより、Fθレンズ30を通過して第1の方向A1に照射されるレーザ光Bの光軸を、第2の方向A2ならびに第3の方向A3に移動されることが可能である。第2の方向A2は、第1の方向A1に対して垂直な方向である。第3の方向A3は、第1の方向A1および第2の方向A2の両方に対して垂直な方向である。
把持部70は、加工対象物7を把持する。具体的には、把持部70は、加工対象物7の姿勢を保持した状態で加工対象物7を着脱可能に把持する。把持部70は、加工対象物7を第1の方向A1に沿った方向に移動させることが可能である。
制御部60は、レーザ照射部50および把持部70の動作を制御する。具体的には、制御部60は、レーザ光照射工程と、把持部70の移動工程とが、交互に行われるように、レーザ照射部50および把持部70の動作を制御する。把持部70の移動工程において、加工対象物7へのレーザ光Bの照射を停止した状態で、加工対象物7を把持した把持部70を第1の方向A1に沿った方向に移動させる。
レーザ光照射工程は、加工対象物7が静止した状態で加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射する工程、または、加工対象物7が静止した状態で加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射しつつレーザ光Bの光軸を第2の方向A2および第3の方向A3のうち少なくとも一つの方向に移動させる工程を有する。レーザ光照射工程の詳細については後述する。
図2に示されるように、把持部70は、把持部材40と、移動機構45を有していてもよい。把持部材40は、加工対象物7を把持する。移動機構45は、把持部70が加工対象物7の着脱を行う位置である着脱位置と、加工対象物7にレーザ光Bを照射して加工を行う位置である加工位置と、の間において、把持部材40により把持されている加工対象物7を移動させる(図5参照)。
図3は、Fθレンズ30の構成を示す平面模式図である。Fθレンズ30は、レンズ31と、ホルダ32とを有している。ホルダ32は、レンズ31を保持している。ホルダ32は、レンズ31を取り囲んでいる。レーザ光Bを第1の方向A1に照射可能なFθレンズ30の領域の最大幅Wは、例えば30mm以上である。図3に示されるように、Fθレンズ30の中心軸に沿って見て、レーザ光Bを第1の方向A1に照射可能なFθレンズ30の領域の最大幅Wは、レンズ31の幅よりも小さい。
レーザ光Bを第1の方向A1に照射可能なFθレンズ30の領域の最大幅Wが大きいと、加工対象物7に対してレーザ加工可能な領域が大きくなる。レーザ光Bを第1の方向A1に照射可能なFθレンズ30の領域の最大幅Wは、例えば40mm以上であってもよいし、50mm以上であってもよいし、60mm以上であってもよい。レーザ光Bを第1の方向A1に照射可能なFθレンズ30の領域の最大幅Wの上限は、特に限定されないが、例えば150mm以下であってもよいし、130mm以下であってもよい。
<レーザ加工方法>
(第1実施形態)
次に、第1実施形態に係るレーザ加工方法について説明する。図4は、第1実施形態に係るレーザ加工方法を概略的に示すフロー図である。第1実施形態に係るレーザ加工方法は、加工対象物7にレーザ光Bを照射することにより加工対象物7を加工するレーザ加工方法である。図4に示されるように、第1実施形態に係るレーザ加工方法は、加工対象物7を把持部材40に取り付ける工程(S10)と、レーザ光照射工程(S20)と、移動工程(S30)とを有している。
(第1実施形態)
次に、第1実施形態に係るレーザ加工方法について説明する。図4は、第1実施形態に係るレーザ加工方法を概略的に示すフロー図である。第1実施形態に係るレーザ加工方法は、加工対象物7にレーザ光Bを照射することにより加工対象物7を加工するレーザ加工方法である。図4に示されるように、第1実施形態に係るレーザ加工方法は、加工対象物7を把持部材40に取り付ける工程(S10)と、レーザ光照射工程(S20)と、移動工程(S30)とを有している。
図5は、加工対象物7を把持部材40に取り付ける状態を示す平面模式図である。まず、加工対象物7を把持部材40に取り付ける工程(S10)が実施される。具体的には、加工対象物7の着脱を行う位置である着脱位置において、把持部材40が配置される。把持部材40は、例えば、第1把持部分41と、第2把持部分42とを有している。第2把持部分42は、第1把持部分41に連なっている。第1把持部分41は、例えば略円柱状である。第2把持部分42には、例えば平面視でV字状の溝43が形成されている。加工対象物7である切削インサートは、V字状の溝43に配置される。
加工対象物7である切削インサートは、刃部材4と、台座5とを有している。刃部材4は、台座5に取り付けられている。刃部材4は、切削に関与する部分である。台座5の平面視形状は、特に限定されないが、例えば菱形である。台座5のコーナ部に、刃部材4が接合されている。台座5は、例えば、超硬合金またはサーメット等から構成されている。本実施形態に係る切削インサートは、台座5のコーナ部に刃部材4が接合されて形成されているが、切削インサート全体を刃部材4で形成してもよい。
加工対象物7としての刃部材4は、焼結ダイヤモンドまたはcBN(立方晶窒化硼素)を含む。刃部材4は、焼結ダイヤモンドを例えば50体積%以上含んでいてもよい。刃部材4は、cBNを例えば50体積%含んでいてもよい。
次に、加工対象物7にレーザ光Bを照射して加工を行う位置である加工位置に、加工対象物7が移動する。加工対象物7を把持している把持部材40は、移動機構45によって加工位置に移動させられる。具体的には、加工対象物7は、移動機構45によって、レーザ照射部50のFθレンズ30の下方に配置される。
次に、レーザ光照射工程(S20)が実施される。図6は、円筒R加工におけるレーザ光照射工程を示す側面模式図である。図6に示されるように、レーザ光照射工程においては、加工対象物7が静止した状態で加工対象物7にレーザ光Bが照射される。レーザ光Bの照射方向は、第1の方向A1である。制御部60は、加工対象物7が静止した状態で加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射するように、レーザ照射部50および把持部70の動作を制御する。
具体的には、レーザ光Bは、レーザ発生器13が発生し、ガルバノミラー10が反射する。具体的には、第2ガルバノミラー部12により反射されたレーザ光Bは、Fθレンズ30に入射する(図1参照)。Fθレンズ30は、ガルバノミラー10によって反射されたレーザ光Bを集光する。レーザ光Bは、Fθレンズ30を通過し、加工対象物7に照射される。レーザ光Bの波長は、例えば532nm以上である。レーザ光Bの出力は、例えば2W以上である。
図7は、円筒R加工におけるレーザ光照射工程を示す斜視模式図である。レーザ光照射工程においては、加工対象物7が静止した状態で加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射しつつレーザ光Bの光軸を第2の方向A2および第3の方向A3の少なくとも一つの方向に移動させてもよい。第2の方向A2は、第1の方向A1に対して垂直な方向である。第3の方向A3は、第1の方向A1および第2の方向A2の両方に対して垂直な方向である。レーザ光Bの走査速度は、例えば300mm/秒以上1000mm/秒以下である。レーザ光Bの走査速度を高くすることにより、レーザ光Bが同じ位置に留まる時間を低減することができる。そのため、加工面の品質を向上することができる。
制御部60は、加工対象物7が静止した状態で加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射しつつレーザ光Bの光軸を第2の方向A2および第3の方向A3のうち少なくとも一つの方向に移動させるように、レーザ照射部50および把持部70の動作を制御する。レーザ光Bの光軸の第2の方向A2および第3の方向A3への移動は、例えばガルバノミラー10がレーザ光Bを反射させてFθレンズ30に入射する位置を変えることにより行われる。
図8は、円筒R加工におけるレーザ光照射工程を示す上面模式図である。図8に示されるように、加工対象物7は、第1円弧部1と、第2円弧部2とを有している。第1円弧部1は、刃部材4により構成されている。第1円弧部1は、第1仮想円C1に沿って形成されている。第2円弧部2は、台座5により構成されている。第2円弧部2は、第2仮想円C2に沿って形成されている。第1仮想円C1の半径(第1半径R1)は、第2仮想円C2の半径(第2半径R2)と実質的に同じである。
次に、移動工程(S30)が実施される。移動工程(S30)においては、加工対象物7へのレーザ光Bの照射を停止した状態で、加工対象物7を把持した把持部70を第1の方向A1に沿った方向に移動させる。第1の方向A1に沿った方向とは、第1の方向A1と同じ方向であってもよいし、第1の方向A1の反対方向(第4の方向A4)であってもよい。加工対象物7の第1の方向A1に沿った方向の移動は、加工対象物7を把持する把持部70が第1の方向A1に沿った方向に移動することにより行われる。具体的には、レーザ光Bの焦点位置が加工対象物7の加工位置となるように、加工対象物7を把持した把持部70は、Fθレンズ30に近づく方向(第4の方向A4)に移動する。これにより、加工対象物7の加工位置が第1の方向A1に沿った第4の方向A4に移動する。
レーザ光照射工程(S20)と、移動工程(S30)と、は交互に実施される。具体的には、加工対象物7の一部に対してレーザ加工が実施された後、レーザ光Bの照射が停止する。加工対象物7へのレーザ光Bの照射を停止した状態で、加工対象物7は、第1の方向A1に沿った方向に移動する。次に、レーザ加工の照射が再開され、加工対象物7の一部に対してレーザ加工が実施される。以上のように、加工対象物7が上端から下端に向かって断続的に加工される。
図6に示されるように、把持部70は、加工対象物7を把持した状態で加工対象物7を加工回転軸(第1回転軸D1)周りに回転可能であってもよい。第1回転軸D1は、第1の方向A1に平行な軸である。第1の方向A1に対して垂直な方向において、レーザ光Bと第1回転軸D1との距離は、第1半径R1に対応する。制御部60は、レーザ光照射工程(S20)において、加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射しつつ加工対象物7が加工回転軸周りに回転するように、レーザ照射部50および把持部70の動作を制御する。これにより、第1仮想円C1に沿った第1円弧部1と第2仮想円C2に沿った第2円弧部2とが形成される(図7参照)。第1円弧部1は、コーナR切れ刃を構成する。
なお、把持部70が加工対象物7を加工回転軸周りに回転させる動作は、第1円弧部1の加工を行うときだけでなく、直線状の切れ刃6の加工から隣接する別の切れ刃6の加工に移行するときに実施されてもよい。把持部70が加工対象物7を加工回転軸周りに回転させる動作は、レーザ光照射工程(S20)と移動工程(S30)との間における移行時期、あるいは、レーザ光照射工程(S20)および移動工程(S30)を交互に行う加工工程の前段階である準備工程において実施されてもよい。
把持部70は、第1の方向A1から見たFθレンズ30から加工回転軸までの距離を変更可能であってもよい。移動機構45は、把持部70を、第1の方向A1に対して垂直な方向に沿って移動可能であってもよい。
把持部70は、加工対象物7を把持した状態で第1の方向A1に対して垂直な軸である傾斜軸周りに回転させることにより、加工対象物7を第1の方向A1に垂直な仮想平面に対して傾斜させることが可能であってもよい。移動機構45は、把持部70を、第1の方向A1に対して垂直な軸である傾斜軸周りに回転可能であってもよい。
図9は、Fθレンズ30と加工対象物7との位置関係を示す平面模式図である。図9に示されるように、レーザ光照射工程(S20)において、レーザ光Bの照射方向に見て、レーザ光Bを第1の方向A1に照射可能なFθレンズ30の領域は、加工対象物7の切れ刃6を取り囲んでいてもよい。レーザ光Bを第1の方向A1に照射可能なFθレンズ30の領域の最大幅Wは、例えば30mm以上である。レーザ光Bの照射方向に見て、レーザ光Bを第1の方向A1に照射可能なFθレンズ30の領域は、加工対象物7を取り囲んでいてもよい。なお、レーザ光Bの照射方向に見て、レーザ光Bを第1の方向A1に照射可能なFθレンズ30の領域は、加工対象物7の切れ刃6の全体を取り囲んでいるが、加工対象物7の全体を取り囲んでいなくてもよい。
なお上記においては、把持部70は、移動機構45を有している場合について説明したが、本開示は上記に限定されない。把持部70は、移動機構45を有していなくてもよい。加工対象物7は、加工対象物7にレーザ光Bを照射して加工を行う位置である加工位置に、移動機構45を用いることなく手動で配置されてもよい。具体的には、作業員が、着脱位置において加工対象物7を把持部材40に取り付け、その後、加工対象物7をFθレンズ30の下方に手動で配置してもよい。加工対象物7の姿勢は、作業員によって手動で調整されてもよい。
(第2実施形態)
次に、第2実施形態に係るレーザ加工方法について説明する。第2実施形態に係るレーザ加工方法は、主に、加工回転軸が第1の方向A1に対して傾斜している点において、第1実施形態に係るレーザ加工方法と異なっており、その他の点については、第1実施形態に係るレーザ加工方法と実質的に同じである。以下、第1実施形態に係るレーザ加工方法と異なる点を中心に説明する。
(第2実施形態)
次に、第2実施形態に係るレーザ加工方法について説明する。第2実施形態に係るレーザ加工方法は、主に、加工回転軸が第1の方向A1に対して傾斜している点において、第1実施形態に係るレーザ加工方法と異なっており、その他の点については、第1実施形態に係るレーザ加工方法と実質的に同じである。以下、第1実施形態に係るレーザ加工方法と異なる点を中心に説明する。
図10は、円錐R加工におけるレーザ光照射工程を示す側面模式図である。図10に示されるように、把持部70は、加工対象物7を把持した状態で加工対象物7を加工回転軸(第2回転軸D2)周りに回転可能である。第2回転軸D2は、第1の方向A1に対して傾斜している。制御部60は、レーザ光照射工程(S20)において、加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射しつつ加工対象物7が第2回転軸D2周りに回転するように、レーザ照射部50および把持部70の動作を制御する。
図11は、円錐R加工におけるレーザ光照射工程を示す斜視模式図である。レーザ光照射工程においては、加工対象物7が静止した状態で加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射しつつレーザ光Bの光軸を第2の方向A2および第3の方向A3の少なくとも一つの方向に移動させる。制御部60は、加工対象物7が静止した状態で加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射しつつレーザ光Bの光軸を第2の方向A2および第3の方向A3のうち少なくとも一つの方向に移動させるように、レーザ照射部50および把持部70の動作を制御する。
図12は、円錐R加工におけるレーザ光照射工程を示す上面模式図である。図12に示されるように、加工対象物7は、第1円弧部1と、第2円弧部2とを有している。第1円弧部1は、刃部材4により構成されている。第1円弧部1は、第1仮想円C1に沿って形成されている。第2円弧部2は、台座5により構成されている。第2円弧部2は、第2仮想円C2に沿って形成されている。第1仮想円C1の半径(第1半径R1)は、第2仮想円C2の半径(第2半径R2)よりも大きい。
図10から図12に示されるように、制御部60は、レーザ光照射工程(S20)において、加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射しつつ加工対象物7を第2回転軸D2周りに回転させるように、レーザ照射部50および把持部70の動作を制御する。これにより、第1仮想円C1に沿った第1円弧部1と第2仮想円C2に沿った第2円弧部2とが形成される(図11参照)。
図10に示されるように、Fθレンズ30から遠ざかるにつれて、第1の方向A1に対して垂直な方向におけるレーザ光Bからの距離が大きくなるように、第2回転軸D2は、第1の方向A1に対して傾斜している。加工対象物7の最上端の加工位置において、第1の方向A1に対して垂直な方向におけるレーザ光Bと第2回転軸D2までの距離は、第2半径R2に対応する。加工対象物7の最下端の加工位置において、第1の方向A1に対して垂直な方向におけるレーザ光Bと第2回転軸D2までの距離は、第1半径R1に対応する。
(第3実施形態)
次に、第3実施形態に係るレーザ加工方法について説明する。第3実施形態に係るレーザ加工方法は、主に、アシストガスが供給されている点において、第1実施形態および第2実施形態の各々に係るレーザ加工方法と異なっており、その他の点については、第1実施形態および第2実施形態の各々に係るレーザ加工方法と実質的に同じである。以下、第1実施形態および第2実施形態の各々に係るレーザ加工方法と異なる点を中心に説明する。
(第3実施形態)
次に、第3実施形態に係るレーザ加工方法について説明する。第3実施形態に係るレーザ加工方法は、主に、アシストガスが供給されている点において、第1実施形態および第2実施形態の各々に係るレーザ加工方法と異なっており、その他の点については、第1実施形態および第2実施形態の各々に係るレーザ加工方法と実質的に同じである。以下、第1実施形態および第2実施形態の各々に係るレーザ加工方法と異なる点を中心に説明する。
図13は、アシストガスの供給方法を示す一部断面模式図である。図13に示されるように、レーザ加工装置100は、Fθレンズ30と、把持部70と、容器80とを有している。加工対象物7は、把持部70により把持されている。把持部70は、上方向および下方向に沿って移動可能である。上方向および下方向は、第1の方向A1に沿った方向に平行である。
容器80は、例えば、第1接続部材81と、第2接続部材82と、本体部材83とを有している。本体部材83は、例えば円筒状である。本体部材83は、Fθレンズ30および加工対象物7の各々を取り囲んでいる。本体部材83は、第1接続部材81によって把持部70に取り付けられている。本体部材83は、第2接続部材82によってFθレンズ30に取り付けられている。容器80とFθレンズ30と把持部70とによって密封空間が形成されていてもよい。
容器80には、アシストガス供給孔91が設けられている。アシストガスGは、アシストガス供給孔91を通って容器80の内部に供給される。アシストガスGは、例えば窒素ガスである。アシストガスGは、例えば加工面の酸化を抑制する。容器80には、アシストガス排出孔92が設けられていてもよい。アシストガスGは、アシストガス排出孔92を通って容器80の外部に排出される。容器80とFθレンズ30との間には隙間84が設けられていてもよい。アシストガスGは、隙間84を通って容器80の外部に排出されてもよい。容器80には、アシストガス排出孔92および隙間84のいずれかのみが設けられていてもよいし、アシストガス排出孔92および隙間84の両方が設けられていてもよい。
図13に示されるように、レーザ光照射工程において、Fθレンズ30および加工対象物7の各々を容器80で取り囲んだ状態で、容器80にアシストガスGが供給される。容器80の内部は、アシストガスGによって満たされる。アシストガスGは、レーザ光Bの照射方向と実質的に垂直な方向に供給されてもよい。
容器80と加工対象物7とは、一体的に移動してもよい。例えば、把持部70が上方向および下方向に移動することにより、容器80と加工対象物7とが一体的に移動してもよい。この場合、容器80は、Fθレンズ30から離間していてもよい。別の態様として、加工対象物7はFθレンズ30に対して相対位置が変わらない状態を維持しながら、容器80の内部において、加工対象物7が上方向および下方向に沿って移動してもよい。
(第4実施形態)
次に、第4実施形態に係るレーザ加工方法について説明する。第4実施形態に係るレーザ加工方法は、主に、粗加工と仕上げ加工とに分けてレーザ加工を行う点において、第1実施形態から第3実施形態の各々に係るレーザ加工方法と異なっており、その他の点については、第1実施形態から第3実施形態の各々に係るレーザ加工方法と実質的に同じである。以下、第1実施形態から第3実施形態の各々に係るレーザ加工方法と異なる点を中心に説明する。
(第4実施形態)
次に、第4実施形態に係るレーザ加工方法について説明する。第4実施形態に係るレーザ加工方法は、主に、粗加工と仕上げ加工とに分けてレーザ加工を行う点において、第1実施形態から第3実施形態の各々に係るレーザ加工方法と異なっており、その他の点については、第1実施形態から第3実施形態の各々に係るレーザ加工方法と実質的に同じである。以下、第1実施形態から第3実施形態の各々に係るレーザ加工方法と異なる点を中心に説明する。
第4実施形態に係るレーザ加工方法によれば、レーザ光照射工程は、粗加工工程と、仕上げ加工工程とを有している。図14は、粗加工工程を示す側面模式図である。図14に示されるように、刃部材4は、例えば、多結晶ダイヤモンド(PCD)である。刃部材4は、第1領域71と、第2領域72と、第3領域73とを有している。第1領域71は、第2領域72に連なっている。第2領域72は、第3領域73に連なっている。第2領域72は、第1領域71と第3領域73との間に位置している。
粗加工工程においては、レーザを用いて加工対象物に対して粗加工が行われる。粗加工には、例えばファイバーレーザが使用可能である。具体的には、レーザ光Bが刃部材4の第1領域71に照射される。レーザ光Bは、ファイバーレーザである。ファイバーレーザを用いて、刃部材4の第1領域71が除去される。粗加工工程において、第2領域72に熱変質層が形成される。熱変質層は、熱伝導率の低いグラファイトである。なお、粗加工を行う工程で使用するレーザの波長は、仕上げ加工を行う工程で使用するレーザの波長よりも長い。粗加工工程で使用するレーザの波長は、例えば1030nm以上である。
次に、仕上げ加工工程が行われる。図15は、仕上げ加工工程を示す側面模式図である。図15に示されるように、仕上げ加工工程においては、レーザを用いて加工対象物に対して仕上げ加工が行われる。仕上げ加工には、例えばグリーンレーザが使用可能である。具体的には、レーザ光Bが刃部材4の第2領域72に照射される。レーザ光Bは、グリーンレーザである。グリーンレーザを用いて、刃部材4の第2領域72が除去される。
図16は、仕上げ加工工程後における刃部材の構成を示す側面模式図である。図16に示されるように、仕上げ加工工程において、第3領域73の一部に熱変質層74が形成される。上述の通り、第2領域72は、熱伝導率の低いグラファイトである。そのため、仕上げ加工工程において、第2領域72から第3領域73への熱伝導が抑制される。結果として、仕上げ加工工程において形成された熱変質層74の厚みが小さくなる。
次に、本開示に係るレーザ加工装置100およびレーザ加工方法の作用効果について説明する。
本開示に係るレーザ加工装置100によれば、レーザ照射部50は、レーザ発生器13と、Fθレンズ30と、ガルバノミラー10と、を有している。レーザ光Bは、ガルバノミラー10によって走査される。そのため、本開示に係るレーザ加工装置100は、レーザ光を固定しつつ加工対象物を移動させるレーザ加工装置と比較して、高速加工が可能である。
また本開示に係るレーザ加工装置100によれば、制御部60は、レーザ照射部50および把持部70の動作を制御する。制御部60は、レーザ光照射工程と、加工対象物7へのレーザ光Bの照射を停止した状態で、加工対象物7を把持した把持部70を第1の方向A1に沿った方向に移動させる移動工程と、を交互に行う。そのため、本開示に係るレーザ加工装置100は、5軸以上の複数軸を同期制御するレーザ加工装置と比較して、制御が簡便となる。
本開示に係るレーザ加工装置100によれば、レーザ光Bを第1の方向A1に照射可能なFθレンズ30の領域の最大幅Wは、30mm以上であってもよい。これにより、広範囲において均一な加工が可能である。
本開示に係るレーザ加工装置100によれば、レーザ光Bの波長は、532nm以上であってもよい。一般的に利用可能なレーザを用いることにより装置の高額化を抑制し、加工コストを低減することができる。
本開示に係るレーザ加工装置100によれば、把持部70は、把持部70が加工対象物7の着脱を行う位置である着脱位置と、加工対象物7にレーザ光Bを照射して加工を行う位置である加工位置と、の間において加工対象物7を移動させる移動機構45を有していてもよい。これにより、トータルの加工時間を低減することができる。
本開示に係るレーザ加工装置100によれば、把持部70は、加工対象物7を把持した状態で加工対象物7を第1の方向A1に平行な軸である加工回転軸周りに回転可能であってもよい。制御部60は、レーザ光照射工程において、加工対象物7が静止した状態で加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射する工程、加工対象物7が静止した状態で加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射しつつレーザ光Bの光軸を第2の方向A2および第3の方向A3のうち少なくとも一つの方向に移動させる工程、または加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射しつつ加工対象物7を加工回転軸周りに回転させる工程のいずれかの工程が実施されるように、レーザ照射部50および把持部70の動作を制御してもよい。これにより、加工対象物7に対して円筒R加工を実施することができる。
本開示に係るレーザ加工装置100によれば、把持部70は、加工対象物7を把持した状態で加工対象物7を第1の方向A1に対して傾斜した軸である加工回転軸周りに回転可能であってもよい。制御部60は、レーザ光照射工程において、加工対象物7が静止した状態で加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射する工程、加工対象物7が静止した状態で加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射しつつレーザ光Bの光軸を第2の方向A2および第3の方向A3のうち少なくとも一つの方向に移動させる工程、または加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射しつつ加工対象物7を加工回転軸周りに回転させる工程のいずれかの工程が実施されるように、レーザ照射部50および把持部70の動作を制御してもよい。これにより、加工対象物7に対して円錐R加工を実施することができる。
本開示に係るレーザ加工方法は、レーザ光照射工程と、加工対象物7へのレーザ光Bの照射を停止した状態で、加工対象物7を把持した把持部70を第1の方向A1に沿った方向に移動させる移動工程と、を備えている。レーザ光照射工程は、加工対象物7が静止した状態で加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射する工程、または、加工対象物7が静止した状態で加工対象物7に第1の方向A1にレーザ光Bを照射しつつレーザ光Bの光軸を第1の方向A1に対して垂直な方向である第2の方向A2ならびに第1の方向A1および第2の方向A2の両方に対して垂直な方向である第3の方向A3のうち少なくとも一つの方向に移動させる工程を有し、レーザ光照射工程と、加工対象物7へのレーザ光Bの照射を停止した状態で、加工対象物7を把持した把持部70を第1の方向A1に沿った方向に移動させる移動工程と、は交互に実施される。これにより、制御が簡便でかつ高速加工が可能である。
本開示に係るレーザ加工方法によれば、レーザ光照射工程において、レーザ発生器13が発生し、ガルバノミラー10が反射し、Fθレンズ30を通過したレーザ光Bを加工対象物7に照射してもよい。加工対象物7へのレーザ光Bの照射を停止した状態で、加工対象物7を把持した把持部70を第1の方向A1に沿った方向に移動させる移動工程において、加工対象物7の第1の方向A1に沿った方向の移動は加工対象物7を把持する把持部70が第1の方向A1に沿った方向に移動することにより行われ、第1の方向A1に照射されるレーザ光Bの光軸の第2の方向A2および第3の方向A3への移動はガルバノミラー10がレーザ光Bを反射させてFθレンズ30に入射する位置を変えることにより行われてもよい。これにより、ガルバノミラー10により高速でレーザ光Bを走査することができるため、さらに高速加工が可能である。
本開示に係るレーザ加工方法によれば、加工対象物7は、切れ刃6を有してもよい。レーザ光照射工程において、レーザ光Bの照射方向に見て、レーザ光Bを第1の方向A1に照射可能なFθレンズ30の領域は、切れ刃6を取り囲んでいてもよい。これにより、加工対象物7をFθレンズ30の光軸に垂直な方向に移動させることなく、切れ刃6の全体を加工することができる。
本開示に係るレーザ加工方法によれば、レーザ光照射工程において、レーザ光Bの照射方向に見て、レーザ光Bを第1の方向A1に照射可能なFθレンズ30の領域は、加工対象物7を取り囲んでいてもよい。これにより、加工対象物7をFθレンズ30の光軸に垂直な方向に移動させることなく、加工対象物7の全体を加工することができる。
本開示に係るレーザ加工方法によれば、レーザ光Bの波長は、532nm以上であってもよい。一般的に利用可能なレーザを用いることにより装置の高額化を抑制し、加工コストを低減することができる。
レーザ光照射工程においては逃げ角に応じて加工対象物7を傾斜させるため、Fθレンズ30と加工対象物7との間の距離を長くし、把持部70との干渉を避ける必要がある。そのため、アシストガスGを加工対象物7に供給する場合、アシストガスGの供給ノズルは、加工対象物7から離れた位置に配置される。この場合、加工対象物7に対して高圧でアシストガスGを供給する必要がある。しかしながら、アシストガスGを高圧にすることでレーザ光Bがひずむため、加工対象物7の加工品位が悪化するおそれがある。
本開示に係るレーザ加工方法によれば、レーザ光照射工程において、Fθレンズ30および加工対象物7の各々を容器80で取り囲んだ状態で、容器80にアシストガスGが供給されてもよい。これにより、容器80をアシストガスGで満たすことができる。この場合、アシストガスGを高圧で供給する必要がないため、レーザ光Bのひずみを抑制することができる。結果として、加工対象物7の加工品位が悪化することを抑制することができる。またアシストガスGとして窒素ガスを使用することにより、加工面の酸化を抑制し、熱変質層の形成を抑制することができる。さらに容器80を使用することで、アシストガスGの使用量を低減し、且つ、アシストガスGが暴露することを抑制することができる。
本開示に係るレーザ加工方法によれば、レーザ光照射工程は、レーザを用いて加工対象物7に対して粗加工を行う工程と、レーザを用いて加工対象物7に対して仕上げ加工を行う工程とを含んでいてもよい。粗加工を行う工程で使用するレーザの波長は、仕上げ加工を行う工程で使用するレーザの波長よりも長い。粗加工を行う工程後、加工対象物7の表面層が熱伝導率の低いグラファイトに変質する。これにより、仕上げ加工工程において、熱伝導が抑制される。結果として、仕上げ加工工程後の熱変質層の厚みが小さくなる。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した実施の形態ではなく請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味、および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1 第1円弧部、2 第2円弧部、4 刃部材、5 台座、6 切れ刃、7 加工対象物、10 ガルバノミラー、11 第1ガルバノミラー部、12 第2ガルバノミラー部、13 レーザ発生器、20 ガルバノスキャナ、21 第1ガルバノスキャナ部、22 第2ガルバノスキャナ部、30 Fθレンズ、31 レンズ、32 ホルダ、40 把持部材、41 第1把持部分、42 第2把持部分、43 溝、45 移動機構、50 レーザ照射部、60 制御部、70 把持部、71 第1領域、72 第2領域、73 第3領域、74 熱変質層、80 容器、81 第1接続部材、82 第2接続部材、83 本体部材、84 隙間、91 アシストガス供給孔、92 アシストガス排出孔、100 レーザ加工装置、A1 第1の方向、A2 第2の方向、A3 第3の方向、A4 第4の方向、B レーザ光、C1 第1仮想円、C2 第2仮想円、D1 第1回転軸、D2 第2回転軸、G アシストガス、R1 第1半径、R2 第2半径、W 最大幅
Claims (16)
- 焼結ダイヤモンドまたは立方晶窒化硼素を含む加工対象物にレーザ光を照射することにより前記加工対象物を加工するレーザ加工装置であって、
前記加工対象物に第1の方向に前記レーザ光を照射するレーザ照射部と、
前記加工対象物の姿勢を保持した状態で前記加工対象物を着脱可能に把持するとともに、前記加工対象物を前記第1の方向に沿った方向に移動させることが可能な把持部と、
前記レーザ照射部および前記把持部の動作を制御する制御部と、を備え、
前記レーザ照射部は、
前記レーザ光を発生している状態と、前記レーザ光の発生を停止した状態と、を切り替え可能なレーザ発生器と、
前記レーザ光を前記第1の方向に照射可能な姿勢で固定されたFθレンズと、
前記レーザ発生器が発生させた前記レーザ光を反射させて前記Fθレンズに入射する位置を変えることにより、前記Fθレンズを通過して前記第1の方向に照射される前記レーザ光の光軸を前記第1の方向に対して垂直な方向である第2の方向ならびに前記第1の方向および前記第2の方向の両方に対して垂直な方向である第3の方向に移動させることが可能なガルバノミラーと、を有し、
前記制御部は、レーザ光照射工程と、前記加工対象物への前記レーザ光の照射を停止した状態で、前記加工対象物を把持した前記把持部を前記第1の方向に沿った方向に移動させる移動工程と、を交互に行い、
前記レーザ光照射工程は、前記加工対象物が静止した状態で前記加工対象物に前記第1の方向に前記レーザ光を照射する工程、または、前記加工対象物が静止した状態で前記加工対象物に前記第1の方向に前記レーザ光を照射しつつ前記レーザ光の光軸を前記第2の方向および前記第3の方向のうち少なくとも一つの方向に移動させる工程を有する、レーザ加工装置。 - 前記レーザ光を前記第1の方向に照射可能な前記Fθレンズの領域の最大幅は、30mm以上である、請求項1に記載のレーザ加工装置。
- 前記レーザ光の波長は、532nm以上である、請求項1または請求項2に記載のレーザ加工装置。
- 前記把持部は、前記把持部が前記加工対象物の着脱を行う位置である着脱位置と、前記加工対象物に前記レーザ光を照射して加工を行う位置である加工位置と、の間において前記加工対象物を移動させる移動機構を有する、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載のレーザ加工装置。
- 前記把持部は、前記加工対象物を把持した状態で前記加工対象物を前記第1の方向に平行な軸である加工回転軸周りに回転可能であり、
前記制御部は、
前記レーザ光照射工程において、前記加工対象物が静止した状態で前記加工対象物に前記第1の方向に前記レーザ光を照射する工程、前記加工対象物が静止した状態で前記加工対象物に前記第1の方向に前記レーザ光を照射しつつ前記レーザ光の光軸を前記第2の方向および前記第3の方向のうち少なくとも一つの方向に移動させる工程、または前記加工対象物に前記第1の方向に前記レーザ光を照射しつつ前記加工対象物を前記加工回転軸周りに回転させる工程のいずれかの工程が実施されるように、前記レーザ照射部および前記把持部の動作を制御する、請求項1から請求項4のいずれか1項に記載のレーザ加工装置。 - 前記把持部は、前記加工対象物を把持した状態で前記加工対象物を前記第1の方向に対して傾斜した軸である加工回転軸周りに回転可能であり、
前記制御部は、
前記レーザ光照射工程において、前記加工対象物が静止した状態で前記加工対象物に前記第1の方向に前記レーザ光を照射する工程、前記加工対象物が静止した状態で前記加工対象物に前記第1の方向に前記レーザ光を照射しつつ前記レーザ光の光軸を前記第2の方向および前記第3の方向のうち少なくとも一つの方向に移動させる工程、または前記加工対象物に前記第1の方向に前記レーザ光を照射しつつ前記加工対象物を前記加工回転軸周りに回転させる工程のいずれかの工
程が実施されるように、前記レーザ照射部および前記把持部の動作を制御する、請求項1から請求項4のいずれか1項に記載のレーザ加工装置。 - 前記把持部は、前記第1の方向から見た前記Fθレンズから前記加工回転軸までの距離を変更可能である、請求項5または請求項6に記載のレーザ加工装置。
- 前記把持部は、
前記加工対象物を把持した状態で前記第1の方向に対して垂直な軸である傾斜軸周りに回転させることにより、前記加工対象物を前記第1の方向に垂直な仮想平面に対して傾斜させることが可能である、請求項5から請求項7のいずれか1項に記載のレーザ加工装置。 - 焼結ダイヤモンドまたは立方晶窒化硼素を含む加工対象物にレーザ光を照射することにより前記加工対象物を加工するレーザ加工方法であって、
レーザ光照射工程と、
前記加工対象物への前記レーザ光の照射を停止した状態で、前記加工対象物を把持した把持部を第1の方向に沿った方向に移動させる移動工程と、を備え、
前記レーザ光照射工程は、前記加工対象物が静止した状態で前記加工対象物に前記第1の方向にレーザ光を照射する工程、または、前記加工対象物が静止した状態で前記加工対象物に前記第1の方向に前記レーザ光を照射しつつ前記レーザ光の光軸を前記第1の方向に対して垂直な方向である第2の方向ならびに前記第1の方向および前記第2の方向の両方に対して垂直な方向である第3の方向のうち少なくとも一つの方向に移動させる工程を有し、
前記レーザ光照射工程と、前記加工対象物への前記レーザ光の照射を停止した状態で、前記加工対象物を把持した前記把持部を前記第1の方向に沿った方向に移動させる移動工程と、は交互に実施される、レーザ加工方法。 - 前記レーザ光照射工程において、レーザ発生器が発生し、ガルバノミラーが反射し、Fθレンズを通過した前記レーザ光を前記加工対象物に照射し、
前記加工対象物への前記レーザ光の照射を停止した状態で、前記加工対象物を把持した前記把持部を前記第1の方向に沿った方向に移動させる移動工程において、前記加工対象物の前記第1の方向に沿った方向の移動は前記加工対象物を把持する把持部が前記第1の方向に沿った方向に移動することにより行われ、前記第1の方向に照射される前記レーザ光の光軸の前記第2の方向および前記第3の方向への移動は前記ガルバノミラーが前記レーザ光を反射させて前記Fθレンズに入射する位置を変えることにより行われる、請求項9に記載のレーザ加工方法。 - 前記加工対象物は、切れ刃を有し、
前記レーザ光照射工程において、前記レーザ光の照射方向に見て、前記レーザ光を前記第1の方向に照射可能な前記Fθレンズの領域は、前記切れ刃を取り囲んでいる、請求項10に記載のレーザ加工方法。 - 前記レーザ光照射工程において、前記レーザ光の照射方向に見て、前記レーザ光を前記第1の方向に照射可能な前記Fθレンズの領域は、前記加工対象物を取り囲んでいる、請求項11に記載のレーザ加工方法。
- 前記レーザ光の波長は、532nm以上である、請求項9から請求項12のいずれか1項に記載のレーザ加工方法。
- 前記レーザ光照射工程において、前記Fθレンズおよび前記加工対象物の各々を容器で取り囲んだ状態で、前記容器にアシストガスが供給される、請求項10から請求項12のいずれか1項に記載のレーザ加工方法。
- 前記レーザ光照射工程は、
レーザを用いて前記加工対象物に対して粗加工を行う工程と、
前記粗加工を行う工程後、レーザを用いて前記加工対象物に対して仕上げ加工を行う工程と、を含み、
前記粗加工を行う工程で使用するレーザの波長は、前記仕上げ加工を行う工程で使用するレーザの波長よりも長い、請求項9から請求項14のいずれか1項に記載のレーザ加工方法。 - 前記粗加工を行う工程で使用するレーザの波長は、1030nm以上である、請求項15に記載のレーザ加工方法。
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| ENP | Entry into the national phase |
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| WWE | Wipo information: entry into national phase |
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| 121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
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