WO2023162922A1 - 搬送装置、研磨装置、及び搬送方法 - Google Patents

搬送装置、研磨装置、及び搬送方法 Download PDF

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WO2023162922A1
WO2023162922A1 PCT/JP2023/005963 JP2023005963W WO2023162922A1 WO 2023162922 A1 WO2023162922 A1 WO 2023162922A1 JP 2023005963 W JP2023005963 W JP 2023005963W WO 2023162922 A1 WO2023162922 A1 WO 2023162922A1
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WO
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carrier
substrate
holding
holding portion
thickness direction
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Application number
PCT/JP2023/005963
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English (en)
French (fr)
Inventor
貢 齋藤
温光 古川
孝平 蛭田
雅史 三浦
俊洋 廣嶋
優 森田
圭佑 江▲崎▼
Original Assignee
三菱マテリアルテクノ株式会社
株式会社Sumco
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations

Definitions

  • the present invention relates to a conveying apparatus, a polishing apparatus, and a conveying method.
  • This application claims priority based on Japanese Patent Application No. 2022-027113 filed in Japan on February 24, 2022, the content of which is incorporated herein.
  • the present invention has been devised in view of such problems, and provides a transfer apparatus that prevents the substrate from falling during transfer of the carrier and the substrate, a polishing apparatus equipped with this transfer apparatus, and a transfer method. intended to
  • a first aspect of the present invention is a transport device for transporting a carrier formed in a flat plate shape and provided with a through hole, and a substrate accommodated in the through hole, wherein the outer peripheral portion of the carrier and a second holding portion for holding the substrate in the through-hole from the thickness direction of the carrier, the substrate being held by the first holding portion. At least one of the first holding part and the second holding part can extend or contract in the thickness direction so that the carrier and the substrate held by the second holding part are spaced apart from each other.
  • the substrate and the carrier containing the substrate in the through-hole are supported on a support surface along the horizontal plane. Then, using a transport device, the outer peripheral portion of the carrier is held by the first holding portion in the vertical direction, which is the thickness direction, and the substrate in the through hole is held by the second holding portion.
  • the gravity acting on the carrier bends the center of the carrier downward most when viewed in the thickness direction, causing the carrier to move downward. It curves so that it becomes convex.
  • the carrier held by the first holding portion and the substrate held by the second holding portion are separated from each other. Let This prevents the substrate from contacting the carrier or overlapping the carrier and the substrate in the thickness direction during transport of the carrier and the substrate. Therefore, it is possible to prevent the substrate from falling from the transport device while the carrier and the substrate are being transported.
  • the conveying apparatus described in (1) above from a state in which the carrier is held by the first holding portion and the substrate accommodated in the through hole is held by the second holding portion, the The length in which the first holding portion extends to one side in the thickness direction may be longer than the length in which the second holding portion extends to the one side in the thickness direction, exceeding the thickness of the carrier. .
  • the conveying device is arranged so that one side in the thickness direction faces downward.
  • the length by which the first holding portion extends to one side in the thickness direction is The thickness of the carrier is longer than the length of the second holding portion extending to one side in the thickness direction. For this reason, the carrier held by the first holding part and the substrate held by the second holding part are arranged at substantially the same height, and the carrier is arranged below the substrate beyond the thickness of the carrier. can do. Since the central portion of the carrier curves downward due to the gravity acting on the carrier, it is possible to reliably prevent the substrate from coming into contact with the carrier while the carrier and the substrate are being transported.
  • the first holding portion can move in the thickness direction with respect to the first main body and the outer peripheral portion of the carrier.
  • the second holding part is movable in the thickness direction with respect to the second main body and the second main body, and holds the substrate. and connecting the first body and the second body to each other.
  • the connecting member that connects the first main body and the second main body to each other allows relative movement of the outer peripheral portion of the carrier held by the first moving portion and the substrate held by the second moving portion in the thickness direction. positional accuracy can be improved.
  • a second aspect of the present invention is an internal gear that is provided with a plurality of teeth on the outer peripheral edge of the carrier, rotates on the support surface of the surface plate, and is fitted to the plurality of teeth of the carrier. and a sun gear, and a polishing unit of a planetary gear system type that polishes the surface facing the thickness direction of the substrate; It is a polishing device in which the plurality of teeth of the carrier are fitted to the teeth of the sun gear and the plurality of teeth of the sun gear.
  • the plurality of teeth of the carrier are fitted to the plurality of teeth of the internal gear and the plurality of teeth of the sun gear in the polishing section of the planetary gear system type by the conveying device.
  • the carrier By rotating at least one of the internal gear and the sun gear, the carrier can be rotated, and the surface facing the thickness direction of the substrate accommodated in the carrier can be polished.
  • a third aspect of the present invention is a transport method for transporting a carrier formed in a flat plate shape and provided with a through hole, and a substrate accommodated in the through hole, wherein the outer peripheral portion of the carrier and a holding step of holding the substrate so that the carrier and the substrate are separated from each other; placing the carrier on a support surface to flatten the carrier; and when flattening the carrier, A flattening step of separating the substrate above the carrier and an accommodating step of accommodating the substrate from above in the through hole of the carrier are performed.
  • the substrate does not come into contact with the carrier or the carrier and the substrate overlap in the thickness direction during transport of the carrier and substrate in the holding process and when placing the carrier on the support surface in the planarizing process. are suppressed respectively.
  • the substrate is accommodated in the through holes of the carrier from above. Therefore, it is possible to prevent the substrate from falling during the transportation of the carrier and the substrate.
  • the substrate in the holding step, may be held above the carrier. According to the present invention, the substrate does not interfere with placing the carrier on the support surface in the planarization process, so the planarization process can be easily performed.
  • the transfer apparatus, polishing apparatus, and transfer method of the present invention it is possible to prevent the substrate from falling during transfer of the carrier and substrate.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view showing a state in which carriers and substrates are arranged on a set table;
  • FIG. 2 is a cross-sectional view of the polishing apparatus holding a carrier and a substrate;
  • FIG. 4 is a cross-sectional view showing the state of the carrier and substrate being transported;
  • FIG. 1 A polishing facility in which an embodiment of the polishing apparatus according to the present invention is used will be described below with reference to FIGS. 1 to 8.
  • FIG. 1 The polishing equipment 1 shown in FIG. 1 is equipment for polishing the surface of the substrate 200 facing the thickness direction.
  • the substrate 200 is formed in a flat plate shape that exhibits a circular shape when viewed from the thickness direction of the substrate 200 .
  • the substrate 200 is made of silicon.
  • FIG. 2 shows a first holding portion 52 and a second holding portion 53 that hold the substrate 200 and a carrier 205 which will be described later.
  • the substrate 200 before being polished by the polishing equipment 1 is also referred to as a substrate 200A.
  • the substrate 200 after being polished by the polishing equipment 1 is also referred to as a substrate 200B.
  • the thickness of the substrate 200A is 780 ⁇ m (micrometers).
  • the thickness of the substrate 200B is 770 ⁇ m.
  • the carrier 205 is formed in a flat plate shape having a circular shape when viewed from the thickness direction of the carrier 205 .
  • the carrier 205 is provided with a plurality of (three in this embodiment) through holes 206 .
  • a plurality of through holes 206 are formed at equal angles around the center axis of the carrier 205 .
  • a plurality of through holes 206 penetrate through the carrier 205 in the thickness direction.
  • the diameter of the through-hole 206 and the diameter of the substrate 200 are equal to each other.
  • Substrate 200 is accommodated within through hole 206 .
  • the thickness direction of the carrier 205 coincides with the thickness direction of the substrate 200 .
  • a plurality of teeth 207 are provided on the outer peripheral edge of the carrier 205 .
  • the plurality of teeth 207 are external teeth.
  • a semicircular depression 208 is formed between the teeth 207 adjacent to each other in the circumferential direction of the carrier 205 .
  • the carrier 205 has an outer diameter of 720 mm and a thickness of 770 ⁇ m.
  • the carrier 205 is made of stainless steel or the like. Carrier 205 and substrate 200 are not flexed when substrate 200 is accommodated within through hole 206 of carrier 205, such as on a flat support surface. At this time, the bottom surface of the carrier 205 and the bottom surface of the substrate 200 are substantially flush, and the top surface of the carrier 205 and the top surface of the substrate 200 are substantially flush.
  • the number of through-holes 206 provided in the carrier 205 is not limited, and the number of through-holes 206 may be one.
  • this polishing equipment 1 includes a carry-in basket 10, a carry-out basket 15, a set table 20, a first conveying device 25, a polishing device 30 of the present embodiment, and a control unit 80.
  • the carry-in basket 10 containing the substrates 200A is carried into the polishing facility 1 by a carry-in device (not shown).
  • the carry-out basket 15 containing the substrate 200B is carried out from the polishing facility 1 by a carry-out device (not shown).
  • the set table 20 is a table for placing the substrate 200 and the carrier 205. As shown in FIG. 5, the upper surface 21 of the set table 20 extends along the horizontal plane. The upper surface 21 is flat. As shown in FIG. 1, for example, the first conveying device 25 is a manipulator. The first transport device 25 transports the substrate 200 between the baskets 10 and 15 and the set table 20 .
  • the polishing device 30 has a polishing section 31 and a second transfer device (transfer device) 46 of the present embodiment.
  • the polishing unit 31 of this embodiment is of a planetary gear system type. As shown in FIGS. 1 and 2, the polishing section 31 has a first surface plate (surface plate) 32, a sun gear 33, an internal gear 34, and a second surface plate (not shown).
  • the support surface 32a of the first platen 32 is arranged along the horizontal plane.
  • the support surface 32a is flat.
  • the first platen 32 rotates in a first direction about an axis O1 along the vertical direction.
  • the sun gear 33 is arranged coaxially with the axis O1 on the support surface 32a.
  • a plurality of teeth 37 are provided on the outer peripheral edge of the sun gear 33 .
  • the plurality of teeth 37 are cylindrical external teeth.
  • the plurality of tooth portions 37 are arranged at intervals in the circumferential direction of the sun gear 33 .
  • the sun gear 33 rotates on the support surface 32a.
  • a plurality of teeth 37 fit into a plurality of teeth 207 of carrier 205 .
  • Sun gear 33 is inscribed in carrier 205 .
  • a plurality of teeth 39 are provided on the inner peripheral edge of the internal gear 34 .
  • the plurality of teeth 39 are cylindrical internal teeth.
  • the plurality of tooth portions 39 are spaced apart from each other in the circumferential direction of the internal gear 34 .
  • the internal gear 34 rotates on the support surface 32a.
  • a plurality of teeth 39 fit into a plurality of teeth 207 of carrier 205 .
  • the internal gear 34 circumscribes the carrier 205 .
  • the second surface plate can be switched between a sandwiching state in which the sun gear 33 and the internal gear 34 are sandwiched together with the first surface plate 32 and a retracted state in which the sun gear 33 and the internal gear 34 are separated.
  • the sandwiched second platen is arranged coaxially with the axis O1 and rotates about the axis O1 in a second direction opposite to the first direction.
  • the second transport device 46 transports the carrier 205 and the plurality of substrates 200 integrally.
  • the second conveying device 46 engages the teeth 207 of the carrier 205 with the teeth 39 of the internal gear 34 and the teeth 37 of the sun gear 33 .
  • the second conveying device 46 has a manipulator 47 and a holding section 50 .
  • the manipulator 47 has multiple links and joints (not shown).
  • the multiple links are arranged side by side along the connecting axis O3.
  • the joint rotatably connects end portions of a plurality of links adjacent to each other along the connecting axis O3.
  • the holding portion 50 is provided on the first link of the plurality of links along the connecting axis O3.
  • the link on the second side opposite to the first side along the connecting axis O3 is supported on the installation surface F. As shown in FIG.
  • the holding portion 50 is formed with a plurality of rotational symmetry (three-fold symmetry in this embodiment) with respect to the axis O5. Note that the first holding portion 52 and the plurality of second holding portions 53, which will be described later, are not arranged on the same straight line along the radial direction of the holding portion 50, but in FIG. The position of the second holding portion 53 in the circumferential direction of the holding portion 50 is changed.
  • the holding part 50 is arranged so that the thickness directions of the carrier 205 and the substrate 200 held by the holding part 50 are parallel to the vertical direction, and one side in the thickness direction faces downward. As shown in FIG.
  • the holding section 50 has a frame (connecting member) 51, a first holding section 52, a second holding section 53, an imaging section 54, and a suction section (not shown).
  • the frame 51 has a top plate 57 , a first peripheral wall 58 , a second peripheral wall 59 , a first bottom plate 60 and a second bottom plate 61 .
  • the top plate 57 is formed in a disc shape. The top plate 57 is supported along the horizontal plane by the manipulator 47 .
  • the first peripheral wall 58 is formed in a tubular shape and arranged coaxially with the axis O5.
  • the first peripheral wall 58 is fixed to the bottom surface of the top plate 57 .
  • the second peripheral wall 59 is formed in a tubular shape and arranged coaxially with the axis O5.
  • the second peripheral wall 59 surrounds the first peripheral wall 58 from the outside and is fixed to the lower surface of the outer peripheral edge of the top plate 57 .
  • the lower end of the first peripheral wall 58 protrudes below the lower end of the second peripheral wall 59 .
  • the first bottom plate 60 is disc-shaped and arranged within the first peripheral wall 58 .
  • the first bottom plate 60 is fixed to a vertically intermediate portion of the first peripheral wall 58 .
  • the second bottom plate 61 is annularly formed and arranged between the first peripheral wall 58 and the second peripheral wall 59 .
  • the second bottom plate 61 is fixed to the lower end of the first peripheral wall 58 and the lower end of the second peripheral wall 59, respectively.
  • a plurality of communication holes 61 a are formed in the second bottom plate 61 .
  • the first holding portion 52 holds the outer peripheral portion of the carrier 205 from the thickness direction.
  • the outer peripheral portion referred to here means a range (0.4r) from the outer peripheral edge of the object to be held toward the center, where r is the radius of the object to be held.
  • the holding portion 50 has a plurality of first holding portions 52 .
  • the plurality of first holding portions 52 are spaced apart from each other around the axis O5.
  • each first holding portion 52 has a first main body 64 and a first moving portion 65 .
  • the first moving part 65 has a suction pad 67 and a movable tube 68 .
  • the suction pad 67 is formed in a cone shape (conical surface shape) from an elastic material such as synthetic rubber.
  • the suction pads 67 are arranged such that their outer diameters gradually increase toward the bottom.
  • the movable tube 68 extends upward (the other side in the thickness direction) from the suction pad 67 .
  • the space inside the movable tube 68 continues to the concave portion of the suction pad 67 .
  • a first engaging portion 68 a is fixed to the outer peripheral surface of the upper end portion of the movable tube 68 .
  • a portion of the movable tube 68 below the first engagement portion 68 a is disposed within the communication hole 61 a of the second bottom plate 61 .
  • the first body 64 is tubular with an inner diameter larger than the outer diameter of the movable tube 68 .
  • the first main body 64 is bent in an L shape.
  • a first end portion 64a of the first main body 64 extends in the vertical direction.
  • the second engaging portion 64b is fixed to the inner peripheral surface of the lower end of the first end portion 64a.
  • the second engaging portion 64b is formed along the entire circumference of the first end portion 64a of the first main body 64 .
  • the second engaging portion 64b supports the first engaging portion 68a from below the first engaging portion 68a.
  • the space between the second engaging portion 64b and the movable tube 68 is airtightly sealed.
  • the movable tube 68 can move vertically with respect to the second engaging portion 64b (the first end portion 64a of the first main body 64).
  • the first main body 64 is fixed to the second bottom plate 61 of the frame 51 or the like.
  • the movable tube 68 cannot move downward with respect to the first main body 64 from the state shown in FIG.
  • the movable tube 68 can move upward with respect to the first main body 64 from the state shown in FIG.
  • the lower end of the suction pad 67 of the first holding portion 52 is brought into contact with the upper surface of the outer peripheral portion of the carrier 205 .
  • the suction pad 67 is deformed so as to be crushed as indicated by the two-dot chain line L1, and the carrier 205 in contact with the suction pad 67 is held by the suction pad 67.
  • FIG. 5 shows a state in which the carrier 205 and the substrate 200 are arranged on the upper surface 21 of the set table 20.
  • Substrate 200 is received within through-hole 206 of carrier 205 .
  • the holding unit 50 is brought close to the carrier 205 and the substrate 200 in this state from above, and the suction pads 67 of the first holding unit 52 are brought into contact with the upper surface of the outer periphery of the carrier 205 .
  • the crushed suction pad 67 of the first holding portion 52 holds the outer peripheral portion of the carrier 205 .
  • the first engaging portion 68 a of the movable tube 68 is separated upward from the second engaging portion 64 b of the first main body 64 .
  • the position of the lower end of the crushed suction pad 67 with respect to the frame 51 at this time is called a reference position P521 .
  • the reference position P 521 is preferably the average circumferential position of the suction pad 67 at the lower end of the collapsed suction pad 67 with respect to the frame 51 .
  • the position of the lower end of the suction pad 67 with respect to the frame 51 when the carrier 205 is crushed and cannot move downward with respect to the frame 51 is referred to as a lower end position P522 .
  • the lower end position P 522 is the lower end position of the movement range of the suction pad 67 of the first holding portion 52 .
  • the reference position P521 of the suction pad 67 is indicated by a chain double-dashed line L4.
  • the vertical distance between the reference position P 521 and the lower end position P 522 of the collapsed suction pad 67 is referred to as an extension distance M 52 .
  • the extension distance M52 is the length by which the first holding portion 52 extends downward (one side in the thickness direction) from the state in which the first holding portion 52 holds the carrier 205 .
  • the first holding portion 52 can extend downward from the state where the carrier 205 is held.
  • the second holding part 53 holds the substrate 200 in the through hole 206 of the carrier 205 from above and below.
  • the second conveying device 46 has a second holding portion 53A, a second holding portion 53B, and a second holding portion 53C as the second holding portion 53.
  • the second holding portions 53A and 53B have the same configuration as the first holding portion 52 except for the setting of the extension distance M52 .
  • the second holding portion 53A includes a second main body 71A, a second moving portion 72A, and a suction unit having substantially the same configuration as the first main body 64, the first moving portion 65, the suction pad 67, and the movable tube 68 of the first holding portion 52.
  • the second moving portion 72A can move vertically with respect to the second main body 71A.
  • the suction pad 74A of the second moving portion 72A holds the substrate 200.
  • the suction pad 74A of the second holding portion 53A also has a reference position P 53A1 and a lower end position P 53A2 and an extension distance M 53A are defined respectively (see FIGS. 5 and 6).
  • the extension distance M 53A is the length by which the second holding portion 53A extends downward from the state in which the second holding portion 53A holds the substrate 200 .
  • the second holding portion 53B includes a second main body 71B, a second moving portion 72B, and a suction unit having substantially the same configuration as the first main body 64, the first moving portion 65, the suction pad 67, and the movable tube 68 of the first holding portion 52. It has a pad 74B and a movable tube 75B.
  • the second moving portion 72B can move vertically with respect to the second main body 71B.
  • the suction pad 74B of the second moving part 72B holds the substrate 200 .
  • the suction pad 74B of the second holding portion 53B also has a reference position P 53B1 and a lower end position P 53B2 and an extension distance M 53B are defined respectively (see FIGS. 5 and 6).
  • the extension distance M 53B is the length by which the second holding portion 53B extends downward from the state in which the second holding portion 53B holds the substrate 200 .
  • the second holding portion 53C has the same configuration as the first holding portion 52 except for the shape of the first main body 64 and setting of the extension distance M52 .
  • the second holding portion 53C has a second moving portion 72C, a suction pad 74C, and a movable pipe 75C, which have substantially the same configurations as the first moving portion 65, the suction pad 67, and the movable pipe 68 of the first holding portion 52, respectively.
  • a second main body 78C of the second holding portion 53C has a straight tubular shape.
  • the second main body 78 ⁇ /b>C extends in the vertical direction and is fixed to the first bottom plate 60 of the frame 51 .
  • the frame 51 connects the first main body 64 and the second main bodies 71A, 71B, 78C to each other.
  • the suction pad 74C of the second holding portion 53C also has a reference position P 53C1 and a lower end position P 53C2 and extension distance M 53C are defined respectively (see FIGS. 5 and 6).
  • the extension distance M 53C is the length by which the second holding portion 53C extends downward from the state in which the second holding portion 53C holds the substrate 200 .
  • the second holding parts 53A, 53B, 53C can each extend downward from the state where the substrate 200 is held.
  • Reference positions P 53A1 , P 53B1 , and P 53C1 are arranged on the two-dot chain line L4 shown in FIG.
  • the second holding portions 53A, 53B, and 53C are arranged with respect to each substrate 200 around the axis of the substrate 200 at equal angles.
  • extension distances M 53A , M 53B , and M 53C are equivalent to each other.
  • Extension distance M 52 is longer than extension distances M 53A , M 53B , and M 53C by exceeding the thickness (length in the thickness direction) of carrier 205 .
  • extension distance M 52 is more than twice the thickness of carrier 205 greater than extension distances M 53A , M 53B , M 53C .
  • the imaging section 54 is fixed to the second peripheral wall 59 of the frame 51 .
  • the imaging section 54 acquires an image of an object placed below the imaging section 54 .
  • the imaging unit 54 sends the acquired image to the control unit 80 .
  • the suction unit has a suction pump and a plurality of on-off valves (not shown).
  • the suction pumps are connected to the first main body 64 and the second main bodies 71A, 71B, 71C by tubes (not shown).
  • the suction pump can suck the air in the concave portions of the suction pads 67, 74A, 74B, 74C through the tubes, the first main body 64, the second main bodies 71A, 71B, 71C, and the movable tubes 68, 75A, 75B, 75C.
  • a plurality of on-off valves can independently open and close a plurality of tubes.
  • a stocker 85 in which a plurality of carriers 205 are stacked is located near each of the second conveying device 46 and the set table 20 .
  • the carrier 205 in the stocker 85 does not contain the substrate 200 .
  • the control unit 80 has a CPU (Central Processing Unit), a memory, etc., although not shown.
  • the memory stores control programs and the like for operating the CPU.
  • the controller 80 is connected to the first transport device 25 and the polishing device 30 and controls the first transport device 25 and the polishing device 30 .
  • This polishing method uses the transport method of the present embodiment.
  • the carry-in basket 10 containing the substrates 200A is transported by the carry-in device.
  • the control unit 80 arranges the carrier 205 in the stocker 85 on the upper surface 21 of the set table 20 by the second transport device 46 .
  • the second platen of the polishing section 31 is in a retracted state.
  • the suction part of the second conveying device 46 is driven to close the plurality of on-off valves.
  • FIG. FIG. 7 is a flow chart showing the transport method S.
  • the control unit 80 causes the first transfer device 25 to accommodate the substrates 200A in the carry-in basket 10 in the through holes 206 of the carrier 205 on the set table 20. do.
  • the process proceeds to step S3.
  • step S3 the outer peripheral portion of the carrier 205 and the substrate 200A are held by the second transfer device 46 so that the carrier 205 and the substrate 200A are separated from each other.
  • the controller 80 causes the manipulator 47 to bring the holder 50 closer to the carrier 205 and the substrate 200 on the set table 20 from above, as shown in FIG. 67 is brought into contact with the upper surface of the outer periphery of carrier 205 .
  • the suction pads 74A, 74B, 74C of the second holding portions 53A, 53B, 53C are brought into contact with the upper surface of the substrate 200A.
  • the air in the concave portions of the suction pads 67, 74A, 74B, 74C is respectively sucked, and the suction pads 67, 74A, 74B, 74C are deformed so as to be crushed.
  • the outer peripheral portion of the carrier 205 is held from above by the crushed suction pads 67 of the first holding portion 52, and the outer peripheral portion of the substrate 200A is held by the crushed suction pads 74A, 74B, 74C of the second holding portions 53A, 53B, 53C. is held from above.
  • extension distance M 52 is longer than extension distances M 53A , M 53B , and M 53C beyond the thickness of carrier 205 . Therefore, even if the carrier 205 held by the first holding portion 52 does not bend, the carrier 205 moves below the substrate 200A beyond the thickness of the carrier 205, and the upper surface of the carrier 205 is doubled. It is arranged at the position indicated by the dotted chain line L5. The carrier 205 held by the first holding part 52 and the substrate 200A held by the second holding parts 53A, 53B, 53C are separated from each other.
  • the central portion of the carrier 205 (the central portion of the carrier 205 when viewed in the thickness direction) is curved downward due to the gravity acting on the carrier 205 .
  • the maximum value of displacement of the curved carrier 205 (maximum amount of deflection M 1 shown in FIG. 6) is found to be about 2 mm by simulation.
  • the carrier 205 held by the first holding portion 52 and the substrate 200A held by the second holding portions 53A, 53B, 53C are further separated from each other by curving the carrier 205 so as to protrude downward. .
  • the substrate 200A is held above the carrier 205 in the holding step S3.
  • the central portion of the carrier 205 may vibrate vertically as shown in FIG. In FIG. 8, the carrier 205 curved upward is indicated by a chain double-dashed line L7. Therefore, it is more preferable that the extension distance M52 is longer than the extension distances M53A , M53B , and M53C by more than twice the maximum bending amount M1 . After the holding step S3 ends, the process proceeds to step S5.
  • step S5 the carrier 205 is placed on the support surface 32a of the first platen 32 and flattened. Then, the substrate 200A is spaced above the carrier 205 when the carrier 205 is flattened. Specifically, the controller 80 causes the manipulator 47 to move the holder 50 above the support surface 32a. By moving the holder 50 downward, the carrier 205 and the substrate 200A held by the holders 52, 53A, 53B, and 53C of the holder 50 are lowered onto the support surface 32a. When the carrier 205 is placed on the support surface 32a, the carrier 205 is flattened as indicated by the two-dot chain line L5 in FIG.
  • the control unit 80 uses the images of the teeth 39 of the internal gear 34 and the teeth 37 of the sun gear 33 in the polishing unit 31 acquired by the imaging unit 54. , the teeth 39 of the internal gear 34 and the teeth 37 of the sun gear 33 are preferably fitted with the teeth 207 of the carrier 205 . After the planarization step S5 is completed, the process proceeds to step S7.
  • a second accommodation step accommodation step
  • the controller 80 causes the manipulator 47 to move the holder 50 downward to accommodate the substrate 200A in the through hole 206 of the carrier 205 .
  • a plurality of on-off valves of the second transfer device 46 are closed to release the carrier 205 and the substrate 200A from being held by the holding portions 52, 53A, 53B, and 53C.
  • the manipulator 47 retracts the holding portion 50 from the support surface 32a.
  • the control unit 80 puts the second surface plate of the polishing unit 31 in a sandwiched state, rotates the first surface plate 32 and the second surface plate in a predetermined direction around the axis O1, and rotates the sun gear 33 and the internal gear 34 at least. One side is rotated around the axis O1.
  • the first surface plate 32, the second surface plate, etc. are rotated for a predetermined time, the surface facing the thickness direction of the substrate 200A is polished by the first surface plate 32 and the second surface plate, and the substrate 200A is polished. It becomes the substrate 200B after being processed.
  • the control unit 80 puts the second surface plate of the polishing unit 31 in a retracted state.
  • the control unit 80 transfers the carrier 205 and the substrate 200B accommodated in the through hole 206 of the carrier 205 from the polishing apparatus 30 onto the upper surface 21 of the set table 20 by the same transfer method.
  • the control unit 80 causes the substrate 200B on the set table 20 to be accommodated in the unloading basket 15 by the first transport device 25 .
  • the unloading basket 15 containing the substrate 200B is unloaded from the polishing facility 1 by a suitable unloading device.
  • the substrate 200A is continuously polished by the polishing equipment 1.
  • the second transport device 46 of the present embodiment supports the substrate 200A and the carrier 205 containing the substrate 200A in the through hole 206 on the upper surface 21 of the set table 20 . Then, using the second transport device 46 , the first holding portion 52 holds the outer peripheral portion of the carrier 205 from above, and the second holding portion 53 holds the substrate 200 ⁇ /b>A in the through hole 206 .
  • the center of the carrier 205 bends most downward due to the gravity acting on the carrier 205, and the carrier 205 moves downward. It curves so that it becomes convex toward.
  • the carrier 205 held by the first holding portion 52 and the substrate 200A held by the second holding portion 53 are moved. keep them apart from each other. This prevents the substrate 200A from contacting the carrier 205 and the carrier 205 and the substrate 200A from overlapping each other in the vertical direction during transportation of the carrier 205 and the substrate 200A. Therefore, it is possible to prevent the substrate 200A from falling from the second transport device 46 while the carrier 205 and the substrate 200A are being transported.
  • An extension distance that is the length by which the first holding portion 52 extends downward from a state in which the carrier 205 is held by the first holding portion 52 and the substrate 200A accommodated in the through hole 206 is held by the second holding portion 53 M52 is longer than the thickness of the carrier 205 than extension distances M53A , M53B , and M53C , which are the lengths of the downward extension of the second holding portion 53.
  • M53A , M53B , and M53C are the lengths of the downward extension of the second holding portion 53.
  • the carrier 205 is positioned higher than the substrate 200A and the thickness of the carrier 205 is increased. can be placed downward beyond the height. Since the central portion of the carrier 205 is curved downward due to the gravity acting on the carrier 205, it is possible to reliably prevent the substrate 200A from contacting the carrier 205 while the carrier 205 and the substrate 200A are being transported. can do.
  • the second transport device 46 has a frame 51 .
  • the frame 51 connecting the first main body 64 of the first holding part 52 and the second main bodies 71A, 71B, 71C of the second holding part 53 to each other allows the outer peripheral part of the carrier 205 held by the first moving part 65 and the It is possible to increase the accuracy of the relative position in the vertical direction of the substrate 200A held by the two moving parts 72A, 72B, and 72C.
  • the carrier 205 is transferred to the plurality of teeth 39 of the internal gear 34 and the plurality of teeth 37 of the sun gear 33 in the planetary gear type polishing section 31 by the second conveying device 46 .
  • the plurality of teeth 207 are fitted together. By rotating at least one of the internal gear 34 and the sun gear 33, the carrier 205 is rotated, and the up-down surface of the substrate 200A accommodated in the carrier 205 can be polished.
  • the substrate 200A in the holding step S3 and when the carrier 205 is placed on the support surface 32a of the first platen 32 in the flattening step S5 the substrate The contact of the carrier 200A with the carrier 205 and the overlapping of the carrier 205 and the substrate 200A in the thickness direction are suppressed.
  • the substrate 200A is accommodated in the through holes 206 of the carrier 205 from above in the second accommodating step S7. Therefore, it is possible to prevent the substrate 200A from falling while the carrier 205 and the substrate 200A are being transported.
  • the substrate 200A is held above the carrier 205. As shown in FIG. Therefore, since the substrate 200A does not interfere with placing the carrier 205 on the support surface 32a in the planarization step S5, the planarization step S5 can be easily performed.
  • only the second holding portion may be contracted upward while moving the holding portion 50 upward.
  • the first holding portion and the second holding portion may be contracted upward while moving the holding portion 50 upward.
  • the substrate 200A can be positioned above the carrier 205 also by these methods.
  • the substrate 200A may be held below the carrier 205, or the carrier 205 and the substrate 200A may be held with their positions shifted along the horizontal plane.
  • the support surface 32a of the first platen 32 and the upper surface 21 of the set table 20 may each be inclined with respect to the horizontal plane.
  • the number of the first holding portions 52 and the number of the second holding portions 53 included in the second conveying device 46 are not limited.
  • the transporting device, the polishing device, and the transporting method can prevent the substrate from falling during transporting the carrier and the substrate. Therefore, industrial applicability is great.
  • polishing device 31 polishing section 32 first surface plate (surface plate) 32a support surface 33 sun gear 34 internal gear 37, 39, 207 teeth 46 second transfer device (transfer device) 51 frame (connecting member) 52 first holding portion 53, 53A, 53B, 53C second holding portion 64 first main body 65 first moving portion 71A, 71B, 78C second main body 72A, 72B, 72C second moving portion 200 substrate 205 carrier 206 through hole S Conveying method S3 Holding process S5 Flattening process S7 Second accommodation process (accommodation process)

Abstract

この搬送装置は、平板状に形成され貫通孔が設けられたキャリアと、貫通孔内に収容される基板と、を搬送する搬送装置であって、キャリアの外周部を、キャリアの厚さ方向から保持する第1保持部と、貫通孔内の基板を、厚さ方向から保持する第2保持部と、を備え、第1保持部に保持されるキャリア及び第2保持部に保持される基板が互いに離間するように、第1保持部及び第2保持部の少なくとも一方が、厚さ方向に伸びるか縮むことができる。

Description

搬送装置、研磨装置、及び搬送方法
 本発明は、搬送装置、研磨装置、及び搬送方法に関する。
 本願は、2022年2月24日に、日本に出願された特願2022-027113号に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
 従来、互いに合体されたキャリア及びワーク(基板)を、研磨装置(研磨部)の回転定盤上に搬送する搬送装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。この搬送装置では、キャリアが有する収容孔(貫通孔)内にワークが収容されることにより、キャリアにワークが合体する。
 合体したキャリア及びワークは、吸着ヘッドにより搬送される。
日本国特許第4235313号公報
 しかしながら、特許文献1の搬送装置では、キャリア及びワークを同じ高さで同時に搬送する。このため、搬送時のキャリアの撓み等により、ワークがキャリアに対して接触及び離間を繰り返したり、ワーク及びキャリアが厚さ方向に重なったりして、搬送装置からワークが落下する問題がある。
 本発明は、このような問題点に鑑みてなされたものであって、キャリア及び基板の搬送中に基板が落下するのを抑制した搬送装置、この搬送装置を備える研磨装置、及び搬送方法を提供することを目的とする。
 前記課題を解決するために、この発明は以下の手段を提案している。
(1)この発明の第1態様は、平板状に形成され貫通孔が設けられたキャリアと、前記貫通孔内に収容される基板と、を搬送する搬送装置であって、前記キャリアの外周部を、前記キャリアの厚さ方向から保持する第1保持部と、前記貫通孔内の前記基板を、前記厚さ方向から保持する第2保持部と、を備え、前記第1保持部に保持される前記キャリア及び前記第2保持部に保持される前記基板が互いに離間するように、前記第1保持部及び前記第2保持部の少なくとも一方が前記厚さ方向に伸びるか縮むことができる。
 この発明では、例えば、水平面に沿う支持面上で、貫通孔内に基板が収容されたキャリア及び基板を支持する。そして、搬送装置を用いて、第1保持部によりキャリアの外周部を厚さ方向となる上下方向から保持し、第2保持部により貫通孔内の基板を保持する。搬送装置により支持面上からキャリア及び基板を持ち上げ、キャリア及び基板を搬送すると、キャリアに作用する重力により、厚さ方向に見たときのキャリアの中央部が最も下方に撓み、キャリアが下方に向かって凸となるように湾曲する。この際に、第1保持部及び第2保持部の少なくとも一方を厚さ方向に伸ばすか縮ませることにより、第1保持部に保持されるキャリア及び第2保持部に保持される基板を互いに離間させる。すると、キャリア及び基板の搬送中に、基板がキャリアに接触したり、キャリア及び基板が厚さ方向に重なったりするのが抑制される。
 従って、キャリア及び基板の搬送中に、搬送装置から基板が落下するのを抑制することができる。
(2)前記(1)に記載の搬送装置では、前記キャリアが前記第1保持部に保持され、前記貫通孔内に収容された前記基板が前記第2保持部に保持された状態から、前記第1保持部が前記厚さ方向の一方側に伸びる長さは、前記第2保持部が前記厚さ方向の前記一方側に伸びる長さよりも、前記キャリアの厚さを超えて長くてもよい。
 この発明では、例えば、厚さ方向の一方側が下方となるように、搬送装置を配置する。このとき、キャリアが第1保持部に保持され、貫通孔内に収容された基板が第2保持部に保持された状態から、第1保持部が厚さ方向の一方側に伸びる長さは、第2保持部が厚さ方向の一方側に伸びる長さよりも、キャリアの厚さを超えて長い。このため、第1保持部に保持されるキャリア及び第2保持部に保持される基板がほぼ同じ高さに配置された状態から、基板よりもキャリアを、キャリアの厚さを超えて下方に配置することができる。キャリアの中央部は、キャリアに作用する重力により下方に向かって凸となるように湾曲するため、キャリア及び基板の搬送中に基板がキャリアに接触するのを、確実に抑制することができる。
(3)前記(1)又は(2)に記載の搬送装置では、前記第1保持部は、第1本体と、前記第1本体に対して前記厚さ方向に移動でき、前記キャリアの外周部を保持する第1移動部と、を有し、前記第2保持部は、第2本体と、前記第2本体に対して前記厚さ方向に移動でき、前記基板を保持する第2移動部と、を有し、前記第1本体及び前記第2本体を互いに連結する連結部材を備えてもよい。
 この発明では、第1本体及び第2本体を互いに連結する連結部材により、第1移動部により保持されるキャリアの外周部、及び第2移動部により保持される基板の、厚さ方向における相対的な位置の精度を高めることができる。
(4)本発明の第2態様は、前記キャリアの外周縁には、複数の歯部が設けられ、定盤の支持面上で回転し、前記キャリアの前記複数の歯部に嵌め合う内歯車及び太陽歯車を有し、前記基板の厚さ方向を向く面を研磨する遊星歯車装置式の研磨部と、前記に記載の搬送装置と、を備え、前記搬送装置は、前記内歯車の複数の歯部及び前記太陽歯車の複数の歯部に前記キャリアの前記複数の歯部を嵌め合わせる研磨装置である。
 この発明では、搬送装置により、遊星歯車装置式の研磨部における、内歯車の複数の歯部及び太陽歯車の複数の歯部にキャリアの複数の歯部を嵌め合わせる。そして、内歯車及び太陽歯車の少なくとも一方を回転させることによりキャリアを回転させ、キャリアに収容される基板の厚さ方向を向く面を研磨することができる。
(5)本発明の第3態様は、平板状に形成され貫通孔が設けられたキャリアと、前記貫通孔内に収容される基板と、を搬送する搬送方法であって、前記キャリアの外周部及び前記基板を、前記キャリア及び前記基板が互いに離間するようにそれぞれ保持する保持工程と、支持面上に前記キャリアを配置して前記キャリアを平坦にするとともに、前記キャリアを平坦にしたときに、前記基板を前記キャリアよりも上方に離間させる平坦化工程と、前記キャリアの前記貫通孔内に、上方から前記基板を収容させる収容工程と、を行う。
 この発明では、保持工程におけるキャリア及び基板の搬送中、及び平坦化工程における支持面上にキャリアを配置する際に、基板がキャリアに接触したり、キャリア及び基板が厚さ方向に重なったりするのがそれぞれ抑制される。保持工程及び平坦化工程の後で、収容工程において、キャリアの貫通孔内に、上方から基板を収容させる。
 従って、キャリア及び基板の搬送中に、基板が落下するのを抑制することができる。
(6)前記(5)に記載の搬送方法において、前記保持工程では、前記キャリアよりも前記基板が上方に位置するように保持してもよい。
 この発明では、平坦化工程において支持面上にキャリアを配置する際に基板が支障とならないため、平坦化工程を容易に行うことができる。
 本発明の搬送装置、研磨装置、及び搬送方法によれば、キャリア及び基板の搬送中に基板が落下するのを抑制することができる。
本発明の一実施形態の研磨装置が用いられる研磨設備の概略構成を示す図である。 同研磨設備の研磨装置の拡大図である。 同研磨装置における保持部の断面図である。 吸着パッドが潰れる前後の状態を説明する図である。 セットテーブル上にキャリア及び基板が配置された状態を示す断面図である。 同研磨装置によりキャリア及び基板を保持した状態の断面図である。 本発明の一実施形態における搬送方法を示すフローチャートである。 搬送されるキャリア及び基板の状態を示す断面図である。
 以下、本発明に係る研磨装置の一実施形態が用いられる研磨設備を、図1から図8を参照しながら説明する。
 図1に示す研磨設備1は、基板200の厚さ方向を向く面を研磨するための設備である。例えば、図1及び図2に示すように、基板200は、基板200の厚さ方向から見たときに円形状を呈する平板状に形成される。基板200は、シリコン製である。なお、図2中に、基板200、後述するキャリア205を保持する、第1保持部52及び第2保持部53を示す。
 以下では、研磨設備1により研磨される前の基板200を、基板200Aとも言う。研磨設備1により研磨された後の基板200を、基板200Bとも言う。例えば、基板200Aの厚さは、780μm(マイクロメートル)である。基板200Bの厚さは、770μmである。
 キャリア205は、キャリア205の厚さ方向から見たときに円形状を呈する平板状に形成される。キャリア205には、複数(本実施形態では3つ)の貫通孔206が設けられる。複数の貫通孔206は、キャリア205の中心軸回りに等角度ごとに形成される。複数の貫通孔206は、キャリア205を厚さ方向に貫通する。貫通孔206の径及び基板200の径は、互いに同等である。基板200は、貫通孔206内に収容される。このとき、キャリア205の厚さ方向と、基板200の厚さ方向とが一致する。
 図2に示すように、キャリア205の外周縁には、複数の歯部207が設けられる。複数の歯部207は、外歯である。キャリア205の周方向に隣り合う歯部207の間には、半円状の窪み208が形成される。
 例えば、キャリア205の外径は720mm、厚さは770μmである。キャリア205は、ステンレス鋼等で形成される。
 平坦な支持面等の上で、キャリア205の貫通孔206内に基板200を収容するときには、キャリア205及び基板200は撓んでいない。このとき、キャリア205の下面と基板200の下面とはほぼ面一であり、キャリア205の上面と基板200の上面とはほぼ面一である。
 なお、キャリア205に設けられる貫通孔206の数に制限は無く、貫通孔206の数は1つでもよい。
 図1に示すように、この研磨設備1は、搬入バスケット10と、搬出バスケット15と、セットテーブル20と、第1搬送装置25と、本実施形態の研磨装置30と、制御部80と、を備える。
 搬入バスケット10は、基板200Aを収容した状態で、図示しない搬入装置により研磨設備1に搬入される。搬出バスケット15は、基板200Bを収容した状態で、図示しない搬出装置により研磨設備1から搬出される。
 セットテーブル20は、基板200及びキャリア205を置くための台である。図5に示すように、セットテーブル20の上面21は水平面に沿う。上面21は、平坦である。 図1に示すように、例えば、第1搬送装置25は、マニピュレータである。第1搬送装置25は、バスケット10,15とセットテーブル20との間で基板200を搬送する。
 研磨装置30は、研磨部31と、本実施形態の第2搬送装置(搬送装置)46と、を有する。
 本実施形態の研磨部31は、遊星歯車装置式である。図1及び図2に示すように、研磨部31は、第1定盤(定盤)32と、太陽歯車33と、内歯車34と、第2定盤(不図示)と、を有する。
 例えば、第1定盤32の支持面32aは、水平面に沿うように配置される。支持面32aは、平坦である。第1定盤32は、上下方向に沿う軸線O1周りの第1の向きに回転する。
 太陽歯車33は、支持面32a上に軸線O1と同軸に配置される。図2に示すように、太陽歯車33の外周縁には、複数の歯部37が設けられる。例えば、複数の歯部37は、円柱状の外歯である。複数の歯部37は、太陽歯車33の周方向に互いに間隔を空けて配置される。太陽歯車33は、支持面32a上で回転する。複数の歯部37は、キャリア205の複数の歯部207に嵌め合う。太陽歯車33は、キャリア205に内接する。
 内歯車34の内周縁には、複数の歯部39が設けられる。複数の歯部39は、円柱状の内歯である。複数の歯部39は、内歯車34の周方向に互いに間隔を空けて配置される。内歯車34は、支持面32a上で回転する。複数の歯部39は、キャリア205の複数の歯部207に嵌め合う。内歯車34は、キャリア205に外接する。
 第2定盤は、第1定盤32とともに太陽歯車33及び内歯車34を挟む挟み状態と、太陽歯車33及び内歯車34から離間した退避状態と、の間で切り替えできる。
 挟み状態の第2定盤は、軸線O1と同軸に配置され、軸線O1周りの前記第1の向きとは反対の第2の向きに回転する。
 第2搬送装置46は、キャリア205と、複数の基板200とを、一体に搬送する。第2搬送装置46は、内歯車34の複数の歯部39及び太陽歯車33の複数の歯部37に、キャリア205の複数の歯部207を嵌め合わせる。図1に示すように、第2搬送装置46は、マニピュレータ47と、保持部50と、を有する。
 例えば、マニピュレータ47は、図示しない複数のリンク及び関節を有する。複数のリンクは、連結軸O3に沿って並べて配置される。関節は、連結軸O3に沿って隣り合う複数のリンクの端部同士を回転可能に連結する。
 複数のリンクにおける連結軸O3に沿った最も第1側のリンクには、前記保持部50が設けられる。複数のリンクにおける連結軸O3に沿った最も第1側とは反対側の第2側のリンクは、設置面Fに支持される。
 図1に示すように、保持部50は、軸線O5に対して複数回の回転対称(本実施形態では3回対称)に形成される。なお、後述する第1保持部52及び複数の第2保持部53は、保持部50の径方向に沿う同一直線上には配置されていないが、図3では、第1保持部52及び複数の第2保持部53の保持部50の周方向における位置を変えて示している。 保持部50は、保持部50が保持するキャリア205及び基板200における厚さ方向が上下方向に平行になり、厚さ方向の一方側が下方となるように配置される。
 図3に示すように、保持部50は、フレーム(連結部材)51と、第1保持部52と、第2保持部53と、撮像部54と、吸引部(不図示)と、を有する。
 フレーム51は、天板57と、第1周壁58と、第2周壁59と、第1底板60と、第2底板61と、を有する。
 天板57は、円板状に形成される。天板57は、マニピュレータ47により、水平面に沿うように支持される。
 第1周壁58は、筒状に形成され、軸線O5と同軸に配置される。第1周壁58は、天板57の下面に固定される。
 第2周壁59は、筒状に形成され、軸線O5と同軸に配置される。第2周壁59は、第1周壁58を外側から囲い、天板57の外周縁の下面に固定される。前記第1周壁58の下端は、第2周壁59の下端よりも下方に突出している。
 第1底板60は、円板状に形成され、第1周壁58内に配置される。第1底板60は、第1周壁58における上下方向の中間部に固定される。
 第2底板61は、環状に形成され、第1周壁58と第2周壁59との間に配置される。第2底板61は、第1周壁58の下端部及び第2周壁59の下端にそれぞれ固定される。第2底板61には、複数の連通孔61aが形成される。
 第1保持部52は、キャリア205の外周部を厚さ方向から保持する。ここで言う外周部とは、円形状の保持対象の半径をrとしたときに、保持対象の外周縁から中心に向かって(0.4r)の範囲のことを意味する。
 保持部50は、第1保持部52を複数有する。複数の第1保持部52は、軸線O5回りに互いに間隔を空けて配置される。図3に示すように、各第1保持部52は、第1本体64と、第1移動部65と、を有する。第1移動部65は、吸着パッド67と、可動管68と、を有する。
 吸着パッド67は、合成ゴム等の弾性を有する材料でコーン状(円錐面状)に形成される。吸着パッド67は、下方に向かうに従い漸次、外径が大きくなるように配置される。 可動管68は、吸着パッド67から上方(厚さ方向の他方側)に向かって延びる。可動管68内の空間は、吸着パッド67の凹部に連なる。
 例えば、可動管68の上端部における外周面には、第1係合部68aが固定される。可動管68における第1係合部68aよりも下方の部分は、第2底板61の連通孔61a内に配置される。
 第1本体64は、内径が可動管68の外径よりも大きい管状である。第1本体64は、L字状に折れている。第1本体64の第1端部64aは上下方向に沿って延びている。例えば、第1端部64aの下端の内周面には、第2係合部64bが固定される。第2係合部64bは、第1本体64の第1端部64aの全周にわたって形成される。第2係合部64bは、第1係合部68aを、第1係合部68aの下方から支持する。第2係合部64bと可動管68との間は、気密に封止される。可動管68は、第2係合部64b(第1本体64の第1端部64a)に対して上下方向に移動できる。
 第1本体64は、フレーム51の第2底板61等に固定される。図2に示す状態から、第1本体64に対して可動管68が下方に移動することはできない。一方で、図2に示す状態から、第1本体64に対して可動管68が上方に移動できる。
 図4に示すように、第1保持部52の吸着パッド67の下端をキャリア205の外周部の上面に接触させる。
 吸着パッド67の凹部内の空気を吸引すると、二点鎖線L1で示すように吸着パッド67が潰れるように変形し、吸着パッド67に接触していたキャリア205が吸着パッド67に保持される。
 図5に、セットテーブル20の上面21上に、キャリア205及び基板200が配置された状態を示す。基板200は、キャリア205の貫通孔206内に収容される。
 この状態のキャリア205及び基板200に対して、上方から保持部50を近づけ、第1保持部52の吸着パッド67をキャリア205の外周部の上面に接触させる。
 吸着パッド67の凹部内の空気を吸引すると、第1保持部52の潰れた吸着パッド67が、キャリア205の外周部を保持する。このとき、可動管68の第1係合部68aは、第1本体64の第2係合部64bから上方に離間する。
 このときの、フレーム51に対する潰れた吸着パッド67の下端の位置を、基準位置P521と言う。基準位置P521は、フレーム51に対する、潰れた吸着パッド67の下端における、吸着パッド67の周方向の平均位置であることが好ましい。
 この状態から、マニピュレータ47により保持部50を上方に移動させると、図6に示すように、第1保持部52に保持されたキャリア205が、セットテーブル20の上面21から上方に離間する。キャリア205、吸着パッド67等に作用する重力により、第1保持部52の第1本体64に対してキャリア205、吸着パッド67等が下方に移動する。可動管68の第1係合部68aが第1本体64の第2係合部64bに、第2係合部64bの上方から係止すると、第1本体64(フレーム51)に対してキャリア205、吸着パッド67等が、これ以上下方に移動できなくなる。
 キャリア205を保持して潰れ、フレーム51に対して下方に移動できなくなったときの、フレーム51に対する吸着パッド67の下端の位置を、下端位置P522と言う。下端位置P522は、第1保持部52の吸着パッド67の移動範囲における下方の端の位置である。
 図6中に、吸着パッド67の基準位置P521を、二点鎖線L4で示す。以下では、潰れた吸着パッド67における、基準位置P521と下端位置P522との上下方向の距離を、伸長距離M52と言う。伸長距離M52は、第1保持部52がキャリア205を保持した状態から、第1保持部52が下方(厚さ方向の一方側)に伸びる長さである。
 このように、第1保持部52は、キャリア205を保持した状態から下方に向かって伸びることができる。
 第2保持部53は、キャリア205の貫通孔206内の基板200を、上下方向から保持する。図3に示すように、第2搬送装置46は、第2保持部53として、第2保持部53A、第2保持部53B、第2保持部53Cを有する。
 第2保持部53A,53Bは、伸長距離M52の設定以外は第1保持部52と同一の構成である。
 第2保持部53Aは、第1保持部52の第1本体64、第1移動部65、吸着パッド67、可動管68と略同一の構成の、第2本体71A、第2移動部72A、吸着パッド74A、可動管75Aを有する。
 第2移動部72Aは、第2本体71Aに対して上下方向に移動できる。第2移動部72Aの吸着パッド74Aは、基板200を保持する。
 第2保持部53Aの吸着パッド74Aに対しても、第1保持部52の吸着パッド67に対する基準位置P521、下端位置P522、伸長距離M52と同様に、基準位置P53A1、下端位置P53A2、伸長距離M53Aがそれぞれ規定される(図5及び図6参照)。
 伸長距離M53Aは、第2保持部53Aが基板200を保持した状態から、第2保持部53Aが下方に伸びる長さである。
 第2保持部53Bは、第1保持部52の第1本体64、第1移動部65、吸着パッド67、可動管68と略同一の構成の、第2本体71B、第2移動部72B、吸着パッド74B、可動管75Bを有する。
 第2移動部72Bは、第2本体71Bに対して上下方向に移動できる。第2移動部72Bの吸着パッド74Bは、基板200を保持する。
 第2保持部53Bの吸着パッド74Bに対しても、第1保持部52の吸着パッド67に対する基準位置P521、下端位置P522、伸長距離M52と同様に、基準位置P53B1、下端位置P53B2、伸長距離M53Bがそれぞれ規定される(図5及び図6参照)。
 伸長距離M53Bは、第2保持部53Bが基板200を保持した状態から、第2保持部53Bが下方に伸びる長さである。
 第2保持部53Cは、第1本体64の形状、伸長距離M52の設定以外は第1保持部52と同一の構成である。
 第2保持部53Cは、第1保持部52の第1移動部65、吸着パッド67、可動管68と略同一の構成の、第2移動部72C、吸着パッド74C、可動管75Cを有する。
 第2保持部53Cが有する第2本体78Cは、真っすぐな管状である。第2本体78Cは、上下方向に沿って延び、フレーム51の第1底板60に固定される。
 以上のように、フレーム51は、第1本体64及び第2本体71A,71B,78Cを互いに連結する。
 第2保持部53Cの吸着パッド74Cに対しても、第1保持部52の吸着パッド67に対する基準位置P521、下端位置P522、伸長距離M52と同様に、基準位置P53C1、下端位置P53C2、伸長距離M53Cがそれぞれ規定される(図5及び図6参照)。
 伸長距離M53Cは、第2保持部53Cが基板200を保持した状態から、第2保持部53Cが下方に伸びる長さである。
 このように、第2保持部53A,53B,53Cは、基板200を保持した状態からそれぞれ下方に向かって伸びることができる。
 図6に示す二点鎖線L4上に、基準位置P53A1,P53B1,P53C1が配置される。
 図2に示すように、第2保持部53A,53B,53Cは、各基板200に対して、基板200の軸線回りに等角度ごとに配置される。
 本実施形態では、伸長距離M53A,M53B,M53Cは、互いに同等である。伸長距離M52は、伸長距離M53A,M53B,M53Cよりも、キャリア205の厚さ(厚さ方向の長さ)を超えて長い。伸長距離M52は、伸長距離M53A,M53B,M53Cよりも、キャリア205の厚さの2倍を超えて長いことが好ましい。
 図3に示すように、撮像部54は、フレーム51の第2周壁59に固定される。撮像部54は、撮像部54に対して下方に配置された物の像を取得する。撮像部54は、取得した像を制御部80に送る。
 吸引部は、図示はしないが、吸引ポンプと、複数の開閉弁と、を有する。
 吸引ポンプは、図示しないチューブにより第1本体64、第2本体71A,71B,71Cにそれぞれ接続される。吸引ポンプは、チューブ、第1本体64、第2本体71A,71B,71C、可動管68,75A,75B,75Cを通して吸着パッド67,74A,74B,74Cの凹部内の空気を吸引できる。
 複数の開閉弁は、複数のチューブを独立して開閉できる。
 図1に示すように、第2搬送装置46及びセットテーブル20のそれぞれから近い位置には、複数のキャリア205が積み重ねられたストッカ85がある。ストッカ85にあるキャリア205には、基板200が収容されていない。
 制御部80は、図示はしないが、CPU(Central Processing Unit)、メモリ等を有する。メモリには、CPUを動作させるための制御プログラム等が記憶される。
 制御部80は、第1搬送装置25及び研磨装置30に接続され、第1搬送装置25及び研磨装置30を制御する。
 次に、以上のように構成された研磨設備1を用いた研磨方法について説明する。この研磨方法では、本実施形態の搬送方法を使用する。
 予め、搬入装置により、基板200Aを収容した搬入バスケット10を搬送しておく。制御部80は、第2搬送装置46により、ストッカ85内のキャリア205を、セットテーブル20の上面21上に配置する。研磨部31の第2定盤は、退避状態になっている。 第2搬送装置46の吸引部を駆動し、複数の開閉弁を閉じた状態にする。
 次に、前記搬送方法を行う。搬送方法では、キャリア205と、キャリア205の貫通孔206内に収容される基板200Aとを、セットテーブル20から研磨装置30に搬送する。図7は、搬送方法Sを示すフローチャートである。
 まず、第1収容工程(図7に示すステップS1)において、制御部80は、第1搬送装置25により、搬入バスケット10内の基板200Aを、セットテーブル20上のキャリア205の貫通孔206に収容する。
 第1収容工程S1が終了すると、ステップS3に移行する。
 次に、保持工程(ステップS3)において、第2搬送装置46により、キャリア205の外周部及び基板200Aを、キャリア205及び基板200Aが互いに離間するようにそれぞれ保持する。
 具体的には、制御部80はマニピュレータ47により、図5に示すように、セットテーブル20上のキャリア205及び基板200に対して、上方から保持部50を近づけ、第1保持部52の吸着パッド67を、キャリア205の外周部の上面に接触させる。第2保持部53A,53B,53Cの吸着パッド74A,74B,74Cを、基板200Aの上面に接触させる。
 複数の開閉弁を開いた状態にすると、吸着パッド67,74A,74B,74Cの凹部内の空気がそれぞれ吸引され、吸着パッド67,74A,74B,74Cが潰れるように変形する。第1保持部52の潰れた吸着パッド67により、キャリア205の外周部が上方から保持され、第2保持部53A,53B,53Cの潰れた吸着パッド74A,74B,74Cにより、基板200Aの外周部が上方から保持される。
 そして、マニピュレータ47により保持部50を上方に移動させると、図6に示すように、保持部52,53A,53B,53Cに保持されたキャリア205、基板200Aが、セットテーブル20の上面21から上方に離間する。
 このとき、伸長距離M52は、伸長距離M53A,M53B,M53Cよりもキャリア205の厚さを超えて長い。このため、第1保持部52により保持されたキャリア205が湾曲しない場合であっても、キャリア205は、基板200Aよりもキャリア205の厚さを超えて下方に移動し、キャリア205の上面が二点鎖線L5で示す位置に配置される。第1保持部52に保持されるキャリア205及び第2保持部53A,53B,53Cに保持される基板200Aが、互いに離間する
 さらに、キャリア205の中央部(キャリア205における厚さ方向に見たときの中央部)は、キャリア205に作用する重力により下方に向かって凸となるように湾曲する。 この場合、湾曲するキャリア205の変位の最大値(図6中に示す最大撓み量M)は、シミュレーションにより2mm程度であることが分かっている。
 キャリア205が下方に向かって凸となるように湾曲することにより、第1保持部52に保持されるキャリア205及び第2保持部53A,53B,53Cに保持される基板200Aが、互いにさらに離間する。
 このように、本実施形態では、保持工程S3では、キャリア205よりも基板200Aが上方に位置するように保持する。
 第2搬送装置46によりキャリア205及び基板200Aを搬送する間に、図8に示すように、キャリア205の中央部が上下方向に振動することがある。図8中に、上方に向かって凸となるように湾曲したキャリア205を、二点鎖線L7で示す。
 このため、前記伸長距離M52は、伸長距離M53A,M53B,M53Cよりも、最大撓み量Mの2倍を超えて長いことがより好ましい。
 保持工程S3が終了すると、ステップS5に移行する。
 次に、平坦化工程(ステップS5)において、第1定盤32の支持面32a上にキャリア205を配置してキャリア205を平坦にする。そして、キャリア205を平坦にしたときに、基板200Aをキャリア205よりも上方に離間させる。具体的には、制御部80はマニピュレータ47により、支持面32aの上方に保持部50を移動させる。そして、保持部50を下方に移動させることにより、支持面32a上に保持部50の保持部52,53A,53B,53Cが保持するキャリア205及び基板200Aを降ろしていく。 支持面32a上にキャリア205を配置したときには、図6中に二点鎖線L5で示すようにキャリア205が平坦になるため、基板200Aはキャリア205よりも上方に離間している。
 支持面32a上にキャリア205を配置する際に、制御部80は、撮像部54が取得した、研磨部31における、内歯車34の歯部39及び太陽歯車33の歯部37の像を用いて、内歯車34の複数の歯部39及び太陽歯車33の複数の歯部37にキャリア205の複数の歯部207を嵌め合わせることが好ましい。
 平坦化工程S5が終了すると、ステップS7に移行する。
 次に、第2収容工程(収容工程)(ステップS7)において、支持面32a上において、キャリア205の貫通孔206内に、上方から基板200Aを収容させる。具体的には、制御部80はマニピュレータ47により保持部50を下方に移動させて、キャリア205の貫通孔206内に基板200Aを収容させる。
 第2搬送装置46の複数の開閉弁を閉じ、保持部52,53A,53B,53Cによるキャリア205及び基板200Aの保持を解除する。マニピュレータ47により、保持部50を支持面32a上から退避させる。
 第2収容工程S7が終了すると、搬送方法Sの全工程が終了し、キャリア205及び基板200Aが、セットテーブル20から研磨装置30に搬送される。
 制御部80は、研磨部31の第2定盤を挟み状態にし、第1定盤32及び第2定盤を軸線O1周りの所定の向きに回転させるとともに、太陽歯車33及び内歯車34の少なくとも一方を軸線O1周りに回転させる。
 第1定盤32、第2定盤等を所定の時間回転させると、第1定盤32及び第2定盤により、基板200Aの厚さ方向を向く面が研磨され、基板200Aが、研磨された後の基板200Bとなる。
 制御部80は、研磨部31の第2定盤を退避状態にする。
 制御部80は、前記搬送方法と同様の方法により、キャリア205と、キャリア205の貫通孔206内に収容される基板200Bとを、研磨装置30からセットテーブル20の上面21上に搬送する。
 制御部80は、第1搬送装置25により、セットテーブル20上の基板200Bを、搬出バスケット15内に収容する。基板200Bが収容された搬出バスケット15は、適宜搬出装置により研磨設備1から搬出される。
 以上の工程を繰り返すことにより、研磨設備1により基板200Aが連続的に研磨される。
 以上説明したように、本実施形態の第2搬送装置46では、セットテーブル20の上面21上で、貫通孔206内に基板200Aが収容されたキャリア205及び基板200Aを支持する。そして、第2搬送装置46を用いて、第1保持部52によりキャリア205の外周部を上方から保持し、第2保持部53により貫通孔206内の基板200Aを保持する。第2搬送装置46により上面21上からキャリア205及び基板200Aを持ち上げ、キャリア205及び基板200Aを搬送すると、キャリア205に作用する重力により、キャリア205の中央部が最も下方に撓み、キャリア205が下方に向かって凸となるように湾曲する。この際に、第1保持部52及び第2保持部53の両方を下方に向かって伸ばすことにより、第1保持部52に保持されるキャリア205及び第2保持部53に保持される基板200Aを互いに離間させる。すると、キャリア205及び基板200Aの搬送中に、基板200Aがキャリア205に接触したり、キャリア205及び基板200Aが上下方向に重なったりするのが抑制される。
 従って、キャリア205及び基板200Aの搬送中に、第2搬送装置46から基板200Aが落下するのを抑制することができる。
 キャリア205が第1保持部52に保持され、貫通孔206内に収容された基板200Aが第2保持部53に保持された状態から、第1保持部52が下方に伸びる長さである伸長距離M52は、第2保持部53が下方に伸びる長さである伸長距離M53A,M53B,M53Cよりも、キャリア205の厚さを超えて長い。このため、第1保持部52に保持されるキャリア205及び第2保持部53に保持される基板200Aがほぼ同じ高さに配置された状態から、基板200Aよりもキャリア205を、キャリア205の厚さを超えて下方に配置することができる。キャリア205の中央部は、キャリア205に作用する重力により下方に向かって凸となるように湾曲するため、キャリア205及び基板200Aの搬送中に基板200Aがキャリア205に接触するのを、確実に抑制することができる。
 第2搬送装置46は、フレーム51を有する。第1保持部52の第1本体64及び第2保持部53の第2本体71A,71B,71Cを互いに連結するフレーム51により、第1移動部65により保持されるキャリア205の外周部、及び第2移動部72A,72B,72Cにより保持される基板200Aの、上下方向における相対的な位置の精度を高めることができる。
 また、本実施形態の研磨装置30では、第2搬送装置46により、遊星歯車装置式の研磨部31における、内歯車34の複数の歯部39及び太陽歯車33の複数の歯部37にキャリア205の複数の歯部207を嵌め合わせる。そして、内歯車34及び太陽歯車33の少なくとも一方を回転させることによりキャリア205を回転させ、キャリア205に収容される基板200Aの上下方向を向く面を研磨することができる。
 また、本実施形態の搬送方法Sでは、保持工程S3におけるキャリア205及び基板200Aの搬送中、及び平坦化工程S5における第1定盤32の支持面32a上にキャリア205を配置する際に、基板200Aがキャリア205に接触したり、キャリア205及び基板200Aが厚さ方向に重なったりするのがそれぞれ抑制される。保持工程S3及び平坦化工程S5の後で、第2収容工程S7において、キャリア205の貫通孔206内に、上方から基板200Aを収容させる。
 従って、キャリア205及び基板200Aの搬送中に、基板200Aが落下するのを抑制することができる。
 保持工程S3では、キャリア205よりも基板200Aが上方に位置するように保持する。従って、平坦化工程S5において支持面32a上にキャリア205を配置する際に基板200Aが支障とならないため、平坦化工程S5を容易に行うことができる。
 以上、本発明の一実施形態について図面を参照して詳述したが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の構成の変更、組み合わせ、削除等も含まれる。
 例えば、前記実施形態の搬送方法では、保持工程において、第1保持部52のみを、キャリア205を保持した状態から下方に向かって伸ばし、第2保持部53A,53B,53Cは、基板200Aを保持した状態から伸ばさなくてもよい。このように構成しても、伸長距離M52が、キャリア205の厚さを超えて長ければ、キャリア205よりも基板200Aを上方に位置させることができる。
 同様に、保持工程において、保持部50を上方に移動させつつ、第2保持部のみを上方に向かって縮ませてもよい。保持工程において、保持部50を上方に移動させつつ、第1保持部及び第2保持部を上方に向かって縮ませてもよい。これらの方法によっても、キャリア205よりも基板200Aを上方に位置させることができる。
 保持工程では、キャリア205よりも基板200Aが下方に位置するように保持したり、キャリア205及び基板200Aを水平面に沿って位置をずらして保持してもよい。 第1定盤32の支持面32a及びセットテーブル20の上面21は、それぞれ水平面に対して傾斜していてもよい。
 第2搬送装置46が備える第1保持部52の数及び第2保持部53の数は、限定されない。
 搬送装置、研磨装置、及び搬送方法は、キャリア及び基板の搬送中に基板が落下するのを抑制することができる。
 よって、産業上の利用可能性は大きい。
 30 研磨装置
 31 研磨部
 32 第1定盤(定盤)
 32a 支持面
 33 太陽歯車
 34 内歯車
 37,39,207 歯部
 46 第2搬送装置(搬送装置)
 51 フレーム(連結部材)
 52 第1保持部
 53,53A,53B,53C 第2保持部
 64 第1本体
 65 第1移動部
 71A,71B,78C 第2本体
 72A,72B,72C 第2移動部
 200 基板
 205 キャリア
 206 貫通孔
 S  搬送方法
 S3 保持工程
 S5 平坦化工程
 S7 第2収容工程(収容工程)

Claims (6)

  1.  平板状に形成され貫通孔が設けられたキャリアと、前記貫通孔内に収容される基板と、を搬送する搬送装置であって、
     前記キャリアの外周部を、前記キャリアの厚さ方向から保持する第1保持部と、
     前記貫通孔内の前記基板を、前記厚さ方向から保持する第2保持部と、
     を備え、
     前記第1保持部に保持される前記キャリア及び前記第2保持部に保持される前記基板が互いに離間するように、前記第1保持部及び前記第2保持部の少なくとも一方が、前記厚さ方向に伸びるか縮むことができる、搬送装置。
  2.  前記キャリアが前記第1保持部に保持され、前記貫通孔内に収容された前記基板が前記第2保持部に保持された状態から、
     前記第1保持部が前記厚さ方向の一方側に伸びる長さは、前記第2保持部が前記厚さ方向の前記一方側に伸びる長さよりも、前記キャリアの厚さを超えて長い、請求項1に記載の搬送装置。
  3.  前記第1保持部は、
      第1本体と、
      前記第1本体に対して前記厚さ方向に移動でき、前記キャリアの外周部を保持する第1移動部と、を有し、
     前記第2保持部は、
      第2本体と、
      前記第2本体に対して前記厚さ方向に移動でき、前記基板を保持する第2移動部と、を有し、
     前記第1本体及び前記第2本体を互いに連結する連結部材を備える、請求項1又は2に記載の搬送装置。
  4.  前記キャリアの外周縁には、複数の歯部が設けられ、
     定盤の支持面上で回転し、前記キャリアの前記複数の歯部に嵌め合う内歯車及び太陽歯車を有し、前記基板の厚さ方向を向く面を研磨する遊星歯車装置式の研磨部と、
     請求項1から3のいずれか一項に記載の搬送装置と、
     を備え、
     前記搬送装置は、前記内歯車の複数の歯部及び前記太陽歯車の複数の歯部に前記キャリアの前記複数の歯部を嵌め合わせる、研磨装置。
  5.  平板状に形成され貫通孔が設けられたキャリアと、前記貫通孔内に収容される基板と、を搬送する搬送方法であって、
     前記キャリアの外周部及び前記基板を、前記キャリア及び前記基板が互いに離間するようにそれぞれ保持する保持工程と、
     支持面上に前記キャリアを配置して前記キャリアを平坦にするとともに、前記キャリアを平坦にしたときに、前記基板を前記キャリアよりも上方に離間させる平坦化工程と、
     前記キャリアの前記貫通孔内に、上方から前記基板を収容させる収容工程と、
     を行う、搬送方法。
  6.  前記保持工程では、前記キャリアよりも前記基板が上方に位置するように保持する、請求項5に記載の搬送方法。
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