JP2023152093A - Inspection management system, inspection content determination method, and program - Google Patents

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JP2023152093A JP2022062034A JP2022062034A JP2023152093A JP 2023152093 A JP2023152093 A JP 2023152093A JP 2022062034 A JP2022062034 A JP 2022062034A JP 2022062034 A JP2022062034 A JP 2022062034A JP 2023152093 A JP2023152093 A JP 2023152093A
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隆一郎 紺田
Ryuichiro Konda
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Abstract

To provide a technique allowing each inspection device to make an inspection using an appropriate inspection program in a production line of a component mounting substrate having a plurality of inspection devices.SOLUTION: An inspection management system for managing inspection contents of one or more inspection devices provided in a production line of a component mounting substrate comprises inspection program storage means and first determination means. The inspection program storage means stores an inspection program for determining contents of an inspection made by each inspection device with respect to the component mounting substrate using inspection coverage information for defining a combination of inspection items which can detect component failures according to a combination of the inspection devices provided in the production line per component mounted on the component mounting substrate. The first determination means determines which component inspection is made by each of the inspection devices provided in the production line on the basis of the inspection program referencing any of the inspection coverage information.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、部品実装基板の生産ラインにおいて、製品の検査を実施するための技術に関する。 The present invention relates to a technology for inspecting products in a production line for component mounting boards.

製品の生産ラインでは、ラインの中間工程や最終工程に製品の検査装置を配置し、不良の検出や不良品の仕分けなどが行われている。例えば、部品実装基板の生産ラインにおいては一般的に、プリント配線基板にクリームはんだを印刷する工程(印刷工程)、クリームはんだが印刷された基板に部品を実装する工程(マウント工程)、部品実装後の基板を加熱して部品を基板にはんだ付けするする工程(リフロー工程)が含まれ、各工程後にそれぞれ検査装置を設けて検査することが公知となっている(例えば、特許文献1)。 In product production lines, product inspection equipment is placed in intermediate and final processes of the line to detect defects and sort out defective products. For example, in a production line for component mounting boards, there is generally a process of printing cream solder on a printed wiring board (printing process), a process of mounting components on the board printed with cream solder (mounting process), and a process after component mounting. It is known that the method includes a step (reflow step) of heating a board and soldering components to the board, and that an inspection device is installed and inspected after each step (for example, Patent Document 1).

上記の部品実装基板の生産ラインの例の場合、リフロー工程の後に実施される検査は、製品としての最終的な良・不良判定を行うための検査(以下、最終検査ともいう)である一方、それ以前の各中間工程で実施される検査(以下、中間検査ともいう)は、工程管理の一環として行われるのが一般的である。即ち、各中間工程の定める品質レベルを満足しない中間品(不良中間品)を発見し、そのような不良中間品が後工程へ流れるのを防ぐことでライン全体の生産効率の改善を図ったり、不良中間品が発見された工程で異常が発生していないかを確認したり、といったことが行われる。 In the above example of the production line for component-mounted boards, the inspection performed after the reflow process is an inspection for making the final pass/fail judgment of the product (hereinafter also referred to as final inspection). Inspections carried out in each intermediate process before that (hereinafter also referred to as intermediate inspections) are generally carried out as part of process control. In other words, by discovering intermediate products (defective intermediate products) that do not meet the quality level determined by each intermediate process and preventing such defective intermediate products from flowing to subsequent processes, we aim to improve the production efficiency of the entire line. This includes checking to see if any abnormalities have occurred in the process where the defective intermediate product was discovered.

ところで、これらの検査装置が実施する検査項目の中のいくつかには、複数の検査工程で共通するものがある。しかしながら、複数の検査工程(検査装置)を有する生産ラインにおいて「最終的な」製品の見逃しを防止するという観点からは、複数の検査工程・検査項目のうちのいずれかにおいて不良を検出できれば、見逃しを防止することが可能である。即ち、ある検査工程(の検査項目)において検出できる不良については、他の検査工程(の検査項目)において必ずしも検出する必要はない。 By the way, some of the inspection items performed by these inspection devices are common to a plurality of inspection processes. However, from the perspective of preventing the "final" product from being overlooked on a production line that has multiple inspection processes (inspection equipment), if a defect can be detected in any one of multiple inspection processes/inspection items, it will be possible to avoid oversight. It is possible to prevent this. That is, a defect that can be detected in a certain inspection process (inspection item) does not necessarily need to be detected in another inspection process (inspection item).

また、検査対象の基板に実装される部品については、同種の部品であっても実装の方向や周囲の部品との関係などに応じて、検査を担当する検査装置や検査パラメータを変更したり、複数の検査装置を使用しなければ十分な精度の検査が行えない場合もある。 In addition, for components mounted on the board to be inspected, even if the components are of the same type, the inspection equipment in charge of inspection and inspection parameters may be changed depending on the direction of mounting or the relationship with surrounding components. In some cases, it may not be possible to perform an inspection with sufficient accuracy unless multiple inspection devices are used.

このため、複数の検査装置を有する生産ラインにおいては、各検査装置における検査を連携させて不良を検出するための検査項目の分担を行い、効率的に検査を行うことも考えられる。 For this reason, in a production line having a plurality of inspection devices, it is conceivable to perform inspections efficiently by coordinating the inspections in each inspection device and sharing the inspection items for detecting defects.

特開2021-189791号公報Japanese Patent Application Publication No. 2021-189791

ところで、生産ラインを複数備える製造施設においては、全ての生産ラインにおいて、同一の組み合わせで検査装置が設けられるとは限らない。経済的、空間的な制約、稼働率や製品の納期などの事情などにより、同一の製品を製造するものであっても、生産ラインに設けられる検査装置が異なることも考えられる。例えば、全ての製造工程の最後に単一の検査装置しか設置していない生産ラインと、製造工程ごとに検査装置が設置される生産ラインとが混在するといったこともあり得る。 By the way, in a manufacturing facility equipped with a plurality of production lines, inspection devices are not necessarily installed in the same combination on all production lines. Due to economic and spatial constraints, operating rates, product delivery dates, and other circumstances, even if the same product is being manufactured, the inspection equipment installed on the production line may be different. For example, there may be a coexistence of a production line in which only a single inspection device is installed at the end of every manufacturing process, and a production line in which an inspection device is installed for each manufacturing process.

このため、製品の不良を検出するために複数の検査装置を連携させて検査を実施する検査プログラムを設定していた場合であっても、実際には当該検査プログラムが想定していない検査装置の組み合わせの生産ラインによって製品が製造される虞がある。そして、このような場合には、各検査装置に適用される検査プログラムは想定する検査装置の組み合わせが本来の検査装置の組み合わせとは異なるため、対象となる検査装置が行う検査項目(及び検査パラメータ)が不適当なものとなる可能性があり、不良の見逃し(見過ぎ)が発生する虞がある。 For this reason, even if you have set up an inspection program that coordinates multiple inspection devices to perform inspections to detect product defects, in reality, the inspection program may not be able to detect defects in the inspection device. There is a risk that the product will be manufactured by a combination of production lines. In such a case, the inspection program applied to each inspection device assumes a combination of inspection devices that is different from the original combination of inspection devices, so the inspection items (and inspection parameters) performed by the target inspection device are ) may be inappropriate, and there is a risk that defects may be overlooked (overlooked).

本発明は上記実情に鑑みなされたものであり、その目的とするところは、複数の検査装置を有する部品実装基板の生産ラインにおいて、各検査装置が適切な検査プログラムによって検査を実施するための技術を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and its purpose is to provide a technology for each inspection device to carry out an inspection using an appropriate inspection program in a component mounting board production line having a plurality of inspection devices. Our goal is to provide the following.

前記の目的を達成するために、本発明は以下の構成を採用する。即ち、
部品実装基板の生産ラインに設けられる一以上の検査装置の検査内容を管理する検査管理システムであって、
前記部品実装基板に実装される部品ごとに、前記生産ラインに設けられる前記検査装置の組み合わせに応じて前記部品の不良を検出し得る検査項目及びいずれの検査装置が前記検査項目に係る検査を実施するかを定める検査カバレッジ情報を用いて、前記部品実装基板に対して各前記検査装置が実施する検査の内容を定める検査プログラムを記憶する、検査プログラム記憶手段と、
前記生産ラインに設けられる前記検査装置のそれぞれが、いずれの前記検査カバレッジ情報を用いる前記検査プログラムに基づいて前記検査を実施するのかを決定する第1決定手段と、を有する、
ことを特徴とする検査管理システムである。
In order to achieve the above object, the present invention employs the following configuration. That is,
An inspection management system that manages the inspection contents of one or more inspection devices installed in a production line for component mounting boards,
For each component mounted on the component mounting board, an inspection item that can detect defects in the component according to a combination of the inspection devices installed in the production line, and which inspection device performs the inspection related to the inspection item. Inspection program storage means for storing an inspection program that defines the content of inspection to be performed by each of the inspection devices on the component mounting board using inspection coverage information that determines whether the component mounting board is to be inspected;
Each of the inspection devices provided in the production line includes a first determining unit that determines which inspection coverage information is used to perform the inspection based on the inspection program.
This is an inspection management system characterized by:

なお、本明細書及び特許請求の範囲における第1、第2、第3などの用語は、類似の要素を区別するために使用されるものであり、必ずしも連続的、時系列の順序を意味するわけではない。また、本明細書において、「作成」、「設定」の語は変更も含む意味で用いられる。また、上記において「検査カバレッジ情報を用い」とは、当該情報を検査プログラム自身が保有する場合も、他のデータベースに保存されている当該情報を検査プログラムが参照することも含む。また、以下では、生産ラインに設けられる一以上の検査装置の組み合わせのことを「検査構成」などともいう。 Note that the terms first, second, third, etc. in this specification and claims are used to distinguish similar elements, and do not necessarily imply a sequential or chronological order. Do not mean. Furthermore, in this specification, the words "creation" and "setting" are used to include modification. In addition, in the above, "using inspection coverage information" includes the case where the inspection program itself owns the information or the inspection program refers to the information stored in another database. Furthermore, hereinafter, a combination of one or more inspection devices provided on a production line is also referred to as an "inspection configuration."

このような構成のシステムによると、生産ラインに設けられた各検査装置に検査プログラムを適用する際に、当該検査装置が属する生産ラインの検査構成に適した検査プログラムを適用することができる。 According to the system having such a configuration, when applying an inspection program to each inspection device provided on a production line, it is possible to apply an inspection program suitable for the inspection configuration of the production line to which the inspection device belongs.

また、前記検査管理システムは、前記部品の部品品番ごとに一以上の前記検査カバレッジ情報を記憶する、検査カバレッジ記憶手段をさらに有し、前記検査プログラムは、前記検査カバレッジ記憶手段に記憶される前記カバレッジ情報を参照することにより、前記部品実装基板に対して各前記検査装置が実施する検査の内容を定めるものであってもよい。このような構成であれば、一つの検査対象となる部品実装基板に対する検査プログラム本体を多数用意する必要が無い。即ち検査プログラムを一つ用意しておけば、該検査プログラムを適用する検査装置のライン構成に応じた検査カバレッジ情報を参照することで、検査装置の属するライン構成に応じた検査項目(検査パラメータ)による検査を実施することができる。 Further, the inspection management system further includes an inspection coverage storage unit that stores one or more pieces of the inspection coverage information for each part number of the component, and the inspection program is configured to store the inspection coverage information stored in the inspection coverage storage unit. The contents of the inspection to be performed by each of the inspection apparatuses on the component mounting board may be determined by referring to the coverage information. With such a configuration, there is no need to prepare a large number of inspection program bodies for one component mounting board to be inspected. In other words, if you prepare one inspection program, by referring to the inspection coverage information according to the line configuration of the inspection equipment to which the inspection program is applied, you can check the inspection items (inspection parameters) according to the line configuration to which the inspection equipment belongs. Inspections can be carried out by

また、前記第1決定手段は、前記決定の対象となる前記検査装置が属する前記生産ライ
ンの前記検査装置の組み合わせに合致する前記検査カバレッジ情報を用いる第1検査プログラムが、前記検査プログラム記憶手段に記憶されている場合には、当該第1検査プログラムに基づいて前記検査を実施することを決定するものであってもよい。このような構成であれば、検査装置が属する生産ラインの検査構成に合致した検査プログラムが用意されている場合には、各検査装置に確実に当該合致した検査プログラムを適用することができる。
Further, the first determining means stores a first inspection program using the inspection coverage information that matches a combination of the inspection devices of the production line to which the inspection device to be determined belongs in the inspection program storage means. If stored, it may be determined to perform the test based on the first test program. With such a configuration, if an inspection program that matches the inspection configuration of the production line to which the inspection device belongs is prepared, the matching inspection program can be reliably applied to each inspection device.

また、前記第1決定手段は、前記第1検査プログラムが前記検査プログラム記憶手段に記憶されていない場合には、前記第1検査プログラムに代替する前記検査プログラムに基づいて、前記検査を実施することを決定してもよい。このような構成であれば、検査装置が属する生産ラインの検査構成に合致した検査プログラムが用意されていない場合であっても、生産ラインにおける検査を実施することが可能になる。 Further, the first determining means may perform the inspection based on the inspection program substituted for the first inspection program when the first inspection program is not stored in the inspection program storage means. may be determined. With such a configuration, even if an inspection program that matches the inspection configuration of the production line to which the inspection device belongs is not prepared, it is possible to perform inspection on the production line.

また、前記第1決定手段は、前記決定の対象となる前記検査装置のみによって前記部品の検査が完結する内容の前記検査カバレッジ情報を用いる第2検査プログラムが、前記検査プログラム記憶手段に記憶されている場合には、当該第2検査プログラムに基づいて前記検査を実施することを決定してもよい。 Further, the first determining means stores in the inspection program storage means a second inspection program that uses the inspection coverage information such that the inspection of the component is completed only by the inspection device that is the target of the determination. If so, it may be determined to perform the test based on the second test program.

このような構成であれば、検査装置が属する生産ラインの検査構成に合致した検査プログラムが用意されていない場合であっても、各検査装置において検査が完結するように設定されたプログラムを適用することができる。このため、少なくとも各検査装置において見逃しを防止することができる。 With such a configuration, even if an inspection program that matches the inspection configuration of the production line to which the inspection device belongs is not prepared, a program configured to complete the inspection on each inspection device is applied. be able to. For this reason, it is possible to prevent oversights at least in each inspection device.

また、前記第1決定手段は、
前記第2検査プログラムが前記検査プログラム記憶手段に記憶されていない場合において、前記決定の対象となる前記検査装置によって実施し得る第1検査項目を含む前記検査カバレッジ情報を用いる第3検査プログラムが前記検査プログラム記憶手段に記憶されている場合には、
前記第1検査項目が前記決定の対象となる前記検査装置のみによって完結するか否かの当否を判定するとともに、該判定の結果が当である場合には、前記第3検査プログラムに基づいて前記第1検査項目の検査を実施することを決定するものであってもよい。
Further, the first determining means includes:
In the case where the second inspection program is not stored in the inspection program storage means, the third inspection program using the inspection coverage information including the first inspection item that can be performed by the inspection apparatus that is the target of the determination is If it is stored in the inspection program storage means,
It is determined whether or not the first inspection item can be completed only by the inspection device that is the target of the determination, and if the result of the determination is true, the test is performed based on the third inspection program. It may also be a decision to perform a test for the first test item.

このような構成であれば、対象となっている検査装置単独で部品の良否判定を完結することができない場合であっても、少なくとも当該検査装置において実施し得る検査項目で検出できる不良についての検査が可能な検査プログラムを適用することができる。 With such a configuration, even if the target inspection equipment cannot complete the quality determination of parts by itself, at least the inspection for defects that can be detected by the inspection items that can be performed by the inspection equipment concerned can be performed. An inspection program that allows for this can be applied.

また、前記第1決定手段は、前記検査プログラム記憶手段に記憶されている前記検査プログラムのいずれによっても、一以上の前記不良を検出する前記検査項目及び該検査項目に係る検査を実施する前記検査装置を決定できない場合には、少なくとも当該不良についての目視検査を実施することを決定してもよい。即ち、検査プログラム記憶手段に記憶されている検査プログラム(と対象となる生産ラインの検査装置の組み合わせ)では、検出できない不良が一つでもある場合には、当該不良については目視で検査することを決定する。このような構成であれば、検査構成に応じた適切な検査プログラムがなく、各検査装置による検査では不良を適切に検出できない場合であっても、目視検査によって不良品の見逃しを防止することができる。 Further, the first determining means may select the inspection item for detecting one or more of the defects and the inspection for performing the inspection related to the inspection item by any of the inspection programs stored in the inspection program storage means. If the device cannot be determined, it may be decided to perform at least a visual inspection for the defect. In other words, if there is even one defect that cannot be detected using the inspection program stored in the inspection program storage means (combined with the inspection equipment of the target production line), the defect will not be visually inspected. decide. With such a configuration, even if there is no appropriate inspection program for the inspection configuration and defects cannot be detected properly by inspection using each inspection device, visual inspection can prevent defective products from being overlooked. can.

また、前記検査管理システムは、前記生産ラインに設けられる前記検査装置のそれぞれが、前記検査プログラム記憶手段及び前記第1決定手段を備えるものであってもよい。データサーバなどに検査プログラムを保存し、生産ラインの稼働に合わせて該生産ラインに設けられる各検査装置に適切な検査プログラムを配信する、という運用も当然に可能であ
る。ただし上記のような構成であれば、データサーバなどとの通信が何らかの事情で遮断された場合であっても、各検査装置において適切な検査プログラムを選択し、適用することが可能になる。
Further, in the inspection management system, each of the inspection devices provided on the production line may include the inspection program storage means and the first determination means. Naturally, it is also possible to store an inspection program in a data server or the like and distribute an appropriate inspection program to each inspection device provided on the production line as the production line is operating. However, with the above configuration, even if communication with a data server or the like is interrupted for some reason, it is possible to select and apply an appropriate inspection program in each inspection device.

また、前記生産ラインに設けられる前記検査装置のそれぞれは、前記検査の実施時において前記第1決定手段が決定した検査を実際に実施するか否かを決定する、第2決定手段を備えるものであってもよい。このような構成であれば、各検査装置において適用される検査プログラムが決定した後、実際の検査実施までの間に何らかの事情で当該検査プログラムによる検査を実施することが適切でなくなった場合であっても、当該適切でなくなった検査プログラムによる検査を実施してしまうことを防止することができる。 Further, each of the inspection devices provided in the production line is provided with a second deciding means for deciding whether or not to actually carry out the inspection determined by the first deciding means when carrying out the inspection. There may be. With this configuration, after the inspection program to be applied to each inspection device has been determined, it will be possible to avoid the situation in the event that it becomes inappropriate to carry out the inspection using the inspection program for some reason before the actual inspection is carried out. Even if the test program is no longer appropriate, it is possible to prevent the test from being performed using the test program that is no longer appropriate.

また、前記生産ラインに設けられる前記検査装置のそれぞれは、前記検査の実施時において前記部品実装基板に係る所定の検査対象についての前工程での検査実施の有無を含む情報である前工程検査情報を取得する、前工程検査情報取得手段をさらに備え、
前記第2決定手段は、該第2決定手段を備える前記検査装置が最先の検査工程に設けられるものでない場合に、前記前工程検査情報に前記前工程での検査の実施が有った旨の情報が含まれることを条件として、前記第1決定手段が決定した検査を実際に実施することを決定するものであってもよい。
Further, each of the inspection devices installed in the production line is provided with pre-process inspection information that is information including whether or not a pre-process inspection has been performed on a predetermined inspection target related to the component mounting board at the time of carrying out the inspection. further comprising a pre-process inspection information acquisition means for acquiring the
The second determining means is configured to determine, in the pre-process inspection information, that an inspection has been performed in the pre-process when the inspection apparatus equipped with the second determining means is not installed in the earliest inspection process. The test may be determined to actually perform the test determined by the first determining means, on the condition that the information includes the following information.

このような構成であれば、前工程の検査が実施されていることを前提として、適用された検査プログラムによる検査を実施するため、予め設定された検査装置間の分担(連携)を適切に機能させることができる。 With this kind of configuration, the pre-set division (cooperation) between the inspection devices can function properly because the inspection is carried out using the applied inspection program on the premise that the inspection in the previous process has been carried out. can be done.

また、前工程検査情報取得手段が、前記前工程検査情報が取得できない場合、又は、前記前工程での検査の実施が無い旨の前記前工程検査情報を取得した場合には、前記第2決定手段は、前記第1決定手段が決定した検査の実施を取りやめるとともに、当該検査に代替する措置の実施を決定するものであってもよい。 Further, if the pre-process inspection information acquisition means cannot obtain the pre-process inspection information or obtains the pre-process inspection information indicating that there is no inspection in the pre-process, the second determination The means may cancel implementation of the test determined by the first determining means, and may also decide to implement measures to replace the test.

前工程がある場合に、当該前工程の検査結果が無い又は前工程の検査実施の有無が不明、ということであれば、検査装置間の検査分担の前提が崩れてしまう。即ち、検査実施までに適用された検査プログラムが適切であるという前提が崩れてしまうため、そのままの検査プログラムで検査を実施すると最終的に不良の見逃しが生じてしまう虞がある。この点、上記のような構成であれば、装置間の検査分担が機能しなくなったものとして不良の見逃しを発生させない措置を取ることが可能になる。 If there is a pre-process, and if there are no test results for the pre-process, or if it is unclear whether or not the pre-process has been tested, the premise of the division of tests between inspection devices will collapse. That is, the premise that the inspection program applied before the inspection is appropriate breaks down, so if the inspection is carried out with the same inspection program, there is a risk that defects will eventually be overlooked. In this regard, with the above configuration, it is possible to take measures to prevent failures from being overlooked, assuming that the inspection division between the devices has stopped functioning.

また、前記第2決定手段は、該第2決定手段を備える前記検査装置のみによって検査が完結する内容の前記検査カバレッジ情報を用いる第4検査プログラムが、前記検査プログラム記憶手段に記憶されている場合には、前記措置として前記第4検査プログラムが参照する前記検査内容情報に基づく前記検査の実施を決定するものであってもよい。 Further, in the case where the second determining means stores in the inspection program storage means a fourth inspection program that uses the inspection coverage information of which the inspection is completed only by the inspection apparatus including the second determining means. The measure may include determining implementation of the test based on the test content information referred to by the fourth test program.

このような構成であれば、対象となる検査装置自身において検査が完結するように設定されたプログラムを適用したうえで検査を実施することができる。このため、少なくとも各検査装置において見逃しを防止することができる。 With such a configuration, an inspection can be performed by applying a program that is set so that the inspection can be completed in the target inspection apparatus itself. For this reason, it is possible to prevent oversights at least in each inspection device.

また、前記第2決定手段は、前記第4検査プログラムが前記検査プログラム記憶手段に記憶されていない場合には、前記措置として前記部品の目視検査を実施することを決定してもよい。このような構成によれば、対象となる検査装置自身において検査を完結できるような検査プログラムがなく、不良を適切に検出できない虞がある場合であっても、目視検査の実施によって不良品の見逃しを防止することができる。 Further, the second determining means may decide to carry out a visual inspection of the component as the measure when the fourth inspection program is not stored in the inspection program storage means. According to this configuration, even if there is no inspection program that can complete the inspection in the target inspection equipment itself, and there is a risk that defects cannot be detected properly, it is possible to overlook defective products by conducting a visual inspection. can be prevented.

また、本発明は、部品実装基板の生産ラインに設けられる一以上の検査装置の検査内容を管理する検査管理システムにおいて、前記検査装置それぞれが実施する検査の内容を決定する方法であって、
前記検査管理システムは、前記部品実装基板に実装される部品ごとに、前記生産ラインに設けられる前記検査装置の組み合わせに応じて前記部品の不良を検出し得る検査項目及びいずれの検査装置が前記検査項目に係る検査を実施するかを定める検査カバレッジ情報を用いて、前記部品実装基板に対して各前記検査装置が実施する検査の内容を定める検査プログラムを記憶する、検査プログラム記憶手段を有しており、
前記決定の対象となる前記検査装置が属する前記生産ラインの前記検査装置の組み合わせに合致する前記検査カバレッジ情報を用いる第1検査プログラムが、前記検査プログラム記憶手段に記憶されているか否かの当否を判定する第1判定ステップと、
前記第1判定ステップの判定結果が当である場合には、前記第1検査プログラムに基づいて前記部品の検査を実施することを決定する、第1決定ステップと、
前記第1判定ステップの判定結果が否である場合には、前記決定の対象となる前記検査装置のみによって検査が完結する内容の前記検査カバレッジ情報を用いる第2検査プログラムが、前記検査プログラム記憶手段に記憶されているか否かの当否を判定する第2判定ステップと、
前記第2判定ステップの判定結果が当である場合には、前記第2検査プログラムに基づいて前記部品の検査を実施することを決定する、第2決定ステップと、
前記第2判定ステップの判定結果が否である場合には、前記決定の対象となる前記検査装置によって実施し得る第1検査項目を含む前記検査カバレッジ情報を用いる第3検査プログラムが前記検査プログラム記憶手段に記憶されているか否かの当否を判定する第3判定ステップと、
前記第3判定ステップの判定結果が当である場合には、前記第1検査項目が前記決定の対象となる前記検査装置のみによって完結するか否かの当否を判定する第4判定ステップと、
前記第4判定ステップの判定結果が当である場合には、前記第3検査プログラムに基づいて前記第1検査項目の検査を実施することを決定する、第3決定ステップと、
前記第3判定ステップの判定結果が否である場合、又は前記第4判定ステップの判定結果が否である場合には、前記部品の目視検査を実施することを決定する、第4決定ステップと、
を含むことを特徴とする、検査内容決定方法としても、捉えることができる。
The present invention also provides a method for determining the content of inspection to be performed by each of the inspection devices in an inspection management system that manages the inspection contents of one or more inspection devices installed in a production line for component mounting boards, comprising:
The inspection management system includes, for each component mounted on the component mounting board, inspection items that can detect defects in the component according to a combination of the inspection devices installed in the production line, and which inspection device is capable of detecting defects in the component. and an inspection program storage means for storing an inspection program that defines the content of the inspection to be performed by each of the inspection devices on the component mounting board using inspection coverage information that determines whether to perform the inspection related to the item. Ori,
Determining whether or not a first inspection program using the inspection coverage information that matches the combination of the inspection devices of the production line to which the inspection device to be determined belongs is stored in the inspection program storage means. a first determination step of determining;
a first determining step of determining to inspect the component based on the first inspection program if the determination result of the first determining step is correct;
If the determination result of the first determination step is negative, a second inspection program that uses the inspection coverage information that allows the inspection to be completed only by the inspection apparatus that is the target of the determination is stored in the inspection program storage means. a second determination step of determining whether or not the information is stored in the
a second determining step of determining to inspect the component based on the second inspection program if the determination result of the second determining step is correct;
If the determination result of the second determination step is negative, a third inspection program that uses the inspection coverage information including the first inspection item that can be performed by the inspection apparatus that is the target of the determination is selected from the inspection program storage. a third determination step of determining whether or not it is stored in the means;
If the determination result of the third determination step is correct, a fourth determination step of determining whether or not the first inspection item is completed only by the inspection device targeted for the determination;
If the determination result of the fourth determination step is correct, a third determination step of determining to perform the inspection of the first inspection item based on the third inspection program;
a fourth determining step of determining to perform a visual inspection of the component if the determination result of the third determining step is negative or if the determining result of the fourth determining step is negative;
It can also be regarded as a test content determination method characterized by including the following.

また、本発明は、上記の方法をコンピュータに実行させるためのプログラム、そのようなプログラムを非一時的に記録したコンピュータ読取可能な記録媒体として捉えることもできる。また、上記構成および処理の各々は技術的な矛盾が生じない限り互いに組み合わせて本発明を構成することができる。 Further, the present invention can also be understood as a program for causing a computer to execute the above method, and a computer-readable recording medium on which such a program is non-temporarily recorded. Moreover, each of the above configurations and processes can be combined with each other to constitute the present invention unless technical contradiction occurs.

本発明によれば、複数の検査装置を有する部品実装基板の生産ラインにおいて、各検査装置が適切な検査プログラムによって検査を実施するための技術を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a technique for each inspection device to perform an inspection using an appropriate inspection program in a component mounting board production line having a plurality of inspection devices.

図1は、実施形態1に係る検査管理システムが適用される部品実装ラインの概略構成図である。FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a component mounting line to which an inspection management system according to a first embodiment is applied. 図2は、実施形態1に係る検査管理装置及びデータサーバの機能ブロック図である。FIG. 2 is a functional block diagram of the test management device and data server according to the first embodiment. 図3は、実施形態1に係る検査プログラムの内容について説明する説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram illustrating the contents of the inspection program according to the first embodiment. 図4Aは、実施形態1に係る各検査装置が実施する検査の分担について説明する第1の図である。図4Bは、実施形態1に係る各検査装置が実施する検査の分担について説明する第2の図である。FIG. 4A is a first diagram illustrating the division of inspection performed by each inspection apparatus according to the first embodiment. FIG. 4B is a second diagram illustrating the division of inspection performed by each inspection apparatus according to the first embodiment. 図5Aは、実施形態1に係る各検査装置が実施する検査の分担について説明する第3の図である。図5Bは、実施形態1に係る各検査装置が実施する検査の分担について説明する第4の図である。FIG. 5A is a third diagram illustrating the division of inspection performed by each inspection apparatus according to the first embodiment. FIG. 5B is a fourth diagram illustrating the division of inspection performed by each inspection apparatus according to the first embodiment. 図6Aは、実施形態1に係る各検査装置が実施する検査の分担について説明する第5の図である。図6Bは、実施形態1に係る各検査装置が実施する検査の分担について説明する第6の図である。FIG. 6A is a fifth diagram illustrating the division of inspection performed by each inspection apparatus according to the first embodiment. FIG. 6B is a sixth diagram illustrating the division of inspection performed by each inspection apparatus according to the first embodiment. 図7は、実施形態1に係る検査管理装置の画像表示部に表示される画像の一例を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing an example of an image displayed on the image display section of the test management apparatus according to the first embodiment. 図8は、実施形態1に係る検査管理装置の画像表示部に表示される画像の一例を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing an example of an image displayed on the image display section of the test management apparatus according to the first embodiment. 図9は、実施形態1に係る検査管理システムにおいて行われる処理の流れの一例を説明するフローチャートの一部である。FIG. 9 is a part of a flowchart illustrating an example of the flow of processing performed in the test management system according to the first embodiment. 図10は、実施形態1に係る検査管理システムにおいて行われる処理の流れの一例を説明するフローチャートの一部である。FIG. 10 is a part of a flowchart illustrating an example of the flow of processing performed in the test management system according to the first embodiment. 図11は、実施形態1の変形例に係る検査管理システムが適用される部品実装ラインの概略構成図である。FIG. 11 is a schematic configuration diagram of a component mounting line to which an inspection management system according to a modification of the first embodiment is applied. 図12は、実施形態2に係る検査管理システムが適用される部品実装ラインの概略構成図である。FIG. 12 is a schematic configuration diagram of a component mounting line to which the inspection management system according to the second embodiment is applied. 図13は、実施形態2に係る検査管理システムにおいて行われる処理の流れの一例を説明するフローチャートである。FIG. 13 is a flowchart illustrating an example of the flow of processing performed in the test management system according to the second embodiment. 図14は、実施形態2の変形例に係る検査管理システムにおいて行われる処理の流れの一例を説明するフローチャートである。FIG. 14 is a flowchart illustrating an example of the flow of processing performed in the test management system according to the modification of the second embodiment.

以下、図面に基づいて、本発明の実施形態について説明する。ただし、以下の各例に記載されている構成要素の寸法、材質、形状、その相対配置などは、特に記載がない限りは、この発明の範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。 Embodiments of the present invention will be described below based on the drawings. However, unless otherwise specified, the dimensions, materials, shapes, relative positions, etc. of the components described in the following examples are not intended to limit the scope of the present invention.

<適用例>
本発明は例えば、図1に示すような検査管理システム1として適用することができる。図1は本適用例に係る検査管理システム1を適用する、プリント基板の部品実装ライン(以下、生産ラインともいう)の概略を示す概略図である。部品実装ラインは、主として、はんだ印刷~部品のマウント~リフロー(はんだの溶着)の三つの工程から構成され、本適用例に係る部品実装ラインも、図1に示すように、製造装置として、上流側から順に、はんだ印刷装置X1、マウンタX2、リフロー炉X3が設けられる。
<Application example>
The present invention can be applied, for example, as an inspection management system 1 as shown in FIG. FIG. 1 is a schematic diagram showing an outline of a printed circuit board component mounting line (hereinafter also referred to as a production line) to which an inspection management system 1 according to this application example is applied. The component mounting line mainly consists of three processes: solder printing, component mounting, and reflow (solder welding).As shown in Figure 1, the component mounting line according to this application example is A solder printing device X1, a mounter X2, and a reflow oven X3 are provided in this order from the side.

また、部品実装ラインには、はんだ印刷、部品のマウント、リフローの各工程の出口(及び入口)で基板の状態を検査し、不良あるいは不良のおそれを自動で検出する検査装置が設けられている。図1の例では、はんだ印刷検査装置Y1、マウント後検査装置Y2、外観検査装置Y3、X線検査装置Y4を備える構成となっている。なお、以下では、はんだ印刷検査装置Y1による検査を印刷後検査、マウント後検査装置Y2による検査をマウント後検査、外観検査装置Y3及びX線検査装置Y4による検査をリフロー後検査、などということもある。 In addition, the component mounting line is equipped with inspection equipment that inspects the condition of the board at the exit (and entrance) of each process of solder printing, component mounting, and reflow, and automatically detects defects or potential defects. . In the example of FIG. 1, the configuration includes a solder print inspection device Y1, a post-mount inspection device Y2, an appearance inspection device Y3, and an X-ray inspection device Y4. In the following, the inspection by the solder printing inspection device Y1 may be referred to as a post-print inspection, the inspection by the post-mount inspection device Y2 may be referred to as a post-mount inspection, the inspection by the visual inspection device Y3 and the X-ray inspection device Y4 may be referred to as a post-reflow inspection, etc. be.

そして、本適用例に係る検査管理システム1は、上記の各検査装置Y1、Y2、Y3、Y4に加えて、検査管理装置10及びデータサーバ20を含んで構成される。そして、これらの各構成と、上述した各製造装置(X1、X2、X3)は、LAN(Local A
rea Network)などのネットワークによって相互に接続されている。
The test management system 1 according to this application example includes a test management device 10 and a data server 20 in addition to the test devices Y1, Y2, Y3, and Y4 described above. Each of these configurations and each manufacturing device (X1, X2, X3) described above is connected to a LAN (Local A
rea Network).

ここで、図1の例では、はんだ印刷検査装置Y1、マウント後検査装置Y2、外観検査装置Y3、X線検査装置Y4を備える構成となっているが、例えば生産ラインを複数備えるような製造施設においては、全ての生産ラインにおいて同一の組み合わせで検査装置が設けられるとは限らない。経済的、空間的な制約、稼働率や製品の納期などの事情などにより、同一の製造設備(はんだ印刷装置X1、マウンタX2、リフロー炉X3)を配置した生産ラインであっても、ラインに設けられる検査装置(の組み合わせ)が異なることも考えられる。 Here, in the example of FIG. 1, the configuration includes a solder print inspection device Y1, a post-mount inspection device Y2, an appearance inspection device Y3, and an X-ray inspection device Y4, but for example, a manufacturing facility with multiple production lines , not all production lines are equipped with the same combination of inspection devices. Due to economic and space constraints, operating rates, product delivery dates, and other circumstances, even if the production line is equipped with the same manufacturing equipment (solder printing device x1, mounter x2, reflow oven x3), It is also conceivable that the (combination of) inspection devices used are different.

本適用例に係る検査管理システム1についても、はんだ印刷検査装置Y1、マウント後検査装置Y2、外観検査装置Y3、X線検査装置Y4の全ての検査装置を含むことを前提とするわけではなく、また、これらに加えてさらに他の検査装置を含むことを除外するものでもない。即ち、本適用例に係る検査管理システム1は、部品実装基板の部品実装ラインに設けられる一以上の検査装置と、検査管理装置10、データサーバ20によって構成される。 The inspection management system 1 according to this application example is not premised on including all inspection devices such as the solder print inspection device Y1, the post-mount inspection device Y2, the visual inspection device Y3, and the X-ray inspection device Y4. Further, the inclusion of other inspection devices in addition to these is not excluded. That is, the inspection management system 1 according to this application example includes one or more inspection devices provided in a component mounting line for component mounting boards, an inspection management device 10, and a data server 20.

検査管理装置10は、製造装置、検査装置などの管理や制御を担う端末であり、図示しないが、CPU(Central Processing Unit)、RAM(Random Access Memory)などの主記憶装置、補助記憶装置(HDD、フラッシュメモリなど)、入力装置(キーボード、マウス、コントローラ、タッチパネルなど)、出力装置(ディスプレイ、プリンタ、スピーカなど)、通信手段(有線、無線を問わない)などを具備する汎用的なコンピュータシステムにより構成される。後述する検査管理装置10の各機能部は、補助記憶装置に格納されたプログラムをCPUが読み込み実行することにより実現されるようにしてもよい。 The inspection management device 10 is a terminal responsible for managing and controlling manufacturing equipment, inspection equipment, etc., and although not shown, it includes a main storage device such as a CPU (Central Processing Unit), a RAM (Random Access Memory), and an auxiliary storage device (HDD). , flash memory, etc.), input devices (keyboard, mouse, controller, touch panel, etc.), output devices (displays, printers, speakers, etc.), communication means (wired or wireless), etc. configured. Each functional unit of the test management device 10, which will be described later, may be realized by the CPU reading and executing a program stored in an auxiliary storage device.

検査管理装置10はいわゆるティーチング端末としても用いることができ、各検査装置が実施する検査の内容を定める検査プログラムを作成(変更を含む。以下同じ)することができる。また、この他にも、データサーバ20に保存される各種情報の登録、設定(変更を含む。以下同じ)といった作業にも用いられる。 The test management device 10 can also be used as a so-called teaching terminal, and can create (including changes to, the same applies hereinafter) test programs that define the content of tests to be performed by each test device. In addition to this, it is also used for tasks such as registration and setting (including changes; the same applies hereinafter) of various information stored in the data server 20.

図2は、本適用例に係る検査管理装置10及びデータサーバ20についての機能ブロック図を示す。図2が示すように、データサーバ20は、部品検査制約設計記憶部211、検査カバレッジ情報記憶部212、品番グループ記憶部213、検査プログラム記憶部214、検査履歴情報記憶部215を含んで構成される。 FIG. 2 shows a functional block diagram of the test management device 10 and data server 20 according to this application example. As shown in FIG. 2, the data server 20 includes a component inspection constraint design storage section 211, an inspection coverage information storage section 212, a product number group storage section 213, an inspection program storage section 214, and an inspection history information storage section 215. Ru.

データサーバ20についての詳細は後述するが、検査カバレッジ情報記憶部212は、検査対象となる部品実装基板に実装される部品の部品品番ごとに、生産ラインに設けられる検査装置の組み合わせごとに、検査対象となる部品の不良を検出し得る検査項目及びいずれの検査装置が該検査項目に係る検査を実施するかを定める情報である検査カバレッジ情報を一組以上記憶している。また、検査プログラム記憶部214は、検査カバレッジ情報を参照することにより部品実装基板に対して各検査装置が実施する検査の内容を定める検査プログラムを記憶している。 Although the details of the data server 20 will be described later, the inspection coverage information storage unit 212 stores the inspection coverage information storage unit 212 for each component number of the component mounted on the component mounting board to be inspected, and for each combination of inspection equipment installed on the production line. It stores one or more sets of inspection coverage information, which is information that determines inspection items that can detect defects in target parts and which inspection apparatus will perform inspections related to the inspection items. In addition, the inspection program storage unit 214 stores an inspection program that determines the content of inspection to be performed by each inspection apparatus on the component mounting board by referring to the inspection coverage information.

各部品の不良を検出する検査項目について、検査装置によってどのような検査(検査項目)を実施し得るかは異なっている。また、複数の異なる検査装置で、ある不良を検出し得る検査(検査項目)をそれぞれ実施できる場合もある。このため、本適用例に係る検査管理システムにおいては、予め、部品品番ごとにどのような検査項目をいずれの検査装置で実施するかを検査カバレッジ情報として定めて、記憶している。そして、後述の検査プログラム作成の際に、当該検査カバレッジ情報を参照することで、不良の見落としが無く
検査装置間で重複した検査が実施されることを防止する検査プログラムを作成することが可能になる。
Regarding inspection items for detecting defects in each component, the types of inspections (inspection items) that can be performed differ depending on the inspection apparatus. Further, in some cases, a plurality of different inspection devices can each perform an inspection (inspection item) that can detect a certain defect. For this reason, in the inspection management system according to this application example, inspection coverage information that indicates which inspection items are to be performed by which inspection equipment for each part number is determined and stored in advance. By referring to the inspection coverage information when creating an inspection program (described later), it is possible to create an inspection program that prevents defects from being overlooked and prevents duplicate inspections from being performed between inspection devices. Become.

なお、生産ラインに配置される検査装置の組み合わせとして、様々な態様が想定され、これに応じた検査項目の組み合わせが設定される。例えば、リフロー後の検査に外観検査装置とX線検査を用いる場合もあるし、はんだ印刷後検査を行わないライン構成も想定し得る。また、実装される部品の特徴や配置関係によっては、特定の検査装置・検査項目では不良を適切に検査できないことがある(例えば、反射率の高い表面の部品では部品高さを検査項目にすることは適切でないなど)。このように、様々な検査装置の組み合わせや部品の特性などに応じて、部品品番ごとに検出すべき不良を検査するために必要な検査項目・検査装置の組み合わせを複数バリエーション定めておくことが望ましい。 Note that various combinations of inspection devices arranged on the production line are assumed, and combinations of inspection items are set accordingly. For example, a visual inspection device and an X-ray inspection may be used for the post-reflow inspection, or a line configuration may be envisaged in which no post-solder printing inspection is performed. Also, depending on the characteristics and arrangement of the components to be mounted, it may not be possible to properly inspect defects using a specific inspection device or inspection item (for example, for components with highly reflective surfaces, component height may be an inspection item). (for example, it is not appropriate to do so). In this way, it is desirable to define multiple variations of the inspection items and combinations of inspection devices necessary to inspect defects that should be detected for each part number, depending on the combination of various inspection devices and the characteristics of the parts. .

このため、本適用例に係る検査カバレッジ情報記憶部212には、標準的な検査項目及び検査装置の組み合わせを定める検査カバレッジ情報(第1バリエーション)の他に、これとは異なる検査項目及び検査装置の組み合わせ(他のバリエーション)がある場合には、このようなバリエーション違いの検査カバレッジ情報も記憶される。 Therefore, the inspection coverage information storage unit 212 according to this application example includes inspection coverage information (first variation) that defines the combination of standard inspection items and inspection devices, as well as inspection items and inspection devices that are different from this. If there are combinations (other variations), inspection coverage information for these different variations is also stored.

ここで、図3に、生産ラインに配置される検査装置の組み合わせの想定に応じて設定された検査カバレッジ情報のバリエーションと、各バリエーションについての検査カバレッジ情報を参照する検査プログラムにおいて定められる検査内容の関係の一例を示す説明図を示す。なお、本明細書及び各図面において、はんだ印刷後検査をP、マウント後検査をZ、リフロー後外観検査装置をS、リフロー後X線検査をXなどとも表記する。 Here, Figure 3 shows the variations of inspection coverage information set according to the assumed combination of inspection equipment arranged on the production line, and the inspection contents defined in the inspection program that refers to the inspection coverage information for each variation. An explanatory diagram showing an example of a relationship is shown. Note that in this specification and each drawing, the post-solder printing inspection is also expressed as P, the post-mounting inspection as Z, the post-reflow appearance inspection device as S, the post-reflow X-ray inspection as X, etc.

図3に示すように、生産ラインに配置される検査装置の組み合わせとして、様々な態様が想定され、これに応じた検査のバリエーションが設定される。具体的には、外観検査装置Y3のみが配置されリフロー後外観検査のみで検出すべき不良の全てを検査するバリエーションがある一方、はんだ印刷検査装置Y1、マウント後検査装置Y2、外観検査装置Y3、X線検査装置Y4の全ての検査装置を備え、検出すべき不良の検査をZSXの検査工程で分担するバリエーションも存在する。 As shown in FIG. 3, various combinations of inspection devices arranged on a production line are assumed, and inspection variations are set accordingly. Specifically, there is a variation in which only the visual inspection device Y3 is installed and inspects all the defects that should be detected only by the post-reflow visual inspection, while the solder printing inspection device Y1, the post-mounting inspection device Y2, the visual inspection device Y3, There is also a variation in which all the inspection devices of the X-ray inspection device Y4 are provided and the inspection of defects to be detected is shared in the ZSX inspection process.

そして、これらのバリエーションに応じて各検査装置で実施する検査項目及び当該検査項目における検査パラメータを定める検査プログラムが作成され、検査プログラム記憶部214に記憶される。 Then, an inspection program that defines inspection items to be performed by each inspection apparatus and inspection parameters for the inspection items is created according to these variations, and is stored in the inspection program storage unit 214.

また、図2に示すように、検査管理装置10は、制御部110、入力部120、画像表示部130を有しており、制御部110はさらに機能モジュールとして、データ読出し部111、UI制御部112、検査内容設定部113、シミュレーション実行部114、検査カバレッジ判定部115、適用プログラム決定部116を備えている。 Further, as shown in FIG. 2, the test management device 10 has a control section 110, an input section 120, and an image display section 130, and the control section 110 further includes a data reading section 111 and a UI control section as functional modules. 112, an inspection content setting section 113, a simulation execution section 114, an inspection coverage determination section 115, and an application program determination section 116.

検査管理装置10についての詳細は後述するが、制御部110における適用プログラム決定部116は、生産ラインに設けられる検査装置のそれぞれが、いずれの検査カバレッジ情報を参照する検査プログラムに基づいて検査対象(部品)の検査を実施するのかを決定する。 Although the details of the inspection management device 10 will be described later, the applicable program determining unit 116 in the control unit 110 determines which inspection target ( (parts) to be inspected.

ここで、適用プログラム決定部116が決定する、各検査装置における検査プログラムの適用について説明する。図4Aは本適用例に係る生産ラインにおいて、はんだ印刷検査装置Y1、マウント後検査装置Y2、外観検査装置Y3、X線検査装置Y4をそれぞれ一つずつ設けた場合の検査構成を示す図である。そして図4Bは、部品品番Aの部品の検査について、図4Aの検査構成に合致したバリエーションの検査カバレッジ情報を参照する検査プログラムを各検査装置に適用した際にそれぞれの検査装置で行う検査の内容を簡略
的に示す説明図である。即ち、図4Bに示す表は、適用プログラム決定部116が、図3における「PZSXライン用(ZSX検査分担)」のバリエーションに係る検査カバレッジ情報を参照する検査プログラムを、各検査装置に適用することを決定した場合の検査分担を示している。
Here, application of the inspection program to each inspection apparatus determined by the application program determination unit 116 will be explained. FIG. 4A is a diagram showing an inspection configuration when one each of a solder print inspection device Y1, a post-mount inspection device Y2, an appearance inspection device Y3, and an X-ray inspection device Y4 are provided in a production line according to this application example. . FIG. 4B shows the contents of the inspection performed by each inspection device when an inspection program that refers to the inspection coverage information of a variation that matches the inspection configuration of FIG. 4A is applied to each inspection device regarding the inspection of the component number A. It is an explanatory view showing simply. That is, the table shown in FIG. 4B indicates that the application program determining unit 116 applies the inspection program that refers to the inspection coverage information related to the variation of "for PZSX line (ZSX inspection assignment)" in FIG. 3 to each inspection device. The division of inspections is shown in the table below.

ここで、図3における右欄で、「S検査」などとあるのはリフロー後外観検査、即ち外観検査装置Y3で行う検査の内容(検査項目、検査パラメータ)を定義する検査プログラムであることを示している。また、括弧書きで「単独」とあるのは、当該検査装置(検査工程)のみで、検出すべき不良全ての検査を行うことを示している。また、括弧書きで「〇〇分担」とあるのは、〇〇に該当する検査装置と検査を分担することを前提とした検査項目及び検査パラメータが設定されていることを示す。 Here, in the right column of FIG. 3, "S inspection" etc. refers to the post-reflow visual inspection, that is, the inspection program that defines the inspection contents (inspection items, inspection parameters) to be performed by the visual inspection device Y3. It shows. Furthermore, the word "single" in parentheses indicates that all defects to be detected are inspected only by the inspection device (inspection process). In addition, "XX sharing" in parentheses indicates that the inspection items and inspection parameters are set on the premise that the inspection will be shared with the inspection equipment corresponding to XX.

次に、図5A及び図5Bに基づいて説明する。図5Aは本適用例に係る生産ラインにおいて、図4Aの場合とは異なる検査装置の組み合わせの事例を示しており、外観検査装置Y3が存在しない検査構成となっている。このような場合には、適用プログラム決定部116は、図3における「PZXライン用(ZS検査分担)」のバリエーションに係る検査カバレッジ情報を参照する検査プログラムを各検査装置に適用する。そのように適用された場合の検査分担を示すのが図5Bの表である。図5Bに示すように、Sの工程での検査を行う検査装置が含まれていないため、図4Bでは外観検査装置Y3が行っていた「はんだ濡れ不良」の検査を、X工程即ちX線検査装置Y4で行う検査プログラムが適用されている。 Next, a description will be given based on FIGS. 5A and 5B. FIG. 5A shows an example of a combination of inspection devices different from the case of FIG. 4A in the production line according to this application example, and has an inspection configuration in which the visual inspection device Y3 is not present. In such a case, the applied program determining unit 116 applies to each inspection apparatus an inspection program that refers to the inspection coverage information related to the variation "for PZX line (ZS inspection assignment)" in FIG. 3. The table in FIG. 5B shows the inspection assignment when applied in this manner. As shown in FIG. 5B, since the inspection device that performs the inspection in the S process is not included, in FIG. An inspection program performed by device Y4 is applied.

なお、これまでは、図4Aに示すようなPZSXが揃った検査構成であっても、或いは図5Aに示すようなPZXからなる検査工程であっても、それぞれの検査構成に応じた検査カバレッジ情報が、検査カバレッジ情報記憶部212に記憶されている前提で説明を行った。しかしながら、図3に示した説明図はあくまで説明のために多様な検査構成に応じた検査カバレッジ情報が設定(記憶)されている事例を示したものであり、実際には想定し得る全ての検査構成を網羅した検査カバレッジ情報が設定されているとは限らない。 In addition, until now, even if the inspection configuration includes all PZSXs as shown in FIG. 4A, or the inspection process consists of PZXs as shown in FIG. 5A, inspection coverage information according to each inspection configuration has been The explanation has been made on the assumption that the information is stored in the inspection coverage information storage unit 212. However, the explanatory diagram shown in Figure 3 shows an example in which inspection coverage information is set (stored) according to various inspection configurations for the purpose of explanation only, and in reality, all possible inspections are set (stored). Inspection coverage information that covers all configurations is not necessarily set.

次は、図6A及び図6Bに基づいて、生産ラインの検査構成に合致した検査カバレッジ情報(のバリエーション)がない場合の事例を示す。図6Aは、図5Aに示すケースと同様に、外観検査装置Y3が存在しない検査構成の生産ラインを示している。そして、図6A及び図6Bに示すケースでは、検査カバレッジ情報記憶部212に、当該検査構成に合致するバリエーションの検査カバレッジ情報が記憶されておらず、PZSXの検査構成に対応するバリエーションの検査カバレッジ情報のみが記憶されているものとする。このような場合には、適用プログラム決定部116は、図6Bに示すように、はんだ印刷検査装置Y1、マウント後検査装置Y2については、PZSXの検査構成に対応するバリエーションの検査カバレッジ情報を参照する検査プログラムを適用することを決定する。さらに、X線検査装置Y4には、該検査装置のみで検査が完結する一部の検査項目(ボイド不良を検出する検査項目)については、PZSXの検査構成に対応するバリエーションの検査カバレッジ情報を参照する検査プログラムを適用する。そして、Sの検査工程で検出することになっている「濡れ不良」と、SとXの検査を組み合わせて検出することになっている「接合状態不良」については、目視検査を実施することを決定する。ここで、目視検査の実施はどのような態様で行われてもよいが、例えばリフロー後のX検査の後に設けられる図示しない目視検査装置に部品実装基板を流すようにしてもよい。 Next, based on FIGS. 6A and 6B, a case will be described in which there is no (variation of) inspection coverage information that matches the inspection configuration of the production line. Similar to the case shown in FIG. 5A, FIG. 6A shows a production line with an inspection configuration in which the visual inspection device Y3 is not present. In the cases shown in FIGS. 6A and 6B, the inspection coverage information storage unit 212 does not store the inspection coverage information of the variation that matches the inspection configuration, but the inspection coverage information of the variation that corresponds to the inspection configuration of PZSX. It is assumed that only the In such a case, the applied program determining unit 116 refers to the inspection coverage information of the variation corresponding to the PZSX inspection configuration for the solder print inspection device Y1 and the post-mount inspection device Y2, as shown in FIG. 6B. Decide to apply an inspection program. In addition, for some inspection items (inspection items that detect void defects) that can be completed by the X-ray inspection device only with the X-ray inspection device Y4, refer to the inspection coverage information of the variation corresponding to the inspection configuration of PZSX. Apply the inspection program. Visual inspection will be conducted for "wetting defects" which are to be detected in the S inspection process and "bonding defects" which are to be detected by combining the S and X inspections. decide. Here, the visual inspection may be carried out in any manner; for example, the component mounting board may be passed through a visual inspection device (not shown) provided after the X-inspection after reflow.

以上のような本適用例に係る検査管理システム1によれば、生産ラインごとに、当該ラインの検査構成に応じた適切な検査プログラムがある場合には、当該ラインに設けられる各検査装置には検査構成に応じた最適な検査プログラムを適用することができる。一方、検査構成に応じた適切な検査プログラムが無い場合であっても、各検査装置において実施
可能な検査項目を含む検査カバレッジ情報がある場合には当該検査カバレッジ情報を参照する検査プログラムを適用することで、各検査装置において実施可能な検査項目の検査は実施することができ、いずれの検査装置でも検出できない、或いは適切に検査が行えない不良については、目視検査によってカバーすることが可能になる。
According to the inspection management system 1 according to the present application example as described above, if each production line has an appropriate inspection program according to the inspection configuration of the line, each inspection device installed on the line An optimal inspection program can be applied depending on the inspection configuration. On the other hand, even if there is no inspection program suitable for the inspection configuration, if there is inspection coverage information that includes inspection items that can be performed by each inspection device, an inspection program that refers to the inspection coverage information is applied. This makes it possible to perform inspections on inspection items that can be carried out by each inspection device, and to cover defects that cannot be detected or properly inspected by any inspection device through visual inspection. .

<実施形態1>
続けて、以下では本発明を実施するための形態の例である検査管理システム1についてさらに詳しく説明する。
<Embodiment 1>
Next, the inspection management system 1, which is an example of a mode for carrying out the present invention, will be described in more detail below.

(各検査装置の詳細)
説明を図1に戻して、本実施形態に係る検査管理システム1の部品実装ラインが備える各検査装置Y1、Y2、Y3、Y4の詳細について説明する。なお、各検査装置は、良品と不良品の自動仕分けの他、検査結果やその分析結果に基づき各製造装置の動作にフィードバックする機能も有している。
(Details of each inspection device)
Returning to FIG. 1, details of each of the inspection devices Y1, Y2, Y3, and Y4 included in the component mounting line of the inspection management system 1 according to the present embodiment will be explained. In addition to automatically sorting into good and defective products, each inspection device also has a function of feeding back the inspection results and analysis results to the operations of each manufacturing device.

はんだ印刷検査装置Y1は、はんだ印刷装置X1から搬出された基板に対し、はんだペーストの印刷状態を検査するための装置である。はんだ印刷検査装置Y1では、基板上に印刷されたはんだペーストを2次元ないし3次元的に計測し、その計測結果から各種の検査項目について正常値(許容範囲)か否かの判定を行う。検査項目としては、例えば、はんだの体積・面積・高さ・位置ずれ・形状などがある。はんだペーストの2次元計測には、イメージセンサ(カメラ)などを用いることができ、3次元計測には、レーザ変位計や、位相シフト法、空間コード化法、光切断法などを利用することができる。 The solder printing inspection device Y1 is a device for inspecting the printed state of solder paste on a board taken out from the solder printing device X1. The solder print inspection device Y1 measures the solder paste printed on the board two-dimensionally or three-dimensionally, and based on the measurement results, determines whether or not various inspection items have normal values (tolerable ranges). Inspection items include, for example, the volume, area, height, positional shift, and shape of the solder. For two-dimensional measurement of solder paste, an image sensor (camera), etc. can be used, and for three-dimensional measurement, a laser displacement meter, phase shift method, spatial coding method, optical cutting method, etc. can be used. can.

マウント後検査装置Y2は、マウンタX2から搬出された基板に対し、電子部品の配置状態を検査するための装置である。マウント後検査装置Y2では、はんだペーストの上に載置された部品(部品本体、電極など部品の一部でもよい)を2次元ないし3次元的に計測し、その計測結果から各種の検査項目について正常値(許容範囲)か否かの判定を行う。検査項目としては、例えば、部品の位置ずれ、角度(回転)ずれ、欠品(部品が配置されていないこと)、部品違い(異なる部品が配置されていること)、極性違い(部品側と基板側の電極の極性が異なること)、表裏反転(部品が裏向きに配置されていること)、部品高さなどがある。はんだ印刷検査と同様、電子部品の2次元計測には、イメージセンサ(カメラ)などを用いることができ、3次元計測には、レーザ変位計や、位相シフト法、空間コード化法、光切断法などを利用することができる。 The post-mount inspection device Y2 is a device for inspecting the placement state of electronic components on the board taken out from the mounter X2. The post-mount inspection device Y2 measures the component placed on the solder paste in two or three dimensions (the component body, electrodes, or other part of the component), and uses the measurement results to determine various inspection items. Determine whether the value is normal (tolerable range). Inspection items include, for example, misalignment of parts, misalignment of angle (rotation), missing parts (components are not placed), wrong parts (different parts are placed), and wrong polarity (between the part side and the board). (the polarity of the side electrodes is different), front-back reversal (the parts are placed face down), and the height of the parts. Similar to solder print inspection, image sensors (cameras) can be used for two-dimensional measurement of electronic components, while laser displacement meters, phase shift methods, spatial coding methods, and optical cutting methods can be used for three-dimensional measurements. etc. can be used.

外観検査装置Y3は、リフロー炉X3から搬出された基板に対し、はんだ付けの品質を検査するための装置である。外観検査装置Y3では、リフロー後のはんだ部分を2次元ないし3次元的に計測し、その計測結果から各種の検査項目について正常値(許容範囲)か否かの判定を行う。検査項目としては、部品検査と同じ項目に加え、はんだフィレット形状の良否なども含まれる。はんだの形状計測には、上述したレーザ変位計、位相シフト法、空間コード化法、光切断法などの他、いわゆるカラーハイライト方式(R、G、Bの照明を異なる入射角ではんだ面に当て、各色の反射光を天頂カメラで撮影することで、はんだの3次元形状を2次元の色相情報として検出する方法)を用いることができる。 The appearance inspection device Y3 is a device for inspecting the quality of soldering on the board taken out from the reflow oven X3. The appearance inspection device Y3 measures the solder portion after reflow two-dimensionally or three-dimensionally, and determines whether or not various inspection items have normal values (tolerable ranges) based on the measurement results. In addition to the same items as component inspection, the inspection items also include the quality of the solder fillet shape. In addition to the laser displacement meter, phase shift method, spatial coding method, and optical cutting method mentioned above, the so-called color highlight method (R, G, and B illumination is applied to the solder surface at different incident angles) is used to measure the shape of solder. The three-dimensional shape of the solder can be detected as two-dimensional hue information by capturing the reflected light of each color with a zenith camera.

X線検査装置Y4は、X線像を用いて基板のはんだ付けの状態を検査するための装置である。例えば、BGA(Ball Grid Array)、CSP(Chip Size Package)などのパッケージ部品や多層基板の場合には、はんだ接合部が部品や基板の下に隠れているため、外観検査装置Y3では(つまり外観画像では)はんだの状態を検査することができない。X線検査装置Y4は、このような外観検査の弱点を補完するための装置である。X線検査装置Y4の検査項目としては、例えば、部品の位置ずれ、はんだ高さ、はんだ体積、はんだボール径、バックフィレットの長さ、はんだ接合の良否
などがある。なお、X線像としては、X線透過画像を用いてもよいし、CT(Computed Tomography)画像を用いてもよい。なお、以下の説明においては外観検査装置Y3及びX線検査装置Y4をまとめて、リフロー後検査装置ということもある。
The X-ray inspection device Y4 is a device for inspecting the soldering state of a board using an X-ray image. For example, in the case of package parts such as BGA (Ball Grid Array) and CSP (Chip Size Package), and multilayer boards, the solder joints are hidden under the parts and boards, so the visual inspection equipment Y3 (in other words, the external appearance image) cannot inspect the condition of the solder. The X-ray inspection device Y4 is a device to compensate for such weaknesses in visual inspection. Inspection items of the X-ray inspection device Y4 include, for example, misalignment of components, solder height, solder volume, solder ball diameter, back fillet length, and quality of solder joints. Note that as the X-ray image, an X-ray transmission image or a CT (Computed Tomography) image may be used. In the following description, the visual inspection device Y3 and the X-ray inspection device Y4 may be collectively referred to as a post-reflow inspection device.

また、本実施形態に係る各検査装置Y1、Y2、Y3、Y4は、それぞれ検査対象品を目視確認するための表示装置を備えていてもよく、当該目視用の表示装置は各検査装置とは別体の端末として(即ち、目視検査装置として)部品実装ラインに設けられていてもよい。 Further, each of the inspection devices Y1, Y2, Y3, and Y4 according to the present embodiment may be provided with a display device for visually confirming the inspection object, and the visual display device is different from each inspection device. It may be provided as a separate terminal (that is, as a visual inspection device) in the component mounting line.

(検査管理装置)
一方、本実施形態に係る検査管理システム1の検査管理装置10は、1台のコンピュータにより構成してもよいし、複数のコンピュータにより構成してもよい。あるいは、製造装置X1、X2、X3や検査装置Y1、Y2、Y3、Y4のいずれかの装置が内蔵するコンピュータに、検査管理装置10の機能の全部又は一部を実装することも可能である。あるいは、検査管理装置10の機能の一部をネットワーク上のサーバ(クラウドサーバなど)により実現してもよい。
(Inspection management device)
On the other hand, the test management device 10 of the test management system 1 according to the present embodiment may be configured by one computer or may be configured by a plurality of computers. Alternatively, it is also possible to implement all or part of the functions of the inspection management device 10 in a computer built in any one of the manufacturing devices X1, X2, and X3 and the inspection devices Y1, Y2, Y3, and Y4. Alternatively, some of the functions of the test management device 10 may be realized by a server on a network (such as a cloud server).

(データサーバ)
データサーバ20は、大容量のストレージを有する端末であり、前述の検査カバレッジ情報や検査プログラム以外にも、様々なデータが記憶される。検査管理装置10や、製造装置X1、X2、X3および検査装置Y1、Y2、Y3、Y4に保有する情報を送信したり、逆にこれらの装置から情報を受信したりする。
(data server)
The data server 20 is a terminal having a large storage capacity, and stores various data in addition to the above-mentioned inspection coverage information and inspection programs. It transmits information held to the inspection management device 10, manufacturing devices X1, X2, and X3, and inspection devices Y1, Y2, Y3, and Y4, and conversely receives information from these devices.

(機能ブロック)
再び図2を参照して、本実施形態の検査管理装置10、データサーバ20に係る機能ブロックについて説明する。図2が示すように、データサーバ20は、部品検査制約設計記憶部211、検査カバレッジ情報記憶部212、品番グループ記憶部213、検査プログラム記憶部214、検査履歴情報記憶部215を含んで構成される。
(Functional block)
Referring again to FIG. 2, functional blocks related to the test management device 10 and data server 20 of this embodiment will be described. As shown in FIG. 2, the data server 20 includes a component inspection constraint design storage section 211, an inspection coverage information storage section 212, a product number group storage section 213, an inspection program storage section 214, and an inspection history information storage section 215. Ru.

部品検査制約設計記憶部211は、部品実装基板に実装される部品の部品種ごとに、検出されるべき一以上の不良の種類を定義づけた部品検査制約設計情報を記憶するデータベースである。 The component inspection constraint design storage unit 211 is a database that stores component inspection constraint design information that defines one or more types of defects to be detected for each type of component mounted on a component mounting board.

検査カバレッジ情報記憶部212については上述したが、部品の部品品番ごとに、部品実装ラインに設けられる検査装置の組み合わせに応じて部品検査制約設計情報における不良のそれぞれを検出し得る検査項目の組み合わせを定める検査カバレッジ情報を一組以上記憶するデータベースである。 As described above, the inspection coverage information storage unit 212 stores a combination of inspection items that can detect each defect in the component inspection constraint design information according to the combination of inspection devices provided on the component mounting line for each part number of the component. This is a database that stores one or more sets of defined inspection coverage information.

品番グループ記憶部213は、同一内容の検査カバレッジ情報が適用される複数の部品品番をグルーピングした品番グループ情報を記憶する。検査カバレッジ情報は、品番グループ単位で設定・変更されるようになっていてもよい。 The product number group storage unit 213 stores product number group information in which a plurality of component product numbers to which inspection coverage information of the same content is applied are grouped. Inspection coverage information may be set and changed on a product number group basis.

また、検査プログラム記憶部214は、上述の検査カバレッジ情報を用いて部品実装基板に対して各検査装置が実施する検査の内容を定める検査プログラムを記憶するデータベースである。また、検査履歴情報記憶部215は、過去に各検査装置Y1、Y2、Y3、Y4において実施された検査の結果(画像データ、三次元形状データ、最終良否判定結果など)に係る検査履歴情報を記憶するデータベースである。 In addition, the inspection program storage unit 214 is a database that stores an inspection program that determines the content of the inspection that each inspection apparatus performs on the component mounting board using the above-mentioned inspection coverage information. In addition, the inspection history information storage unit 215 stores inspection history information related to the results of inspections (image data, three-dimensional shape data, final pass/fail judgment results, etc.) conducted in each of the inspection apparatuses Y1, Y2, Y3, and Y4 in the past. This is a database that stores information.

本実施形態において、部品検査制約設計記憶部211、検査カバレッジ情報記憶部212、品番グループ記憶部213、検査プログラム記憶部214、検査履歴情報記憶部21
5は、格納されている情報を相互に参照・連動可能である、いわゆる関係データベースとして機能する。即ち、後述する検査プログラムは、部品検査制約設計情報に係る不良の種類の情報、検査カバレッジ情報に係る検査項目(及びその検査パラメータ)の情報を保持せずに、部品検査制約設計記憶部211、検査カバレッジ情報記憶部212に記憶されている情報を参照することによって、各検査装置が実施する検査の内容を定義するようになっていてもよい。
In this embodiment, a component inspection constraint design storage section 211 , an inspection coverage information storage section 212 , a product number group storage section 213 , an inspection program storage section 214 , an inspection history information storage section 21
5 functions as a so-called relational database in which stored information can be referred to and interlocked with each other. That is, the inspection program described below does not hold information on defect types related to the component inspection constraint design information and information on inspection items (and their inspection parameters) related to the inspection coverage information, but instead stores the component inspection constraint design storage unit 211, By referring to information stored in the inspection coverage information storage unit 212, the content of the inspection to be performed by each inspection device may be defined.

また、上述のように、検査管理装置10は、制御部110、入力部120、画像表示部130を有しており、制御部110はさらに機能モジュールとして、データ読出し部111、UI制御部112、検査内容設定部113、シミュレーション実行部114、検査カバレッジ判定部115、適用プログラム決定部116を備えている。 Further, as described above, the test management device 10 includes a control section 110, an input section 120, and an image display section 130, and the control section 110 further includes a data reading section 111, a UI control section 112, and a UI control section 112 as functional modules. It includes an inspection content setting section 113, a simulation execution section 114, an inspection coverage determination section 115, and an application program determination section 116.

入力部120は、検査管理装置10への入力手段であり、典型的にはキーボード、マウス、コントローラ、タッチパネルなどによって構成される。また、画像表示部130は、後述する検査カバレッジ設定確認画像などのユーザーインターフェース画像や、その他の各種情報を出力する手段であり、典型的には液晶ディスプレイなどの表示装置によって構成される。 The input unit 120 is an input means to the test management apparatus 10, and is typically configured with a keyboard, a mouse, a controller, a touch panel, etc. The image display unit 130 is a means for outputting user interface images such as an inspection coverage setting confirmation image to be described later, and other various information, and is typically configured by a display device such as a liquid crystal display.

続けて、制御部110が備える各機能モジュールについて説明する。データ読出し部111は、データサーバ20から検査プログラムの確認・設定の処理に係る各種の情報を読み出してUI制御部112、検査内容設定部113、シミュレーション実行部114、検査カバレッジ判定部115、適用プログラム決定部116に提供する。 Next, each functional module included in the control unit 110 will be explained. The data reading unit 111 reads out various information related to inspection program confirmation/setting processing from the data server 20, and supplies the information to the UI control unit 112, inspection content setting unit 113, simulation execution unit 114, inspection coverage determination unit 115, and application program. The information is provided to the determining unit 116.

UI制御部112は、検査プログラムの確認・設定に係る画像を画像表示部130に表示してユーザーの操作を受け付け、検査内容設定部113と協働して操作に応じた処理を実行する。即ち、UI制御部112が作成し、画像表示部130に表示する画像には、ユーザーインターフェースを兼ねるUI画像が含まれる。図7にこのような画像の一例である検査カバレッジ設定確認画像を示す。図7に示すように、本実施形態に係る検査カバレッジ設定確認画像は、一つの部品品番を一単位として、部品検査制約設計情報における不良のそれぞれを部品実装ラインに設けられる検査装置のいずれが検出するのかを一覧で表示するものとなっている。より具体的には、一方の軸に部品検査制約設計情報における不良の種類の一覧を示し、他方の軸に部品実装ラインに設けられる各検査装置の一覧を示す行列の一覧表を含み、当該一覧表において、不良を検出する検査装置を示す行又は列と、検出される不良を示す行又は列とが交差する欄に、不良を検出する検査項目の名称が表示される。 The UI control unit 112 displays images related to inspection program confirmation and settings on the image display unit 130, receives user operations, and executes processing in accordance with the operations in cooperation with the inspection content setting unit 113. That is, the image created by the UI control unit 112 and displayed on the image display unit 130 includes a UI image that also serves as a user interface. FIG. 7 shows an inspection coverage setting confirmation image that is an example of such an image. As shown in FIG. 7, the inspection coverage setting confirmation image according to this embodiment shows which inspection equipment installed in the component mounting line detects each defect in the component inspection constraint design information, with one component part number as one unit. It displays a list of what to do. More specifically, one axis shows a list of defect types in the component inspection constraint design information, and the other axis includes a matrix list showing a list of each inspection device installed in the component mounting line. In the table, the name of the inspection item that detects a defect is displayed in the column where the row or column indicating the inspection device that detects the defect intersects with the row or column indicating the detected defect.

検査内容設定部113は、検査プログラムの確認・設定の処理に必要な情報(部品検査制約設計情報、検査カバレッジ情報、品番グループ情報など)をデータサーバ20から読み出してUI制御部112に提供するとともに、ユーザーの操作によって入力される情報に基づいて検査プログラムを作成(新規設定、変更)する。具体的には、検査カバレッジ設定確認画像に示すようなユーザーインターフェースを介して、ユーザーに部品検査制約設計情報や検査カバレッジ情報(に含まれる、検査項目や検査パラメータ)などを提示するとともに、各情報の新規入力や変更を受け付けることによって、検査プログラムを作成する。 The inspection content setting unit 113 reads information necessary for checking and setting the inspection program (component inspection constraint design information, inspection coverage information, product number group information, etc.) from the data server 20 and provides it to the UI control unit 112. , create an inspection program (new settings, changes) based on information input by user operations. Specifically, through a user interface as shown in the inspection coverage setting confirmation image, the user is presented with component inspection constraint design information and inspection coverage information (including inspection items and inspection parameters), and each information An inspection program is created by accepting new inputs and changes.

また、検査内容設定部113は、検査プログラム作成の過程で、部品検査制約設計情報、検査カバレッジ情報、品番グループ情報などの作成(新規設定、変更)を行う場合もある。なお、作成された検査プログラムは検査プログラム記憶部214に、部品検査制約設計情報は部品検査制約設計記憶部211に、検査カバレッジ情報は検査カバレッジ情報記憶部212に、品番グループ情報は品番グループ記憶部213に、それぞれ格納される。 In addition, the inspection content setting unit 113 may create (newly set or change) component inspection constraint design information, inspection coverage information, product number group information, etc. in the process of creating an inspection program. The created inspection program is stored in the inspection program storage section 214, component inspection constraint design information is stored in the component inspection constraint design storage section 211, inspection coverage information is stored in the inspection coverage information storage section 212, and product number group information is stored in the product number group storage section. 213, respectively.

シミュレーション実行部114は、検査履歴情報記憶部215から読出した過去の検査情報(画像データ、三次元形状データ)に基づいて、検査カバレッジ設定確認画像の一覧表において現在設定されている検査内容(検査項目及び検査パラメータ)によるシミュレーション検査を実行する。当該シミュレーションの結果により、過去の検査結果に照らして、現在設定されている検査内容で不良の見逃し・見過ぎが生じる場合には、UI制御部112に当該情報を提供する。情報の提供を受けたUI制御部112は、見逃し、見過ぎが生じることを検査カバレッジ設定確認画像において報知する表示を行う。 The simulation execution unit 114 selects the currently set inspection contents (inspection (items and inspection parameters). Based on the results of the simulation, if the currently set inspection details result in defects being overlooked or overlooked, the information is provided to the UI control unit 112. The UI control unit 112, which has received the information, displays a notification on the inspection coverage setting confirmation image that the inspection coverage setting confirmation image will be overlooked or overlooked.

図8に、現在の検査内容で見逃し・見過ぎが生じることを示す検査カバレッジ設定確認画像の一例を示す。図8に示すように、現在設定されている検査内容において不良の見逃し・見過ぎが生じる場合には、例えば、当該見逃し・見過ぎが生じる検査項目の名称を識別可能に強調表示する。図8の例では、検査装置Y2において行われるマウント後検査の「部品違い(高さ)」の検査項目の検査では見逃しが発生することを示し、検査装置Y4で行われるX線検査の「ボイド(面積)」の検査項目では見過ぎが発生することを示している。 FIG. 8 shows an example of an inspection coverage setting confirmation image indicating that the current inspection content may cause oversight or over-sighting. As shown in FIG. 8, if a defect is overlooked or overlooked in the currently set inspection content, for example, the name of the inspection item that is missed or overlooked is highlighted so that it can be identified. The example in FIG. 8 shows that an oversight occurs when inspecting the inspection item "component difference (height)" in the post-mount inspection performed in the inspection device Y2, and "voids" in the X-ray inspection performed in the inspection device Y4. (Area)" indicates that over-examination occurs.

検査カバレッジ判定部115は、部品ごとに、現在設定されている検査カバレッジが、部品検査制約設計情報における不良種の全てを検出するための検査項目を有しているか否かを判定する。判定の結果、不良のいずれかについて、これを検出するための検査項目が設定されていない場合には、UI制御部112にその旨の情報を提供する。情報の提供を受けたUI制御部112は、検査項目が設定されていない不良種があることをアラートする表示を検査カバレッジ設定確認画像において行う。本実施形態においては、図8における不良種一覧の「不濡れ」の横に表示される「!」のマークがこのようなアラート表示に該当する。 The inspection coverage determining unit 115 determines, for each component, whether the currently set inspection coverage includes inspection items for detecting all types of defects in the component inspection constraint design information. As a result of the determination, if an inspection item for detecting any of the defects is not set, information to that effect is provided to the UI control unit 112. Upon receiving the information, the UI control unit 112 displays an alert on the inspection coverage setting confirmation image that there is a defective type for which inspection items have not been set. In the present embodiment, the "!" mark displayed next to "Not wet" in the list of defective types in FIG. 8 corresponds to such an alert display.

適用プログラム決定部116は、上述したように、生産ラインに設けられる検査装置のそれぞれが、いずれの検査カバレッジ情報を参照する検査プログラムに基づいて検査対象(部品)の検査を実施するのかを決定する。 As described above, the applied program determining unit 116 determines which inspection coverage information each of the inspection apparatuses provided on the production line refers to based on which inspection program the inspection target (part) is to be inspected. .

(検査プログラムの適用処理の流れ)
ここで、適用プログラム決定部116が、各検査装置に適用する検査プログラムを決定する際の処理の流れを、図9、10に基づいて、説明する。図9及び10は、適用プログラム決定部116が各検査装置に適用する検査プログラムを決定し、各検査装置において検査を実施するまでの流れを示すフローチャートである。
(Flow of inspection program application process)
Here, the flow of processing when the applicable program determining unit 116 determines an inspection program to be applied to each inspection apparatus will be explained based on FIGS. 9 and 10. FIGS. 9 and 10 are flowcharts showing the flow from when the application program determining unit 116 determines an inspection program to be applied to each inspection apparatus to when each inspection apparatus executes an inspection.

まず、検査対象となる基板を特定する処理が実施される(ステップS101)。これは、ユーザーが入力部120を介して指定するのであってもよいし、適用プログラム決定部116が、プログラム適用処理の対象となる検査装置が属する部品実装ラインからネットワークを介して、製造に係る基板の情報を取得してもよい。次に、適用プログラム決定部116は、対象となる部品実装ラインに設けられる検査装置の組み合わせに係る情報(検査構成情報)を取得する(S102)。これは、ユーザーが入力部120を介して入力するのであってもよいし、部品実装ラインからネットワークを介して取得するのであってもよい。 First, a process of identifying a substrate to be inspected is performed (step S101). This may be specified by the user via the input unit 120, or the applicable program determining unit 116 may specify the program from the component mounting line to which the inspection device targeted for the program application process belongs via the network. Information about the board may also be acquired. Next, the applied program determining unit 116 acquires information (inspection configuration information) regarding the combination of inspection devices installed in the target component mounting line (S102). This may be input by the user via the input unit 120, or may be obtained from the component mounting line via the network.

そして、適用プログラム決定部116は、特定された基板に実装される部品の部品品番ごとに、取得した検査構成情報に合致する検査カバレッジ情報が検査カバレッジ情報記憶部212に記憶されているか否かの当否を判定する(S103)。ここで、判定結果が「当」であった場合には、適用プログラム決定部116は、取得した検査構成情報に合致する検査カバレッジ情報を参照する検査プログラム(適用処理の対象となる検査装置に係る
もの)を対象の検査装置で実施する検査に適用することを決定する(S104)。そして、当該検査プログラムを、検査プログラム記憶部214から対象検査装置に送信する処理を行う。その後、適用処理の対象となっている検査装置において検査に適用する処理が行われ(S105)、これに基づき検査が実施されて(S106)、一連のフローが終了する。
Then, the applied program determining unit 116 determines whether inspection coverage information that matches the acquired inspection configuration information is stored in the inspection coverage information storage unit 212 for each part number of the component to be mounted on the identified board. It is determined whether it is correct or not (S103). Here, if the determination result is "true", the application program determining unit 116 selects an inspection program (related to the inspection device targeted for the application process) that refers to the inspection coverage information that matches the acquired inspection configuration information. (S104). Then, a process of transmitting the inspection program from the inspection program storage unit 214 to the target inspection apparatus is performed. Thereafter, a process applied to the inspection is performed in the inspection apparatus that is the target of the application process (S105), and an inspection is performed based on this (S106), and the series of flows ends.

一方、ステップS103で取得した検査構成情報に合致する検査カバレッジ情報が検査カバレッジ情報記憶部212に記憶されていないと判定された場合には、適用プログラム決定部116は、対象の検査装置単独で検査が完結する検査カバレッジ情報が記憶されているか否かの当否を判定する(S111)。即ち、検査プログラム適用処理の対象となっている検査装置が外観検査装置Y3であるならば、S単独で検出すべき不良の検査が全て実施できる検査カバレッジ情報が検査カバレッジ情報記憶部212に記憶されているか否かを判定する。ここで、判定の結果が「当」であれば、適用プログラム決定部116は、当該検査カバレッジ情報を参照する検査プログラムを対象の検査装置で実施する検査に適用することを決定する(S112)。そして、当該検査プログラムを検査プログラム記憶部214から対象検査装置に送信する処理を行う。その後、対象の検査装置において当該プログラムが適用され(S113)、これに基づいて検査が実施される(S106)。このような場合には、対象となる検査装置単独で完結する検査内容での検査が実施されるため、生産ライン全体としては、ある不良を検出するために複数の検査装置で重複した検査を実施してしまう可能性はあるが、不良の見逃しを防止することができる。 On the other hand, if it is determined that the inspection coverage information that matches the inspection configuration information acquired in step S103 is not stored in the inspection coverage information storage unit 212, the applied program determination unit 116 performs the inspection on the target inspection apparatus alone. It is determined whether inspection coverage information that is completed is stored (S111). That is, if the inspection device targeted for the inspection program application process is the visual inspection device Y3, inspection coverage information that allows inspection of all defects to be detected by S alone is stored in the inspection coverage information storage unit 212. Determine whether or not the Here, if the determination result is "true", the applied program determining unit 116 determines to apply the inspection program that refers to the inspection coverage information to the inspection performed by the target inspection apparatus (S112). Then, processing is performed to transmit the inspection program from the inspection program storage unit 214 to the target inspection apparatus. Thereafter, the program is applied to the target inspection device (S113), and an inspection is performed based on the program (S106). In such cases, the inspection is carried out with the inspection content that can be completed by the target inspection equipment alone, so for the entire production line, multiple inspections are performed with multiple inspection equipment to detect a certain defect. However, it is possible to prevent failures from being overlooked.

また、ステップS111で、対象の検査装置単独で検査が完結する検査カバレッジ情報も記憶されていないと判断した場合には、適用プログラム決定部116は、対象の装置によって実施される検査項目を含む検査カバレッジ情報が記憶されているか否かの当否を判定する処理を行う(S121)。ここで、判定結果が「当」であった場合には、適用プログラム決定部116は、当該検査カバレッジ情報に含まれる、対象の装置によって実施される検査項目が、対象の検査装置単独で完結する検査項目であるか否かの当否をさらに判定する(S122)。ここで、判定結果が「当」であった場合には、適用プログラム決定部116は、当該検査カバレッジ情報を参照する検査プログラムを対象の検査装置に適用することを決定する(S123)。そして、当該検査プログラムを検査プログラム記憶部214から対象検査装置に送信する処理を行う。その後、対象となっている検査装置において、当該送信された検査プログラムに定義されている、自装置で検査が完結する検査項目の検査内容を適用し(S124)、これに基づいて検査を実施する(S106)。このような場合には、対象となる検査装置において実施し得る検査項目の検査を実施することができるため、生産ラインの検査構成に合致した検査カバレッジ情報が記憶されていない場合であっても、複数の検査カバレッジ情報(を参照する複数の検査プログラム)を組み合わせることにより、各検査装置において自らが実施し得る検査項目の検査を行い、生産ライン全体としては不良の見逃しを抑止する検査を実施することができる。 In addition, if it is determined in step S111 that no inspection coverage information is stored that allows the inspection to be completed by the target inspection device alone, the applicable program determining unit 116 performs an inspection including inspection items to be performed by the target inspection device A process is performed to determine whether coverage information is stored or not (S121). Here, if the determination result is "true", the applicable program determining unit 116 determines whether the inspection items to be performed by the target device included in the inspection coverage information are completed by the target inspection device alone. It is further determined whether or not it is an inspection item (S122). Here, if the determination result is "true", the application program determining unit 116 determines to apply the inspection program that refers to the inspection coverage information to the target inspection apparatus (S123). Then, processing is performed to transmit the inspection program from the inspection program storage unit 214 to the target inspection apparatus. After that, in the target inspection device, the inspection contents of the inspection items that can be completed by the own device, which are defined in the transmitted inspection program, are applied (S124), and the inspection is performed based on this. (S106). In such a case, it is possible to carry out inspections for inspection items that can be carried out by the target inspection equipment, even if inspection coverage information that matches the inspection configuration of the production line is not stored. By combining multiple inspection coverage information (multiple inspection programs that refer to it), each inspection device inspects the inspection items that it can perform, and the entire production line performs inspections that prevent defects from being overlooked. be able to.

一方、ステップS122で、対象の装置によって実施される検査項目が、対象の検査装置単独で完結する検査項目ではない(例えば、図4Bなどにおける接合状態不良の検査項目などの複数工程での検査を組み合わせるもの)と判定した場合には、適用プログラム決定部116は、当該検査装置において検出すべき不良を検査することはできないものとして、目視検査を行うことを決定する(S131)。また、ステップS121で、対象の装置によって実施される検査項目を含む検査カバレッジ情報が記憶されていない、と判定した場合にも、適用プログラム決定部116は、対象装置での検査は不可能として、目視検査を行うことを決定し(S131)、一連のルーチンを終了する。 On the other hand, in step S122, the inspection items performed by the target device are not inspection items that can be completed by the target inspection device alone (for example, the inspection items in multiple steps such as the inspection item for poor bonding in FIG. 4B etc.). If it is determined that the defect to be detected cannot be inspected by the inspection apparatus, the applicable program determination unit 116 determines to perform a visual inspection (S131). Further, even if it is determined in step S121 that the inspection coverage information including the inspection items to be performed by the target device is not stored, the applicable program determining unit 116 determines that the test by the target device is impossible. It is decided to perform a visual inspection (S131), and the series of routines ends.

このように、適用プログラム決定部116は、対象の検査装置で検出すべき不良の検査を実施することが可能な検査プログラムを適用できない(存在しない)場合であっても、
目視による検査の実施を決定するため、不良に対する検査網羅性が確保されていない検査プログラムで検査を行うことを防止することができる。
In this way, the applicable program determining unit 116 can apply the inspection program that is capable of inspecting defects that should be detected by the target inspection device even when the inspection program cannot be applied (does not exist).
Since the implementation of the visual inspection is determined, it is possible to prevent an inspection from being performed using an inspection program that does not ensure comprehensiveness of inspection for defects.

以上のような構成を備える検査管理システム1によれば、ユーザーは複数の検査装置を備える部品実装ラインにおける検査プログラム作成の際に、部品品番単位で、複数の検査装置に対して横断的に、かつ検出すべき不良の種類を網羅して、各検査装置で実施すべき検査の内容を設定することが可能になる。また、このようにして設定した検査プログラムを各検査装置において適用する際に、当該検査装置が属する生産ラインの検査構成に応じて、いずれの検査カバレッジ情報を参照する検査プログラムを適用するか否かの処理を自動で行うことができる。また、適切な検査プログラムが無い場合には目視検査の実施を決定するため、不良に対する検査網羅性が確保されていない検査プログラムで検査を行うことにより、不良品の見逃しが生じる、といった事態を防止することができる。 According to the inspection management system 1 having the above-described configuration, when creating an inspection program for a component mounting line equipped with a plurality of inspection devices, a user can perform the following operations across the plurality of inspection devices for each component part number: In addition, it becomes possible to set the contents of the inspection to be performed by each inspection device, covering all types of defects to be detected. In addition, when applying the inspection program set in this way to each inspection device, it is determined which inspection coverage information to refer to or not depending on the inspection configuration of the production line to which the inspection device belongs. This process can be performed automatically. Additionally, since a decision is made to conduct a visual inspection if there is no appropriate inspection program, it is possible to prevent defective products from being overlooked due to inspection using an inspection program that does not ensure comprehensive inspection coverage for defects. can do.

(変形例)
なお、上記実施形態に係る検査管理システム1では、適用プログラム決定部116は、検査管理装置10の機能モジュールとして備えられる構成であったが、必ずしもこのような構成である必要はない。図11にこのような変形例に係る検査管理システム2の概略構成を示す。なお、本変形例において、実施形態1に係る検査管理システム1と同一の構成要素については、同一の符号を付して説明を省略する。
(Modified example)
Note that in the test management system 1 according to the embodiment described above, the applicable program determining unit 116 is provided as a functional module of the test management device 10, but it does not necessarily have to have such a structure. FIG. 11 shows a schematic configuration of an inspection management system 2 according to such a modification. In addition, in this modification, the same components as those of the test management system 1 according to the first embodiment are given the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.

図11に示すように、本変形例に係る検査管理システム2は、はんだ印刷検査装置Y11、マウント後検査装置Y12、外観検査装置Y13、X線検査装置Y14が、検査管理システム1と異なっており、その他の点は検査管理システム1と同様の構成である。本変形例に係る検査管理システム2では、各検査装置Y11、Y12、Y13、Y14がそれぞれ、適用プログラム決定部Y111、Y121、Y131、Y141、及び検査プログラム記憶部Y112、Y122、Y132、Y142の各機能部を備える構成となっている。 As shown in FIG. 11, the inspection management system 2 according to this modification differs from the inspection management system 1 in the solder print inspection device Y11, the post-mount inspection device Y12, the visual inspection device Y13, and the X-ray inspection device Y14. , the other points have the same configuration as the inspection management system 1. In the inspection management system 2 according to this modification, each of the inspection apparatuses Y11, Y12, Y13, and Y14 has an applied program determination section Y111, Y121, Y131, and Y141, and an inspection program storage section Y112, Y122, Y132, and Y142, respectively. It is configured to include a functional section.

実施形態1に係る検査管理システム1では、検査管理装置10の適用プログラム決定部116が、各検査装置に対して適用する検査プログラムを決定する処理を実施し、データサーバ20から各検査装置に、決定された検査プログラムが送信される構成となっていた。一方、本変形例に係る検査管理システム2では、予め各検査装置Y11、Y12、Y13、Y14の検査プログラム記憶部Y112、Y122、Y132、Y142には、少なくとも自らの検査工程に係る検査プログラムが記憶される構成となっている。 In the test management system 1 according to the first embodiment, the applicable program determining unit 116 of the test management device 10 executes a process of determining a test program to be applied to each test device, and sends information from the data server 20 to each test device. The configuration was such that the determined inspection program was sent. On the other hand, in the inspection management system 2 according to this modification, at least the inspection program related to the own inspection process is stored in advance in the inspection program storage units Y112, Y122, Y132, and Y142 of each inspection device Y11, Y12, Y13, and Y14. The configuration is as follows.

そして、生産ラインにおいて製造される部品実装基板が特定されると、各検査装置Y11、Y12、Y13、Y14の適用プログラム決定部Y111、Y121、Y131、Y141は、自らが実施する検査に係る検査プログラムを決定する処理を行う。なお、各適用プログラム決定部Y111、Y121、Y131、Y141において行われる処理の流れは、検査管理システム1の適用プログラム決定部116が行う図9及び図10に係るフローと略同様である。検査管理システム1と異なるのは、各検査装置において適用する検査プログラムを決定した後は、データサーバ20から検査プログラムを受信するのではなく、各検査プログラム記憶部Y112、Y122、Y132、Y142に格納されている検査プログラムを読み出して適用する点のみである。 Then, when the component mounting board to be manufactured on the production line is specified, the applicable program determination units Y111, Y121, Y131, and Y141 of each of the inspection devices Y11, Y12, Y13, and Y14 select the inspection program related to the inspection that they themselves carry out. Perform processing to determine. Note that the flow of processing performed in each of the application program determination units Y111, Y121, Y131, and Y141 is substantially the same as the flow related to FIGS. 9 and 10 performed by the application program determination unit 116 of the test management system 1. The difference from the inspection management system 1 is that after determining the inspection program to be applied in each inspection device, the inspection program is not received from the data server 20, but is stored in each inspection program storage unit Y112, Y122, Y132, Y142. The only point is to read and apply the inspection program that has been installed.

以上のような変形例に係る検査管理システム2によれば、データサーバなどとの通信が何らかの事情で遮断された場合であっても、各検査装置において適切な検査プログラムを選択し、適用することが可能になる。 According to the inspection management system 2 according to the above-described modification, even if communication with a data server etc. is cut off for some reason, an appropriate inspection program can be selected and applied in each inspection device. becomes possible.

<実施形態2>
次に、図12及び図13に基づいて本発明の他の実施形態について説明する。図12は、本実施形態に係る検査管理システム3及び検査管理システム3が適用される部品実装ラインの概略を示す図である。なお、本実施形態においては、多くの構成を実施形態1と共通にしており、実施形態1に係る検査管理システム1と同一の構成要素については、同一の符号を付して説明を省略する。
<Embodiment 2>
Next, other embodiments of the present invention will be described based on FIGS. 12 and 13. FIG. 12 is a diagram schematically showing the inspection management system 3 according to this embodiment and a component mounting line to which the inspection management system 3 is applied. Note that this embodiment has many configurations in common with Embodiment 1, and the same components as those of the test management system 1 according to Embodiment 1 are denoted by the same reference numerals and description thereof will be omitted.

図12に示すように、本実施形態に係る検査管理システム3は、はんだ印刷検査装置Y21、マウント後検査装置Y22、外観検査装置Y23、X線検査装置Y24が、検査管理システム1と異なっており、その他の点は検査管理システム1と同様の構成である。本実施形態に係る検査管理システム3では、各検査装置Y21、Y22、Y23、Y24がそれぞれ、実施プログラム決定部Y211、Y221、Y231、Y241、及び前工程検査情報取得部Y212、Y222、Y232、Y242の各機能部を備える構成となっている。なお、以下では説明の便宜のために、実施プログラム決定部Y211、Y221、Y231、Y241、及び前工程検査情報取得部Y212、Y222、Y232、Y242について、それぞれを区別して説明する必要が無い場合には符号を省略し、単に「実施プログラム決定部」、「前工程検査情報取得部」などという。 As shown in FIG. 12, the inspection management system 3 according to the present embodiment is different from the inspection management system 1 in the solder print inspection device Y21, post-mount inspection device Y22, visual inspection device Y23, and X-ray inspection device Y24. , the other points have the same configuration as the inspection management system 1. In the inspection management system 3 according to the present embodiment, each of the inspection apparatuses Y21, Y22, Y23, and Y24 includes an execution program determining section Y211, Y221, Y231, and Y241, and a pre-process inspection information acquisition section Y212, Y222, Y232, and Y242, respectively. The configuration includes each functional section. In the following, for convenience of explanation, implementation program determination units Y211, Y221, Y231, Y241 and pre-process inspection information acquisition units Y212, Y222, Y232, Y242 will be explained separately when it is not necessary to explain them separately. The reference numerals are omitted, and they are simply referred to as "execution program determining section", "pre-process inspection information acquisition section", etc.

実施プログラム決定部は、各検査装置Y21、Y22、Y23、Y24がそれぞれ検査を実施する際において、適用プログラム決定部116が適用を決定した検査プログラムによる検査を実際に実施するか否かを決定する。また、前工程検査情報取得部は、各検査装置Y21、Y22、Y23、Y24による検査実施時において、部品実装基板に係る所定の検査対象についての前工程での検査実施の有無を含む情報である前工程検査情報を取得する。ここで、「部品実装基板に係る所定の検査対象」とは、部品実装基板そのものであってもよいし、基板における特定の回路であってもよいし、個々の部品であってもよい。 The implementation program determining unit determines whether or not to actually perform the inspection using the inspection program that the applicable program determining unit 116 has decided to apply when each of the inspection apparatuses Y21, Y22, Y23, and Y24 conducts an inspection. . In addition, the pre-process inspection information acquisition unit provides information including whether or not a pre-process inspection is performed on a predetermined inspection target related to a component mounting board when each inspection device Y21, Y22, Y23, and Y24 performs an inspection. Obtain pre-process inspection information. Here, the "predetermined inspection target related to a component-mounted board" may be the component-mounted board itself, a specific circuit on the board, or an individual component.

ここで、各検査装置Y21、Y22、Y23、Y24において、適用される検査プログラムが決定した後に、実際の検査実施までの間に何らかの事情で当該検査プログラムによる検査を実施することが適切でなくなる場合も考えられる。具体的には、例えば、検査を分担することを前提としていた他の検査装置が故障してしまった場合、製造装置が配置された生産ラインとは異なる箇所で検査のみを実施するようなケースにおいて前工程での検査の実施がされていないった場合、などが想定し得る。 Here, in each of the inspection devices Y21, Y22, Y23, and Y24, after the inspection program to be applied is determined and before the actual inspection is performed, if for some reason it becomes inappropriate to carry out the inspection using the inspection program. can also be considered. Specifically, for example, if another inspection device that was supposed to share the inspection breaks down, or if the inspection is only carried out at a location different from the production line where the manufacturing device is located, It can be assumed that the inspection was not carried out in the previous process.

実施プログラム決定部はこのような、適用プログラム決定部116が適用を決定した検査プログラムの内容での検査が適切でなくなってしまったような場合に、そのまま検査を実施してしまうことを防止する役割を果たす。具体的には、前工程検査情報取得部が取得した前工程検査情報に基づいて、検査対象について前工程での検査が適切に実施されているかの当否を判定し、判定結果が「当」である場合に限り、適用プログラム決定部116が適用を決定した検査プログラムの内容での検査を実施する。 The implementation program determining unit has the role of preventing the test from being carried out as it is when the content of the test program that the application program determining unit 116 has decided to apply is no longer appropriate. fulfill. Specifically, based on the pre-process inspection information acquired by the pre-process inspection information acquisition unit, it is determined whether or not the inspection in the pre-process has been properly conducted for the inspection target, and the judgment result is "Accurate". Only in certain cases, an inspection is performed using the contents of the inspection program that the applicable program determining unit 116 has decided to apply.

以下では、図13に基づいて、実施プログラム決定部が行う処理の流れを説明する。図13は、実施プログラム決定部が行う処理の流れの一例を示すフローチャートである。図13に示すように実施プログラム決定部は、まず各種の情報を取得する(S201)。ここで、各種の情報には、自装置の設けられる生産ラインの検査構成に係る情報、前工程での検査が適切に実施されたか否かの情報、適用プログラム決定部116が適用を決定した検査プログラムの情報、などが含まれる。 Below, the flow of processing performed by the implementation program determination section will be explained based on FIG. 13. FIG. 13 is a flowchart showing an example of the flow of processing performed by the implementation program determining section. As shown in FIG. 13, the implementation program determining unit first obtains various types of information (S201). Here, the various information includes information related to the inspection configuration of the production line where the own device is installed, information on whether or not the inspection in the previous process was appropriately implemented, and information on the inspection that the application program determining unit 116 has decided to apply. Contains program information, etc.

続けて、ステップS201で取得した情報に基づいて自装置の配置されている検査工程が最初の検査工程か否かの当否を判定する(S202)。ここで、判定の結果が「当」である場合には、適用プログラム決定部116が適用を決定した検査プログラムの内容で検査を実施し(S203)、一連のルーチンを終了する。一方、ステップS202で自装置
の配置される検査工程は最初の工程でない、との判定を行った場合にはステップS204に進む。ステップS204では、自装置よりも前の検査工程に配置された検査装置において、適切に検査が実施されたか否かを判定する(S204)。具体的には、前工程検査情報が取得できない場合、又は、前記前工程での検査の実施がなされていない旨の前工程検査情報を取得した場合などは、検査が適切に行われていないと判定するようにすればよい。
Subsequently, based on the information acquired in step S201, it is determined whether the inspection process in which the own device is placed is the first inspection process (S202). Here, if the result of the determination is "true", the application program determining unit 116 performs the test using the contents of the test program that it has decided to apply (S203), and the series of routines ends. On the other hand, if it is determined in step S202 that the inspection process in which the own device is placed is not the first process, the process advances to step S204. In step S204, it is determined whether the inspection has been properly performed in the inspection device placed in the inspection process before the own device (S204). Specifically, if pre-process inspection information cannot be obtained, or if pre-process inspection information indicating that the pre-process inspection has not been carried out is obtained, it is assumed that the inspection is not being conducted properly. All you have to do is judge.

ステップS204で自装置よりも前の検査工程に配置された検査装置で適切に検査が実施されたと判定した場合には、ステップS203に進み、適用プログラム決定部116が適用を決定した検査プログラムの内容で検査を実施して(S203)、一連のルーチンを終了する。一方、ステップS204の判定結果が「否」である場合には、実施プログラム決定部は、検査対象について適用プログラム決定部116が適用を決定した検査プログラムでの検査を取りやめ、目視検査を実施することを決定し(S205)、一連のルーチンを終了する。 If it is determined in step S204 that the inspection was properly performed by the inspection device placed in the inspection process before the own device, the process proceeds to step S203, and the content of the inspection program that the applicable program determining unit 116 has decided to apply is An inspection is performed (S203), and the series of routines ends. On the other hand, if the determination result in step S204 is "No", the implementation program determining unit cancels the inspection using the inspection program that the applicable program determining unit 116 has decided to apply to the inspection target, and performs a visual inspection. is determined (S205), and the series of routines ends.

このような処理を行う構成によれば、何らかの事情(例えば、他検査装置の故障や人為的ミスなど)により、適用プログラム決定部116が適用を決定した検査プログラムで検査を行っても、もはや適切に不良を検出可能な検査を行うことができない状況になった場合に、そのような不適切な内容で検査を実施してしまうことを防止することができる。 According to the configuration that performs such processing, even if an inspection is performed using the inspection program that the applicable program determining unit 116 has decided to apply due to some circumstances (for example, a failure of another inspection device or human error), the application may no longer be appropriate. If a situation arises in which it is not possible to perform an inspection that can detect defects, it is possible to prevent such an inspection from being conducted with inappropriate content.

(変形例)
なお、実施プログラム決定部は、上述した図13のような処理とは別に、次のような処理を行うようにしてもよい。図14にそのような他の処理の例を示す。図14に示すように、ステップS201からステップS204については、上述した処理と同様であるため、説明は省略する。本変形例においては、ステップS204において、自装置よりも前の検査工程に配置された検査装置で適切に検査が実施されていないと判定した場合の処理が、上述のものとは異なる。
(Modified example)
Note that the implementation program determining unit may perform the following process separately from the process shown in FIG. 13 described above. FIG. 14 shows an example of such other processing. As shown in FIG. 14, steps S201 to S204 are the same as the above-mentioned processing, so the description thereof will be omitted. In this modification, the process is different from that described above when it is determined in step S204 that the inspection is not properly performed by the inspection device placed in the inspection process before the own device.

本変形例では、ステップS204の判定結果が「否」であった場合には、実施プログラム決定部は、自装置のみによって検査対象(部品)の検査が完結する内容の検査カバレッジ情報を参照する検査プログラムの有無を判定する処理を行う(S301)。具体的には、検査カバレッジ情報記憶部212、検査プログラム記憶部214などと通信を行い、これらに情報が記憶されているかを確認することによって当該判定を行うようにすればよい。ここで、自装置のみによって検査が完結する内容の検査カバレッジ情報を参照する検査プログラムがある場合には、実施プログラム決定部は当該検査プログラムの内容で検査を実施することを決定する(S302)。より具体的には、実施プログラム決定部は当該検査プログラムを読み出して自装置に適用して、自装置のみで不良の検出が完結する検査を実施し、一連のルーチンを終了する。 In this modification, when the determination result in step S204 is "no", the implementation program determining unit performs an inspection that refers to inspection coverage information that allows the inspection of the inspection target (component) to be completed only by the own device. A process of determining the presence or absence of a program is performed (S301). Specifically, the determination may be made by communicating with the inspection coverage information storage section 212, inspection program storage section 214, etc., and confirming whether information is stored therein. Here, if there is an inspection program that refers to inspection coverage information whose inspection can be completed only by the own device, the execution program determining unit determines to carry out inspection with the contents of the inspection program (S302). More specifically, the execution program determination unit reads out the inspection program and applies it to its own device, performs an inspection in which defect detection can be completed only by its own device, and ends the series of routines.

一方、ステップS301で、自装置のみによって検査が完結する内容の検査カバレッジ情報を参照する検査プログラムがないと判定された場合には、目視検査を実施することを決定し(S303)、一連のルーチンを終了する。 On the other hand, if it is determined in step S301 that there is no inspection program that refers to inspection coverage information that can be inspected only by the own device, a decision is made to perform a visual inspection (S303), and a series of routine routines are performed. end.

このような処理を行う構成であれば、何らかの事情により、適用プログラム決定部116が適用を決定した検査プログラムの内容で検査を行うことが適切でない状況になってしまっても、各検査装置単独で検査対象の不良の検査が完結する検査プログラムがある場合には、当該検査プログラムを適用して検査を実施することが可能になる。これにより一律に検査不可として目視検査を行わずに済み、検査の効率化及びユーザー負担の軽減を図ることができる。なお、上記実施形態2の場合も本変形例の場合も、一連のルーチンは任意の検査対象(部品、回路、基板)単位で繰り返し実行すればよい。 With a configuration that performs such processing, even if for some reason it becomes inappropriate to perform an inspection using the contents of the inspection program that the applicable program determining unit 116 has decided to apply, each inspection device can independently perform the inspection. If there is an inspection program that completes the inspection of the defective object to be inspected, it becomes possible to perform the inspection by applying the inspection program. This eliminates the need to perform a visual inspection by uniformly determining that inspection is not possible, thereby increasing the efficiency of inspection and reducing the burden on the user. In addition, in both the case of the said Embodiment 2 and the case of this modification, a series of routines may be repeatedly performed for each arbitrary inspection object (component, circuit, board|substrate).

<その他>
上記の実施形態の説明は、本発明を例示的に説明するものに過ぎず、本発明は上記の具体的な形態には限定されない。本発明は、その技術的思想の範囲内で種々の変形が可能である。例えば、上記実施形態1の変形例の構成(各検査装置が適用プログラム決定部116を備える構成)と、実施形態2の構成を組み合わせた検査管理システムを実現することも可能である。
<Others>
The above description of the embodiments is merely for illustratively explaining the present invention, and the present invention is not limited to the above-described specific forms. The present invention can be modified in various ways within the scope of its technical idea. For example, it is also possible to realize an inspection management system that combines the configuration of the modified example of the first embodiment (a configuration in which each inspection device includes the applied program determination unit 116) and the configuration of the second embodiment.

また、上記の各実施形態では、検査プログラムが検査カバレッジ情報(及び部品検査制約設計情報)を参照することによって、生産ラインに設けられる各検査装置が検査対象に対して実施する検査の内容が定まるものであったが、必ずしもこれに限定されない。例えば、検査プログラム自身が検査カバレッジ情報などの必要な情報を保有するような態様であっても構わない。 Furthermore, in each of the above embodiments, the inspection program refers to the inspection coverage information (and component inspection constraint design information) to determine the inspection content that each inspection device installed on the production line performs on the inspection target. However, it is not necessarily limited to this. For example, the inspection program itself may have necessary information such as inspection coverage information.

また、上記各例では部品検査制約設計情報は部品種ごとに設定されるものであったが、さらに当該部品種の部品が備える電極種ごとの部品検査制約設計情報が定められ、部品検査制約設計記憶部に記憶されるのであってもよい。部品全体に及ぶ不良(部品違い、欠品、表裏反転、部品ずれ、など)の他に、部品の電極を対象とした不良(電極浮き、電極ずれ、不濡れ、など)もあるため、このような構成であればより適切な検査を設定することができる。 In addition, in each of the above examples, component inspection constraint design information is set for each component type, but component inspection constraint design information is further determined for each electrode type that the component of the component type has, and component inspection constraint design information is set for each type of component. It may be stored in the storage unit. In addition to defects affecting the entire part (wrong part, missing part, upside down, part misalignment, etc.), there are also defects targeting the electrodes of the part (electrode floating, electrode displacement, non-wetting, etc.). If the configuration is correct, more appropriate tests can be set.

<付記1>
部品実装基板の生産ラインに設けられる一以上の検査装置(Y1、Y2、Y3、Y4)の検査内容を管理する検査管理システム(1)であって、
前記部品実装基板に実装される部品の部品品番ごとに、前記生産ラインに設けられる前記検査装置の組み合わせに応じて前記部品の不良を検出し得る検査項目の組み合わせを定める情報である検査カバレッジ情報を用いて、前記部品実装基板に対して各前記検査装置が実施する検査の内容を定める検査プログラムを記憶する、検査プログラム記憶手段(214)と、
前記生産ラインに設けられる前記検査装置のそれぞれが、いずれの前記検査カバレッジ情報を用いる前記検査プログラムに基づいて前記部品の検査を実施するのかを決定する第1決定手段(116)と、を有する、
ことを特徴とする検査管理システム。
<Additional note 1>
An inspection management system (1) that manages inspection contents of one or more inspection devices (Y1, Y2, Y3, Y4) installed in a production line for component mounting boards,
For each component part number of the component mounted on the component mounting board, inspection coverage information is information that defines a combination of inspection items that can detect defects in the component according to a combination of the inspection devices installed in the production line. an inspection program storage means (214) for storing an inspection program that determines the content of inspection to be performed by each of the inspection apparatuses on the component mounting board using the inspection program;
Each of the inspection devices provided in the production line includes a first determining means (116) for determining which inspection coverage information is used to inspect the component based on the inspection program.
An inspection management system characterized by:

<付記2>
部品実装基板の生産ラインに設けられる一以上の検査装置(Y1、Y2、Y3、Y4)の検査内容を管理する検査管理システム(1)において、前記検査装置それぞれが実施する検査の内容を決定する方法であって、
前記検査管理システムは、前記部品実装基板に実装される部品ごとに、前記生産ラインに設けられる前記検査装置の組み合わせに応じて前記部品の不良を検出し得る検査項目の組み合わせを定める検査カバレッジ情報を用いて、前記部品実装基板に対して各前記検査装置が実施する検査の内容を定める検査プログラムを記憶する、検査プログラム記憶手段(216)を有しており、
前記決定の対象となる前記検査装置が属する前記生産ラインの前記検査装置の組み合わせに合致する前記検査カバレッジ情報を用いる第1検査プログラムが、前記検査プログラム記憶手段に記憶されているか否かの当否を判定する第1判定ステップ(S103)と、
前記第1判定ステップの判定結果が当である場合には、前記第1検査プログラムに基づいて前記部品の検査を実施することを決定する、第1決定ステップ(S104)と、
前記第1判定ステップの判定結果が否である場合には、前記決定の対象となる前記検査装置のみによって検査が完結する内容の前記検査カバレッジ情報を用いる第2検査プログ
ラムが、前記検査プログラム記憶手段に記憶されているか否かの当否を判定する第2判定ステップ(S111)と、
前記第2判定ステップの判定結果が当である場合には、前記第2検査プログラムに基づいて前記部品の検査を実施することを決定する、第2決定ステップ(S112)と、
前記第2判定ステップの判定結果が否である場合には、前記決定の対象となる前記検査装置によって実施し得る第1検査項目を含む前記検査カバレッジ情報を用いる第3検査プログラムが前記検査プログラム記憶手段に記憶されているか否かの当否を判定する第3判定ステップ(S121)と、
前記第3判定ステップの判定結果が当である場合には、前記第1検査項目が前記決定の対象となる前記検査装置のみによって完結するか否かの当否を判定する第4判定ステップ(S122)と、
前記第4判定ステップの判定結果が当である場合には、前記第3検査プログラムに基づいて前記第1検査項目の検査を実施することを決定する、第3決定ステップ(S123)と、
前記第3判定ステップの判定結果が否である場合、又は前記第4判定ステップの判定結果が否である場合には、前記部品の目視検査を実施することを決定する、第4決定ステップ(S131)と、
を含むことを特徴とする、検査内容決定方法。
<Additional note 2>
In an inspection management system (1) that manages the inspection contents of one or more inspection devices (Y1, Y2, Y3, Y4) installed in a production line for component mounting boards, the contents of the inspection to be performed by each of the inspection devices are determined. A method,
The inspection management system includes inspection coverage information that defines, for each component mounted on the component mounting board, a combination of inspection items that can detect defects in the component according to a combination of the inspection devices installed on the production line. and an inspection program storage means (216) for storing an inspection program that defines the contents of inspection to be performed by each of the inspection apparatuses on the component mounting board using the
Determining whether or not a first inspection program using the inspection coverage information that matches the combination of the inspection devices of the production line to which the inspection device to be determined belongs is stored in the inspection program storage means. A first determination step (S103) to determine;
a first determining step (S104) of determining to inspect the component based on the first inspection program if the determination result of the first determining step is correct;
If the determination result of the first determination step is negative, a second inspection program that uses the inspection coverage information that allows the inspection to be completed only by the inspection apparatus that is the target of the determination is stored in the inspection program storage means. a second determination step (S111) for determining whether or not the information is stored in the
a second determination step (S112) of determining to inspect the component based on the second inspection program if the determination result of the second determination step is correct;
If the determination result of the second determination step is negative, a third inspection program that uses the inspection coverage information including the first inspection item that can be performed by the inspection apparatus that is the target of the determination is selected from the inspection program storage. a third determination step (S121) for determining whether or not the information is stored in the means;
If the determination result of the third determination step is correct, a fourth determination step (S122) of determining whether or not the first inspection item can be completed only by the inspection device that is the subject of the determination. and,
a third determining step (S123) in which, if the determination result of the fourth determining step is correct, it is determined to perform the inspection of the first inspection item based on the third inspection program;
If the determination result of the third determination step is negative, or if the determination result of the fourth determination step is negative, a fourth determination step (S131 )and,
A method for determining inspection content, characterized by comprising:

1、2、3・・・検査管理システム
X1・・・はんだ印刷装置
X2・・・マウンタ
X3・・・リフロー炉
Y1、Y11、Y21・・・はんだ印刷後検査装置
Y2、Y12、Y22・・・マウント後検査装置
Y3、Y13、Y23・・・外観検査装置
Y4、Y14、Y24・・・X線検査装置
10・・・検査管理装置
110・・・制御部
120・・・入力部
130・・・画像表示部
20・・・データサーバ
1, 2, 3...Inspection management system X1...Solder printing device X2...Mounter X3...Reflow oven Y1, Y11, Y21...Solder printing post-inspection device Y2, Y12, Y22... Post-mount inspection device Y3, Y13, Y23... Visual inspection device Y4, Y14, Y24... X-ray inspection device 10... Inspection management device 110... Control section 120... Input section 130... Image display section 20...data server

Claims (15)

部品実装基板の生産ラインに設けられる一以上の検査装置の検査内容を管理する検査管理システムであって、
前記部品実装基板に実装される部品ごとに、前記生産ラインに設けられる前記検査装置の組み合わせに応じて前記部品の不良を検出し得る検査項目及びいずれの検査装置が前記検査項目に係る検査を実施するかを定める検査カバレッジ情報を用いて、前記部品実装基板に対して各前記検査装置が実施する検査の内容を定める検査プログラムを記憶する、検査プログラム記憶手段と、
前記生産ラインに設けられる前記検査装置のそれぞれが、いずれの前記検査カバレッジ情報を用いる前記検査プログラムに基づいて前記検査を実施するのかを決定する第1決定手段と、を有する、
ことを特徴とする検査管理システム。
An inspection management system that manages the inspection contents of one or more inspection devices installed in a production line for component mounting boards,
For each component mounted on the component mounting board, an inspection item that can detect defects in the component according to a combination of the inspection devices installed in the production line, and which inspection device performs the inspection related to the inspection item. Inspection program storage means for storing an inspection program that defines the content of inspection to be performed by each of the inspection devices on the component mounting board using inspection coverage information that determines whether the component mounting board is to be inspected;
Each of the inspection devices provided in the production line includes a first determining unit that determines which inspection coverage information is used to perform the inspection based on the inspection program.
An inspection management system characterized by:
前記部品の部品品番ごとに一以上の前記検査カバレッジ情報を記憶する、検査カバレッジ記憶手段をさらに有し、
前記検査プログラムは、前記検査カバレッジ記憶手段に記憶される前記検査カバレッジ情報を参照することにより、前記部品実装基板に対して各前記検査装置が実施する検査の内容を定めるものである、
ことを特徴とする請求項1の検査管理システム。
further comprising an inspection coverage storage means for storing one or more of the inspection coverage information for each part number of the component,
The inspection program determines the content of the inspection to be performed by each of the inspection apparatuses on the component mounting board by referring to the inspection coverage information stored in the inspection coverage storage means.
The inspection management system according to claim 1, characterized in that:
前記第1決定手段は、
前記決定の対象となる前記検査装置が属する前記生産ラインの前記検査装置の組み合わせに合致する前記検査カバレッジ情報を用いる第1検査プログラムが、前記検査プログラム記憶手段に記憶されている場合には、
当該第1検査プログラムに基づいて前記検査を実施することを決定する、
ことを特徴とする請求項1に記載の検査管理システム。
The first determining means is
When a first inspection program that uses the inspection coverage information that matches the combination of the inspection devices of the production line to which the inspection device to be determined belongs is stored in the inspection program storage means,
deciding to perform the inspection based on the first inspection program;
The inspection management system according to claim 1, characterized in that:
前記第1決定手段は、
前記第1検査プログラムが前記検査プログラム記憶手段に記憶されていない場合には、
前記第1検査プログラムに代替する前記検査プログラムに基づいて、前記検査を実施することを決定する、
ことを特徴とする、請求項3に記載の検査管理システム。
The first determining means is
If the first test program is not stored in the test program storage means,
determining to perform the inspection based on the inspection program that replaces the first inspection program;
The inspection management system according to claim 3, characterized in that:
前記第1決定手段は、
前記決定の対象となる前記検査装置のみによって前記部品の検査が完結する内容の前記検査カバレッジ情報を用いる第2検査プログラムが、前記検査プログラム記憶手段に記憶されている場合には、当該第2検査プログラムに基づいて前記検査を実施することを決定する、
ことを特徴とする、請求項4に記載の検査管理システム。
The first determining means is
If a second inspection program that uses the inspection coverage information that allows the inspection of the component to be completed only by the inspection device that is the target of the determination is stored in the inspection program storage means, the second inspection program is stored in the inspection program storage means. deciding to perform the test based on a program;
The inspection management system according to claim 4, characterized in that:
前記第1決定手段は、
前記第2検査プログラムが前記検査プログラム記憶手段に記憶されていない場合において、前記決定の対象となる前記検査装置によって実施し得る第1検査項目を含む前記検査カバレッジ情報を用いる第3検査プログラムが前記検査プログラム記憶手段に記憶されている場合には、
前記第1検査項目が前記決定の対象となる前記検査装置のみによって完結するか否かの当否を判定するとともに、該判定の結果が当である場合には、前記第3検査プログラムに基づいて前記第1検査項目の検査を実施することを決定する、
ことを特徴とする、請求項5に記載の検査管理システム。
The first determining means is
In the case where the second inspection program is not stored in the inspection program storage means, the third inspection program using the inspection coverage information including the first inspection item that can be performed by the inspection apparatus that is the target of the determination is If it is stored in the inspection program storage means,
It is determined whether or not the first inspection item can be completed only by the inspection device that is the target of the determination, and if the result of the determination is true, the test is performed based on the third inspection program. deciding to carry out the inspection of the first inspection item;
The inspection management system according to claim 5, characterized in that:
前記第1決定手段は、
前記検査プログラム記憶手段に記憶されている前記検査プログラムのいずれによっても、一以上の前記不良を検出する前記検査項目及び該検査項目に係る検査を実施する前記検査装置を決定できない場合には、少なくとも当該不良についての目視検査を実施することを決定する、
ことを特徴とする、請求項1から6のいずれか一項に記載の検査管理システム。
The first determining means is
If it is not possible to determine the inspection item for detecting one or more defects and the inspection device for carrying out the inspection related to the inspection item using any of the inspection programs stored in the inspection program storage means, at least deciding to conduct a visual inspection of the defect;
The inspection management system according to any one of claims 1 to 6, characterized in that:
前記生産ラインに設けられる前記検査装置のそれぞれが、前記検査プログラム記憶手段及び前記第1決定手段を備える、
ことを特徴とする、請求項1から6のいずれか一項に記載の検査管理システム。
Each of the inspection devices provided in the production line includes the inspection program storage means and the first determination means,
The inspection management system according to any one of claims 1 to 6, characterized in that:
前記生産ラインに設けられる前記検査装置のそれぞれは、
前記検査の実施時において前記第1決定手段が決定した検査を実際に実施するか否かを決定する、第2決定手段を備える、
ことを特徴とする、請求項1から6のいずれか一項に記載の検査管理システム。
Each of the inspection devices installed in the production line is
comprising a second determining means for determining whether or not to actually perform the test determined by the first determining means when performing the test;
The inspection management system according to any one of claims 1 to 6, characterized in that:
前記生産ラインに設けられる前記検査装置のそれぞれは、
前記検査の実施時において前記部品実装基板に係る所定の検査対象についての前工程での検査実施の有無を含む情報である前工程検査情報を取得する、前工程検査情報取得手段をさらに備え、
前記第2決定手段は、
該第2決定手段を備える前記検査装置が最先の検査工程に設けられるものでない場合に、
前記前工程検査情報に前記前工程での検査の実施が有った旨の情報が含まれることを条件として、前記第1決定手段が決定した検査を実際に実施することを決定する、
ことを特徴とする請求項9に記載の検査管理システム。
Each of the inspection devices installed in the production line is
further comprising a pre-process inspection information acquisition means for obtaining pre-process inspection information that is information including whether or not a pre-process inspection has been performed on a predetermined inspection target related to the component mounting board when performing the inspection;
The second determining means is
When the inspection device including the second determining means is not installed in the first inspection step,
determining to actually perform the inspection determined by the first determining means, on the condition that the pre-process inspection information includes information indicating that an inspection has been performed in the pre-process;
The inspection management system according to claim 9, characterized in that:
前工程検査情報取得手段が、前記前工程検査情報が取得できない場合、又は、前記前工程での検査の実施が無い旨の前記前工程検査情報を取得した場合には、
前記第2決定手段は、前記第1決定手段が決定した検査の実施を取りやめるとともに、当該検査に代替する措置の実施を決定する、
ことを特徴とする、請求項10に記載の検査管理システム。
If the pre-process inspection information acquisition means cannot obtain the pre-process inspection information or obtains the pre-process inspection information indicating that there is no inspection in the pre-process,
The second determining means cancels the test determined by the first determining means and decides to implement measures to replace the test.
The inspection management system according to claim 10, characterized in that:
前記第2決定手段は、
該第2決定手段を備える前記検査装置のみによって検査が完結する内容の前記検査カバレッジ情報を用いる第4検査プログラムが、前記検査プログラム記憶手段に記憶されている場合には、
前記措置として、前記第4検査プログラムに基づく前記検査の実施を決定する、
ことを特徴とする、請求項11に記載の検査管理システム。
The second determining means is
When a fourth inspection program using the inspection coverage information of which the inspection is completed only by the inspection apparatus including the second determining means is stored in the inspection program storage means,
As the measure, deciding to implement the inspection based on the fourth inspection program;
The inspection management system according to claim 11, characterized in that:
前記第2決定手段は、
前記第4検査プログラムが前記検査プログラム記憶手段に記憶されていない場合には、
前記措置として、前記部品の目視検査を実施することを決定する、
ことを特徴とする、請求項12に記載の検査管理システム。
The second determining means is
If the fourth inspection program is not stored in the inspection program storage means,
deciding to carry out a visual inspection of the component as said measure;
The test management system according to claim 12, characterized in that:
部品実装基板の生産ラインに設けられる一以上の検査装置の検査内容を管理する検査管理システムにおいて、前記検査装置それぞれが実施する検査の内容を決定する方法であって、
前記検査管理システムは、前記部品実装基板に実装される部品ごとに、前記生産ライン
に設けられる前記検査装置の組み合わせに応じて前記部品の不良を検出し得る検査項目及びいずれの検査装置が前記検査項目に係る検査を実施するかを定める検査カバレッジ情報を用いて、前記部品実装基板に対して各前記検査装置が実施する検査の内容を定める検査プログラムを記憶する、検査プログラム記憶手段を有しており、
前記決定の対象となる前記検査装置が属する前記生産ラインの前記検査装置の組み合わせに合致する前記検査カバレッジ情報を用いる第1検査プログラムが、前記検査プログラム記憶手段に記憶されているか否かの当否を判定する第1判定ステップと、
前記第1判定ステップの判定結果が当である場合には、前記第1検査プログラムに基づいて前記部品の検査を実施することを決定する、第1決定ステップと、
前記第1判定ステップの判定結果が否である場合には、前記決定の対象となる前記検査装置のみによって検査が完結する内容の前記検査カバレッジ情報を用いる第2検査プログラムが、前記検査プログラム記憶手段に記憶されているか否かの当否を判定する第2判定ステップと、
前記第2判定ステップの判定結果が当である場合には、前記第2検査プログラムに基づいて前記部品の検査を実施することを決定する、第2決定ステップと、
前記第2判定ステップの判定結果が否である場合には、前記決定の対象となる前記検査装置によって実施し得る第1検査項目を含む前記検査カバレッジ情報を用いる第3検査プログラムが前記検査プログラム記憶手段に記憶されているか否かの当否を判定する第3判定ステップと、
前記第3判定ステップの判定結果が当である場合には、前記第1検査項目が前記決定の対象となる前記検査装置のみによって完結するか否かの当否を判定する第4判定ステップと、
前記第4判定ステップの判定結果が当である場合には、前記第3検査プログラムに基づいて前記第1検査項目の検査を実施することを決定する、第3決定ステップと、
前記第3判定ステップの判定結果が否である場合、又は前記第4判定ステップの判定結果が否である場合には、前記部品の目視検査を実施することを決定する、第4決定ステップと、
を含むことを特徴とする、検査内容決定方法。
In an inspection management system that manages the inspection contents of one or more inspection devices installed in a production line for component mounting boards, a method for determining the inspection contents to be performed by each of the inspection devices, the method comprising:
The inspection management system includes, for each component mounted on the component mounting board, inspection items that can detect defects in the component according to a combination of the inspection devices installed in the production line, and which inspection device is capable of detecting defects in the component. and an inspection program storage means for storing an inspection program that defines the content of the inspection to be performed by each of the inspection devices on the component mounting board using inspection coverage information that determines whether to perform the inspection related to the item. Ori,
Determining whether or not a first inspection program using the inspection coverage information that matches the combination of the inspection devices of the production line to which the inspection device to be determined belongs is stored in the inspection program storage means. a first determination step of determining;
a first determining step of determining to inspect the component based on the first inspection program if the determination result of the first determining step is correct;
If the determination result of the first determination step is negative, a second inspection program that uses the inspection coverage information that allows the inspection to be completed only by the inspection apparatus that is the target of the determination is stored in the inspection program storage means. a second determination step of determining whether or not the information is stored in the
a second determining step of determining to inspect the component based on the second inspection program if the determination result of the second determining step is correct;
If the determination result of the second determination step is negative, a third inspection program that uses the inspection coverage information including the first inspection item that can be performed by the inspection apparatus that is the target of the determination is selected from the inspection program storage. a third determination step of determining whether or not it is stored in the means;
If the determination result of the third determination step is correct, a fourth determination step of determining whether or not the first inspection item is completed only by the inspection device targeted for the determination;
If the determination result of the fourth determination step is correct, a third determination step of determining to perform the inspection of the first inspection item based on the third inspection program;
a fourth determining step of determining to perform a visual inspection of the component if the determination result of the third determining step is negative or if the determining result of the fourth determining step is negative;
A method for determining inspection content, characterized by comprising:
請求項14に記載の検査内容決定方法の各ステップをコンピュータに実行させるためのプログラム。
A program for causing a computer to execute each step of the inspection content determining method according to claim 14.
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