WO2023176778A1 - 硬化性樹脂組成物及び半導体部品の製造方法 - Google Patents

硬化性樹脂組成物及び半導体部品の製造方法 Download PDF

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WO2023176778A1
WO2023176778A1 PCT/JP2023/009631 JP2023009631W WO2023176778A1 WO 2023176778 A1 WO2023176778 A1 WO 2023176778A1 JP 2023009631 W JP2023009631 W JP 2023009631W WO 2023176778 A1 WO2023176778 A1 WO 2023176778A1
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curable resin
meth
resin composition
acrylate
compound
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PCT/JP2023/009631
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Inventor
慎也 内野
Original Assignee
積水化学工業株式会社
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Publication date
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F2/00Processes of polymerisation
    • C08F2/44Polymerisation in the presence of compounding ingredients, e.g. plasticisers, dyestuffs, fillers
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F290/00Macromolecular compounds obtained by polymerising monomers on to polymers modified by introduction of aliphatic unsaturated end or side groups
    • C08F290/02Macromolecular compounds obtained by polymerising monomers on to polymers modified by introduction of aliphatic unsaturated end or side groups on to polymers modified by introduction of unsaturated end groups
    • C08F290/06Polymers provided for in subclass C08G
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/10Containers; Seals characterised by the material or arrangement of seals between parts, e.g. between cap and base of the container or between leads and walls of the container

Definitions

  • the present invention relates to a curable resin composition.
  • the present invention also relates to a method for manufacturing semiconductor components using the curable resin composition.
  • Wafer-level CSP does not perform internal wiring using bonding wires, making it possible to make semiconductor components thinner, and also improves productivity because the dicing process is performed at once after the packaging process for multiple semiconductor chips. Excellent.
  • a packaging process performed before this dicing process a wafer and a cover glass are bonded together using a resin material (for example, Patent Document 1).
  • the present disclosure 1 is a curable resin composition used for bonding a wafer and a cover glass, and includes a curable resin, a photopolymerization initiator, and a thermosetting agent, and the curable resin is A compound (A) having a thermally polymerizable functional group that can react with the action of the thermosetting agent; and a compound (A) that does not have the thermally polymerizable functional group and can react with the action of the photopolymerization initiator upon irradiation with light.
  • This is a curable resin composition containing a compound (B) having a polymerizable functional group.
  • the present disclosure 2 is the curable resin composition of the present disclosure 1, wherein the curable resin includes a compound having a thermally polymerizable functional group and a photopolymerizable functional group as the compound (A).
  • the present disclosure 3 provides a functional group molar ratio Xn/ The curable resin composition according to the present disclosure 1 or 2, wherein Yn is 0.20 or more and 1.00 or less.
  • the present disclosure 4 provides a functional group molar ratio when the total number of moles of thermally polymerizable functional groups in the curable resin is Xn, and the total number of moles of functional groups contributing to thermal polymerization in the thermosetting agent is Zn.
  • the present disclosure 5 is the curable resin composition of the present disclosure 1, 2, 3, or 4, wherein the thermosetting agent is liquid at 25°C.
  • the present disclosure 6 is the curable resin composition of the present disclosure 1, 2, 3, 4, or 5, wherein the thermosetting agent is an acid anhydride.
  • Present disclosure 7 is the curable resin composition of present disclosure 1, 2, 3, 4, 5, or 6 which further contains a curing catalyst.
  • the present disclosure 8 includes a step of overlapping a wafer and a cover glass via the curable resin composition of the present disclosure 1, 2, 3, 4, 5, 6, or 7, and a step of overlapping the curable resin composition by light irradiation. This is a method for manufacturing a semiconductor component, which includes a step of temporarily curing and a step of permanently curing the curable resin composition by heating. The present invention will be explained in detail below.
  • the present inventor studied a curable resin composition used for bonding a wafer and a cover glass, containing a specific curable resin, a photopolymerization initiator, and a thermosetting agent. As a result, the inventors discovered that it was possible to obtain a cured product with excellent gap retention between the wafer and the cover glass, and completed the present invention. Further, the curable resin composition of the present invention can be temporarily cured by light irradiation, so that it does not drip after application and has an excellent effect of suppressing seepage when bonding a wafer and a cover glass. I can do it.
  • the curable resin composition of the present invention contains a curable resin.
  • the curable resin includes a compound (A) having a thermopolymerizable functional group capable of reacting with the action of a thermosetting agent upon heating, and a compound (A) having no thermopolymerizable functional group and capable of reacting with a photopolymerization initiator upon irradiation with light.
  • the thermally polymerizable functional group possessed by the above compound (A) is appropriately selected depending on the type of thermosetting agent used, but examples include epoxy group, (meth)acryloyl group, vinyl group, (meth)acrylamide group, isocyanate group, etc. group, silanol group, thiol group, etc.
  • the compound (A) is preferably an epoxy compound having an epoxy group.
  • the said "(meth)acryloyl” means acryloyl or methacryloyl
  • the said "(meth)acryl” means acrylic or methacrylic.
  • Examples of the above epoxy compounds include bisphenol A type epoxy compounds, bisphenol F type epoxy compounds, bisphenol E type epoxy compounds, bisphenol S type epoxy compounds, 2,2'-diallylbisphenol A type epoxy compounds, and hydrogenated bisphenol type epoxy compounds. , propylene oxide-added bisphenol A type epoxy compound, resorcinol type epoxy compound, biphenyl type epoxy compound, sulfide type epoxy compound, diphenyl ether type epoxy compound, dicyclopentadiene type epoxy compound, naphthalene type epoxy compound, phenol novolac type epoxy compound, orthocresol Novolac type epoxy compounds, dicyclopentadiene novolac type epoxy compounds, biphenyl novolac type epoxy compounds, naphthalenephenol novolac type epoxy compounds, glycidylamine type epoxy compounds, alkyl polyol type epoxy compounds, rubber modified epoxy compounds, glycidyl ester compounds, etc. It will be done.
  • bisphenol A-type epoxy compounds include, for example, jER828EL, jER1004 (both manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), and EPICLON850 (manufactured by DIC Corporation).
  • bisphenol F type epoxy compounds commercially available ones include, for example, D. E. R. 354 (manufactured by Dow Chemical Company), jER806, jER4004 (all manufactured by Mitsubishi Chemical Company), and EPICLON EXA-830CRP (manufactured by DIC Company).
  • commercially available ones include, for example, Epomic R710 (manufactured by Mitsui Chemicals).
  • bisphenol S-type epoxy compounds include, for example, EPICLON EXA-1514 (manufactured by DIC).
  • EPICLON EXA-1514 manufactured by DIC
  • 2,2'-diallylbisphenol A type epoxy compounds commercially available ones include, for example, RE-810NM (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.).
  • commercially available ones include, for example, EPICLON EXA-7015 (manufactured by DIC Corporation).
  • propylene oxide-added bisphenol A type epoxy compounds commercially available ones include, for example, EP-4000S (manufactured by ADEKA).
  • resorcinol-type epoxy compounds include, for example, EX-201 (manufactured by Nagase ChemteX).
  • biphenyl-type epoxy compounds include, for example, jER YX-4000H (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation).
  • sulfide type epoxy compounds commercially available ones include, for example, YSLV-50TE (manufactured by Nippon Steel Chemical & Materials Co., Ltd.).
  • diphenyl ether type epoxy compounds commercially available ones include, for example, YSLV-80DE (manufactured by Nippon Steel Chemical & Materials Co., Ltd.).
  • dicyclopentadiene type epoxy compounds include, for example, EP-4088S (manufactured by ADEKA).
  • naphthalene type epoxy compounds include, for example, EPICLON HP-4032 and EPICLON EXA-4700 (both manufactured by DIC).
  • phenol novolak type epoxy compounds commercially available ones include, for example, EPICLON N-770 (manufactured by DIC).
  • orthocresol novolak type epoxy compounds commercially available ones include, for example, EPICLON N-670-EXP-S (manufactured by DIC Corporation).
  • dicyclopentadiene novolak type epoxy compounds commercially available ones include, for example, EPICLON HP-7200 (manufactured by DIC Corporation).
  • biphenyl novolac type epoxy compounds include, for example, NC-3000P (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.).
  • naphthalenephenol novolac type epoxy compounds commercially available ones include, for example, ESN-165S (manufactured by Nippon Steel Chemical & Materials Co., Ltd.).
  • Examples of commercially available glycidylamine type epoxy compounds include jER630 (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), EPICLON430 (manufactured by DIC Corporation), and TETRAD-X (manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Company).
  • commercially available ones include, for example, ZX-1542 (manufactured by Nippon Steel Chemical & Materials Co., Ltd.), EPICLON726 (manufactured by DIC Corporation), Epolite 80MFA (manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.), and Denacol EX- 611 (manufactured by Nagase ChemteX) and the like.
  • Rubber-modified epoxy compounds include, for example, YR-450, YR-207 (all manufactured by Nippon Steel Chemical & Materials), and Epolead PB (manufactured by Daicel Corporation).
  • examples of commercially available glycidyl ester compounds include Denacol EX-147 (manufactured by Nagase ChemteX).
  • Other commercially available epoxy compounds mentioned above include, for example, YDC-1312, YSLV-80XY, YSLV-90CR (all manufactured by Nippon Steel Chemical & Materials), XAC4151 (manufactured by Asahi Kasei Corporation), jER1031, and jER1032. (all manufactured by Mitsubishi Chemical), EXA-7120 (manufactured by DIC), and TEPIC (manufactured by Nissan Chemical).
  • the curable resin may include, as the compound (A), a compound having a thermally polymerizable functional group and a photopolymerizable functional group described below.
  • Examples of the compound having a thermally polymerizable functional group and a photopolymerizable functional group include partially (meth)acrylic modified epoxy compounds.
  • the above-mentioned partially (meth)acrylic-modified epoxy compound refers to 1, which can be obtained by reacting the epoxy groups of a part of an epoxy compound having two or more epoxy groups with (meth)acrylic acid. It means a compound having one or more epoxy groups and one or more (meth)acryloyl groups in the molecule.
  • partially (meth)acrylic modified epoxy compounds commercially available ones include, for example, NEM5000H (manufactured by Neochemical Co., Ltd.), UVACURE1561, and KRM8287 (all manufactured by Daicel Allnex Co., Ltd.).
  • the preferable lower limit of the content of the compound (A) in 100 parts by weight of the curable resin is 10 parts by weight, and the preferable upper limit is 70 parts by weight.
  • the resulting curable resin composition has thermosetting properties, tackiness and adhesive properties during B-staging (photocuring), and gap retention after curing. It will be better due to its properties.
  • a more preferable lower limit of the content of the compound (A) is 20 parts by weight, and a more preferable upper limit is 50 parts by weight.
  • the photopolymerizable functional group possessed by the above compound (B) and the photopolymerizable functional group when the above compound (A) has a photopolymerizable functional group are appropriately selected depending on the type of photopolymerization initiator used. Examples thereof include (meth)acryloyl group, (meth)acrylamide group, vinyl group, thiol group, and epoxy group. Among these, a (meth)acryloyl group is preferred. That is, the compound (B) is preferably a (meth)acrylic compound having a (meth)acryloyl group as the photopolymerizable functional group.
  • the (meth)acrylic compound examples include (meth)acrylic acid ester compounds, epoxy (meth)acrylates, urethane (meth)acrylates, and the like. Further, from the viewpoint of reactivity, the above (meth)acrylic compound preferably has two or more (meth)acryloyl groups in one molecule.
  • the above-mentioned "(meth)acrylate” means acrylate or methacrylate
  • the above-mentioned “epoxy (meth)acrylate” refers to a compound in which all epoxy groups in an epoxy compound are replaced with (meth)acrylic acid. Represents a compound that has been reacted.
  • examples of monofunctional ones include methyl (meth)acrylate, ethyl (meth)acrylate, propyl (meth)acrylate, n-butyl (meth)acrylate, and isobutyl (meth)acrylate.
  • t-butyl (meth)acrylate 2-ethylhexyl (meth)acrylate, n-octyl (meth)acrylate, isooctyl (meth)acrylate, isononyl (meth)acrylate, isodecyl (meth)acrylate, lauryl (meth)acrylate, iso myristyl (meth)acrylate, stearyl (meth)acrylate, 2-hydroxyethyl (meth)acrylate, 2-hydroxypropyl (meth)acrylate, 2-hydroxybutyl (meth)acrylate, 4-hydroxybutyl (meth)acrylate, cyclohexyl ( meth)acrylate, isobornyl (meth)acrylate, bicyclopentenyl (meth)acrylate, benzyl (meth)acrylate, 2-methoxyethyl (meth)acrylate, 2-ethoxyethyl (meth)acrylate, 2-butoxyethyl (
  • examples of difunctional ones include 1,3-butanediol di(meth)acrylate, 1,4-butanediol di(meth)acrylate, and 1,6-hexane di(meth)acrylate.
  • Examples of the epoxy (meth)acrylate include those obtained by reacting an epoxy compound and (meth)acrylic acid in the presence of a basic catalyst according to a conventional method.
  • the same epoxy compound as described above as the compound (A) can be used as the epoxy compound serving as a raw material for synthesizing the epoxy (meth)acrylate.
  • epoxy (meth)acrylates commercially available ones include epoxy (meth)acrylate manufactured by Daicel Allnex, epoxy (meth)acrylate manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., and epoxy (meth)acrylate manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd. Examples include meth)acrylate and epoxy(meth)acrylate manufactured by Nagase ChemteX.
  • Examples of the epoxy (meth)acrylate manufactured by Daicel Allnex include EBECRYL860, EBECRYL3200, EBECRYL3201, EBECRYL3412, EBECRYL3600, EBECRYL3700, EBECRYL3701, EBECRYL3702, EBE Examples include CRYL3703, EBECRYL3708, EBECRYL3800, EBECRYL6040, EBECRYL RDX63182, KRM8076, and the like.
  • Examples of the epoxy (meth)acrylate manufactured by Shin-Nakamura Chemical Industry Co., Ltd. include EA-1010, EA-1020, EA-5323, EA-5520, EA-CHD, and EMA-1020.
  • Examples of the above-mentioned epoxy (meth)acrylate manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd. include Epoxy Ester M-600A, Epoxy Ester 40EM, Epoxy Ester 70PA, Epoxy Ester 200PA, Epoxy Ester 80MFA, Epoxy Ester 3002M, Epoxy Ester 3002A, Epoxy Ester 1600A, Examples include epoxy ester 3000M, epoxy ester 3000A, epoxy ester 200EA, and epoxy ester 400EA.
  • Examples of the epoxy (meth)acrylate manufactured by Nagase ChemteX include Denacol Acrylate DA-141, Denacol Acrylate DA-314, Denacol Acrylate DA-911, and the like.
  • the urethane (meth)acrylate can be obtained, for example, by reacting a (meth)acrylic acid derivative having a hydroxyl group with an isocyanate compound in the presence of a catalytic amount of a tin-based compound.
  • MDI diphenylmethan
  • the isocyanate compound that is a raw material for the urethane (meth)acrylate a chain-extended isocyanate compound obtained by reacting a polyol with an excess of an isocyanate compound can also be used.
  • the polyol include ethylene glycol, propylene glycol, glycerin, sorbitol, trimethylolpropane, carbonate diol, polyether diol, polyester diol, polycaprolactone diol, and the like.
  • Examples of the (meth)acrylic acid derivatives having a hydroxyl group include hydroxyalkyl mono(meth)acrylates, mono(meth)acrylates of dihydric alcohols, mono(meth)acrylates or di(meth)acrylates of trihydric alcohols. , epoxy (meth)acrylate, and the like.
  • Examples of the hydroxyalkyl mono(meth)acrylate include 2-hydroxyethyl (meth)acrylate, 2-hydroxypropyl (meth)acrylate, 2-hydroxybutyl (meth)acrylate, and 4-hydroxybutyl (meth)acrylate. Can be mentioned.
  • Examples of the dihydric alcohol include ethylene glycol, propylene glycol, 1,3-propanediol, 1,3-butanediol, 1,4-butanediol, and polyethylene glycol.
  • Examples of the trihydric alcohol include trimethylolethane, trimethylolpropane, and glycerin.
  • Examples of the epoxy (meth)acrylate include bisphenol A type epoxy (meth)acrylate.
  • urethane (meth)acrylates commercially available ones include, for example, urethane (meth)acrylate manufactured by Toagosei Co., Ltd., urethane (meth)acrylate manufactured by Daicel Ornex, and urethane (meth)acrylate manufactured by Negami Kogyo Co., Ltd.
  • examples include acrylate, urethane (meth)acrylate manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., and urethane (meth)acrylate manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.
  • Examples of the urethane (meth)acrylate manufactured by Toagosei Co., Ltd. include M-1100, M-1200, M-1210, and M-1600.
  • Examples of the urethane (meth)acrylate manufactured by Daicel Allnex include EBECRYL210, EBECRYL220, EBECRYL230, EBECRYL270, EBECRYL1290, EBECRYL2220, EBECRYL4827, EBECRYL4842, EBECRY L4858, EBECRYL5129, EBECRYL6700, EBECRYL8402, EBECRYL8803, EBECRYL8804, EBECRYL8807, EBECRYL9260 etc. Can be mentioned. Examples of the urethane (meth)acrylate manufactured by Negami Kogyo Co., Ltd.
  • Examples of the urethane (meth)acrylate manufactured by Kyoeisha Kagaku include AH-600, AI-600, AT-600, UA-101I, UA-101T, UA-306H, UA-306I, UA-306T, etc. It will be done.
  • the preferable lower limit of the content of the compound (B) in 100 parts by weight of the curable resin is 5 parts by weight, and the preferable upper limit is 50 parts by weight.
  • the resulting curable resin composition has photocurability, the effect of suppressing seepage when bonding a wafer and a cover glass, and the effect of suppressing seepage after curing. This results in better gap retention.
  • a more preferable lower limit of the content of the compound (B) is 10 parts by weight, and a more preferable upper limit is 30 parts by weight.
  • the curable resin composition of the present invention has a functional
  • a preferable lower limit of the group molar ratio Xn/Yn is 0.20, and a preferable upper limit is 1.00.
  • the resulting curable resin composition has better adhesive properties and thermosetting properties.
  • the above-mentioned Xn/Yn is 1.00 or less, the resulting curable resin composition has an excellent effect of suppressing seepage and has excellent gap retention after curing.
  • a more preferable lower limit of the above-mentioned Xn/Yn is 0.30, and a more preferable upper limit is 0.80.
  • the curable resin composition of the present invention contains a photopolymerization initiator.
  • the photopolymerization initiator include benzophenone compounds, acetophenone compounds, acylphosphine oxide compounds, titanocene compounds, oxime ester compounds, benzoin ether compounds, and thioxanthone compounds.
  • Specific examples of the photopolymerization initiator include 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, 2-benzyl-2-dimethylamino-1-(4-morpholinophenyl)-1-butanone, and 2-(dimethylamino).
  • the preferable lower limit of the content of the photopolymerization initiator is 0.1 parts by weight and the preferable upper limit is 10 parts by weight based on 100 parts by weight of the curable resin.
  • the resulting curable resin composition has better storage stability and photocurability.
  • a more preferable lower limit of the content of the photopolymerization initiator is 1 part by weight, and a more preferable upper limit is 5 parts by weight.
  • the curable resin composition of the present invention contains a thermosetting agent.
  • the thermosetting agent is preferably liquid at 25°C.
  • the thermosetting agent include acid anhydrides, organic acid hydrazides, imidazole derivatives, amine compounds, polyhydric phenol compounds, and the like. Among them, acid anhydrides are preferably used.
  • the above thermosetting agents may be used alone or in combination of two or more.
  • Examples of the acid anhydride include succinic anhydride, maleic anhydride, phthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, phthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, and hexahydrophthalic anhydride.
  • Phthalic acid methyltetrahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, methylnadic anhydride, hydrogenated methylnadic anhydride, trialkyltetrahydrophthalic anhydride, dodecenylsuccinic anhydride, 5-(2,5-dihydrophthalic anhydride) oxotetrahydro-3-furanyl)-3-methyl-3-cyclohexene-1,2-dicarboxylic anhydride, trimellitic anhydride, pyromellitic anhydride, bensophenonetetracarboxylic dianhydride, biphenyltetracarboxylic dianhydride Examples include anhydride, naphthalenetetracarboxylic dianhydride, oxydiphthalic dianhydride, and the like.
  • the preferable lower limit of the content of the thermosetting agent is 20 parts by weight and the preferable upper limit is 150 parts by weight based on 100 parts by weight of the curable resin.
  • the content of the thermosetting agent is within this range, the resulting curable resin composition can have better thermosetting properties without deteriorating its applicability or the like.
  • a more preferable lower limit of the content of the thermosetting agent is 50 parts by weight, and a more preferable upper limit is 100 parts by weight.
  • the total number of moles of thermally polymerizable functional groups in the curable resin is Xn
  • the total number of moles of functional groups contributing to thermal polymerization in the thermosetting agent is Zn.
  • a preferable lower limit of the functional group molar ratio Xn/Zn is 0.50
  • a preferable upper limit is 1.60.
  • the resulting curable resin composition has improved thermal curability and superior adhesive strength.
  • a more preferable lower limit of the above-mentioned Xn/Zn is 0.80, and a more preferable upper limit is 1.20.
  • the curable resin composition of the present invention further contains a curing catalyst.
  • a curing catalyst By containing the above-mentioned curing catalyst, the resulting curable resin composition has excellent thermosetting properties, and the effect of improving the curing rate can be obtained.
  • the curing catalyst examples include organic phosphorus compounds, tertiary amines, and the like. Among these, organic phosphorus compounds are preferred.
  • the above curing catalysts may be used alone or in combination of two or more.
  • organic phosphorus compounds examples include methyltributylphosphonium dimethylphosphate, tetrabutylphosphonium O,O-diethylphosphorodithioate, tetrabutylphosphonium benzotriazolate, tetrabutylphosphonium tetraphenylborate, triphenylphosphine, tri-p -Tolylphosphine, diphenylcyclohexylphosphine, tricyclohexylphosphine and the like.
  • the content of the curing catalyst has a preferable lower limit of 0.01 parts by weight and a preferable upper limit of 3 parts by weight based on 100 parts by weight of the curable resin. When the content of the curing catalyst is within this range, the resulting curable resin composition has better curability and storage stability.
  • a more preferable lower limit of the content of the curing catalyst is 0.05 parts by weight, and a more preferable upper limit is 0.5 parts by weight.
  • the curable resin composition of the present invention preferably further contains a leveling agent from the viewpoint of the flatness of the coating film.
  • leveling agent examples include silicone leveling agents, fluorine leveling agents, acrylic leveling agents, and the like. Among these, silicone leveling agents are preferred. Examples of the silicone leveling agent include polyether-modified polydimethylsiloxane. The above leveling agents may be used alone or in combination of two or more.
  • the content of the leveling agent has a preferable lower limit of 0.01 parts by weight and a preferable upper limit of 5 parts by weight based on 100 parts by weight of the curable resin. When the content of the leveling agent is within this range, the resulting curable resin composition has better coating properties and coating film flatness.
  • a more preferable lower limit of the content of the leveling agent is 0.1 part by weight, and a more preferable upper limit is 0.5 part by weight.
  • the curable resin composition of the present invention may contain a filler, but preferably does not contain the filler from the viewpoint of transparency.
  • the curable resin composition of the present invention may contain various known additives such as a cure retarder, a reinforcing agent, a viscosity modifier, and an antioxidant, as necessary, within a range that does not impede the purpose of the present invention. You may.
  • the upper limit of the haze of the cured product is preferably 1%. Since the haze is 1% or less, the curable resin composition of the present invention can be suitably used for bonding wafers and cover glasses in the production of semiconductor components that require high transparency, and can be used for CCDs and other devices. It can be particularly suitably used for manufacturing image pickup devices such as CMOS. A more preferable upper limit of the haze is 0.5%.
  • the haze refers to the ratio of diffusely transmitted light to total transmitted light, and can be measured using, for example, a spectrometer such as COH-7700 (manufactured by Nippon Denshoku Kogyo Co., Ltd.).
  • the curable resin composition of the present invention is used for bonding a wafer and a cover glass.
  • a method for manufacturing a semiconductor component, which includes steps, is also one aspect of the present invention.
  • Specific examples of the semiconductor components include image pickup devices such as CCDs and CMOSs.
  • Examples of the method for temporarily curing the curable resin composition by light irradiation include a method of irradiating light with a wavelength of 300 nm or more and 400 nm or less and an integrated light amount of 300 mJ/cm 2 or more and 3000 mJ/cm 2 or less.
  • Examples of light sources for irradiating the curable resin composition of the present invention include low-pressure mercury lamps, medium-pressure mercury lamps, high-pressure mercury lamps, ultra-high-pressure mercury lamps, excimer lasers, chemical lamps, black light lamps, microwave-excited mercury lamps, Examples include metal halide lamps, sodium lamps, halogen lamps, xenon lamps, LED lamps, fluorescent lamps, sunlight, and electron beam irradiation devices. These light sources may be used alone, or two or more types may be used in combination. These light sources are appropriately selected according to the absorption wavelength of the photopolymerization initiator.
  • Examples of means for irradiating the curable resin composition of the present invention with light include simultaneous irradiation with various light sources, sequential irradiation with time differences, and combination irradiation of simultaneous irradiation and sequential irradiation. Means may also be used.
  • Examples of the method of main curing the curable resin composition by heating include a method of heating at a temperature of 80° C. or higher and 200° C. or lower.
  • the present invention it is possible to provide a curable resin composition from which a cured product having excellent gap retention between a wafer and a cover glass can be obtained. Further, according to the present invention, it is possible to provide a method for manufacturing a semiconductor component using the curable resin composition.
  • Examples 1 to 16 and Comparative Examples 1 and 2 The curable resin compositions of Examples 1 to 16 and Comparative Examples 1 and 2 were prepared by stirring and mixing each material using a stirring mixer according to the compounding ratio listed in Table 1.
  • As the stirring mixer Awatori Rentaro ARE-310 (manufactured by Shinky Co., Ltd.) was used.
  • the adhesive strength of the obtained test piece to glass was measured by measuring the adhesive strength using a tension gauge. " ⁇ ” if the adhesive strength was 5.0 kgf/cm2 or more , “ ⁇ ” if it was 1.0 kgf/cm2 or more and less than 5.0 kgf/ cm2 , and less than 1.0 kgf/ cm2 . Adhesiveness to glass was evaluated with a score of "x" if there was any.
  • a frame of 3 mm x 3 mm x 500 ⁇ m was prepared using a silicone rubber sheet with a thickness of 500 ⁇ m, and each of the curable resin compositions obtained in Examples and Comparative Examples was placed in the frame. hardened.
  • the curable resin compositions obtained in Examples were irradiated with light of 100 mW/cm 2 for 30 seconds using a metal halide lamp, and then cured by heating in an oven at 150° C. for 1 hour.
  • the curable resin composition obtained in Comparative Example 1 was cured by irradiating it with light of 100 mW/cm 2 for 30 seconds using a metal halide lamp.
  • the curable resin composition obtained in Comparative Example 2 was cured by heating in an oven at 150°C for 1 hour.
  • the density at 25° C. of the curable resin composition before curing was taken as Da
  • the density at 25° C. of the cured product of the curable resin composition was taken as Db
  • the curing shrinkage rate was calculated using the following formula.
  • Curing shrinkage rate (%) ((Db-Da)/Db) x 100
  • the gap retention property was evaluated as " ⁇ " when the curing shrinkage rate was 3% or less, and as "x" when it exceeded 3%.
  • the curable resin composition obtained in Comparative Example 2 was cured by heating in an oven at 150°C for 1 hour.
  • the haze value (haze value) of light at a wavelength of 550 nm was measured using a spectrometer (manufactured by Nippon Denshoku Kogyo Co., Ltd., "COH-7700"). Transparency was evaluated as " ⁇ " when the haze value was 0.5% or less, and as "x" when it exceeded 0.5%.
  • the present invention it is possible to provide a curable resin composition from which a cured product having excellent gap retention between a wafer and a cover glass can be obtained. Further, according to the present invention, it is possible to provide a method for manufacturing a semiconductor component using the curable resin composition.

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Abstract

本発明は、ウエハとカバーガラスとのギャップ保持性に優れる硬化物を得ることができる硬化性樹脂組成物を提供することを目的とする。また、本発明は、該硬化性樹脂組成物を用いた半導体部品の製造方法を提供することを目的とする。 本発明は、ウエハとカバーガラスとの貼り合わせに用いられる硬化性樹脂組成物であって、硬化性樹脂と光重合開始剤と熱硬化剤とを含有し、前記硬化性樹脂は、加熱による前記熱硬化剤の作用により反応可能な熱重合性官能基を有する化合物(A)、及び、前記熱重合性官能基を有さず、光照射による前記光重合開始剤の作用により反応可能な光重合性官能基を有する化合物(B)を含む硬化性樹脂組成物である。

Description

硬化性樹脂組成物及び半導体部品の製造方法
本発明は、硬化性樹脂組成物に関する。また、本発明は、該硬化性樹脂組成物を用いた半導体部品の製造方法に関する。
近年、半導体部品の実装形式として、ウエハレベルCSPと呼ばれる手法が行われている。ウエハレベルCSPでは、ボンディングワイヤーによる内部配線を行なわないため、半導体部品の薄型化が可能となり、また、複数の半導体チップのパッケージング工程を行った後に一括してダイシング工程を行うため、生産性に優れる。このダイシング工程前に行われるパッケージング工程の際に、樹脂材料を用いてウエハとカバーガラスとが貼り合わせられる(例えば、特許文献1)。
国際公開第2018/030140号
ウエハとカバーガラスとを貼り合わせる際にウエハとカバーガラスとのギャップの制御が精密に行えない場合、半導体部品の性能に個体差が生じることになる。そのため、ウエハとカバーガラスとを貼り合わせに用いる硬化性樹脂組成物として、硬化収縮率が低くギャップ保持性に優れる硬化物を得ることができる硬化性樹脂組成物が求められていた。
本発明は、ウエハとカバーガラスとのギャップ保持性に優れる硬化物を得ることができる硬化性樹脂組成物を提供することを目的とする。また、本発明は、該硬化性樹脂組成物を用いた半導体部品の製造方法を提供することを目的とする。
本開示1は、ウエハとカバーガラスとの貼り合わせに用いられる硬化性樹脂組成物であって、硬化性樹脂と光重合開始剤と熱硬化剤とを含有し、上記硬化性樹脂は、加熱による上記熱硬化剤の作用により反応可能な熱重合性官能基を有する化合物(A)、及び、上記熱重合性官能基を有さず、光照射による上記光重合開始剤の作用により反応可能な光重合性官能基を有する化合物(B)を含む硬化性樹脂組成物である。
本開示2は、上記硬化性樹脂は、上記化合物(A)として、熱重合性官能基と光重合性官能基とを有する化合物を含む本開示1の硬化性樹脂組成物である。
本開示3は、上記硬化性樹脂の有する熱重合性官能基の総モル数をXn、上記硬化性樹脂の有する光重合性官能基の総モル数をYnとしたとき、官能基モル比率Xn/Ynが0.20以上1.00以下である本開示1又は2の硬化性樹脂組成物である。
本開示4は、上記硬化性樹脂の有する熱重合性官能基の総モル数をXn、上記熱硬化剤の有する熱重合に寄与する官能基の総モル数をZnとしたとき、官能基モル比率Xn/Znが0.50以上1.60以下である本開示1、2又は3の硬化性樹脂組成物である。
本開示5は、上記熱硬化剤は、25℃で液状である本開示1、2、3又は4の硬化性樹脂組成物である。
本開示6は、上記熱硬化剤は、酸無水物である本開示1、2、3、4又は5の硬化性樹脂組成物である。
本開示7は、更に、硬化触媒を含有する本開示1、2、3、4、5又は6の硬化性樹脂組成物である。
本開示8は、本開示1、2、3、4、5、6又は7の硬化性樹脂組成物を介してウエハとカバーガラスとを重ね合わせる工程と、光照射により上記硬化性樹脂組成物を仮硬化させる工程と、加熱により上記硬化性樹脂組成物を本硬化させる工程とを有する半導体部品の製造方法である。
以下に本発明を詳述する。
本発明者は、ウエハとカバーガラスとの貼り合わせに用いられる硬化性樹脂組成物について、特定の硬化性樹脂と光重合開始剤と熱硬化剤とを含有するものとすることを検討した。その結果、ウエハとカバーガラスとのギャップ保持性に優れる硬化物を得ることができることを見出し、本発明を完成させるに至った。また、本発明の硬化性樹脂組成物は、光照射により仮硬化させることで、塗布後に垂れることなく、ウエハとカバーガラスとを貼り合わせる際に染み出しを抑制する効果にも優れるものとすることができる。
本発明の硬化性樹脂組成物は、硬化性樹脂を含有する。
上記硬化性樹脂は、加熱による熱硬化剤の作用により反応可能な熱重合性官能基を有する化合物(A)、及び、上記熱重合性官能基を有さず、光照射による光重合開始剤の作用により反応可能な光重合性官能基を有する化合物(B)を含む。
上記化合物(A)の有する熱重合性官能基としては、用いる熱硬化剤の種類によって適宜選択されるが、例えば、エポキシ基、(メタ)アクリロイル基、ビニル基、(メタ)アクリルアミド基、イソシアナート基、シラノール基、チオール基等が挙げられる。なかでも、上記化合物(A)は、エポキシ基を有するエポキシ化合物であることが好ましい。
なお、本明細書において、上記「(メタ)アクリロイル」とは、アクリロイル又はメタクリロイルを意味し、上記「(メタ)アクリル」とは、アクリル又はメタクリルを意味する。
上記エポキシ化合物としては、例えば、ビスフェノールA型エポキシ化合物、ビスフェノールF型エポキシ化合物、ビスフェノールE型エポキシ化合物、ビスフェノールS型エポキシ化合物、2,2’-ジアリルビスフェノールA型エポキシ化合物、水添ビスフェノール型エポキシ化合物、プロピレンオキシド付加ビスフェノールA型エポキシ化合物、レゾルシノール型エポキシ化合物、ビフェニル型エポキシ化合物、スルフィド型エポキシ化合物、ジフェニルエーテル型エポキシ化合物、ジシクロペンタジエン型エポキシ化合物、ナフタレン型エポキシ化合物、フェノールノボラック型エポキシ化合物、オルトクレゾールノボラック型エポキシ化合物、ジシクロペンタジエンノボラック型エポキシ化合物、ビフェニルノボラック型エポキシ化合物、ナフタレンフェノールノボラック型エポキシ化合物、グリシジルアミン型エポキシ化合物、アルキルポリオール型エポキシ化合物、ゴム変性型エポキシ化合物、グリシジルエステル化合物等が挙げられる。
上記ビスフェノールA型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、jER828EL、jER1004(いずれも三菱ケミカル社製)、EPICLON850(DIC社製)等が挙げられる。
上記ビスフェノールF型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、D.E.R.354(ダウ・ケミカル社製)、jER806、jER4004(いずれも三菱ケミカル社製)、EPICLON EXA-830CRP(DIC社製)等が挙げられる。
上記ビスフェノールE型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、エポミックR710(三井化学社製)等が挙げられる。
上記ビスフェノールS型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、EPICLON EXA-1514(DIC社製)等が挙げられる。
上記2,2’-ジアリルビスフェノールA型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、RE-810NM(日本化薬社製)等が挙げられる。
上記水添ビスフェノール型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、EPICLON EXA-7015(DIC社製)等が挙げられる。
上記プロピレンオキシド付加ビスフェノールA型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、EP-4000S(ADEKA社製)等が挙げられる。
上記レゾルシノール型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、EX-201(ナガセケムテックス社製)等が挙げられる。
上記ビフェニル型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、jER YX-4000H(三菱ケミカル社製)等が挙げられる。
上記スルフィド型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、YSLV-50TE(日鉄ケミカル&マテリアル社製)等が挙げられる。
上記ジフェニルエーテル型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、YSLV-80DE(日鉄ケミカル&マテリアル社製)等が挙げられる。
上記ジシクロペンタジエン型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、EP-4088S(ADEKA社製)等が挙げられる。
上記ナフタレン型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、EPICLON HP-4032、EPICLON EXA-4700(いずれもDIC社製)等が挙げられる。
上記フェノールノボラック型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、EPICLON N-770(DIC社製)等が挙げられる。
上記オルトクレゾールノボラック型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、EPICLON N-670-EXP-S(DIC社製)等が挙げられる。
上記ジシクロペンタジエンノボラック型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、EPICLON HP-7200(DIC社製)等が挙げられる。
上記ビフェニルノボラック型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、NC-3000P(日本化薬社製)等が挙げられる。
上記ナフタレンフェノールノボラック型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、ESN-165S(日鉄ケミカル&マテリアル社製)等が挙げられる。
上記グリシジルアミン型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、jER630(三菱ケミカル社製)、EPICLON430(DIC社製)、TETRAD-X(三菱ガス化学社製)等が挙げられる。
上記アルキルポリオール型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、ZX-1542(日鉄ケミカル&マテリアル社製)、EPICLON726(DIC社製)、エポライト80MFA(共栄社化学社製)、デナコールEX-611(ナガセケムテックス社製)等が挙げられる。
上記ゴム変性型エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、YR-450、YR-207(いずれも日鉄ケミカル&マテリアル社製)、エポリードPB(ダイセル社製)等が挙げられる。
上記グリシジルエステル化合物のうち市販されているものとしては、例えば、デナコールEX-147(ナガセケムテックス社製)等が挙げられる。
上記エポキシ化合物のうちその他に市販されているものとしては、例えば、YDC-1312、YSLV-80XY、YSLV-90CR(いずれも日鉄ケミカル&マテリアル社製)、XAC4151(旭化成社製)、jER1031、jER1032(いずれも三菱ケミカル社製)、EXA-7120(DIC社製)、TEPIC(日産化学社製)等が挙げられる。
上記硬化性樹脂は、上記化合物(A)として、熱重合性官能基と後述する光重合性官能基とを有する化合物を含んでいてもよい。
上記熱重合性官能基と光重合性官能基とを有する化合物としては、例えば、部分(メタ)アクリル変性エポキシ化合物等が挙げられる。
なお、本明細書において上記部分(メタ)アクリル変性エポキシ化合物とは、2つ以上のエポキシ基を有するエポキシ化合物の一部分のエポキシ基を(メタ)アクリル酸と反応させることによって得ることができる、1分子中にエポキシ基と(メタ)アクリロイル基とをそれぞれ1つ以上有する化合物を意味する。
上記部分(メタ)アクリル変性エポキシ化合物のうち市販されているものとしては、例えば、NEM5000H(ネオケミカル社製)、UVACURE1561、KRM8287(いずれもダイセル・オルネクス社製)等が挙げられる。
上記硬化性樹脂100重量部中における上記化合物(A)の含有量の好ましい下限は10重量部、好ましい上限は70重量部である。上記化合物(A)の含有量がこの範囲であることにより、得られる硬化性樹脂組成物が熱硬化性、Bステージ化(光硬化)時のタック性、接着性、及び、硬化後のギャップ保持性により優れるものとなる。上記化合物(A)の含有量のより好ましい下限は20重量部、より好ましい上限は50重量部である。
上記化合物(B)の有する光重合性官能基、及び、上記化合物(A)が光重合性官能基を有する場合の該光重合性官能基としては、用いる光重合開始剤の種類によって適宜選択されるが、例えば、(メタ)アクリロイル基、(メタ)アクリルアミド基、ビニル基、チオール基、エポキシ基等が挙げられる。なかでも、(メタ)アクリロイル基が好ましい。即ち、上記化合物(B)は、上記光重合性官能基として(メタ)アクリロイル基を有する(メタ)アクリル化合物であることが好ましい。
上記(メタ)アクリル化合物としては、例えば、(メタ)アクリル酸エステル化合物、エポキシ(メタ)アクリレート、ウレタン(メタ)アクリレート等が挙げられる。また、上記(メタ)アクリル化合物は、反応性の観点から1分子中に(メタ)アクリロイル基を2個以上有するものが好ましい。
なお、本明細書において、上記「(メタ)アクリレート」とは、アクリレート又はメタクリレートを意味し、上記「エポキシ(メタ)アクリレート」とは、エポキシ化合物中の全てのエポキシ基を(メタ)アクリル酸と反応させた化合物のことを表す。
上記(メタ)アクリル酸エステル化合物のうち単官能のものとしては、例えば、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、プロピル(メタ)アクリレート、n-ブチル(メタ)アクリレート、イソブチル(メタ)アクリレート、t-ブチル(メタ)アクリレート、2-エチルヘキシル(メタ)アクリレート、n-オクチル(メタ)アクリレート、イソオクチル(メタ)アクリレート、イソノニル(メタ)アクリレート、イソデシル(メタ)アクリレート、ラウリル(メタ)アクリレート、イソミリスチル(メタ)アクリレート、ステアリル(メタ)アクリレート、2-ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2-ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、2-ヒドロキシブチル(メタ)アクリレート、4-ヒドロキシブチル(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、イソボルニル(メタ)アクリレート、ビシクロペンテニル(メタ)アクリレート、ベンジル(メタ)アクリレート、2-メトキシエチル(メタ)アクリレート、2-エトキシエチル(メタ)アクリレート、2-ブトキシエチル(メタ)アクリレート、2-フェノキシエチル(メタ)アクリレート、メトキシエチレングリコール(メタ)アクリレート、メトキシポリエチレングリコール(メタ)アクリレート、フェノキシジエチレングリコール(メタ)アクリレート、フェノキシポリエチレングリコール(メタ)アクリレート、テトラヒドロフルフリル(メタ)アクリレート、エチルカルビトール(メタ)アクリレート、2,2,2-トリフルオロエチル(メタ)アクリレート、2,2,3,3-テトラフルオロプロピル(メタ)アクリレート、1H,1H,5H-オクタフルオロペンチル(メタ)アクリレート、イミド(メタ)アクリレート、ジメチルアミノエチル(メタ)アクリレート、ジエチルアミノエチル(メタ)アクリレート、2-(メタ)アクリロイロキシエチルコハク酸、2-(メタ)アクリロイロキシエチルヘキサヒドロフタル酸、2-(メタ)アクリロイロキシエチル2-ヒドロキシプロピルフタレート、2-(メタ)アクリロイロキシエチルホスフェート等が挙げられる。
また、上記(メタ)アクリル酸エステル化合物のうち2官能のものとしては、例えば、1,3-ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、1,4-ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、1,6-ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、1,9-ノナンジオールジ(メタ)アクリレート、1,10-デカンジオールジ(メタ)アクリレート、エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ジエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、テトラエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、2-n-ブチル-2-エチル-1,3-プロパンジオールジ(メタ)アクリレート、ジプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、エチレンオキシド付加ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、プロピレンオキシド付加ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、エチレンオキシド付加ビスフェノールFジ(メタ)アクリレート、ジメチロールジシクロペンタジエニルジ(メタ)アクリレート、エチレンオキシド変性イソシアヌル酸ジ(メタ)アクリレート、2-ヒドロキシ-3-(メタ)アクリロイロキシプロピル(メタ)アクリレート、カーボネートジオールジ(メタ)アクリレート、ポリエーテルジオールジ(メタ)アクリレート、ポリエステルジオールジ(メタ)アクリレート、ポリカプロラクトンジオールジ(メタ)アクリレート、ポリブタジエンジオールジ(メタ)アクリレート、トリシクロデカンジメタノールジ(メタ)アクリレート等が挙げられる。
また、上記(メタ)アクリル酸エステル化合物のうち3官能以上のものとしては、例えば、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、エチレンオキシド付加トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、プロピレンオキシド付加トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、カプロラクトン変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、エチレンオキシド付加イソシアヌル酸トリ(メタ)アクリレート、グリセリントリ(メタ)アクリレート、プロピレンオキシド付加グリセリントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、トリス(メタ)アクリロイルオキシエチルフォスフェート、ジトリメチロールプロパンテトラ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート等が挙げられる。
上記エポキシ(メタ)アクリレートとしては、例えば、エポキシ化合物と(メタ)アクリル酸とを、常法に従って塩基性触媒の存在下で反応させることにより得られるもの等が挙げられる。
上記エポキシ(メタ)アクリレートを合成するための原料となるエポキシ化合物としては、上記化合物(A)として上述したエポキシ化合物と同様のものを用いることができる。
上記エポキシ(メタ)アクリレートのうち市販されているものとしては、例えば、ダイセル・オルネクス社製のエポキシ(メタ)アクリレート、新中村化学工業社製のエポキシ(メタ)アクリレート、共栄社化学社製のエポキシ(メタ)アクリレート、ナガセケムテックス社製のエポキシ(メタ)アクリレート等が挙げられる。
上記ダイセル・オルネクス社製のエポキシ(メタ)アクリレートとしては、例えば、EBECRYL860、EBECRYL3200、EBECRYL3201、EBECRYL3412、EBECRYL3600、EBECRYL3700、EBECRYL3701、EBECRYL3702、EBECRYL3703、EBECRYL3708、EBECRYL3800、EBECRYL6040、EBECRYL RDX63182、KRM8076等が挙げられる。
上記新中村化学工業社製のエポキシ(メタ)アクリレートとしては、例えば、EA-1010、EA-1020、EA-5323、EA-5520、EA-CHD、EMA-1020等が挙げられる。
上記共栄社化学社製のエポキシ(メタ)アクリレートとしては、例えば、エポキシエステルM-600A、エポキシエステル40EM、エポキシエステル70PA、エポキシエステル200PA、エポキシエステル80MFA、エポキシエステル3002M、エポキシエステル3002A、エポキシエステル1600A、エポキシエステル3000M、エポキシエステル3000A、エポキシエステル200EA、エポキシエステル400EA等が挙げられる。
上記ナガセケムテックス社製のエポキシ(メタ)アクリレートとしては、例えば、デナコールアクリレートDA-141、デナコールアクリレートDA-314、デナコールアクリレートDA-911等が挙げられる。
上記ウレタン(メタ)アクリレートは、例えば、イソシアネート化合物に対して水酸基を有する(メタ)アクリル酸誘導体を、触媒量のスズ系化合物の存在下で反応させることによって得ることができる。
上記ウレタン(メタ)アクリレートの原料となるイソシアネート化合物としては、例えば、イソホロンジイソシアネート、2,4-トリレンジイソシアネート、2,6-トリレンジイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート、トリメチルヘキサメチレンジイソシアネート、ジフェニルメタン-4,4’-ジイソシアネート(MDI)、水添MDI、ポリメリックMDI、1,5-ナフタレンジイソシアネート、ノルボルナンジイソシアネート、トリジンジイソシアネート、キシリレンジイソシアネート(XDI)、水添XDI、リジンジイソシアネート、トリフェニルメタントリイソシアネート、トリス(イソシアネートフェニル)チオフォスフェート、テトラメチルキシリレンジイソシアネート、1,6,11-ウンデカントリイソシアネート等が挙げられる。
また、上記ウレタン(メタ)アクリレートの原料となるイソシアネート化合物としては、ポリオールと過剰のイソシアネート化合物との反応により得られる鎖延長されたイソシアネート化合物も使用することができる。
上記ポリオールとしては、例えば、エチレングリコール、プロピレングリコール、グリセリン、ソルビトール、トリメチロールプロパン、カーボネートジオール、ポリエーテルジオール、ポリエステルジオール、ポリカプロラクトンジオール等が挙げられる。
上記水酸基を有する(メタ)アクリル酸誘導体としては、例えば、ヒドロキシアルキルモノ(メタ)アクリレート、二価のアルコールのモノ(メタ)アクリレート、三価のアルコールのモノ(メタ)アクリレート又はジ(メタ)アクリレート、エポキシ(メタ)アクリレート等が挙げられる。
上記ヒドロキシアルキルモノ(メタ)アクリレートとしては、例えば、2-ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2-ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、2-ヒドロキシブチル(メタ)アクリレート、4-ヒドロキシブチル(メタ)アクリレート等が挙げられる。
上記二価のアルコールとしては、例えば、エチレングリコール、プロピレングリコール、1,3-プロパンジオール、1,3-ブタンジオール、1,4-ブタンジオール、ポリエチレングリコール等が挙げられる。
上記三価のアルコールとしては、例えば、トリメチロールエタン、トリメチロールプロパン、グリセリン等が挙げられる。
上記エポキシ(メタ)アクリレートとしては、例えば、ビスフェノールA型エポキシ(メタ)アクリレート等が挙げられる。
上記ウレタン(メタ)アクリレートのうち市販されているものとしては、例えば、東亞合成社製のウレタン(メタ)アクリレート、ダイセル・オルネクス社製のウレタン(メタ)アクリレート、根上工業社製のウレタン(メタ)アクリレート、新中村化学工業社製のウレタン(メタ)アクリレート、共栄社化学社製のウレタン(メタ)アクリレート等が挙げられる。
上記東亞合成社製のウレタン(メタ)アクリレートとしては、例えば、M-1100、M-1200、M-1210、M-1600等が挙げられる。
上記ダイセル・オルネクス社製のウレタン(メタ)アクリレートとしては、例えば、EBECRYL210、EBECRYL220、EBECRYL230、EBECRYL270、EBECRYL1290、EBECRYL2220、EBECRYL4827、EBECRYL4842、EBECRYL4858、EBECRYL5129、EBECRYL6700、EBECRYL8402、EBECRYL8803、EBECRYL8804、EBECRYL8807、EBECRYL9260等が挙げられる。
上記根上工業社製のウレタン(メタ)アクリレートとしては、例えば、アートレジンUN-330、アートレジンSH-500B、アートレジンUN-1200TPK、アートレジンUN-1255、アートレジンUN-3320HB、アートレジンUN-7100、アートレジンUN-9000A、アートレジンUN-9000H等が挙げられる。
上記新中村化学工業社製のウレタン(メタ)アクリレートとしては、例えば、U-2HA、U-2PHA、U-3HA、U-4HA、U-6H、U-6HA、U-6LPA、U-10H、U-15HA、U-108、U-108A、U-122A、U-122P、U-324A、U-340A、U-340P、U-1084A、U-2061BA、UA-340P、UA-4000、UA-4100、UA-4200、UA-4400、UA-5201P、UA-7100、UA-7200、UA-W2A等が挙げられる。
上記共栄社化学社製のウレタン(メタ)アクリレートとしては、例えば、AH-600、AI-600、AT-600、UA-101I、UA-101T、UA-306H、UA-306I、UA-306T等が挙げられる。
上記硬化性樹脂100重量部中における上記化合物(B)の含有量の好ましい下限は5重量部、好ましい上限は50重量部である。上記化合物(B)の含有量がこの範囲であることにより、得られる硬化性樹脂組成物が光硬化性、ウエハとカバーガラスとを貼り合わせる際の染み出しを抑制する効果、及び、硬化後のギャップ保持性により優れるものとなる。上記化合物(B)の含有量のより好ましい下限は10重量部、より好ましい上限は30重量部である。
本発明の硬化性樹脂組成物は、上記硬化性樹脂の有する熱重合性官能基の総モル数をXn、上記硬化性樹脂の有する光重合性官能基の総モル数をYnとしたとき、官能基モル比率Xn/Ynの好ましい下限が0.20、好ましい上限が1.00である。上記Xn/Ynが0.20以上であることにより、得られる硬化性樹脂組成物が接着性及び熱硬化性により優れるものとなる。上記Xn/Ynが1.00以下であることにより、得られる硬化性樹脂組成物が染み出しを抑制する効果、及び、硬化後のギャップ保持性により優れるものとなる。上記Xn/Ynのより好ましい下限は0.30、より好ましい上限は0.80である。
なお、上記Xn、上記Yn、及び、後述するZnは、H-NMR及び液体クロマトグラフィーにより測定することができる。
上記H-NMRは、以下の条件で測定することができる。
 装置:AVANCE NEO 400(BRUKER社製)
 測定温度:25℃
 溶媒:ジメチルスルホキシド(DMSO)
 化学シフト基準:2.50ppm
 試料濃度:5mg/mL
 積算回数:32回
また、上記液体クロマトグラフィーは、以下の条件で測定することができる。
 装置:WATERS Xevo G2 QTof(WATERS社製)
 カラム:AQUITY UPLC HSS T3 1.8μm(WATERS社製)
 カラム温度:40℃
 溶離液:アセトニトリル/水=1/1(体積比)
 流速:0.25mL/分
本発明の硬化性樹脂組成物は、光重合開始剤を含有する。
上記光重合開始剤としては、例えば、ベンゾフェノン化合物、アセトフェノン化合物、アシルフォスフィンオキサイド化合物、チタノセン化合物、オキシムエステル化合物、ベンゾインエーテル化合物、チオキサントン化合物等が挙げられる。
上記光重合開始剤としては、具体的には例えば、1-ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、2-ベンジル-2-ジメチルアミノ-1-(4-モルフォリノフェニル)-1-ブタノン、2-(ジメチルアミノ)-2-((4-メチルフェニル)メチル)-1-(4-(4-モルホリニル)フェニル)-1-ブタノン、2,2-ジメトキシ-1,2-ジフェニルエタン-1-オン、ビス(2,4,6-トリメチルベンゾイル)フェニルホスフィンオキサイド、2-メチル-1-(4-メチルチオフェニル)-2-モルフォリノプロパン-1-オン、1-(4-(2-ヒドロキシエトキシ)-フェニル)-2-ヒドロキシ-2-メチル-1-プロパン-1-オン、1-(4-(フェニルチオ)フェニル)-1,2-オクタンジオン2-(O-ベンゾイルオキシム)、2-(アセトキシイミノ)-1-(4-(4-(2-ヒドロキシエトキシ)フェニルチオ)フェニル)プロパン-1-オン、2,4,6-トリメチルベンゾイルジフェニルホスフィンオキサイド等が挙げられる。
上記光重合開始剤は、単独で用いられてもよいし、2種以上が組み合わせて用いられてもよい。
上記光重合開始剤の含有量は、上記硬化性樹脂100重量部に対して、好ましい下限が0.1重量部、好ましい上限が10重量部である。上記光重合開始剤の含有量がこの範囲であることにより、得られる硬化性樹脂組成物が保存安定性及び光硬化性により優れるものとなる。上記光重合開始剤の含有量のより好ましい下限は1重量部、より好ましい上限は5重量部である。
本発明の硬化性樹脂組成物は、熱硬化剤を含有する。
上記熱硬化剤は、透明性の観点から、25℃で液状であることが好ましい。
上記熱硬化剤としては、例えば、酸無水物、有機酸ヒドラジド、イミダゾール誘導体、アミン化合物、多価フェノール系化合物等が挙げられる。なかでも、酸無水物が好適に用いられる。
上記熱硬化剤は、単独で用いられてもよいし、2種以上が組み合わせて用いられてもよい。
上記酸無水物としては、例えば、コハク酸無水物、マレイン酸無水物、フタル酸無水物、ヘキサヒドロフタル酸無水物、メチルヘキサヒドロフタル酸無水物、無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルナジック酸無水物、水素化メチルナジック酸無水物、トリアルキルテトラヒドロ無水フタル酸、ドデセニル無水コハク酸、5-(2,5-ジオキソテトラヒドロ-3-フラニル)-3-メチル-3-シクロヘキセン-1,2-ジカルボン酸無水物、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸、ベンソフェノンテトラカルボン酸二無水物、ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、オキシジフタル酸二無水物等が挙げられる。
上記熱硬化剤の含有量は、上記硬化性樹脂100重量部に対して、好ましい下限が20重量部、好ましい上限が150重量部である。上記熱硬化剤の含有量がこの範囲であることにより、得られる硬化性樹脂組成物の塗布性等を悪化させることなく、熱硬化性により優れるものとすることができる。上記熱硬化剤の含有量のより好ましい下限は50重量部、より好ましい上限は100重量部である。
本発明の硬化性樹脂組成物は、上記硬化性樹脂の有する熱重合性官能基の総モル数をXn、上記熱硬化剤の有する熱重合に寄与する官能基の総モル数をZnとしたとき、官能基モル比率Xn/Znの好ましい下限が0.50、好ましい上限が1.60である。上記Xn/Znがこの範囲であることにより、得られる硬化性樹脂組成物が熱による硬化性が向上し、接着力により優れるものとなる。上記Xn/Znのより好ましい下限は0.80、より好ましい上限は1.20である。
本発明の硬化性樹脂組成物は、更に、硬化触媒を含有することが好ましい。上記硬化触媒を含有することにより、得られる硬化性樹脂組成物が熱硬化性に優れ、硬化速度の向上効果が得られる。
上記硬化触媒としては、例えば、有機リン化合物、3級アミン類等が挙げられる。なかでも、有機リン化合物が好ましい。
上記硬化触媒は、単独で用いられてもよいし、2種以上が組み合わせて用いられてもよい。
上記有機リン化合物としては、例えば、メチルトリブチルホスホニウムジメチルホスフェート、テトラブチルホスホニウムO,O-ジエチルホスホロジチオエート、テトラブチルホスホニウムベンゾトリアゾレート、テトラブチルホスホニウムテトラフェニルボレート、トリフェニルホスフィン、トリ-p-トリルホスフィン、ジフェニルシクロヘキシルホスフィン、トリシクロヘキシルホスフィン等が挙げられる。
上記硬化触媒の含有量は、上記硬化性樹脂100重量部に対して、好ましい下限が0.01重量部、好ましい上限が3重量部である。上記硬化触媒の含有量がこの範囲であることにより、得られる硬化性樹脂組成物が硬化性及び保存安定性により優れるものとなる。上記硬化触媒の含有量のより好ましい下限は0.05重量部、より好ましい上限は0.5重量部である。
本発明の硬化性樹脂組成物は、塗膜の平坦性等の観点から、更に、レベリング剤を含有することが好ましい。
上記レベリング剤としては、例えば、シリコーン系レベリング剤、フッ素系レベリング剤、アクリル系レベリング剤等が挙げられる。なかでも、シリコーン系レベリング剤が好ましい。
上記シリコーン系レベリング剤としては、例えば、ポリエーテル変性ポリジメチルシロキサン等が挙げられる。
上記レベリング剤は、単独で用いられてもよいし、2種以上が組み合わせて用いられてもよい。
上記レベリング剤の含有量は、上記硬化性樹脂100重量部に対して、好ましい下限が0.01重量部、好ましい上限が5重量部である。上記レベリング剤の含有量がこの範囲であることにより、得られる硬化性樹脂組成物が塗布性及び塗膜の平坦性により優れるものとなる。上記レベリング剤の含有量のより好ましい下限は0.1重量部、より好ましい上限は0.5重量部である。
本発明の硬化性樹脂組成物は、充填剤を含有してもよいが、透明性の観点から上記充填剤を含有しないことが好ましい。
また、本発明の硬化性樹脂組成物は、本発明の目的を阻害しない範囲で、必要に応じて、硬化遅延剤、補強剤、粘度調整剤、酸化防止剤等の公知の各種添加剤を含有してもよい。
本発明の硬化性樹脂組成物は、硬化物のヘイズの好ましい上限が1%である。上記ヘイズが1%以下であることにより、本発明の硬化性樹脂組成物は、高い透明性が求められる半導体部品の製造におけるウエハとカバーガラスとの貼り合わせにより好適に用いることができ、CCDやCMOS等の撮像素子の製造に特に好適に用いることができる。上記ヘイズのより好ましい上限は0.5%である。
上記ヘイズは、全透過光に対する拡散透過光の比率を意味し、例えば、COH-7700(日本電色工業社製)等の分光計を用いて測定することができる。
本発明の硬化性樹脂組成物は、ウエハとカバーガラスとの貼り合わせに用いられる。
本発明の硬化性樹脂組成物を介してウエハとカバーガラスとを重ね合わせる工程と、光照射により上記硬化性樹脂組成物を仮硬化させる工程と、加熱により上記硬化性樹脂組成物を本硬化させる工程とを有する半導体部品の製造方法もまた、本発明の1つである。
上記半導体部品としては、具体的には例えば、CCDやCMOS等の撮像素子等が挙げられる。
光照射により上記硬化性樹脂組成物を仮硬化させる方法としては、例えば、300nm以上400nm以下の波長及び300mJ/cm以上3000mJ/cm以下の積算光量の光を照射する方法等が挙げられる。
本発明の硬化性樹脂組成物に光を照射するための光源としては、例えば、低圧水銀灯、中圧水銀灯、高圧水銀灯、超高圧水銀灯、エキシマレーザ、ケミカルランプ、ブラックライトランプ、マイクロウェーブ励起水銀灯、メタルハライドランプ、ナトリウムランプ、ハロゲンランプ、キセノンランプ、LEDランプ、蛍光灯、太陽光、電子線照射装置等が挙げられる。これらの光源は単独で用いられてもよいし、2種以上が組み合わせて用いられてもよい。
これらの光源は、上記光重合開始剤の吸収波長に合わせて適宜選択される。
本発明の硬化性樹脂組成物への光の照射手段としては、例えば、各種光源の同時照射、時間差をおいての逐次照射、同時照射と逐次照射との組み合わせ照射等が挙げられ、いずれの照射手段を用いてもよい。
加熱により上記硬化性樹脂組成物を本硬化させる方法としては、例えば、80℃以上200℃以下の温度で加熱する方法等が挙げられる。
本発明によれば、ウエハとカバーガラスとのギャップ保持性に優れる硬化物を得ることができる硬化性樹脂組成物を提供することができる。また、本発明によれば、該硬化性樹脂組成物を用いた半導体部品の製造方法を提供することができる。
以下に実施例を掲げて本発明を更に詳しく説明するが、本発明はこれら実施例のみに限定されない。
(実施例1~16及び比較例1、2)
表1に記載された配合比に従い、各材料を、撹拌混合機を用いて撹拌混合することにより、実施例1~16及び比較例1、2の各硬化性樹脂組成物を作製した。撹拌混合機としては、あわとり練太郎ARE-310(シンキー社製)を用いた。
<評価>
実施例及び比較例で得られた各硬化性樹脂組成物について以下の評価を行った。結果を表1に示した。
(光照射後のタック性)
ガラス基板上にガムテープを用いて200μmギャップを設け、実施例及び比較例で得られた各硬化性樹脂組成物を、スキージブレードを用いて塗布した。次いで、メタルハライドランプを用いて100mW/cmの光を30秒照射することにより、試験片を得た。得られた試験片について、タックテスター(レスカ社製、「タッキング試験機TAC-II」)を用いて硬化性樹脂組成物部分の粘着力を測定した。3回試行した値の平均値を測定値とした。
粘着力が100gf以上であった場合を「○」、100gf未満であった場合を「×」として光照射後のタック性を評価した。
(低染み出し性)
ガラス基板上にガムテープを用いて200μmのギャップを設け、実施例及び比較例で得られた各硬化性樹脂組成物を、スキージブレードを用いて塗布した。次いで、メタルハライドランプを用いて100mW/cmの光を30秒照射することにより、試験片を得た。得られた試験片を約45℃傾けて静置した。
静置から24時間後の試験片を観察し、硬化性樹脂組成物の垂れが確認されなかった場合を「○」、硬化性樹脂組成物の垂れが確認された場合を「×」として、低染み出し性を評価した。
(ガラスに対する接着性)
実施例及び比較例で得られた各硬化性樹脂組成物に平均粒径5μmのポリマービーズ(積水化学工業社製、「ミクロパールSP」)1重量部を遊星式攪拌装置によって均一に分散させた。得られた極微量の樹脂組成物をスライドガラスの中央部にとり、他のスライドガラスをその上に重ね合わせて樹脂組成物を押し広げ、メタルハライドランプを用いて100mW/cmの紫外線を30秒間照射した。その後150℃で1時間加熱を行い、試験片を得た。得られた試験片について、テンションゲージを用いて接着強度を測定することにより、ガラスに対する接着力を測定した。
接着力が5.0kgf/cm以上であった場合を「◎」、1.0kgf/cm以上5.0kgf/cm未満であった場合を「○」、1.0kgf/cm未満であった場合を「×」としてガラスに対する接着性を評価した。
(ギャップ保持性)
厚さ500μmのシリコーンゴムシートを用いて、3mm×3mm×500μmの枠を作製し、該枠内に実施例及び比較例で得られた各硬化性樹脂組成物を入れ、硬化性樹脂組成物を硬化させた。実施例で得られた硬化性樹脂組成物については、メタルハライドランプを用いて100mW/cmの光を30秒照射した後、150℃のオーブンで1時間加熱することにより硬化させた。比較例1で得られた硬化性樹脂組成物については、メタルハライドランプを用いて100mW/cmの光を30秒照射することにより硬化させた。比較例2で得られた硬化性樹脂組成物については、150℃のオーブンで1時間加熱することにより硬化させた。
硬化前の硬化性樹脂組成物の25℃における密度をDa、硬化性樹脂組成物の硬化物の25℃における密度をDbとし、下記式により硬化収縮率を算出した。
 硬化収縮率(%)=((Db-Da)/Db)×100
硬化収縮率が3%以下であった場合を「○」、3%を超えた場合を「×」としてギャップ保持性を評価した。
(透明性)
実施例及び比較例で得られた各硬化性樹脂組成物を、ガラス基板上に、バーコーターNo.5(アズワン社製)を用いて厚さ5μmとなるようにして塗布した後、硬化性樹脂組成物を硬化させ、試験片を得た。実施例で得られた硬化性樹脂組成物については、メタルハライドランプを用いて100mW/cmの光を30秒照射した後、150℃のオーブンで1時間加熱することにより硬化させた。比較例1で得られた硬化性樹脂組成物については、メタルハライドランプを用いて100mW/cmの光を30秒照射することにより硬化させた。比較例2で得られた硬化性樹脂組成物については、150℃のオーブンで1時間加熱することにより硬化させた。得られた試験片について、分光計(日本電色工業社製、「COH-7700」)を用いて、波長550nmにおける光のヘイズ値(曇価)を測定した。
ヘイズ値が、0.5%以下であった場合を「○」、0.5%を超えた場合を「×」として透明性を評価した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
本発明によれば、ウエハとカバーガラスとのギャップ保持性に優れる硬化物を得ることができる硬化性樹脂組成物を提供することができる。また、本発明によれば、該硬化性樹脂組成物を用いた半導体部品の製造方法を提供することができる。

Claims (8)

  1. ウエハとカバーガラスとの貼り合わせに用いられる硬化性樹脂組成物であって、
    硬化性樹脂と光重合開始剤と熱硬化剤とを含有し、
    前記硬化性樹脂は、加熱による前記熱硬化剤の作用により反応可能な熱重合性官能基を有する化合物(A)、及び、前記熱重合性官能基を有さず、光照射による前記光重合開始剤の作用により反応可能な光重合性官能基を有する化合物(B)を含むことを特徴とする硬化性樹脂組成物。
  2. 前記硬化性樹脂は、前記化合物(A)として、熱重合性官能基と光重合性官能基とを有する化合物を含む請求項1記載の硬化性樹脂組成物。
  3. 前記硬化性樹脂の有する熱重合性官能基の総モル数をXn、前記硬化性樹脂の有する光重合性官能基の総モル数をYnとしたとき、官能基モル比率Xn/Ynが0.20以上1.00以下である請求項1又は2記載の硬化性樹脂組成物。
  4. 前記硬化性樹脂の有する熱重合性官能基の総モル数をXn、前記熱硬化剤の有する熱重合に寄与する官能基の総モル数をZnとしたとき、官能基モル比率Xn/Znが0.50以上1.60以下である請求項1、2又は3記載の硬化性樹脂組成物。
  5. 前記熱硬化剤は、25℃で液状である請求項1、2、3又は4記載の硬化性樹脂組成物。
  6. 前記熱硬化剤は、酸無水物である請求項1、2、3、4又は5記載の硬化性樹脂組成物。
  7. 更に、硬化触媒を含有する請求項1、2、3、4、5又は6記載の硬化性樹脂組成物。
  8. 請求項1、2、3、4、5、6又は7記載の硬化性樹脂組成物を介してウエハとカバーガラスとを重ね合わせる工程と、光照射により前記硬化性樹脂組成物を仮硬化させる工程と、加熱により前記硬化性樹脂組成物を本硬化させる工程とを有する半導体部品の製造方法。
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