WO2023182101A1 - 半導体発光装置 - Google Patents
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Abstract
[課題]熱による発光特性の劣化を防止する。 [解決手段]半導体発光装置は、発光部と、前記発光部から発光された光を透過させる透過部を有する封止部材と、前記封止部材の内側で冷却流体を用いて前記発光部の熱を分散させる熱制御部材と、を備える。
Description
本開示は、半導体発光装置に関する。
窒化物半導体を用いた垂直共振型面発光レーザ(VCSEL:Vertical Cavity Surface Emitting Laser)は、2つの高反射ブラッグ反射器(DBR:Distributed Bragg Reflector)の間で光を共振させて、面状の光を発光することができ、様々な機器の光源として利用されている(特許文献1参照)。
DBRは、高屈折率材料の層と低屈折率材料の層を交互に積層した多層構造を有するが、DBRを構成する各層の熱伝導率は低いため、2つのDBRにて構成される共振器の内部に熱がこもり、設計通りの本来の発光特性が得られないおそれがある。
そこで、本開示では、設計通りの本来の発光特性を得ることが可能な半導体発光装置を提供するものである。
そこで、本開示では、設計通りの本来の発光特性を得ることが可能な半導体発光装置を提供するものである。
上記の課題を解決するために、本開示によれば、発光部と、
前記発光部から発光された光を透過させる透過部を有する封止部材と、
前記封止部材の内側で冷却流体を用いて前記発光部の熱を分散させる熱制御部材と、を備える、半導体発光装置が提供される。
前記発光部から発光された光を透過させる透過部を有する封止部材と、
前記封止部材の内側で冷却流体を用いて前記発光部の熱を分散させる熱制御部材と、を備える、半導体発光装置が提供される。
前記熱制御部材は、前記発光部と前記封止部材との間で、前記冷却流体を用いて前記発光部の熱を対流させてもよい。
前記冷却流体は、熱を取り込んで、蒸発、融解、又は昇華する気体、液体又は固体であってもよい。
前記熱制御部材は、前記発光部の周辺に配置され、前記発光部の表面よりも濡れ性が高い第1領域を有してもよい。
前記熱制御部材は、前記発光部の周辺に配置され、前記発光部の表面とは異なる表面張力及び表面粗さの少なくとも一方を有する第1領域を有してもよい。
前記熱制御部材は、前記発光部の表面に配置され、前記第1領域よりも撥水性又は撥油性が高い第2領域を有してもよい。
前記熱制御部材は、前記発光部の表面に設けられる複数の凸部を有してもよい。
前記熱制御部材は、
前記発光部の周辺に配置される第1領域と、
前記発光部の表面に配置され、前記発光部の発光時に前記第1領域よりも高い温度になる第2領域と、を有してもよい。
前記発光部の周辺に配置される第1領域と、
前記発光部の表面に配置され、前記発光部の発光時に前記第1領域よりも高い温度になる第2領域と、を有してもよい。
前記第2領域は、前記第1領域よりも前記透過部に近い側に配置され、
前記熱制御部材は、前記第1領域と前記第2領域との温度差により、前記封止部材の内側で熱の対流を生じさせてもよい。
前記熱制御部材は、前記第1領域と前記第2領域との温度差により、前記封止部材の内側で熱の対流を生じさせてもよい。
前記発光部は、上面に光出射面が配置される凸部を有し、
前記熱制御部材は、前記凸部の側面の少なくとも一部に配置される粗面化領域を有してもよい。
前記熱制御部材は、前記凸部の側面の少なくとも一部に配置される粗面化領域を有してもよい。
前記封止部材の内面の少なくとも一部は、曲面形状であってもよい。
前記発光部を含む半導体チップを備え、
前記熱制御部材は、前記半導体チップの一主面に配置される複数の溝を有し、
前記複数の溝のそれぞれは、前記発光部から前記一主面の端部にかけて放射状に延びており、
前記複数の溝の幅は、前記発光部に近い側よりも遠い側の方が広くてもよい。
前記熱制御部材は、前記半導体チップの一主面に配置される複数の溝を有し、
前記複数の溝のそれぞれは、前記発光部から前記一主面の端部にかけて放射状に延びており、
前記複数の溝の幅は、前記発光部に近い側よりも遠い側の方が広くてもよい。
前記発光部を含む半導体チップを備え、
前記熱制御部材は、前記半導体チップの一主面に配置される複数の溝を有し、
前記複数の溝のそれぞれは、前記発光部を中心として、それぞれ異なる径で、前記発光部を取り囲むように配置されており、
前記複数の溝の幅は、前記発光部に近い側よりも遠い側の方が広くてもよい。
前記熱制御部材は、前記半導体チップの一主面に配置される複数の溝を有し、
前記複数の溝のそれぞれは、前記発光部を中心として、それぞれ異なる径で、前記発光部を取り囲むように配置されており、
前記複数の溝の幅は、前記発光部に近い側よりも遠い側の方が広くてもよい。
前記発光部は、積層された複数の層を含み、
前記熱制御部材は、前記複数の層のうち一部の層に配置され前記冷却流体が流れる流路を有してもよい。
前記熱制御部材は、前記複数の層のうち一部の層に配置され前記冷却流体が流れる流路を有してもよい。
前記一部の層の厚さは、前記流路を流れる前記冷却流体の圧力に応じて可変調整され、
前記発光部は、光を共振させる共振器を有し、
前記発光部から発光される光の共振器長は、前記一部の層の厚さに応じて変化してもよい。
前記発光部は、光を共振させる共振器を有し、
前記発光部から発光される光の共振器長は、前記一部の層の厚さに応じて変化してもよい。
前記一部の層は、前記流路によって前記発光部の電極からの電流の通過範囲が制限される電流狭窄領域を有してもよい。
前記熱制御部材は、前記発光部の表面の少なくとも一部を覆うとともに、前記冷却流体が流れる流路を有する光制御部材を有してもよい。
前記光制御部材は、前記発光部から発光された光をコリメートして出射可能な表面形状を有してもよい。
前記発光部の表面に配置される凹面鏡を備え、
前記発光部は、活性層からの光を前記凹面鏡で反射させる面発光レーザ、又は垂直共振器型面発光レーザであってもよい。
前記発光部は、活性層からの光を前記凹面鏡で反射させる面発光レーザ、又は垂直共振器型面発光レーザであってもよい。
一次元又は二次元方向に配置された複数の前記発光部を有するアレイ部を備え、
前記封止部材は、前記アレイ部を封止するとともに、前記複数の発光部のそれぞれから発光された光を前記透過部から透過させ、
前記熱制御部材は、前記封止部材の内側で前記冷却流体を用いて前記複数の発光部の熱を分散させてもよい。
前記封止部材は、前記アレイ部を封止するとともに、前記複数の発光部のそれぞれから発光された光を前記透過部から透過させ、
前記熱制御部材は、前記封止部材の内側で前記冷却流体を用いて前記複数の発光部の熱を分散させてもよい。
以下、図面を参照して、半導体発光装置の実施形態について説明する。以下では、半導体発光装置の主要な構成部分を中心に説明するが、半導体発光装置には、図示又は説明されていない構成部分や機能が存在しうる。以下の説明は、図示又は説明されていない構成部分や機能を除外するものではない。また、以下の説明では、複数の実施形態で構造や機能で共通する構成部分についての説明を後の実施形態では省略する場合がある。
<第1実施形態>
図1Aは、本技術を適用した半導体発光装置の一実施形態の構成を示す断面図である。図1Bは、図1Aの半導体チップの構成を示す平面図である。図1Aは、図1BのA-A断面を示す。半導体発光装置100は、発光素子である半導体チップ1、半導体チップ1を支持する支持基板2、半導体チップ1の熱を外部に放熱するヒートシンク3、及び、半導体チップ1を封止する封止部材4を備える。半導体チップ1では、半導体チップ1、支持基板2及び封止部材4によって囲まれた空間5に封入された冷却流体6を用いて、半導体チップ1の発光部11で発生した熱を対流させる。このように、本実施形態における半導体発光装置100は、冷却流体6を用いて封止部材4の内側で発光部11の熱を分散させる熱制御部材Cを有する。これにより、発光部11は冷却流体6で冷却される。
図1Aは、本技術を適用した半導体発光装置の一実施形態の構成を示す断面図である。図1Bは、図1Aの半導体チップの構成を示す平面図である。図1Aは、図1BのA-A断面を示す。半導体発光装置100は、発光素子である半導体チップ1、半導体チップ1を支持する支持基板2、半導体チップ1の熱を外部に放熱するヒートシンク3、及び、半導体チップ1を封止する封止部材4を備える。半導体チップ1では、半導体チップ1、支持基板2及び封止部材4によって囲まれた空間5に封入された冷却流体6を用いて、半導体チップ1の発光部11で発生した熱を対流させる。このように、本実施形態における半導体発光装置100は、冷却流体6を用いて封止部材4の内側で発光部11の熱を分散させる熱制御部材Cを有する。これにより、発光部11は冷却流体6で冷却される。
半導体チップ1は、その一主面の中央に位置する発光部11の表面12からレーザ光を出射する。発光部11の表面12は、レーザ光の出射面となる凸部を有する。半導体チップ1は、発光部11の周辺に配置され、発光部11の表面12よりも濡れ性が高い第1領域13Aを有する。換言すれば、第1領域13Aは親水性を有する。第1領域13Aへの親水性(親油性)の付与は、例えばカルボニル基、カルボキシル基といった官能基(OH基)の付与で行うことができる。本実施形態の第1領域13Aでは発光部11の表面12に比べ官能基(OH基)が多く付着されている。第1領域13Aに付着させる官能基は、ポリイミド、レジストなどの有機物や、銅、ニッケル、アルミニウムなどの金属、ガラス又はシリコンなどの無機物をアッシング処理することで発生する。なお、濡れ性を高くする方法は官能基を付着させる方法以外の方法を用いてもよい。
図2A~2Dは、濡れ性と接触角の関係の説明図である。ここで、相対的な濡れ性の良否は、静止液体の自由表面が固体壁に接する場所で液面と固体面とのなす角(液の内部にある角をとる)である接触角θを用いて判断される。接触角θが小さいほどが相対的な濡れ性が高い。例えば、図2Aの液体は図2Bの液体よりも接触角θが小さく固体表面に対して濡れ性が高い。図2Cの液体は図2Dの液体よりも接触角θが小さく固体表面に対して濡れ性が高い。本実施形態の熱制御部材Cとして、発光部11の表面12よりも濡れ性が高い第1領域13Aを有することで、図1に示すように、冷却流体6を対流させ熱を分散させることができる。
<半導体チップの構成>
ここで、半導体チップ1の構成について説明する。図3は、半導体チップの構成の構成を示す断面図である。半導体チップ1は、第2化合物半導体層の頂面から第2光反射層を介してレーザ光を出射する面発光レーザ素子(垂直共振器レーザ、VCSEL)からなる。
ここで、半導体チップ1の構成について説明する。図3は、半導体チップの構成の構成を示す断面図である。半導体チップ1は、第2化合物半導体層の頂面から第2光反射層を介してレーザ光を出射する面発光レーザ素子(垂直共振器レーザ、VCSEL)からなる。
本実施形態の半導体チップ1あるいは後述する実施形態の半導体チップ1は、一例として、図3に示すように、第1導電型(具体的には、n型)を有する第1化合物半導体層121と、活性層(発光層)123と、第2導電型(具体的には、p型)を有する第2化合物半導体層122とが積層された、GaN系化合物半導体からなる積層構造体を有する。なお、半導体チップ1をGaAsやInPのような化合物半導体を含んで構成してもよい。図3の少なくとも第1化合物半導体層121と活性層123と第2化合物半導体層122が図1の発光部11に該当する。
第1化合物半導体層121は、第1面121a、及び、第1面121aと対向する第2面121bを有する。活性層(発光層)123は、第1化合物半導体層121の第2面121bと面する。第2化合物半導体層122は、活性層123と面する第1面122a、及び、第1面122aと対向する第2面122bを有する。
第1化合物半導体層121はn-GaN層からなる。活性層123はIn0.04Ga0.96N層(障壁層)とIn0.16Ga0.84N層(井戸層)とが積層された5重の多重量子井戸構造からなる。第2化合物半導体層122はp-GaN層からなる。第1電極131は、第1化合物半導体層121の第1面121aの上に形成されている。一方、第2電極132は、第2化合物半導体層122の上に形成されている。第1電極131はTi/Pt/Auからなる。第2電極132は、透明導電性材料、具体的には、ITOからなる。第1電極131の縁部の上には、外部の電極あるいは回路と電気的に接続するための、例えばTi/Pt/Au又はV/Pt/Auからなるパッド電極(図示せず)が形成あるいは接続されている。第2電極132の縁部の上には、外部の電極あるいは回路と電気的に接続するための、例えば、Pd/Ti/Pt/AuやTi/Pd/Au、Ti/Ni/Auからなるパッド電極133が形成あるいは接続されている。
(WO2018/083877の61、67段落)
半導体チップ1は、上述したGaN系化合物半導体からなる積層構造体を挟むように形成された第1光反射層141及び第2光反射層142を有する。第1光反射層141は、第1化合物半導体層121の第1面121a側に形成されている。第2光反射層142は、第2化合物半導体層122の第2面122b側に配置され、第2電極132上に形成される。そして、第1光反射層141は、凹面鏡部143を有し、第2光反射層142は平坦な形状を有する。第1光反射層141及び第2光反射層142は、Ta2O5層とSiO2層の積層構造(誘電体膜の積層総数:20層)からなる。第1光反射層141及び第2光反射層142はこのように多層構造を有するが、図面の簡素化のため、1層で表している。第1電極131、第1光反射層141、第2光反射層142、絶縁層(電流狭窄層)154に設けられた開口部154aのそれぞれの平面形状は円形である。
半導体チップ1は、上述したGaN系化合物半導体からなる積層構造体を挟むように形成された第1光反射層141及び第2光反射層142を有する。第1光反射層141は、第1化合物半導体層121の第1面121a側に形成されている。第2光反射層142は、第2化合物半導体層122の第2面122b側に配置され、第2電極132上に形成される。そして、第1光反射層141は、凹面鏡部143を有し、第2光反射層142は平坦な形状を有する。第1光反射層141及び第2光反射層142は、Ta2O5層とSiO2層の積層構造(誘電体膜の積層総数:20層)からなる。第1光反射層141及び第2光反射層142はこのように多層構造を有するが、図面の簡素化のため、1層で表している。第1電極131、第1光反射層141、第2光反射層142、絶縁層(電流狭窄層)154に設けられた開口部154aのそれぞれの平面形状は円形である。
第1光反射層141の凹面鏡部143は、第1化合物半導体層121の第1面121aの突出部121dからなる基部145D、及び、少なくとも基部145Dの一部の表面(具体的には、基部145Dの表面)に形成された多層光反射膜146から構成されている。
半導体チップ1において、電流注入領域151、電流注入領域151を取り囲む電流非注入・内側領域152、及び、電流非注入・内側領域152を取り囲む電流非注入・外側領域153が形成されている。モードロス作用領域155の正射影像と電流非注入・外側領域153の正射影像とは重なり合っている。電流非注入・内側領域152及び電流非注入・外側領域153は、第2化合物半導体層122の第2面へのプラズマ照射、又は、第2化合物半導体層122の第2面へのアッシング処理、又は、第2化合物半導体層122の第2面への反応性イオンエッチング(RIE)処理によって形成される。そして、このように電流非注入・内側領域152及び電流非注入・外側領域153はプラズマ粒子(具体的には、アルゴン、酸素、窒素等)に晒されるので、第2化合物半導体層122の導電性に劣化が生じ、電流非注入・内側領域152及び電流非注入・外側領域153は高抵抗状態となる。即ち、電流非注入・内側領域152及び電流非注入・外側領域153は、第2化合物半導体層122の第2面122bのプラズマ粒子への暴露によって形成される。
この実施形態の半導体チップ1にあっては、第2光反射層142は、金(Au)層あるいは錫(Sn)を含む半田層からなる接合層148を介して、シリコン半導体基板から構成された支持基板149に半田接合法に基づき固定されている。この実施形態の半導体チップ1にあっても、電流注入領域、電流非注入領域及びモードロス作用領域を前述した所定の配置関係とすることで、基本モードとより高次のモードに対してモードロス作用領域が与える発振モードロスの大小関係を制御することができ、高次モードに与える発振モードロスを基本モードに与える発振モードロスに対して相対的に大きくすることで、基本モードを一層安定化させることができる。
上述したように、半導体チップ1は、発光部11の表面12に配置された凹面鏡部143を備えることで、活性層123からの光を第1光反射層141の凹面鏡部143で反射させる面発光レーザとなる。より具体的には、半導体チップ1は垂直共振器型面発光レーザとなる。なお、半導体チップ1は、凹面鏡でない反射層を有する面発光レーザであってもよい。
<半導体チップ1周辺の構成と作用効果>
支持基板2は、図1Aに示すように、ヒートシンク3を含んで構成され、半導体チップ1を支持する。ヒートシンク3には半導体チップ1が接合されている。ヒートシンク3は、半導体チップ1の発光部11において発生した熱を放散する。封止部材4は、支持基板2上で半導体チップ1を囲って封止するキャップ41と透過部42とを備え、平面視円形又は矩形の有底筒形状を有する。キャップ41は、例えば金属製(例えばアルミニウム製)の蓋である。キャップ41は、半導体チップ1を囲むように支持基板2に気密に固定される。キャップ41には、半導体チップ1の発光部11に重ねられる位置に透過部42を設けるための貫通穴が設けられている。透過部42は、例えばガラスで構成され、半導体チップ1の発光部11から発光された光を透過させる。このような構成により、半導体チップ1は半導体発光装置100において支持基板2とヒートシンク3と封止部材4とで密閉される。
支持基板2は、図1Aに示すように、ヒートシンク3を含んで構成され、半導体チップ1を支持する。ヒートシンク3には半導体チップ1が接合されている。ヒートシンク3は、半導体チップ1の発光部11において発生した熱を放散する。封止部材4は、支持基板2上で半導体チップ1を囲って封止するキャップ41と透過部42とを備え、平面視円形又は矩形の有底筒形状を有する。キャップ41は、例えば金属製(例えばアルミニウム製)の蓋である。キャップ41は、半導体チップ1を囲むように支持基板2に気密に固定される。キャップ41には、半導体チップ1の発光部11に重ねられる位置に透過部42を設けるための貫通穴が設けられている。透過部42は、例えばガラスで構成され、半導体チップ1の発光部11から発光された光を透過させる。このような構成により、半導体チップ1は半導体発光装置100において支持基板2とヒートシンク3と封止部材4とで密閉される。
封止部材4と支持基板2との間における空間5には冷却流体6が封入されている。より詳細には、封止部材4の内部では、密閉された空間5の空気の体積に対して十分に小さい体積の冷却流体6が封入されている。冷却流体6は、熱を取り込んで、蒸発、融解、又は昇華する気体、液体又は固体である。冷却流体6としては、半導体チップ1の発熱により蒸発又は昇華をすることができ、かつ、絶縁性を有する材料が用いられる。例えば、冷却流体6としては、水やアルコールといった液体、ドライアイスといった固体が用いられる。半導体チップ1は、冷却流体6が状態変化することで冷却される。
このような構成により、半導体発光装置100が発光し半導体チップ1が発光部11で発熱しているときには、発光部11の表面12で加熱された冷却流体6が蒸発して気体となり発光部11は冷却される。続いて、気体になった冷却流体6は封止部材4の内側(空間5)において分散して対流する。上述したように、本実施形態の熱制御部材Cは発光部11の表面12よりも濡れ性が高い第1領域13Aを有する。また、第1領域13Aは、発光部11の周辺に配置されている。このため、気体になり、空間5内で内側から外側に流れた冷却流体6は、濡れ性の高い第1領域13Aで凝縮し付着する。そして、第1領域13Aに蓄積された冷却流体6は、発光部11側に集まり、発光部11の表面12で再度蒸発する。このように、本実施形態の熱制御部材Cは、発光部11と封止部材4との間で、冷却流体6を用いて発光部11の熱を対流させる。これにより、熱制御部材Cは、半導体発光装置100内で冷却流体6を循環させ、封止部材4の内側で冷却流体6を用いて発光部11の熱を分散させることができる。本実施形態の半導体発光装置100によれば、発光部11を効率的に冷却することができ、設計通りの本来の発光特性を得ることができる(以下の実施形態においても同様)。
また、本実施形態の構成によれば、発光部11を効率的に冷却することで、出力、信頼性又は温度特性を向上させることもできる。また、半導体発光装置100内で冷却流体6を循環させて発光部11を冷却するため、自己完結的に冷却することができる。これにより、可動部を不要にすることで故障率を低減でき、電気的損失も少なくすることができる。また、冷却流体6が循環することで封止部材4内における面に生じた電荷を移動させることができ、電荷の蓄積による静電気放電による半導体チップ1の破損を防止することもできる。
また、図3に示すように、DBR(拡散ブラッグ反射器)を構成する第1光反射層141と第2光反射層142のうち、第1光反射層141の凹面鏡となる凹面鏡部143が外側に向けて突起しており発光部11の表面12の面積を平坦な場合と比較して広くすることができる。これにより、発光部11の表面12を効率的に冷却することができる。また、凹面鏡部143の表面(発光部11の表面12)は粗面となるため、冷却流体6を周囲から集めやすく冷却効率を向上することもできる。
<第2実施形態>
図4Aは、第2実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図4Bは、図4Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の熱制御部材Cは、第1実施形態における第1領域13Aに替えて第1領域13Bを有する。第1領域13Bは、発光部11の周辺に配置され、発光部11の表面12とは異なる表面張力を有する。この第1領域13Bは、発光部11の表面12よりも表面張力γcが大きくなるように構成されている。これにより、第1領域13Bの濡れ性を高くすることができる。この場合、第1領域13Bの表面張力を臨界表面張力γcに近づけることで、第1領域13Bに対して冷却流体6をより濡れやすくすることができる。本実施形態の構成によれば、第1領域13Bに冷却流体6を付着させやすくして封止部材4の内側において冷却流体6の対流を促進し、発光部11を効率的に冷却することができる。
図4Aは、第2実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図4Bは、図4Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の熱制御部材Cは、第1実施形態における第1領域13Aに替えて第1領域13Bを有する。第1領域13Bは、発光部11の周辺に配置され、発光部11の表面12とは異なる表面張力を有する。この第1領域13Bは、発光部11の表面12よりも表面張力γcが大きくなるように構成されている。これにより、第1領域13Bの濡れ性を高くすることができる。この場合、第1領域13Bの表面張力を臨界表面張力γcに近づけることで、第1領域13Bに対して冷却流体6をより濡れやすくすることができる。本実施形態の構成によれば、第1領域13Bに冷却流体6を付着させやすくして封止部材4の内側において冷却流体6の対流を促進し、発光部11を効率的に冷却することができる。
<第3実施形態>
図5Aは、第3実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図5Bは、図5Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の熱制御部材Cは、第1実施形態における第1領域13Aに替えて第1領域13Cを有する。第1領域13Cは、発光部11の周辺に配置され、発光部11の表面12とは異なる表面粗さを有する。これにより、発光部11と第1領域13Cの表面粗さに差を付けることができる。例えば、発光部11の表面12の表面粗さを第1領域13Cの表面粗さよりも荒くしてもよく、第1領域13Cの表面粗さを発光部11の表面12の表面粗さよりも荒くしてもよい。この場合、表面粗さの差は、1%以上であるのが望ましく、10%以上であるのが更に望ましい。ここで、親水性又は親油性を有する表面の場合には表面粗さが大きくなると親水性又は親油性がより高くなり、撥水性又は撥油性を有する表面の場合には表面粗さが大きくなると撥水性又は撥油性がより高くなる。このため、本実施形態においては、例えば第1領域13Cを親水性が高い表面としたときには、その面の表面粗さを大きくする。
図5Aは、第3実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図5Bは、図5Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の熱制御部材Cは、第1実施形態における第1領域13Aに替えて第1領域13Cを有する。第1領域13Cは、発光部11の周辺に配置され、発光部11の表面12とは異なる表面粗さを有する。これにより、発光部11と第1領域13Cの表面粗さに差を付けることができる。例えば、発光部11の表面12の表面粗さを第1領域13Cの表面粗さよりも荒くしてもよく、第1領域13Cの表面粗さを発光部11の表面12の表面粗さよりも荒くしてもよい。この場合、表面粗さの差は、1%以上であるのが望ましく、10%以上であるのが更に望ましい。ここで、親水性又は親油性を有する表面の場合には表面粗さが大きくなると親水性又は親油性がより高くなり、撥水性又は撥油性を有する表面の場合には表面粗さが大きくなると撥水性又は撥油性がより高くなる。このため、本実施形態においては、例えば第1領域13Cを親水性が高い表面としたときには、その面の表面粗さを大きくする。
本実施形態においては、第1領域13Cと発光部11の表面12との表面粗さを異ならせることで、第1領域13Cに対して冷却流体6をより濡れるようにすることができる。これにより、第1領域13Cに冷却流体6を付着させやすくして封止部材4内での冷却流体6の対流を促進し、発光部11を効率的に冷却することができる。
(アレイタイプ)
<第4実施形態>
図6Aは、第4実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図6Bは、図6Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の半導体チップ1は、二次元方向に配置された複数の発光部11を有するアレイ部14を備える。半導体チップ1には、図6Bに示すように、複数行かつ複数列、より具体的には3行3列に配置された9個の発光部11が配置されている。なお、半導体チップ1は、一次元方向に配置された複数の発光部11を有するアレイ部14を備えてもよい。封止部材4は、全ての発光部11を覆う大きさに形成された透過部42を有する。これにより、封止部材4は、アレイ部14を封止するとともに、複数の発光部11のそれぞれから発光された光を透過部42から透過させる。
<第4実施形態>
図6Aは、第4実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図6Bは、図6Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の半導体チップ1は、二次元方向に配置された複数の発光部11を有するアレイ部14を備える。半導体チップ1には、図6Bに示すように、複数行かつ複数列、より具体的には3行3列に配置された9個の発光部11が配置されている。なお、半導体チップ1は、一次元方向に配置された複数の発光部11を有するアレイ部14を備えてもよい。封止部材4は、全ての発光部11を覆う大きさに形成された透過部42を有する。これにより、封止部材4は、アレイ部14を封止するとともに、複数の発光部11のそれぞれから発光された光を透過部42から透過させる。
本実施形態の半導体チップ1における第1領域13Aは、9個の発光部11の突起した表面12のある面においてそれらを取り囲むように配置される。換言すれば、第1領域13Aは、9個の発光部11の表面12を除いた部分に配置される。第1領域13Aは、第1実施形態と同様に発光部11の表面12よりも濡れ性を高くしてもよい。また、第1領域13Aは、第2実施形態と同様に、発光部11の表面12よりも表面張力γcが大きくしてもよく、第3実施形態と同様に発光部11の表面12と表面粗さを異ならせてもよい。
本実施形態の熱制御部材Cによっても、冷却流体6を第1領域13Cに付着させやすくして封止部材4内での冷却流体6の対流を促進し、発光部11を効率的に冷却することができる。また、複数の発光部11を取り囲むように配置された第1領域13Aに対して気体となった冷却流体6を対流させることで、アレイ部14に設けられた全ての発光部11を冷却することができる。これにより、アレイ部14に設けられた複数の発光部11間の温度ばらつきを抑え、発光特性を面内均一化することができる。
<第5実施形態>
図7Aは、第5実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図7Bは、図7Aの半導体チップの構成を示す平面図である。図7Aは、図7BのB-B断面を示す。本実施形態の半導体チップ1は、複数の発光部11を有するアレイ部14を備える点は第4実施形態と同様であり、同様の作用効果を奏する。しかしながら、本実施形態の半導体チップ1発光部11ごとに濡れ性を異ならせている点で第4実施形態の半導体チップ1と相違する。
図7Aは、第5実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図7Bは、図7Aの半導体チップの構成を示す平面図である。図7Aは、図7BのB-B断面を示す。本実施形態の半導体チップ1は、複数の発光部11を有するアレイ部14を備える点は第4実施形態と同様であり、同様の作用効果を奏する。しかしながら、本実施形態の半導体チップ1発光部11ごとに濡れ性を異ならせている点で第4実施形態の半導体チップ1と相違する。
例えば、図7Aにおける外側の発光部11の周囲における第1領域13Aは親水性が発光部11の表面12よりも高く形成される。これに対して、同図の中央の発光部11の周囲における第1領域13Dは第1領域13Aよりも親水性が低く形成される。このように、アレイ部14において発光部11ごとに冷却のされやすさを相違させることで、発光部11の発光特性を個別に制御することができる。また、発光部11ごとに、その周囲の濡れ性を異ならせることで、発光特性の異なる複数の発光部11の熱特性などを均等化してもよい。また、濡れ性を2種以上の多段階に異ならせてもよい。
<第6実施形態>
図8Aは、第6実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図8Bは、図8Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の熱制御部材Cは、発光部11の表面12に配置され、第1領域13Aよりも撥水性又は撥油性が高い第2領域12Aを有する。第2領域12Aは、例えば飽和フルオロアルキル基、アルキルシリル基、フルオロシリル基、又は、長鎖アルキル基などの化学物質を、発光部11の表面12に第1領域13Aよりも多く付着させることで、撥水性又は撥油性が高くなるように構成されている。なお、撥水性又は撥油性が高くするためには、飽和フルオロアルキル基のなかでもトリフルオロメチル基(CF3-)を第2領域12Aに付着させるのが特に望ましい。
図8Aは、第6実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図8Bは、図8Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の熱制御部材Cは、発光部11の表面12に配置され、第1領域13Aよりも撥水性又は撥油性が高い第2領域12Aを有する。第2領域12Aは、例えば飽和フルオロアルキル基、アルキルシリル基、フルオロシリル基、又は、長鎖アルキル基などの化学物質を、発光部11の表面12に第1領域13Aよりも多く付着させることで、撥水性又は撥油性が高くなるように構成されている。なお、撥水性又は撥油性が高くするためには、飽和フルオロアルキル基のなかでもトリフルオロメチル基(CF3-)を第2領域12Aに付着させるのが特に望ましい。
このように、第2領域12Aの撥水性又は撥油性を第1領域13Aよりも高くすることで、相対的に、第1領域13Aの親水性又は親油性を第2領域12Aよりも高くすることができる。これにより、第1領域13Aに冷却流体6を付着させやすくして封止部材4の内側において冷却流体6の対流を促進し、発光部11を効率的に冷却することができる。これにより、冷却流体6の循環を促進することができ、発光部11を効率的に冷却することができる。
(第7実施形態)
<第7実施形態>
図9Aは、第7実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図9Bは、図9Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の熱制御部材Cは、発光部11の表面12(第2領域12A)に設けられる複数の凸部12A_1を有する。この凸部12A_1は、例えば発光部11の表面12から平行光として出射されるレーザ光を拡散しない程度に小さく形成されている。この凸部12A_1により、発光部11の表面12の濡れ性を低くすることで、相対的に第1領域13Aの濡れ性を高くすることができ、冷却流体6の対流を促進し、発光部11を効率的に冷却することができる。
<第7実施形態>
図9Aは、第7実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図9Bは、図9Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の熱制御部材Cは、発光部11の表面12(第2領域12A)に設けられる複数の凸部12A_1を有する。この凸部12A_1は、例えば発光部11の表面12から平行光として出射されるレーザ光を拡散しない程度に小さく形成されている。この凸部12A_1により、発光部11の表面12の濡れ性を低くすることで、相対的に第1領域13Aの濡れ性を高くすることができ、冷却流体6の対流を促進し、発光部11を効率的に冷却することができる。
<第8実施形態>
図10Aは、第8実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図10Bは、図10Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の半導体チップ1は、複数の発光部11を有するアレイ部14を備える点は第4実施形態の半導体チップ1と同様であり、同様の作用効果を奏する。しかしながら、本実施形態の半導体チップ1は発光部11の表面12(第2領域12A)の濡れ性が第1領域13Aよりも低い点で第4実施形態の半導体チップ1とは相違する。濡れ性を低くするためには、第6実施形態と同様に飽和フルオロアルキル基などの化学物質を第1領域13Aよりも発光部11の表面12に多く付着させてもよいし、第7実施形態と同様に発光部11の表面12に複数の微細な凸部12A_1を設けてもよい。これにより、アレイ部14を備える構成であっても、冷却流体6の対流を促進し、発光部11を効率的に冷却することができる。
図10Aは、第8実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図10Bは、図10Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の半導体チップ1は、複数の発光部11を有するアレイ部14を備える点は第4実施形態の半導体チップ1と同様であり、同様の作用効果を奏する。しかしながら、本実施形態の半導体チップ1は発光部11の表面12(第2領域12A)の濡れ性が第1領域13Aよりも低い点で第4実施形態の半導体チップ1とは相違する。濡れ性を低くするためには、第6実施形態と同様に飽和フルオロアルキル基などの化学物質を第1領域13Aよりも発光部11の表面12に多く付着させてもよいし、第7実施形態と同様に発光部11の表面12に複数の微細な凸部12A_1を設けてもよい。これにより、アレイ部14を備える構成であっても、冷却流体6の対流を促進し、発光部11を効率的に冷却することができる。
<第9実施形態>
図11Aは、第9実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図11Bは、図11Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の半導体チップ1は、複数の発光部11を有するアレイ部14を備える点は第8実施形態の半導体チップ1と同様であり、同様の作用効果を奏する。しかしながら、本実施形態の半導体チップ1は複数の発光部11ごとにその表面12の濡れ性を異ならせる点で第8実施形態の半導体チップ1とは相違する。
図11Aは、第9実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図11Bは、図11Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の半導体チップ1は、複数の発光部11を有するアレイ部14を備える点は第8実施形態の半導体チップ1と同様であり、同様の作用効果を奏する。しかしながら、本実施形態の半導体チップ1は複数の発光部11ごとにその表面12の濡れ性を異ならせる点で第8実施形態の半導体チップ1とは相違する。
図11Aで内側に示す発光部11の表面12(第2領域12A)は、同図で外側に示す発光部11の表面12(第2領域12B)よりも濡れ性が低い。表面12(第2領域12A)の濡れ性を低くするためには、第6実施形態と同様に飽和フルオロアルキル基などの化学物質を多く付着させてもよいし、第7実施形態と同様に複数の微細な凸部12A_1を設けてもよい。これにより、アレイ部14を備える構成であっても、冷却流体6の対流を促進し、発光部11を効率的に冷却することができるほか、発光部11の発光特性(例えば出力や温度特性)を個別に制御することもできる。また、発光部11ごとに、その表面12の濡れ性を異ならせることで、発光特性の異なる複数の発光部11の熱特性などを均等化してもよい。また、濡れ性を2種以上の多段階に異ならせてもよい。
<第10実施形態>
図12Aは、第10実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図12Bは、図12Aの半導体チップの構成を示す平面図である。図12Aは、図12BのC-C断面を示す。本実施形態の発光部11は、上面に光出射面が配置される凸部12Cを有する。凸部12Cには、その側面の少なくとも一部に粗面化領域12C_1が配置されている。具体的には、図12Aに示すように、発光部11の表面12において、凸部12Cの外周部分(麓の部分)に粗面化された粗面化領域12C_1が形成されている。粗面化領域12C_1は、誘電体(SiO2やTa2O5)の多層膜である凸部12Cの外周部分以外をマスクした状態でドライエッチングや薬液処理をすることで形成される。
図12Aは、第10実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図12Bは、図12Aの半導体チップの構成を示す平面図である。図12Aは、図12BのC-C断面を示す。本実施形態の発光部11は、上面に光出射面が配置される凸部12Cを有する。凸部12Cには、その側面の少なくとも一部に粗面化領域12C_1が配置されている。具体的には、図12Aに示すように、発光部11の表面12において、凸部12Cの外周部分(麓の部分)に粗面化された粗面化領域12C_1が形成されている。粗面化領域12C_1は、誘電体(SiO2やTa2O5)の多層膜である凸部12Cの外周部分以外をマスクした状態でドライエッチングや薬液処理をすることで形成される。
このような構成によれば、熱制御部材Cが凸部12Cの側面の少なくとも一部に配置される粗面化領域12C_1を有することで、粗面化領域12C_1において表面積を増加させることができる。また、凸部12Cの周囲を循環する冷却流体6の流れを乱れさせることで、発光部11を効率的に冷却することができる。なお、凸部12Cにおいて、粗面化領域12C_1のために粗面化されている外周を除いた部分、すなわち中央部分は図3に示す凹面鏡部143として機能する。この場合、第1領域13Aを凹面鏡部143と同様の素材としてもよいが、SiO2やSiNの絶縁膜としてもよい。
<第11実施形態>
図13Aは、第11実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図13Bは、図13Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の構成は、複数の発光部11を有するアレイ部14を備える点は第1実施形態の半導体チップ1と同様であり、同様の作用効果を奏する。また、発光部11の表面12において、凸部12Cの外周部分に粗面化された粗面化領域12C_1を有する点では第10実施形態の半導体チップ1と同様であり、同様の作用効果を奏する。これにより、アレイ部14を備える構成であっても、冷却流体6の対流を促進し、発光部11を効率的に冷却することができる。
図13Aは、第11実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図13Bは、図13Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の構成は、複数の発光部11を有するアレイ部14を備える点は第1実施形態の半導体チップ1と同様であり、同様の作用効果を奏する。また、発光部11の表面12において、凸部12Cの外周部分に粗面化された粗面化領域12C_1を有する点では第10実施形態の半導体チップ1と同様であり、同様の作用効果を奏する。これにより、アレイ部14を備える構成であっても、冷却流体6の対流を促進し、発光部11を効率的に冷却することができる。
<第12実施形態>
図14Aは、第12実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図14Bは、図14Aの半導体チップの構成を示す平面図である。図14Aは、図14BのD-D断面を示す。本実施形態の構成は、複数の発光部11を有するアレイ部14を備える点は第11実施形態の半導体チップ1と同様であり、同様の作用効果を奏する。また、発光部11の表面12において、凸部12Cの外周部分に粗面化された粗面化領域12C_1を有する点でも第11実施形態の半導体チップ1と同様であり、同様の作用効果を奏する。これに対して、本実施形態の半導体チップ1では、粗面化領域12C_1がある発光部11と粗面化領域12C_1がない発光部11との両方を有している点で第11実施形態の半導体チップ1と相違する。例えば、図7Aにおける外側の発光部11には粗面化領域12C_1がなく、中央の発光部には粗面化領域12C_1がある。このように、本実施形態の構成によれば、発光部11ごとに冷却のされやすさを異ならせることで、発光部11の発光特性を個別に制御することができる。また、同様にして、発光特性の異なる複数の発光部11の熱特性などを均等化してもよい。
図14Aは、第12実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図14Bは、図14Aの半導体チップの構成を示す平面図である。図14Aは、図14BのD-D断面を示す。本実施形態の構成は、複数の発光部11を有するアレイ部14を備える点は第11実施形態の半導体チップ1と同様であり、同様の作用効果を奏する。また、発光部11の表面12において、凸部12Cの外周部分に粗面化された粗面化領域12C_1を有する点でも第11実施形態の半導体チップ1と同様であり、同様の作用効果を奏する。これに対して、本実施形態の半導体チップ1では、粗面化領域12C_1がある発光部11と粗面化領域12C_1がない発光部11との両方を有している点で第11実施形態の半導体チップ1と相違する。例えば、図7Aにおける外側の発光部11には粗面化領域12C_1がなく、中央の発光部には粗面化領域12C_1がある。このように、本実施形態の構成によれば、発光部11ごとに冷却のされやすさを異ならせることで、発光部11の発光特性を個別に制御することができる。また、同様にして、発光特性の異なる複数の発光部11の熱特性などを均等化してもよい。
<第13実施形態>
図15Aは、第13実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図15Bは、図15Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の半導体発光装置100は、第1実施形態の半導体発光装置100やその他の実施形態の半導体発光装置100と同等の構成を有する。本実施形態の熱制御部材Cは、発光部11の表面に配置され、発光部11の発光時に第1領域13Aよりも高い温度になる第2領域12Dを有する。発光部11では、レーザ発振により発熱し高温になる高温部11Aによって表面12の第2領域12Dも加熱される。
図15Aは、第13実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図15Bは、図15Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の半導体発光装置100は、第1実施形態の半導体発光装置100やその他の実施形態の半導体発光装置100と同等の構成を有する。本実施形態の熱制御部材Cは、発光部11の表面に配置され、発光部11の発光時に第1領域13Aよりも高い温度になる第2領域12Dを有する。発光部11では、レーザ発振により発熱し高温になる高温部11Aによって表面12の第2領域12Dも加熱される。
また、半導体チップ1では、図2に示すように凹面鏡部143を有することで発光部11の表面12は外側に向かって突起するため、封止部材4の透過部42との距離が近くなる。より具体的には、図15Aに示すように、発光部11において突起した表面12の先端から透過部42の内面までの距離L1は、第1領域13Aからキャップ41の内面までの距離L2よりも短くなる。すなわち、第2領域12Dは、第1領域13Aよりも透過部42とキャップ41の内面の位置に近い側に配置される。これにより、発光部の11上部の空間5は狭くなり、暖める空気が少ないことで発光部11の上部の空間5は加熱されやすくなる。
一方、第1領域13Aは発光部11の表面12に比べ低温になるため、封止部材4内において温度勾配が生じて、冷却流体6を発光部11の上で留まらせることなく対流させることができる。これにより、冷却流体6を効率的に循環させることができる。本実施形態の熱制御部材Cでは、第1領域13Aと第2領域12Dとの温度差により、封止部材4の内側で熱の対流を生じさせる。これにより、冷却流体6を対流させて、発光部11を効率的に冷却することができる。なお、熱制御部材Cについて距離L1と距離L2で同様の関係となる他の実施形態でも同様の作用効果を奏することができる。
また、発光部11の表面12(第2領域12D)の上で冷却流体6が留まりにくい構成であるため、発光部11から出射されるレーザ光の経路に冷却流体6が溜まってしまうのを防止でき、半導体発光装置100としての光学特性の悪化を抑えることができる。また、凹面鏡部143によって発光部11の表面12の表面積を広くして冷却効率を向上させることができる。また、凹面鏡部143によって発光部11の表面12は曲面の球面の突起が設けられていることでレーザの出射角を常に垂直にすることができ、凹面鏡部143と冷却流体6の屈折率の差による出射角の揺らぎが発生しないようにすることもできる。
<第14実施形態>
図16Aは、第14実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図16Bは、図16Aの半導体発光装置の構成を示す平面図である。本実施形態の封止部材4は、図16Aに示すように、ドーム状のキャップ41Aを有する。具体的には、キャップ41Aは、その端面中央が曲面状に突起し、肉厚が略同一で、断面が形状で曲線に形成された平面視円形の蓋である。このため、封止部材4の内面の少なくとも一部は、曲面形状となる。これにより、冷却流体6を曲面に沿って対流させて発光部11を効率的に冷却することができる。
図16Aは、第14実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図16Bは、図16Aの半導体発光装置の構成を示す平面図である。本実施形態の封止部材4は、図16Aに示すように、ドーム状のキャップ41Aを有する。具体的には、キャップ41Aは、その端面中央が曲面状に突起し、肉厚が略同一で、断面が形状で曲線に形成された平面視円形の蓋である。このため、封止部材4の内面の少なくとも一部は、曲面形状となる。これにより、冷却流体6を曲面に沿って対流させて発光部11を効率的に冷却することができる。
<第15実施形態>
図17Aは、第15実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図17Bは、図17Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の半導体発光装置100は、発光部11を含み、その周辺に複数の溝13A_1を有する半導体チップ1を備えている。複数の溝13A_1は、半導体チップ1の第1領域13Aの一主面に配置される。複数の溝13A_1のそれぞれは、中央部の発光部11から一主面の端部にかけて放射状に延びている。複数の溝13A_1の幅は、発光部11に近い側よりも遠い側の方が広い。本実施形態の熱制御部材Cは、複数の溝13A_1を有して構成されている。これにより、複数の溝13A_1における毛細管現象を利用して第1領域13Aの一主面で凝縮した冷却流体6を発光部11側に集めることができ、冷却流体6を循環させて発光部11を効率的に冷却することができる。なお、複数の溝13A_1は、第1領域13Aの一主面において放射状ではなく渦巻き状に延びるように設けてもよい。
図17Aは、第15実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図17Bは、図17Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の半導体発光装置100は、発光部11を含み、その周辺に複数の溝13A_1を有する半導体チップ1を備えている。複数の溝13A_1は、半導体チップ1の第1領域13Aの一主面に配置される。複数の溝13A_1のそれぞれは、中央部の発光部11から一主面の端部にかけて放射状に延びている。複数の溝13A_1の幅は、発光部11に近い側よりも遠い側の方が広い。本実施形態の熱制御部材Cは、複数の溝13A_1を有して構成されている。これにより、複数の溝13A_1における毛細管現象を利用して第1領域13Aの一主面で凝縮した冷却流体6を発光部11側に集めることができ、冷却流体6を循環させて発光部11を効率的に冷却することができる。なお、複数の溝13A_1は、第1領域13Aの一主面において放射状ではなく渦巻き状に延びるように設けてもよい。
<第16実施形態>
図18Aは、第16実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図18Bは、図18Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の半導体発光装置100は、発光部11を含み、その周辺に複数の溝13A_2を有する半導体チップ1を備えている。複数の溝13A_2は、半導体チップ1の第1領域13Aの一主面に同心円状に配置される。複数の溝13A_2のそれぞれは、発光部11を中心として、それぞれ異なる径で、発光部11を取り囲むように配置されている。複数の溝13A_2の幅は、発光部11に近い側よりも遠い側の方が広い。このように、本実施形態の熱制御部材Cは、複数の溝13A_2を有して構成されている。このような構成によれば、複数の溝13A_2における毛細管現象を利用して第1領域13Aの一主面で凝縮した冷却流体6を発光部11側に流すことで、冷却流体6を循環させて、発光部11を効率的に冷却することができる。
図18Aは、第16実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図18Bは、図18Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の半導体発光装置100は、発光部11を含み、その周辺に複数の溝13A_2を有する半導体チップ1を備えている。複数の溝13A_2は、半導体チップ1の第1領域13Aの一主面に同心円状に配置される。複数の溝13A_2のそれぞれは、発光部11を中心として、それぞれ異なる径で、発光部11を取り囲むように配置されている。複数の溝13A_2の幅は、発光部11に近い側よりも遠い側の方が広い。このように、本実施形態の熱制御部材Cは、複数の溝13A_2を有して構成されている。このような構成によれば、複数の溝13A_2における毛細管現象を利用して第1領域13Aの一主面で凝縮した冷却流体6を発光部11側に流すことで、冷却流体6を循環させて、発光部11を効率的に冷却することができる。
<第17実施形態>
図19Aは、第17実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図19Bは、図19Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の半導体チップ1は、第15実施形態と同様の放射状に延びた複数の溝13A_1と、第16実施形態と同様に発光部を取り囲む複数の同心円状の複数の溝13A_2とを有する。このような構成により、これらの実施形態と同様の作用効果を奏することができる。
図19Aは、第17実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図19Bは、図19Aの半導体チップの構成を示す平面図である。本実施形態の半導体チップ1は、第15実施形態と同様の放射状に延びた複数の溝13A_1と、第16実施形態と同様に発光部を取り囲む複数の同心円状の複数の溝13A_2とを有する。このような構成により、これらの実施形態と同様の作用効果を奏することができる。
<第18実施形態>
図20Aは、第18実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図20Bは、図20Aの半導体チップの機能を説明する断面図である。図20Cは、図20Aの半導体発光装置の構成を示す平面図である。図20Cは、図20AのE-E断面を示す。本実施形態の発光部11は、積層された複数の層として、n-GaN層からなる第1化合物半導体層121、5重の多重量子井戸構造からなる活性層123、及び、p-GaN層からなる第2化合物半導体層122を含む(図3参照)。本実施形態の熱制御部材Cは、複数の層121、122、123のうち一部の層に配置され冷却流体6が流れる流路5Aを有する。例えば、図20Aに示す構成では、第1化合物半導体層121に流路5Aが配置される。
図20Aは、第18実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図20Bは、図20Aの半導体チップの機能を説明する断面図である。図20Cは、図20Aの半導体発光装置の構成を示す平面図である。図20Cは、図20AのE-E断面を示す。本実施形態の発光部11は、積層された複数の層として、n-GaN層からなる第1化合物半導体層121、5重の多重量子井戸構造からなる活性層123、及び、p-GaN層からなる第2化合物半導体層122を含む(図3参照)。本実施形態の熱制御部材Cは、複数の層121、122、123のうち一部の層に配置され冷却流体6が流れる流路5Aを有する。例えば、図20Aに示す構成では、第1化合物半導体層121に流路5Aが配置される。
流路5Aの製造工程としては、まずn-GaNの第1化合物半導体層121をエピタキシャル成長させた後に、図20Cに示す流路5Aの形状(格子状)にSiO2をパターニングする。続いて、SiO2上に再度第1化合物半導体層121をエピタキシャル成長させる。続いて、活性層123とp-GaNの第2化合物半導体層122をエピタキシャル成長させた後に、フッ酸系の薬液で格子状のSiO2を除去する。以上の工程により、第1化合物半導体層121に流路5Aが形成される。
流路5Aを含む第1化合物半導体層121の厚さは、流路5Aを流れる冷却流体6の圧力に応じて調整される。ここで、発光部11は図3に示す第1光反射層141と第2光反射層142とによって構成されてレーザ光を共振させる共振器を有するが、本実施形態の発光部11から発光される光の共振器長は、第1化合物半導体層121の厚さに応じて変化する。なお、冷却流体6は、第1化合物半導体層121の上面側や下面側に設けた溝から流し込んでもよく、その側面側から流し込んでもよい。
このような構成により、流路5Aに冷却流体6を流すことができ、半導体チップ1の発光部11を冷却することができる。また、流路5Aに流す冷却流体6の流量(圧力)を調節することで、第1化合物半導体層121と第2化合物半導体層122とを挟み込むように配置された第1光反射層141と第2光反射層142との間の距離を制御することができる。したがって、この距離に相当する半導体チップ1の共振器長を制御することができ、出射されるレーザ光の波長を制御することができる。また、第1化合物半導体層121の内部で対向して流路5Aを構成する面においても光は反射するため、反射した波長は発光部11の表面12から射出されない。このため、不要な波長をフィルターして射出されるレーザ光の縦モードを安定化させることができる。
<第19実施形態>
図21は、第19実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。本実施形態の熱制御部材Cは、光制御部材4Aを有する。光制御部材4Aは、発光部11の表面12の少なくとも一部を覆うとともに、冷却流体6が流れる流路5Bを有する。より具体的には、同図に示す光制御部材4Aは、半導体チップ1の全体を覆うように形成されることで、半導体チップ1と光制御部材4Aとの隙間が流路5Bを構成する。冷却流体6が流路5Bを流れることで、発光部11の表面に冷却流体6を流すことができ、発光部11を効率的に冷却することができる。
図21は、第19実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。本実施形態の熱制御部材Cは、光制御部材4Aを有する。光制御部材4Aは、発光部11の表面12の少なくとも一部を覆うとともに、冷却流体6が流れる流路5Bを有する。より具体的には、同図に示す光制御部材4Aは、半導体チップ1の全体を覆うように形成されることで、半導体チップ1と光制御部材4Aとの隙間が流路5Bを構成する。冷却流体6が流路5Bを流れることで、発光部11の表面に冷却流体6を流すことができ、発光部11を効率的に冷却することができる。
また、光制御部材4Aは、発光部11に重なる位置に凸レンズ4A_1を有するになるように突起する。これにより、光制御部材4Aは、発光部11から発光された光をコリメートレンズとしても機能し、凸レンズ4A_1でレーザ光をコリメートして出射させることもできる。
<第20実施形態>
図22Aは、第20実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図22Bは、図22Aの半導体発光装置の構成を示す平面図である。図22Bは、図22AのF-F断面を示す。本実施形態の半導体チップ1は、第1化合物半導体層121、活性層123、及び、第2化合物半導体層122に沿って設けられ、図22Bに示すように冷却流体6が流れる流路5Cを有する。流路5Cに冷却流体6を流すことで、発光部11を冷却することができる。また、これらの層121、122、123の面積は流路5Cによって狭められることで、発光部11の電極からの電流の通過範囲が制限される電流狭窄領域121、122、123が形成される。
図22Aは、第20実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。図22Bは、図22Aの半導体発光装置の構成を示す平面図である。図22Bは、図22AのF-F断面を示す。本実施形態の半導体チップ1は、第1化合物半導体層121、活性層123、及び、第2化合物半導体層122に沿って設けられ、図22Bに示すように冷却流体6が流れる流路5Cを有する。流路5Cに冷却流体6を流すことで、発光部11を冷却することができる。また、これらの層121、122、123の面積は流路5Cによって狭められることで、発光部11の電極からの電流の通過範囲が制限される電流狭窄領域121、122、123が形成される。
<第21実施形態>
図23は、第21実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。同図に示すように、半導体チップ1は、垂直共振器型面発光レーザでなく、端面発光レーザ(EEL:Edge Emitting Laser)であってもよい。この場合、支持基板2に対して垂直に立てたヒートシンク3の側面に半導体チップ1が固定される。このような構成においても、発光部11で加熱された冷却流体6を封止部材4内の空間5で循環させることができ、発光部11を効率的に冷却することができる。
図23は、第21実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。同図に示すように、半導体チップ1は、垂直共振器型面発光レーザでなく、端面発光レーザ(EEL:Edge Emitting Laser)であってもよい。この場合、支持基板2に対して垂直に立てたヒートシンク3の側面に半導体チップ1が固定される。このような構成においても、発光部11で加熱された冷却流体6を封止部材4内の空間5で循環させることができ、発光部11を効率的に冷却することができる。
<第22実施形態>
図24は、第22実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。同図に示すように、半導体チップ1は、凹面鏡でない反射層を有する面発光レーザであってもよい。この場合、発光部11の表面12は平坦である。このような構成においても、上述した実施形態の熱制御部材Cを設けることで、発光部11で加熱された冷却流体6を封止部材4内の空間5で循環させることができ、発光部11を効率的に冷却することができる。
図24は、第22実施形態の半導体発光装置の構成を示す断面図である。同図に示すように、半導体チップ1は、凹面鏡でない反射層を有する面発光レーザであってもよい。この場合、発光部11の表面12は平坦である。このような構成においても、上述した実施形態の熱制御部材Cを設けることで、発光部11で加熱された冷却流体6を封止部材4内の空間5で循環させることができ、発光部11を効率的に冷却することができる。
<応用例>
本開示に係る技術は、様々な製品へ応用することができる。例えば、本開示に係る技術は、自動車、電気自動車、ハイブリッド電気自動車、自動二輪車、自転車、パーソナルモビリティ、飛行機、ドローン、船舶、ロボット、建設機械、農業機械(トラクター)などのいずれかの種類の移動体に搭載される装置として実現されてもよい。
本開示に係る技術は、様々な製品へ応用することができる。例えば、本開示に係る技術は、自動車、電気自動車、ハイブリッド電気自動車、自動二輪車、自転車、パーソナルモビリティ、飛行機、ドローン、船舶、ロボット、建設機械、農業機械(トラクター)などのいずれかの種類の移動体に搭載される装置として実現されてもよい。
図25は、本開示に係る技術が適用され得る移動体制御システムの一例である車両制御システム7000の概略的な構成例を示すブロック図である。車両制御システム7000は、通信ネットワーク7010を介して接続された複数の電子制御ユニットを備える。図25に示した例では、車両制御システム7000は、駆動系制御ユニット7100、ボディ系制御ユニット7200、バッテリ制御ユニット7300、車外情報検出ユニット7400、車内情報検出ユニット7500、及び統合制御ユニット7600を備える。これらの複数の制御ユニットを接続する通信ネットワーク7010は、例えば、CAN(Controller Area Network)、LIN(Local Interconnect Network)、LAN(Local Area Network)又はFlexRay(登録商標)等の任意の規格に準拠した車載通信ネットワークであってよい。
各制御ユニットは、各種プログラムにしたがって演算処理を行うマイクロコンピュータと、マイクロコンピュータにより実行されるプログラム又は各種演算に用いられるパラメータ等を記憶する記憶部と、各種制御対象の装置を駆動する駆動回路とを備える。各制御ユニットは、通信ネットワーク7010を介して他の制御ユニットとの間で通信を行うためのネットワークI/Fを備えるとともに、車内外の装置又はセンサ等との間で、有線通信又は無線通信により通信を行うための通信I/Fを備える。図25では、統合制御ユニット7600の機能構成として、マイクロコンピュータ7610、汎用通信I/F7620、専用通信I/F7630、測位部7640、ビーコン受信部7650、車内機器I/F7660、音声画像出力部7670、車載ネットワークI/F7680及び記憶部7690が図示されている。他の制御ユニットも同様に、マイクロコンピュータ、通信I/F及び記憶部等を備える。
駆動系制御ユニット7100は、各種プログラムにしたがって車両の駆動系に関連する装置の動作を制御する。例えば、駆動系制御ユニット7100は、内燃機関又は駆動用モータ等の車両の駆動力を発生させるための駆動力発生装置、駆動力を車輪に伝達するための駆動力伝達機構、車両の舵角を調節するステアリング機構、及び、車両の制動力を発生させる制動装置等の制御装置として機能する。駆動系制御ユニット7100は、ABS(Antilock Brake System)又はESC(Electronic Stability Control)等の制御装置としての機能を有してもよい。
駆動系制御ユニット7100には、車両状態検出部7110が接続される。車両状態検出部7110には、例えば、車体の軸回転運動の角速度を検出するジャイロセンサ、車両の加速度を検出する加速度センサ、あるいは、アクセルペダルの操作量、ブレーキペダルの操作量、ステアリングホイールの操舵角、エンジン回転数又は車輪の回転速度等を検出するためのセンサのうちの少なくとも一つが含まれる。駆動系制御ユニット7100は、車両状態検出部7110から入力される信号を用いて演算処理を行い、内燃機関、駆動用モータ、電動パワーステアリング装置又はブレーキ装置等を制御する。
ボディ系制御ユニット7200は、各種プログラムにしたがって車体に装備された各種装置の動作を制御する。例えば、ボディ系制御ユニット7200は、キーレスエントリシステム、スマートキーシステム、パワーウィンドウ装置、あるいは、ヘッドランプ、バックランプ、ブレーキランプ、ウィンカー又はフォグランプ等の各種ランプの制御装置として機能する。この場合、ボディ系制御ユニット7200には、鍵を代替する携帯機から発信される電波又は各種スイッチの信号が入力され得る。ボディ系制御ユニット7200は、これらの電波又は信号の入力を受け付け、車両のドアロック装置、パワーウィンドウ装置、ランプ等を制御する。
バッテリ制御ユニット7300は、各種プログラムにしたがって駆動用モータの電力供給源である二次電池7310を制御する。例えば、バッテリ制御ユニット7300には、二次電池7310を備えたバッテリ装置から、バッテリ温度、バッテリ出力電圧又はバッテリの残存容量等の情報が入力される。バッテリ制御ユニット7300は、これらの信号を用いて演算処理を行い、二次電池7310の温度調節制御又はバッテリ装置に備えられた冷却装置等の制御を行う。
車外情報検出ユニット7400は、車両制御システム7000を搭載した車両の外部の情報を検出する。例えば、車外情報検出ユニット7400には、撮像部7410及び車外情報検出部7420のうちの少なくとも一方が接続される。撮像部7410には、ToF(Time Of Flight)カメラ、ステレオカメラ、単眼カメラ、赤外線カメラ及びその他のカメラのうちの少なくとも一つが含まれる。車外情報検出部7420には、例えば、現在の天候又は気象を検出するための環境センサ、あるいは、車両制御システム7000を搭載した車両の周囲の他の車両、障害物又は歩行者等を検出するための周囲情報検出センサのうちの少なくとも一つが含まれる。
環境センサは、例えば、雨天を検出する雨滴センサ、霧を検出する霧センサ、日照度合いを検出する日照センサ、及び降雪を検出する雪センサのうちの少なくとも一つであってよい。周囲情報検出センサは、超音波センサ、レーダ装置及びLIDAR(Light Detection and Ranging、Laser Imaging Detection and Ranging)装置のうちの少なくとも一つであってよい。これらの撮像部7410及び車外情報検出部7420は、それぞれ独立したセンサないし装置として備えられてもよいし、複数のセンサないし装置が統合された装置として備えられてもよい。
ここで、図26は、撮像部7410及び車外情報検出部7420の設置位置の例を示す。撮像部7910,7912,7914,7916,7918は、例えば、車両7900のフロントノーズ、サイドミラー、リアバンパ、バックドア及び車室内のフロントガラスの上部のうちの少なくとも一つの位置に設けられる。フロントノーズに備えられる撮像部7910及び車室内のフロントガラスの上部に備えられる撮像部7918は、主として車両7900の前方の画像を取得する。サイドミラーに備えられる撮像部7912,7914は、主として車両7900の側方の画像を取得する。リアバンパ又はバックドアに備えられる撮像部7916は、主として車両7900の後方の画像を取得する。車室内のフロントガラスの上部に備えられる撮像部7918は、主として先行車両又は、歩行者、障害物、信号機、交通標識又は車線等の検出に用いられる。
なお、図26には、それぞれの撮像部7910,7912,7914,7916の撮影範囲の一例が示されている。撮像範囲aは、フロントノーズに設けられた撮像部7910の撮像範囲を示し、撮像範囲b,cは、それぞれサイドミラーに設けられた撮像部7912,7914の撮像範囲を示し、撮像範囲dは、リアバンパ又はバックドアに設けられた撮像部7916の撮像範囲を示す。例えば、撮像部7910,7912,7914,7916で撮像された画像データが重ね合わせられることにより、車両7900を上方から見た俯瞰画像が得られる。
車両7900のフロント、リア、サイド、コーナ及び車室内のフロントガラスの上部に設けられる車外情報検出部7920,7922,7924,7926,7928,7930は、例えば超音波センサ又はレーダ装置であってよい。車両7900のフロントノーズ、リアバンパ、バックドア及び車室内のフロントガラスの上部に設けられる車外情報検出部7920,7926,7930は、例えばLIDAR装置であってよい。これらの車外情報検出部7920~7930は、主として先行車両、歩行者又は障害物等の検出に用いられる。
図25に戻って説明を続ける。車外情報検出ユニット7400は、撮像部7410に車外の画像を撮像させるとともに、撮像された画像データを受信する。また、車外情報検出ユニット7400は、接続されている車外情報検出部7420から検出情報を受信する。車外情報検出部7420が超音波センサ、レーダ装置又はLIDAR装置である場合には、車外情報検出ユニット7400は、超音波又は電磁波等を発信させるとともに、受信された反射波の情報を受信する。車外情報検出ユニット7400は、受信した情報に基づいて、人、車、障害物、標識又は路面上の文字等の物体検出処理又は距離検出処理を行ってもよい。車外情報検出ユニット7400は、受信した情報に基づいて、降雨、霧又は路面状況等を認識する環境認識処理を行ってもよい。車外情報検出ユニット7400は、受信した情報に基づいて、車外の物体までの距離を算出してもよい。
また、車外情報検出ユニット7400は、受信した画像データに基づいて、人、車、障害物、標識又は路面上の文字等を認識する画像認識処理又は距離検出処理を行ってもよい。車外情報検出ユニット7400は、受信した画像データに対して歪補正又は位置合わせ等の処理を行うとともに、異なる撮像部7410により撮像された画像データを合成して、俯瞰画像又はパノラマ画像を生成してもよい。車外情報検出ユニット7400は、異なる撮像部7410により撮像された画像データを用いて、視点変換処理を行ってもよい。
車内情報検出ユニット7500は、車内の情報を検出する。車内情報検出ユニット7500には、例えば、運転者の状態を検出する運転者状態検出部7510が接続される。運転者状態検出部7510は、運転者を撮像するカメラ、運転者の生体情報を検出する生体センサ又は車室内の音声を集音するマイク等を含んでもよい。生体センサは、例えば、座面又はステアリングホイール等に設けられ、座席に座った搭乗者又はステアリングホイールを握る運転者の生体情報を検出する。車内情報検出ユニット7500は、運転者状態検出部7510から入力される検出情報に基づいて、運転者の疲労度合い又は集中度合いを算出してもよいし、運転者が居眠りをしていないかを判別してもよい。車内情報検出ユニット7500は、集音された音声信号に対してノイズキャンセリング処理等の処理を行ってもよい。
統合制御ユニット7600は、各種プログラムにしたがって車両制御システム7000内の動作全般を制御する。統合制御ユニット7600には、入力部7800が接続されている。入力部7800は、例えば、タッチパネル、ボタン、マイクロフォン、スイッチ又はレバー等、搭乗者によって入力操作され得る装置によって実現される。統合制御ユニット7600には、マイクロフォンにより入力される音声を音声認識することにより得たデータが入力されてもよい。入力部7800は、例えば、赤外線又はその他の電波を利用したリモートコントロール装置であってもよいし、車両制御システム7000の操作に対応した携帯電話又はPDA(Personal Digital Assistant)等の外部接続機器であってもよい。入力部7800は、例えばカメラであってもよく、その場合搭乗者はジェスチャにより情報を入力することができる。あるいは、搭乗者が装着したウェアラブル装置の動きを検出することで得られたデータが入力されてもよい。さらに、入力部7800は、例えば、上記の入力部7800を用いて搭乗者等により入力された情報に基づいて入力信号を生成し、統合制御ユニット7600に出力する入力制御回路などを含んでもよい。搭乗者等は、この入力部7800を操作することにより、車両制御システム7000に対して各種のデータを入力したり処理動作を指示したりする。
記憶部7690は、マイクロコンピュータにより実行される各種プログラムを記憶するROM(Read Only Memory)、及び各種パラメータ、演算結果又はセンサ値等を記憶するRAM(Random Access Memory)を含んでいてもよい。また、記憶部7690は、HDD(Hard Disc Drive)等の磁気記憶デバイス、半導体記憶デバイス、光記憶デバイス又は光磁気記憶デバイス等によって実現してもよい。
汎用通信I/F7620は、外部環境7750に存在する様々な機器との間の通信を仲介する汎用的な通信I/Fである。汎用通信I/F7620は、GSM(登録商標)(Global System of Mobile communications)、WiMAX(登録商標)、LTE(登録商標)(Long Term Evolution)若しくはLTE-A(LTE-Advanced)などのセルラー通信プロトコル、又は無線LAN(Wi-Fi(登録商標)ともいう)、Bluetooth(登録商標)などのその他の無線通信プロトコルを実装してよい。汎用通信I/F7620は、例えば、基地局又はアクセスポイントを介して、外部ネットワーク(例えば、インターネット、クラウドネットワーク又は事業者固有のネットワーク)上に存在する機器(例えば、アプリケーションサーバ又は制御サーバ)へ接続してもよい。また、汎用通信I/F7620は、例えばP2P(Peer To Peer)技術を用いて、車両の近傍に存在する端末(例えば、運転者、歩行者若しくは店舗の端末、又はMTC(Machine Type Communication)端末)と接続してもよい。
専用通信I/F7630は、車両における使用を目的として策定された通信プロトコルをサポートする通信I/Fである。専用通信I/F7630は、例えば、下位レイヤのIEEE802.11pと上位レイヤのIEEE1609との組合せであるWAVE(Wireless Access in Vehicle Environment)、DSRC(Dedicated Short Range Communications)、又はセルラー通信プロトコルといった標準プロトコルを実装してよい。専用通信I/F7630は、典型的には、車車間(Vehicle to Vehicle)通信、路車間(Vehicle to Infrastructure)通信、車両と家との間(Vehicle to Home)の通信及び歩車間(Vehicle to Pedestrian)通信のうちの1つ以上を含む概念であるV2X通信を遂行する。
測位部7640は、例えば、GNSS(Global Navigation Satellite System)衛星からのGNSS信号(例えば、GPS(Global Positioning System)衛星からのGPS信号)を受信して測位を実行し、車両の緯度、経度及び高度を含む位置情報を生成する。なお、測位部7640は、無線アクセスポイントとの信号の交換により現在位置を特定してもよく、又は測位機能を有する携帯電話、PHS若しくはスマートフォンといった端末から位置情報を取得してもよい。
ビーコン受信部7650は、例えば、道路上に設置された無線局等から発信される電波あるいは電磁波を受信し、現在位置、渋滞、通行止め又は所要時間等の情報を取得する。なお、ビーコン受信部7650の機能は、上述した専用通信I/F7630に含まれてもよい。
車内機器I/F7660は、マイクロコンピュータ7610と車内に存在する様々な車内機器7760との間の接続を仲介する通信インタフェースである。車内機器I/F7660は、無線LAN、Bluetooth(登録商標)、NFC(Near Field Communication)又はWUSB(Wireless USB)といった無線通信プロトコルを用いて無線接続を確立してもよい。また、車内機器I/F7660は、図示しない接続端子(及び、必要であればケーブル)を介して、USB(Universal Serial Bus)、HDMI(登録商標)(High-Definition Multimedia Interface、又はMHL(Mobile High-definition Link)等の有線接続を確立してもよい。車内機器7760は、例えば、搭乗者が有するモバイル機器若しくはウェアラブル機器、又は車両に搬入され若しくは取り付けられる情報機器のうちの少なくとも1つを含んでいてもよい。また、車内機器7760は、任意の目的地までの経路探索を行うナビゲーション装置を含んでいてもよい。車内機器I/F7660は、これらの車内機器7760との間で、制御信号又はデータ信号を交換する。
車載ネットワークI/F7680は、マイクロコンピュータ7610と通信ネットワーク7010との間の通信を仲介するインタフェースである。車載ネットワークI/F7680は、通信ネットワーク7010によりサポートされる所定のプロトコルに則して、信号等を送受信する。
統合制御ユニット7600のマイクロコンピュータ7610は、汎用通信I/F7620、専用通信I/F7630、測位部7640、ビーコン受信部7650、車内機器I/F7660及び車載ネットワークI/F7680のうちの少なくとも一つを介して取得される情報に基づき、各種プログラムにしたがって、車両制御システム7000を制御する。例えば、マイクロコンピュータ7610は、取得される車内外の情報に基づいて、駆動力発生装置、ステアリング機構又は制動装置の制御目標値を演算し、駆動系制御ユニット7100に対して制御指令を出力してもよい。例えば、マイクロコンピュータ7610は、車両の衝突回避あるいは衝撃緩和、車間距離に基づく追従走行、車速維持走行、車両の衝突警告、又は車両のレーン逸脱警告等を含むADAS(Advanced Driver Assistance System)の機能実現を目的とした協調制御を行ってもよい。また、マイクロコンピュータ7610は、取得される車両の周囲の情報に基づいて駆動力発生装置、ステアリング機構又は制動装置等を制御することにより、運転者の操作に拠らずに自律的に走行する自動運転等を目的とした協調制御を行ってもよい。
マイクロコンピュータ7610は、汎用通信I/F7620、専用通信I/F7630、測位部7640、ビーコン受信部7650、車内機器I/F7660及び車載ネットワークI/F7680のうちの少なくとも一つを介して取得される情報に基づき、車両と周辺の構造物や人物等の物体との間の3次元距離情報を生成し、車両の現在位置の周辺情報を含むローカル地図情報を作成してもよい。また、マイクロコンピュータ7610は、取得される情報に基づき、車両の衝突、歩行者等の近接又は通行止めの道路への進入等の危険を予測し、警告用信号を生成してもよい。警告用信号は、例えば、警告音を発生させたり、警告ランプを点灯させたりするための信号であってよい。
音声画像出力部7670は、車両の搭乗者又は車外に対して、視覚的又は聴覚的に情報を通知することが可能な出力装置へ音声及び画像のうちの少なくとも一方の出力信号を送信する。図25の例では、出力装置として、オーディオスピーカ7710、表示部7720及びインストルメントパネル7730が例示されている。表示部7720は、例えば、オンボードディスプレイ及びヘッドアップディスプレイの少なくとも一つを含んでいてもよい。表示部7720は、AR(Augmented Reality)表示機能を有していてもよい。出力装置は、これらの装置以外の、ヘッドホン、搭乗者が装着する眼鏡型ディスプレイ等のウェアラブルデバイス、プロジェクタ又はランプ等の他の装置であってもよい。出力装置が表示装置の場合、表示装置は、マイクロコンピュータ7610が行った各種処理により得られた結果又は他の制御ユニットから受信された情報を、テキスト、イメージ、表、グラフ等、様々な形式で視覚的に表示する。また、出力装置が音声出力装置の場合、音声出力装置は、再生された音声データ又は音響データ等からなるオーディオ信号をアナログ信号に変換して聴覚的に出力する。
なお、図25に示した例において、通信ネットワーク7010を介して接続された少なくとも二つの制御ユニットが一つの制御ユニットとして一体化されてもよい。あるいは、個々の制御ユニットが、複数の制御ユニットにより構成されてもよい。さらに、車両制御システム7000が、図示されていない別の制御ユニットを備えてもよい。また、上記の説明において、いずれかの制御ユニットが担う機能の一部又は全部を、他の制御ユニットに持たせてもよい。つまり、通信ネットワーク7010を介して情報の送受信がされるようになっていれば、所定の演算処理が、いずれかの制御ユニットで行われるようになってもよい。同様に、いずれかの制御ユニットに接続されているセンサ又は装置が、他の制御ユニットに接続されるとともに、複数の制御ユニットが、通信ネットワーク7010を介して相互に検出情報を送受信してもよい。
以上説明した車両制御システム7000において、図1等を用いて説明した本実施形態に係る半導体発光装置は、図25に示した応用例の車外情報検出部7420に適用することができる。
なお、本技術は以下のような構成を取ることができる。
(1)発光部と、
前記発光部から発光された光を透過させる透過部を有する封止部材と、
前記封止部材の内側で冷却流体を用いて前記発光部の熱を分散させる熱制御部材と、を備える、半導体発光装置。
(2)前記熱制御部材は、前記発光部と前記封止部材との間で、前記冷却流体を用いて前記発光部の熱を対流させる、(1)に記載の半導体発光装置。
(3)前記冷却流体は、熱を取り込んで、蒸発、融解、又は昇華する気体、液体又は固体である、(1)又は(2)に記載の半導体発光装置。
(4)前記熱制御部材は、前記発光部の周辺に配置され、前記発光部の表面よりも濡れ性が高い第1領域を有する、(1)乃至(3)のいずれか一項に記載の半導体発光装置。
(5)前記熱制御部材は、前記発光部の周辺に配置され、前記発光部の表面とは異なる表面張力及び表面粗さの少なくとも一方を有する第1領域を有する、(1)乃至(3)のいずれか一項に記載の半導体発光装置。
(6)前記熱制御部材は、前記発光部の表面に配置され、前記第1領域よりも撥水性又は撥油性が高い第2領域を有する、(4)又は(5)に記載の半導体発光装置。
(7)前記熱制御部材は、前記発光部の表面に設けられる複数の凸部を有する、(6)に記載の半導体発光装置。
(8)前記熱制御部材は、
前記発光部の周辺に配置される第1領域と、
前記発光部の表面に配置され、前記発光部の発光時に前記第1領域よりも高い温度になる第2領域と、を有する、(1)乃至(3)のいずれか一項に記載の半導体発光装置。
(9)前記第2領域は、前記第1領域よりも前記透過部に近い側に配置され、
前記熱制御部材は、前記第1領域と前記第2領域との温度差により、前記封止部材の内側で熱の対流を生じさせる、(8)に記載の半導体発光装置。
(10)前記発光部は、上面に光出射面が配置される凸部を有し、
前記熱制御部材は、前記凸部の側面の少なくとも一部に配置される粗面化領域を有する、(1)乃至(9)のいずれか一項に記載の半導体発光装置。
(11)前記封止部材の内面の少なくとも一部は、曲面形状である、(1)乃至(10)のいずれか一項に記載の半導体発光装置。
(12)前記発光部を含む半導体チップを備え、
前記熱制御部材は、前記半導体チップの一主面に配置される複数の溝を有し、
前記複数の溝のそれぞれは、前記発光部から前記一主面の端部にかけて放射状に延びており、
前記複数の溝の幅は、前記発光部に近い側よりも遠い側の方が広い、(1)乃至(11)のいずれか一項に記載の半導体発光装置。
(13)前記発光部を含む半導体チップを備え、
前記熱制御部材は、前記半導体チップの一主面に配置される複数の溝を有し、
前記複数の溝のそれぞれは、前記発光部を中心として、それぞれ異なる径で、前記発光部を取り囲むように配置されており、
前記複数の溝の幅は、前記発光部に近い側よりも遠い側の方が広い、(1)乃至(11)のいずれか一項に記載の半導体発光装置。
(14)前記発光部は、積層された複数の層を含み、
前記熱制御部材は、前記複数の層のうち一部の層に配置され前記冷却流体が流れる流路を有する、(1)乃至(13)のいずれか一項に記載の半導体発光装置。
(15)前記一部の層の厚さは、前記流路を流れる前記冷却流体の圧力に応じて可変調整され、
前記発光部は、光を共振させる共振器を有し、
前記発光部から発光される光の共振器長は、前記一部の層の厚さに応じて変化する、(14)に記載の半導体発光装置。
(16)前記一部の層は、前記流路によって前記発光部の電極からの電流の通過範囲が制限される電流狭窄領域を有する、(14)又は(15)に記載の半導体発光装置。
(17)前記熱制御部材は、前記発光部の表面の少なくとも一部を覆うとともに、前記冷却流体が流れる流路を有する光制御部材を有する、(1)乃至(16)のいずれか一項に記載の半導体発光装置。
(18)前記光制御部材は、前記発光部から発光された光をコリメートして出射可能な表面形状を有する、(17)に記載の半導体発光装置。
(19)前記発光部の表面に配置される凹面鏡を備え、
前記発光部は、活性層からの光を前記凹面鏡で反射させる面発光レーザ、又は垂直共振器型面発光レーザである、(1)乃至(18)のいずれか一項に記載の半導体発光装置。
(20)一次元又は二次元方向に配置された複数の前記発光部を有するアレイ部を備え、
前記封止部材は、前記アレイ部を封止するとともに、前記複数の発光部のそれぞれから発光された光を前記透過部から透過させ、
前記熱制御部材は、前記封止部材の内側で前記冷却流体を用いて前記複数の発光部の熱を分散させる、(1)乃至(19)のいずれか一項に記載の半導体発光装置。
(1)発光部と、
前記発光部から発光された光を透過させる透過部を有する封止部材と、
前記封止部材の内側で冷却流体を用いて前記発光部の熱を分散させる熱制御部材と、を備える、半導体発光装置。
(2)前記熱制御部材は、前記発光部と前記封止部材との間で、前記冷却流体を用いて前記発光部の熱を対流させる、(1)に記載の半導体発光装置。
(3)前記冷却流体は、熱を取り込んで、蒸発、融解、又は昇華する気体、液体又は固体である、(1)又は(2)に記載の半導体発光装置。
(4)前記熱制御部材は、前記発光部の周辺に配置され、前記発光部の表面よりも濡れ性が高い第1領域を有する、(1)乃至(3)のいずれか一項に記載の半導体発光装置。
(5)前記熱制御部材は、前記発光部の周辺に配置され、前記発光部の表面とは異なる表面張力及び表面粗さの少なくとも一方を有する第1領域を有する、(1)乃至(3)のいずれか一項に記載の半導体発光装置。
(6)前記熱制御部材は、前記発光部の表面に配置され、前記第1領域よりも撥水性又は撥油性が高い第2領域を有する、(4)又は(5)に記載の半導体発光装置。
(7)前記熱制御部材は、前記発光部の表面に設けられる複数の凸部を有する、(6)に記載の半導体発光装置。
(8)前記熱制御部材は、
前記発光部の周辺に配置される第1領域と、
前記発光部の表面に配置され、前記発光部の発光時に前記第1領域よりも高い温度になる第2領域と、を有する、(1)乃至(3)のいずれか一項に記載の半導体発光装置。
(9)前記第2領域は、前記第1領域よりも前記透過部に近い側に配置され、
前記熱制御部材は、前記第1領域と前記第2領域との温度差により、前記封止部材の内側で熱の対流を生じさせる、(8)に記載の半導体発光装置。
(10)前記発光部は、上面に光出射面が配置される凸部を有し、
前記熱制御部材は、前記凸部の側面の少なくとも一部に配置される粗面化領域を有する、(1)乃至(9)のいずれか一項に記載の半導体発光装置。
(11)前記封止部材の内面の少なくとも一部は、曲面形状である、(1)乃至(10)のいずれか一項に記載の半導体発光装置。
(12)前記発光部を含む半導体チップを備え、
前記熱制御部材は、前記半導体チップの一主面に配置される複数の溝を有し、
前記複数の溝のそれぞれは、前記発光部から前記一主面の端部にかけて放射状に延びており、
前記複数の溝の幅は、前記発光部に近い側よりも遠い側の方が広い、(1)乃至(11)のいずれか一項に記載の半導体発光装置。
(13)前記発光部を含む半導体チップを備え、
前記熱制御部材は、前記半導体チップの一主面に配置される複数の溝を有し、
前記複数の溝のそれぞれは、前記発光部を中心として、それぞれ異なる径で、前記発光部を取り囲むように配置されており、
前記複数の溝の幅は、前記発光部に近い側よりも遠い側の方が広い、(1)乃至(11)のいずれか一項に記載の半導体発光装置。
(14)前記発光部は、積層された複数の層を含み、
前記熱制御部材は、前記複数の層のうち一部の層に配置され前記冷却流体が流れる流路を有する、(1)乃至(13)のいずれか一項に記載の半導体発光装置。
(15)前記一部の層の厚さは、前記流路を流れる前記冷却流体の圧力に応じて可変調整され、
前記発光部は、光を共振させる共振器を有し、
前記発光部から発光される光の共振器長は、前記一部の層の厚さに応じて変化する、(14)に記載の半導体発光装置。
(16)前記一部の層は、前記流路によって前記発光部の電極からの電流の通過範囲が制限される電流狭窄領域を有する、(14)又は(15)に記載の半導体発光装置。
(17)前記熱制御部材は、前記発光部の表面の少なくとも一部を覆うとともに、前記冷却流体が流れる流路を有する光制御部材を有する、(1)乃至(16)のいずれか一項に記載の半導体発光装置。
(18)前記光制御部材は、前記発光部から発光された光をコリメートして出射可能な表面形状を有する、(17)に記載の半導体発光装置。
(19)前記発光部の表面に配置される凹面鏡を備え、
前記発光部は、活性層からの光を前記凹面鏡で反射させる面発光レーザ、又は垂直共振器型面発光レーザである、(1)乃至(18)のいずれか一項に記載の半導体発光装置。
(20)一次元又は二次元方向に配置された複数の前記発光部を有するアレイ部を備え、
前記封止部材は、前記アレイ部を封止するとともに、前記複数の発光部のそれぞれから発光された光を前記透過部から透過させ、
前記熱制御部材は、前記封止部材の内側で前記冷却流体を用いて前記複数の発光部の熱を分散させる、(1)乃至(19)のいずれか一項に記載の半導体発光装置。
本開示の態様は、上述した個々の実施形態に限定されるものではなく、当業者が想到しうる種々の変形も含むものであり、本開示の効果も上述した内容に限定されない。すなわち、特許請求の範囲に規定された内容およびその均等物から導き出される本開示の概念的な思想と趣旨を逸脱しない範囲で種々の追加、変更および部分的削除が可能である。
1 半導体チップ、2 支持基板、3 ヒートシンク、4 封止部材、41,41A キャップ、42 透過部、4A 光制御部材、4A_1 凸レンズ、5 空間、5A~5C 流路、6 冷却流体、11 発光部、11A 高温部、12 表面、12A,12B,12D 第2領域、12A_1 凸部、12C 凸部、12C_1 粗面化領域、13A,13B,13C,13D 第1領域、13A 一主面、13A_1,13A_2 複数の溝、14 アレイ部、100 半導体発光装置、121 第1化合物半導体層(電流狭窄領域)、122 第2化合物半導体層(電流狭窄領域)、123 活性層(電流狭窄領域)、C 熱制御部材、γc 表面張力(臨界表面張力)
Claims (20)
- 発光部と、
前記発光部から発光された光を透過させる透過部を有する封止部材と、
前記封止部材の内側で冷却流体を用いて前記発光部の熱を分散させる熱制御部材と、を備える、半導体発光装置。 - 前記熱制御部材は、前記発光部と前記封止部材との間で、前記冷却流体を用いて前記発光部の熱を対流させる、請求項1に記載の半導体発光装置。
- 前記冷却流体は、熱を取り込んで、蒸発、融解、又は昇華する気体、液体又は固体である、請求項1に記載の半導体発光装置。
- 前記熱制御部材は、前記発光部の周辺に配置され、前記発光部の表面よりも濡れ性が高い第1領域を有する、請求項1に記載の半導体発光装置。
- 前記熱制御部材は、前記発光部の周辺に配置され、前記発光部の表面とは異なる表面張力及び表面粗さの少なくとも一方を有する第1領域を有する、請求項1に記載の半導体発光装置。
- 前記熱制御部材は、前記発光部の表面に配置され、前記第1領域よりも撥水性又は撥油性が高い第2領域を有する、請求項4に記載の半導体発光装置。
- 前記熱制御部材は、前記発光部の表面に設けられる複数の凸部を有する、請求項6に記載の半導体発光装置。
- 前記熱制御部材は、
前記発光部の周辺に配置される第1領域と、
前記発光部の表面に配置され、前記発光部の発光時に前記第1領域よりも高い温度になる第2領域と、を有する、請求項1に記載の半導体発光装置。 - 前記第2領域は、前記第1領域よりも前記透過部に近い側に配置され、
前記熱制御部材は、前記第1領域と前記第2領域との温度差により、前記封止部材の内側で熱の対流を生じさせる、請求項8に記載の半導体発光装置。 - 前記発光部は、上面に光出射面が配置される凸部を有し、
前記熱制御部材は、前記凸部の側面の少なくとも一部に配置される粗面化領域を有する、請求項1に記載の半導体発光装置。 - 前記封止部材の内面の少なくとも一部は、曲面形状である、請求項1に記載の半導体発光装置。
- 前記発光部を含む半導体チップを備え、
前記熱制御部材は、前記半導体チップの一主面に配置される複数の溝を有し、
前記複数の溝のそれぞれは、前記発光部から前記一主面の端部にかけて放射状に延びており、
前記複数の溝の幅は、前記発光部に近い側よりも遠い側の方が広い、請求項1に記載の半導体発光装置。 - 前記発光部を含む半導体チップを備え、
前記熱制御部材は、前記半導体チップの一主面に配置される複数の溝を有し、
前記複数の溝のそれぞれは、前記発光部を中心として、それぞれ異なる径で、前記発光部を取り囲むように配置されており、
前記複数の溝の幅は、前記発光部に近い側よりも遠い側の方が広い、請求項1に記載の半導体発光装置。 - 前記発光部は、積層された複数の層を含み、
前記熱制御部材は、前記複数の層のうち一部の層に配置され前記冷却流体が流れる流路を有する、請求項1に記載の半導体発光装置。 - 前記一部の層の厚さは、前記流路を流れる前記冷却流体の圧力に応じて可変調整され、
前記発光部は、光を共振させる共振器を有し、
前記発光部から発光される光の共振器長は、前記一部の層の厚さに応じて変化する、請求項14に記載の半導体発光装置。 - 前記一部の層は、前記流路によって前記発光部の電極からの電流の通過範囲が制限される電流狭窄領域を有する、請求項14に記載の半導体発光装置。
- 前記熱制御部材は、前記発光部の表面の少なくとも一部を覆うとともに、前記冷却流体が流れる流路を有する光制御部材を有する、請求項1に記載の半導体発光装置。
- 前記光制御部材は、前記発光部から発光された光をコリメートして出射可能な表面形状を有する、請求項17に記載の半導体発光装置。
- 前記発光部の表面に配置される凹面鏡を備え、
前記発光部は、活性層からの光を前記凹面鏡で反射させる面発光レーザ、又は垂直共振器型面発光レーザである、請求項1に記載の半導体発光装置。 - 一次元又は二次元方向に配置された複数の前記発光部を有するアレイ部を備え、
前記封止部材は、前記アレイ部を封止するとともに、前記複数の発光部のそれぞれから発光された光を前記透過部から透過させ、
前記熱制御部材は、前記封止部材の内側で前記冷却流体を用いて前記複数の発光部の熱を分散させる、請求項1に記載の半導体発光装置。
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2023
- 2023-03-15 WO PCT/JP2023/010076 patent/WO2023182101A1/ja unknown
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