WO2023189220A1 - Inspection management system and inspection management device - Google Patents

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隆一郎 紺田
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Abstract

An inspection management system for managing inspection contents of an inspection device that is provided in a production line for a component mounting board, the inspection management system comprising: a component inspection restriction design storage means that stores component inspection restriction design information; an inspection program creation means that creates an inspection program defining, for each component that is mounted to the component mounting board, an inspection item for detecting the defect defined in the component inspection restriction design information related to the component, and an inspection device that implements an inspection related to the inspection item; and an image display means that displays an inspection coverage setting confirmation image.

Description

検査管理システムおよび検査管理装置Test management system and test management device
 本発明は、部品実装基板の生産ラインにおいて、製品の検査を実施するための技術に関する。 The present invention relates to a technology for inspecting products in a component mounting board production line.
 製品の生産ラインでは、ラインの中間工程や最終工程に製品の検査装置を配置し、不良の検出や不良品の仕分けなどが行われている。例えば、部品実装基板の生産ラインにおいては一般的に、プリント配線基板にクリームはんだを印刷する工程(印刷工程)、クリームはんだが印刷された基板に部品を実装する工程(マウント工程)、部品実装後の基板を加熱して部品を基板にはんだ付けするする工程(リフロー工程)が含まれ、各工程後にそれぞれ検査装置を設けて検査することが公知となっている(例えば、特許文献1)。 On product production lines, product inspection equipment is placed in intermediate and final processes of the line to detect defects and sort out defective products. For example, in a production line for component mounting boards, there is generally a process of printing cream solder on a printed wiring board (printing process), a process of mounting components on the board printed with cream solder (mounting process), and a process after component mounting. It is known that the method includes a step (reflow step) of heating a board and soldering components to the board, and that an inspection device is installed and inspected after each step (for example, Patent Document 1).
 上記の部品実装基板の生産ラインの例の場合、リフロー工程の後に実施される検査は、製品としての最終的な良・不良判定を行うための検査(以下、最終検査ともいう)である一方、それ以前の各中間工程で実施される検査(以下、中間検査ともいう)は、工程管理の一環として行われるのが一般的である。即ち、各中間工程の定める品質レベルを満足しない中間品(不良中間品)を発見し、そのような不良中間品が後工程へ流れるのを防ぐことでライン全体の生産効率の改善を図ったり、不良中間品が発見された工程で異常が発生していないかを確認したり、といったことが行われる。 In the above example of the production line for component-mounted boards, the inspection performed after the reflow process is an inspection for making the final pass/fail judgment of the product (hereinafter also referred to as final inspection). Inspections carried out in each intermediate process before that (hereinafter also referred to as intermediate inspections) are generally carried out as part of process control. In other words, by discovering intermediate products (defective intermediate products) that do not meet the quality level determined by each intermediate process and preventing such defective intermediate products from flowing to subsequent processes, we aim to improve the production efficiency of the entire line. This includes checking to see if any abnormalities have occurred in the process where the defective intermediate product was discovered.
 ところで、これらの検査装置が実施する検査項目の中のいくつかには、複数の検査工程で共通するものがある。しかしながら、複数の検査工程を有する生産ラインにおいて「最終的な」製品の見逃しを防止するという観点からは、複数の検査工程・検査項目のうちのいずれかにおいて不良を検出できれば、見逃しを防止することが可能である。即ち、ある検査工程(の検査項目)において検出できる不良については、他の検査工程(の検査項目)において必ずしも検出する必要はない。 By the way, some of the inspection items performed by these inspection devices are common to multiple inspection processes. However, from the perspective of preventing "final" products from being overlooked in a production line that has multiple inspection processes, if defects can be detected in any of the multiple inspection processes/inspection items, it is possible to prevent oversights. is possible. That is, a defect that can be detected in a certain inspection process (inspection item) does not necessarily need to be detected in another inspection process (inspection item).
 また、検査対象の基板に実装される部品については、同種の部品であっても実装の方向や周囲の部品との関係などに応じて、検査を担当する検査装置や検査パラメータを変更したり、複数の検査装置を使用しなければ十分な精度の検査が行えない場合もある。 In addition, for components mounted on the board to be inspected, even if the components are of the same type, the inspection equipment in charge of inspection and inspection parameters may be changed depending on the direction of mounting or the relationship with surrounding components. In some cases, it may not be possible to perform an inspection with sufficient accuracy unless multiple inspection devices are used.
 しかし、特許文献1に示すような従来の生産ラインでは、最終的に不良と判定された製品の検査結果を中間検査の検査内容設定のためにフィードバックすることは行われているものの、基板に実装されている個々の部品ごとに検出すべき不良を見逃さないよう網羅的に各検査装置に検査項目を定めるようなことは行われていなかった。 However, in the conventional production line as shown in Patent Document 1, although the inspection results of products that are finally determined to be defective are fed back to set the inspection content for intermediate inspections, In order to avoid overlooking defects that should be detected for each individual component being inspected, inspection items were not comprehensively determined for each inspection device.
特開2021-189791号公報Japanese Patent Application Publication No. 2021-189791
 しかしながら、複数の検査工程のそれぞれに配置される検査装置ごとに個別に検査内容を設定するのでは、ある部品(のある検査項目)について、いずれの検査装置でも検査の実施が行われないといった事態が生じる虞がある。また、反対に、複数の検査装置で同じ検査項目を重複して実施するような設定がされ、生産効率が低下する虞もある。 However, if the inspection contents are set individually for each inspection device installed in each of multiple inspection processes, there may be a situation where a certain part (certain inspection item) is not inspected by any inspection device. There is a possibility that this may occur. On the other hand, there is also a risk that production efficiency may be reduced if settings are made such that the same inspection items are performed redundantly using a plurality of inspection devices.
 本発明は上記実情に鑑みなされたものであり、その目的とするところは、複数の検査工程を有する部品実装基板の生産ラインにおいて、各検査工程で実施される検査内容を網羅的に確認、設定することができる技術を提供することにある。 The present invention was made in view of the above circumstances, and its purpose is to comprehensively confirm and set the inspection contents to be carried out in each inspection process in a component mounting board production line that has multiple inspection processes. Our goal is to provide technology that can.
 前記の目的を達成するために、本発明は以下の構成を採用する。即ち、
 部品実装基板の生産ラインに設けられる一以上の検査装置の検査内容を管理する検査管理システムであって、
 前記部品実装基板に実装される部品の部品種ごとに、検出されるべき一以上の不良の種類を定義づけた部品検査制約設計情報を記憶する、部品検査制約設計記憶手段と、
 前記部品実装基板に実装される部品ごとに、該部品に係る前記部品検査制約設計情報に定義される前記不良を検出する検査項目及び該検査項目に係る検査を実施する検査装置を定める検査プログラムを作成する、検査プログラム作成手段と、
 前記部品の部品品番ごとに、前記部品検査制約設計情報における前記不良のそれぞれを前記生産ラインに設けられる前記検査装置のいずれが検出するのかを一覧で示す、検査カバレッジ設定確認画像、を表示する画像表示手段と、を有する、
 ことを特徴とする、検査管理システムである。
In order to achieve the above object, the present invention employs the following configuration. That is,
An inspection management system that manages the inspection contents of one or more inspection devices installed in a production line for component mounting boards,
component inspection constraint design storage means for storing component inspection constraint design information that defines one or more types of defects to be detected for each component type of the component mounted on the component mounting board;
An inspection program that defines, for each component mounted on the component mounting board, an inspection item for detecting the defect defined in the component inspection constraint design information related to the component and an inspection device that performs the inspection related to the inspection item. an inspection program creation means for creating;
An image displaying an inspection coverage setting confirmation image that shows, in a list, which of the inspection devices installed in the production line detects each of the defects in the component inspection constraint design information for each part number of the component. a display means;
This is an inspection management system that is characterized by:
 なお、本明細書において、「作成」、「設定」の語は変更も含む意味で用いる。このような構成のシステムによると、複数の検査装置を有する部品実装ラインにおいて、いずれの検査装置が、どの検査項目で、実装される各部品のどのような不良を検査するのかを、一覧性良く視認したうえで、不良の見逃しが無いように各検査装置に網羅的に検査を割り当てた検査プログラムを作成することができる。即ち、ユーザーは容易に、複数の検査装置間での検査の分担に漏れがないか否かを確認することができ、不良を検出するために必要な検査がいずれの検査装置でも設定されないといったことを防止できるとともに、複数の検査装置間で無駄に重複した検査を実施することも防止できる。 Note that in this specification, the words "creation" and "setting" are used to include changes. According to a system configured like this, in a component mounting line that has multiple inspection devices, it is possible to easily see which inspection device inspects which inspection items and which defects in each mounted component. After visual confirmation, an inspection program can be created in which inspections are comprehensively assigned to each inspection device so that no defects are overlooked. In other words, the user can easily check whether there are any omissions in the division of inspections between multiple inspection devices, and ensure that the tests necessary to detect defects are not set in any of the inspection devices. In addition, it is possible to prevent wasteful duplication of inspections between a plurality of inspection devices.
 また、前記部品検査制約設計記憶手段は、前記部品種ごと、かつ前記部品種の部品が備える電極種ごとに、部品検査制約設計情報を記憶し、前記検査カバレッジ設定確認画像は、前記電極種ごとに表示されるものであってもよい。部品全体に及ぶ不良(部品違い、欠品、表裏反転、部品ずれ、など)の他に、部品の電極を対象とした不良(電極浮き、電極ずれ、不濡れ、など)もあるため、このような構成であればより適切な検査を設定することができる。 Further, the component inspection constraint design storage means stores component inspection constraint design information for each of the component types and for each electrode type included in a component of the component type, and the inspection coverage setting confirmation image is stored for each of the electrode types. It may be displayed in In addition to defects affecting the entire part (wrong part, missing part, upside down, part misalignment, etc.), there are also defects targeting the electrodes of the part (electrode floating, electrode displacement, non-wetting, etc.). If the configuration is correct, more appropriate tests can be set.
 また、前記検査カバレッジ設定確認画像は、一方の軸に前記部品検査制約設計情報における前記不良の種類の一覧を示し、他方の軸に前記生産ラインに設けられる前記検査装置の一覧を示す行列の一覧表を含み、前記一覧表において、前記不良を検出する前記検査装置を示す行又は列と、検出される前記不良を示す行又は列とが交差する欄に、前記不良を検出する検査項目の名称を表示するものであってもよい。このような行列表示であると一覧性が良く、ユーザーはいずれの不良をいずれの検査装置がどの検査項目で検出するのかを、より容易に確認することができる。 Further, the inspection coverage setting confirmation image includes a list of matrices in which one axis shows a list of the defect types in the component inspection constraint design information, and the other axis shows a list of the inspection devices installed in the production line. In the list, in the column where the row or column indicating the inspection device that detects the defect intersects the row or column indicating the detected defect, the name of the inspection item that detects the defect is displayed. may also be displayed. Such a matrix display provides good visibility and allows the user to more easily confirm which inspection equipment detects which defects and which inspection items.
 また、前記検査管理システムは、ユーザーの入力操作を受け付ける入力手段をさらに有しており、前記検査プログラム作成手段は、前記入力手段を介して入力される情報に基づいて、前記部品実装基板に実装される部品ごとに該部品に係る前記部品検査制約設計情報に定義される前記不良に対して該不良を検出し得る検査項目及び該検査項目に係る検査を実施する検査装置を定めることにより、前記検査プログラムを作成する、ものであって、前記検査カバレッジ設定確認画像は、前記検査プログラム作成に係る情報入力のためのユーザーインターフェースとなるものであってもよい。 Further, the inspection management system further includes an input means for accepting input operations from a user, and the inspection program creation means is configured to implement the test program on the component mounting board based on the information input via the input means. By determining the inspection items capable of detecting the defects defined in the component inspection constraint design information for each component to be inspected and the inspection equipment that performs the inspection related to the inspection items, The inspection program may be created, and the inspection coverage setting confirmation image may serve as a user interface for inputting information related to the creation of the inspection program.
 このような構成であれば、ユーザーは複数の検査装置を備える部品実装ラインにおける検査プログラム作成の際に、部品品番単位で、複数の検査装置に対して横断的に、かつ検出すべき不良の種類を網羅して、各検査装置で実施すべき検査の内容を設定することが可能になる。また、このようにして設定されるプログラムの内容を一覧性良く確認することができる。 With such a configuration, when creating an inspection program for a component mounting line equipped with multiple inspection devices, users can check the types of defects that should be detected cross-sectionally across multiple inspection devices for each component part number. It becomes possible to set the contents of the inspection to be performed by each inspection device by covering all of the above. Further, the contents of the program set in this way can be checked with ease of viewing.
 また、前記検査プログラム作成手段は、前記画像表示手段に、前記検査項目に係る検査パラメータの入力についてのユーザーインターフェースとなる検査パラメータ設定画像を表示するとともに、前記入力手段を介して前記検査パラメータについての情報入力を受け付けることにより、前記検査項目の内容の設定を行う、ものであってもよい。このような構成であると、ユーザーは適切な検査を実施するための検査内容の入力を容易に行うことができる。 Further, the inspection program creation means displays an inspection parameter setting image, which serves as a user interface for inputting inspection parameters related to the inspection items, on the image display means, and displays information about the inspection parameters via the input means. The contents of the inspection items may be set by accepting information input. With such a configuration, the user can easily input test details to perform an appropriate test.
 また、前記検査プログラム作成手段は、前記部品検査制約設計情報における前記不良のいずれかを検出するための検査項目が設定されていない場合には、前記検査カバレッジ設定確認画像においてその旨を示す表示を行うものであってもよい。このような構成であると、ユーザーは検査項目が設定されていない場合には、そのことを容易に確認することができ、これに基づいて検査プログラムを修正することができる。 Furthermore, if an inspection item for detecting any of the defects in the component inspection constraint design information is not set, the inspection program creation means displays a display to that effect in the inspection coverage setting confirmation image. It may be something you do. With such a configuration, if a test item has not been set, the user can easily confirm this, and can modify the test program based on this.
 また、前記検査管理システムは、過去に実施された検査の結果に係る検査履歴情報を記憶する検査履歴情報記憶手段をさらに有し、前記検査プログラム作成手段は、前記検査カバレッジ設定確認画像の前記一覧表において現在設定されている前記検査項目の内容が、前記検査履歴情報に照らして前記不良についての見逃し及び/又は見過ぎが生じるものである場合には、前記検査カバレッジ設定確認画像にその旨を示す表示を行うものであってもよい。このような構成であると、ユーザーは各検査項目に設定されている検査パラメータが適切なものであるか否かを容易に(即座に)確認することができる。 The inspection management system further includes an inspection history information storage unit that stores inspection history information regarding the results of inspections conducted in the past, and the inspection program creation unit includes the list of inspection coverage setting confirmation images. If the content of the inspection item currently set in the table is such that the defect may be overlooked and/or over-examined in light of the inspection history information, that fact will be indicated in the inspection coverage setting confirmation image. It may also be possible to display a display that indicates. With such a configuration, the user can easily (immediately) confirm whether the test parameters set for each test item are appropriate.
 また、本発明は、部品実装基板の生産ラインに設けられる一以上の検査装置の検査内容を管理する検査管理装置であって、
 前記部品実装基板に実装される部品の部品種ごとに、検出されるべき一以上の不良の種類を定義づけた部品検査制約設計情報を記憶する、部品検査制約設計記憶手段と、
 前記部品実装基板に実装される部品ごとに、該部品に係る前記部品検査制約設計情報に定義される前記不良を検出する検査項目及び該検査項目に係る検査を実施する検査装置を定める検査プログラムを作成する、検査プログラム作成手段と、
 前記部品の部品品番ごとに、前記部品検査制約設計情報における前記不良のそれぞれを前記生産ラインに設けられる前記検査装置のいずれが検出するのかを一覧で示す、検査カバレッジ設定確認画像、を表示する画像表示手段と、を有する、
 ことを特徴とする、検査管理装置としても、捉えることができる。
The present invention also provides an inspection management device for managing inspection contents of one or more inspection devices installed in a production line for component mounting boards, comprising:
component inspection constraint design storage means for storing component inspection constraint design information that defines one or more types of defects to be detected for each component type of the component mounted on the component mounting board;
An inspection program that defines, for each component mounted on the component mounting board, an inspection item for detecting the defect defined in the component inspection constraint design information related to the component and an inspection device that performs the inspection related to the inspection item. an inspection program creation means for creating;
An image displaying an inspection coverage setting confirmation image that shows, in a list, which of the inspection devices installed in the production line detects each of the defects in the component inspection constraint design information for each part number of the component. a display means;
It can also be regarded as an inspection management device that is characterized by this.
 また、上記構成および処理の各々は技術的な矛盾が生じない限り互いに組み合わせて本発明を構成することができる。 Moreover, each of the above configurations and processes can be combined with each other to constitute the present invention as long as no technical contradiction occurs.
 本発明によれば、複数の検査工程を有する部品実装基板の生産ラインにおいて、各検査工程で実施される検査内容を網羅的に確認、設定することができる。 According to the present invention, in a component mounting board production line having multiple inspection processes, it is possible to comprehensively confirm and set the inspection contents to be performed in each inspection process.
図1は、適用例に係る検査管理装置が適用される部品実装ラインの概略構成図である。FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a component mounting line to which an inspection management apparatus according to an application example is applied. 図2は、適用例に係る検査管理装置の機能ブロック図である。FIG. 2 is a functional block diagram of the test management device according to the application example. 図3は、適用例に係る検査管理装置の画像表示部に表示される画像の一例を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing an example of an image displayed on the image display section of the test management device according to the application example. 図4は、実施形態1に係る検査管理システムが適用される部品実装ラインの概略構成を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a schematic configuration of a component mounting line to which the inspection management system according to the first embodiment is applied. 図5は、実施形態1に係る検査管理システムの機能ブロック図である。FIG. 5 is a functional block diagram of the test management system according to the first embodiment. 図6は、実施形態1に係る検査管理装置の画像表示部に表示される画像の一例を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing an example of an image displayed on the image display section of the test management apparatus according to the first embodiment. 図7は、実施形態1に係る検査管理装置の画像表示部に表示される画像の一例を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing an example of an image displayed on the image display section of the test management apparatus according to the first embodiment. 図8は、実施形態1に係る検査管理システムにおいて検査プログラムを作成する際の流れを示すフローチャートである。FIG. 8 is a flowchart showing the flow when creating a test program in the test management system according to the first embodiment. 図9は、実施形態1に係る検査管理装置の画像表示部に表示される画像の一例を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing an example of an image displayed on the image display section of the test management apparatus according to the first embodiment. 図10は、実施形態2に係る検査管理システムが適用される部品実装ラインの概略構成を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing a schematic configuration of a component mounting line to which the inspection management system according to the second embodiment is applied. 図11は、実施形態2に係る検査管理システムの機能ブロック図である。FIG. 11 is a functional block diagram of the test management system according to the second embodiment. 図12は、実施形態2に係る検査管理装置の画像表示部に表示される画像の一例を示す図である。FIG. 12 is a diagram showing an example of an image displayed on the image display section of the test management apparatus according to the second embodiment. 図13は、実施形態2の変形例に係る検査管理装置の画像表示部に表示される画像の一例を示す図である。FIG. 13 is a diagram showing an example of an image displayed on the image display section of the test management apparatus according to a modification of the second embodiment. 図14は、実施形態の他の例に係る画像表示部に表示される画像の一例を示す図である。FIG. 14 is a diagram illustrating an example of an image displayed on an image display unit according to another example of the embodiment.
 以下、図面に基づいて、本発明の実施形態について説明する。ただし、以下の各例に記載されている構成要素の寸法、材質、形状、その相対配置などは、特に記載がない限りは、この発明の範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described based on the drawings. However, unless otherwise specified, the dimensions, materials, shapes, relative positions, etc. of the components described in the following examples are not intended to limit the scope of the present invention.
 <適用例>
 本発明は例えば、図1、2に示すような検査管理装置9として適用することができる。図1は本適用例に係る、プリント基板の部品実装ラインの概略を示す概略図である。図2は、本適用例に係る検査管理装置9の機能ブロック図である。図1に示すように、本適用例に係る部品実装ラインには、上流側から順に、はんだ印刷装置A1、はんだ印刷後検査装置B1、マウンタA2、マウント後検査装置B2、リフロー炉A3、リフロー後検査装置B3が設けられる。
<Application example>
The present invention can be applied, for example, as an inspection management device 9 as shown in FIGS. 1 and 2. FIG. 1 is a schematic diagram showing an outline of a component mounting line for a printed circuit board according to this application example. FIG. 2 is a functional block diagram of the test management device 9 according to this application example. As shown in FIG. 1, the component mounting line according to this application example includes, in order from the upstream side, a solder printing device A1, a post-solder printing inspection device B1, a mounter A2, a post-mounting inspection device B2, a reflow oven A3, and a solder post-printing inspection device B1. An inspection device B3 is provided.
 はんだ印刷装置A1は、プリント基板上の電極部はんだを印刷する装置であり、マウンタA2は、基板に実装すべき電子部品をはんだペーストの上に載置するための装置であり、リフロー炉A3は、電子部品を基板上にはんだ接合するための加熱装置である。 The solder printing device A1 is a device for printing electrode part solder on a printed circuit board, the mounter A2 is a device for placing electronic components to be mounted on the board onto solder paste, and the reflow oven A3 is a device for printing solder on electrode parts on a printed circuit board. , a heating device for soldering electronic components onto a substrate.
 また、各検査装置(B1、B2、B3)は各工程の出口で基板の状態を検査し、不良あるいは不良のおそれを自動で検出する。以下では、はんだ印刷後検査装置B1による検査を印刷後検査、マウント後検査装置B2による検査をマウント後検査、リフロー後検査装置B3による検査をリフロー後検査、という。 Furthermore, each inspection device (B1, B2, B3) inspects the condition of the substrate at the exit of each process and automatically detects defects or the possibility of defects. Hereinafter, the inspection by the solder post-printing inspection device B1 will be referred to as a post-printing inspection, the inspection by the post-mounting inspection device B2 will be referred to as a post-mounting inspection, and the inspection by the post-reflow inspection device B3 will be referred to as a post-reflow inspection.
 上述した製造装置(A1、A2、A3)および検査装置(B1、B2、B3)は、LANなどのネットワークを介して検査管理装置9に接続されている。検査管理装置9は、CPU(Central Processing Unit)、RAM(Random Access Memory)などの主記憶装置、補助記憶装置(HDD、フラッシュメモリなど)、入力装置(キーボード、マウス、コントローラ、タッチパネルなど)、出力装置(ディスプレイ、プリンタ、スピーカなど)、通信手段(有線、無線を問わない)などを具備する汎用的なコンピュータシステムにより構成される。検査管理装置9はいわゆるティーチング端末として用いることができ、各検査装置(B1、B2、B3)が実施する検査の内容を定める検査プログラムを作成(変更を含む。以下同じ)することができる。また、この他にも、後述する記憶部92に保存される各種情報の登録、設定(変更を含む。以下同じ)といった作業にも用いられる。 The manufacturing devices (A1, A2, A3) and inspection devices (B1, B2, B3) described above are connected to the inspection management device 9 via a network such as a LAN. The inspection management device 9 includes a main storage device such as a CPU (Central Processing Unit), a RAM (Random Access Memory), an auxiliary storage device (HDD, flash memory, etc.), an input device (keyboard, mouse, controller, touch panel, etc.), and an output device. It consists of a general-purpose computer system equipped with devices (displays, printers, speakers, etc.), communication means (wired or wireless), etc. The inspection management device 9 can be used as a so-called teaching terminal, and can create (including changes to, the same applies hereinafter) an inspection program that defines the content of the inspection to be performed by each inspection device (B1, B2, B3). In addition to this, it is also used for tasks such as registration and setting (including changes; the same applies hereinafter) of various information stored in the storage unit 92, which will be described later.
 また、図2が示すように、検査管理装置9は機能部として、制御部91、記憶部92、入力部93、画像表示部94(例えば液晶ディスプレイ)、を有している。制御部91はさらに機能モジュールとして、UI(User Interface)制御部911、検査内容設定部912、の各機能モジュールを備えている。各機能モジュールは、例えば、記憶装置に格納されたプログラムをCPUが読み込み実行することにより実現してもよい。 Further, as shown in FIG. 2, the test management device 9 includes a control section 91, a storage section 92, an input section 93, and an image display section 94 (for example, a liquid crystal display) as functional sections. The control unit 91 further includes a UI (User Interface) control unit 911 and an examination content setting unit 912 as functional modules. Each functional module may be realized, for example, by a CPU reading and executing a program stored in a storage device.
 記憶部92は、部品検査制約設計記憶部921、検査カバレッジ情報記憶部922、検査プログラム記憶部924を含んで構成され、様々なデータを格納する。 The storage unit 92 includes a component inspection constraint design storage unit 921, an inspection coverage information storage unit 922, and an inspection program storage unit 924, and stores various data.
 部品検査制約設計記憶部921は、部品実装基板に実装される部品の部品種ごとに、検出されるべき一以上の不良の種類を定義づけた部品検査制約設計情報を記憶するデータベースである。 The component inspection constraint design storage unit 921 is a database that stores component inspection constraint design information that defines one or more types of defects to be detected for each component type of components mounted on a component mounting board.
 検査カバレッジ情報記憶部922は、部品の部品品番ごとに、かつ、部品実装ラインに設けられる検査装置の組み合わせごとに、部品検査制約設計情報における不良のそれぞれを検出し得る検査項目(及び該検査項目に係る検査を実施する検査装置)の組み合わせの情報である検査カバレッジ情報を一組以上記憶するデータベースである。 The inspection coverage information storage unit 922 stores inspection items (and the inspection items) that can detect each defect in the component inspection constraint design information for each part number of the component and for each combination of inspection devices provided in the component mounting line. This is a database that stores one or more sets of inspection coverage information, which is information on combinations of inspection devices (inspection devices that perform inspections related to the above).
 各部品の不良を検出する検査項目について、検査装置によってどのような検査(検査項目)を実施し得るかは異なっている。また、複数の異なる検査装置で、ある不良を検出し得る検査(検査項目)をそれぞれ実施できる場合もある。このため、本適用例に係る検査管理システムにおいては、予め、部品品番ごとにどのような検査項目をいずれの検査装置で実施するかを検査カバレッジ情報として定めて、記憶している。そして、後述の検査プログラム作成の際に、当該検査カバレッジ情報を参照することで、不良の見落としが無く検査装置間で重複した検査が実施されることを防止する検査プログラムを作成することが可能になる。 Regarding the inspection items for detecting defects in each part, the types of inspections (inspection items) that can be performed differ depending on the inspection device. Further, in some cases, a plurality of different inspection devices can each perform an inspection (inspection item) that can detect a certain defect. For this reason, in the inspection management system according to this application example, inspection coverage information that indicates which inspection items are to be performed by which inspection equipment for each part number is determined and stored in advance. By referring to the inspection coverage information when creating an inspection program (described later), it is possible to create an inspection program that prevents defects from being overlooked and prevents duplicate inspections from being performed between inspection devices. Become.
 また、検査プログラム記憶部924は、後述する検査プログラム作成手段により作成されたプログラムを記憶するデータベースである。 In addition, the inspection program storage unit 924 is a database that stores programs created by an inspection program creation unit that will be described later.
 UI制御部911は、検査プログラムの確認・設定に係る画像を画像表示部94に表示してユーザーの操作を受け付け、検査内容設定部912と協働して操作に応じた処理を実行する。図3にUI制御部911が作成し画像表示部94に表示する画像の例として、ユーザーインターフェースを兼ねる検査カバレッジ設定確認画像の一例を示す。図3に示すように、本適用例に係る検査カバレッジ設定確認画像は、一つの部品品番を一単位として、部品検査制約設計情報における不良のそれぞれを部品実装ラインに設けられる検査装置のいずれが検出するのかを一覧で表示するものとなっている。 The UI control unit 911 displays images related to inspection program confirmation and settings on the image display unit 94, receives user operations, and executes processing in accordance with the operations in cooperation with the inspection content setting unit 912. FIG. 3 shows an example of an inspection coverage setting confirmation image that also serves as a user interface as an example of an image created by the UI control unit 911 and displayed on the image display unit 94. As shown in FIG. 3, the inspection coverage setting confirmation image according to this application example shows which inspection equipment installed on the component mounting line detects each defect in the component inspection constraint design information, with one component part number as one unit. It displays a list of what to do.
 検査内容設定部912は、検査プログラムの確認・設定の処理に必要な情報(部品検査制約設計情報、検査カバレッジ情報など)を記憶部92から読み出してUI制御部911に提供するとともに、ユーザーの操作によって入力される情報に基づいて検査プログラムを作成(新規設定、変更)する。具体的には、検査カバレッジ設定確認画像に示すようなユーザーインターフェースを介して、ユーザーに部品検査制約設計情報や検査カバレッジ情報(に含まれる、検査項目や検査パラメータ)などを提示するとともに、各情報の新規入力や変更を受け付けることによって、検査プログラムを作成する。なお、本適用例においては、UI制御部911及び検査内容設定部912が検査プログラム作成手段に相当する。 The inspection content setting unit 912 reads information necessary for checking and setting the inspection program (component inspection constraint design information, inspection coverage information, etc.) from the storage unit 92 and provides it to the UI control unit 911. Create an inspection program (new settings, changes) based on the information input by . Specifically, through a user interface as shown in the inspection coverage setting confirmation image, the user is presented with component inspection constraint design information and inspection coverage information (including inspection items and inspection parameters), and each information An inspection program is created by accepting new inputs and changes. In this application example, the UI control unit 911 and the test content setting unit 912 correspond to test program creation means.
 また、検査内容設定部912は、検査プログラム作成の過程で、部品検査制約設計情報、検査カバレッジ情報などの作成(新規設定、変更)を行う場合もある。なお、作成された検査プログラムは検査プログラム記憶部924に、部品検査制約設計情報は部品検査制約設計記憶部921に、検査カバレッジ情報は検査カバレッジ情報記憶部922に、それぞれ格納される。 In addition, the inspection content setting unit 912 may create (new settings or changes) component inspection constraint design information, inspection coverage information, etc. in the process of creating an inspection program. Note that the created inspection program is stored in the inspection program storage section 924, component inspection constraint design information is stored in the component inspection constraint design storage section 921, and inspection coverage information is stored in the inspection coverage information storage section 922.
 以上のような適用例に係る検査管理装置によれば、部品検査制約設計情報において、部品種ごとに検出すべき不良の種類が網羅的に定められるため、検出すべき不良を漏らすことがない。また、部品品番ごとに予め定められた検査カバレッジ情報に基づいて、各部品について検出すべき不良を検出するための適切な検査項目を選択することができる。また、検査装置ごとに、当該検査装置で実施可能な検査の項目と当該検査項目において検出する不良に応じた検査パラメータを定め、実際のライン構成に応じた検査カバレッジ設定確認画像を提供することにより、各検査装置に対して漏れや無駄な重複のない検査分担を設定することができる。これにより、複数の検査工程を有する部品実装基板の生産ラインにおいて、各検査工程で実施される検査内容を基板に搭載される部品ごとに網羅的に確認、設定して適切な検査プログラムを作成することができる。 According to the inspection management device according to the application example described above, the types of defects to be detected for each component type are comprehensively determined in the component inspection constraint design information, so that defects to be detected are not omitted. Furthermore, appropriate inspection items for detecting defects to be detected for each component can be selected based on inspection coverage information predetermined for each component number. In addition, for each inspection device, we define inspection parameters according to the inspection items that can be performed by the inspection device and the defects detected in the inspection items, and provide inspection coverage setting confirmation images according to the actual line configuration. , it is possible to set inspection assignments for each inspection device without omission or unnecessary duplication. As a result, in a component mounting board production line that has multiple inspection processes, the inspection contents to be carried out in each inspection process can be comprehensively checked and set for each component mounted on the board, and an appropriate inspection program can be created. be able to.
 なお、上記適用例では、本発明を検査管理装置として適用した例を説明したが、本発明はこれ以外の形態にも適用することができる。以下では、続けて本発明を実施するための形態の例をさらに詳しく説明する。 Although the above application example describes an example in which the present invention is applied as an inspection management device, the present invention can be applied to other forms as well. Below, examples of forms for carrying out the present invention will be described in further detail.
 <実施形態1>
 (システム構成)
 図4は、本実施形態に係る検査管理システム1を適用するプリント基板の部品実装ラインの構成例を模式的に示す図である。部品実装ラインは、主として、はんだ印刷~部品のマウント~リフロー(はんだの溶着)の三つの工程から構成される。また、本実施形態に係る検査管理システム1は、検査管理装置10及びデータサーバ20からなる。
<Embodiment 1>
(System configuration)
FIG. 4 is a diagram schematically showing a configuration example of a printed circuit board component mounting line to which the inspection management system 1 according to the present embodiment is applied. The component mounting line mainly consists of three processes: solder printing, component mounting, and reflow (solder welding). Further, the test management system 1 according to this embodiment includes a test management device 10 and a data server 20.
 図4に示すように、部品実装ラインでは、製造装置として、上流側から順に、はんだ印刷装置X1、マウンタX2、リフロー炉X3が設けられる。はんだ印刷装置X1は、スクリーン印刷によってプリント基板上の電極部(ランドと呼ばれる)にペースト状のはんだを印刷する装置である。マウンタX2は、基板に実装すべき電子部品をピックアップし、該当箇所のはんだペーストの上に部品を載置するための装置であり、チップマウンタとも呼ばれる。リフロー炉X3は、はんだペーストを加熱溶融した後、冷却を行い、電子部品を基板上にはんだ接合するための加熱装置である。基板に実装する電子部品の数や種類が多い場合には、部品実装ラインに複数台のマウンタX2が設けられることもある。 As shown in FIG. 4, in the component mounting line, a solder printing device X1, a mounter X2, and a reflow oven X3 are provided as manufacturing devices in order from the upstream side. The solder printing device X1 is a device that prints paste-like solder on electrode portions (referred to as lands) on a printed circuit board by screen printing. The mounter X2 is a device for picking up electronic components to be mounted on a board and placing the components on the solder paste at the corresponding location, and is also called a chip mounter. The reflow furnace X3 is a heating device that heats and melts the solder paste, then cools it and solders the electronic components onto the substrate. When the number and types of electronic components to be mounted on a board are large, a plurality of mounters X2 may be provided on the component mounting line.
 また、部品実装ラインには、はんだ印刷、部品のマウント、リフローの各工程の出口で基板の状態を検査し、不良あるいは不良のおそれを自動で検出する検査装置(Y1、Y2、Y3、Y4)が設置されている。各検査装置は、良品と不良品の自動仕分けの他、検査結果やその分析結果に基づき各製造装置の動作にフィードバックする機能(例えば、実装プログラムの変更など)も有している。 In addition, the component mounting line has inspection equipment (Y1, Y2, Y3, Y4) that inspects the condition of the board at the exit of each process of solder printing, component mounting, and reflow, and automatically detects defects or potential defects. is installed. In addition to automatically sorting good products and defective products, each inspection device also has a function of feeding back the operation of each manufacturing device based on the inspection results and analysis results (for example, changing the mounting program).
 はんだ印刷後検査装置Y1は、はんだ印刷装置X1から搬出された基板に対し、はんだペーストの印刷状態を検査するための装置である。はんだ印刷後検査装置Y1では、基板上に印刷されたはんだペーストを2次元ないし3次元的に計測し、その計測結果から各種の検査項目について正常値(許容範囲)か否かの判定を行う。検査項目としては、例えば、はんだの体積・面積・高さ・位置ずれ・形状などがある。はんだペーストの2次元計測には、イメージセンサ(カメラ)などを用いることができ、3次元計測には、レーザ変位計や、位相シフト法、空間コード化法、光切断法などを利用することができる。 The solder printing post-inspection device Y1 is a device for inspecting the printed state of solder paste on the board taken out from the solder printing device X1. The solder printing post-inspection device Y1 measures the solder paste printed on the board two-dimensionally or three-dimensionally, and based on the measurement results, determines whether or not various inspection items have normal values (tolerable ranges). Inspection items include, for example, the volume, area, height, positional shift, and shape of the solder. For two-dimensional measurement of solder paste, an image sensor (camera), etc. can be used, and for three-dimensional measurement, a laser displacement meter, phase shift method, spatial coding method, optical cutting method, etc. can be used. can.
 マウント後検査装置Y2は、マウンタX2から搬出された基板に対し、電子部品の配置状態を検査するための装置である。マウント後検査装置Y2では、はんだペーストの上に載置された部品(部品本体、電極など部品の一部でもよい)を2次元ないし3次元的に計測し、その計測結果から各種の検査項目について正常値(許容範囲)か否かの判定を行う。検査項目としては、例えば、部品の位置ずれ、角度(回転)ずれ、欠品(部品が配置されていないこと)、部品違い(異なる部品が配置されていること)、極性違い(部品側と基板側の電極の極性が異なること)、表裏反転(部品が裏向きに配置されていること)、部品高さなどがある。はんだ印刷検査と同様、電子部品の2次元計測には、イメージセンサ(カメラ)などを用いることができ、3次元計測には、レーザ変位計や、位相シフト法、空間コード化法、光切断法などを利用することができる。 The post-mount inspection device Y2 is a device for inspecting the arrangement state of electronic components on the board taken out from the mounter X2. The post-mount inspection device Y2 measures the component placed on the solder paste in two or three dimensions (the component body, electrodes, or other part of the component), and uses the measurement results to determine various inspection items. Determine whether the value is normal (tolerable range). Inspection items include, for example, misalignment of parts, misalignment of angle (rotation), missing parts (components are not placed), wrong parts (different parts are placed), and wrong polarity (between the part side and the board). (the polarity of the side electrodes is different), front-back reversal (the parts are placed face down), and the height of the parts. Similar to solder print inspection, image sensors (cameras) can be used for two-dimensional measurement of electronic components, while laser displacement meters, phase shift methods, spatial coding methods, and optical cutting methods can be used for three-dimensional measurements. etc. can be used.
 外観検査装置Y3は、リフロー炉X3から搬出された基板に対し、はんだ付けの品質を検査するための装置である。外観検査装置Y3では、リフロー後のはんだ部分を2次元ないし3次元的に計測し、その計測結果から各種の検査項目について正常値(許容範囲)か否かの判定を行う。検査項目としては、部品検査と同じ項目に加え、はんだフィレット形状の良否なども含まれる。はんだの形状計測には、上述したレーザ変位計、位相シフト法、空間コード化法、光切断法などの他、いわゆるカラーハイライト方式(R、G、Bの照明を異なる入射角ではんだ面に当て、各色の反射光を天頂カメラで撮影することで、はんだの3次元形状を2次元の色相情報として検出する方法)を用いることができる。 The appearance inspection device Y3 is a device for inspecting the quality of soldering on the board taken out from the reflow oven X3. The appearance inspection device Y3 measures the solder portion after reflow two-dimensionally or three-dimensionally, and determines whether or not various inspection items have normal values (tolerable ranges) based on the measurement results. In addition to the same items as component inspection, the inspection items also include the quality of the solder fillet shape. In addition to the laser displacement meter, phase shift method, spatial coding method, and optical cutting method mentioned above, the so-called color highlight method (R, G, and B illumination is applied to the solder surface at different incident angles) is used to measure the shape of solder. The three-dimensional shape of the solder can be detected as two-dimensional hue information by capturing the reflected light of each color with a zenith camera.
 X線検査装置Y4は、X線像を用いて基板のはんだ付けの状態を検査するための装置である。例えば、BGA(Ball Grid Array)、CSP(Chip Size Package)などのパッケージ部品や多層基板の場合には、はんだ接合部が部品や基板の下に隠れているため、外観検査装置Y3では(つまり外観画像では)はんだの状態を検査することができない。X線検査装置Y4は、このような外観検査の弱点を補完するための装置である。X線検査装置Y4の検査項目としては、例えば、部品の位置ずれ、はんだ高さ、はんだ体積、はんだボール径、バックフィレットの長さ、はんだ接合の良否などがある。なお、X線像としては、X線透過画像を用いてもよいし、CT(Computed Tomography)画像を用いてもよい。なお、以下の説明においては外観検査装置Y3及びX線検査装置Y4をまとめて、リフロー後検査装置ということもある。 The X-ray inspection device Y4 is a device for inspecting the soldering condition of a board using an X-ray image. For example, in the case of package parts and multilayer boards such as BGA (Ball Grid Array) and CSP (Chip Size Package), the solder joints are hidden under the parts and boards, so the visual inspection equipment Y3 (in other words, the external appearance image) cannot inspect the condition of the solder. The X-ray inspection device Y4 is a device to compensate for such weaknesses in visual inspection. Inspection items of the X-ray inspection device Y4 include, for example, misalignment of components, solder height, solder volume, solder ball diameter, back fillet length, and quality of solder joints. Note that as the X-ray image, an X-ray transmission image or a CT (Computed Tomography) image may be used. In the following description, the visual inspection device Y3 and the X-ray inspection device Y4 may be collectively referred to as a post-reflow inspection device.
 また、本実施形態に係る各検査装置(Y1、Y2、Y3、Y4)は、それぞれ検査対象品を目視確認するための表示装置を備えていてもよく、当該目視用の表示装置は各検査装置とは別体の端末として(即ち、目視検査装置として)部品実装ラインに設けられていてもよい。 Further, each of the inspection devices (Y1, Y2, Y3, Y4) according to the present embodiment may be provided with a display device for visually confirming the product to be inspected, and the display device for visual inspection is a display device for each inspection device. It may be provided in the component mounting line as a separate terminal (that is, as a visual inspection device).
 以下では、はんだ印刷後検査装置Y1によって行われる検査を印刷後検査、マウント後検査装置Y2によって行われる検査をマウント後検査、外観検査装置Y3及びX線検査装置Y4によって行われる検査をリフロー後検査、ということもある。 In the following, the inspection performed by the solder post-printing inspection device Y1 will be referred to as the post-printing inspection, the inspection performed by the post-mounting inspection device Y2 will be referred to as the post-mounting inspection, and the inspection performed by the visual inspection device Y3 and the X-ray inspection device Y4 will be referred to as the post-reflow inspection. , sometimes.
 (検査管理装置)
 上述した製造装置(X1、X2、X3)および検査装置(Y1、Y2、Y3、Y4)は、ネットワーク(LAN)を介して検査管理装置10及びデータサーバ20に接続されている。検査管理装置10は、製造装置(X1、X2、X3)および検査装置(Y1、Y2、Y3、Y4)の管理や制御を担う端末であり、図示しないが、CPU、RAMなどの主記憶装置、補助記憶装置(HDD、フラッシュメモリなど)、入力装置(キーボード、マウス、コントローラ、タッチパネルなど)、出力装置(ディスプレイ、プリンタ、スピーカなど)、通信手段(有線、無線を問わない)などを具備する汎用的なコンピュータシステムにより構成される。後述する検査管理装置10の各機能部は、補助記憶装置に格納されたプログラムをCPUが読み込み実行することにより実現される。
(Inspection management device)
The manufacturing devices (X1, X2, X3) and inspection devices (Y1, Y2, Y3, Y4) described above are connected to the inspection management device 10 and the data server 20 via a network (LAN). The inspection management device 10 is a terminal that manages and controls the manufacturing devices (X1, X2, X3) and the inspection devices (Y1, Y2, Y3, Y4), and although not shown, it includes a main storage device such as a CPU and a RAM, General-purpose device equipped with auxiliary storage device (HDD, flash memory, etc.), input device (keyboard, mouse, controller, touch panel, etc.), output device (display, printer, speaker, etc.), communication means (wired or wireless), etc. It is composed of a standard computer system. Each functional unit of the test management device 10, which will be described later, is realized by the CPU reading and executing a program stored in an auxiliary storage device.
 なお、検査管理装置10は、1台のコンピュータにより構成してもよいし、複数のコンピュータにより構成してもよい。あるいは、製造装置(X1、X2、X3)や検査装置(Y1、Y2、Y3、Y4)のいずれかの装置が内蔵するコンピュータに、検査管理装置10の機能の全部又は一部を実装することも可能である。あるいは、検査管理装置10の機能の一部をネットワーク上のサーバ(クラウドサーバなど)により実現してもよい。 Note that the test management device 10 may be configured by one computer, or may be configured by multiple computers. Alternatively, all or part of the functions of the inspection management device 10 may be implemented in a computer built into either the manufacturing equipment (X1, X2, X3) or the inspection equipment (Y1, Y2, Y3, Y4). It is possible. Alternatively, some of the functions of the test management device 10 may be realized by a server on a network (such as a cloud server).
 (データサーバ)
 データサーバ20は、大容量のストレージを有する端末であり、後述するように様々なデータが記憶される。検査管理装置10や、製造装置(X1、X2、X3)および検査装置(Y1、Y2、Y3、Y4)に保有する情報を送信したり、逆にこれらの装置から情報を受信したりする。
(data server)
The data server 20 is a terminal having a large storage capacity, and stores various data as described below. It transmits information held to the inspection management device 10, manufacturing devices (X1, X2, X3) and inspection devices (Y1, Y2, Y3, Y4), and conversely receives information from these devices.
 (機能ブロック)
 図5に、本実施形態の検査管理装置10、データサーバ20についての機能ブロック図を示す。図5が示すように、データサーバ20は、部品検査制約設計記憶部211、検査カバレッジ情報記憶部212、品番グループ記憶部213、検査プログラム記憶部214、検査履歴情報記憶部215を含んで構成される。
(Functional block)
FIG. 5 shows a functional block diagram of the test management device 10 and data server 20 of this embodiment. As shown in FIG. 5, the data server 20 includes a component inspection constraint design storage section 211, an inspection coverage information storage section 212, a product number group storage section 213, an inspection program storage section 214, and an inspection history information storage section 215. Ru.
 なお、検査カバレッジ情報については、適用例において説明したものと同様である。ただし、本実施形態に係る検査カバレッジ情報記憶部212には、標準的な検査項目及び検査装置の組み合わせを定める検査カバレッジ情報(第1バリエーション)の他に、これとは異なる検査項目及び検査装置の組み合わせ(他のバリエーション)がある場合には、このようなバリエーション違いの検査カバレッジ情報も記憶される。 Note that the inspection coverage information is the same as that described in the application example. However, the inspection coverage information storage unit 212 according to the present embodiment includes, in addition to inspection coverage information (first variation) that defines the combination of standard inspection items and inspection devices, the inspection coverage information (first variation) that defines the combination of standard inspection items and inspection devices, as well as inspection coverage information (first variation) that defines the combination of standard inspection items and inspection devices. If there are combinations (other variations), inspection coverage information for these different variations is also stored.
 本実施形態は、検査装置(Y1、Y2、Y3、Y4)を備える部品実装ラインに適用される検査管理システムであるが、検査装置の組み合わせはこれに限られるわけではない。例えば、適用例のようにリフロー後の検査装置が一つだけの場合もあるし、印刷後検査を行わないライン構成も想定し得る。また、実装される部品の特徴や配置関係によっては、特定の検査装置・検査項目では不良を適切に検査できないことがある(例えば、反射率の高い表面の部品では部品高さを検査項目にすることは適切でないなど)。このように、様々な検査装置の組み合わせや部品の特性・配置などに応じて、部品検査制約設計情報で定められる不良を検出するために必要な検査項目・検査装置の組み合わせを複数バリエーション定めておくことが望ましい。 Although this embodiment is an inspection management system applied to a component mounting line that includes inspection devices (Y1, Y2, Y3, Y4), the combination of inspection devices is not limited to this. For example, as in the application example, there may be only one post-reflow inspection device, or a line configuration in which post-printing inspection is not performed can also be envisaged. Also, depending on the characteristics and arrangement of the components to be mounted, it may not be possible to properly inspect defects using a specific inspection device or inspection item (for example, for components with highly reflective surfaces, component height may be an inspection item). (for example, it is not appropriate to do so). In this way, multiple variations of the inspection items and combinations of inspection devices necessary to detect defects specified in the component inspection constraint design information are determined according to the combination of various inspection devices and the characteristics and arrangement of the parts. This is desirable.
 品番グループ記憶部213は、同一内容の検査カバレッジ情報が適用される複数の部品品番をグルーピングした品番グループ情報を記憶する。検査カバレッジ情報は、品番グループ単位で設定・変更されるようになっていてもよい。検査履歴情報記憶部215は、過去に各検査装置(Y1、Y2、Y3、Y4)において実施された検査の結果(画像データ、三次元形状データ、最終良否判定結果など)に係る検査履歴情報を記憶するデータベースである。なお、部品検査制約設計記憶部211、検査プログラム記憶部214については、適用例において説明したものと同様であるため、改めての説明は省略する。 The product number group storage unit 213 stores product number group information in which a plurality of component product numbers to which inspection coverage information of the same content is applied are grouped. Inspection coverage information may be set and changed on a product number group basis. The inspection history information storage unit 215 stores inspection history information related to the results of inspections (image data, three-dimensional shape data, final pass/fail judgment results, etc.) conducted in each inspection device (Y1, Y2, Y3, Y4) in the past. This is a database that stores information. Note that the component inspection constraint design storage section 211 and the inspection program storage section 214 are the same as those described in the application example, so further explanation will be omitted.
 本実施形態において、部品検査制約設計記憶部211、検査カバレッジ情報記憶部212、品番グループ記憶部213、検査プログラム記憶部214、検査履歴情報記憶部215は、格納されている情報を相互に参照・連動可能である、いわゆる関係データベースとして機能する。即ち、後述する検査プログラムは、部品検査制約設計情報に係る不良の種類の情報、検査カバレッジ情報に係る検査項目(及びその検査パラメータ)の情報を保持せずに、部品検査制約設計記憶部211、検査カバレッジ情報記憶部212に記憶されている情報を参照することによって、各検査装置が実施する検査の内容を定義するようになっていてもよい。 In this embodiment, the component inspection constraint design storage section 211, the inspection coverage information storage section 212, the product number group storage section 213, the inspection program storage section 214, and the inspection history information storage section 215 mutually refer to the stored information. It functions as a so-called relational database that can be linked. That is, the inspection program described below does not hold information on defect types related to the component inspection constraint design information and information on inspection items (and their inspection parameters) related to the inspection coverage information, but instead stores the component inspection constraint design storage unit 211, By referring to information stored in the inspection coverage information storage unit 212, the content of the inspection to be performed by each inspection device may be defined.
 また、図5が示すように、検査管理装置10は、制御部110、入力部120、画像表示部130を有しており、制御部110はさらに機能モジュールとして、データ読出し部111、UI制御部112、検査内容設定部113、シミュレーション実行部114、検査カバレッジ判定部115を備えている。 Further, as shown in FIG. 5, the test management device 10 includes a control section 110, an input section 120, and an image display section 130, and the control section 110 further includes a data reading section 111 and a UI control section as functional modules. 112, an inspection content setting section 113, a simulation execution section 114, and an inspection coverage determination section 115.
 入力部120は、検査管理装置10への入力手段であり、典型的にはキーボード、マウス、コントローラ、タッチパネルなどによって構成される。また、画像表示部130は、後述する検査カバレッジ設定確認画像などのユーザーインターフェース画像や、その他の各種情報を出力する手段であり、典型的には液晶ディスプレイなどの表示装置によって構成される。 The input unit 120 is an input means to the test management device 10, and is typically composed of a keyboard, a mouse, a controller, a touch panel, etc. The image display unit 130 is a means for outputting user interface images such as an inspection coverage setting confirmation image to be described later, and other various information, and is typically configured by a display device such as a liquid crystal display.
 続けて、制御部110が備える各機能モジュールについて説明する。データ読出し部111は、データサーバ20から検査プログラムの確認・設定の処理に係る各種の情報を読み出してUI制御部112、検査内容設定部113、シミュレーション実行部114、検査カバレッジ判定部115に提供する。 Next, each functional module included in the control unit 110 will be explained. The data reading unit 111 reads various information related to inspection program confirmation/setting processing from the data server 20 and provides it to the UI control unit 112, inspection content setting unit 113, simulation execution unit 114, and inspection coverage determination unit 115. .
 UI制御部112は、後述する検査プログラムの確認・設定に係る画像を画像表示部130に表示してユーザーの操作を受け付け、検査内容設定部113と協働して操作に応じた処理を実行する。即ち、UI制御部112が作成し、画像表示部130に表示する画像には、ユーザーインターフェースを兼ねるUI画像が含まれる。図6にこのような画像の一例である検査カバレッジ設定確認画像を示す。図6に示すように、本実施形態に係る検査カバレッジ設定確認画像は、一つの部品品番を一単位として、部品検査制約設計情報における不良のそれぞれを部品実装ラインに設けられる検査装置のいずれが検出するのかを一覧で表示するものとなっている。より具体的には、一方の軸に部品検査制約設計情報における不良の種類の一覧を示し、他方の軸に部品実装ラインに設けられる各検査装置の一覧を示す行列の一覧表を含み、当該一覧表において、不良を検出する検査装置を示す行又は列と、検出される不良を示す行又は列とが交差する欄に、不良を検出する検査項目の名称が表示される。 The UI control unit 112 displays images related to confirmation and settings of the inspection program, which will be described later, on the image display unit 130, receives user operations, and executes processing according to the operations in cooperation with the inspection content setting unit 113. . That is, the image created by the UI control unit 112 and displayed on the image display unit 130 includes a UI image that also serves as a user interface. FIG. 6 shows an inspection coverage setting confirmation image that is an example of such an image. As shown in FIG. 6, the inspection coverage setting confirmation image according to this embodiment shows which inspection equipment installed in the component mounting line detects each defect in the component inspection constraint design information, with one component part number as one unit. It displays a list of what to do. More specifically, one axis shows a list of defect types in the component inspection constraint design information, and the other axis includes a matrix list showing a list of each inspection device installed in the component mounting line. In the table, the name of the inspection item that detects a defect is displayed in the column where the row or column indicating the inspection device that detects the defect intersects with the row or column indicating the detected defect.
 検査内容設定部113は検査プログラムの確認・設定の処理に必要な情報(部品検査制約設計情報、検査カバレッジ情報、品番グループ情報など)をデータサーバ20から読み出してUI制御部112に提供するとともに、ユーザーの操作によって入力される情報に基づいて検査プログラムを作成(新規設定、変更)する。具体的には、検査カバレッジ設定確認画像に示すようなユーザーインターフェースを介して、ユーザーに部品検査制約設計情報や検査カバレッジ情報(に含まれる、検査項目や検査パラメータ)などを提示するとともに、各情報の新規入力や変更を受け付けることによって、検査プログラムを作成する。 The inspection content setting unit 113 reads information necessary for checking and setting the inspection program (component inspection constraint design information, inspection coverage information, product number group information, etc.) from the data server 20 and provides it to the UI control unit 112. Create an inspection program (new settings, changes) based on information input by user operations. Specifically, through a user interface as shown in the inspection coverage setting confirmation image, the user is presented with component inspection constraint design information and inspection coverage information (including inspection items and inspection parameters), and each information An inspection program is created by accepting new inputs and changes.
 また、検査内容設定部113は、検査プログラム作成の過程で、部品検査制約設計情報、検査カバレッジ情報、品番グループ情報などの作成(新規設定、変更)を行う場合もある。なお、作成された検査プログラムは検査プログラム記憶部214に、部品検査制約設計情報は部品検査制約設計記憶部211に、検査カバレッジ情報は検査カバレッジ情報記憶部212に、品番グループ情報は品番グループ記憶部213に、それぞれ格納される。 In addition, the inspection content setting unit 113 may create (newly set or change) component inspection constraint design information, inspection coverage information, product number group information, etc. in the process of creating an inspection program. The created inspection program is stored in the inspection program storage section 214, component inspection constraint design information is stored in the component inspection constraint design storage section 211, inspection coverage information is stored in the inspection coverage information storage section 212, and product number group information is stored in the product number group storage section. 213, respectively.
 シミュレーション実行部114は、検査履歴情報記憶部215から読出した過去の検査情報(画像データ、三次元形状データ)に基づいて、検査カバレッジ設定確認画像の一覧表において現在設定されている検査内容(検査項目及び検査パラメータ)によるシミュレーション検査を実行する。当該シミュレーションの結果により、過去の検査結果に照らして、現在設定されている検査内容で不良の見逃し・見過ぎが生じる場合には、UI制御部112に当該情報を提供する。情報の提供を受けたUI制御部112は、見逃し、見過ぎが生じることを検査カバレッジ設定確認画像において報知する表示を行う。 The simulation execution unit 114 selects the currently set inspection contents (inspection (items and inspection parameters). Based on the results of the simulation, if the currently set inspection details result in defects being overlooked or overlooked, the information is provided to the UI control unit 112. The UI control unit 112, which has received the information, displays a notification on the inspection coverage setting confirmation image that the inspection coverage setting confirmation image will be overlooked or overlooked.
 図7に、現在の検査内容で見逃し・見過ぎが生じることを示す検査カバレッジ設定確認画像の一例を示す。図7に示すように、現在設定されている検査内容において不良の見逃し・見過ぎが生じる場合には、例えば、当該見逃し・見過ぎが生じる検査項目の名称を識別可能に強調表示する。図7の例では、マウント後検査装置Y2において行われるマウント後検査の「部品違い(高さ)」の検査項目の検査では見逃しが発生することを示し、X線検査装置Y4で行われるX線検査の「ボイド(面積)」の検査項目では見過ぎが発生することを示している。 FIG. 7 shows an example of an inspection coverage setting confirmation image that indicates that the current inspection content may cause oversight or oversight. As shown in FIG. 7, when defects are overlooked or overlooked in the currently set inspection content, for example, the name of the inspection item where the oversight or oversight occurs is highlighted so that it can be identified. The example in FIG. 7 shows that an oversight occurs in the inspection of the "component difference (height)" inspection item in the post-mount inspection performed in the post-mount inspection device Y2, and the X-ray inspection performed in the X-ray inspection device Y4 This indicates that over-examination occurs in the inspection item "void (area)".
 検査カバレッジ判定部115は、部品ごとに、現在設定されている検査カバレッジ情報が、部品検査制約設計情報における不良種の全てを検出するための検査項目を有しているか否かを判定する。判定の結果、不良のいずれかについて、これを検出するための検査項目が設定されていない場合には、UI制御部112にその旨の情報を提供する。情報の提供を受けたUI制御部112は、検査項目が設定されていない不良種があることをアラートする表示を検査カバレッジ設定確認画像において行う。本実施形態においては、図7における不良種一覧の「不濡れ」の横に表示される「!」のマークがこのようなアラート表示に該当する。 The inspection coverage determination unit 115 determines, for each component, whether the currently set inspection coverage information includes inspection items for detecting all types of defects in the component inspection constraint design information. As a result of the determination, if an inspection item for detecting any of the defects is not set, information to that effect is provided to the UI control unit 112. Upon receiving the information, the UI control unit 112 displays an alert on the inspection coverage setting confirmation image that there is a defective type for which inspection items have not been set. In this embodiment, the "!" mark displayed next to "Not wet" in the list of defective types in FIG. 7 corresponds to such an alert display.
 (検査プログラム作成処理の流れ)
 次に、図8のフローチャートに基づいて、本実施形態に係る検査管理システム1により、検査プログラムを作成する方法について説明する。検査プログラムは、例えば新規な構成の部品実装基板を製造する際などに新規に作成される。まず、UI制御部112が画像表示部130に新規プログラム作成用のUI画像(図示せず)を表示し、ユーザーはこれに基づいて入力部120を介して基板の回路上に部品品番単位で部品を割り当てる処理を行う(S101)。次に、検査カバレッジ判定部115は部品品番が割り当てられた回路の設計及び管理対象のラインの構成(検査装置の組み合わせ)に応じた検査網羅性があるか否かを判断する(S102)。具体的には、例えば、各部品に対応する部品検査制約設計情報、及び該部品検査制約設計情報における不良の種類と、該不良の全てを検出し得る検査項目(及び該検査を実施する検査装置)の組み合わせを定める検査カバレッジ情報が、データサーバ20に格納されているか否か確認することにより判定を行う。
(Flow of inspection program creation process)
Next, a method for creating an inspection program using the inspection management system 1 according to the present embodiment will be described based on the flowchart in FIG. 8 . A new inspection program is created, for example, when manufacturing a component mounting board with a new configuration. First, the UI control unit 112 displays a UI image (not shown) for creating a new program on the image display unit 130, and based on this, the user uses the input unit 120 to display parts on the circuit of the board by part number. (S101). Next, the inspection coverage determining unit 115 determines whether there is inspection coverage according to the design of the circuit to which the component part number is assigned and the configuration of the line to be managed (combination of inspection devices) (S102). Specifically, for example, the component inspection constraint design information corresponding to each component, the types of defects in the component inspection constraint design information, the inspection items that can detect all of the defects (and the inspection equipment that performs the inspection) ) is stored in the data server 20.
 ステップS102で、新規に割り当てが行われた回路設計に応じた検査網羅性が有ると判断した場合には、ステップS106へ進む。一方、検査網羅性が無いと判断した場合(例えば、検査項目が割り当てられていない不良種がある場合など)には、UI制御部112がその旨のアラートを報知する表示を画像表示部130に出力する。ユーザーはこのようなアラートを受けて、必要な検査項目(検査パラメータ)を設定する。具体的には、UI制御部112が提供するUI画像(図示せず)に従って、部品検査制約設計情報、検査カバレッジ情報(バリエーションの設定も含む)、などに係る情報を入力部120により入力する。入力された情報はデータサーバ20に送信され、部品検査制約設計記憶部211、検査カバレッジ情報記憶部212、品番グループ記憶部213の各データベースの情報の更新を行う(S103、S104、S105)。なお、ステップS103からS105の処理は必ずしもすべてを行う必要はなく、例えばステップS103の部品検査制約設計情報の設定を省略する場合などもあり得る。 If it is determined in step S102 that there is inspection coverage according to the newly allocated circuit design, the process advances to step S106. On the other hand, if it is determined that there is no inspection coverage (for example, there is a defective type to which no inspection item has been assigned), the UI control unit 112 displays an alert to that effect on the image display unit 130. Output. Upon receiving such an alert, the user sets necessary test items (test parameters). Specifically, according to a UI image (not shown) provided by the UI control unit 112, information related to component inspection constraint design information, inspection coverage information (including variation settings), etc. is input through the input unit 120. The input information is transmitted to the data server 20, and the information in each database of the component inspection constraint design storage section 211, inspection coverage information storage section 212, and product number group storage section 213 is updated (S103, S104, S105). Note that it is not necessary to perform all of the processes from steps S103 to S105, and for example, there may be cases where the setting of component inspection constraint design information in step S103 is omitted.
 ステップS103からステップS105までの処理後、新規に割り当てられた回路設計に応じた検査網羅性を満たす情報が部品検査制約設計記憶部211、検査カバレッジ情報記憶部212、品番グループ記憶部213に追加されると、ステップS106に進む。ステップS106では、ユーザーはUI制御部112が提供するUI画像(図示せず)に従って、新規登録する部品実装基板を生産する可能性のあるライン構成に適した検査カバレッジ情報を選択する(S106)。 After the processing from step S103 to step S105, information that satisfies the inspection coverage according to the newly assigned circuit design is added to the component inspection constraint design storage section 211, the inspection coverage information storage section 212, and the product number group storage section 213. Then, the process advances to step S106. In step S106, the user selects inspection coverage information suitable for the line configuration that is likely to produce the newly registered component mounting board according to the UI image (not shown) provided by the UI control unit 112 (S106).
 次に、ユーザーはステップS106で選択した検査カバレッジ情報による検査を設定した場合に、各検査項目について現在設定されている検査パラメータで不良を適切に検出できるか(即ち適切な検査が実施できるか)否かの判定を行う(ステップS107)。ここでは、例えば図7に示すような検査カバレッジ設定確認画像を参照して、見逃し・見過ぎが生じる検査項目があるか否かを確認することで、適切な検査が実施可能か否かを判断することができる。 Next, when the user sets an inspection based on the inspection coverage information selected in step S106, the user asks whether defects can be appropriately detected using the currently set inspection parameters for each inspection item (that is, whether an appropriate inspection can be performed). It is determined whether or not (step S107). Here, for example, by referring to the inspection coverage setting confirmation image shown in Figure 7 and checking whether there are any inspection items that may be overlooked or overlooked, it is determined whether or not an appropriate inspection can be performed. can do.
 ステップS107で、適切な検査が実施できないと判断した場合には、ユーザーは検査項目(検査パラメータを含む)の修正を行う(S108)。ここでは、UI制御部112が検査内容情報の修正のためのUI画像を表示し、これに従ってユーザーが入力を行うことで、検査項目の修正を行うことができる。具体的には、例えば、図7に示すような検査カバレッジ設定確認画像から強調表示されている検査項目を選択すると、当該検査項目のパラメータを設定するための別のUI画像がポップアップして表示されるようにすればよい。図9に、このような検査パラメータ設定のためのUI画像がポップアップ表示された状態の画像例を示す。 If it is determined in step S107 that an appropriate test cannot be performed, the user modifies the test items (including test parameters) (S108). Here, the UI control unit 112 displays a UI image for modifying the examination content information, and the user can make inputs according to the UI image to modify the examination items. Specifically, for example, when a highlighted inspection item is selected from the inspection coverage setting confirmation image as shown in Figure 7, another UI image for setting the parameters of the inspection item pops up and is displayed. All you have to do is make it so. FIG. 9 shows an example of a pop-up UI image for setting test parameters.
 ステップS108で検査項目の修正が行われた後は、ステップS107に戻り、適切な検査が実施できるようになるまで、同様の処理を繰り返す。一方、ステップS107で、全ての不良種を適切に検出することができる、と判断した場合には、新規部品実装基板のための新たな検査プログラムとして設定し、検査プログラム記憶部214に保存する(S109)。そして、ステップS109の処理を実行後、検査プログラム作成のフローが一旦終了する。 After the inspection items are corrected in step S108, the process returns to step S107 and the same process is repeated until an appropriate inspection can be performed. On the other hand, if it is determined in step S107 that all types of defects can be detected appropriately, the program is set as a new inspection program for a new component-mounted board and saved in the inspection program storage unit 214 ( S109). Then, after executing the process in step S109, the flow of creating an inspection program temporarily ends.
 なお、ステップS101からステップS109の処理により作成される検査プログラムは、部品検査制約設計情報、検査カバレッジ情報、を参照する形で、各検査装置において各部品の不良を検出するための検査内容を網羅的に定義するものである。即ち、本実施形態においては、制御部110が本発明の検査プログラム作成手段に相当し、ステップS104、S105の処理が本発明の検査分担設定ステップに、ステップS106からS108までの処理が検査プログラム作成ステップにそれぞれ相当する。 Note that the inspection program created by the processing from step S101 to step S109 covers the inspection contents for detecting defects in each component in each inspection device by referring to component inspection constraint design information and inspection coverage information. It is defined in terms of That is, in this embodiment, the control unit 110 corresponds to the inspection program creation means of the present invention, the processing of steps S104 and S105 corresponds to the inspection assignment setting step of the present invention, and the processing of steps S106 to S108 corresponds to the inspection program creation means. Each corresponds to a step.
 以上のような構成を備える検査管理システム1によれば、ユーザーは複数の検査装置を備える部品実装ラインにおける検査プログラム作成の際に、部品品番単位で、複数の検査装置に対して横断的に、かつ検出すべき不良の種類を網羅して、各検査装置で実施すべき検査の内容を設定することが可能になる。また、このようにして設定されるプログラムの内容を一覧性良く確認することができるとともに、検査網羅性が満たされていない場合や、過去の検査履歴に照らして現在の検査パラメータが適切でない場合には、UI画像にその旨が報知されるため、検査内容情報の設定ミスをより確実に防止することができる。 According to the inspection management system 1 having the above-described configuration, when creating an inspection program for a component mounting line equipped with a plurality of inspection devices, a user can perform the following operations across the plurality of inspection devices for each component part number: In addition, it becomes possible to set the contents of the inspection to be performed by each inspection device, covering all types of defects to be detected. In addition, the contents of the program set in this way can be easily checked at a glance, and if inspection coverage is not satisfied or the current inspection parameters are not appropriate in light of past inspection history, Since this is notified on the UI image, mistakes in setting the examination content information can be more reliably prevented.
 <実施形態2>
 次に、図10及び図11に基づいて本発明の他の実施形態について説明する。図10は、本実施形態に係る検査管理システム2が適用される部品実装ラインを示す図、図11は検査管理システム2の機能ブロック図である。図10に示すように、本実施形態では、部品実装基板の生産ラインにおける製造装置(X1、X2、X3)及び検査装置(Y11、Y12、Y13、Y14)の配置は実施形態1のものと同様である。また、本実施形態の検査管理装置11及びデータサーバ21は多くの構成を実施形態1の検査管理装置10、データサーバ20と共通にしている。このため、実施形態1と共通の構成については同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
<Embodiment 2>
Next, other embodiments of the present invention will be described based on FIGS. 10 and 11. FIG. 10 is a diagram showing a component mounting line to which the inspection management system 2 according to the present embodiment is applied, and FIG. 11 is a functional block diagram of the inspection management system 2. As shown in FIG. 10, in this embodiment, the arrangement of manufacturing equipment (X1, X2, X3) and inspection equipment (Y11, Y12, Y13, Y14) in the production line for component mounting boards is the same as in the first embodiment. It is. Further, the test management device 11 and data server 21 of this embodiment have many configurations in common with the test management device 10 and data server 20 of the first embodiment. Therefore, the same components as those in Embodiment 1 are given the same reference numerals, and detailed explanations will be omitted.
 本実施形態に係る検査装置(Y11、Y12、Y13、Y14)は、基本的な構成は実施形態1のものと同様であるが、検査対象の部品実装基板の実際の良否判定検査と並行して、実際の検査と同一の検査データを用いたシミュレーション検査を実施することが可能になっている。より具体的には、各検査装置は、検査対象となる一つの部品実装基板に対して、実際の良否判定検査用の第1検査プログラムに基づいて行う第1検査と、シミュレーション用の第2検査プログラムに基づいて行う第2検査とを並行して実施する。そして、第1、第2それぞれの検査結果をデータサーバ21に送信する。 The inspection apparatus (Y11, Y12, Y13, Y14) according to this embodiment has the same basic configuration as that of the first embodiment, but in parallel with the actual quality determination inspection of the component mounting board to be inspected. , it is now possible to perform a simulation inspection using the same inspection data as the actual inspection. More specifically, each inspection device performs a first inspection based on a first inspection program for actual quality judgment inspection on one component mounting board to be inspected, and a second inspection for simulation. A second test based on the program is conducted in parallel. Then, the first and second test results are transmitted to the data server 21.
 図11に示すように、本実施形態に係る検査管理システム2のデータサーバ21は、実施形態1のデータサーバ20と比べて、検査履歴情報記憶部215が無く、第1検査結果記憶部216、第2検査結果記憶部217、実不良データ記憶部218を備える点において異なっている。 As shown in FIG. 11, compared to the data server 20 of the first embodiment, the data server 21 of the test management system 2 according to the present embodiment does not have the test history information storage section 215, and has a first test result storage section 216, The difference is that a second inspection result storage section 217 and an actual failure data storage section 218 are provided.
 第1検査結果記憶部216、第2検査結果記憶部217はそれぞれ、検査を実施した部品実装基板ごとの第1検査、第2検査の結果データを記憶するデータベースである。また、実不良データ記憶部218は、図示しない目視検査や接触検査によって、実際に不良と判断された部品実装基板のデータを記憶するデータベースである。即ち、本実施形態における部品実装ラインでは、検査装置(Y11、Y12、Y13、Y14)による検査以外に、目視検査などの実不良か否かを決定する検査が行われており、当該検査結果のデータがデータサーバ21に送信され、保存される。 The first test result storage unit 216 and the second test result storage unit 217 are databases that store result data of the first test and the second test, respectively, for each component mounting board that has been tested. Further, the actual defect data storage unit 218 is a database that stores data on component mounting boards that are actually determined to be defective through visual inspection or contact inspection (not shown). That is, in the component mounting line in this embodiment, in addition to the inspection by the inspection devices (Y11, Y12, Y13, Y14), inspections such as visual inspection to determine whether there is an actual defect are performed, and the inspection results are The data is sent to the data server 21 and stored.
 検査管理装置11の制御部310は、実施形態1の検査管理装置10における制御部110と比べて、最適設定判定部116を有している点において異なっている。最適設定判定部116は、第1検査結果記憶部216に記憶される第1検査の結果と、第2検査結果記憶部217に記憶される第2検査の結果と、実不良データ記憶部218に記憶される実際の良否判定結果と、に基づいて、第1検査プログラムと第2検査プログラムのいずれがより検査に適しているかを判定する。より具体的には、第1検査、第2検査の検査結果と、実不良データとを比較し、どちらがより見逃し・見過ぎが少ない検査を実施できるか(即ち、より正答率が高いのはどちらか)を判定する。なお、ここでは正答率を根拠としていずれの検査プログラムが適切かを判定するが、判定の根拠は正答率のみに限られず、例えば、計測値の分布や良否判定に対する余裕度などといった指標を用いることもできる。 The control unit 310 of the test management device 11 differs from the control unit 110 in the test management device 10 of the first embodiment in that it includes an optimal setting determination unit 116. The optimal setting determination section 116 stores the first inspection result stored in the first inspection result storage section 216, the second inspection result stored in the second inspection result storage section 217, and the actual defect data storage section 218. Based on the stored actual pass/fail determination results, it is determined which of the first inspection program and the second inspection program is more suitable for the inspection. More specifically, the test results of the first and second tests are compared with the actual defect data, and which test can be performed with fewer oversights and fewer oversights (in other words, which one has a higher correct answer rate? ). Note that here we will judge which testing program is appropriate based on the correct answer rate, but the basis for the judgment is not limited to the correct answer rate alone; for example, indicators such as the distribution of measured values and the degree of margin for pass/fail judgment can be used. You can also do it.
 また、本実施形態に係るUI制御部112は、第1検査の結果と第2検査の結果とを比較して示す、シミュレーション結果表示画像を画像表示部130に表示する。図12にこのようなシミュレーション結果表示画像の一例を示す。図12に示すように、シミュレーション結果表示画像では、第1検査プログラム及び第2検査プログラムそれぞれの検査内容と、第1プログラムで行われた現行の検査結果及び第2検査プログラムで行われたシミュレーション検査の結果についての正答率が対比して表示される。また、正答率について検査プログラム間での順位も併せて表示される。 Furthermore, the UI control unit 112 according to the present embodiment displays a simulation result display image on the image display unit 130, which shows a comparison between the results of the first test and the results of the second test. FIG. 12 shows an example of such a simulation result display image. As shown in FIG. 12, the simulation result display image shows the inspection contents of the first inspection program and the second inspection program, the current inspection results carried out in the first program, and the simulation inspection carried out in the second inspection program. The percentage of correct answers for the results is displayed in comparison. In addition, the ranking among test programs regarding the correct answer rate is also displayed.
 本実施形態では、第1検査プログラムと第2検査プログラムとは、「欠品」の不良を検出するための検査項目「AI検査」のリビジョンが異なっており、第2検査プログラムの方が、正答率の高い検査を実施できる、より適切な検査プログラムということがわかる。 In this embodiment, the first inspection program and the second inspection program have different revisions of the inspection item "AI inspection" for detecting "missing item" defects, and the second inspection program has a higher accuracy. It can be seen that this is a more appropriate testing program that can conduct tests with a high rate.
 以上のように、本実施形態に係る検査管理システム2によれば、現行の検査プログラムで実際の検査を行うとともに、それと並行して異なる検査内容の他の検査プログラムによる検査を行った場合のシミュレーションを行い、他の検査プログラムの適否を判断することができる。このため、検査設定の変更、検査アルゴリズムの更新、新規なAIモデルの採用などのニーズがある場合に、これらを反映させた新たな検査プログラムの適否を、現行の検査プログラムと入れ替えることなく、知ることができる。即ち、新たな検査プログラムを設定することで、実際に量産している製品に対する検査の質を低下させるというリスクを排除することが可能になる。 As described above, according to the inspection management system 2 according to the present embodiment, a simulation is performed when an actual inspection is performed using the current inspection program, and at the same time, an inspection is performed using another inspection program with different inspection contents. can be used to determine the suitability of other inspection programs. Therefore, when there is a need to change inspection settings, update inspection algorithms, adopt a new AI model, etc., you can know whether a new inspection program that reflects these needs is appropriate without replacing the current inspection program. be able to. That is, by setting a new inspection program, it is possible to eliminate the risk of deteriorating the quality of inspections for products that are actually mass-produced.
 (変形例)
 なお、上記実施形態2では、各検査装置において実施されるシミュレーション検査は第2検査プログラムによるもののみであったが、複数のシミュレーション検査を並行して実施させることもできる。この場合には、データサーバ21にはさらに第3検査結果記憶部、第4検査結果記憶部・・・というようにそれぞれシミュレーション検査用のデータベースを設けることになる。図13に、複数のシミュレーション検査を実施した場合におけるシミュレーション結果表示画像の例を示す。
(Modified example)
Note that in the second embodiment, the simulation test performed in each test device was only based on the second test program, but a plurality of simulation tests can be performed in parallel. In this case, the data server 21 is further provided with databases for simulation testing, such as a third test result storage section, a fourth test result storage section, and so on. FIG. 13 shows an example of a simulation result display image when a plurality of simulation tests are performed.
 <その他>
 上記の実施形態の説明は、本発明を例示的に説明するものに過ぎず、本発明は上記の具体的な形態には限定されない。本発明は、その技術的思想の範囲内で種々の変形が可能である。例えば、上記実施形態では部品検査制約設計情報は部品種ごとに設定されるものであったが、さらに当該部品種の部品が備える電極種ごとの部品検査制約設計情報が定められ、部品検査制約設計記憶部に記憶されるのであってもよい。部品全体に及ぶ不良(部品違い、欠品、表裏反転、部品ずれ、など)の他に、部品の電極を対象とした不良(電極浮き、電極ずれ、不濡れ、など)もあるため、このような構成であればより適切な検査を設定することができる。図14に、電極種を単位として作成される検査カバレッジ設定確認画像の一例を示す。
<Others>
The above description of the embodiments is merely for illustratively explaining the present invention, and the present invention is not limited to the above-described specific forms. The present invention can be modified in various ways within the scope of its technical idea. For example, in the above embodiment, component inspection constraint design information is set for each component type, but component inspection constraint design information is further determined for each electrode type included in the component type, and component inspection constraint design information is It may be stored in the storage unit. In addition to defects affecting the entire part (wrong part, missing part, upside down, part misalignment, etc.), there are also defects targeting the electrodes of the part (electrode floating, electrode displacement, non-wetting, etc.). If the configuration is correct, more appropriate tests can be set. FIG. 14 shows an example of an inspection coverage setting confirmation image created for each electrode type.
 また、上記の各実施形態では、検査装置が複数配置される部品実装ラインを例として説明を行ったが、単一の検査装置のみを備える部品実装ラインにも本発明を適用することも可能である。部品検査制約設計記憶部、検査カバレッジ情報記憶部、品番グループ記憶部、検査プログラム記憶部に、このような単一の検査装置のみを備える部品実装ラインに応じたデータを格納しておくことで、様々なライン構成に柔軟に対応可能な検査管理システムとすることができる。 Furthermore, in each of the above embodiments, explanations have been given taking as an example a component mounting line in which a plurality of inspection devices are arranged, but the present invention can also be applied to a component mounting line equipped with only a single inspection device. be. By storing data corresponding to a component mounting line equipped with only a single inspection device in the component inspection constraint design storage section, inspection coverage information storage section, product number group storage section, and inspection program storage section, The inspection management system can be flexibly adapted to various line configurations.
 また、上記の各実施形態では、検査カバレッジ情報記憶部と、品番グループ情報記憶部とは別のデータベースとなっていたが、検査カバレッジ情報を品番グループ情報に含めるようにしてこれらを一つにまとめてもよい。 Furthermore, in each of the above embodiments, the inspection coverage information storage section and the product number group information storage section are separate databases, but they are combined into one database by including the inspection coverage information in the product number group information. It's okay.
 <付記1>
 部品実装基板の生産ラインに設けられる一以上の検査装置(Y1、Y2、Y3、Y4)の検査内容を管理する検査管理システム(1)であって、
 前記部品実装基板に実装される部品の部品種ごとに、検出されるべき一以上の不良の種類を定義づけた部品検査制約設計情報を記憶する、部品検査制約設計記憶手段(211)と、
 前記部品実装基板に実装される部品ごとに、該部品に係る前記部品検査制約設計情報に定義される前記不良を検出する検査項目及び該検査項目に係る検査を実施する検査装置を定める検査プログラムを作成する、検査プログラム作成手段(110)と、
 前記部品品番ごと、かつ、前記生産ラインに設けられる前記検査装置の組み合わせごとに、前記部品検査制約設計情報における前記不良のそれぞれを前記生産ラインに設けられる前記検査装置のいずれが検出するのかを一覧で示す、検査カバレッジ設定確認画像、を表示する画像表示手段(130)と、を有する、
 ことを特徴とする、検査管理システム。
<Additional note 1>
An inspection management system (1) that manages inspection contents of one or more inspection devices (Y1, Y2, Y3, Y4) installed in a production line for component mounting boards,
component inspection constraint design storage means (211) for storing component inspection constraint design information defining one or more types of defects to be detected for each component type of the component mounted on the component mounting board;
An inspection program that defines, for each component mounted on the component mounting board, an inspection item for detecting the defect defined in the component inspection constraint design information related to the component and an inspection device that performs the inspection related to the inspection item. inspection program creation means (110) for creating;
For each part number and for each combination of the inspection devices installed on the production line, list which of the inspection devices installed on the production line detects each of the defects in the component inspection constraint design information. image display means (130) for displaying an inspection coverage setting confirmation image shown in
An inspection management system characterized by:
 <付記2>
 部品実装基板の生産ラインに設けられる一以上の検査装置(B1、B2、B3)の検査内容を管理する検査管理装置(9)であって、
 前記部品実装基板に実装される部品の部品種ごとに、検出されるべき一以上の不良の種類を定義づけた部品検査制約設計情報を記憶する、部品検査制約設計記憶手段(921)と、
 前記部品実装基板に実装される部品ごとに、該部品に係る前記部品検査制約設計情報に定義される前記不良を検出する検査項目及び該検査項目に係る検査を実施する検査装置を定める検査プログラムを作成する、検査プログラム作成手段(91)と、
 前記部品品番ごと、かつ、前記生産ラインに設けられる前記検査装置の組み合わせごとに、前記部品検査制約設計情報における前記不良のそれぞれを前記生産ラインに設けられる前記検査装置のいずれが検出するのかを一覧で示す、検査カバレッジ設定確認画像、を表示する画像表示手段(94)と、を有する、
 ことを特徴とする、検査管理装置。
<Additional note 2>
An inspection management device (9) that manages inspection contents of one or more inspection devices (B1, B2, B3) installed in a production line for component mounting boards,
component inspection constraint design storage means (921) for storing component inspection constraint design information defining one or more types of defects to be detected for each component type of the component mounted on the component mounting board;
An inspection program that defines, for each component mounted on the component mounting board, an inspection item for detecting the defect defined in the component inspection constraint design information related to the component and an inspection device that performs the inspection related to the inspection item. inspection program creation means (91) for creating;
For each part number and for each combination of the inspection devices installed on the production line, list which of the inspection devices installed on the production line detects each of the defects in the component inspection constraint design information. image display means (94) for displaying an inspection coverage setting confirmation image shown in
An inspection management device characterized by:
 1、2・・・検査管理システム
 A1、X1・・・はんだ印刷装置
 A2、X2・・・マウンタ
 A3、X3・・・リフロー炉
 B1、Y1、Y11・・・はんだ印刷後検査装置
 B2、Y2、Y12・・・マウント後検査装置
 B3・・・リフロー後検査装置
 Y3、Y13・・・外観検査装置
 Y4、Y14・・・X線検査装置
 9、10、11・・・検査管理装置
 110、310・・・制御部
 92・・・記憶部
 93、120・・・入力部
 94、130・・・画像表示部
 20、21・・・データサーバ
1, 2... Inspection management system A1, X1... Solder printing device A2, X2... Mounter A3, X3... Reflow oven B1, Y1, Y11... Solder printing post inspection device B2, Y2, Y12... Post-mount inspection device B3... Post-reflow inspection device Y3, Y13... Visual inspection device Y4, Y14... X-ray inspection device 9, 10, 11... Inspection management device 110, 310. ...Control section 92... Storage section 93, 120... Input section 94, 130... Image display section 20, 21...Data server

Claims (8)

  1.  部品実装基板の生産ラインに設けられる一以上の検査装置の検査内容を管理する検査管理システムであって、
     前記部品実装基板に実装される部品の部品種ごとに、検出されるべき一以上の不良の種類を定義づけた部品検査制約設計情報を記憶する、部品検査制約設計記憶手段と、
     前記部品実装基板に実装される部品ごとに、該部品に係る前記部品検査制約設計情報に定義される前記不良を検出する検査項目及び該検査項目に係る検査を実施する検査装置を定める検査プログラムを作成する、検査プログラム作成手段と、
     前記部品の部品品番ごとに、前記部品検査制約設計情報における前記不良のそれぞれを前記生産ラインに設けられる前記検査装置のいずれが検出するのかを一覧で示す、検査カバレッジ設定確認画像、を表示する画像表示手段と、を有する、
     ことを特徴とする、検査管理システム。
    An inspection management system that manages the inspection contents of one or more inspection devices installed in a production line for component mounting boards,
    component inspection constraint design storage means for storing component inspection constraint design information that defines one or more types of defects to be detected for each component type of the component mounted on the component mounting board;
    An inspection program that defines, for each component mounted on the component mounting board, an inspection item for detecting the defect defined in the component inspection constraint design information related to the component and an inspection device that performs the inspection related to the inspection item. an inspection program creation means for creating;
    An image displaying an inspection coverage setting confirmation image that shows, in a list, which of the inspection devices installed in the production line detects each of the defects in the component inspection constraint design information for each part number of the component. a display means;
    An inspection management system characterized by:
  2.  前記部品検査制約設計記憶手段は、前記部品種ごと、かつ前記部品種の部品が備える電極種ごとに、部品検査制約設計情報を記憶し、
     前記検査カバレッジ設定確認画像は、前記電極種ごとに表示されるものである、
     ことを特徴とする、請求項1に記載の検査管理システム。
    The component inspection constraint design storage means stores component inspection constraint design information for each component type and for each electrode type included in a component of the component type,
    The inspection coverage setting confirmation image is displayed for each electrode type,
    The inspection management system according to claim 1, characterized in that:
  3.  前記検査カバレッジ設定確認画像は、
     一方の軸に前記部品検査制約設計情報における前記不良の種類の一覧を示し、他方の軸に前記生産ラインに設けられる前記検査装置の一覧を示す行列の一覧表を含み、
     前記一覧表において、前記不良を検出する前記検査装置を示す行又は列と、検出される前記不良を示す行又は列とが交差する欄に、前記不良を検出する検査項目の名称を表示する、
     ことを特徴とする、請求項1又は2に記載の検査管理システム。
    The inspection coverage setting confirmation image is
    including a list of matrices showing a list of the types of defects in the component inspection constraint design information on one axis and a list of the inspection devices installed on the production line on the other axis,
    In the list, displaying the name of the inspection item that detects the defect in a column where a row or column indicating the inspection device that detects the defect intersects a row or column indicating the detected defect;
    The inspection management system according to claim 1 or 2, characterized in that:
  4.  ユーザーの入力操作を受け付ける入力手段をさらに有しており、
     前記検査プログラム作成手段は、
     前記入力手段を介して入力される情報に基づいて、前記部品実装基板に実装される部品ごとに該部品に係る前記部品検査制約設計情報に定義される前記不良に対して該不良を検出し得る検査項目及び該検査項目に係る検査を実施する検査装置を定めることにより、前記検査プログラムを作成する、ものであって、
     前記検査カバレッジ設定確認画像は、前記検査プログラム作成に係る情報入力のためのユーザーインターフェースとなる、
     ことを特徴とする、請求項3に記載の検査管理システム。
    It further has an input means for accepting input operations from a user,
    The inspection program creation means includes:
    Based on the information input through the input means, the defect can be detected for each component mounted on the component mounting board with respect to the defect defined in the component inspection constraint design information regarding the component. The inspection program is created by determining inspection items and inspection equipment for carrying out the inspection related to the inspection items,
    The inspection coverage setting confirmation image serves as a user interface for inputting information related to creating the inspection program.
    The inspection management system according to claim 3, characterized in that:
  5.  前記検査プログラム作成手段は、
     前記画像表示手段に、前記検査項目に係る検査パラメータの入力についてのユーザーインターフェースとなる検査パラメータ設定画像を表示するとともに、前記入力手段を介して前記検査パラメータについての情報入力を受け付けることにより、前記検査項目の内容の設定を行う、
     ことを特徴とする、請求項4に記載の検査管理システム。
    The inspection program creation means includes:
    Displaying an examination parameter setting image that serves as a user interface for inputting examination parameters related to the examination item on the image display means, and accepting information input regarding the examination parameters via the input means, Set the contents of the item,
    The inspection management system according to claim 4, characterized in that:
  6.  前記検査プログラム作成手段は、
     前記部品検査制約設計情報における前記不良のいずれかを検出するための検査項目が設定されていない場合には、前記検査カバレッジ設定確認画像においてその旨を示す表示を行う、ことを特徴とする、請求項3に記載の検査管理システム。
    The inspection program creation means includes:
    Claim characterized in that, when an inspection item for detecting any of the defects in the component inspection constraint design information is not set, a display indicating this is displayed in the inspection coverage setting confirmation image. Inspection management system according to item 3.
  7.  過去に実施された検査の結果に係る検査履歴情報を記憶する検査履歴情報記憶手段をさらに有し、
     前記検査プログラム作成手段は、
     前記検査カバレッジ設定確認画像の前記一覧表において現在設定されている前記検査項目の内容が、前記検査履歴情報に照らして前記不良についての見逃し及び/又は見過ぎが生じるものである場合には、前記検査カバレッジ設定確認画像にその旨を示す表示を行う、
     ことを特徴とする、請求項3に記載の検査管理システム。
    further comprising test history information storage means for storing test history information related to the results of tests conducted in the past;
    The inspection program creation means includes:
    If the contents of the inspection items currently set in the list of the inspection coverage setting confirmation image are such that the defect may be overlooked and/or over-examined in light of the inspection history information, A display indicating this is displayed on the inspection coverage setting confirmation image.
    The inspection management system according to claim 3, characterized in that:
  8.  部品実装基板の生産ラインに設けられる一以上の検査装置の検査内容を管理する検査管理装置であって、
     前記部品実装基板に実装される部品の部品種ごとに、検出されるべき一以上の不良の種類を定義づけた部品検査制約設計情報を記憶する、部品検査制約設計記憶手段と、
     前記部品実装基板に実装される部品ごとに、該部品に係る前記部品検査制約設計情報に定義される前記不良を検出する検査項目及び該検査項目に係る検査を実施する検査装置を定める検査プログラムを作成する、検査プログラム作成手段と、
     前記部品の部品品番ごとに、前記部品検査制約設計情報における前記不良のそれぞれを前記生産ラインに設けられる前記検査装置のいずれが検出するのかを一覧で示す、検査カバレッジ設定確認画像、を表示する画像表示手段と、を有する、
     ことを特徴とする、検査管理装置。
    An inspection management device that manages inspection contents of one or more inspection devices installed in a production line for component mounting boards,
    component inspection constraint design storage means for storing component inspection constraint design information that defines one or more types of defects to be detected for each component type of the component mounted on the component mounting board;
    An inspection program that defines, for each component mounted on the component mounting board, an inspection item for detecting the defect defined in the component inspection constraint design information related to the component and an inspection device that performs the inspection related to the inspection item. an inspection program creation means for creating;
    An image displaying an inspection coverage setting confirmation image that shows, in a list, which of the inspection devices installed in the production line detects each of the defects in the component inspection constraint design information for each part number of the component. a display means;
    An inspection management device characterized by:
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